DE2524596A1 - Verfahren und vorrichtung fuer die direkte schmelzsynthese von fluechtige bestandteile enthaltenden verbindungen - Google Patents

Verfahren und vorrichtung fuer die direkte schmelzsynthese von fluechtige bestandteile enthaltenden verbindungen

Info

Publication number
DE2524596A1
DE2524596A1 DE19752524596 DE2524596A DE2524596A1 DE 2524596 A1 DE2524596 A1 DE 2524596A1 DE 19752524596 DE19752524596 DE 19752524596 DE 2524596 A DE2524596 A DE 2524596A DE 2524596 A1 DE2524596 A1 DE 2524596A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
reaction
volatile
heating
reaction chamber
sealant
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19752524596
Other languages
English (en)
Inventor
Roger Albert Castonguay
Wilson Pour Menashi
Joseph Francis Wenckus
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Arthur D Little Inc
Original Assignee
Arthur D Little Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from US05/475,780 external-priority patent/US3933435A/en
Application filed by Arthur D Little Inc filed Critical Arthur D Little Inc
Publication of DE2524596A1 publication Critical patent/DE2524596A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/10Inorganic compounds or compositions
    • C30B29/40AIIIBV compounds wherein A is B, Al, Ga, In or Tl and B is N, P, As, Sb or Bi
    • C30B29/42Gallium arsenide
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • C30B11/001Continuous growth
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • C30B11/04Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method adding crystallising materials or reactants forming it in situ to the melt
    • C30B11/06Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method adding crystallising materials or reactants forming it in situ to the melt at least one but not all components of the crystal composition being added
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • C30B11/04Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method adding crystallising materials or reactants forming it in situ to the melt
    • C30B11/06Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method adding crystallising materials or reactants forming it in situ to the melt at least one but not all components of the crystal composition being added
    • C30B11/065Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method adding crystallising materials or reactants forming it in situ to the melt at least one but not all components of the crystal composition being added before crystallising, e.g. synthesis
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/10Inorganic compounds or compositions
    • C30B29/40AIIIBV compounds wherein A is B, Al, Ga, In or Tl and B is N, P, As, Sb or Bi
    • C30B29/44Gallium phosphide
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/10Inorganic compounds or compositions
    • C30B29/46Sulfur-, selenium- or tellurium-containing compounds
    • C30B29/48AIIBVI compounds wherein A is Zn, Cd or Hg, and B is S, Se or Te

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)

Description

  • Verfahren und Vorrichtung für die direkte Schmelzsynthese von flüchtige Bestandteile enthaltenden Verbindungen Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung für die synthetische Herstellung anorganischer Substanzen, die von zwei oder mehreren Elementenbestandteilen gebildet werden, von denen wenigstens eines bei einer erhöhten Temperatur flüchtig ist, und insbesondere die synthetische Herstellung von Substanzen, wie polykristallines GaP. Die Erfindung ist eine Weiterbildung des Gegenstandes der US-PS 3 777 009.
  • Zn den letzten zehn Jahren haben die verschiedenen Anwendungsgebiete für Verbindungen der Gruppe III-V, der Gruppe II-VI und der Gruppe II-IV-VI an zunehmenler Bedeutung wegen ihrer einzigartigen quantenelektronischen Eigenschaften gewonnen. So können diese Substanzen als Detektorelemente bei Infrarotdetektoren, als Licht abstrahlende Dioden, als Infrarotfensterelemente sowie in Gunn-Dioden und Hall-Generatoren verwendet werden. Beispiele von Verbindungen der Gruppe III-V sind solche Substanzen, die durch die Reaktion von einem oder mehreren der Elemente der Gruppe III, wie Gallium und Indium, mit einem oder mehreren Elementen der Gruppe V, wie Phosphor, Arsen und Antimon, gebildet werden. Beispiele für Verbindungen der Gruppe II-VI sind Substanzen, die durch Reagieren eines oder mehrerer der Elemente der Gruppe II, wie Zink,Cadmium und Quecksilber, mit einem oder mehreren der Elemente der Gruppe VI, wie Schwefel, Selen und Tellur, gebildet werden.
  • Als Beispiele für die ternären Systeme, die von Verbindungen der Gruppe II-IV-VI gebildet werden, sind Quecksilber-Cadmium Tellurid, Blei-Zinn-Tellurid und Blei-Zinn-Selenid. Diesen intermetallischen bzw. halbleitenden Verbindungen kann eine Anzahl verschiedener Dotierungsstoffe zugesetzt werden. Da die quantenelektronischen Eigenschaften einer jeden dieser anorganischen Verbindungen von dem Verhältnis der verschiedenen Elementenkomponenten abhängen, welche die Verbindung bilden, ist es wichtig, daß man in der Lage ist, diese Verhältnisse genau zu regulieren und sie von Charge zu Charge zu reproduzieren.
  • Viele dieser Elementenkomponenten haben bei erhöhten Temperaturen sehr hohe Dampfdrucke sowohl in ihrem Elementenzustand als auch in ihrem gebundenen Zustand. Diese Tatsache macht die Synthese dieser Verbindungen in ihrem polykristallinen Zustand äußerst schwierig und kostspielig. So liegt beispielsweise der Dampfdruck von Arsen über einer GaAs-Schmelze mit einem Schmelzpunkt von 127o0C bzw. von Phosphor über einer GaP-Schmelze mit einem Schmelzpunkt von 147oOC bei einer Atmosphäre bzw. bei 35 at. Der Dampfdruck von Quecksilber fieber geschmolzenem HgCdTe nimmt mit zunehmender Cadmiumkonzentration von etwa 18 at für HgTe auf über loo at zu.
  • Diese beträchtlichen technischen Schwierigkeiten müssen bei der Herstellung dieser und anderer flüchtiger Materialien ausgeräumt werden, wobei zur Vermeidung des Materialverlustes durch Verf lüchtigung bzw. Verdampfung, was zur Zersetzung, zur Bildung von inhomogenem Material oder in manchen Fällen zu Katastrophen an den Reaktionsbehältern führen kann, viele Uberlegungen erforderlich sind.
  • Obwohl die Hauptschwierigkeiten bei der Herstellung von Einkristallen aus den polykristallinen Substanzen, wie den Arseniden, Phosphiden, Telluriden, Seleniden und dergleichen, durch Verwendung von Kristallziehverfahren, die mit Flüssigkeitsummantelung arbeiten, in weitem Rahmen überwunden worden sind, wird die Herstellung von Einkristallen unter Einsatz dieser Verbindungen hauptsächlich durch die übermäßigen Kosten der polykristallinen Verbindungen selbst beeinträchtigt.
  • Gewöhnlich basieren die Verfahren für die Synthese dieser Substanzen, welche einen oder mehrere flüchtige Bestandteile enthalten, auf der Verwendung verschiedener Arten von Abdichtungsmaßnahmen, die sowohl Feststoff- als auch Flüssigkeitsdichtungen verwenden. Zusätzlich sind andere Verfahren bekannt, welche den Verlust der flüchtigen Komponente dadurch verringern, daß die speziellen thermodynamischen und kinetischen Eigenschaften von Fluiden ausgenutzt werden. Alle diese Verfahren haben jedoch die im folgenden kurz zusammengefaßten, ihnen anhaftenden Schwierigkeiten und Beschränkungen.
  • Eine Art der verwendeten Feststoff-Abdichtungsvorrichtungen besteht aus abgedichteten Quarzampullen. Quarz kann einfach verarbeitet werden und bildet eine undurchlässige Diffusionssperre für die meisten flüchtigen Stoffarten. Seine mechanische Festigkeit ist jedoch insbesondere bei einer hohen Temperatur begrenzt. Abdichtend verschlossene Quarzampullen sind gegenüber Beanspruchungen -empfindlich, die durch beträchtliche Erhöhungen des inneren Dampfdrucks, insbesondere bei exothermen Reaktionen hervorgerufen werden. Der Anwendungsbereich ist deshalb insgesamt auf Temperaturen unter 12000C und auf Drucke unter 20 at begrenzt. Mit speziellen Vorkehrungen, beispielsweise durch Verwendung von dickwandigen Ampullen, die durch den Druck eines Inertgases oder durch feste Auskleidungen gestützt sind, ist es möglich, den Druckbereich etwas höher zu schieben. Es handelt sich dabei jedoch um schwierige Maßnahmen, die oft zu einer Zerstörung der Ampulle führen. Quarz ist weiterhin gegenüber einem chemischen Angriff von vielen Bestandteilen oder durch Spuren von Verunreinigungen empfindliche, welche seine mechanische Festigkeit weiter verringern oder eine Verunreinigung des Materials hervorrufen können.
  • Ein spezielles Beispiel für die Verwendung der Feststoffabdichtung unter Verwendung einer Quarzampulle zum synthetischen Herstellen von polykristallinem Material ist das sogenannte horizontale Bridgman-Verfahren, bei welchem die Komponenten unter Verwendung von Dampf-Flüssigkeits-Phasen-Reaktionen gebunden und dann horizontal zonengefroren werden, um einen Barren zu erzeugen, der dann gereinigt und geätzt wird. So umfaßt beispielsweise die Herstellung von polykristallinem GaP die Reaktion von P-oder PH3-Dampf, der über geschmolzenes Gallium geführt wird, was eine schwammartige GaP-Masse ergibt, die insgesamt überschüssiges Gallium enthält. Dieses Verfahren ist zusätzlich dazu, daß minderwertiges Material erzeugt wird, äußerst langsam.
  • Ein anderes Beispiel für die Verwendung einer Feststoffabdichtung ist die Synthese der ternären HgCdTe-Verbindung, die zur Zeit durch eine langsame, gesteuerte Reaktion der Elemente in einer evakuierten Quarzampulle ausgeführt wird.
  • Die Reaktion muß sehr langsam bei kontinuierlichem Schütteln der Ampulle durchgeführt werden, um ein Uberhitzen und ein Verdampfen des Quecksilbers zu verhindern, was zu einem Bersten der Ampulle führen könnte. Typische Reaktionsabläufe dauern etwa 60 bis 80 h für die Bildung der Verbindung.
  • Die Herstellung der anorganischen Verbindungen nach diesem bekannten Verfahren ist somit zeitraubend und aufwendig.
  • Darüber hinaus ist die Qualität des Rohbarrens schwierig zu steuern. Im allgemeinen ist es erforderlich, einen Überschuß der flüchtigen Komponente zu verwenden. Schließlich erfordert das Verfahren den Einsatz kleiner Quarzampullen und führt zu niedrigen Ausbeuten und kleinen Barren. Quarzampullen verwendende Verfahren sind in den US-PSn 3 366 454 und 3 649 t93 beschrieben.
  • Einige der Schwierigkeiten bei der synthetischen Herstellung von Verbindungen und bei der Herstellung von Einkristallen aus polykristallinen Substanzen, wie aus Arseniden, Phosphiden, Telluriden, Seleniden und dergleichen, sind durch Flüssigkeitsabdichtungsverfahren überwunden worden, die als Flüssigkeitsummantelung bzw. Flüssigkeitseinkapselung bekannt sind. Bei einem solchen Verfahren wird eine geschmolzene Schicht eines flüssigen Ummantelungsmittels, beispielsweise Boroxyd (B2O3), über der flüchtigen Substanz ausgebildet wird, so daß man eine flüssige Diffusionssperre erhält, die durch einen Inertgasüberdruck innerhalb einer Hochdruckkammer oder eines Autoklaven abgestützt wird. Für die Behalter können mehrere verträgliche Hochdruckmaterialien verwendet werden, beispielsweise Quarz, Graphit oder Bornitrid. Dieses Verfahren eignet sich besonders für das Ziehen von flüchtigen Kristallen mit einem hohen Schmelzpunkt, wie GaP, nach dem Czochralski-Verfahren (US-PSn 3 649 193, 3 7o4 o93, DT-OSn 2 137 772, 2 142 388).
  • Weiterhin ist ein Verfahren zur synthetischen Herstellung von Halbleiterverbindungen bekannt, bei welchem eine Flüssigkeitsummantelung bzw. ein Einschluß unter einer Flüssigkeit verwendet wird (US-PS 3 704 o33). Bei diesem Verfahren werden die Reaktionsteilnehmer in einem offenen Tiegel angeordnet und das Abschlußmittel bzw. das Ummantelungsmittel, beispielsweise Bs03, wird auf ihrer Oberseite angeordnet. Der Tiegel wird in einen Behälter gestellt, der dann bis zu einem Niveau unter Druck gesetzt wird, welches gleich dem höchsten Dampfdruck ist oder über diesem Dampfdruck liegt, der von der flüchtigen Komponente bei der Reaktion erreicht wird. Der Tiegel wird allmählich in eine Heizzone bewegt, beispielsweise in das Innere von Hochfrequenzspulen, so daß zuerst das Ummantelungsmittel und dann die Reaktionsteilnehmer erhitzt und geschmolzen werden. Durch Verwendung des geschmolzenen Flüssigkeitsmantels und des umgebenden erhöhten Drucks ist es möglich, nach diesem Verfahren Verbindungen mit flüchtigen Bestandteilen und insbesondere Verbindungen herzustellen, die sich bei einer niedrigeren Temperatur bilden und aus Bestandteilen hergestellt werden, die niedrigere Dampfdrucke bei der Synthesetemperatur haben. Die Hochdruckeigenschaften von gegenwärtig verfügbaren Hochdrucköfen, beispielsweise bis zu etwa 100 at Maximum, schließen die praktische Verwendung des bekannten Verfahrens (US-PS 3 704 093) für die Synthese von GaP aus.
  • Da das Ummantelungsmittel in körperlichem Kontakt mit den Reaktionsteilnehmern darüber oder darum herum steht, ist es nicht möglich, für manche Reaktionsteilnehmersysteme ausreichend Wärme in das Ummantelungsmittel zu bringen, ehe der Dampfdruck der flüchtigen Komponente ausreichend hoch wird, was zu einem bestimmten Verlust dieser Komponente bei dem Reaktionsteilnehmersystem führt. In manchen Fällen kann einer der Reaktionsteilnehmer in geschmolzener Form eine Dichte haben, die wesentlich geringer ist als die des geschmolzenen Umnantelungsmittels. In diesem Fall kann eine räumliche Umkehrung eintreten, die dazu führt, daß der geschmolzene Reaktionsteilnehmer die Oberschicht bildet und von dem anderen Reaktionsteilnehmer durch eine Schicht des Ummantelungsmittels getrennt ist.
  • Zu den allgamvinen Schwierigkeiten und Beschränkungen, die sich bei der~Anwendung des Verfahrens mit FlUssigkeitsummantelung ergeben, wobei das Umkapselungsmittel in tatsEchliche- kdrpçrlichen Kontakt mit den geschmolzenen Bestandteilen oder der gebildeten geschmolzenen Verbindung steht, gehört, daß B203 , nämlich das am häufigsten verwendete Umkapselungsmittel, das Material, insbesondere II-VI-Verbindungen, verunreinigen oder an dem gebildeten Kristall haften kann und ein Rissigwerden bzw. Brechen verursachen kann.
  • Es sind außerdem Verfahren bekannt, welche keine Abdichtung des Reaktionsbehälters erfordern. Ein Beispiel eines solchen Verfahrens ist die Synthese von polykristallinem GaP, bei welcher die Reaktionsteilnehmer in einem Quarzbehälter aufgenommen sind, der mit einem Kapillarrohr versehen ist, welches als Fluidverbindung und als Druckausgleichseinrichtung zwischen dem Volumen in dem Quarzbehälter und dem ihn umgebenden, unter Druck stehenden Inertgas dient (A.G. Fischer 'Techniques for Melt-Growth of Luminescent Semiconductor Crystals Under Pressure1t,Journal of the Electrochemical Society, Vol. 117, No. 2, Seiten 41C bis 47C, Februar 1970,und DT-OS 2 142 388).
  • Der Phosphor wird auf einer Temperatur gehalten, die gerade ausreicht, um ihn zu verdampfen. Der erhaltene Phosphordampf wird in Kontakt mit dem geschmolzenen Gallium gebracht, das auf einer Temperatur gehalten wird, die über der Temperatur liegt, bei welcher die Schmelzsynthese von GaP erfolgt. Um die Kondensation und den pampftransport von Phosphordampf auf ein Minimum zu reduzieren, werden der Quarzbehälter und das Kapillarrohr so erhitzt, daß freier Phosphor in der Dampfphase im Inneren des Quarzbehälters gehalten wird. Das Kapillarrohr dient deshalb als Einrichtung zum Ausgleich der Drucke innerhalb und außerhalb des Quarzbehälters und als Diffusionszone, um den Verlustanteil von Phosphor aus dem Quarzbehälter heraus in die "kalte" Hochdruckkammer zu verringern. Dieses Verfahren hat mehrere Nachteile. Zu ihnen gehören der kontinuierliche Verlust von Phosphor durch die Kapillare, wodurch die Phosphorausbeute verringert wird, und der Prozeß wirtschaftlich uninteressanter als in dem Fall wird, in welchem die Phosphorausbeute in der Nähe des Maximums gehalten werden könnte. Das Innere des Ofens, in welchem der Prozeß ausgeführt wird, wird zusammen mit dem darin enthaltenen Zubehör mit Abscheidungen des flüchtigen Bestandteils verunreinigt, welche korrosiv wirken und langwierige Reinigungsprozesse erforderlich machen können.
  • Ausgehend von der US-PS 3 777 oo9 wurde bereits eine Vorrichtung vorgeschlagen, mit welcher die Synthese anorganischer Verbindungen aus Reaktionsteilnehmern in Form von Elementen ausgeführt wird. Wenigstens einer der Reaktionsteilnehmer ist bei der Synthesetemperatur in hohem Maße flüchtig. Die Vorrichtung hat einen Reaktionsbehälter mit einer Verschlußeinrichtung, welche eine mechanische Abdichtung zu dem Behälter bildet und auch die Verwendung einer Flüssigkeitsabdichtung ermöglicht, so daß man eine Kombination Flüssigkeitsdichtung und mechanischer Dichtung erhält, welche hindert, daß die Flüssigkeitsdichtung in die Reaktionskammer in dem Behälter eintritt, welche jedoch das Diffundieren von Hochdruckgasen durch die Dichtung ermöglicht. Die Vorrichtung hat deshalb den Vorteil eines abgedichteten Systems, d. h.
  • die Reaktionsteilnehmer werden zurückgehalten, ohne daß die Nachteile der Verwendung einer Quarzampulle oder dergleichen auftreten. Darüber hinaus ist ein Kontakt einer Flüssigkeitsummantelung mit der geschmolzenen Reaktionsmasse ausgeschlossen, wodurch auch die der Verwendung einer flüssigen Ummantelung zuzuordnenden Nachteile beseitigt sind. Schließlich wird die Abgabe einer beträchtlichen Menge der flüchtigen Komponente in den Druckofen und die Notwendigkeit für ein aufwendiges Reinigen nach den Arbeitsgängen ausgeschlossen.
  • Bei den Ausführungsformen der vorgeschlagenen Vorrichtung werden die aus Elementen bestehenden Reaktionsteilnehmer, beispielsweise das Gallium und das Arsen, in der Reaktionskammer des abgedichteten Behälters vor dem Erhitzen vermischt und einer einzigen Heizzone ausgesetzt. Dies ist eine völlig ausreichende Anordnung für die Fälle, bei welchen der Dampfdruck des flüssigen Reaktionsteilnehmers bei der Schmelzsynthesetemperatur nicht über den sicheren Drucverhitnissen des Druckofens steht, in welchem der Reaktionsbehälter angeordnet ist. Da gegenwärtig verfügbare-Drucköfen in der Lage sind, auf einen Druck von etwa loo at gebracht zu werden, eigent sich die vorgeschlagenen Vorrichtung mit der Dichtung mechanisch-flUssig und einer einzigen Reaktionskammer für die vorgemischten Reaktionsteilnehmer nicht für die Synthese von GaP, da der Dampfdruck des Elementes Phosphor bei der 0 Schmelzsynthesetemperatur von GaP (1470°C) in der Größenordnung von mehreren loo at liegt. Für alle praktischen Anwendungen sind außerdem für Verbindungen, die aus Elementen hergestellt werden, von denen eines einen Dampfdruck von mehr als etwa 75 at bei der Synthesetemperatur hat, getrennte EIeizzonen erforderlich.
  • Man braucht deshalb eine Vorrichtung, welche die Vorteile der Dichtung mechanisch-flüssig aufweist und die für die Schmelzsynthese von Verbindungen, wie GaP, aus aus Elementen bestehenden Reaktionsteilnehmern geeignet ist, wobei wenigstens einer der Reaktionsteilnehmer einen Dampfdruck bei der Schmelzsynthesetemperatur hat, der höher als 75 at ist.
  • Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe besteht deshalb darin, eine Vorrichtung für die direkte Schmelz synthese von anorganischen Verbindungen aus aus Elementen bestehenden Reaktionsteilnehmern zu schaffen, von denen wenigstens einer einen Dampfdruck von mehr als 75 at bei der Schmelzsynthesetemperatur hat. Insbesondere soll eine Vorrichtung für die Schmelzsynthese von GaP geschaffen werden. Die Vorrichtung soll eine genaue Steuerung der Zusammensetzung der Verbindung und die Reproduzierbarkeit der Zusammensetzungen ermöglichen.
  • Ein merklicher Überschuß der flüchtigen Komponente soll ebenso wie eine Ummantelung nicht erforderlich sein, außerdem soll die Vorrichtung frei von jeder äußeren Verunreinigung sein. Mit der Vorrichtung soll eine schnelle Schmelzsynthese von Substanzen, wie von polykristallinem GaP, mit hoher Qualität in einem realtiv großen Maßstab möglich sein.
  • Schließlich soll die Vorrichtung noch so modifizierbar sein, daß sich ein direktes Kühlen des Reaktionsproduktes erreichen läßt.
  • Diese Aufgabe wird bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung durch eine Ummantelungseinrichtung bzw. ein Gehäuse erreicht, welches eine Reaktionskammer umgrenzt, die den nicht flüchtigen Reaktionsteilnehmer in Form eines Elementes enthält, beispielsweise Gallium, sowie das geschmolzene Reaktionsprodukt, beispielsweise GaP, während eine Verschlußeinrichtung einen Speicher für den flüchtigen Reaktionsteilnehmer in Form eines Elementes, beispielsweise Phosphors, bildet. Der Verschluß ist mit dem Gehäuse über eine Dichtung mechanischflüssig in Eingriff bringbar, die so beschaffen ist, daß sie verhindert, daß das flüchtige Dichtungsmittel der Flüssigkeitsdichtung in die Reaktionskammer eintritt, während gleichzeitig ein Diffundieren von Hochdruckgasen durch die Dichtung hindurch möglich ist. Bei der Vorrichtung sind Heizeinrichtungen so vorgesehen, daß drei Heizbereiche nacheinander geschaffen werden.
  • Der Bereich I heizt das Dichtungsmittel, um es zu verflüssigen.
  • Der Bereich II heizt den nicht flüchtigen Reaktionsteilnehmer auf die Schmelzsynthesetemperatur auf, so daß eine geschmolzene Masse gebildet wird, und hält diese Masse auf der Synthesetemperatur, bis die Reaktion vollständig abgelaufen ist. Der Bereich III heizt den flüchtigen Reaktionsteilnehmer auf eine Temperatur, die ausreicht, um ihn zu verdampfen und in Kontakt mit der geschmolzenen Masse zu treiben. Die Heizeinrichtung kann auch eine Einrichtung zur Erzielung eines vierten Heizbereiches aufweisen, der dazu dient, die Temperatur des Bodens der geschmolzenen Masse allmählich zu verringern, um eine gesteuerte Kristallisierung des Reaktionsproduktes zu bewirken.
  • Die Isolierung der aus einem Element bestehenden flüchtigen Komponente in einer Heizzone, die sich von der Heizzone unterscheidet, in welcher die nicht flüchtige Komponente und danach die Reaktionsmasse angeordnet sind, ist bereits bekannt (DT-OSn 2 142 388, 2 137 772, US-PSn 3 366 454, 3 649 193 sowie die vorstehend genannte Literaturstelle von Fischer).
  • So benutzt die eine bekannte Vorrichtung (DT-OS 2 142 388) entweder eine Kapillarenverbindung zwischen dem Reaktionsbehälter und der Ofenatmosphäre oder ein flüssiges Ummantelungsmittel. Dabei ist es erforderlich, daß sich ein Rohr von dem Speicher für die flüchtige Komponente bis unter die geschmolzene Masse erstreckt, um die verdampfte flüchtige Komponente für die Reaktion zuzuführen. Die Verwendung der Rohranordnung ergibt ein zusätzliches Vorrichtungsteil und trägt zur Komplexität des Arbeitsgangs bei. Die Kapillarenverbindung oder das flüssige Ummantelungsmittel hat die bereits vorstehend beschriebenen Nachteile.
  • Bei der anderen bekannten Vorrichtung (DT-OS 2 137 772 US-PSn 3 649 193, 3 366 454) ist die flüchtige Komponente entweder unter oder neben der geschmolzenen Masse angeordnet, wobei ihr Dampf aufsteigen und in die geschmolzene Masse eindringen kann. In den Fällen, in welchen die flüchtige Komponente unter der geschmolzenen Masse liegt, kann sie durch eine poröse Sperre hindurchgehen, welche einen Teil des Bodens des GefäBes bzw. Tiegels bildet, der die geschmolzene Masse enthält. Es kann eine Flüssigkeitsummantelung für die Abdichtung in der geschmolzenen Masse benutzt werden. In manchen Fällen kann das gesamte Reaktionssystem in eine abgerichtete Quarzampulle eingeschlossen werden. Zusätzlich dazu, daß zur Vervollständigung der Reaktion sehr viel Zeit erforderlich ist, hat diese Vorrichtung auch die Nachteile, die der Verwendung von abgedichteten Ampullen und flüssigen Ummantelungsmitteln , wie vorstehend beschrieben, zugeordnet sind.
  • Im Gegensatz zu diesen bekannten Vorrichtungen mit zwei verschiedenen Heizzonen wird erfindungsgemäß eine minimale Anzahl von Vorrichtungsteilen verwendet und ein Dichtungssystem geschaffen, welches sicher, schnell installierbar und in der Lage ist, jedes merkliche Lecken des flüssigen Bestandteils in die Ofenatmosphäre zu verhindern. Mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist es somit. möglich, große Barren von GaB mit guter Qualität unter Einsatz im wesentlichen stöchiometrischer Mengen der die Elemente bildenden Reaktionsteilnehmer schnell synthetisch herzustellen.
  • Gegenstand der Erfindung ist somit eine Vorrichtung für die Schmelz synthese von anorganischen Verbindungen aus aus Elementen bestehenden Reaktionsteilnehmern, von denen wenigstens einer bei der Reaktionstemperatur in hohem Maße flüchtig ist. Ein eine Reaktionskammer begrenzendes Gehäuse und ein einen Speicher aufweisender Verschluß, der den Reaktionsteilnehmer in Form des flüchtigen Elementes enthält, bilden den Reaktionsbehälter, der durch eine Kombination einer mechanischen Dichtung und einer Flüssigkeitsdichtung abgedichtet ist, welche eine Diffusion des Hochdruckgases durch sich hindurch ermöglicht. Dabei sind Heizeinrichtungen so vorgesehen, daß wenigstens drei Heizbereiche geschaffen werden, nämlich ein Heizbereich I für die Verflüssigung des flüssigen Dichtungsmittels, ein Heizbereich II für die Bildung und' Aufrechterhaltung einer geschmolzenen Reaktionsmasse und ein Bereich III für das Erhitzen des flüchtigen, aus einem Element bestehenden Reaktionsteilnehmers, um ihn zu verdampfen.
  • Anhand der beiliegenden Zeichnungen wird die Erfindung beispielsweise näher erläutert.
  • Fig. 1 zeigt in einem Längsschnitt durch eine Ausführungsform eines Reaktionsbehälters die Art und Weise, in welcher die den Behälter bildenden Bauteile zusammengefügt werden.
  • Fig. 2 ist ein Schnitt längs der Linie 2-2 von Fig. 1 durch den mit Kanälen versehenen Stopfen der Speicher-Gehäuse-Einrichtung.
  • Fig. 3 zeigt in einem Längsschnitt durch einen Hochdruckofen die Anordnung des Reaktionsbehälters von Fig. 1 unmittelbar vor Ausführung einer Synthese.
  • Fig. 4 zeigt einen Längsschnitt durch den Reaktionsbehälter von Fig. 1 während der Schmelzsynthese.
  • Fig. 5 zeigt im Längsschnitt darch eine weitere Ausführungsform eines Reaktionsbehälters während der Schmelz synthese den Einsatz der Heizeinrichtung, welche eine gesteuerte Kristallisierung der erzeugten Substanz ermöglicht.
  • Fig. 6 zeigt in einem Diagramm, in welchem die Temperatur über der Zeit aufgetragen ist, die eingestellten Heizbereiche.
  • Zur Vereinfachung wird im folgenden die erfindungsgemäße Vorrichtung anhand der Synthese von GaP aus Gallium und Phosphor beschrieben. Statt dieser Substanzen kann jede andere geeignete Kombination von flüchtigen und nicht flüchtigen, aus Elementen bestehenden Reaktionsteilnehmern verwendet werden.
  • Bei der in Fig. 1 gezeigten Ausführungsform eines Reaktionsbehälters der Vorrichtung sind die Bauteile auseinandergenommen. Der Reaktionsbehälter 1o hat ein Gehäuse 11 und einen Speicherverschluß 12 mit einem von Kanälen durchsetzten Stopfen 13. Das Gehäuse 11 begrenzt in sich eine Reaktionskammer 14, die wie in Fig. 1 gezeigt ist, einen entfernbaren Tiegel 15 aufnimmt, der die Schmelzenmasse enthält. Der im folgenden verwendete Ausdruck "Schmelzenmasse" umfaßt den geschmolzenen, nicht flüchtigen Bestandteil Gallium sowie das geschmolzene Reaktionsprodukt GaP. Das Gehäuse 11 hat eine obere Zugangsöffnung 16. Sein oberer Rand hat eine tiefe Nut zwischen Rändern 18 und 19, die einen Ringkanal 20 begrenzen, der ein flüssiges Dichtungsmittel enthält.
  • Das Gehäuse 11 hat einen in einem Stück angeformten Haltestab 21 für den Eingriff mit einem Spannfutter 22, welches an einem lasttragenden Stab 23 befestigt ist, der so bewegbar ist, daß er das Gehäuse geradlinig bewegen und gewünschtenfalls drehen kann. Ein geeigneter lasttragender Stab und sein Antriebsmechanismus sind in der US-PS 3 552 931 beschrieben. Für die Synthese von GaP ist das Gehäuse 11 zweckmäßigerweise aus Grapnit und der Tiegel 15 aus Bornitrid hergestellt.
  • Der Speicherverschluß 12, der vorzuysweise aus Graphit besteht, ist in Form eines Zylinders mit einem offenen Ende gebaut, der eine dickwandige Oberseite 28, eine dicke Seitenwand 29 und einen ringförmigen Einfassungsabschnitt 30 hat, der mit der Seitenwand 29 über einen äußeren kegelstumpfförmigen Abschnitt 31 verbunden ist. In dem Speicherverschluß 12 ist eine Speicherkammer 32 für die Aufnahme des flüchtigen Reaktionsteilnehmers, nämlich den Phosphor, ausgebildet. Die Speicherkammer wird durch einen Stopfen 13 verschlossen, der einen oberen Abschnitt mit Gewindegängen 33 für den Eingriff mit Gewindegängen34 hat, die in die Innenwand des Speicherverschlusses geschnitten sind. Der Stopfen 13 hat eine sechseckige Mutter 35, die an der Seite befestigt ist, die der Reaktionskammer gegenüberliegt. Auf diese Weise ist der Stopfen auf einfache Weise in das offene Ende 36 des Speicherverschlusses 12 einschraubbar und daraus entfernbar. Der Stopfen 13 hat eine Vielzahl von Gaskanälen 37 (Fig. 2), die sich durch ihn hindurch erstrecken und eine Fluidverbindung zwischen der Speicherkammer 32 und der Reaktionskammer 14 herstellen, wenn der Reaktionsbehälter montiert ist.
  • Der Einfassungsabschnitt 30 des Speicherverschlusses ist so bemessen, daß er in den Kanal 21 des Gehäuses 11 paßt und einen Abstand mit den Innenwänden der beiden Ränder 17 und 18 bildet. Der kegelstumpfförmige Abschnitt 31 hat einen solchen Winkel , daß seine Außenfläche um die ganze Innenkante des Randes 18 herum in körperlichem Kontakt steht, wobei die Länge des Einfassungsabschnittes 30 so bemessen ist, daß er den Boden des Kanals 20 nicht berührt, wenn die Vorrichtung in der in Fig. 4 gezeigten Weise wie nachstehend beschrieben zusammengefügt ist.
  • Der Speicherverschluß 12 hat ein Verbindungsstück 40, das mit der Oberseite 28 ein Stück bildet oder daran befestigt ist. Das Verbindungsstück hat ein Außengewinde 41 und eine innere Kammer 42. Ein tiefes Kappenteil 43 mit einem Innengewinde 44 für den Eingriff mit dein Gewinde 41 hat eine Haltestange 45, die in einem Kopf 46 mit großem Durchmesser endet, der gleitend verschiebbar darin sitzt. Das äußere Ende der Stange 45 ist starr, beispielsweise durch einen Zapfen 47, an einer Hülse 48 befestigt, die ihrerseits an einem Spannfutter 49 sitzt, das an einem lasttragenden Stab 50 befestigt ist, der angetrieben werden kann, um gewünschtenfalls dem Speicherverschluß eine geradlinige Bewegung oder eine Drehbewegung zu erteilen. Ein geeigneter lasttragender Stab und sein Antriebsmechanismus sind in der US-PS 3 552 931 beschrieben. Der Speicherverschluß 12 und der Stopfen 13 sowie das Gehäuse 11 sind zweckmäßigerweise aus Graphit hergestellt.
  • Wenn das Kappenteil 43 auf das Verbindungsstück 40 geschraubt ist, kann der Kopf 46 des Haltestabs 45 frei in der Kammer 42 verschoben werden. Wie nachstehend beschrieben wird, bildet diese Anordnung eine Einrichtung, die die Herstellung des automatischen Sitzes des Speicherverschlusses erleichtert und diesem eine bestimmte Freiheit in der Translationsbewegung gibt, falls dies erforderlich ist.
  • Fig. 3 zeigt die Reaktionskammer 1o in einem Druckbehälter 55 in der Stellung, die die Behälterteile einnehmen, wenn ein Versuch begonnen hat. Der Druckbehälter 55 ist in Fig. 3 schematisch gezeigt. Es kann sich beispielsweise um den in der US-PS 3 639 718 beschriebenen Hochdruck-Hochtemperaturofen handeln, der die Durchführung von Arbeitsgängen in 0 seinem Inneren bei Temperaturen bis zu 4000 C und Drucken zwischen lo STorr und loo at gestattet. Dieser Ofen hat geeignete Druckdichtungen 56 und 57 für den unteren lasttragenden Stab 23 und den oberen lasttragenden Stab 55. In den Ofenraum 58 wird Druckgas durch eine Einlaßleitung 59 eingeführt. Der Fluidstrom durch die Leitung 59 wird mittels eines Ventils 60 gesteuert. In ähnlicher Weise steht der Ofenraum 58 mit einer Vakuumpumpe über eine Leitung 61 in Verbindung, deren Fluidstrom durch ein Ventil 62 gesteuert wird. In den Haltestab 21 ist eine geeignete Thermoelementenlötstelle 63 eingeführt. Zusätzliche Thermoelementenlötstellen können an anderen geeigneten Stellen innerhalb des Ofensraums angeordnet werden. Die Heizeinrichtung 65 gemäß Fig. 3 besteht aus HF-Spulen 66, die über Leitungen 67 und 68 und eine Kupplung 69 mit einer geeigneten HF-Energiequelle verbunden sind.
  • Zu Beginn eines Versuches für die Herstellung eines Barrens aus polykristallinem GaP wird der Behälterverschluß 12 umgekehrt, so daß die erforderliche Menge des Elementes Phosphor in die Speicherkammer 32 eingebracht werden kann.
  • Dann wird der Stopfen 13 in den Speicherverschluß geschraubt, wodurch es möglich ist, diesen umzukehren und an dem Futter 49 des lasttragenden Stabs 50 über die Kappe 43, die Stange 45 und die Büchse 48, wie dies in Fig. 3 gezeigt ist, zu befestigen. Der Speicherverschluß 12 wird von dem Stab 50 über dem Gehäuse 11 an dieser Stelle gehalten.
  • Das Gehäuse 11 wird an dem lasttragenden Stab 23 über das Spannfutter 22 befestigt und in dem oberen Ende der Heizeinrichtung 65 angeordnet. Die an die liF-Spulen 66 angelegte Energie wird so eingestellt, daß das Feststofdichtungsmittel 75 in dem Kanal 20 geschmolzen wird, so daß ein flüssiges Dichtungsmittel gebildet wird. Ein Beispiel für ein solches Feststoffdichtungsmittel ist B203, welches einen Schmelzpunkt von etwa 45o0C hat. Das Erschmelzen des flüssigen Dichtungsmittels bildet so den ersten Heizbereich, der in Fig. 6 gezeigt ist.
  • Wenn das Dichtungsmittel 75 in dem Kanal 20 flüssig gemacht worden ist, wird der obere lasttragende Stab So nach unten bewegt, so daß der Speicherverschluß 12 auf dem Gehäuse 11, wie dies in Fig. 4 gezeigt ist, zum Sitzen kommt. Da Fig. 4 die Stellung des Realotionsbehälters 1o in der Heizeinrichtung 65 zu der Zeit zeigt, in welcher die Schmelzsynthese reaktion nahezu abgeschlossen ist, ist zu bemerken, daß, wenn der Reaktionsbehälter zuerst geschlossen ist und der zweite Heizbereich II von Fig. 6 erreicht ist, der Reaktionsbehälter in der Heizeinrichtung 65, wie in Fig. 3 gezeigt, sitzt. Das Aufsitzen des Speicherverschlusses 12 auf das Gehäuse 11 erfolgt durch Einführen der Ringeinfassung 30 in das flüssige Dichtungsmittel 75, wobei der kegelstumpfförmige Abschnitt 31 an der Innenkante des Randes 18 zu liegen kommt. Das flüssige Dichtungsmittel 75 umgibt so im wesentlichen die gesamte Einfassung 30, da die Größe der Einfassung so bemessen ist, daß Abstände zwischen den Innen- und Außenflächen der Einfassung und den Wänden des Kanals 20 bleiben und daß die Einfassung den Boden des Kanals 20 nicht erreicht. Auf diese Weise erhält man eine Flüssigkeitsdichtung um die Einfassung 30 herum und eine mechanische Dichtung zwischen der Innenkante des Randes 18 und der Oberfläche des kegelstumpfförmigen Abschnittes 31.
  • Man sieht, daß diese Anordnung auf relativ einfache Weise eine fluchtende Ausrichtung gibt.
  • Nachdem der Speicherverschluß 12 nach unten bewegt worden ist, so daß er auf dem Gehäuse sitzt, wird der obere lasttragende Stab 50 nach unten bewegt, so daß der Kopf 46 der Tragstange 45 in der Kammer 42 des Verbindungsstücks 40 positioniert ist. Dadurch wird der Speicherverschluß mit seinem vollen Gewicht von dem Gehäuse 11 getragen. Wenn ein Stoß von Hochdruckgas aus der Reaktionskarnmer 14 sich in unerwarteter Weise durch das flüssige Dichtungsmittel 75 drücken sollte, kann sich der Speicherverschluß 12 frei nach oben bewegen und dann in die richtige fluchtende Ausrichtung zurückfallen. Zusätzlich sorgt diese Anordnung für eine automatische Kompensation kleiner Unterschiede, die sich durch die Geschwindigkeit ergeben können, mit welcher der obere und der untere lasttragende Stab translativ bewegt werden.
  • Da sich das Dichtungsmittel außerhalb der Reaktionskammer 14 befindet und über dem Niveau der Reaktionsteilnehmer in der Kammer gehalten wird, ist es möglich, es zu-schmelzen und so den Vorteil seiner Dichtungsfähigkeit zu erhalten, bevor die Reaktionsteilnehmer entsprechend dem zweiten und dritten Bereich erhitzt werden. Das bedeutet wiederum, daß die mechanische Dichtung und die Flüssigkeitsdichtung einschließlich des Druckgases um den Behälter herum in äußerst wirksamer Weise eingesetzt werden, um ein Lecken der flüch-' tigen Komponente aus der Reaktionskammer zu verhindern, und daß keine Verunreinigung des Reaktionsproduktes durch das flüssige Dichtungsmittel eintreten kann. Dies führt dazu, daß die Zusammensetzung und Reinheit der endgültigen Elalbleiterverbindung genau gesteuert werden kann und reproduzierbar ist.
  • In dem zweiten Heizbereich muß das Gallium, die Schmelzmasse 76, in dem Tiegel 15 bis zur Schmelzsynthesetemperatur gebracht werden, d. h. auf etwas über den Schmelzpunkt von GaP oder bis zu etwa 15000C, Die an die HF-Spule 66 angelegte Energie ist so eingestellt, daß dies erreicht wird. Wenn dies ausgeführt ist, beginnt der dritte Heizbereich, d. h.
  • das Erhitzen des Phosphors 77. Dieser Bereich ist in Fig. 6 mit III bezeichnet. Die vorstehend erwähnt, wird der Reaktionsbehälter,unmittelbar nachdem er abgedichtet worden ist, in dem oberen Abschnitt der Heizeinrichtung 65 angeordnet, was bedeutet, daß das Erhitzen des Phosphors 77 durch Strahlung anstatt direkt durch die Spulen 66 beginnen kann.
  • Wenn der Phospohr 77 durch Strahlung erhitzt wird, entwickelt er einen ausreichenden Dampfdruck, um den Phosphordampf durch den Gaskanal 37 in dem Stopfen 13 in die Reaktionskammer 14 zu drücken. Wie aus Fig. 6 zu ersehen ist, besteht eine Zeitüberlappung des zweiten und dritten Heizbereiches. Dadurch, daß die Schmelzenmasse 76, die am Anfang reines Gallium und am Schluß GaP ist, auf oder etwas über der Schmelztemperatur von GaP gehalten wird, schreitet die Reaktions P + GaGaP sehr schnell fort, ohne daß echte Gasdiffusionsprobleme auftreten.
  • Die Temperatur der Schmelzenmasse 76 wird kontinuierlich durch ein Thermoelement 63 oder durch irgendeine andere geeignete Einrichtung überwacht. Wenn die Reaktion zwischen dem Phosphordampf und der Galliumschmelze fortschreitet, wird die Temperatur des Phosphorspeichers allmählich erhöht.
  • Bei dieser Erhitzung wird der Druck des als Element vorliegeneen Phosphors in dem Reaktionsbehälter niemals bis zu einem Punkt erhöht, an welchem er den zulässigen Druck des Ofens überschreitet. Die Erwärmungsgeschwindigkeit des Phosphors wird so gesteuert, daß sie ausreichend langsam ist, so daß der der Reaktionskammer zugeführte Phosphordampf unmittelbar von der Galliumschmelze zur Bildung von GaP gegettert wird. Der Anstieg der Phosphortemperatur wird dadurch erreicht, daß der Reaktionsbehälter in der HF-Spule in die in Fig. 4 gezeigte Lage abgesenkt wird. Dies gibt dem Phosphor eine Treibkraft, wodurch es möglich ist, daß im wesentlichen der ganze Phosphor in dem Speicher reagiert. Dies bedeutet wiederum, daß die erforderliche Phosphormenge die stöchiometrische Menge plus einem kleinen Zuschlag für das Volumen in dem Reaktionsbehälter ist, der von dem Phosphordampf am Ende des Versuches gefüllt wird. Wenn der Phosphorvorrat in dem Speicher 12 erschöpft ist, kann seine Temperatur erhöht werden, ohne daß die Gefahr eines übermäßigen Druckaufbaus in dem Reaktionsbehälter besteht.
  • Zu jedem Zeitpunkt während der Schmelzsynthesereaktion sind die Drucke in dem Behälter und um den Behälter herum durch Diffusion der Gase durch die Dichtungen ausgeglichen, da sie nicht so ausgebildet sind, daß sie die vorhandenen Drucke aufnehmen. Dieser Ausgleich der Drucke bedeutet, daß Gefahren von Explosionen oder Implusionen auf ein Minimum reduziert sind. Das bedeutet auch, daß die Reaktionsbehälterwände nicht in der Lage zu sein brauchen, große Druckunterschiede auszuhalten. Deshalb braucht ein geeignetes Verhältnis von Behälterwandstärke zu Reaktionskammervolumen nur geringfügig oder überhaupt nicht berücksichtigt zu werden. Außerdem können relativ große Materialchargen eingesetzt werden. Unter bestimmten anomalen Bedingungen kann eine kleine Menge der flüchtigen Komponente, beispielsweise des Phosphors, an die Umgebungsatmosphäre verlorengehen, was in Form einer gerinförmigen Blasenbildung an dem flüssigen Dichtungsmittel erkennbar ist. Die tatsächliche Menge ist jedoch gering und kann bei der Festlegung der eingesetzten Reaktionsteilnehmermengen kompensiert werden. Wenn die gleiche Erwärmungsgeschwindigkeit für eine Reihe von Versuchen verwendet wird, um die gleiche Halbleiterverbindung zu erzeugen, ist die Zusammensetzung der Endprodukte reproduzierbar genau.
  • Nach Abschluß der Reaktion kann es erwünscht sein, die Schmelze auf der Reaktionstemperatur für einen bestimmten Zeitraum, beispielsweise wenige Minuten lang bis etwa eine halbe Stunde, zu halten, um den vollständigen Abschluß der Reaktion zu gewährleisten. Wenn man ein polykristallines Produkt haben möchte, kann das geschmolzene GaP-Produkt relativ schnell durch Abschalten der Heizeinrichtungen, beispielsweise der Energiezufuhr zu der llF-Spule, abgekühlt werden. In manchen Fällen kann es erwünscht: sein, das Erhitzen und Abkühlen zur Erzielung einer vollständigen Reaktion zu wiederholen. Das Produkt wird in Form eines Barrens aus dem Reaktionsbehälter entfernt. Alternativ kann die Schmelze direkt nach dempridgman-Stockbarger-Verfahren verfestigt werden, wodurch ein Einkristall oder ein großer polykristalliner Barren erzeugt wird. Ein dafür geeigneter Reaktionsbehälter ist in Fig. 5 gezeigt.
  • Außer aus Graphit kann der Reaktionsbehälter aus einer Anzahl anderer Substanzen gebaut werden, einschließlich Bornitrid, Quartz, hochschmelzenden Metallen, wie Molybdän und Tantal, und feuerfesten Materialien, wie Tonerde, Zirkonerde und Titandioxyd. Bei Verwendung einer HF-Heizung kann ein Teil des Reaktionsbehälters aus Graphit gebaut werden, der als Empfänger für die HF-Strahlung dient. Wenn die Reaktionsteilnehmer oder das Reaktionsprodukt solcher Art sind, daß sie mit Graphit reagieren oder dadurch verunreinigt werden, können der Behälter und der Stopfen mit einem inerten Material in geeigneter Weise ausgekleidet bzw. überzogen werden. Anstelle der HF-Spule kann auch eine andere Heizeinrichtung verwendet werden. Solche Heizeinrichtungen sind, ohne daß eine Beschränkung gegeben ist, Widerstandsheizeinrichtungen, Laser und dergleichen. Die Verwendung von Widerstandsheizeinrichtungen sind in Fig. 5 gezeigt.
  • Es kann eine Anzahl verschiedener Dichtungsmittel verwendet werden. Die Dichtungsmittel umfassen, ohne daß dadurch eine Beschränkung gegeben ist, Bohroxyd (B203), Bariumoxyd, Gemische dieser Oxyde mit Bariumchlorid und Natriumfluorid, Kaliumchlorid, Natirumchlorid und dergleichen. Die Dichte der geschmolzenen Dichtungsmittel ist ebensowenig von Bedeutung wie ihr Reaktionsvermögen mit den metallischen Reaktionsteilnehmern oder dem erhaltenen Reaktionsprodukt.
  • Das Dichtungsmittel sollte jedoch eine Verbindung sein, die unter der Reaktionstemperatur schmilzt und die einen sehr niedrigen Dampfdruck über dem Temperaturbereich, bei welchem sie verwendet wird, hat.
  • Die Ausführungsform der in Fig. 5 gezeigten Vorrichtung hat eine andere mechanische Dichtung sowie yetrennte Heizeinrichtungen für die verschiedenen Heizbereiche einschließlich eines vierten Bereiches für die gesteuerte Kristallisierung des GaP-Reaktionsproduktes. Dabei ist davon auszugehen, daß der Reaktionsbehälter in der Arbeitskamner eines Hochdruckofens oder einer ähnlichen Vorrichtung, wie sie in Fig. 3 gezeigt ist, angeordnet ist, so daß die Umgebungsatmosphäre gesteuert werden kann.
  • Das Genäuse 80 ist innen so gebaut, daß es in seiner Reaktionskammer 81 einen Tiegel 82 mit einem konisch geformten Boden 83 aufnimmt, der für das Erzielen einer direkten Kühlung gebaut ist. Die obere Zugangsöffnung 84 des Gehäuses hat ein Innengewinde 85 und endet in einer nach innen gerichteten Schulter 86. Das Gehäuse 80 hat eine Halterung 87 für die Befestigung an einem lasttragenden Stab 23 über ein Spannfutter 22, wie dies bei der Vorrichtung von Fig. 1 der Fall ist.
  • Der Speicherverschluß 9o, der den Phosphor 77 enthält, hat einen Halsabschnitt 91, der in einem mechanischen Dichtungsabschnitt 93 mit einem großen Durchmesser endet, welcher ein Außengewinde 93 für einen lockeren Eingriff mit den Gewindegängen 84 des Gehäuses hat. Der Halsabschnitt 91 hat ein Innengewinde 94 für die Aufnahme eines Gewindestopfens 95, um den Innenraum 96 des Speicherverschlusses 90 abzuschliessen. Der Stopfen 95 hat Gaskanäle 97, um eine Fluidverbindung zwischen dem Speicherraum 96 und der Reaktionskamn1er 81 zu ermöglichen. Der Speicherverschluß 90 hat eine Haltestange 98, die mit einem oberen lasttragenden Stab 50 über ein Spannfutter 99 verbunden ist.
  • Die Heizbereiche werden bei der in Fig. 5 gezeigten Vorrichtung durch eine Vielzahl von Heizeinrichtungen in Form von Widerstandsheizeinrichtungen erreicht. Für den ersten Heizbereich ist eine NZiderstands11eizeinrichtung 105 vorgesehen, die durch Leitungen 1o6 und 107 mit einer Energiequelle 108 verbunden ist. Die Heizeinrichtung 105 umgibt den oberen Abschnitt des Gehäuses 80 und dient zum Schmelzen des Dichtungsmittels 75, welches in dem Ringraum enthalten ist, der von dem unteren Ende des EIalsabschnittes 91 des Speicherverschlusses und der Gewindewand 85 der Zugangsöffnung gebildet wird. Für den zweiten lieizbereich, nämlich die Bildung und Aufrechterhaltung der Schmelzenmasse 76, sind zwei aneinandergrenzende Heizeinrichtungen llo und 111 vorgesehen, die mit der Energiequelle 108 durch Leitungen 112 und 113 bzw. 114 und 115 verbunden sind. Diese Heizeinrichtungen sind getrennt, so daß die Heizeinrichtung 111 einzeln während eines vierten Heizbereiches geregelt werden kann, wenn das GaP am Boden des Tigels gesteuert gekühlt wird, um das direkte Kühlen einzuleiten. Der dritte Heizbereich, nämlich das Verdampfen des Phosphors 77, wird durch Verwendung einer Widerstandsheizeinrichtung 116 erreicht, die über Leitungen 117 und 118 an eine Energiequelle 119 angeschlossen ist.
  • Wenn der Reaktionsbehälter gemäß Fig. 5 eingesetzt wird, wird er zuerst zerlegt, der Speicherverschluß umgekehrt, die erforderliche Phosphormenge in dem Speicher 96 angeordnet und der Stopfen 95 aufgeschraubt. Die erforderliche Galliummenge wird in dem Pegel 82 angeordnet und in das Gehäuse 80 gestellt. Dann werden das Gehäuse und der Speicherverschluß getrennt voneinander in einem Handschuhkasten angeordnet. Der Kasten wird evakuiert. Anschließend wird Stickstoff oder irgendein anderes geeignetes Druckgas in den Handschuhkasten eingeführt, bis ein Druck von etwa 1 at erreicht ist. Anschließend wird der Speicherverschluß in den Gewindeabschnitt geschraubt, so daß man eine feste mechanische Dichtung mit der Schulter 86 erhält, so daß auf diese Weise das Druckgas im wesentlichen in dem Reaktionsbehälter gehalten wird. Der zusammengefügte Behälter wird aus dem Handschuhkasten entfernt. In dem Ringraum wird eine Dichtungsmittelmenge normalerweise in fester Form eingebracht. Die gesamte Anordnung wird auf dem lasttragenden Stab 23 positioniert, der in der Arbeitskammer des Ofens oder in einer anderen geeigneten, unter Druck setzbaren Vorrichtung angeordnet ist. Dann wird der Ofen mit dem gleichen Gas, welches in den Reaktionsbehälter eingeführt worden ist, unter Druck gesetzt, bis der den Reaktionsbehälter umgebende Druck gleich oder größer ist als der maximale Dampfdruck, der von dem Phosphor zu jedem Zeitpunkt während der Schmelzsynthese entwickelt wird.
  • Zur Einleitung der Synthese wird der Widerstandsheizeinrichtung 105 Energie zugeführt, um das Dichtungsmittel 75 zu schmelzen. Die Heizeinrichtung bleibt während der ganzen Synthese eingeschaltet, um zu gewährleisten, daß das Dichtungsmittel flüssig bleibt. Eine kleine Dichtungsmittelmenge kann sich zwischen den Gewindegängen 85 und 93 hindurcharbeiten. Auch wenn diese Menge bis zum Boden der Abdichtung des Abschnittes 92 vordringt, bleibt der Eintritt in die Kammer 81 durch die Dichtung um die Schulter 86 herum blockiert. Auf diese Weise erhält man eine Dichtung mechanischflüssig, wie sie anhand von Fig. 4 beschrieben wurde. Nach der Herstellung der Dichtung werden die Heizeinrichtungen 11o und 111 eingeschaltet, um den zweiten Heizbereich einzustellen, d. h. um das Gallium in eine Schmelzenmasse von etwa 15000C überzuführen. Schließlich wird. die Heizeinrichtung 116 eingeschaltet, um den Phosphor zu verdampfen und um allmählich seine Temperatur auf etwa 59oOC zu steigern, so daß auf diese Weise der dritte Heizbereich durchlaufen wird. GaP ist in geschmolzenem Ga lösbar und sammelt sich bei seiner Bildung am Boden der Schmelzenmasse 76 an. Wenn im wesentlichen das ganze GaP gebildet worden ist, wird die der Heizeinrichtung 111 zugeführte Energie allmählich verringert, um mit dem gerichteten Abkühlen des GaP in dem konischen Abschnitt 83 des Tiegels 82 zu beginnen. Nach Vervollständigung der Synthese von GaP wird die Energiezufuhr zu den Ileizeinrichtungen 116 und 105 abgeschaltet und die zu der Heizeinrichtung Ilo verringert, um ein gesteuertes Abkühlen und Kristallisieren des GaP zu vervollständigen.
  • Erfindungsgemäß ist auch eine Kombination oder ein Austausch einzelner Elemente der gezeigten Reaktionsbehä.lter möglich.
  • So können eine oder mehrere Widerstandsheizeinrichtungen bei dem Reaktionsbehälter der Figuren 1 bis 4 verwendet werden, wobei die Energiezufuhr, wie anhand der Ausführungsform von Fig. 5 gezeigt wurde anstelle der Bewegung des Reaktionsbehälters während des Versuchs geregelt wird, um gewünschtenfalls ein gerichtetes Abkühlen zu erzielen. In gleicher Weise können bei dem Reaktionsbehälter von Fig. 5 HF-Heizeinrichtungen. verwendet werden.
  • Durch das Abdichten des Reaktionsbehälters sowohl auf mechanische Weise als auch mit einer flüssigen Dichtungsmittel derart, daß die Diffusion von Hochdruckgasen durch die Dichtung möglich ist, um die Drucke innerhalb und außerhalb des Reaktionsbehälters auf im wesentlichen dem gleichen Niveau zu halten, entfällt die Notwendigkeit für einen dickwandigen Behälter, so daß relativ große Chargen eingesetzt werden können. Durch Verwendung eines flüssigen Dichtungsmittels anstelle einer Umhüllung und dadurch, daß das Dichtungsmittel über den Reaktionsteilnehmern und kontaktfrei damit gehalten wird, ist es möglich, die Abdichtungseigenschaften des Dichtungsmittels voll auszunutzen, ehe eine merkbare Menge des Dampfdrucks von einem oder mehreren Reaktionsteilnehmern entwickelt wird, so daß jede Verunreinigung des Reaktionsproduktes verhindert wird. Durch Trennen des flüchtigen Phosphors von der geschmolzenen Reaktionsmasse ist es weiterhin möglich, GaP innerhalb der physikalischen Grenzen von gegenwärtig verfügbaren Hochdrucköfen schnell synthetisch herzustellen. Der Anteil der Phosphorverunreinigung in dem Ofen wird auf einem Minimum gehalten. Die Vorrichtung ist so gebaut, daß sie sicher von einem Techniker bedient werden kann.

Claims (13)

  1. PATENTANSPRUCHE
    Vorrichtung zur Durchführung der Schmelzsynthese einer anorganischen Verbindung, die durch Reagieren von aus Elementen bestehenden Reaktionsteilnehmern gebildet wird, wobei wenigstens ein Reaktionsteilnehmer im wesentlichen nicht flüchtig und wenigstens ein weiterer Reaktionsteilnehmer bei erhöhten Temperaturen flüchtig ist, gekennzeichnet durch einen Reaktionsbehälter mit a) einem Gehäuse (11, 80), welches eine Reaktionskammer (14, 81) für die Aufnahme einer Schmelzenmasse (76> des nicht flüchtigen Reaktionsteilnehmers und der anorganischen Verbindung aufweist und eine obere Zugangsöffnung (16, 84) hat, b) einem Speicherverschluß (12, 9o), der einen Speicher für den flüchtigen Reaktionsteilnehmer (77) bildet, mit der oberen Zugangsöffnung (16, 84) in Eingriff bringbar ist und so eine mechanische Dichtung bildet, und Fluidverbindungseinrichtungen (37, 97) aufweist, durch welche der flüchtige Reaktionsteilnehmer (77) als Gas in die Reaktionskammer (14, 81) einführbar ist, und mit c) einem Kanal (20, 84, 93) für ein flüssiges Dichtungsmittel (75), der der mechanischen Dichtung zugeordnet ist, um dazwischen eine Kombination aus einer Flüssigkeitsdichtung und einer mechanischen Dichtung zu bilden, welche verhindert, daß flüssiges Dichtungsmittel (75) in die Reaktionskammer (14, 81) eintritt, jedoch das Diffundieren von Hochdruckgasen durch die Dichtung hindurch erlaubt.
  2. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Kanal für das flüssige Dichtungsmittel (75) eine Ringnut (20) in dem Gehäuse (11> zwischen einem Außenrand (18) und einem Innenrand (17) um die Zugangsöffnung (16) herum aufweist und daß der Speicherverschluß (12) einen unteren Einfassungsabschnitt (30) hat, der sich in den Kanal (20) für das flüssige Dichtungsmittel (75) erstreckt und mit der Seitenwand des Speicherverschlusses (12) über einen kegelstumpfförmigen Abschnitt (31) verbunden ist, der eine mechanische Dichtungsfläche bildet, die mit der Innenkante des Außenrandes (18) zur Bildung der mechanischen Dichtung in Eingriff bringbar ist.
  3. 3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch eine obere Halteeinrichtung (40 bis 50), die es ermöglicht, daß der Speicherverschluß (12) eine zeitweise geringe Translationsbewegung ausführen kann, wenn er mit dem Gehäuse (11) in Eingriff steht.
  4. 4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Speicherverschluß (i2, so) einen entfernbaren Stopfen (13, 95) hat, der dessen Boden bildet und die Fluidverbindungseinrichtungen in Form von durch den Stopfen (13) gehenden Gaskanälen (37, 97) aufweist.
  5. 5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die obere Zugangsöffnung (84) ein Gewinde (85) hat und in einer nach innen gerichteten Schulter (86) endet, während der Speicherverschluß (9o) einen Halsabschnitt (91) aufweist, der in einem mit einem Gewinde (93) versehenen Dichtungsabschnitt endet, der mit der oberen Zugangsöffnung (84) zur Bildung der mechanischen Dichtung mit der Schulter (96) in Eingriff bringbar ist, so daß ein Kanal für das flüssige Dichtungsbittel (75) zwischen dem Halsabschnitt (91) und der oberen Zugangsöffnung (84) gebildet ist.
  6. 6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Halsabschnitt (91) ein Innengewinde (94) hat, daß der Speicherverschluß (9o) einen mit Gewinde versehenen entfernbaren Stopfen (95) für den Eingriff damit hat, um den Speicherverschluß (9o) zu verschließen, und daß die Fluidverbindungseinrichtung Kanäle (97) aufweist, die durch den Stopfen (95) gehen.
  7. 7. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch einen innerhalb der Reaktionskammer (14, 81) angeordneten Tiegel (15, 83).
  8. 8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Tiegel (83) so gestaltet ist, daß er eine direkte Abkühlung der anorganischen Verbindung gewährleistet.
  9. 9. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch Heizeinrichtungen (65, 116, 105, 11o, 111) zum Erzielen von wenigstens drei Heizbereichen in folgender Reihenfolge, nämlich einen Heizbereich (I) für die Verflüssigung des Dichtungsmittels (75) in dem Kanal (20, 84, 93) für das flüssige Dichtungsmittel, einen Bereich (II) für die Bildung und Aufrechterhaltung einer Schmelzenmasse (76) in der Reaktionskammer (14, 81) auf der Temperatur, bei welcher die Reaktion erfolgt, und einen Bereich (III) für die Verdampfung des flüchtigen, aus einem Element bestehenden Reaktionsteilnehmers.
  10. lo. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Heizeinrichtung eine einzige Heizeinrichtung (65) ist, die wenigstens einen Teil des Reaktionsbehälters umgibt, und daß Einrichtungen vorgesehen sind, um eine Realtivbewegung zwischen der Heizeinrichtung (65) und der Reaktionseinrichtung herbeizuführen.
  11. 11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Heizeinrichtungen aus einzelnen EIeizeinrichtungen (105; silo, 111; 116) bestehen, denen der Kanal (84, 93) für das flüssige Dichtungsmittel (75), die Reaktionskammer (81) bzw. der Speicherverschluß (9o) zugeordnet sind.
  12. 12. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Heizeinrichtung (65) iIF-Spulen (66) aufweist.
  13. 13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Heizeinrichtungen elektrische Widerstandsheizeinrichtungen sind.
DE19752524596 1974-06-03 1975-06-03 Verfahren und vorrichtung fuer die direkte schmelzsynthese von fluechtige bestandteile enthaltenden verbindungen Pending DE2524596A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US05/475,780 US3933435A (en) 1973-05-30 1974-06-03 Apparatus for direct melt synthesis of compounds containing volatile constituents

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2524596A1 true DE2524596A1 (de) 1976-04-15

Family

ID=23889111

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19752524596 Pending DE2524596A1 (de) 1974-06-03 1975-06-03 Verfahren und vorrichtung fuer die direkte schmelzsynthese von fluechtige bestandteile enthaltenden verbindungen

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JPS516871A (de)
DE (1) DE2524596A1 (de)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60255692A (ja) * 1984-05-31 1985-12-17 Res Dev Corp Of Japan 高解離圧化合物半導体単結晶引き上げ装置
JPS6051698A (ja) * 1983-08-31 1985-03-23 Res Dev Corp Of Japan 砒素化合物単結晶成長装置
JPH0444480Y2 (de) * 1987-05-28 1992-10-20

Also Published As

Publication number Publication date
JPS516871A (ja) 1976-01-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2461553C2 (de) Verfahren zum Züchten eines Einkristalls im Tiegel
DE19580737C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Verbindungs-Einkristallen
DE112011101177B4 (de) Verfahren zum Fertigen eines Halbleiter-Einkristalls
DE2237862A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur direkten schmelzsynthese von intermetallischen verbindungen
DE3781016T2 (de) Verfahren zur zuechtung eines multikomponent-kristalls.
DE2648275A1 (de) Einkristallzuechtungsverfahren fuer ii-vi- und iii-v-verbindungshalbleiter
DE68914146T2 (de) Verfahren zur herstellung von einzelkristallen.
DE2219687C2 (de) Vorrichtung zum Ziehen eines Kristalls mit flüchtigen Komponenten aus seiner Schmelze
DE1519914B2 (de) Vorrichtung zum Ziehen eines Verbindungshalbleiterknstalls
DE3325242C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Ziehen eines Verbindungshalbleiter-Einkristalls
DE3814259A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur herstellung eines einkristalls eines verbindungshalbleiters
DE2161072C3 (de) Verfahren zur Herstellung eines Einkristalls aus einer Halbleiterverbindung und Schiffchen zur Durchführung dieses Verfahrens
DE2524596A1 (de) Verfahren und vorrichtung fuer die direkte schmelzsynthese von fluechtige bestandteile enthaltenden verbindungen
DE2942760A1 (de) Verfahren zum synthetisieren von intermetallischen verbindungen und vorrichtung zum durchfuehren dieses verfahrens
DE1519837B2 (de) Verfahren zum zonenschmelzen oder kristallziehen
DE2128735A1 (de) Verfahren zur Herstellung inter metallischer Verbindungen
DE3025177A1 (de) Verfahren zur herstellung einkristalliner ternaerer halbleiterverbindungen
DE3638690A1 (de) Galliumarsenid-kristalle und verfahren zu deren herstellung
DE2142388A1 (de) Verfahren zum Herstellen von kristallinen Körpern aus III-V-Halbleiterverbindungen
DE2152801A1 (de) Verfahren und Ofen zum Ziehen von Kristallen gleichförmiger Zusammensetzung nach dem Czochralski-Verfahren
DE2137772C3 (de) Verfahren zum Züchten von Kristallen aus halbleitenden Verbindungen
DE3325058A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum aufwachsen einer znse-kristalls aus einer schmelze
DE2504815A1 (de) Verfahren zur herstellung einer fluessigphase-epitaxialschicht aus galliumphosphid
DE2362263A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur synthese und verarbeitung anorganischer materialien mit einem oder mehreren fluechtigen bestandteilen
DE2437895C2 (de) Flüssigphasen-Epitaxieverfahren

Legal Events

Date Code Title Description
OHJ Non-payment of the annual fee