DE19928555A1

DE19928555A1 - Verfahren zum Messen des Isolationswiderstands von Kondensatoren

Info

Publication number: DE19928555A1
Application number: DE19928555A
Authority: DE
Inventors: Gaku Kamitani; Hiroaki Nagai
Original assignee: Murata Manufacturing Co Ltd
Current assignee: Murata Manufacturing Co Ltd
Priority date: 1998-06-22
Filing date: 1999-06-22
Publication date: 2000-01-05
Anticipated expiration: 2019-06-23
Also published as: GB2339293A; GB2339293B; JP2000081456A; JP3077122B2; US6384609B1; GB9913837D0; DE19928555C2

Abstract

Eine Gleichspannung wird an einen Kondensator angelegt, und eine Vorladung wird durchgeführt. Dann wird eine Meßspannung angelegt und ein Isolationswiderstand wird durch einen Ladestrom, der durch den Kondensator fließt, gemessen. Die Zeitdauer der Vorladung ist auf eine Zeitdauer des Ladens einer Kapazität von dem Ende der Vorladung zu dem Anlegen der Meßspannung, die auf eine Zeitdauer eines offenen Zustands eingestellt ist, wird der Kondensator einem Selbstladen unterzogen. Während der Selbstladezeitdauer wird die Komponente der dielektrischen Polarisation des Kondensators selbst geladen.

Description

Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands von Kondensatoren, das bei der Beurteilung der Normgerechtigkeit und der fehlenden Normgerechtigkeit von Kondensatoren etc. verwendet werden soll.

Um die Normgerechtigkeit und die fehlende Normgerechtigkeit von Kondensatoren gegenüber einem Standard zu beurteilen, ist ein Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands von Kondensatoren bekannt. Dieses bekannte Verfahren mißt den Strom (den Ladestrom), der durch einen Kondensator fließt, nachdem eine Gleichspannung zur Messung an den Kondensator angelegt und der Kondensator voll aufgeladen wurde. Natürlich besitzen normgerechte Kondensatoren einen kleineren La destrom.

Bis zu dem heutigen Zeitpunkt ist unter solchen Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands ein Meßverfahren be kannt, das in der JIS-C 5102 definiert ist. Da dieses Ver fahren eine Messung des Stroms in einem Zustand erfordert, in dem der Kondensator vollständig aufgeladen ist, ist eine Meßzeit von beispielsweise etwa 60 Sekunden erforderlich. Eine Verbesserung der Mengenkapazität und der Qualität von elektronischen Teilen, wie z. B. Kondensatoren etc., ist jedoch gemäß den Bedürfnissen der Kostenreduktion und der Zuverlässigkeitsverbesserung von elektronischen Ausrüstungen erforderlich. Daher kann das herkömmliche Meßverfahren, das eine derart lange Meßzeit pro Kondensator erfordert, derar tige Erfordernisse nicht erfüllen.

Um den Isolationswiderstand von Chipkondensatoren effizient zu messen, wird ein Drehtisch verwendet. Bei Meßverfahren eines Isolationswiderstands, die einen Drehtisch verwenden, tritt eine ununterbrochene Erzeugung dahingehend auf, daß, nachdem Kondensatoren an einer Mehrzahl von vorbereitenden Ladestationen vorbei geschoben wurden, der Isolationswider stand der geladenen Kondensatoren einzeln gemessen wird. Es gibt ferner eine schubweise Herstellung, dahingehend daß, nachdem eine feste Anzahl von Kondensatoren auf einen Dreh tisch zugeführt wurde, der Drehtisch angehalten wird, und zur gleichen Zeit einer Mehrzahl von Kondensatoren eine elektrische Vorladung gegeben wird, und der Isolationswider stand derselben danach gemessen wird.

Fig. 1 und 2 sind die Zeichnungen, die die Grundlagen der obigen erwähnten zwei Meßverfahren zeigen. Kondensatoren 1 werden in einer Beförderungseinrichtung 2, wie z. B. einem Drehtisch etc., bei Intervallen eines festen Abstands gehal ten und in der Richtung des Pfeils unterbrochen transpor tiert. Fig. 1 zeigt eine ununterbrochene Art der Erzeugung. Nachdem ein Kondensator 1 an der Zuführstation S_IN zugeführt wurde, wird jedesmal, wenn die Beförderungseinrichtung 2 an hält, eine Vorladung bei einer Mehrzahl von Vorladestationen von S_P1 bis S_P4 durchgeführt, und dann wird eine Meßspannung E[v] an die Meßstation S_M angelegt, und der Isolationswider stand wird durch eine Meßvorrichtung 3 gemessen. Danach wer den nicht normgerechte Kondensatoren bei der Entladestation S_NG für nicht normgerechte Gegenstände entladen, und normge rechte Kondensatoren werden bei der Entladestation S_G für normgerechte Gegenstände entladen.

Fig. 2 zeigt eine schubweise Herstellung. Bei dem Zustand, daß eine Mehrzahl von Kondensatoren 1 in einer Beförderungs einrichtung 2 gehalten werden, wird die Beförderungseinrich tung 2 für eine feste Zeitdauer angehalten, und eine Span nung, die die gleiche Spannung wie die Meßspannung E_M auf weist, wird bei einer Mehrzahl von Meßstationen S_M1 bis S_M5 für eine Vorladung angelegt, und zum gleichen Zeitpunkt wird der Isolationswiderstand durch die Meßvorrichtungen 3 gemes sen. Ferner stellt die Bezugsziffer 4 eine Leistungsversor gung einer Betriebsspannung E[v] dar, die Bezugsziffer 5 stellt Anschlüsse für die Vorladung dar, und die Bezugs ziffer 6 stellt Meßanschlüsse dar.

Bei dem ersteren Fall tritt ein Nachteil dahingehend auf, daß die Elektroden möglicherweise beschädigt werden, da es notwendig ist, daß die Elektroden eines Kondensators häufig einen Kontakt mit den Anschlüssen für eine Vorladung bilden müssen. Ferner ist bei dem letzteren Fall, da die Vorladung einer Anzahl von Kondensatoren 1 vermittelt wird, und die selben zum gleichen Zeitpunkt gemessen werden, eine große Leistungsversorgungseinheit erforderlich. Ferner sind, da Multikanalmessungen stattfinden, viele Meßvorrichtungen er forderlich. Da ferner eine Meßvorrichtung 3 zur Messung ge schaltet wird, ist ein komplizierter Schaltkreis erforder lich. Als ein Resultat tritt ein Nachteil auf, daß die Kosten der Ausrüstung hoch werden, und die Wartung schwierig ist.

Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin ein Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands zu schaffen, bei dem die Kontakthäufigkeit von Anschlüssen mit einem Kondensator reduziert werden kann und eine Schaltung, die zur Messung benötigt wird, vereinfacht werden kann.

Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren zum Messen eines Iso lationswiderstands gemäß Anspruch 1 gelöst.

Bei einem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands, bei dem der Isolationswiderstand durch einen Ladestrom gemessen wird, der durch einen Kondensator fließt, wenn eine Vorla dung durch Anlegen einer Ladespannung E_p an den Kondensator stattfindet, und dann eine Meßspannung E_m angelegt wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Selbstladung bei einem offe nen Zustand während der Zeit von dem Ende der oben erwähnten Vorladung bis zu dem Anlegen der Meßspannung E_m stattfindet.

Die Prinzipien eines Verfahrens zum Messen eines Isolations widerstands gemäß der vorliegenden Erfindung sind hier er klärt. Eine äquivalente Schaltung eines Kondensators, wie z. B. eines Keramikkondensators, besteht aus einer Kapazität C₀, einem inneren Widerstand r, einem Isolationswiderstand R₀ und der Komponente der dielektrischen Polarisation (Kom ponente der elektrostatischen Absorption) D, wie in Fig. 3 gezeigt. Wenn eine Gleichspannung an einen derartigen Kon densator angelegt ist, sieht die Ladecharakteristik dessel ben wie in Fig. 4 gezeigt aus. Das heißt, die nichtlineare Anfangsladecharakteristik A stellt eine Region des Ladens der Kapazität C₀ dar. Die lineare Ladecharakteristik C stellt eine Region des Ladens der Komponente der dielektri schen Polarisation D dar. Die Charakteristik B stellt eine Übergangsregion zwischen denselben dar. In Fig. 4 besitzen die vertikale Achse (Strom) und die horizontale Achse (Zeit) einen logarithmischen Maßstab.

In Fig. 4 wird nun die Ladung im Verlauf der linearen Lade charakteristik C angehalten, und der Kondensator wird in ei nem offenen Zustand, d. h. ohne eine angelegte Spannung, belassen. Dann wird nach einer festen Zeitdauer die Ladung neu gestartet. Zu diesem Zeitpunkt wurde herausgefunden, wie es durch eine gestrichelte Linie in Fig. 4 gezeigt ist, daß, obwohl der Ladestromwert einmal in einen hohen Zustand geht, der Wert unmittelbar auf der linearen Ladecharakteristik C stabilisiert ist. Nach der Erörterung des Phänomens wurde die folgende Schlußfolgerung durch die Erfinder gezogen. Wenn anfänglich das Laden begonnen wird, wird die Kapazität C₀ eines Kondensators durch eine Ladespannung geladen. Da es jedoch Zeit erfordert, die Komponente der dielektrischen Polarisation D zu laden, wird die Komponente D bei dem An fangsschritt wenig geladen. Während die Ladung angehalten wird, gibt es keinen Fluß von elektrischem Strom nach oder von außen, da sich der Kondensator in einem offenen Zustand, d. h. ohne angelegte Spannung, befindet. Während dieser Zeit findet eine Ladung (Selbstladung) der Komponente der dielek trischen Polarisation D durch die elektrische Ladung in der Kapazität C₀ statt, und diese Ladung schreitet fort, als ob die erste elektrische Ladung nicht unterbrochen worden wäre. Ferner wird, da die Kapazität C₀ größer als die Kapazität der Komponente der dielektrischen Polarisation D ist, die Ladespannung ein wenig abgesenkt. Wenn das Laden wieder be gonnen wird, wird davon ausgegangen, daß eine kleine Ladung den Kondensator in der gewünschten Ladecharakteristik C sta bilisiert, da die Ladung der Komponente der dielektrischen Polarisation D schon fortgeschritten ist.

Dementsprechend kann gemäß der vorliegenden Erfindung durch eine Selbstladung in einem offenen Zustand, d. h. wenn keine Spannung während der Zeit von dem Ende der Vorladung zu dem Anlegen einer Meßspannung angelegt ist, ein Kondensator, ohne daß die Elektroden des Kondensators einen häufigen Kon takt mit den Anschlüssen zum Zweck des Vorladens bilden, ge laden werden. Wenn eine Meßspannung an den Kondensator ange legt ist, dessen Selbstladung beendet wurde, ist es außerdem möglich, den normalen Isolationswiderstand in einer kurzen Zeitdauer zu messen. Daher sind mehrere Meßvorrichtungen und ein komplizierter Schaltkreis nicht erforderlich.

Wie bei einem dritten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist es wünschenswert, daß eine Zeitdauer T₁ für eine Vorladung größer als eine Zeit Tb einer Ladezeit A der Kapazität C₀ plus einer Übergangszeit B eingestellt wird. Auf diese Art und Weise wird die Kapazität C₀ vollständig geladen. Die Zeit Tb ist nicht festgelegt, und wenn die Vorladespannung E_p höher als die Meßspannung E_m eingestellt ist, kann die Zeit Tb reduziert werden. Ferner ist die Vorladung nicht auf eine Zeit begrenzt, und eine Mehrzahl von Vorladungen ist möglich. Wenn eine Vorladung zu zwei Zeiten stattfindet, können die erste bzw. die zweite Vorladung ohne weiteres größer als Tb/2 eingestellt werden.

Wie bei einem vierten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist es wünschenswert, daß eine offene Zeitdauer T₂ für eine Selbstladung größer eingestellt wird als eine Zeit Tc, was notwendig ist, um einen Ladestromwert A₁ zu erreichen, wenn eine Betriebsspannung an den Isolationswiderstand R eines Kondensators angelegt ist. Mit anderen Worten dient dies dazu, um die Zeit, in der die Komponente der dielektrischen Polarisation D vollständig selbst aufgeladen wird, zu sichern.

Wie bei einem fünften Aspekt der vorliegenden Erfindung kann eine erste Vorladung mit der gleichen Spannung wie der Meß spannung Em durchgeführt werden, eine zweite Vorladung kann mit der gleichen Spannung wie die Meßspannung Em nach einer vorbestimmten offenen Zeitdauer durchgeführt werden, und die Messung kann danach durchgeführt werden. Während der offenen Zeitdauer ist eine Spannung e an beiden Enden des Kondensa tors angelegt, und nimmt, aufgrund des Verbrauchs durch den Isolationswiderstand R0 oder der Ladung zu der dielek trischen Polarisationskomponente D, ein wenig ab. Je länger die offene Zeitdauer ist, desto mehr nimmt die Spannung ab. Wenn die Meßspannung Em später angelegt wird, wird die Kapa zität C₀ aufgrund der verringerten Spannung neu aufgeladen, was das Erreichen der vorbestimmten Ladezeit A verzögert. Folglich wird bei der zweiten Vorladung die Spannung Ep, die gleich der Meßspannung Em ist, angelegt, wodurch die Span nungsverringerung reduziert wird, was die Meßzeit verkürzt. Vorzugsweise wird die zweite Vorladung kurz vor der Ladung der Meßspannung Em angelegt.

Ferner besitzt die zweite Vorladung einen Effekt, der im folgenden erklärt ist. Das heißt während der offenen Zeit dauer wird die Komponente der dielektrischen Polarisation eines Kondensators durch eine Spannung e[v] zwischen den Anschlüssen des Kondensators geladen. Da die Spannung e[v] sich gemäß dem Ablauf der offenen Zeitdauer allmählich ver ringert, wird jedoch e[v] kleiner als Em[v]. Wenn eine Meß spannung Em[v] abgelegt ist, ist die Zeit, die erforderlich ist, um die Komponente der dielektrischen Polarisation zum zweiten Mal zu laden, wesentlich länger als die Zeit, um die Kapazität C₀ zu laden. Beispielsweise erfordert bei dem Fall eines Keramikkondensators mit 1 µF die Kapazität C₀ wenige Millisekunden Ladezeit, die Ladezeit der Komponente der di elektrischen Polarisation D ist jedoch wenige hundert Milli sekunden. Um diesen Spannungsabfall Em - e[v] zu reduzieren, findet die zweite Vorladung statt. Die zweite Vorladung kann bei diesem Fall, nachdem eine Zeit von √(Tc) seit der ersten Vorladung verstrichen ist, ausgesetzt werden. Der Grund da für besteht darin, daß ein Spannungsabfall nach der ersten Vorladung gleich einem Spannungsabfall nach der zweiten Vor ladung ist, und die Ladung der Komponente der dielektrischen Polarisation D auf eine Spannung, die sich von der Meßspan nung Em[V] unterscheidet, wird verhindert.

Wie bei einem sechsten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist es vorzuziehen, daß die Ladespannung Ep der Vorladung höher eingestellt ist, als die Meßspannung Em, und daß die Ladung Ep derart eingestellt ist, daß die Spannung e von beiden En den des Kondensators gleich oder weniger als die Meßspannung Em in der offenen Zeitdauer abnimmt. Es nimmt nämlich, wie oben beschrieben, während der offenen Zeitdauer die Spannung e, die an beide Enden des Kondensators angelegt ist, auf grund des Verbrauchs durch den Isolationswiderstand R₀ oder der Ladung zu der dielektrischen Polarisationskomponente D, ein wenig ab. Da die Standardspannung, die ähnlich zu der Meßspannung Em ist, bei der Vorladung angelegt ist, ist, wenn die offene Zeitdauer länger wird, Zeit erforderlich, so daß sich der geladene Strom, aufgrund der Spannungsabnahme der Spannung e bei der Messung, ansammelt, wodurch die Ver zögerung beim Messen des leckenden Stroms bewirkt wird. Folglich wird durch höheres Einstellen der Ladespannung Ep als die Meßspannung Em die Spannungsabnahme der Spannung e unterdrückt, und der leckende Strom kann in einer kurzen Zeitdauer durch schnelles Sammeln des Ladestroms, wenn ge messen wird, gemessen werden.

Wenn jedoch die Vorladungsspannung Ep zu hoch eingestellt ist, kann der Umkehrstrom fließen, wenn gemessen wird, da die Spannung e, die an beide Enden des Kondensators angelegt ist, höher als die Meßspannung Em ist. Es wird nämlich der Isolationswidertstand höher als tatsächlich gemessen, wo durch ein Fehlurteil dahingehend getroffen wird, daß es sich um ein gutes Produkt handelt, obwohl es ein schlechtes Pro dukt ist. Es wird daher bei der vorliegenden Erfindung ver hindert, daß der Umkehrstrom fließt, indem die Ladespannung Ep derart eingestellt wird, daß die Spannung e, die an beide Enden des Kondensators angelegt ist, gleich oder weniger als die Meßspannung Em in der offenen Zeitdauer abnimmt.

Wie bei einem siebten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung kann die Ladespannung Ep der Vorladung höher als die Meßspannung Em eingestellt sein, und die zweite Vorla dung kann mit der gleichen Spannung wie die Meßspannung kurz vor dem Messen in der vorbestimmten offenen Zeitdauer durch geführt werden. Wenn nämlich die Hochspannungsvorladung durchgeführt ist, wie bei dem sechsten Ausführungsbeispiel, kann der Umkehrstrom fließen, wenn eine Ladung angelegt wird, da es einen derartigen Fall gibt, daß die Spannungs abnahme bei einer offenen Zeitdauer klein ist, und die Span nung, die an beide Enden angelegt ist, höher als die Meß spannung ist, wenn gemessen wird. Folglich kann der Fluß des Umkehrstroms, wenn gemessen wird, verhindert werden, indem die zweite Vorladung mit der gleichen Spannung wie die Meß spannung Em kurz vor dem Messen durchgeführt wird, und indem die Spannung e von beiden Enden des Kondensators auf die Meßspannung Em korrigiert wird.

Wie bei einem achten Aspekt der vorliegenden Erfindung kann die erste Vorladung mit der Spannung Ep1 durchgeführt wer den, die größer als die Meßspannung Em ist, wobei die zwei te Vorladung mit der Spannung Ep2 durchgeführt werden kann, die kleiner als die Spannung Ep1 und größer als die Meß spannung Em nach einer vorbestimmten offenen Zeitdauer ist, und die Messung kann nach einer weiteren vorbestimmten offe nen Zeitdauer durchgeführt werden.

Bei diesem Fall kann, da zwei Vorladungen mit den Spannungen Ep1 und Ep2 durchgeführt werden, die höher als die Meßspan nung Em sind, obwohl die offene Zeitdauer kurz ist, die La dung zu der dielektrischen Polarisationskomponente D voll ständig fortschreiten.

Vorzugsweise kann, da der Umkehrstrom verhindert wird, die zweite Vorladungsspannung derart eingestellt werden, daß die Spannung e, die an beide Enden des Kondensators angelegt ist, gleich oder weniger als die Meßspannung Em während der offenen Zeitdauer abnimmt.

Wenn eine Hochspannungsvorladung wie bei den siebten und achten Ausführungsbeispielen durchgeführt wird, kann, wie bei einem neunten Ausführungsbeispiel, eine elektrische Ent ladung kurz nach der Hochspannungsvorladung durchgeführt werden. Wenn nämlich die Hochspannungsvorladung länger als notwendig durchgeführt wird, wird die Ladespannung zu hoch, und der Umkehrstrom fließt. Wenn die Messung durchgeführt wird, zeigt sich bei einem derartigen Fall die Charakteris tik eines guten Produkts, obwohl es sich um ein schlechtes Produkt handelt. Daher kann verhindert werden, daß die Lade spannung zu hoch wird, indem eine elektrische Entladung nach der Hochspannungsvorladung durchgeführt wird.

Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:

Fig. 1 ein erklärendes Diagramm eines Beispiels eines her kömmlichen Verfahrens zum Messen eines Isolations widerstands;

Fig. 2 ein erklärendes Diagramm eines weiteren Beispiels eines herkömmlichen Verfahrens zum Messen eines Isolationswiderstands;

Fig. 3 ein äquivalentes Diagramm eines Kondensators;

Fig. 4 ein Diagramm einer Ladecharakteristik eines Kon densators;

Fig. 5 ein erklärendes Diagramm eines ersten Ausführungs beispiels eines Verfahrens zum Messen eines Isola tionswiderstands gemäß der vorliegenden Erfindung;

Fig. 5A eine Ansicht, die die Spannung an beiden Enden des Kondensators zeigt, die sich auf einer Zeitänderung bezieht, gemäß dem Verfahren zum Messen eines Iso lationswiderstandes von Fig. 5;

Fig. 6 ein erklärendes Diagramm eines zweiten Ausführungs beispiels eines Verfahrens zum Messen eines Isola tionswiderstands gemäß der vorliegenden Erfindung;

Fig. 6A eine Ansicht, die die Spannung an beiden Enden des Kondensators zeigt, die sich auf eine Zeitänderung bezieht, gemäß dem Verfahren zum Messen eines Iso lationswiderstands von Fig. 6.

Fig. 7 ein erklärendes Diagramm eines dritten Ausführungs beispiels eines Verfahrens zum Messen eines Isola tionswiderstands gemäß der vorliegenden Erfindung;

Fig. 7A eine Ansicht, die die Spannung an beiden Enden des Kondensators zeigt, die sich auf eine Zeitänderung bezieht, gemäß dem Isolationswiderstandsmeßverfah ren von Fig. 7.

Fig. 8 ein erklärendes Diagramm eines vierten Ausführungs beispiels eines Verfahrens zum Messen eines Isola tionswiderstands gemäß der vorliegenden Erfindung;

Fig. 8A eine Ansicht, die die Spannung an beiden Enden des Kondensators zeigt, die sich auf eine Zeitänderung bezieht, gemäß dem Verfahren zum Messen eines Iso lationswiderstands von Fig. 8;

Fig. 9 ein erklärendes Diagramm eines fünften Ausführungs beispiels eines Verfahrens zum Messen eines Isola tionswiderstands gemäß der vorliegenden Erfindung;

Fig. 9A eine Ansicht, die die Spannung an beiden Enden des Kondensators zeigt, die sich auf eine Zeitänderung bezieht, gemäß dem Verfahren zum Messen eines Iso lationswiderstands von Fig. 9; und

Fig. 10 eine erklärende Ansicht eines sechsten Ausführungs beispiels eines Verfahrens zum Messen eines Isola tionswiderstands gemäß der vorliegenden Erfindung;

Fig. 10A eine Ansicht, die die Spannung an beiden Enden ei nes Kondensators zeigt, die sich auf eine Zeitände rung bezieht, gemäß dem Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands von Fig. 10;

Fig. 11 eine erklärende Ansicht eines siebten Ausführungs beispiels eines Verfahrens zum Messen eines Isola tionswiderstands gemäß der vorliegenden Erfindung;

Fig. 11A eine Ansicht, die die Spannung an beiden Enden ei nes Kondensators zeigt, die sich auf eine Zeitände rung bezieht, gemäß dem Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands von Fig. 11;

Fig. 12 eine Ansicht, die die Spannung an beiden Enden ei nes Kondensators zeigt, die sich auf eine Zeitän derung bezieht, gemäß dem achten Ausführungsbei spiel der vorliegenden Erfindung;

Fig. 13 eine Ansicht, die die Spannung an beiden Enden ei nes Kondensators zeigt, die sich auf eine Zeitän derung bezieht, gemäß dem neunten Ausführungsbei spiel der vorliegenden Erfindung;

Fig. 14 eine Ansicht, die die Spannung an beiden Enden ei nes Kondensators zeigt, die sich auf eine Zeitän derung bezieht, gemäß dem zehnten Ausführungsbei spiel der vorliegenden Erfindung; und

Fig. 15 eine Ansicht, die die Spannung an beiden Enden ei nes Kondensators zeigt, die sich auf eine Zeitän derung bezieht, gemäß dem elften Ausführungsbei spiel der vorliegenden Erfindung.

Fig. 5 zeigt ein erstes Ausführungsbeispiel einer Vorrich tung zum Messen eines Isolationswiderstands, um ein Ver fahren der vorliegenden Erfindung zu realisieren. In der Zeichnung bezeichnet die Bezugsziffer 1 einen Kondensator und die Bezugsziffer 2 eine Beförderungseinrichtung. Hier ist die Beförderungseinrichtung als ein bandähnliches Bau glied dargestellt, es kann jedoch jede beliebige Beförde rungseinrichtung, wie z. B. ein Drehtisch, ein Endlosband, eine Beförderungspalette etc., verwendet werden. Obwohl fer ner der Kondensator 1 bei einer festen Position auf der Be förderungseinrichtung 2 gehalten wird und befördert wird, kann das Halteverfahren ein konkaver Abschnitt, der auf der Beförderungseinrichtung 2 vorgesehen ist, oder ein Saugen und ein Halten durch Ansaugen von Luft etc. sein. Ferner kann entweder ein unterbrochenes Antreiben oder ein durch gehendes Antreiben als die Antriebsform der Beförderungs einrichtung 2 verwendet werden.

Nachdem ein Kondensator 1 bei der Zuführstation S_IN zuge führt wurde, wird die Beförderungseinrichtung bei der näch sten Vorladungsstation S_P angehalten, und das Vorladen fin det durch die Elektroden des Kondensators 1 statt, die einen Kontakt mit den Vorladeanschlüssen 5 bilden. Hier wird die gleiche Betriebsspannung wie die Meßspannung Em[v] an den Kondensator 1 angelegt, und die innere Kapazität C₀ des Kon densators wird geladen. Die Zeitdauer T₁ für die Vorladung wird größer als die Zeit Tb eingestellt, die eine Summe ei ner Ladezeit A der Kapazität C₀ und einer Übergangszeit B der Kapazität C₀ ist, und es gilt T₁ ≧ Tb.

Nachdem die Vorladung beendet ist, wird ein Kondensator 1 an einer Mehrzahl von offenen Stationen S₀₁ bis S₀₃ vorbei geschickt. Hier tritt, da der Kondensator 1 in einem offenen Zustand gehalten wird, kein Strom nach oder von außen auf. Während dieser Zeitdauer findet eine Ladung (Selbstladung) der Komponente der dielektrischen Polarisation D durch eine elektrische Ladung statt, die in der Kapazität C₀ geladen ist. Die offene Zeitdauer T₂ für diese Selbstladung ist größer als die Zeit Tc eingestellt, die erforderlich ist, um einen Ladestromwert A₁ (= E₀/R₀) zu erreichen, der fließt, wenn eine Betriebsspannung an den Isolationswiderstand des Kondensators angelegt ist. Das heißt T₂ ≧ Tc.

Wenn der Kondensator 1 bei der Meßstation S_M eintrifft, wer den die Meßanschlüsse 6 in einen Kontakt mit den Elektroden des Kondensators 1 gebracht, und der Isolationswiderstand wird durch eine Meßvorrichtung gemessen, während der Konden sator unter einer Meßspannung Em[v] geladen wird. Zu diesem Zeitpunkt ist es, da nicht nur die Kapazität C₀ sondern fer ner die Komponente der dielektrischen Polarisation D voll ständig geladen werden, nicht erforderlich, daß die Meßan schlüsse 6 einen Kontakt mit den Elektroden des Kondensators 1 für eine lange Zeitdauer bilden, und daher reicht eine kurze Meßzeit aus. Danach wird jeder nicht normgerechte Kon densator bei der Entladestation S_NG für nicht normgerechte Gegenstände entladen, und normgerechte Kondensatoren werden bei der Entladestation S_G für normgerechte Gegenstände ent laden.

Fig. 5A ist eine Ansicht, die die Spannung e an beiden Enden des Kondensators 1 zeigt, die sich auf eine Zeitänderung be zieht, gemäß der Vorrichtung zum Messen des Isolationswider stands von Fig. 5.

Nachdem die Spannung Ep (= Em) als eine Vorladung angelegt ist, nimmt die Spannung e an beiden Enden des Kondensators 1 allmählich während der offenen Zeitdauer, aufgrund des Ver brauchs durch den Isolationswiderstand R₀ oder der Ladung zu der dielektrischen Polarisationskomponente D, ab. Wenn die offene Zeitdauer endet, nimmt die Spannung e auf einen Wert, der geringfügig kleiner als die Meßspannung Em ist, ab.

Da die Selbstladung während der offenen Zeitdauer fort schreitet, und die dielektrische Polarisationskomponente D vollständig geladen wird, kann die Meßzeit verkürzt werden, da es nicht notwendig ist, daß der Meßanschluß 6 einen Kon takt mit den Anschlüssen des Kondensators in der Meßstation S_M für eine lange Zeitdauer bildet.

Die folgende Tabelle zeigt den Vergleich einer Vorrichtung mit einem Meßverfahren gemäß der vorliegenden Erfindung, das in Fig. 5 gezeigt ist, und einem herkömmlichen Meßverfahren, die in Fig. 1 und 2 gezeigt sind.

[Tabelle 1]

Wie es klar aus Tabelle 1 ersichtlich ist, wird gemäß der vorliegenden Erfindung die Kontakthäufigkeit der Anschlüsse im Vergleich zu dem herkömmlichen Verfahren (1) (Fig. 1) wesentlich reduziert, und die Anzahl der Vorladungsschal tungen kann ebenfalls reduziert werden. Ferner können, sogar wenn ein Vergleich mit einem herkömmlichen Verfahren (2) (Fig. 2) durchgeführt wird, obwohl die Anzahl der Vorla dungsschaltungen und die Kontakthäufigkeit der Anschlüsse leicht zunehmen, die Anschlüsse und die Meßschaltungen re duziert werden. Als ein Resultat ist es offensichtlich, daß der Effekt der Ausrüstungskostenreduktion stark ist. Ferner ist in Fig. 1 die Anzahl der Vorladungen auf Vier einge stellt, und in Fig. 2 ist die Anzahl der Meßschaltungen auf Fünf eingestellt, es sind jedoch tatsächlich viel mehr und der Effekt der vorliegenden Erfindung ist wesentlicher.

Fig. 6 zeigt ein zweites Ausführungsbeispiel einer Vorrich tung zum Messen eines Isolationswiderstands, um ein Ver fahren der vorliegenden Erfindung zu realisieren. Bei diesem Ausführungsbeispiel findet die Vorladung doppelt bei S_P1 und S_P2 statt. Wenn die Vorladungszeitdauer jedesmal länger als Tb/2 eingestellt ist, ist die Gesamtzeitdauer der Vorladung T₁ länger als Tb. Wenn angenommen wird, daß die Vorladung eines Kondensators Tb/2 dauert, ist bei diesem Fall eine Verarbeitungszeit pro Kondensator durch die Zeit Tb/2 plus eine Zeit gegeben, die durch die Ausrüstung (die Zeit die für das Anheben und das Absenken der Anschlüsse und das Befördern erforderlich ist) verbraucht wird, und die Verar beitungsgeschwindigkeit kann im Vergleich zu Fig. 5 ver bessert werden. Beispielsweise wird, wenn angenommen wird, daß Tb 60 ms ist, und daß die Zeit Ta, die durch die Aus rüstung verbraucht wird, 60 ms ist, bei dem Fall des Aus führungsbeispiels von Fig. 5 die Verarbeitungsgeschwindig keit pro Kondensator 120 ms (60 ms + 60 ms), in Fig. 6 wird jedoch die Verarbeitungszeit pro Kondensator 90 ms (30 ms + 60 ms), d. h. die Verarbeitungsgeschwindigkeit wird um etwa 30% verbessert.

Fig. 6A ist eine Ansicht, die die Spannung e an beiden Enden eines Kondensators 1 zeigt, die sich auf eine Zeitänderung bezieht, gemäß der Vorrichtung zum Messen eines Isolations widerstands von Fig. 6.

Nachdem die zwei Vorladungen S_P1 und S_P2 durchgeführt sind, zeigt die Spannung e die gleiche Änderung wie in Fig. 5A, wodurch der gleiche Vorteil des Ausführungsbeispiels von Fig. 5 erhalten wird.

Fig. 7 zeigt ein drittes Ausführungsbeispiel einer Vorrich tung zum Messen eines Isolationswiderstands, um ein Ver fahren der vorliegenden Erfindung zu realisieren. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist eine zweite Vorladungsstation SP2 vor der Meßstation S_M vorgesehen. Wie während einer offenen Zeitdauer (einer Zeitdauer während eines offenen Zustands) wird eine Spannung e[v] zwischen den Elektroden eines Kon densators 1, aufgrund des Verlustes durch den Isolations widerstand R₀ und der Ladung der Komponente der dielek trischen Polarisation D, leicht verringert. Die Spannung e an beiden Enden eines Kondensators 1 kann im wesentlichen gleich der Meßspannung gemacht werden, indem die Spannung E_p angelegt ist, die gleich der Meßspannung Em bei der zweiten Vorladungsstation Sp2 ist. Wenn die Meßspannung Em[v] bei der Meßstation S_M angelegt ist, findet daher unmittelbar eine weitere Ladung der Kapazität C₀ statt, und die Zeit zum Erreichen eines festen Schwellenwerts A1 kann verringert werden. Ferner stellen die Bezugsziffern 5 und 7 die An schlüsse zum Unterstützen der Vorladung dar.

Fig. 7A ist eine Ansicht, die die Spannung e an beiden Enden eines Kondensators 1 zeigt, die sich auf eine Zeitänderung bezieht, gemäß der Vorrichtung zum Messen eines Isolations widerstands von Fig. 7.

Indem die zweite Vorladung bei der Spannung Em kurz vor der Messung durchgeführt wird, wird der Unterschied zwischen der Spannung e des Kondensators 1 und der Meßspannung Em sehr klein, wodurch die Meßzeit weiter reduziert wird.

Fig. 8 zeigt ein viertes Ausführungsbeispiel einer Vorrich tung zum Messen eines Isolationswiderstands, um ein Ver fahren der vorliegenden Erfindung zu realisieren. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist in der Mitte der ersten Vorladungs station Sp1 und der Meßstation SM eine zweite Vorladungssta tion SP2 vorgesehen. Konkret gesagt findet die zweite Vor ladung während einer Zeit von √(Tc) nach der ersten Vor ladung statt.

Dies dient dazu, um einen Kondensator 1 durch die zweite Vorladung auf die Meßspannung Em[v] wiederum aufzuladen, und um zu verhindern, daß die Komponente der dielektrischen Po larisation D auf eine Spannung aufgeladen wird, die sich von der Meßspannung Em unterscheidet, da während einer offenen Zeitdauer (einer Zeitdauer während eines offenen Zustands) die Spannung e[v] zwischen den Elektroden des Kondensators 1 leicht abgesenkt wird.

Fig. 8A ist eine Ansicht, die die Spannung e an beiden Enden eines Kondensators 1 zeigt, die sich auf eine Zeitänderung bezieht, gemäß der Isolationswiderstandsmeßvorrichtung von Fig. 8.

Indem die zweite Vorladung durchgeführt wird, nachdem √(Tc) seit der ersten Vorladung vergangen ist, wird die Spannungs abnahme bei der ersten Ladung gleich der Spannungsabnahme nach der zweiten Ladung.

Daher kann verhindert werden, daß die dielektrische Pola risationskomponente D auf eine Spannung aufgeladen wird, die sich von der Meßspannung Em unterscheidet.

Fig. 9 zeigt ein fünftes Ausführungsbeispiel eines Verfah rens zum Messen eines Isolationswiderstands der vorliegenden Erfindung. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist eine Station für eine Hochspannungsvorladung S_HP als eine Vorladungssta tion vorgesehen. Bei dieser Hochspannungsvorladungsstation S_HP wird eine Gleichspannung Ehp, die größer als die Meß spannung Em (Betriebsspannung) und die Ladespannung Ehp ist, so eingestellt, daß die Spannung e an beiden Enden eines Kondensators 1 gleich oder weniger als die Meßspannung Em während der offenen Zeitdauer abnimmt. Beispielsweise ist, wenn die offene Zeitdauer auf 20 Sekunden eingestellt ist, Ehp/Em auf beispielsweise 1,05 bis 1,15 eingestellt. Die Ziffer 8 ist eine Leistungsversorgung für eine Hochspan nungsvorladungsstation und die Ziffer 9 ist ein Anschluß für die Hochspannungsvorladung.

Fig. 9A ist eine Ansicht, die die Spannung e an beiden Enden eines Kondensators 1 zeigt, die sich auf eine Zeitänderung bezieht, gemäß der Isolationswiderstandsmeßvorrichtung von Fig. 9.

Die gestrichelte Linie in Fig. 9A zeigt die Spannung e, die sich auf eine Zeitänderung bezieht, wenn die Standardspan nung, die gleich der Meßspannung Em ist, als eine Vorladung angelegt ist. Bei diesem Fall wird, wenn die offene Zeitdau er länger wird, die Spannungsabnahme der Spannung e größer, wodurch es eine längere Zeit dauert, zu messen, da der Un terschied zwischen der Spannung e und der Meßspannung Em beim Messen groß ist. Auf der anderen Seite kann, wenn die Hochspannungsvorladung durchgeführt wird, wie bei dem fünf ten Ausführungsbeispiel, wie es durch die durchgezogene Linie in Fig. 9A gezeigt ist, der leckende Strom in einer kürzeren Zeit gemessen werden. Daher ist der Unterschied zwischen der Spannung e und der Meßspannung Em klein und die geladenen Ströme werden gesammelt, wenn die Meßspannung Em angelegt ist.

Obwohl ferner die Spannung Ehp der Hochspannungsvorladung höher als die Meßspannung Em ist, ist die Spannung, die an beiden Enden eines Kondensators angelegt ist, nicht höher als die Meßspannung Em, wenn gemessen wird, wodurch verhin dert wird, daß der Umkehrstrom fließt. Daher kann ein Fehl beurteilen von schlechten Produkten als gute Produkte ver hindert werden.

Fig. 10 zeigt ein sechstes Ausführungsbeispiel der Vorrich tung zum Messen eines Isolationswiderstands der vorliegenden Erfindung.

Bei diesem Ausführungsbeispiel, wie bei dem fünften Ausfüh rungsbeispiel ist eine Hochspannungsvorladungsstation Shp zum Laden durch die Spannung Ehp, die größer als die Meß spannung Em ist, vorgesehen, und es ist ferner eine Vorla dungsstation Sp zum Laden durch die Spannung Ep, die die gleiche Spannung wie die Meßspannung Em vor dem Messen aufweist, vorgesehen. Bei diesem Fall muß die Ladespannung Ehp nicht derart eingestellt sein, daß die Spannung e, die an beiden Enden eines Kondensators angelegt ist, gleich oder weniger als die Meßspannung Em während der offenen Zeitdauer abnimmt. Die Ladungsspannung Ehp kann höher als dieselbe eingestellt sein.

Fig. 10A zeigt die Spannung e, die an beide Enden eines Kon densators angelegt ist, und die sich auf eine Zeitänderung bezieht, gemäß der Vorrichtung zum Messen eines Isolations widerstands der vorliegenden Erfindung, die in Fig. 10 ge zeigt ist.

Bei diesem Fall kann durch Durchführen einer Hochspannungs vorladung eine Selbstladung in einer kürzeren Zeitdauer durchgeführt werden. Und trotz der Zeitdauer zwischen der Vorladung S_p und der Messung S_m kann eine Ladung zu einer dielektrischen Polarisationskomponente vollständig durchge führt werden. Ferner ist, wenn ein normaler Kondensator verwendet wird, die Charakteristik der durchgezogenen Linie gezeigt. Es gibt jedoch einige Kondensatoren, deren Charak teristik der gestrichelten Linie ähnelt, bei der die Span nungsabnahme der Spannung e klein ist. Als ein Resultat kann ein Umkehrstrom fließen, wenn durch das Meßverfahren von Fig. 9A gemessen wird. Gemäß dem Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands von Fig. 10 kann, da die Vorladung mit der Standardspannung Em vor dem Messen durchgeführt wird, die Spannung e des Kondensators auf die Standardspannung in der zweiten Vorladung korrigiert werden, wodurch sicher ver hindert wird, daß der Umkehrstrom fließt, wenn gemessen wird.

Fig. 11 zeigt ein siebtes Ausführungsbeispiel der Vorrich tung zum Messen eines Isolationswiderstands gemäß der vor liegenden Erfindung.

Bei diesem Ausführungsbeispiel wird eine Hochspannungsvorla dungsstation S_hp 1 durch die Spannung Ehp 1, die größer als die Spannung Ehp 2 ist, vor einer Hochspannungsvorladungs station S_ph 2 der Spannung Ehp 2, die größer als die Standardspannung ist, vorgesehen. Die Ziffern 8a und 8b sind Leistungsversorgungen der Hochspannungsvorladungsstationen, und die Ziffern 9a und 9b sind Hochspannungsvorladungsan schlüsse.

Fig. 11a zeigt die Spannung e an beiden Enden des Kondensa tors, die sich auf eine Zeitänderung bezieht, gemäß den Ver fahren zum Messen eines Isolationswiderstands von Fig. 11.

Bei diesem Fall kann die Selbstladung innerhalb einer kürze ren Zeitdauer durch die erste Hochspannungsvorladung SHP 1 durchgeführt werden. Ferner kann, obwohl die offene Zeit dauer von der zweiten Hochspannungsvorladung S_HP 2 zu der Messung SM kurz ist, eine Ladung zu der dielektrischen Pola risationskomponente vollständig durchgeführt werden, wodurch die gesamte Zeitdauer des Ladens und des Messens reduziert wird. Detailliert ausgedrückt, wird die offene Zeitdauer der ersten Ladung auf 0,1 bis 0,2 Sekunden verkürzt, und die offene Zeitdauer der zweiten Ladung kann auf 0,5 Sekunden verkürzt werden.

Es wird vorgezogen, daß die Ladespannung Ehp 2 der zweiten Hochspannungsvorladung derart eingestellt ist, daß die Span nung e, die an beide Enden eines Kondensators angelegt ist, gleich oder weniger als die Meßspannung Em während der offe nen Zeitdauer abnimmt.

Ein Verfahren zur Vorladung gemäß der vorliegenden Erfindung ist nicht auf die obigen Ausführungsbeispiele begrenzt, und verschiedene Modifikationen sind wie folgt möglich:

Fig. 12 ist ein modifiziertes Ausführungsbeispiel eines Ver fahrens zum Messen eines Isolationswiderstands von Fig. 9 und Fig. 9A. Bei diesem Ausführungsbeispiel sind zwei Schritte einer Hochspannungsvorladung, nämlich eine erste Hochspannungsvorladung durch die Spannung Ehp und eine zwei te Hochspannungsvorladung durch die Spannung Ep, die niedri ger als die Spannung Ehp ist, die jedoch höher als die Span nung Em ist, vorgesehen. Wenn hier die Spannung Ehp 2,5 mal der Meßspannung Em entspricht, und die Spannung Ep auf 1,05 bis 1,15 mal der Meßspannung Em eingestellt ist, kann die offene Zeitdauer auf 2 bis 3 Sekunden verkürzt werden, wo durch ein bevorzugter Vorteil erreicht wird. Die Summe der Zeitdauer der Hochspannungsvorladung durch die Spannung Ehp und der Zeitdauer der Hochspannungsvorladung durch die Span nung Ep kann 5 bis 200 Millisekunden betragen.

Fig. 13 zeigt ein modifiziertes Ausführungsbeispiel eines Verfahrens zum Messen eines Isolationswiderstands von Fig. 10 und Fig. 10A. Bei diesem Ausführungsbeispiel sind zwei Schritte einer Hochspannungsvorladung nämlich eine erste Hochspannungsvorladung durch die Spannung Ehp und eine zwei te Hochspannungsladung durch die Spannung Ep, die niedriger als die Spannung Ehp ist, die jedoch höher als die Meßspan nung Em ist, vorgesehen. Bei diesem Fall kann die offene Zeitdauer, wie bei dem Ausführungsbeispiel von Fig. 12, ebenfalls verkürzt werden.

Fig. 14 zeigt ein modifiziertes Ausführungsbeispiel von Fig. 12. Bei diesem Ausführungsbeispiel wird eine elektrische Entladungszeitdauer zwischen der ersten Hochspannungsvorla dung durch die Spannung Ehp und der zweiten Hochspannungs vorladung durch die Spannung Ep eingefügt. Da nämlich die elektrische Entladung kurz nach der ersten Hochspannungsvor ladung durchgeführt wird, selbst wenn die Spannung Ehp der Hochspannungsvorladung höher als notwendig eingestellt ist, wird die nicht notwendige Last durch die elektrische Entla dung emittiert. Dies verhindert folglich, daß die geladene Spannung zu hoch wird, und es werden Meßdefekte verhindert.

Fig. 15 zeigt ein modifiziertes Ausführungsbeispiel von Fig. 13. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist eine elektrische Ent ladungszeitdauer und eine offene Zeitdauer zwischen der ersten Hochspannungsvorladung durch die Spannung Ehp und der zweiten Hochspannungsvorladung durch die Spannung Ep einge fügt. Bei diesem Fall kann ebenfalls, da die elektrische Entladung kurz nach der ersten Hochspannungsvorladung durch geführt wird, selbst wenn die Spannung Ehp der Hochspan nungsvorladung höher als notwendig eingestellt ist, eine nicht notwendige Last durch die elektrische Entladung emittiert werden, wodurch Meßdefekte beim Messen verhindert werden.

Claims

1. Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands, mit folgenden Schritten:
Vorladen eines Kondensators mit einer Ladungsspannung (Ep),
Warten einer Zeitdauer von einem Ende der Vorladung;
Anlegen einer Meßspannung (Em) an den Kondensator nach der Wartezeitdauer; und
Messen eines Isolationswiderstands durch einen Lade strom, der durch den Kondensator fließt;
wobei die Wartezeitdauer von dem Ende der Vorladung zu dem Anlegen der Meßspannung (Em) auf eine Zeitdauer in einem offenen Zustand eingestellt ist, und bezüglich der Dauer ausreichend ist, so daß der Kondensator einer Selbstladung ausgesetzt ist.

2. Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands gemäß Anspruch 1, bei dem die Zeitdauer (T₁) der Vorladung auf eine Ladezeitdauer einer Kapazität (C₀) eines Kon densators eingestellt ist, dahingehend, daß eine Zeit dauer (T₂) von dem Ende der Vorladung zu dem Anlegen einer Meßspannung (E_m) auf eine Zeitdauer in einem offenen Zustand eingestellt ist, und dahingehend, daß eine Zeitdauer (T₂) in einem offenen Zustand auf eine Zeitdauer eingestellt ist, bei der die Komponente (D) der dielektrischen Polarisation des Kondensators selbst-geladen wird.

3. Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands gemäß Anspruch 1, bei dem die Zeitdauer (T₁) der Vorladung länger als eine Zeitdauer (Tb) eingestellt ist, die eine Summe einer Ladezeit (A) der Kapazität eines Kon densators und einer Übergangszeit (B) der Kapazität ei nes Kondensators ist.

4. Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands gemäß Anspruch 2, bei dem die Zeitdauer (T1) der Vorladung länger als eine Zeitdauer (Tb) eingestellt ist, die ei ne Summe einer Ladezeit (A) einer Kapazität eines Kon densators und einer Übergangszeit (B) einer Kapazität eines Kondensators ist.

5. Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands gemäß Anspruch 1, bei dem eine offene Zeitdauer (T₂) der Selbstladung länger als eine Zeitdauer (Tc) eingestellt ist, bei der der Ladestrom einen Ladestromwert (A1) er reicht, der fließt, wenn eine Betriebsspannung quer zu dem Isolationswiderstand (R) eines Kondensators ange legt ist.

6. Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands gemäß Anspruch 2, bei dem eine offene Zeitdauer (T2) der Selbstladung länger als eine Zeitdauer (Tc) eingestellt ist, bei der der Ladestrom einen Ladestromwert (A1) erreicht, der fließt, wenn eine Betriebsspannung quer zu einem Isolationswiderstand (R) eines Kondensators angelegt ist.

7. Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands gemäß Anspruch 3, bei dem eine offene Zeitdauer (T₂) der Selbstladung länger als eine Zeitdauer (Tc) eingestellt ist, bei der der Ladestrom einen Ladestromwert (A1) er reicht, der fließt, wenn eine Betriebsspannung quer zu dem Isolationswiderstand (R) eines Kondensators ange legt ist.

8. Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands gemäß Anspruch 4, bei dem eine offene Zeitdauer (T₂) der Selbstladung länger als eine Zeitdauer (T2) eingestellt ist, bei der der Ladestrom einen Ladestromwert (A1) er reicht, der fließt, wenn eine Betriebsspannung quer zu einem Isolationswiderstand (R) eines Kondensators ange legt ist.

9. Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands gemäß einem der Ansprüche 1 bis 8, bei dem eine erste Vorla dung mit der gleichen Spannung wie die Meßspannung (Em) durchgeführt wird, eine zweite Vorladung nach einer vorbestimmten offenen Zeitdauer durchgeführt wird, und eine Messung danach durchgeführt wird.

10. Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands gemäß einem der Ansprüche 1 bis 8, bei dem die Ladespannung (Ep) der Vorladung höher als die Meßspannung (Em) ein gestellt ist, und die Ladespannung (Ep) derart einge stellt ist, daß eine Spannung (e) an beiden des Konden sators auf einen Wert, der gleich oder kleiner als die Meßspannung (Em) ist, in der offenen Zeitdauer abnimmt.

11. Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands gemäß Anspruch 1 bis 8, bei dem eine erste Vorladung mit der Spannung (Ep) durchgeführt wird, die höher als die Meß spannung (Em) ist, eine zweite Vorladung mit der glei chen Spannung wie der Meßspannung (Em) unmittelbar vor der Messung in der offenen Zeitdauer durchgeführt wird.

12. Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands gemäß einem der Ansprüche 1 bis 8, bei dem eine erste Vorla dung mit einer Spannung (EP1) durchgeführt wird, die größer als die Meßspannung (Em) ist, eine zweite Vor ladung mit einer Spannung (Ep2) durchgeführt wird, die kleiner als die Spannung (Ep1) und höher als die Meß- spannung (Em) nach einer vorbestimmten offenen Zeit dauer ist, und das Messen nach einer vorbestimmten offenen Zeitdauer durchgeführt wird.

13. Verfahren zum Messen eines Isolationswiderstands gemäß Anspruch 11 oder 12, bei dem eine elektrische Entladung unmittelbar nach der ersten Vorladung durchgeführt wird.