Es
ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Testschaltung zum Gleichstromtesten,
die ein einfaches Layoutdesign aufweist und niemals eine Fehlfunktion
der Schaltung aufgrund einer gleichzeitigen Änderung ihrer Ausgaben verursacht,
und Verfahren zum Gleichstromtesten unter Verwendung derselben anzugeben.
Diese
Aufgabe wird gelöst
durch eine Testschaltung nach Anspruch 1 beziehungsweise ein Verfahren
nach Anspruch 4 oder 6.
Weiterbildungen
der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
Die
vorliegende Erfindung liefert ein Verfahren zum Gleichstromtesten
unter Verwendung einer Testschaltung zum Gleichstromtesten, bei
der die Anzahl der Schaltungen, die zu dem LSI hinzugefügt werden,
minimiert ist, die ein einfaches Layoutdesign aufweist und niemals
eine Fehlfunktion der Schaltung aufgrund der gleichzeitigen Änderung
ihrer Ausgaben verursacht.
Entsprechend
Anspruch 1 kann der Selektor den Wert, der von dem zur Ausgabe freigegebenen Puffer
ausgegeben wird, ändern,
während
dieser zwischen den Testschaltungen zirkuliert wird. Derart kann
ein vorgeschriebener Wert nur in dem zur Ausgabe freigegebenen Puffer
gesetzt werden, der ausgewählt
worden ist, um eine Fehlfunktion der Schaltung aufgrund einer gleichzeitigen Änderung
ihrer Ausgaben zu verhindern. Dementsprechend kann die Testschaltung
zum Gleichstromtesten, die niemals eine Fehlfunktion der Schaltung
aufgrund einer gleichzeitigen Änderung
ihrer Ausgaben verursacht, angegeben werden. Zusätzlich kann ein einfaches Layoutdesign
(Schaltungsdesign) erreicht werden, da die Signalleitung einfach
so angeordnet ist, dass sie benachbarte Testschaltungen in dem LSI
verbindet.
Entsprechend
Anspruch 3 kann der Selektor den Wert, der von dem zur Ausgabe freigegebenen Puffer
ausgegeben wird, geeignet invertieren, während er zwischen den Testschaltungen
zirkuliert wird. Derart kann nur der Ausgabewert von dem zur Ausgabe
freigegebenen Puffer, welcher ausgewählt worden ist, invertiert
werden, um eine Fehlfunktion der Schaltung aufgrund einer gleichzeitigen Änderung
ihrer Ausgaben zu verhindern. Dementsprechend kann die Testschaltung
zum Gleichstromtesten, die niemals eine Fehlfunktion der Schaltung
aufgrund einer gleichzeitigen Änderung
ihrer Ausgaben verursacht, angegeben werden. Zusätzlich kann ein einfaches Layoutdesign
erreicht werden, da die Signalleitung nur so angeordnet ist, dass
sie benachbarte Testschaltungen in dem LSI verbindet.
Entsprechend
Anspruch 4 kann der Selektor geeignete Werte, die momentan von den
zur Ausgabe freigegebenen Puffern ausgegeben werden, ändern, während diese
zwischen den Testschaltungen zirkuliert werden, und die geänderten
Werte werden gleichzeitig in den zur Ausgabe freigegebenen Puffern
durch die Testschaltungen gesetzt. Derart kann eine Fehlfunktion
der Schaltung aufgrund einer gleichzeitigen Änderung ihrer Ausgaben verhindert werden,
falls die Anzahl der zur Ausgabe freigegebenen Puffer, deren Werte
geändert
werden, die gleichzeitige Änderungsrandbedingung
erfüllt.
Entsprechend
Anspruch 6 wird die Mehrzahl der zur Ausgabe freigegebenen Puffer
in Gruppen unterteilt, so dass sie die gleichzeitige Änderungsrandbedingung
erfüllen,
und die Werte von den zur Ausgabe freigegebenen Puffern in einer
Gruppe werden für
die entsprechende Gruppe invertiert. Derart kann, in dem die Anzahl
der zur Ausgabe freigegebenen Puffer in jeder Gruppe die gleichzeitige Änderungsrandbedingung
erfüllt,
eine Fehlfunktion der Schaltung aufgrund einer gleichzeitigen Änderung
ihrer Ausgaben verhindert werden. Des weiteren verwendet die Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung die Grenzabtastschaltung, die in IEEE1149.1 standardisiert
ist, als eine Testschaltung zum Gleichstromtesten. Da die Grenzabtastschaltung
auch als eine Schaltung zum Platinentesten verwendet werden kann,
wird die Anzahl der Schaltungen, die dem LSI hinzugefügt wird,
minimiert und das Layoutdesign wird vereinfacht.
Entsprechend
Anspruch 7 wird die Mehrzahl der zur Ausgabe freigegebenen Puffer
in Gruppen unterteilt, um die gleichzeitige Änderungsrandbedingung zu erfüllen, und
die Ausgabewerte von den zur Ausgabe freigegebenen Puffern in einer
Gruppe werden auf vorgeschriebene werte für jede Gruppe eingestellt.
Derart kann, indem die Anzahl der zur Ausgabe freigegebenen Puffer
in jeder Gruppe zum Erfüllen
der gleichzeitigen Änderungsrandbedingung gebracht
wird, eine Fehlfunktion der Schaltung aufgrund einer gleichzeitigen Änderung
der jeweiligen Ausgaben verhindert werden. Zusätzlich verwendet die Ausführungsform
der vorliegenden Erfindung die Grenzabtastschaltung, die in IEEE1149.1
standardisiert worden ist, als eine Testschaltung zum Gleichstromtesten.
Da die Grenzabtastschaltung auch als eine Schaltung zum Platinentesten
beziehungsweise zum Testen der verbleibenden Schaltung verwendet werden
kann, kann die Anzahl der Schaltungen, die dem LSI hinzugefügt wird,
minimiert werden.
Die
Erfindung wird nun in der Beschreibung von Ausführungsbeispielen anhand der
beigefügten Zeichnungen
näher erläutert.
Von
den Figuren zeigen:
1 eine
Blockdarstellung, die die Struktur einer Gleichstromtesteinheit
für Ausgabepuffer
zeigt;
2 ein
Schaltbild, das einen LSI zeigt, der eine her kömmliche Testschaltung zum Gleichstromtesten
auf weist;
3 ein
Schaltbild, das die Testschaltung in Überein Stimmung mit einer ersten
Ausführungsform der
vor liegenden Erfindung zeigt;
4 ein
Schaltbild, das die Testschaltung zum Gleich Stromtesten in Übereinstimmung
mit der ersten Aus führungsform
zeigt;
5 einer
Blockdarstellung, die die Struktur einer Gleichstromtesteinheit
für Ausgabepuffer
in Über
einstimmung mit einer zweiten Ausführungsform zeigt;
6 ein
Schaltbild, das eine Testschaltung zum Gleich Stromtesten in Übereinstimmung
mit der zweiten Ausführungsform
zeigt;
7 ein
Schaltbild, das eine Grenzabtastschaltung zeigt, die IEEE1149.1
standardisiert ist;
8 eine
Blockdarstellung, die die Struktur einer Gleichstromtesteinheit
für Ausgabepuffer
in Über
einstimmung mit einer dritten Ausführungsform zeigt;
9 ein
Ablaufdiagramm, das den Prozeß zeigt,
der in der Gleichstromtesteinheit für Ausgabepuffer in Übereinstimmung
mit der dritten Ausführungsform
ausgeführt
wird; und
10 eine
Darstellung, die die Verbindung für die Grenzabtastschaltung
in Übereinstimmung
mit einer vierten Ausführungsform
zeigt.
Unter
Bezugnahme auf die Zeichnungen wird eine Gleichstromtestschaltung
für Ausgabepuffer
als eine der Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung beschrieben. Es ist zu bemerken, daß in der
folgenden Beschreibung dieselben Teile dieselben Bezugszeichen,
Namen und Funktionen aufweisen, und daher wird die Beschreibung
derselben nicht wiederholt.
Erste Ausführungsform
Die
herkömmliche
Einheit, die unter Bezugnahme auf 1 beschrieben
worden ist, wird für eine
Gleichstromtesteinheit für
Ausgabepuffer in Übereinstimmung
mit einer ersten Ausführungsform verwendet.
Unter
Bezugnahme auf 3, eine Testschaltung 20,
die in der ersten Ausführungsform
verwendet wird, enthält:
eine Signalleitung 13a, die Testdaten von einem Schieberegister
in einer vorhergehenden Stufe überträgt; ein
Schieberegister 16, das die Signalleitung 13a oder
eine Haltesignalleitung 14, die später beschrieben wird, in Übereinstimmung
mit einem Wert auf einer Datenauswahlsignalleitung 15 auswählt und
auf ein Taktsignal, das von einer Schiebetaktsignalleitung 18 angelegt
wird, reagiert, zum Empfangen und Ausgeben von Testdaten von einer der
Signalleitungen 13a und 14; eine Signalleitung 13b,
die die Testdaten, die von dem Schieberegister 16 ausgegeben
werden, an ein Schieberegister in einer nachfolgenden Stufe überträgt; ein
Aktualisierungsregister 17, das die Testdaten von dem Schieberegister 16 empfängt, und
die Testdaten als Reaktion auf ein Taktsignal, das von einer Aktualisierungtaktsignalleitung 19 angelegt
wird, hält
und ausgibt; eine Haltesignalleitung 14, die die Testdaten,
die von dem Aktualisierungsregister 17 ausgegeben werden, an
ei nen Eingang des Schieberegisters 16 überträgt; eine Signalleitung 12,
die ein Signal, das von einer Systemlogik geliefert wird, überträgt; und
ein Selektor 8, der einen Wert auf der Signalleitung 12 oder den
Testwert, der von dem Aktualisierungsregister 17 ausgegeben
wird, in Übereinstimmung
mit einem Wert auf einer Gleichstromtestauswahl-Signalleitung 10 auswählt. Eine
Ausgabe des Selektors 8 wird extern durch einen Ausgabepuffer 7 ausgegeben.
Beim
Gleichstromtesten können
Testdaten, die in dem Aktualisierungsregister 17 gehalten
werden, von dem Ausgabepuffer 7 durch Manipulieren des
Wertes auf der Gleichstromtestauswahl-Signalleitung 10 ausgegeben
werden.
Unter
Bezugnahme auf 4, eine Testschaltung zum Gleichstromtesten
weist auf: vier Testschaltungen 20a – 20d; vier Ausgabepuffer 7a – 7d, die
entsprechend den Testschaltungen 20a – 20d entsprechen;
eine Signalleitung 13, die Testdaten überträgt; und einen Selektor 60,
der auf einen Wert auf einer Testdatenauswahlsignalleitung 21 reagiert, zum
Auswählen
und Ausgeben von einer von zwei Eingaben, wie es in Verbindung mit 3 beschrieben
worden ist.
Die
Signalleitung 13a für
die Testschaltung 20d ist mit einem Ausgang des Selektors 60 verbunden.
Die Signalleitung 13a für
die Testschaltung 20c ist mit der Signalleitung 13b für die Testschaltung 20d verbunden.
Die Signalleitung 13a für
die Testschaltung 20b ist mit der Signalleitung 13b für die Testschaltung 20c verbunden.
Die Signalleitung 13a für die
Testschaltung 20a ist mit der Signalleitung 13b für die Testschaltung 20b verbunden.
Die beiden Eingänge
des Selektors 60 sind entsprechend mit der Signalleitung 13b für die Testschaltung 20a beziehungsweise
einer Gleichstromtestdateneingang-Signalleitung 11 verbunden.
Es
wird nun ein Gleichstromtest unter Verwendung der Testschaltung
zum Gleichstromtesten so beschrieben, daß er eine gleichzeitige Änderung von
Ausgaben berücksichtigt.
Es wird angenom men, wenn es vier Ausgabepuffer 7 gibt,
wie es in 4 gezeigt ist, daß die gleichzeitige Änderungsnebenbedingung
gleich zwei ist, so daß nur
zwei der Ausgaben von den Ausgabepuffern 7 gleichzeitig
geändert werden
können.
Daher müssen,
um alle Ausgabewerte von den Ausgabepuffern 7a – 7d auf
L zu setzen, die Ausgabepuffer 7a – 7d in zwei Gruppen
zum aufeinanderfolgenden Ändern
der Ausgabewerte auf L unterteilt werden. Zu dieser Zeit ist, während verschiedene
Kombinationen der Ausgabepuffer möglich sind, die Kombination
der Ausgabepuffer, die den größtmöglichen
Abstand zwischen diesen ermöglicht,
wünschenswert,
so wie die Gruppen aus den Ausgabepuffern 7a und 7c und
den Ausgabepuffern 7b und 7d.
Die
Testschaltung mit einem solchen Schiebebetrieb ist im allgemeinen
so aufgebaut, daß der Wert
zu dem benachbarten Puffer auf einem Chip verschoben wird. Dementsprechend
kann, durch Unterteilen der Ausgabepuffer in Gruppen, die Abstände zwischen
diesen ermöglichen,
die Stromlast auf eine Mehrzahl von Stromversorgungsanschlußstiften,
die auf dem Chip verteilt sind, verteilt werden, wodurch eine lokale
Erzeugung von lautem bzw. starkem Rauschen verhindert wird.
Basierend
auf der Gruppierung wird die folgende Verarbeitung zum Ausgeben
von L-Signalen aus den Ausgabepuffern 7a und 7c ausgeführt.
Eine
Musterzuführeinheit 4 setzt
einen Wert auf der Datenauswahlsignalleitung 15 als eine
Eingabe für
das Schieberegister 16, so daß ein Wert auf der Haltesignalleitung 14 für jede der
Testschaltungen 20a – 20d ausgewählt wird.
Danach wird ein Takt an das Schieberegister 16 über einen
Schiebetakt 18 angelegt. Der Betrieb ermöglicht es,
daß Daten,
die momentan durch die Ausgabepuffer 7a – 7d ausgegeben
werden, in dem Schieberegister 16 für jede der Testschaltungen 20a – 20d gesetzt
werden.
Dann
führt die
Musterzuführeinheit 4 einen Schiebebetrieb
viermal aus, um die Ausgabewerte von den Ausgabepuffern 7a und 7c auf
L zu setzen, während
die Daten, die in dem Schieberegister 16 gesetzt worden
sind, für
jeden der Ausgabepuffer 7a – 7d einmal zirkulieren.
Die Datenausgabe von dem Selektor 60 während des ersten Schiebebetriebes würde in dem
Ausgabepuffer 7a nach dem vierten Schiebebetrieb gesetzt
sein. Derart ist ein L-Signal als ein Wert auf der Gleichstromtestdateneingabe-Signalleitung 11 gesetzt
und ein Wert der Testdatenauswahlsignalleitung 21 ist so
gesetzt, daß der
Wert auf der Gleichstromtestdateneingang-Signalleitung 11 als ein Ausgangssignal
von dem Selektor 60 ausgewählt wird. Der Takt wird dann
an das Schieberegister 16 für jede der Testschaltungen 20a – 20d angelegt.
Es ist zu bemerken, daß der
Wert der Datenauswahlsignalleitung 15 in jedem der Schieberegister 16 derart
gesetzt ist, daß der
Wert für
die Signalleitung 13a während
des Schiebebetriebs gesetzt wird. Der Betrieb führt den ersten Schiebebetrieb aus.
Die
Datenausgabe von dem Selektor 60 während des nächsten Schiebebetriebes ist
der Wert, der von dem Ausgabepuffer 7b nach dem vierten
Schiebebetrieb ausgegeben werden würde. Der Wert für die Signalleitung 13b der
Testschaltung 20a wird auf den Wert eingestellt, der momentan
von dem Ausgabepuffer 7b ausgegeben wird. Die Datenausgabe
von dem Ausgabepuffer 7b wird während dieser vier Schiebebetriebsabläufe nicht
geändert.
Derart setzt die Musterzuführeinheit 4 einen
Wert der Testdatenauswahlsignalleitung 21 derart, daß der Wert
für die
Signalleitung 13b in der Testschaltung 20a als
ein Ausgangssignal von dem Selektor ausgewählt wird. Danach wird ein Takt
an das Schieberegister 16 für jede der Testschaltungen 20a – 20d angelegt.
Dieses führt
den zweiten Schiebebetrieb aus.
In ähnlicher
Weise setzt die Musterzuführeinheit 4 den
Wert (L-Signal)
für die
Gleichstromtestdateneingang-Signalleitung 11 als das Ausgangssignal von
dem Selektor 60, um so die Datenausgabe von dem Ausgabepuffer 7c zu
setzen, und führt
den dritten Schiebebetrieb aus. Des weiteren setzt die Musterzuführeinheit 4 den
Wert für
die Signalleitung 13b in der Testschaltung 20a als
das Ausgangssignal von dem Selektor 60, um so die Datenausgabe
von dem Ausgabepuffer 7d zu setzen, und führt den
vierten Schiebebetrieb aus.
Durch
den zuvor beschriebenen Prozeß wird das
L-Signal in dem Schieberegister 16 für die Testschaltungen 20a und 20c gehalten.
Zusätzlich
werden die Werte, die von den Ausgabepuffern 7b und 7d ausgegeben
worden sind, vor dem vierten Schiebebetrieb in den Schieberegistern 16 für die Testschaltungen 20b beziehungsweise 20d gehalten.
Danach
legt die Musterzuführeinheit 4 ein Taktsignal
an das Aktualisierungsregister 17 jeder der Testschaltungen 20a – 20d an.
Dann werden die Werte, die in dem Schieberegister 16 gesetzt
worden sind, in dem Aktualisierungsregister 17 gehalten,
und die Werte, die in den Aktualisierungsregistern 17 gehalten
worden sind, werden von den Ausgabepuffern 7a – 7d über die
Selektoren 8 ausgegeben. Es ist zu bemerken, daß der Wert
auf der Gleichstromtestauswahlsignalleitung 10 zum Auswählen des
Ausgangs beziehungsweise der Ausgabe von dem Aktualisierungsregisters 17 gesetzt
ist. Zu dieser Zeit ist garantiert, daß sich die Datenausgabe von
den Ausgabepuffern 7b und 7d nicht ändern würde. Derart
ist die Anzahl der Ausgaben beziehungsweise Ausgänge, die sich ändern würde, höchstens
zwei, was die gleichzeitige Änderungsrandbedingung
erfüllt.
In ähnlicher
Weise setzt, durch viermaliges Ausführen des Schiebebetriebs und
einmaliges Aktualisieren des Wertes, der in dem Aktualisierungsregister 17 gehalten
ist, die Musterzuführeinheit 4 die Datenausgabe
von den Ausgabepuffern 7b und 7d auf L. Der Prozeß beziehungsweise
Verarbeitungsvorgang, der zuvor beschrieben worden ist, erlaubt es,
Daten von allen Ausgabepuffern 7a – 7d auf L auszugeben,
während
die gleichzeitige Änderungsrandbedingung
befriedigt wird. Derart kann eine Gleichstrommeßeinheit 5 die Ausgabepuffereigenschaften
messen, wenn die Ausgaben von den Ausgabepuffern 7a – 7d auf
L sind. Ähnlich
kann die Musterzuführeinheit 4 Ausgabewerte
aller Ausgabepuffer 7a – 7d auf H einstellen
und die Gleichstrommeßeinheit 5 kann
die Ausgabepuffereigenschaften messen, wenn die Ausgabewerte von
den Ausgabepuffern 7a – 7d auf
H sind.
Es
ist zu bemerken, daß in
der vorliegenden Ausführungsform,
es (das Ausgabemuster) präziser bestimmt
werden kann, zum Beispiel unter Berücksichtigung der Gesamtstrommenge,
die durch die Ausgabepuffer 7a – 7d fließt, oder
der Position der Stromversorgungsanschlußstifte, während die gleichzeitige Änderungsrandbedingung
für die
Ausgabepuffer 7a – 7d gleich
zwei ist.
Die
Gleichstromtesteinheit für
die Ausgabepuffer in Übereinstimmung
mit der ersten Ausführungsform
ist dieselbe wie diejenige des herkömmlichen Beispiels aus der
Beschreibungseinleitung. Derart kann die Gleichstrommessung der
Ausgabepuffer 7a – 7d in
derselben Weise wie in dem herkömmlichen
Beispiel verwirklicht werden, falls das Funktionsmustern zum Ausführen des
oben beschriebenen Prozesses vorläufig vorbereitet ist.
Bei
der vorliegenden Ausführungsform
kann, während
einige unterschiedliche Muster in Betracht gezogen werden können, die
Betriebsprozedur der Gleichstromtesteinheit für die Ausgabepuffer eindeutig
in Übereinstimmung
mit der gleichzeitigen Änderungsrandbedingung
bestimmt werden. Derart muß nur
die gleichzeitige Änderungsrandbedingung
durch einen Designer eingestellt werden, so daß, basierend auf der gleichzeitigen Änderungsrandbedingung,
das Funktionsmuster automatisch durch einen Computer erzeugt werden
kann.
Zusätzlich wird,
während
die Testschaltung zum Gleichstromtesten in Übereinstimmung mit der ersten
Ausführungsform
nur die Ausgabepuffer 7a – 7d als zur Ausgabe
freigegebene Puffer enthält, wenn
ein bidirektionaler Puffer enthalten ist, ein ähnlicher Gleichstromtest durch
Vorbereiten einer Schaltung verwirklicht werden, in der der bidirektionale Puffer
auf den Ausgabemodus fixiert ist, und durch Fixieren des bidirektionalen
Puffers auf den Ausgabemodus. Genauer gesagt, es wird verwirklicht
durch Vorbereiten einer Schaltung, die ähnlich zu der Testschaltung 20 ist,
die unter Bezugnahme auf 3 beschrieben worden ist, zum
Steuern der Eingabe/Ausgabe des bidirektionalen Puffers und durch Steuern
derselben durch die Musterzuführeinheit 4, so,
daß der
bidirektionale Puffer auf dem Ausgabemodus fixiert ist und der Wert
des Aktualisierungsregisters 17 von dem bidirektionalen
Puffer ausgegeben wird.
Zweite Ausführungsform
Unter
Bezugnahme auf 5, eine Gleichstromtesteinheit
für Ausgabepuffer
in Übereinstimmung
mit einer zweiten Ausführungsform
enthält:
einen Funktionsmusterspeicher 1 zum Speichern eines Funktionsmusters,
das durch einen Designer vorbereitet worden ist; eine Meßperiodenanalyseeinheit 2, die
mit dem Funktionsmusterspeicher 1 verbunden ist und Perioden,
in denen ein Gleichstromtesten für eine
Mehrzahl von zur Ausgabe freigegebenen Puffern basierend auf dem
Funktionsmuster ausgeführt werden
sollte, analysiert; einen Meßperiodenspeicher 3,
der mit der Meßperiodenanalyseeinheit 2 verbunden
ist und ein Analyseergebnis, das von der Meßperiodenanalyseeinheit 2 erhalten
wird, speichert; eine Musterzuführeinheit 4,
die mit dem Funktionsmusterspeicher 1 und der Meßperiodenanalyseeeinheit 3 verbunden
ist und das Funktionsmuster für
einen in der Messung befindlichen LSI in Übereinstimmung mit einer Meßperiode
zuführt;
einen Montageabschnitt 41 für einen in der Messung befindlichen
LSI, auf dem der in der Messung befindliche LSI montiert wird, für den das
Muster von der Musterzuführeinheit 4 geliefert
wird; eine Ausgabespannungsbeobachtungseinheit 26, die
Spannungen von zur Ausgabe freigegebenen Puffern des in der Messung befindlichen
LSI beobachtet; und eine Gleichstrommeßeinheit 40, die die
Spannungen der zur Ausgabe freigegebenen Puffer des in der Messung
befindlichen LSI von der Ausgabespannungsbeobachtungseinheit 26 und
die Meßperiode
des Gleichstromtestens von dem Meßperiodenspeicher 3 empfängt und ein
Gleichstromtesten für
den in der Messung befindlichen LSI, der auf dem Montageabschnitt
für den
in der Messung befindlichen LSI montiert ist, für jede Meßperiode ausführt.
Mit
unter Bezugnahme auf 6, die Testschaltung zum Gleichstromtesten
verwendet den Wert auf der Signalleitung 13b in der Testschaltung 20a nach
dem Durchgang durch ein NOT-Gatter, das heißt einen negierten Wert des
Wertes auf der Signalleitung 13b in der Testschaltung 20a,
anstelle des Wertes auf der Gleichstromtestdateneingabe-Signalleitung 11,
welcher eine Eingabe für
den Selektor 60 in einer Testschaltung zum Gleichstromtesten
in Übereinstimmung
mit der ersten Ausführungsform, die
unter Bezugnahme auf 4 beschrieben worden ist, ist.
Ein
Gleichstromtest unter Verwendung der Testschaltung zum Gleichstromtesten,
während
eine gleichzeitige Änderung
der Ausgaben berücksichtigt wird,
wird nun beschrieben. Es wird hier angenommen, daß die gleichzeitige Änderungsrandbedingung wie
in der ersten Ausführungsform
gleich zwei ist. Zusätzlich
wird das Gruppieren der Ausgabepuffer 7a – 7d in
derselben Weise wie bei der ersten Ausführungsform verwirklicht.
Die
Musterzuführeinheit 4 setzt
Daten für
die Gleichstromtestauswahlsignalleitung 10 so, daß Daten,
die in den Aktualisierungsregistern 17 gehalten werden,
von den Ausgabepuffern 7a – 7d ausgegeben werden.
Die Ausgabespannungsbeobachtungseinheit 26 beobachtet die
Ausgabespannungen für die
Ausgabepuffer 7a – 7d.
Wenn die Ausgabespannungen für
die Ausgabepuffer 7a – 7d entsprechend zum
Beispiel auf L, H, L und L sind, führt die Gleichstrommeßeinheit 40 ein
Gleichstromtesten auf L-Spannung für die Ausgabepuffer 7a, 7c und 7d aus.
Bezüglich
des Ausgabepuffers 7b wird ein Gleichstromtesten auf H-Spannung
ausgeführt.
Danach
werden Signale, die gegenüber
den momentanen Ausgabesignalen invertiert sind, in den Ausgabepuffern 7a – 7d für das Gleichstromtesten gesetzt.
Derart werden die Ausgabewerte für
die Ausgabepuffer 7a – 7d in Übereinstimmung
mit der folgenden Prozedur gesetzt.
Die
Musterzuführeinheit 4 setzt
die Daten, die von den Ausgabepuffern 7a – 7d ausgegeben werden,
in den Schieberegistern 16 in den Testschaltungen 20a – 20d.
Derart wird der Wert für
die Datenauswahlsignalleitung 15 so gesetzt, daß die Daten
für die
Haltesignalleitungen 14 als Eingaben für die Schieberegister 16 ausgewählt werden.
Danach
führt die
Musterzuführeinheit
viermal einen Schiebebetrieb aus, so daß ein invertierter Wert des
Wertes, der momentan von den Ausgabepuffern ausgegeben wird, als
der Ausgabewert von dem Ausgabepuffer 7a und 7c gesetzt
wird, während ein
Wert, der in den Ausgabepuffern 7a – 7d gesetzt ist,
einmal zirkuliert wird. Der Wert, der von dem Selektor 60 während des
ersten Schiebebetriebes ausgegeben wird, ist der Wert, der in dem
Ausgabepuffer 7a nach dem vierten Schiebebetrieb gesetzt
sein würde.
Derart wird der Wert auf der Testdatenauswahlsignalleitung 21 so
gesetzt, daß der
invertierte Wert des Wertes für
die Signalleitung 13b in der Testschaltung 20a als
ein Ausgangssignal von dem Selektor 60 ausgewählt wird.
Danach werden Takte beziehungsweise Taktpulse an die Schiebetakte
(Schiebetaktleitungen) 18 in den Testschaltungen 20a – 20d angelegt.
Es zu bemerken, daß der
Wert auf der Datenauswahlsignalleitung 15 in jedem Schieberegister 16 so
gesetzt wird, daß der
Wert für
die Signalleitung 13a während
des Schiebebetriebes gesetzt wird. Der Betrieb führt den ersten Schiebebetrieb
aus.
Die
Datenausgabe von dem Selektor 60 während des nächsten Schiebebetriebes ist
der Wert, der von dem Ausgabepuffer 7b nach dem vierten
Schiebebetrieb ausgegeben würde
beziehungsweise wird. Der Wert für
die Signalleitung 13b in der Testschaltung 20a wird
auf den Wert eingestellt, der momentan von dem Ausgabepuffer 7b ausgegeben wird.
Die Datenausgabe von dem Ausgabepuffer 7b wird durch die
vier Schiebebetriebsabläufe
nicht geändert.
Derart setzt die Musterzuführeinheit 4 den Wert
auf der Testdatenauswahlleitung 21 derart, daß der Wert
für die
Signalleitung 13b in der Testschaltung 20a als
das Ausgangssignal von dem Selektor 60 ausgewählt wird.
Dann werden Takte beziehungsweise Taktpulse an die Schiebetakte
(Schiebetaktleitungen) 18 der Schieberegister 16 in
den Testschaltungen 20a – 20d angelegt. Dieser
Betrieb führt
den zweiten Schiebebetrieb aus.
In ähnlicher
Weise setzt die Musterzuführeinheit 4 einen
invertierten Wert des Wertes für
die Signalleitung 13b in der Testschaltung 20a als
das Ausgangssignal von dem Selektor 60, um so den Wert
zu setzen, der von dem Ausgabepuffer 7c für den dritten Schiebebetrieb
ausgegeben wird. Zusätzlich
setzt die Musterzuführeinheit 4 den
Wert für
die Signalleitung 13b in der Testschaltung 20a als
das Ausgabesignal von dem Selektor 60, um so den Wert zu
setzen, der von dem Ausgabepuffer 7d für den vierten Schiebebetrieb
ausgegeben wird.
Durch
den zuvor beschriebenen Prozeß werden
invertierte Werte der Werte, die entsprechend von den Ausgabepuffern 7a und 7c vor
dem Schiebebetrieb ausgegeben worden sind, in den Schieberegistern 16 für die Testschaltungen 20a und 20c gehalten.
Zusätzlich
werden die Werte, die von den Ausgabepuffern 7b und 7d vor
dem Schiebebetrieb ausgegeben worden sind, in den Schieberegistern 16 für die Testschaltung 20b und 20d gehalten.
Es
wird angenommen, daß,
zum Beispiel, die Ausgabespannungen von den Ausgabepuffern 7a – 7d vor
dem Schiebebetrieb entsprechend auf L, H, L beziehungsweise L sind.
Dann sind die Werte der Schieberegister für die Testschaltungen 20a – 20d entsprechend
auf H, H, H beziehungsweise L.
Danach
legt die Musterzuführeinheit 4 an
die Aktualisierungsregister 17 für die Testschaltungen 20a – 20d Takte
an. Dann werden die Werte, die in den Schieberegistern 16 gesetzt
worden sind, in den Aktualisierungsregistern 17 gehalten,
und die Werte, die in den Aktualisierungsregistern 17 gehalten
worden sind, werden von den Ausgabepuffern 7a – 7d durch
die Selektoren 8 ausgegeben. Es ist zu bemerken, daß der Wert
auf der Gleichstromtestauswahlsignalleitung 10 so gesetzt
ist, daß die
Ausgaben von den Aktualisierungsregistern 17 ausgewählt werden. Zu
der Zeit ist garantiert, daß sich
nur die Daten, die von den Ausgabepuffern 7a und 7c ausgegeben
werden, ändern.
Derart wird die Anzahl der Ausgaben, die sich ändern würden, zwei nicht überschreiten, wodurch
die gleichzeitige Änderungsrandbedingung erfüllt wird.
In ähnlicher
Weise setzt, durch viermaliges Ausführen des Schiebebetriebes und
einmaliges Aktualisieren der Daten, die in dem Aktualisierungsregister 17 gehalten
werden, die Musterzuführein heit 4 invertierte
Werte für
die Werte, die von den Ausgabepuffern 7b und 7d vor
den Schiebebetriebsabläufen ausgegeben
worden sind, in die Datenausgabe von den Ausgabepuffern 7b und 7d.
Durch
den zuvor beschriebenen Prozeß kann
die Musterzuführeinheit 4 invertierte
Werte für die
Werte setzen, die von den Ausgabepuffern 7a – 7d beim
Beginnen des Gleichstromtestens ausgegeben worden sind, als die
Datenausgabe von den Ausgabepuffern 7a – 7d setzen, wobei
die gleichzeitige Änderungsrandbedingung
erfüllt
wird. Derart führt
die Gleichstrommeßeinheit 40 ein
Gleichstrommessen für
die Ausgabepuffer 7a – 7d bei
Spannungen aus, wobei L und H bezüglich der Ausgabespannungen, die
von der Ausgabespannungsbeobachtungseinheit 26 das letzte
Mal beobachtet worden sind, ausgetauscht werden. Genauer gesagt,
falls die Ausgabespannungen der Ausgabepuffer 7a – 7d beim
ersten Gleichstromtesten entsprechend auf L, H, L beziehungsweise
L waren, werden die Ausgabespannungen für die Ausgabepuffer 7a – 7d momentan
auf H, L, H beziehungsweise H gesetzt. Derart wird ein Gleichstromtesten
auf H-Spannung für
die Ausgabepuffer 7a, 7c und 7d ausgeführt. Andererseits
wird ein Gleichstromtesten auf L-Spannung für den Ausgabepuffer 7b ausgeführt.
In
der Gleichstromtesteinheit für
die Ausgabepuffer in Übereinstimmung
mit der zweiten Ausführungsform
beobachtet die Ausgabespannungsbeobachtungseinheit 26 die
Ausgabespannungen der Ausgabepuffer 7a – 7d und die Gleichstrommeßeinheit 40 führt ein
Gleichstromtesten basierend auf den Ausgabespannungen aus. Des weiteren
setzt die Musterzuführeinheit 4 als
die Ausgabespannungen für
Ausgabepuffer 7a – 7d Spannungen,
die umgekehrt zu den momentan beobachteten Ausgabespannungen sind,
und die Gleichstrommeßeinheit 40 führt ein
Gleichstromtesten aus. Als Ergebnis wird bei der vorliegenden Ausführungsform
ein Einstellen der Ausgabespannungen für die Ausgabepuffer 7a – 7d nur
einmal benötigt,
was weniger als bei der ersten Ausführungsform ist, die ein zweimaliges
Einstellen benötigt,
so daß die
Menge der Daten für
das benötigte
Funktionsmuster auf die Hälfte
reduziert werden kann. Zusätzlich
wird die Zeit, die für
das Gleichstromtesten benötigt
wird, wirksam reduziert.
Des
weiteren sind bei der Gleichstromtesteinheit für die Ausgabepuffer in Übereinstimmung mit
der zweiten Ausführungsform
die geforderten Funktionsmuster immer die selben, unabhängig von den
anfänglichen
Ausgabewerten der Ausgabepuffer 7a – 7d. Dementsprechend
kann die Gleichstromtesteinheit für die Ausgabepuffer einfach
durch Hinzufügen
der Ausgabespannungsbeobachtungseinheit 26, die die Ausgabespannungen
der Ausgabepuffer 7a – 7d beobachtet,
zu der herkömmlichen
Gleichstromtesteinheit für
Ausgabepuffer implementiert beziehungsweise verwirklicht werden,
indem die Gleichstrommeßeinheit 40 so
verbessert wird, daß sie
eine Gleichstrommessung in Übereinstimmung mit
der Ausgabe von der Ausgabespannungsbeobachtungseinheit 26 ermöglicht und
des weiteren durch Verbessern des Montageabschnittes für einen in
der Messung befindlichen LSI derart, daß die Ausgabespannungen der
Ausgabepuffer 7a – 7d durch die
Ausgabespannungsbeobachtungseinheit 26 beobachtet werden
beziehungsweise werden können. Derart
wird die Gleichstromtesteinheit für Ausgabepuffer in Übereinstimmung
mit der zweiten Ausführungsform
durch das Hinzufügen
einer kleinen Modifikation zu der herkömmlichen Gleichstromtesteinheit für Ausgabepuffer
erreicht.
Dritte Ausführungsform
In
der ersten und der zweiten Ausführungsform
ist ein Gleichstromtesten unter Verwendung einer einzigartigen Testschaltung 20 beschrieben.
In einer dritten Ausführungsform
wird ein Gleichstromtesten unter Verwendung einer Grenzabtastschaltung,
die in IEEE 1149.1 standardisiert ist, beschrieben werden.
Unter
Bezugnahme auf 7, eine Grenzabtastschaltung 42 enthält: eine
Signalleitung 13a zum Übertragen
von Testdaten aus einem Schieberegister in einer vorhergehenden
Stufe; ein Schieberegister 44, das auf ein Taktsignal,
das von einer Schiebetaktsignalleitung 18 reagiert, zum
Halten und Ausgeben eines Wertes auf der Signalleitung 13a; eine
Signalleitung 13b zum Übertragen
der Testdaten, die von dem Schieberegister 44 ausgegeben werden,
an ein Schieberegister in einer nächsten Stufe; ein Aktualisierungsregister 17,
das auf ein Taktsignal, das von einer Aktualisierungstaktsignalleitung 19 angelegt
wird, reagiert, zum Halten und Ausgeben von Daten, die von dem Schieberegister 44 ausgegeben
werden; eine Signalleitung 12 zum Übertragen eines Signals, das
von einer Systemlogik zugeführt
wird; und einen Selektor 8 zum Auswählen und Ausgeben von einem,
einem Wert auf der Signalleitung 12 oder Testdaten, die
von dem Aktualisierungsregister 17 ausgegeben werden, in Übereinstimmung
mit einem Wert auf einer Gleichstromtestauswahlsignalleitung 10.
Die Ausgabe von dem Selektor 8 wird extern über einen
Ausgabepuffer 7 ausgegeben. Es ist zu bemerken, daß ein zur
Ausgabe freigegebener bidirektionaler Puffer anstelle des Ausgabepuffers 7 verwendet
werden kann.
Unter
Bezugnahme auf 8, die Gleichstromtestschaltung
für Ausgabepuffer
in Übereinstimmung
mit einer dritten Ausführungsform
weist auf: einen Gleichzeitige-Änderungsrandbedingungsspeicher 23 zum
Speichern einer gleichzeitigen Änderungsrandbedingung,
die für
einen in der Messung befindlichen LSI zugelassen ist; einen Schaltungsinformationsspeicher 24 zum
Speichern einer Schaltungsinformation über den in der Messung befindlichen
LSI; eine Mustererzeugungsschaltung 25, die mit dem Schaltungsinformationsspeicher 24,
dem Gleichzeitige-Änderungsrandbedingungsspeicher 23 und
einer Ausgabespannungsbeobachtungseinheit 48, die später beschrieben
wird, verbunden ist, zum Erzeugen eines Funktionsmusters zum Gleichstromtesten
basierend auf der Schaltungsinformation des in der Messung befindlichen
LSI, der gleichzeitigen Änderungsrandbedingung
und den Ausgabespannungen, die von dem Ausgabepuffer 7 und
dem bidirektionalen Puffer des in der Messung befindlichen LSI ausgegeben
werden; eine Ausgabespannungsbeobachtungseinheit 48 zum
Beobachten der Ausgabespannungen, die von dem Ausgabepuffer 7 und dem
bidirektionalen Puffer des in der Messung befindlichen LSI ausgegeben
werden, der auf einem Montageabschnitt 41 für den in
der Messung befindlichen LSI montiert ist, der später beschrieben
wird; eine Musterzuführeinheit 50,
die mit der Mustererzeugungseinheit 25 verbunden ist, zum
Zuführen
des Funktionsmusters für
den in der Messung befindlichen LSI; einen Montageabschnitt 41 für den in
der Messung befindlichen LSI, auf den der in der Messung befind liche
LSI montiert ist, für
den das Muster von der Musterzuführeinheit 50 geliefert
wird; und eine Gleichstrommeßeinheit 46,
die mit der Mustererzeugungseinheit 25 verbunden ist, zum
Ausführen des
Gleichstromtestens des in der Messung befindlichen LSI, der auf
dem Montageabschnitt 41 für den in der Messung befindlichen
LSI montiert ist, basierend auf der Ausgabespannung, die von der
Ausgabespannungsbeobachtungseinheit 48 ausgegeben wird,
und dem Funktionsmuster, das von der Mustererzeugungseinheit 25 ausgegeben
wird.
Die
gleichzeitige Änderungsrandbedingung, d.h.
die Randbedingung für
die gleichzeitige Änderung
(von Ausgabespannungen), die für
den in der Messung befindlichen LSI erfüllt sein sollte, wird beim Gleichstromtesten
in dem Gleichzeitige-Änderungsrandbedingungsspeicher 23 gesetzt.
Wie bei der Gleichstromtesteinheit für Ausgabepuffer in Übereinstimmung
mit der ersten Ausführungsform
ist zwei als gleichzeitige Änderungsrandbedingung
gesetzt.
Wenn
ein Gleichstromtesten unter Verwendung der Randabtastschaltung 42 ausgeführt wird, lädt die Mustererzeugungseinheit 25 einen
EXTEST-Befehl in ein Befehlsregister (nicht gezeigt) über einen
TAP (Test Access Port = Testzugriffsanschluß). Wenn der EXTEST-Befehl
in das Befehlsregister geladen ist, wird ein Wert des Aktualisierungsregisters 17 an
einen Ausgabeanschluß (nicht
gezeigt) über
den Ausgabepuffer 7 ausgegeben. Die Ausgabespannungsbeobachtungseinheit 48 beobachtet
die Spannung an jedem Ausgangsanschluß. Die Gleichstrommeßeinheit 46 führt das
erste Gleichstromtesten in Übereinstimmung
mit der Spannung an dem Ausgangsanschluß aus.
Dann ändert die
Musterzuführeinheit 50 die Werte,
die von dem Ausgabepuffer 7 und dem bidirektionalen Puffer
ausgegeben werden, während
die gleichzeitige Änderungsrandbedingung
erfüllt
wird. Vor diesem Prozeß hat
die Mustererzeugungseinheit 25 das Funktionsmuster erzeugt.
Es ist zu bemerken, daß die
Grenzabtastschaltung 42 keine Mittel zum Übertragen
des Wertes des Aktualisierungsregisters 17 an das Schieberegister 44 aufweist.
Derart erzeugt die Mustererzeugungseinheit 25 das Funktionsmu ster
basierend auf der Information, die von der Ausgabespannungsbeobachtungseinheit 48 ausgegeben
wird.
Unter
Bezugnahme auf 9, der Betrieb der Mustererzeugungseinheit 25 zum
Erzeugen des Funktionsmusters wird beschrieben. Die Mustererzeugungseinheit 25 liest
die Schaltungsinformation des in der Messung befindlichen LSI aus
dem Schaltungsinformationsspeicher 24 und erhält die Verschiebereihenfolge
der zur Ausgabe freigegebenen Puffer in dem in der Messung befindlichen
LSI (S2). Wie bei der ersten und zweiten Ausführungsform wird nun angenommen,
daß es
vier zur Ausgabe freigegebene Puffer, die Ausgabepuffer 7a – 7d,
gibt, und daß die
Verschiebeordnung dieser Puffer gleich 7a, 7b, 7c und 7d ist.
Die Beschreibung der vorliegenden Ausführungsform wird basierend auf
dieser Annahme fortgesetzt.
Danach
liest die Mustererzeugungseinheit 25 den Wert der gleichzeitigen Änderungsrandbedingung
aus dem Gleichzeitige-Änderungsrandbedingungsspeicher 23.
Zusätzlich
teilt sie die Ausgabepuffer 7a – 7d derart in Gruppen,
daß sie
die gleichzeitige Änderungsrandbedingung
erfüllen
(S4). Falls zwei als die gleichzeitige Änderungsrandbedingung gesetzt
worden ist, teilt die Mustererzeugungseinheit 25 die Ausgabepuffer 7a – 7d derart
in Gruppen, daß der
größtmögliche Abstand
zwischen diesen ermöglicht
wird. Hier wird angenommen, daß die
Ausgabepuffer 7a – 7d in
die Gruppen der Ausgabepuffer 7a, 7c und der Ausgabepuffer 7b, 7d unterteilt
sind.
Die
Mustererzeugungseinheit 25 hält Verschiebedaten, welche
verschoben würden
beziehungsweise werden und sequentiell in das Schieberegister 44 in
der Grenzabtastschaltung 42 basierend auf der momentan
gesetzten Gruppierungsinformation und den Ausgabespannungen für die Ausgabepuffer 7a – 7d,
die durch die Ausgabespannungsbeobachtungseinheit 48 beobachtet
worden sind, gesetzt werden (S6). Als ein Beispiel wird der Fall,
in dem L, H, L und L entsprechend als die Ausgabespannungen für die Ausgabepuffer 7a – 7d beobachtet
worden sind, beschrieben werden. Während der ersten Musterzuführung liefert
die Musterzuführeinheit 50 Ver schiebedaten
zum Invertieren der Ausgabespannungen für die Ausgabepuffer 7a und 7c.
Derart erzeugt die Mustererzeugungseinheit 25 Verschiebedaten
derart, daß die
Ausgabespannungen für
die Ausgabepuffer 7a – 7d entsprechend
auf H, H, H und L in der ersten Musterzuführung sind. Eine Anzahl der
Grenzabtastschaltungen 42 sind mit dem Eingangsanschluß (Eingangsanschlußbaustein)
in dem in der Messung befindlichen LSI verbunden. Der Eingangsanschluß steht
jedoch nicht mit dem Gleichstromtesten in Beziehung. Derart ist
der Schiebewert, der in dem Schieberegister 44 in der Grenzabtastschaltung 42,
die mit dem Eingangsanschluß verbunden
ist, gesetzt werden sollte, auf einen frei wählbaren Wert gesetzt.
Bei
der zweiten Musterzuführung
liefert die Musterzuführeinheit 50 Verschiebedaten
zum Invertieren der Ausgabespannungen für die Ausgabepuffer 7b und 7d.
Derart erzeugt die Mustererzeugungseinheit 25 Verschiebedaten
derart, daß die
Ausgabespannungen für
die Ausgabepuffer 7a – 7d entsprechend
auf H, L, H und H in einer zweiten Musterzuführung sind, wie bei der ersten
Verschiebedatenerzeugung.
Die
Musterzuführeinheit 50 kann
die Verschiebedaten in dem Aktualisierungsregister 17 in der
Grenzabtastschaltung 42 durch Steuern des TAP in Übereinstimmung
mit der Prozedur, die in IEEE1149.1 bestimmt ist, setzen. Die Mustererzeugungseinheit 25 erzeugt
das Funktionsmuster basierend auf den Verschiebedaten, wobei das
Muster dem in der Messung befindlichen LSI durch die Musterzuführeinheit 50 geliefert
wird (S8).
Die
Musterzuführeinheit 50 führt den
Schiebebetrieb aus, während
das Funktionsmuster für
den in der Messung befindlichen LSI in Übereinstimmung mit der vorgeschriebenen
Prozedur geliefert beziehungsweise zugeführt wird. Wenn die Musterzuführeinheit
den letzten Verschiebebetrieb vervollständigt, kann die Gleichstrommeßeinheit 46 das
Gleichstromtesten ausführen.
Derart führt
die Gleichstrommeßeinheit 46 ein
Gleichstromtesten für
die Ausgabepuffer 7a – 7d bei
der Spannung, die umgekehrt zu derjenigen ist, die bei dem ersten
Gleichstromtesten gemessen worden ist, aus.
Die
Grenzabtastschaltung 42, die in IEEE standardisiert ist,
wurde bei dem Gleichstromtesten in Übereinstimmung mit der vorliegenden
Ausführungsform
verwendet. Das benötigte
Funktionsmuster wurde dabei leicht beziehungsweise schnell produziert.
Zusätzlich
kann die Grenzabtastschaltung 42 außerdem als eine Schaltung zum
Platinentesten verwendet werden. Darum ist die Anzahl der Schaltungen,
die dem LSI hinzuzufügen
ist, bei dem LSI-Entwurf
minimiert.
Vierte Ausführungsform
Eine
Gleichstromtesteinheit für
Ausgabepuffer in Übereinstimmung
mit einer vierten Ausführungsform
ist ähnlich
zu der herkömmlichen
Gleichstromtesteinheit für
Ausgabepuffer, die unter Bezugnahme auf 1 beschrieben
worden ist.
Zusätzlich wird
bei der vierten Ausführungsform
das Gleichstromtesten unter Verwendung der Grenzabtastschaltung 42,
die unter Bezugnahme auf 7 beschrieben worden ist, ausgeführt.
Grenzabtastschaltungen 42 sind
mit einem in der Messung befindlichen LSI verbunden, wie es in 10 gezeigt
ist. In der Zeichnung stellen q0 bis q9 Ausgänge
von zur Ausgabe freigegebenen Puffern dar.
Die
Testeinheit für
Ausgabepuffer lädt
einen EXTEST-Befehl in ein Befehlsregister über einen TAP wie bei der dritten
Ausführungsform.
Eine L-Spannung wird dadurch in allen Aktualisierungsregistern 17 gehalten.
In diesem Zustand sind die Werte für q0 bis
q9 alle auf L. Derart führt die Gleichstrommeßeinheit 5 das
Gleichstromtesten auf L-Spannung aus.
Danach
werden, wie bei der dritten Ausführungsform,
die Werte für
q0 bis q9 sequentiell
auf H gesetzt, während
die gleichzei tige Änderungsrandbedingung
erfüllt
wird, und das Gleichstromtesten bei H-Spannung wird ausgeführt.
Nun
wird beschrieben, wie die Kombinationen der zur Ausgabe freigegebenen
Puffer zu erhalten sind, so daß die
gleichzeitige Änderungsrandbedingung
erfüllt
wird. Dabei wird der Satz von Ausgängen beziehungsweise Ausgaben
von den zur Ausgabe freigegebenen Puffern als Q definiert. In der
vorliegenden Ausführungsform
wird angenommen, daß Q
= {q
0, q
1, q
2, q
3, q
4,
q
5, q
6, q
7, q
8, q
9}
ist, wobei die Elemente des Satzes Q in der angeordneten Reihenfolge,
wie sie in
10 gezeigt ist, verbunden sind. Die
Anzahl der Elemente des Satzes Q und die gleichzeitige Änderungsrandbedingung
sind entsprechend als d und M definiert. In der vorliegenden Ausführungsform
sind d = 10 und M = 3. Die kleinste Anzahl der Kombinationen P der
zur Ausgabe freigegebenen Puffer, die die gleichzeitige Änderungsrandbedingung
erfüllen,
wird in Übereinstimmung
mit der folgenden Gleichung erhalten:
In
der vorliegenden Ausführungsform
ist P = 4. Dann werden Untersätze
von Q dadurch erhalten, daß P
Elemente von Q von dem Kopfende auf einmal genommen werden. In der
vorliegenden Ausführungsform
werden drei Untersätze
erhalten, nämlich Qp(0)
= {q0, q1, q2, q3}, Qp(1) = {q4, q5, q6,
q7} und Qp(2) = {q8,
q9}.
Durch
Herausnehmen der Kopfendeelemente aus jedem Untersatz, werden weitere
Untersätze von
Q erhalten. In der vorliegenden Ausführungsform werden vier Untersätze erhalten,
nämlich
Q0 = {q0, q4, q8}, Q1 = {g1, q5, q9}, Q2 = {q2, q6} und Q3 = {q3, q7}. Diese Untersätze Q0 bis
Q3 sind Kombinationen der Ausgaben von der zur Ausgabe freigegebenen Puffern,
die gleichzeitig geändert
werden können. Die
Untersätze
Q0 bis Q3, die derart erhalten werden, erfüllen die gleichzeitige Änderungsrandbedingung,
und die Ausgaben von den zur Ausgabe freigegebenen Puffern, die
Element jedes Untersatzes sind, sind voneinander getrennt.
Bei
diesem Gleichstromtesten in Übereinstimmung
mit der vorliegenden Ausführungsform
ist die gleichzeitige Änderungsrandbedingung
nicht garantiert, wenn die Werte für q0 bis
q9 auf L gesetzt sind. Um dieses Problem
zu lösen,
kann, zum Beispiel, ein paralleles Ausgaberegister (nicht gezeigt) in
einem Test-Logik-Rücksetz-Zustand
für den
TAP auf L gesetzt sein.
Die
Grenzabtastschaltung 42, die in IEEE 1149.1 standardisiert
ist, wurde bei dem Gleichstromtesten in Übereinstimmung mit der vorliegenden
Ausführungsform
verwendet. Das benötigte
Funktionsmuster kann dabei leicht beziehungsweise schnell erzeugt
werden. Zusätzlich
kann die Grenzabtastschaltung 42 als eine Schaltung zum
Platinentesten verwendet werden, so daß die Anzahl der Schaltungen,
die einem LSI bei dem LSI-Entwurf hinzuzufügen sind, minimiert ist beziehungsweise
werden kann. Des weiteren kann die Gleichstromtesteinheit für die Ausgabepuffer
die herkömmliche
Einheit sein. Derart kann ein einfaches Gleichstromtesten unter Berücksichtigung
der gleichzeitigen Änderungsrandbedingung
erzielt werden.
