DE19741352C2 - Testsockel zum Testen von Anschlußbeinchen aufweisenden IC-Bauelementen - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft einen Testsockel zum Testen von Anschlußbeinchen aufweisenden IC-Bauelementen nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1. Solche Testsockel werden im Rahmen der Endmontage von IC-Bauelementen eingesetzt.

Zur Überprüfung von integrierten Schaltungen auf ihre Funktion werden die Halbleiter-Chips nach elektrischer Verbindung mit den Anschlußbeinchen und nach dem Um­ spritzen mit Kunststoff in Testsockel eingeführt, die pro Anschlußbeinchen des IC-Bauelements mit einem Kon­ taktstift oder dergleichen Kontaktelement ausgestattet sind, welche mit einer Testelektronik verbunden sind. Der Testsockel weist ein Gehäuse mit einer Aufnahmeaus­ nehmung für ein zu testendes IC-Bauelement auf. Je nach der Ausgestaltung der Anschlußbeinchen sind die Kontak­ telemente unterschiedlich ausgeführt. Sofern IC-Bauele­ mente verwendet werden, bei denen die Anschlußbeinchen von dem Gehäuse seitlich abstehen, wie dies beispiels­ weise bei TSOP-IC-Bauelementen der Fall ist, sind die Kontaktelemente federnd ausgebildet, wobei sie beim Andrücken der Anschlußbeinchen gegen ihre Kontaktenden elastisch nachgeben. Die Federkontaktelemente sind am Gehäuse des Testsockels gehalten und weisen neben den Kontaktierungsenden auch Anschlußenden auf, an denen die zur Testelektronik führenden Zuleitungen ange­ schlossen sind. Die Federkontaktelemente weichen beim Hineinbewegen eines IC-Bauelements in eine Aufnahmever­ tiefung in Richtung zu deren Bodenwand zurück.

Ein Testsockel der vorstehend beschriebenen Art ist ausschnittsweise in Fig. 3 der DE 195 10 276 A1 ge­ zeigt. Die Federkontaktelemente dieses bekannten Test­ sockels sind mit einem federelastisch ausgebildeten U- förmigen Mittelabschnitt versehen, der zwei zueinander parallele Schenkelabschnitte aufweist, von denen die Kontaktierungs- und Anschlußenden in entgegengesetzten Richtungen abstehen.

Die bekannten Testsockel der vorstehend beschriebenen Art haben sich in der Praxis grundsätzlich bewährt. Ein gewisser Nachteil ist durch die U-Form ihrer Federkon­ taktelemente gegeben, da hierdurch eine (parasitäre) Induktivität entsteht, die sich unter Umständen nach­ teilig auf die Testsignale sowie die Geschwindigkeit, mit der die Testsignale an die Anschlußbeinchen der IC- Bauelemente angelegt werden können, auswirkt. Ähnliche Testsockel sind ferner aus DE 196 38 402 A1, EP 0 616 223 A1, US 5,631,573 und US 5,574,383 bekannt.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Test­ sockel zum Testen von mit Anschlußbeinchen versehenen Bauelementen zu schaffen, bei dem das Entstehen parasi­ tärer Induktivitäten unterdrückt bzw. zumindest stark eingeschränkt ist.

Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt bei einem Testsockel zum Testen von Anschlußbeinchen aufweisenden IC-Bau­ elementen, der versehen ist mit

• 1. einem Halteelement und
• 2. mehreren von dem Halteelement gehaltenen gebogenen Federkontaktelementen, von denen jedes ein Kontak­ tierungsende zum Kontaktieren mit einem Anschluß­ beinchen des zu testenden IC-Bauelements und ein Anschlußende zum Anschließen einer Zuleitung und zum Halten des Federkontaktelements an dem Halte­ element aufweist,
  • 1. wobei sich an das Kontaktierungsende ein erster Schenkelabschnitt sowie an das Anschlußende jedes Federkontaktelements ein zweiter Schen­ kelabschnitt anschließt und von diesen beiden Schenkelabschnitten mindestens einer feder­ elastisch ist, und
  • 2. wobei das Kontaktierungsende Andrückkräften, die beim Bewegen des mit seinen Anschlußbein­ chen an den Kontaktierungsenden anliegenden IC- Bauelement in Richtung auf das Halteelement auftreten, elastisch zurückweicht, dadurch, daß
• 3. sich die beiden Schenkelabschnitte in einem Kreu­ zungspunkt kreuzen,
• 4. sich der Kreuzungspunkt entlang mindestens eines der beiden Schenkelabschnitte verschiebt, wenn auf das Kontaktierungsende eine Andrückkraft wirkt, und
• 5. die beiden Schenkelabschnitte in jedem ihrer Kreu­ zungspunkte zur elektrischen Verbindung unterein­ ander aneinanderliegen.

Der Testsockel weist ein Halteelement auf, an dem eine Vielzahl von Federkontaktelementen gehalten ist.

Insbesondere kann das Halteelement als Gehäuse mit einer Aufnahmeausnehmung für ein zu testendes IC-Bau­ element ausgebildet sein. An das zum Kontaktieren mit einem Anschlußbeinchen versehene Kontaktierungsende eines jeden Federkontaktelements schließt sich ein erster Schenkelabschnitt an, während sich an das zum Anschließen einer Zuleitung vorgesehene Anschlußende eines jeden Federkontaktelements ein zweiter Schenkel­ abschnitt anschließt. Zumindest einer dieser beiden Schenkelabschnitte ist federelastisch ausgebildet, so daß das Kontaktierungsende in die Aufnahmeausnehmung hinein zurückweicht, wenn ein IC-Bauelement mit seinen Anschlußbeinchen an den Kontaktierungsenden der Feder­ kontaktelemente anliegend in Richtung auf die Aufnahme­ ausnehmung bewegt wird.

Bei dem Testsockel ist vorgesehen, daß sich die beiden Schenkelabschnitte in einem Kreuzungspunkt kreuzen, wobei dieser Kreuzungspunkt entlang mindestens eines der beiden Schenkelabschnitte wandert, wenn auf das Kontaktierungsende des Federkontaktelements eine Andrückkraft wirkt. Die beiden Schenkelabschnitte berühren einander in ihrem jeweiligen Kreuzungspunkt, wodurch es zwischen beiden Schenkelabschnitten zu einer elektrischen Verbindung kommt. Durch diese elektrische Verbindung beider Schenkelabschnitte ist der Strompfad durch das Federkontaktelement verkürzt, wobei weiterhin sichergestellt ist, daß das Federkontaktelement in die Aufnahmeausnehmung des Gehäuses hinein ausweicht, wenn das IC-Bauelement mit seinen Anschlußbeinchen an den Kontaktierungsenden der Federkontaktelemente des Test­ sockels anliegt und in Richtung auf die Aufnahme­ ausnehmung bewegt wird. Der durch die Federkontakt­ elemente fließende Strom fließt dabei vom Anschlußende aus durch den sich an dieses anschließen­ den Schenkelabschnitt, und zwar nicht über dessen ge­ samte Länge, sondern lediglich bis zu dessen Kreuzungs­ punkt mit dem anderen Schenkelabschnitt, durch den der Strom dann weiter bis zum Kontaktierungsende fließt. Die effektive "elektrische" Länge des Federkontaktele­ ments ist also infolge der beiden sich unter Berührung kreuzenden Schenkelabschnitte verringert. Insbesondere durchfließt der Strom keine parasitäre Induktivitäten erzeugenden Abschnitte des Federkontaktelements.

In vorteilhafter Weiterbildung der Erfindung ist vor­ gesehen, daß sich der erste Schenkelabschnitt ausgehend vom Kontaktierungsende des Federkontaktelements mit vom Boden der Aufnahmeausnehmung weg in Richtung auf eine seitliche Begrenzungswand der Aufnahmeausnehmung hin krümmt, während der zweite Schenkelabschnitt symme­ trisch dazu gebogen ist, wobei die Symmetrieachse durch den Kreuzungspunkt der beiden Schenkelabschnitte und parallel zur Bodenfläche der Aufnahmeausnehmung ver­ läuft. Vorzugsweise sind die beiden Schenkelabschnitte parabelförmig gebogen. Durch die Krümmung der beiden Schenkelabschnitte ausgehend von den Kontaktierungs- bzw. Anschlußenden aus in Richtung auf eine Seitenwand der Aufnahmeausnehmung hin ergibt sich der Vorteil, daß der Kreuzungspunkt beim Andrücken des IC-Bauelements mit dessen Anschlußbeinchen gegen die Federkontaktele­ mente in Richtung auf die Kontaktierungs- und Anschluß­ enden der Federkontaktelemente hin sich verschiebt. Dies wiederum hat den Vorteil, daß sich die effektive "elektrische" Länge der Federkontaktelemente bei Kon­ taktierung mit dem IC-Bauelement verringert.

Um den elektrischen Kontakt der beiden Schenkelab­ schnitte sicherzustellen, ist es von Vorteil wenn die beiden Schenkelabschnitte aufeinanderzu vorgespannt sind, so daß sie stets aneinander anliegen, und zwar unabhängig davon, wo sich der Kreuzungspunkt gerade befindet. Aus montagetechnischen und fertigungstechni­ schen Gründen ist es von Vortei, wenn jedes Federkon­ taktelement als ein Teil ausgebildet ist. Dies wird bei einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung dadurch realisiert, daß die beiden Schenkelabschnitte durch einen Verbindungsabschnitt einstückig miteinander ver­ bunden sind, wobei der Verbindungsabschnitt nach Art einer Wendel oder Schlaufe mit mindestens einer Windung ausgebildet ist. Bei dieser Ausgestaltung der Erfindung gleicht jedes Federkontaktelement einer Schenkelfeder mit einem wenigstens eine Windung aufweisenden Schrau­ benfederabschnitt und mit den beiden von dieser abste­ henden Schenkelabschnitten, die einander berühren und sich kreuzen. Die dem Schraubenfederabschnitt abgewand­ ten Enden der Schenkelabschnitte tragen die Kontaktie­ rungsenden bzw. die Anschlußenden der Federkontaktele­ mente.

Die Federkraft der Federkontaktelemente wird durch die Wahl des Materials (elektrisch leitendes Material mit federelastischen Eigenschaften) und durch die Formge­ bung der Federkontaktelemente bestimmt. Bei der Ausbil­ dung der Federkontaktelemente als Schenkelfedern ist es zusätzlich möglich, durch die Anzahl der Windungen die Federkraft vorzugeben. In der Praxis hat sich herausge­ stellt, daß ein als Schenkelfeder mit einer Windung ausgebildetes Metall-Federkontaktelement optimale me­ chanische, elastische und elektrische Eigenschaften aufweist.

Für einen zuverlässigen elektrischen Kontakt der Feder­ kontaktelemente mit den Anschlußbeinchen des IC-Bauele­ ments ist es von Vorteil, wenn sich die Federkontakt­ elemente beim Ausweichen infolge einer wirkenden An­ drückkraft nicht relativ zu den Anschlußbeinchen und insbesondere nicht entlang der Anschlußbeinchen bewe­ gen. Mit anderen Worten sollte die Ausrichtung der Kon­ taktierungsenden in jeder Stellung der Federkontaktele­ mente, die diese beim Bewegen der IC-Bauelemente in Richtung auf die Aufnahmeausnehmung einnehmen, unver­ ändert bleiben. Dies wird insbesondere bei Ausbildung der Federkontaktelemente als Schenkelfeder der oben beschriebenen Art erreicht. Hierbei kann zusätzlich vorgesehen sein, daß das Kontaktierungsende geradlinig und insbesondere mit dem ebenfalls geradlinig ausgebil­ deten Anschlußende bzw. einem an diesem ausgebildeten geradlinigen Abschnitt fluchtend, d. h. auf einer ge­ meinsamen Geraden liegend angeordnet ist.

Sofern mehrteilige Federkontaktelemente eingesetzt wer­ den, ist es zweckmäßig, das dem Kontaktierungsende ab­ gewandte Ende des ersten Schenkelabschnitts fest einge­ spannt am Gehäuse des Testsockels zu halten. Der zweite Schenkelabschnitt kann an seinem dem Anschlußende abge­ wandten Ende frei beweglich oder fest angeordnet sein, während das Anschlußende selbst am Gehäuse festgelegt ist. Bei Wahl der oben angegebenen, im wesentlichen zueinander symmetrischen Krümmungen der beiden Schen­ kelabschnitte ergibt sich auch bei dieser Ausgestaltung der Erfindung der Vorteil, daß der Kreuzungspunkt in Richtung auf die Kontaktierungs- und Anschlußenden der Federkontaktelemente wandert, wenn das IC-Bauelement in Richtung auf die Aufnahmeausnehmung bewegt wird, wenn die Anschlußbeinchen mit den Kontaktierungsenden in Verbindung stehen.

Nachfolgend werden anhand der Figuren Ausführungsbei­ spiele der Erfindung näher erläutert. Im einzelnen zei­ gen:

Fig. 1 eine Schnittansicht eines Testsockels gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel mit einem oberhalb der Federkontaktelemente angeordneten IC-Bauelement,

Fig. 2 die Darstellung gemäß Fig. 1 in dem Zustand, in dem das IC-Bauelement unter federelastischer Verformung der Federkontaktelemente zur elek­ trischen Kontaktierung in Richtung auf den Testsockel bewegt ist,

Fig. 3 einen Längsschnitt durch ein zweites Ausfüh­ rungsbeispiel eines Testsockels mit einer al­ ternativen Anordnung der Federkontaktelemente,

Fig. 4 einen Längsschnitt durch ein weiteres Ausfüh­ rungsbeispiel eines Testsockels mit alternativ ausgestalteten Federkontaktelementen und einem IC-Bauelement, dessen Anschlußbeinchen noch nicht in Kontakt mit den Federkontaktelementen ist.

Fig. 1 zeigt eine Schnittansicht durch einen Testsockel 10, der auf einer Platine 12 angeordnet ist. Auf dieser Platine 12 können mehrere Testsockel zum gleichzeitigen Testen mehrere IC-Bauelemente angeordnet sein. Der Testsockel 10 ist mit einem Gehäuse 14 versehen, das auf seiner der Platine 12 abgewandten Seite offen ist und Seitenwände 16 sowie eine Bodenwand 18 aufweist, von der die Seitenwände 16 aufragen. Die Seitenwände 16 und die Bodenwand 18 des Gehäuses 14 definieren eine Aufnahmeausnehmung 20, in der eine Vielzahl von Feder­ kontaktelementen 22 angeordnet sind. Die Federkontakt­ elemente 22 sind entsprechend den aus einem Gehäuse 24 eines IC-Bauelements 26 herausragenden Anschlußbeinchen 28 angeordnet. Die Anschlußbeinchen 28 ragen seitlich aus dem Gehäuse 24 heraus und stehen von diesem insbe­ sondere geradlinig ab.

Die Federkontaktelemente 22 ragen aus der Bodenwand 18 des Gehäuses 14 des Testsockels 10 in die Aufnahmeaus­ nehmung 20 hinein. Jedes Federkontaktelement 22 ist mit einem Kontaktierungsende 30 und einem diesem gegenüber­ liegenden Anschlußende 32 versehen. Während die Kontak­ tierungsenden 30 der Federkontaktelemente 22 zur Kon­ taktierung mit den Anschlußbeinchen 28 des zu testenden IC-Bauelements 26 dienen, sind an den Anschlußenden 32 der Federkontaktelemente 22 (nicht dargestellte) Zulei­ tungen angeschlossen, die zur Verbindung der Federkon­ taktelemente 22 mit einer Testelektronik dienen, welche ebenfalls aus Vereinfachungsgründen nicht dargestellt ist.

Im Bereich der Kontaktierungsenden 30 und der Anschluß­ enden 32 verlaufen die Federkontaktelemente 22, die aus Metall bestehen, geradlinig, wobei die Enden 30 und 32 eines jeden Federkontaktelements 22 jeweils entlang einer gemeinsamen gedachten Geraden verlaufen. Zwischen ihren Enden 30, 32 ist jedes Federkontaktelement 22 nach Art einer Schenkelfeder 34 ausgebildet mit einem sich an das Kontaktierungsende 30 anschließenden ersten Schenkel 36 und einen sich an das Anschlußende 32 an­ schließenden zweiten Schenkelabschnitt 38. Beide Schen­ kelabschnitte 36, 38 sind zueinander gegensinnig ge­ krümmt und kreuzen sich im Kreuzungspunkt 40. In diesem Kreuzungspunkt 40 berühren sich die beiden Schenkelab­ schnitte 36, 38. Im übrigen sind die beiden Schenkelab­ schnitte 36, 38 über einen ebenfalls gebogenen Mittel­ abschnitt 42 miteinander verbunden. Ausgehend vom Kreu­ zungspunkt 40 verläuft also das Federkontaktelement 22 nach Art einer Wendel mit einer einzigen Windung, wobei die beiden Schenkelabschnitte 36, 38 in einander entge­ gengesetzte Richtungen weisend von der Wendel abstehen. Auf diese Weise ergibt sich die Form der Schenkelfeder 34.

Beim Bewegen des zu testenden IC-Bauelementes 26 in Richtung auf die offene Seite des Gehäuses 14 gelangen seine Anschlußbeinchen 28 in Berührungskontakt mit den Kontaktierungsenden 30 der Federkontaktelemente 22. Bei der weiteren Bewegung des IC-Bauelements weichen die Federkontaktelemente 22 in die Aufnahmeausnehmung 20 zurück, wobei sich die beiden Schenkelabschnitte 36, 38 gegeneinander bewegen. Während dieser Bewegung der bei­ den Schenkelabschnitte 36, 38 berühren diese sich in ihrem jeweiligen Kreuzungspunkt 40, der entlang der Schenkelabschnitte 36, 38 wandert. Dies ist anhand eines Vergleichs der Fig. 1 und 2 zu erkennen. Letztere zeigt die Situation, in der das IC-Bauelement 26 soweit in Richtung auf den Testsockel 10 bewegt ist, daß sein Gehäuse 24 an einem als Anschlag dienenden Vorsprung 44 anliegt. Der Kreuzungspunkt 40 der beiden Schenkelab­ schnitte 36, 38 hat sich im Vergleich zur Fig. 1 in Richtung auf die Enden 30, 32 bewegt. Dadurch wird die effektive Länge eines jeden Federkontaktelements 22 verringert, so daß sich der Strompfad durch die Feder­ kontaktelemente 22 verkürzt hat. Insbesondere gelangt der elektrische Strom nicht in den Wendelabschnitt der Federkontaktelemente 22, da er von dem einen Schenkel­ abschnitt 36 über den Kreuzungspunkt 40 in den anderen Schenkelabschnitt 38 und umgekehrt fließen kann. Hier­ für sorgt die Tatsache, daß sich die Schenkelabschnitte 36,38 in ihren Kreuzungspunkten 40 berühren und damit einen elektrischen Kontakt bilden. Auf diese Weise ist ein Federkontaktelement 22 geschaffen, das aus einem einzigen speziell gebogenen Metalldraht oder derglei­ chen besteht und in den Testsockel 10 hinein zurück­ weicht, wenn auf sein Kontaktierungsende 30 eine in Richtung auf die Platine 12 gerichtete Andrückkraft einwirkt, wobei das Federkontaktelement 22 einen denk­ bar kurzen Leitungspfad für die Testsignale darstellt und insbesondere keine parasitären Induktivitäten bil­ det.

In Fig. 3 ist ein alternativer Testsockel 10' darge­ stellt, der dem Testsockel 10 der Fig. 1 und 2 wei­ testgehend ähnelt. Von daher sind in Fig. 3 diejenigen Bestandteile des Testsockels 10', die denen des Test­ sockels 10 der Fig. 1 und 2 entsprechen, mit den glei­ chen Bezugszeichen versehen.

Der Unterschied der beiden Testsockel 10 und 10' be­ steht darin, daß die schlaufenförmigen Mittelabschnitte 42 der Federkontaktelemente 22 in unterschiedliche Richtungen weisen. Während bei dem Testsockel 10 die wendelförmigen Abschnitte der Federkontaktelemente 22 in Richtung zu den Seitenwänden 16 weisen, erstrecken sich beim Testsockel 10' diese Teile der Federkontakt­ elemente 22 zur Mitte der Aufnahmeausnehmung 20, also unterhalb des Gehäuses 24 des zu testenden IC-Bauele­ ments 26. Auf diese Weise ergibt sich eine platzsparen­ dere Anordnung des Testsockels 10', da dessen Breiten­ erstreckung geringer ist, wie sich aus einem Vergleich der Fig. 1 und 3 ergibt.

In der Fig. 4 ist ein letztes Ausführungsbeispiel eines Testsockels 10" gezeigt. Soweit die Teile des Testsoc­ kels 10" denjenigen des Testsockels 10 bzw. 10' entsprechen, sind sie mit den gleichen Bezugszeichen versehen.

Der Unterschied des Testsockels 10" im Vergleich zu den Testsockeln 10 und 10' besteht in der Ausbildung seiner Federkontaktelemente 22, die jeweils lediglich aus den beiden sich kreuzenden Schenkelabschnitten 36,28 be­ stehen, von denen der erste Schenkelabschnitt 36 das Kontaktierungsende 30 trägt und der zweite Schenkelab­ schnitt 38 das Anschlußende 32 der Federkontaktelemente 22 trägt. Im Kreuzungspunkt 40 berühren sich die beiden Schenkelabschnitte 36, 38, die wie bei den Federkontakt­ elementen 22 der Testsockel 10, 10' in einander entge­ gengesetzten Richtungen gekrümmt sind. Der erste Schen­ kelabschnitt 36 ist an seinem dem Kontaktierungsende 30 abgewandten Ende 46 in der Seitenwand 16 des Gehäuses 14 eingespannt gehalten und ragt ausgehend von dieser Seitenwand 16 nach oben aus der Aufnahmeausnehmung 20 heraus. Der zweite Schenkelabschnitt 38 weist ein nahe dieser bzw. in dieser Seitenwand 16 angeordnetes, dem Anschlußende 32 abgewandtes Ende 48 auf. Beim Andrücken des zu testenden IC-Bauelements 26 bei Kontaktierung von dessen Anschlußbeinchen 28 mit den Kontaktierungs­ enden 30 der Federkontaktelemente 22 verbiegen sich die ersten Schenkelabschnitte 36 elastisch, wobei die Kreu­ zungspunkte 40 in Richtung auf die jeweiligen Enden 30, 32 der Federkontaktelemente 22 wandern. So ist auch bei diesem Testsockel 10" gewährleistet, daß der Lei­ tungspfad innerhalb der Federkontaktelemente 22 für die Testsignale beim Testen des IC-Bauelements 26 verkürzt sind.

Claims (6)

1. Testsockel zum Testen von Anschlußbeinchen auf­ weisenden IC-Bauelementen, mit

• 1. einem Halteelement (12) und
• 2. mehreren von dem Halteelement (12) gehaltenen gebogenen Federkontaktelementen (22), von denen jedes ein Kontaktierungsende (30) zum Kontak­ tieren mit einem Anschlußbeinchen (28) des zu testenden IC-Bauelements (26) und ein Anschluß­ ende (32) zum Anschließen einer Zuleitung und zum Halten des Federkontaktelements (22) an dem Halteelement (12) aufweist,
  • 1. wobei sich an das Kontaktierungsende (30) ein erster Schenkelabschnitt (36) sowie an das Anschlußende (32) jedes Federkontakt­ elements (22) ein zweiter Schenkelabschnitt (38) anschließt und von diesen beiden Schen­ kelabschnitten (36, 38) mindestens einer federelastisch ist, und
  • 2. wobei das Kontaktierungsende Andrückkräften, die beim Bewegen des mit bei seinen An­ schlußbeinchen (28) an den Kontaktierungs­ enden (30) anliegenden IC-Bauelement (26) in Richtung auf das Halteelement (12) auftre­ ten, elastisch zurückweicht,

dadurch gekennzeichnet, daß

• 1. sich die beiden Schenkelabschnitte (36, 38) in einem Kreuzungspunkt (40) kreuzen,
• 2. sich der Kreuzungspunkt (40) entlang mindestens eines der beiden Schenkelabschnitte (36, 38) verschiebt, wenn auf das Kontaktierungsende (30) eine Andrückkraft wirkt, und
• 3. die beiden Schenkelabschnitte (36, 38) in jedem ihrer Kreuzungspunkte (40) zur elektrischen Verbindung untereinander aneinanderliegen.

2. Testsockel nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich­ net, daß die beiden Schenkelabschnitte (36, 38) in entgegengesetzten, jeweils quer zu ihren Erstrec­ kungen verlaufenden Richtungen aufeinander zu vor­ gespannt sind.

3. Testsockel nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die beiden Schenkelabschnitte (36, 38) durch einen Verbindungsabschnitt (42) einstüc­ kig miteinander verbunden sind und daß der Verbin­ dungsabschnitt (42) nach Art einer Wendel oder Schlaufe mit mindestens einer Windung ausgebildet ist.

4. Testsockel nach einem der Ansprüche 1 bis 3, da­ durch gekennzeichnet, daß das Kontaktierungsende (30) geradlinig ausgebildet ist und daß das An­ schlußende (32) zumindest in seinem sich an den zweiten Schenkelabschnitt (38) anschließenden Übergangsbereich geradlinig und parallel zum Kon­ taktierungsende (30) verläuft.

5. Testsockel nach Anspruch 4, dadurch gekennzeich­ net, daß das Kontaktierungsende (30) und der Über­ gangsbereich bzw. das Anschlußende (32) in linea­ rer Verlängerung zueinander angeordnet sind.

6. Testsockel nach einem der Ansprüche 1, 2, 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß der erste Schenkel­ abschnitt (36) an seinem dem Kontaktierungsende (30) abgewandten Ende (46) fest eingespannt am Halteelement (12) gehalten ist.