DE19604027C1 - Vorrichtung zur dampfdruckkontrollierten Czochralski-Züchtung von A¶I¶¶I¶¶I¶B¶V¶-Kristallen - Google Patents
Vorrichtung zur dampfdruckkontrollierten Czochralski-Züchtung von A¶I¶¶I¶¶I¶B¶V¶-KristallenInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur dampfdruckkontrollierten
Czochralski-Züchtung von AIIIBV-Kristallen, bestehend aus einem Hochdruckbehälter
mit temperaturbeständigen, druckfesten Dreh- und Hubdurchführungen für eine einen
Keimkristall aufweisende Ziehwelle, die in ein im Hochdruckbehälter angeordnetes
dicht verschlossenes Züchtungsgefäß ragt, das einen Tiegel und Dichtungen
aufweisende Durchführungen für Ziehwelle und mit dem Boden des Züchtungsgefäßes
verbundene und durch den Hochdruckbehälter geführte Tiegelwelle enthält, sowie
Mitteln zur Einstellung eines Temperaturgradienten entlang der Ziehachse, Mitteln zur
Prozeßbeobachtung und Mitteln zur Aufrechterhaltung eines Gegendruckes der
dissoziierenden Komponente.
III-V-Halbleiterkristalle (GaAs, InP, GaP) werden konventionell nach der Liquid-
Encapsulated-Czochralski (LEC)-Methode gezüchtet (K.T. Wilke, J. Bohm:
Kristallzüchtung, Verlag der Wissenschaften Berlin, 1988, 713 ff). Bei diesem
Verfahren wird die Schmelze von einer flüssigen B₂O₃-Schmelze abgedeckt, um das
Abdampfen der Komponenten mit hohem Dissoziationsdampfdruck (Arsen, Phosphor)
zu verhindern. Der Kristall wird sodann durch diese Abdeckschicht hindurchgezogen,
durchläuft jedoch, auch bedingt durch die geringe Wärmeleitfähigkeit des B₂O₃, einen
steilen axialen Temperaturgradienten (100 bis 150 K/cm), der zu einer hohen
Versetzungsdichte im Kristall führt (über 10⁴ bis 10⁵ cm-2). Eine solch große
Versetzungsdichte ist für die Realisierung neuer Bauelementkonzepte in der High-
Speed Mikroelektronik und Optoelektronik zu hoch.
Eine andere Methode zur Züchtung von AIIIBV-Kristallen ("Gremmelmaier-Verfahren")
ist beispielsweise in dem oben zitierten Buch "Kristallzüchtung", Verlag der
Wissenschaften Berlin, 1988, Seite 716 beschrieben. In einem hermetisch
abgeschlossenen beheizten Züchtungsraum, einer Ampulle, werden hierbei die
notwendigen Zieh- und Rotationsbewegungen mittels magnetischer Einkopplung
realisiert. Eine solche Lösung ist aber in ihrer Handhabung sehr aufwendig.
Aus der Forderung nach einer deutlich verringerten Versetzungsdichte in Czochralski-
Kristallen (kleiner 10⁴ cm-2) ergibt sich die Forderung nach geringen
Temperaturgradienten. Bereits lange bekannt ist die naheliegende Installation eines
Nachheizers um den wachsenden Kristall (K.T. Wilke, J. Bohm: Kristallzüchtung,
Verlag der Wissenschaften Berlin, 1988) oder eines Rohrs zur Verminderung der
wärmeableitenden Gaskonvektion (G. W. Iseler: J. Crystal Growth 54 (1981)16). Im
Falle der inkongruent dissoziierenden Verbindungen, wie GaAs und InP, führt jedoch
eine solche alleinige Maßnahme zum Abdampfen der flüchtigen Komponente von der in
diesem Fall relativ heißen Oberfläche des wachsenden Kristalls. Dadurch bilden sich
Tröpfchen der Überschußkomponente, die das Wachstum störend beeinflussen (z. B.
beschrieben in J. Crystal Growth 114 (1991) 665 und Microelectronic Journal, 13
(1982) 5). Aus diesem Grunde muß das Kristallwachstum in einem geschlossenen
Innengefäß mit gesättigter, kontrollierter Dampfdruckatmosphäre aus Spezies der
dissoziierenden Komponente (z. B. Arsen) stattfinden.
Seit Anfang der 80er Jahre sind deshalb Entwicklungen auf die Ausgestaltung solcher
Innengefäße gerichtet. Als Hauptprobleme erwiesen sich dabei
- - die Erzielung einer hohen Gefäßdichtheit bei gleichzeitiger Einkopplung von Dreh- und Translationsbewegungen (Durchführungen für Tiegel- und Ziehwelle),
- - die Temperaturkontrolle der Zusatzquelle (As, P),
- - die Aufrechterhaltung der Prozeßbeobachtbarkeit (Transparenz der Einblickfenster im Innengefäß) und damit in engem Zusammenhang
- - die Prozeßführung, damit während des Aufheizvorganges die Evakuierung des Innengefäßes, das Ausdampfen von Restwassergehalten aus dem B₂O₃ sowie sich bildender Oxide und der Inertgasdruckausgleich (auch beim Abkühlen) gewährleistet ist.
Das Problem der Prozeßbeobachtbarkeit erwächst aus den im Gefäß ablaufenden
thermochemischen Reaktionen, die z. B. im Falle der GaAs-Züchtung zu einer
Abscheidung von Galliumoxid-, Gallium-, Arsenoxid-, und GaAs-Belägen auf dem
Sichtfenster und dadurch zur Unkontrollierbarkeit des Prozesses (gewöhnlich mit
Fernsehkamera) führt. Die Aufrechterhaltung einer guten optischen Kontrollierbarkeit
des Ziehvorganges hängt wesentlich von der Transparenz des Sichtfensters, d. h. von
der Verhinderung von Niederschlägen auf diesem ab. Aus dem bekannten Stand der
Technik ist erkennbar, daß dabei der Einstellung einer optimalen hohen Temperatur am
Sichtfenster eine besondere Rolle zukommt. In JP 1-242489 wird eine spezielle
Heizwicklung vorgeschlagen, die auf einer transparenten Gefäßglocke aus Kieselglas
aufgebracht ist, jedoch dadurch die Durchsicht und Kontrollierbarkeit des
Ziehvorganges beträchtlich einschränkt. In JP 6-16492, JP 6-164 93 und JP 5-286797
ist ein Kieselglastubus beschrieben, der in das Innengefäß ragt, um offensichtlich die
optimale Temperatur an der Tubusstirnseite durch die Verstellbarkeit der Höhe
einzustellen. Eine solche Anordnung erfordert jedoch ein stillstehendes Innengefäß
bzw. ein nichtrotierendes Gefäßoberteil und damit eine zusätzliche Gefäßdichtung
sowie eine zusätzliche Dichtung zwischen Gefäß und Tubus.
Zur Erzielung einer hohen Gefäßdichtheit bei gleichzeitiger Einkopplung von Dreh-
und Translationsbewegungen sind dem Stand der Technik nach Flüssigdichtungen
bekannt. Flüssigdichtungen aus B₂O₃ an den einkoppelnden Tiegel- und
Kristallziehwellen sind beispielsweise in JP 60-11298, JP 60-264390, JP 62-297291, JP
3-252395 und US 5,256,381 und/oder zur Fügung zweier Gefäßhälften in JP 62-
113795, JP 3-115168 - wobei auch die Abdeckschmelze selbst als Dichtung fungieren
kann (wie in JP 60-11295, JP 5-139885) - beschrieben. Alle Dichtungen mit
Flüssigkeiten als Dichtungsmittel besitzen bei hohen Temperaturen und Drücken als
Nachteile eine u. U. zu geringe Viskosität ("Austropfen" der Dichtung), weisen
chemische Wechselwirkungen mit angrenzenden Materialien, Labilität gegenüber
Druckunterschieden zwischen Innen- und Außencontainer auf und führen gewöhnlich
beim Abkühlen zu Verklebungseffekten.
Um diese Nachteile bei einer industriellen Züchtung zu vermeiden, sind z. B. in JP 61-
209985, JP 60-11299 mechanische Dichtungen dargestellt, die aber kaum detailliert
beschrieben wurden. In US-PS 1.074.248 ist eine Vorrichtung zur Czochralski-
Züchtung - hier jedoch ohne Abdeckschicht der Schmelze - von chromdotierten GaAs-
Kristallen beschrieben, bei der der obere Teil der Züchtungskammer durch eine untere
aus Graphit gebildete und eine in einem Abstand hierzu angeordnete obere aus Teflon
gebildete Dichtung verschlossen ist, durch die die Ziehstange geführt ist.
Ebenfalls für ein Verfahren zur Herstellung von Verbindungshalbleiterkristallen nach
Czochralski ohne Abdeckschicht wird in der in DE-OS 15 19 914 beschriebenen
Lösung die Züchtungskammer mit direkt angetriebener Ziehstange gasdicht
verschlossen. Dieser Verschluß, durch den die Ziehstange ragt, ist beispielsweise als
kegelförmige Dichtung des Züchtungsgefäßes aus Quarz und einem eingepaßten
Kegelstumpf aus Bornitrid gebildet. Weiterhin kann der Verschluß als Züchtungsgefäß
mit "Deckel" ausgebildet sein, wobei der Deckel optisch flach geschliffen und gegen
eine flache Kante des Züchtungsgefäßes gepreßt ist, oder zwischen einem
verschließenden Teil und der Kante des Gefäßes ein weicher, streckbarer Ring aus Au,
Ag, Pt oder einer Legierung aus diesen Metallen angeordnet ist. Wenn eine Regelung
des As-Dampfdruckes in dem geschlossenen System nicht eingefügt ist, sieht die
erwähnte Lösung eine As-Falle vor, die konzentrisch die Ziehstange umschließt, von
einem Graphitlager als unterer Dichtung und einer oberen Dichtung, beispielsweise aus
Teflon, begrenzt wird, und somit das As hier kondensiert, um Antrieb und Dichtung
vor Zerstörung zu schützen.
Bei den beiden zuletzt erwähnten Veröffentlichungen für Herstellungsverfahren von
Verbindungshalbleiterkristallen nach der Czochralski-Methode wurden die
beschriebenen Dichtungen durch einen dichten Verschluß zwischen zwei Materialien
mit unterschiedlichen Ausdehnungskoeffizienten gebildet und gewährleisten nur eine
starre vertikale Bewegung der Ziehstange.
Derartige konventionelle mechanische Dichtungen besitzen als Nachteil einen hohen
Verschleißgrad, Undichtheit bei hohen Temperaturen und - im Falle einer
automatischen Züchtung mit Kristallwägung - die Gefahr der Verfälschung des
Wägesignals.
Um während des Aufheiz- und Abkühlvorganges über eine bestimmte Zeit das
Innengefäß geöffnet zu halten, z. B. zum Ausdampfen von Restwasser und Oxiden (JP
6-16493), ist ein Öffnungs-/Schließvorgang des Innengefäßes zu gewährleisten. Die
Mehrzahl der Veröffentlichungen beschreibt aber nicht diesen technologisch wichtigen
Vorgang. In JP 60-11299, JP 3-115186, JP 3-50188 ist eine Tauchglocke in die B₂O₃-
Abdeckschmelze als oberes Gefäßteil ausgebildet, die jedoch wiederum den Nachteil
einer Flüssigdichtung aufweist. In JP 62-297291, JP 3-285887, JP 3 285886 sind auf-
und verschließbare Preßdichtungen über den gesamten Durchmesser zwischen
Gefäßunter- und -oberteil zu erkennen, die aber die Gefahr der Undichtheit
mitsichbringen. Hervorzuheben ist der überwiegende nachteilige Einsatz mehrerer
Dichtungen in einem Züchtungsgefäß zugleich.
Zumeist wir die Zusatzquelle für die dissoziierende Komponente (z. B. As, P) im
Züchtungsgefäß mit untergebracht und durch einen Zusatzheizer in der Temperatur
beeinflußt JP 60-264394, JP 62-217000, JP 6-16492. Eine präzise Kontrolle der
Quellentemperatur ist in diesem Falle jedoch wegen der im relativ voluminösen
Zwischengefäß vorhandenen Gaskonvektion nicht möglich. Kompliziertere
Vorrichtungen trennen die Zusatzquelle vom Züchtungsraum über Zuleitungen (z. B. JP
2-279590, JP 6-1693), erfordern aber zusätzliche Dichtungen und ggf.
Zusatzheizungen an den Versorgungsleitungen (JP 2-279590).
Bisher ist keine technische Lösung bekannt, in der die zuvor genannten Probleme
gleichzeitig nicht mehr auftreten.
Der Stand der Technik, von dem die Erfindung ausgeht, ist mehreren bereits erwähnten
Veröffentlichungen zu entnehmen; so wird hier die JP 3-252395 beispielhaft genannt.
In dieser Veröffentlichung ist eine Vorrichtung zur dampfdruckkontrollierten LEC-
Züchtung beschrieben, bei der in einem Hochdruckbehälter ein Züchtungsgefäß
angeordnet ist. In das die Schmelze und die Abdeckschmelze enthaltende
Züchtungsgefäß ragt eine drehbar gelagerte Ziehwelle, an der der Keimkristall befestigt
ist. Der Boden des Züchtungsgefäßes ist mit einer Tiegelwelle verbunden, die mit einer
Flüssigdichtung durch die Hochdruckbehälterwandung hindurchgeführt ist. Die
Ziehwelle ist durch die Wandung des Züchtungsgefäßes geführt und ebenfalls mit einer
Flüssigdichtung abgedichtet. Die Vorrichtung weist weiterhin Mittel zur Einstellung
eines Temperaturgradienten entlang der Ziehachse und Mittel zur Aufrechterhaltung
eines Gegendruckes der dissoziierenden Komponente in einem separaten Teil des
Züchtungsgefäßes auf Mittel zur Prozeßbeobachtung sind der Beschreibung nicht zu
entnehmen, diese sind beispielsweise in JP 3-115186 dargestellt. In diesem Fall ragt ein
Beobachtungstubus bis an die Wandung des Züchtungsgefäßes durch die
Hochdruckbehälterwandung hindurch.
Der Erfindung liegt das technische Problem zugrunde, eine Vorrichtung zur
dampfdruckkontrollierten Czochralski-Züchtung von versetzungsarmen AIIIBV-
Kristallen bei guter Prozeßbeobachtbarkeit anzugeben, deren Züchtungsgefäß zu
öffnen ist und im geschlossenen Zustand dicht schließt und die eine definierte
Steuerung der Zusatzquelle der dissoziierenden Komponenten gewährleistet. Die
Vorrichtung soll eine sichere Prozeßführung bei einfachem Aufbau mit verschleißarmen
Bauteilen und niedrigem Aufwand für die Wartung sowie für die Vor- und
Nachbereitung gewährleisten.
Die erfindungsgemäße Lösung hierfür besteht darin, daß in einer Vorrichtung der
eingangs erwähnten Art das Züchtungsgefäß trennbar in Züchtungsgefäßober- und
-unterteil ausgebildet und am Züchtungsgefäßoberteil ein dornförmiges Aufsatzteil
angeordnet ist, das domförmige Aufsatzteil eine verfahrbare, die Ziehwelle
umschließende, aus Dichtungskegel und diesen Dichtungskegel umschließendem
Dichtungskegelgehäuse bestehende Kegeldichtung aufweist, wobei die Ziehwelle in
einem keramischen Rohrkörper angeordnet ist, der Rohrkörper mit Ziehwelle und
Kegeldichtung in einem durch das domförmige Aufsatzteil geführten Tubus angeordnet
ist, das Dichtungskegelgehäuse gleichzeitig als Wandung des Tubus ausgebildet ist, die
obere Stirnfläche des Dichtungskegelgehäuses dicht mit dem Deckel des
Züchtungsgefäßoberteils schließt, die untere Stirnfläche des Dichtungskegelgehäuses
mit einer Konvektionssperre fest verbunden ist und im oberen Teil des domförmigen
Aufsatzteils eine zusätzliche Dampfdruckquelle für die dissoziierende Komponente
angeordnet ist.
Die erfindungsgemäße Lösung ermöglicht damit den Kristallziehvorgang in einem
dichten, heißen Innengefäß ohne Dampfabfluß, dessen einzige bewegte Dichtung zur
Ziehwelle so angeordnet ist, daß ihr Gehäuse am unteren Ende mit einer
Konvektionssperre fest verbunden ist, die den Dichtelementen eine so große
Wärmemenge zuführt, daß diese die höchste Temperatur relativ zum oberen Bereich
des Züchtungsgefäßes aufweisen. Das Dichtungskegelgehäuse ist während der
Züchtung fest mit dem oberen Deckel des Züchtungsgefäßes verbunden, jedoch ragt es
relativ zu diesem so weit nach unten in das Züchtungsgefäß hinein, daß sich im Bereich
des Deckels des Züchtungsgefäßes eine so niedrige Temperatur einstellt, wie sie für die
im oberen Teil des domförmigen Aufsatzteils angeordnete zusätzliche
Dampfdruckquelle erforderlich ist. Die Abmessungen des die Ziehwelle führenden
keramischen Rohrkörpers sind so gewählt, daß sie im Züchtungszustand mit der
Kegeldichtung einen zuverlässigen Verschluß des Züchtungsgefäßes bei gleichzeitig
hoher Gleitfähigkeit des Rohrkörpers garantieren.
Zur Unterstützung der unterschiedlichen Temperaturniveaus im Züchtungsgefäß ist die
Konvektionssperre so gestaltet, daß sie an ihrem Außendurchmesser mit dem
Züchtungsgefäß dicht schließt und somit den oberen Bereich des Züchtungsgefäßes,
das domförmig ausgebildete Aufsatzteil, in deren oberen Teil die Dampfdruckquelle
angeordnet ist, abteilt. Damit erfolgt eine thermische Trennung des dornförmigen
Aufsatzteils vom übrigen Züchtungsraum mittels Konvektionssperre. In einer
Ausführungsform ist die Konvektionssperre als tellerförmiger
Wärmestrahlungsempfänger ausgebildet. Durch lochkranzförmige Kapillarbohrungen
im Wärmestrahlungsempfänger sind beide Bereiche miteinander verbunden, so daß ein
Ausgleich der Partialdruckdifferenz erfolgen kann und die Spezies der zusätzlichen
Dampfdruckquelle in den unteren Züchtungsraum eintreten können.
Zur Einstellung des Arbeitspunktes der Dampfdruckatmosphäre ist das
Dichtungskegelgehäuse außen gegenüber der Dampfdruckquelle wärmeisoliert, um
einen intensiven Wärmeaustausch mit dem kälteren Schutzgas im Außenbereich zu
erzielen.
In weiteren Ausführungsformen enthält der Tiegel im Züchtungsgefäß eine
ungeschützte Schmelze oder eine Schmelze und darauf angeordnet eine
Abdeckschmelze. Die erfindungsgemäße Vorrichtung ist somit variabel für die
Züchtung von AIIIBV-Kristallen nach der Czochralski-Methode einsetzbar.
In einer bevorzugten Ausführungsform ist die verfährbare Kegeldichtung als
Labyrinthdichtung, insbesondere als Lamellendichtung ausgebildet. Die
scheibenförmigen Dichtungslamellen schließen alternierend dicht mit dem Gehäuse
bzw. mit dem Rohrkörper, in dem die Ziehwelle angeordnet ist, unter Berücksichtigung
der thermischen Ausdehnung am Arbeitspunkt. Damit ist das mit der Tiegelwelle
rotierende Züchtungsgefäß gegenüber der gegensinnig rotierenden Ziehwelle
abgedichtet. Diese Dichtheit ist auch gewährleistet, wenn eventuell leichte
Abweichungen in der Achsenfluchtung zwischen Tiegelwelle und Ziehwelle auftreten,
da diese durch die besondere Form der Dichtungslamellen abgefangen werden können.
Die Lebensdauer dieser Dichtung ist im Vergleich zu konventionellen mechanischen
Dichtungen, die sehr temperaturabhängig sind, aufgrund der beschriebenen Flexibilität
höher, außerdem ist die Verfälschung des Gewichtssignals kleiner.
Andere Ausführungsformen sehen vor, daß der Dichtungskegel der verfahrbaren
Kegeldichtung durch einen Hartanschlag an der unteren Stirnfläche der Ziehwelle
betätigbar und durch Gewichtslast verschließbar ist, und am oberen Rand des
Dichtungskegelgehäuses radial ausschwenkbare Klinken anzuordnen. Der
Dichtungskegel kann damit im Bereich vor dem oberen Totpunkt ausgehoben werden.
Dadurch ist ein Evakuieren oder Schutzgasbefüllen des Züchtungsgefäßes, ein
Druckausgleich während des Aufheiz- und Abkühlvorgangs und ein Abtransport
unerwünschter Oxidgase während der Prozeßaufheizung möglich. Die
ausschwenkbaren Klinken begrenzen den Dichtungskegelweg und ermöglichen bei
Öffnung des Hochdruckgefäßes ein Verfahren des Züchtungsgefäßes und damit eine
Kristallernte ohne Keimbruch.
Die zusätzliche Dampfdruckquelle ist in einer weiteren Ausführungsform als eine im
oberen Teil des domförmigen Aufsatzteils innen umlaufende Rinne und thermisch
isoliert zur die Ziehwelle umschließenden Kegeldichtung ausgebildet, und außen in
Höhe der Rinne weist das domförmige Aufsatzteil ein Radiatorprofil auf.
In einer weiteren Ausführungsform ist vorgesehen, als Verschluß des domförmigen
Aufsatzteils vom übrigen Raum des Züchtungsgefäßes ringförmige, parallel
angeordnete, optisch polierte und durch einen schmalen Zwischenraum mit Gaszutritt
voneinander distanzierte zwei Kieselglasplatten anzuordnen, deren Durchmesser dem
domförmigen Aufsatzteil und dem Züchtungsgefäß angepaßt sind. So wird ein
Wärmestau und dadurch eine Aufheizung der Kieselglasplatten erzeugt, damit die
Kondensatbildung minimiert und eine Beobachtung während des gesamten
Züchtungsprozesses mittels eines an die obere Kieselglasplatte herangeführten
Kieselglasstabes möglich ist.
Die folgenden Ausführungsformen betreffen Bauteile im Hochdruckbehälter. So ist die
Ziehwelle innerhalb des Hochdruckbehälters an ihrer oberen Stirnfläche mit einer
Kupplungshülse aus carbonfaserverstärktem Kohlenstoff fest verbunden und deren
überstehender Teil stirnseitig an einer metallischen Kupplung der durch den
Hochdruckbehälter ragenden Maschinenziehwelle fest eingespannt. In einer
vorteilhaften Ausführungsform ist der überstehende Teil der Kupplungshülse mittels
koaxialer Schlitzungen in radial wirkende elastische Biegeelemente aufgeteilt.
Weitere Merkmale und zweckmäßige Ausgestaltungsformen der Erfindung ergeben
sich aus den folgenden Ausführungsbeispielen, die an Hand der Figuren näher erläutert
werden.
Dabei zeigen
Fig. 1 eine schematische Gesamtansicht der erfindungsgemäßen Vorrichtung;
Fig. 2 einen vergrößerten Ausschnitt der Fig. 1, in dem eine verfahrbare, den
die Ziehwelle enthaltenden Rohrkörper umschließende Kegeldichtung
detailliert dargestellt ist;
Fig. 3 die Verbindung der Ziehwelle mit der Maschinenziehwelle im
Hochdruckgefäß;
Fig. 4 eine detaillierte Darstellung der gemäß Fig. 3 die Ziehwelle und die
Maschinenziehwelle verbindenden Kupplung in der schematisierten
Draufsicht und im Längsschnitt.
Die in Fig. 1 schematisch dargestellte Gesamtansicht einer erfindungsgemäßen
Vorrichtung zur dampfdruckkontrollierten Czochralski-Züchtung von AIIIBV-Kristallen
zeigt das in einem Hochdruckgefäß 1, das auch evakuierbar ausgebildet ist,
angeordnete Züchtungsgefäß 2, das von einem Hauptheizer 3 und zur Abschirmung
gegen die Wand des Hochdruckgefäßes 1 von Wärmeschutzschilden 4 umgeben ist.
Das Züchtungsgefäß 2 ist mittels eines Flansches 5 zwecks Beschickung und
Kristallernte trennbar in Züchtungsgefäßoberteil 2a und Züchtungsgefäßunterteil 2b
ausgeführt. Das Züchtungsgefäßunterteil 2b nimmt den die Schmelze 7 und die
Abdeckschmelze 8 enthaltenden Tiegel 6 auf. In den Tiegel 6 ragt die in einem
keramischen Rohrkörper geführte Ziehwelle 9 mit einem Keimkristall 10. Die Ziehwelle
9 ist im Hochdruckgefäß 1 mittels einer Kupplungshülse 11 mit einer
Maschinenziehwelle 12 verbunden. Das Züchtungsgefäßoberteil 2a weist ein
domförmiges Aufsatzteil 13 auf, das einen Tubus 14 aufweist, in dem die im
Rohrkörper angeordnete Ziehwelle 9 und eine Kegeldichtung 15 geführt sind. Die
Kegeldichtung 15 ist in Fig. 2 detaillierter dargestellt. Für das Ausheben des
Dichtungskegels 15a entgegen der Wirkung der im Hochdruckgefäß 1 um die
Ziehwelle 9 angeordneten rohrförmigen Gewichte 16, die ihn andernfalls sicher
schließen, weist die Ziehwelle 9 am unteren Ende einen Hartanschlag 17 auf. Die
rohrförmigen Gewichte 16 sind mit relativ engem Spalt in eine Wärmeschirmung 18
zum Deckel des Hochdruckgefäßes 1 eingepaßt. Im oberen Teil des
Dichtungskegelgehäuses 15b, das gleichzeitig als Wandung des Tubus 14 ausgebildet
ist, befindet sich innen eine als Rinne ausgebildete Zusatzquelle 19 der dissoziierenden
Komponente, die durch den Nachheizer 20 auf eine definierte Temperatur aufgeheizt
wird. Um die Zusatzquelle 19 weist das domförmige Aufsatzteil 13 außen ein
Radiatorprofil 21 auf. Damit wird die Abstrahlung von Wärme zum Erreichen von
gegebenenfalls deutlich niedrigeren Temperaturen in der Zusatzquelle 19 als im
Züchtungsgefäß 2 und damit eine gute Kontrollierbarkeit der Temperatur über einen
relativ großen Bereich in Ziehrichtung ermöglicht. Der Boden des Züchtungsgefäßes 2,
der eine Kegelbohrung 22 und eine Quernut aufweist, lastet auf der Stirnfläche 23 des
kegelförmig ausgebildeten Kopfteils der Tiegelwelle 24, über die die Führung und
Rotationsmitnahme des Züchtungsgefäßes 2 realisiert wird. Das Züchtungsgefäß 2 hat
damit nicht den üblichen Reibschluß, sondern ein Kippspiel, das toleranzbedingte
Verlagerungen des Züchtungsgefäßes 2 gestattet, andererseits aber das
Züchtungsgefäß 2 beim Zusammenfahren des Hochdruckgefäßes 1 in die Startposition
ausreichend zentriert und auch eine sichere Handhabung beim Einbau gewährleistet.
Dadurch führt der unumgängliche radiale Versatzfehler zwischen Tiegelwelle 24 und
Ziehwelle 9 nicht zur Zerstörung der Kegeldichtung 15. Das domförmige Aufsatzteil
13 des Züchtungsgefäßes 2 ist mittels zweier in einem Ringflansch 25 aufgespannter
ringförmiger, parallel angeordneter, optisch polierter Kieselglasplatten 26a und 26b mit
unterschiedlichen Durchmessern, die denen der Bauteile der Kegeldichtung 15
entsprechen, die sie konzentrisch umschließen, zum übrigen Teil des Züchtungsgefäßes
2 abgetrennt. Die beiden Kieselglasplatten 26a und 26b sind durch einen Distanzring
27 voneinander getrennt und mit Belüftungsbohrungen 28 versehen. Über einen
Kieselglasstab 29, der dicht an die Kieselglasplatte 26a herangeführt ist, ist eine
ständige Prozeßbeobachtung gewährleistet, da die Transparenz dieser Kieselglasplatten
26a und 26b durch den zwischen den Scheiben erzeugten Wärmestau und daraus
resultierend eine minimierte Kondensatbildung an den Kieselglasplatten 26a und 26b
realisiert ist. Das domförmige Aufsatzteil 13 ist mittels einer Konvektionssperre 30, die
für die Spezies der Zusatzquelle 19 durchlässig ist, thermisch vom Züchtungsraum
getrennt.
Fig. 2 zeigt die Durchführung der Ziehwelle 9 durch das domförmige Aufsatzteil 13 in
das Hochdruckgefäß 1 im Detail. Wie bereits erwähnt, umschließt das domförmige
Aufsatzteil 13 einen Tubus 14, in dem die im Rohrkörper angeordnete Ziehwelle 9 und
die Kegeldichtung 15 geführt sind. Mit einem Deckel 31 wird das domförmige
Aufsatzteil 13, in dessen oberem Dichtungskegelgehäuse 15b sich die Zusatzquelle 19
für die dissoziierenden Komponenten befindet, zum Hochdruckgefäß 1 dicht
verschlossen. Somit gelangen die Spezies der Zusatzquelle 19 - wie gewünscht - durch
die Konvektionssperre 30 nur in das Züchtungsgefäß 2. Die Kegeldichtung 15 weist
einen Dichtungskegel 15a auf, der dem diesen Dichtungskegel 15a umschließenden
Dichtungskegelgehäuse 15b angepaßt ist. Der Dichtungskegel 15a ist mit einer
lamellenartigen Dichtscheibenanordnung 15c versehen, deren unterste Dichtscheibe
relativ zum Dichtungskegelgehäuse 15b bei Züchtungstemperatur ein leichtes
Übermaß, zur Ziehwelle 9 aber einen engen Gleitsitz aufweist, wie auch alle weiteren
aufliegenden Dichtscheiben, nur daß diese zum Dichtungskegelgehäuse 15b alternativ
einen engen Gleitsitz oder ein Spielmaß aufweisen. Die unterste Dichtscheibe garantiert
somit die konzentrische Führung der Ziehwelle 9, während alle anderen Dichtscheiben
bei einer toleranzbedingten Taumelbewegung des Züchtungsgefäßes 2 unter
Beibehaltung ihrer Dichtungsfunktion seitlich ausweichen können und somit diese
Bewegung erlauben. Das Dichtscheibenpaket erhält eine definierte Axialpressung durch
die über eine Preßhülse 32 und einen Lastteller 33 aufliegenden rohrförmigen Gewichte
16. An der Preßhülse 32 sind zwei Klinken 34, 35 angeordnet, deren massebehaftete
Hebel fest mit diesen verbundene Stützfinger 36 zur Ziehwelle 9 schwenken, so daß in
zusammengefahrenem Zustand der Dichtungskegel 15a nach einem begrenzten
Öffnungsweg mit seinem Hartanschlag 37 auf die Stützfinger 36 trifft. Dadurch kann
nach dem Belüften und Abkühlen bei Öffnung des Hochdruckgefäßes 1 das
Züchtungsgefäß 2 mittels Ziehwelle 9 aus dem Ofenaufbau herausgezogen werden,
ohne dabei den Keim zu belasten. Von Vorteil hat sich auch erwiesen, daß sich der
Dichtungskegel 15a beim "blinden" Zusammenfahren der Hochdruckgefäßteile sich
"seine" Mitte im Züchtungsgefäß 2 sucht und dieses zentriert. Die bereits in Fig. 1
erwähnte Konvektionssperre 30 ist hier als tellerförmiger Wärmestrahlungsempfänger
dargestellt.
Züchtungsgefäß 2, Kieselglasplatten 26a und 26b sowie domförmiges Aufsatzteil 13
drehen sich mit der Tiegelwelle 24 mit. Während der Züchtung muß sich die Ziehwelle
9 mit dem Keimkristall 10 und dem wachsenden Kristall gegensinnig zum
Züchtungsgefäß 2 und damit auch zur Schmelze 7 drehen. Dabei gewährleistet die
beschriebene Dichtung 15 die notwendige Gefäßdichtheit.
Um sowohl den mechanischen Rundlauf, als auch die Gasdichtigkeit der
konzentrischen Verbindung der keramischen Ziehwelle 9 mit der Maschinenziehwelle
12 aus V2A und ihrem ca. 2,2fach größerem thermischen Ausdehnungskoeffizienten zu
gewährleisten, ist die Ziehwelle 9 in eine Kupplungshülse 11 aus
carbonfaserverstärktem Kohlenstoff (CFC) - wie in Fig. 3 dargestellt - eingepreßt.
Der metall-zugewendete Paßbund 38 ist mit stirnseitigen Schlitzungen versehen, z. B. in
6 × 60 Grad-Teilung in axialer Richtung, so daß sich radial wirkende elastische
Biegeelemente 39, die in Fig. 4 dargestellt sind, ergeben.
Der Stirnpaßbund 38 der Biegeelemente 39 zwischen der metallischen Spindelkupplung
40 und der Maschinenziehwelle 12 ist so eng gefaßt, daß die Biegeelemente 39 in
konzentrischer Weise den größeren Wärmedehnungen der V2A-Teile, so auch der
Maschinenziehwelle 12, folgen müssen. Dadurch bleibt aber der Rundlauf der in einem
Rohrkörper angeordneten Ziehwelle 9 erhalten. Zur Erzielung einer Gasabdichtung
sind Dehnungsbuchsen 41 und 42 aus CFC angeordnet, die jeweils in die zugehörige
Bohrung fest eingepreßt, aber zueinander so ausgelegt sind, daß der erforderliche
Montagespalt bei Betriebstemperatur als Preßbund geschlossen ist.
Vor dem eigentlichen Züchtungsvorgang wird das Züchtungsgefäß 2 mittels der
Kegeldichtung 15 geöffnet und evakuiert. Danach wird der Hauptheizer 3 auf ca.
600°C erhitzt und das Züchtungsgefäß 2 gemeinsam mit dem Hochdruckgefäß 1 nach
Aufschmelzen des Boroxides für die Abdeckschmelze 8 und einer Haltezeit - zum
Abdampfen des Restwassergehaltes und verschiedener Oxide - mit 2,0 MPa Argongas
gefüllt. Anschließend wird die Kegeldichtung 15 durch Hochfahren der Tiegelwelle 24
und damit auch des Züchtungsgefäßes 2 dicht verschlossen. Durch weiteres Aufheizen
des Hauptheizers 3 wird die Schmelze 7 erzeugt und auf einer konstanten Temperatur
oberhalb des Schmelzpunktes von GaAs (1235°C) gehalten. Dann wird die Ziehwelle 9
mit Keimkristall 10 in die Schmelze 7 eingetaucht und der Ziehvorgang des Kristalls
durchgeführt. Dieser Vorgang ist mit einer infrarotempfindlichen Kamera außerhalb des
Hochdruckgefäßes 1 durch den Kieselglasstab 29 hindurch kontrollierbar. Die
erfindungsgemäße Lösung ermöglicht die Aufrechterhaltung flacher axialer
Temperaturgradienten von ca. 15 bis 20 Kcm-1 in dem wachsenden Kristall und eine
relativ hohe konstante Temperatur der Kieselglasplatten 26a und 26b von etwa
1000°C, wodurch eine hinreichend gute automatische Kontrolle während des
Ziehvorganges gewährleistet werden kann. Außerdem konnte durch die
erfindungsgemäße Lösung innerhalb des Züchtungsgefäßes 2 ein Arsengegendruck
aufrecht erhalten werden, der das Abdampfen von Arsen von der Kristalloberfläche
verhinderte. Der Arsendampfdruck wird über die Regelung der Temperatur der
Zusatzquelle 19 mittels des Nachheizers 20 auf ca. 0,1 MPa konstant gehalten. Die
dazu erforderliche relativ niedrige Quellentemperatur von ca. 620 bis 650°C kann
erfindungsgemäß mittels Konvektionssperre 30 und Radiatorprofil 21 realisiert werden,
da sich ein starker Temperaturabfall über die Länge des domförmigen Aufsatzteiles 13
bildet. Nach Beendigung des Ziehvorganges wird der im Züchtungsgefäß 2
freihängende Kristall langsam durch Leistungsreduzierung des Hauptheizers 3
abgekühlt. Nach Erreichen einer Innentemperatur von ca. 800°C wird das
Züchtungsgefäß 2 zum Zwecke eines Druckausgleichs mittels Kegeldichtung 15
geöffnet und bis auf Zimmertemperatur weiter abgekühlt.
Die mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung gezogenen monokristallinen GaAs-
Kristalle hatten einen Durchmesser von 3 Zoll. Ihre Oberfläche war nahezu spiegelnd
und wies keine Verdampfungsanzeichen auf. Es wurde eine mittlere Ätzgrubendichte
von 10⁴ cm-2 nachgewiesen, was eine Reduzierung um eine halbe Größenordnung
gegenüber der konventionellen LEC-Methode für GaAs-Kristalle gleichen
Durchmessers bedeutet. Die erfindungsgemäße Vorrichtung ermöglichte eine sichere
Prozeßführung. Durch den Einsatz verschleißarmer Bauteile unter definierten
Temperaturbedingungen konnte ein niedriger Aufwand für die Wartung sowie für die
Vor- und Nachbereitung gewährleistet werden.
Claims (12)
1. Vorrichtung zur dampfdruckkontrollierten Czochralski-Züchtung von AIIIBV-
Kristallen, bestehend aus einem Hochdruckbehälter mit druckfesten Dreh- und
Hubdurchführungen für eine einen Keimkristall aufweisende Ziehwelle, die in ein im
Hochdruckbehälter angeordnetes dicht verschlossenes Züchtungsgefäß ragt, das einen
Tiegel und Dichtungen aufweisende Durchführungen für Ziehwelle und mit dem Boden
des Züchtungsgefäßes verbundene Tiegelwelle enthält, sowie Mitteln zur Einstellung
eines Temperaturgradienten entlang der Ziehachse, Mitteln zur Prozeßbeobachtung
und Mitteln zur Zuführung der dissoziierenden Komponente,
dadurch gekennzeichnet, daß
- - das Züchtungsgefäß (2) trennbar in Züchtungsgefäßober- (2a) und -unterteil (2b) ausgebildet und am Züchtungsgefäßoberteil (2a) ein domförmiges Aufsatzteil (13) angeordnet ist,
- - das domförmige Aufsatzteil (13) eine verfahrbare, die Ziehwelle (9) umschließende, aus Dichtungskegel (15a) und diesen Dichtungskegel umschließendem Dichtungskegelgehäuse (15b) bestehende, Kegeldichtung (15) aufweist, wobei die Ziehwelle (9) in einem keramischen Rohrkörper angeordnet ist,
- - Rohrkörper mit Ziehwelle (9) und Kegeldichtung (15) in einem durch das domförmige Aufsatzteil (13) geführten Tubus (14) angeordnet sind,
- - das Dichtungskegelgehäuse (15b) gleichzeitig als Wandung des Tubus (14) ausgebildet ist,
- - die obere Stirnfläche des Dichtungskegelgehäuses (15b) dicht mit dem Deckel (31) des Züchtungsgefäßoberteils schließt,
- - die untere Stirnfläche des Dichtungskegelgehäuses (15b) mit einer Konvektionssperre (30) fest verbunden ist und
- - im oberen Teil des domförmigen Aufsatzteils (13) eine zusätzliche Dampfdruckquelle (19) für die dissoziierende Komponente angeordnet ist.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
der Tiegel (6) im Züchtungsgefäßunterteil (2b) eine Schmelze (7) enthält.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
der Tiegel (6) im Züchtungsgefäßunterteil (2b) eine Schmelze (7) und darauf
angeordnet eine Abdeckschmelze (8) enthält.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
die verfahrbare Kegeldichtung (15) als Labyrinthdichtung ausgebildet ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Labyrinthdichtung als Lamellendichtung (15c) ausgebildet ist.
6. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Konvektionssperre (30) als tellerförmiger Wärmestrahlungsempfänger ausgebildet
ist.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1, 4 oder 5,
dadurch gekennzeichnet, daß
der Dichtungskegel (15a) der verfahrbaren Kegeldichtung (15) durch einen
Hartanschlag (17) an der unteren Stirnfläche der Ziehwelle (9) betätigbar und durch
Gewichtslast (16, 33) verschließbar ist.
8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1,4 oder 5,
dadurch gekennzeichnet, daß
am oberen Rand des Dichtungskegelgehäuses (15b) radial ausschwenkbare Klinken
(34) angeordnet sind.
9. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
die zusätzliche Dampfdruckquelle (19) als eine im oberen Teil des domförmigen
Aufsatzteils (13) innen umlaufende Rinne und thermisch isoliert zur die Ziehwelle (9)
umschließenden Kegeldichtung (15) ausgebildet ist und das domförmige Aufsatzteil
(13) außen in Höhe der Rinne ein Radiatorprofil (21) aufweist.
10. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
als Verschluß des domförmigen Aufsatzteils (13) vom übrigen Raum des
Züchtungsgefäßes (2) zwei ringförmige, parallel angeordnete, optisch polierte und
durch einen schmalen Zwischenraum mit Gaszutritt voneinander distanzierte
Kieselglasplatten (26a, 26b) angeordnet sind, deren Durchmesser dem domförmigen
Aufsatzteil (13) und dem Züchtungsgefäß (2) angepaßt sind und an die obere
Kieselglassichtscheibe (26a) ein Kieselglasstab (29) durch den Hochdruckbehälter (1)
herangeführt ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Ziehwelle (9) innerhalb des Hochdruckbehälters (1) an ihrer oberen Stirnfläche mit
einer Kupplungshülse (11) aus carbonfaserverstärktem Kohlenstoff fest verbunden und
deren überstehender Teil stirnseitig an einer metallischen Spindelkupplung (40) der
durch den Hochdruckbehälter (1) ragenden Maschinenziehwelle (12) fest eingespannt
ist.
12. Vorrichtung nach Anspruch 11,
dadurch gekennzeichnet, daß
der überstehende Teil der Kupplungshülse (11) mittels koaxialer Schlitzungen in radial
wirkende elastische Biegeelemente (39) aufgeteilt ist.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19604027A DE19604027C1 (de) | 1996-01-24 | 1996-01-24 | Vorrichtung zur dampfdruckkontrollierten Czochralski-Züchtung von A¶I¶¶I¶¶I¶B¶V¶-Kristallen |
DE1997131590 DE19731590A1 (de) | 1996-01-24 | 1997-07-17 | Anordnung und Verfahren zur Beobachtung der Züchtung von Halbleiterkristallen mit einer flüchtigen Komponente |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19604027A DE19604027C1 (de) | 1996-01-24 | 1996-01-24 | Vorrichtung zur dampfdruckkontrollierten Czochralski-Züchtung von A¶I¶¶I¶¶I¶B¶V¶-Kristallen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19604027C1 true DE19604027C1 (de) | 1997-10-23 |
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ID=7784501
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19604027A Expired - Fee Related DE19604027C1 (de) | 1996-01-24 | 1996-01-24 | Vorrichtung zur dampfdruckkontrollierten Czochralski-Züchtung von A¶I¶¶I¶¶I¶B¶V¶-Kristallen |
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Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19604027C1 (de) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1074248A (en) * | 1963-09-25 | 1967-07-05 | Texas Instruments Inc | High resistivity gallium arsenide and process of making same |
DE1519914A1 (de) * | 1960-04-13 | 1970-02-19 | Texas Instruments Inc | Vorrichtung zum Herstellen eines Verbindungshalbleiterkristalls |
-
1996
- 1996-01-24 DE DE19604027A patent/DE19604027C1/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE1519914A1 (de) * | 1960-04-13 | 1970-02-19 | Texas Instruments Inc | Vorrichtung zum Herstellen eines Verbindungshalbleiterkristalls |
GB1074248A (en) * | 1963-09-25 | 1967-07-05 | Texas Instruments Inc | High resistivity gallium arsenide and process of making same |
Non-Patent Citations (1)
Title |
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Derwent-Referat Nr. 94-061942/08 JP 06-016492 A * |
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