DE19634795C2 - Plasma-CVD-Anlage mit einem Array von Mikrowellen-Plasmaelektroden und Plasma-CVD-Verfahren - Google Patents
Plasma-CVD-Anlage mit einem Array von Mikrowellen-Plasmaelektroden und Plasma-CVD-VerfahrenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine plasmagestützte Anlage zur
chemischen Gasphasen-Abscheidung mit einer rasterförmigen
Anordnung von Mikrowellen-Plasmaelektroden und einer Steuer
schaltung, sowie ein entsprechendes Beschichtungsverfahren.
Derartiges ist aus der DE 38 30 249 C2 bekannt. Dort ist
vorgesehen, daß die einzelnen Plasmaelektroden so angeordnet
sind, daß sich die erzeugten Plasmasäulen überlagern. Die
einzelnen Plasmaelektroden sind unabhängig voneinander über die
zugeführte elektronische Leistung schalt- und steuerbar, und
zwar wird dies benutzt, um Randeffekte auszugleichen oder einen
gezielten Verlauf der Beschichtungseigenschaften zu erzeugen.
Ausdrücklich wird davon ausgegangen, daß es nicht zu störenden
Interferenzeffekten bei den Hochfrequenzfeldern kommt.
Die Anwendung im Rahmen der Plasmaimpuls-CVD-Technik ist
beschrieben, wie auch Beispiele für Mikrowellenantennen usw.
angegeben sind. Die Beispiele betreffen zweidimensionale
Arrays.
Die genannte DE 38 30 249 C2 wird ausdrücklich als Teil der
Offenbarung dieser Anmeldung angegeben, aus der apparative
Ausbildungen von Systemen zu entnehmen sind, welche bei
geeigneter Ansteuerung der Plasmaelektroden zur Ausführung der
Erfindung geeignet sind.
Bei hohen Anforderungen an die Homogenität großflächiger
Schichten hat sich gezeigt, daß bei optimaler Gestaltung der
Überlappung der Plasmasäulen doch - im Gegensatz zur genannten
Schrift - Interferenz benachbarter Mikrowellenfelder störend in
Erscheinung tritt.
Die EP 0 420 117 A2 beschreibt die Störung durch Interferenz bei
Plasma-CVD mit Anregung durch ein Mikrowellen-Array und hält
einen stabilen Betrieb ohne deren Ausschaltung für unmöglich.
Es wird vorgeschlagen, verschiedene Polarisationen, also
Richtungen des elektrischen Feldvektors, bei benachbarten
Mikrowellenquellen vorzusehen.
Hier ist es aber offensichtlich erschwert, homogene Anregungs
verhältnisse in den einzelnen Modulen zu erreichen, da die
gekreuzten Kastenhohlleiter, welche in den Beispielen gezeigt
sind, das aufgrund der asymmetrischen Hohlleitergeometrie nicht
zulassen.
Eine andere Art der Interferenzvermeidung wäre die Frequenz
verschiebung benachbarter Plasmaelektroden. Kommerzielle Mikro
wellengeneratoren haben jedoch deutliche Frequenzschwankungen,
sowie hohe Bandbreiten, speziell im Impulsbetrieb, so daß
relativ große Frequenzunterschiede erforderlich wären. Dann
können aber unterschiedliche plasmachemische Verhaltensweisen
nicht mehr ausgeschlossen werden. Zudem sind nicht ohne
weiteres Mikrowellengeneratoren beliebiger Frequenz zu
beschaffen, da nur für zugelassene Industriefrequenzen ein
wirtschaftliches Arbeiten möglich ist.
Übliche Plasma-CVD-Verfahren sind dadurch gekennzeichnet, daß
während der gesamten Beschichtungsdauer das Reaktionsgas über
das Substrat strömt und gleichzeitig plasmaerzeugende Energie
in das Reaktionsvolumen eingebracht wird, so daß Reaktionsgas
und Abgas einer bereits erfolgten (i. a. schichtbildenden)
Reaktion entweder in einer unübersichtlichen Art vermischt oder
an unterschiedlichen Orten des Substrats mit unterschiedlichen
Anteilen vertreten sind. Dadurch werden die Schnelligkeit einer
Entwicklung, Eigenschaften der Beschichtung (speziell Dichte,
Haftfestigkeit und Stabilität) sowie die Ausbeute an
Reaktionsgas limitiert.
Derartige Limitierungen werden durch die Anwendung des Plasma-
Impuls-CVD-Verfahren (PICVD-Verfahren) überwunden.
Bei diesem Verfahren wird die plasmaerzeugende Energie gepulst
eingebracht, während das Reaktionsgas kontinuierlich in den
Reaktionsraum strömt. Typisch für das PICVD-Verfahren ist die
Anpassung der Impulspause an die Zeit, die erforderlich ist,
das Gasvolumen über dem Substrat, welches in die
(schichtbildende) Reaktion einbezogen wird, vollständig durch
frisches Reaktionsgas auszutauschen. Diese Zeit ist von
mehreren Parametern, wie z. B. Substratgröße und Form,
Massenfluß und Temperatur des Reaktionsgases, Druck im Reaktor
und Art der Gaseinströmung (z. B. Düsenform) abhängig.
Das Verfahren arbeitet ähnlich wie ein Zweitaktmotor, dem
schichtbildenden Plasmaimpuls folgt die Impulspause, in der das
verbrauchte Gas durch Frischgas ersetzt wird.
Ein weiterer Vorteil dieses Verfahrens ist die geringe Tempe
raturbelastung des Substrats, da die Beaufschlagung mit Energie
nur während der Impulsdauer erfolgt und sich das Substrat in
der Impulspause abkühlt. Dadurch wird es umgekehrt möglich,
während des Impulses vergleichsweise hohe Energien anzuwenden,
und so z. B. Schichten mit Eigenschaften abzuscheiden, die sonst
nur das Massivmaterial aufweist.
Typischerweise liegen die Werte für die Dauer der Impulse
zwischen 0.1 und 10 ms und für die Dauer der Impulspausen
zwischen 10 und 100 ms.
Es ist günstig, die Energie mit Mikrowellen einzustrahlen, weil
dann Plasmen bei Gasdrücken im mbar-Bereich erzeugt werden
können. Solche Gasdrücke sind mit vergleichsweise geringem
Aufwand herstellbar. Das PICVD-Verfahren läßt sich
beispielsweise vorteilhaft anwenden zur Innenbeschichtung von
dielektrischen Rohren, aus denen Vorformen für Nachrichten
fasern hergestellt werden.
(EP 0 036 191 A1, DE 38 30 622 A1, DE 40 34 211 C1, zur Aufbringung von
IR-durchlässigen dielektrischen Spiegeln auf kalottenförmige
Glassubstrate (DE 40 08 405 C1, DE 43 34 572 A1) oder zur Abscheidung
von ebenen Dünnschichtwellenleitern auf Glas oder Kunststoff
(DE 41 37 606 C1, DE 42 28 853 A1).
Aufgabe der Erfindung ist die Bereitstellung einer gattungs
gemäßen Plasma-CVD-Anlage und eines entsprechenden Verfahrens,
wobei beliebige Skalierbarkeit der Abmessungen der
Beschichtungseinheit und hervorragende Homogenität der
erzeugten Schichten mit wirtschaftlicher Konstruktion erzielt
werden.
Die Lösung gelingt mit einer Anlage nach Anspruch 1 und
entsprechend mit einem Verfahren nach Anspruch 6.
Die zeitliche Entkopplung der Mikrowellen-Anregung benachbarter
Plasmaelektroden zeigt sich als weitere Möglichkeit zur
Vermeidung von Interferenzen. Die Mikrowellenleistung kann
wesentlich schneller getaktet werden, als der Pulsdauer eines
den Gasvorrat erschöpfenden Pulses des Plasmaimpuls-CVD-
Verfahrens (PICVD) entspricht. Damit können benachbarte
Plasmaelektroden zeitlich versetzt getaktet werden, ohne daß
das Plasma und das Abscheideverhalten des PICVD-Verfahrens
dadurch störend beeinflußt werden.
Gemäß der Erfindung kann mit einem modularen System die
simultan beschichtete Fläche beliebig skaliert werden. Die mit
wenigen Modulen gewonnenen Kenntnisse können auf ein Array mit
beliebig vielen Modulen übertragen werden.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen sind Gegenstand der
Unteransprüche 2 bis 5 bzw. 7 bis 11.
Einige zehn bis einige Hundert Pulse, jeweils zeitlich versetzt
für benachbarte Plasmaelektroden, können nach Anspruch 2 oder 7
einen Gesamtimpuls des PICVD-Verfahrens bilden.
Ansprüche 3 und 8 geben die Kombination mit einer
Radiofrequenz-Anregung (RF) an. Dies erlaubt in Verbindung mit
der erfindungsgemäßen Mikrowellenanregung durch geeignete
Steuerung der Feldverteilung mittels geeigneter Dimensionierung
von Abstand und Ausdehnung der RF-Elektroden eine weitere
Uniformisierung der Schichten. Die RF-Anregung kann auch
gepulst werden, entweder synchron zur Mikrowelle (schon zur
Energieeinsparung) oder auch in gezielt anderem Zeitverlauf.
An sich ist die Kombination von Mikrowellen- und Radiofrequenz-
Anregung aus Moisan M., Wertheimer M. R., Surface and Coatings
Technology 59 (1993), pp. 1-13 bekannt. Ziel dabei war die
Veränderung der Schichtqualität durch Ionenbeschuß. Hier
dagegen wird die einfache Formbarkeit der Feldlinien der
RF-Anregung genutzt, um die Homogenität der Schicht zu
verbessern.
Weiterhin kann durch den Einsatz von Magnetfeldern zur
Beeinflussung des Übergangsbereiches zwischen zwei
Plasmaelektroden wie auch durch eine geeignet strukturierte
Gasversorgung die Uniformität gesteigert werden.
Insbesondere bei einem linearen Array, wie es nach den
Ansprüchen 4 bzw. 9 vorgesehen ist, sind entsprechend den
Ansprüchen 5 und 10 nur zwei verschiedene phasenverschobene
Takte zum interferenzfreien Pulsen aller Plasmaelektroden
erforderlich, was den Aufwand für die Steuerung und Mikro
wellenerzeugung wirksam begrenzt.
Näher erläutert wird die Erfindung anhand der Zeichnungen.
Fig. 1 zeigt schematisch eine Plasma-CVD-Anlage;
Fig. 2 zeigt schematisch den zeitlichen Verlauf der Mikro
wellenanregung;
Fig. 3 zeigt schematisch eine Folienbeschichtungsanlage.
Die in Fig. 1 dargestellte Plasma-CVD-Anlage enthält ein
Substrat 1, z. B. eine Glasscheibe. Eine Mehrzahl von Mikro
wellenantennen, hier vier Stück 2a bis 2d, sind dem Substrat 1
gegenüber in einer Reihe oder auch in einem flächigen Array
angeordnet. Diese Horn-Mikrowellenantennen 2a bis 2d dienen als
Mikrowellen-Plasmaelektroden und werden von Mikrowellen
generatoren 21a bis 21d über Magnetrons 22a bis 22d und
Einwegleitungen 23a bis 23d gespeist. Ein Mikrowellenfenster
24, z. B. gleich wie das Substrat 1 und auch selbst zur
Beschichtung bereitstehend, schließt die Vakuumkammer 4 gegen
die Mikrowellenantennen 2a bis 2d ab. Das Substrat 1 ist
gegenüberliegend parallel in der Vakuumkammer 4 angeordnet.
Das Prozeßgas wird von Gasbehältern 51a, 51b über Massen
flußregler 52a, 52b, Gasventile 53a, 53b und die
gleichverteilten Gaseinlässe 5 der Vakuumkammer 4 zugeführt und
das verbrauchte Restgas wird über einen Druckregler 54 von
einer Vakuumpumpe 55 wieder abgesaugt.
Eine Steuerung 7 stellt alle diese Teile entsprechend durch
eine Schnittstelle 70 vorgegebener Parameter geeignet ein.
Soweit entspricht die Anlage den bekannten Plasma-CVD-Anlagen,
insbesondere auch PICVD-Anlagen und der DE 38 30 249 C2.
Das Besondere ist, daß die Mikrowellengeneratoren 21a bis 21d
in zwei Gruppen 21a, 21c und 21b, 21d getrennt mit Signalen A
bzw. B von der Steuerung 7 angesteuert werden, und zwar mit
Pulszügen aus kurzen Mikroimpulsen 20A bzw. 20B, welche im
Gegentakt phasenverschoben sind. Damit ist von benachbarten
Mikrowellenantennen 2a, 2b; 2b, 2c; 2c, 2d zu jeder Zeit nur
eine aktiv, so daß Interferenzen ausgeschlossen sind. Fig. 2
zeigt diesen Pulsverlauf. Die Pulsdauer und Auszeit der
Mikroimpulse liegt jeweils bei 25 µs, ca. 10 Mikroimpulse A und
B bilden zusammen einen Puls nach dem PICVD-Verfahren von 0,5 ms
Dauer.
Natürlich können die Maßnahmen der DE 38 30 249 C2 zum
gezielten Einstellen von Schichtdickenverläufen über das
Antennenarray hinweg mit der Erfindung kombiniert werden.
Die entstehenden Plasmazonen 12a bis 12d überlappen sich in
ihren Randbereichen mit abnehmender Abscheideleistung ohne
Interferenzerscheinungen, so daß ein stabiler gleichmäßiger
Übergang allein durch Anpassung der Antennengeometrie an den
Übergangsbereichen 62a bis 62d realisiert wird. Die Anpassung
der Bereiche 62a bis 62d dient zugleich der optimalen Formung
des RF-Felds.
Die Zahl von 4 Mikrowellenantennen 2a bis 2d in einer Reihe ist
ein zufällig herausgegriffenes Beispiel. Die typisch einige
Zentimeter Breite abdeckenden Module von Mikrowellengenerator
21i, Magnetron 22i, Einwegleiter 23i und Trichterantenne 2i
(i von 1 bis n) sind beliebig oft aneinander anreihbar, z. B.
auf zwei bis drei Metern Breite zur Belichtung großer
Flachglasscheiben oder von Folienbahnen.
Die folgenden Prozeßbeispiele erläutern das Verfahren:
Die Vakuumkammer 4 wird zunächst bis weit unterhalb des
gewünschten Prozeßdruckes abgepumpt. Danach wird über die
Massenflußregler 52a, 52b sowie die Ventile 53a, 53b eine zum
Beschichten geeignete Gasmischung hergestellt. Diese kann z. B.
für die Abscheidung von SiO2 aus 200 sccm
(Standardkubikzentimeter) Sauerstoff sowie 20 sccm Hexamethyl
disiloxan (HMDSO) bestehen. Während der gesamten Beschichtung
fließen diese Gase kontinuierlich (nicht gepulst!). Über die
Druckregeleinheit 54 wird ein Prozeßdruck von 1 mbar
eingestellt. Sobald dieser erreicht ist, werden die
Mikrowellen-Generatoren 21a, 21d mit der in Fig. 2 angegebenen
Pulsfolge angesteuert.
Jeder Pulszug A, B besteht aus 10 Einzelimpulsen gemäß Fig. 2
("Mikroimpuls") zu je 25 µs Dauer, die auf Ausgang A und B im
Gegentakt phasenversetzt sind. Während der Impulse, deren
Gesamtheit einen PICVD-typischen "Makroimpuls" darstellt, setzt
sich das Beschichtungs-Gasgemisch im Plasmaraum 12a bis 12d um
und diffundiert zum Substrat 1, auf dem die gewünschte SiO2-
Schicht abgeschieden wird.
Nach Beendigung eines "Makroimpulses" wird das abreagierte
Gasgemisch abgesaugt und durch frische Gasmischung ersetzt. Für
einen vollständigen Gasaustausch ist die Pulspause zwischen
zwei Makroimpulsen typischerweise 10-100 ms lang (abhängig von
der Geometrie der Vakuumkammer 4). Nach der Pulspause wird
wiederum die Mikroimpulsfolge eines Makroimpulses angesteuert,
um die nächste Schichtlage abzuscheiden, bis die Soll
schichtdicke erreicht ist. Danach wird die Vakuumkammer 4
geflutet und das beschichtete Substrat 1 kann entnommen werden.
Der Prozeß mit seinen Parametern verläuft ähnlich wie in
Beispiel 1, nur ist diesmal das Substrat eine flexible Folie
301, die kontinuierlich in der Beschichtungskammer 304 bewegt
wird. Fig. 3 zeigt einen Querschnitt der Anordnung mit Wickel
einrichtung 341, 342 für die Folie 301.
Die Geschwindigkeit der Folie 301 wird so angepaßt, daß jedes
Flächenelement der Folie 301 mit der Sollschichtdicke
beschichtet wird. Bei typischen Abscheideraten von 500 nm pro
Minute und einer Solldicke von 50 nm muß die Folie 301 in sechs
Sekunden den Plasmabereich 305 durchqueren. Damit wird auch
sichergestellt, daß die Bewegung der Folie 301 während eines
Mikroimpulses vernachlässigbar ist.
Der Prozeß verläuft wie in Beispiel 2, wobei während eines
Makroimpulses, sowie eine Millisekunde davor und danach, ein
RF-Feld angesteuert wird. Durch die geometrische Ausbildung der
RF-Elektrode 306, mit verringertem Elektrodenabstand im Bereich
der Schnittstelle zweier Mikrowellenantennen 302a, 302b lassen
sich die Nicht-Uniformitäten an der Schnittstelle kompensieren.
Die Leistung des RF-Generators ist dabei auf optimale Schich
tuniformität einzustellen. In einer Durchlaufanlage wird die
RF-Leistung über Dickenmessung nach der Beschichtung
nachgeregelt.
Claims (11)
1. Plasma-CVD-Anlage mit einem Array von Mikrowellen-
Plasmaelektroden (2a, b, c, d) und einer Steuerschaltung (7),
dadurch gekennzeichnet, daß je zwei benachbarte
Plasmaelektroden (2a, 2b; 2b, 2c; 2c, 2d) durch die
Steuerschaltung (7) zu verschiedenen Zeiten mit Mikro
wellenimpulsen (A, B) beaufschlagt werden und
daß die Dauer der einzelnen Mikrowellenimpulse (A, B) kurz
ist gegenüber der Dauer eines Impulses des bekannten
Plasma-Impuls-CVD-Verfahrens.
2. Plasma-CVD-Anlage nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Anzahl der Größenordnung 10 1 bis 10 2 von Mikro
wellenimpulsen (A, B) aller Plasmaelektroden (2a-2d)
zusammen einen Impuls des Plasma-Impuls-CVD-Verfahrens
bildet.
3. Plasma-CVD-Anlage nach Anspruch 1 oder 2, dadurch
gekennzeichnet, daß zusätzlich ein Radiofrequenz-
Anregungssystem (6, 61, 62a-c) vorgesehen ist.
4. Plasma-CVD-Anlage nach mindestens einem der Ansprüche
1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß ein lineares Array
vorgesehen ist.
5. Plasma-CVD-Anlage nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß jede zweite Plasmaelektrode (2a, 2c; 2b, 2d) im
linearen Array durch die Steuerschaltung (7) zur gleichen
Zeit mit Mikrowellenimpulsen (A, B) beaufschlagt wird.
6. Plasma-CVD-Beschichtungsverfahren, bei dem ein Array von
Mikrowellen-Plasmaelektroden ein zusammenhängendes Plasma
durch pulsförmige Mikrowellenanregung erzeugt, dadurch
gekennzeichnet, daß je zwei benachbarte Plasmaelektroden
zu verschiedenen Zeiten mit Mikrowellenimpulsen
beaufschlagt werden und
daß die Dauer der einzelnen Mikrowellenimpulse (A, B) kurz
ist gegenüber der Dauer eines Impulses des bekannten
Plasma-Impuls-CVD-Verfahrens.
7. Plasma-CVD-Verfahren nach Anspruch 6, dadurch
gekennzeichnet, daß eine Anzahl der Größenordnung 10 1 bis
10 2 von Mikrowellenimpulsen (A, B) aller Plasmaelektroden
(2a-2d) zusammen einen Impuls des Plasma-Impuls-CVD-
Verfahrens bildet.
8. Plasma-CVD-Verfahren nach Anspruch 6 oder 7, dadurch
gekennzeichnet, daß zusätzlich durch Radiofrequenz-
Anregung ein elektrisches Feld erzeugt wird.
9. Plasma-CVD-Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 6
bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß ein lineares Array
vorgesehen ist und großflächige Substrate (301)
streifenweise beschichtet werden.
10. Plasma-CVD-Verfahren nach Anspruch 9, dadurch
gekennzeichnet, daß nur zwei verschiedene Zeiten (A, B)
vorgesehen sind, zu denen Mikrowellenimpulse abgegeben
werden, und die Zuordnung zu den Plasmaelektroden (2a-2d)
im linearen Array abwechselnd erfolgt.
11. Plasma-CVD-Verfahren nach mindestens einem der Ansprüche 6
bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß Magnetfelder oder die
Gasauslässe (5) zur Uniformisierung der Schichtabscheidung
zusätzlich herangezogen werden.
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| DE19634795A1 DE19634795A1 (de) | 1998-03-05 |
| DE19634795C2 true DE19634795C2 (de) | 1999-11-04 |
Family
ID=7803941
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE19634795A Expired - Fee Related DE19634795C2 (de) | 1996-08-29 | 1996-08-29 | Plasma-CVD-Anlage mit einem Array von Mikrowellen-Plasmaelektroden und Plasma-CVD-Verfahren |
| DE59709516T Expired - Lifetime DE59709516D1 (de) | 1996-08-29 | 1997-08-23 | Plasma-cvd-anlage mit einem array von mikrowellen-plasmaelektroden und plasma-cvd-verfahren |
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| DE59709516T Expired - Lifetime DE59709516D1 (de) | 1996-08-29 | 1997-08-23 | Plasma-cvd-anlage mit einem array von mikrowellen-plasmaelektroden und plasma-cvd-verfahren |
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| Country | Link |
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| CA (1) | CA2264017A1 (de) |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
| 8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: SCHOTT GLAS, 55122 MAINZ, DE |
|
| D2 | Grant after examination | ||
| 8364 | No opposition during term of opposition | ||
| 8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
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|
| R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
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