DE19603962A1 - Verfahren zur Herstellung eines Mehrleitungs-Verbinders - Google Patents
Verfahren zur Herstellung eines Mehrleitungs-VerbindersInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren der im Oberbegriff
des Anspruchs 1 angegebenen Art.
Zur einfachen und kostengünstigen Verbindung von minia
turisierten elektronischen Bauelementen und Baugruppen,
insbesondere integrierten Schaltungen, mit Bedien
und/oder Anzeigeelementen sind in den letzten Jahren mit
einer Leitschicht versehene Kunststoffolien breit in Ge
brauch gekommen. Deren Anwendung anstelle einer herkömm
lichen Verdrahtung bzw. des Einsatzes von Leiterplatten
wird als "Chip-and-Foil-Technologie" bezeichnet.
Die Herstellung der Verbinder erfolgt üblicherweise durch
Bedrucken einer dünnen, isolierenden Kunststoffolie mit
der Leitbahnstruktur mittels Siebdrucktechniken.
Diese Verfahren haben sich als störanfällig erwiesen, so
daß mit relativ hohen Ausschußquoten gerechnet werden muß.
Überdies stößt die Herstellung immer feinerer und enger
benachbarter Anschlußbahnen mit zunehmend höherer Integra
tionsdichte der ICs an der Drucktechnik innewohnende Gren
zen.
Insbesondere für den Abgleich (das "Trimmen") von Dick-
oder Dünnschichtwiderständen auf Keramiksubstraten ist es
bekannt. Dünne Metallschichten durch Bestrahlung mit fo
kussierter Laserstrahlung zu strukturieren; vgl. etwa W.
Brunner, K. Junge: "Lasertechnik - Eine Einführung", 4.
Auflage, Heidelberg 1989, Abschnitt 4.1.6.1. Hierbei er
folgt ein lokaler Abtrag der Metallschicht durch Verdamp
fung. Die hochgradig hitzebeständigen Substrate und der
Umstand, daß es für die Funktion des Produktes auf die Un
versehrtheit von deren Oberfläche nicht ankommt, erlauben
den nahe zu beliebigen Einsatz von Lasersystemen mit hohen
Leistungsdichten. Dies ist bei der Herstellung der gat
tungsgemäßen Vorrichtungen nicht möglich, da die Träger
hier hochgradig temperaturempfindlich sind.
In EP 0 322 258 B1 wird ein Verfahren zur Herstellung ei
nes leitfähigen Musters in einem auf einem Glassubstrat
ausgebildeten Dünnfilm beschrieben, bei dem ein gepulstes
KrF-Excimerlaserstrahlbündel (λ = 248 nm, Eg = 5,0 eV) zur
Strukturierung einer vorab voll flächig erzeugten Elektro
denschicht eingesetzt wird. Dieses Verfahren zeichnet
sich des weiteren dadurch aus, daß die Bildung von Uneben
heiten oder schwer entfernbaren Resten der leitfähigen Be
schichtung auf der Glasoberfläche durch das Vorsehen eines
sogenannten ionenblockierenden Films zwischen dem Substrat
und der leitfähigen Dünnschicht verhindert werden soll.
Das Aufbringen und letztlich auch das Entfernen von Resten
des ionenblockierenden Films aus den Strukturzügen ist re
lativ aufwendig.
In JP 2 266 329 (zit. in Derwent/WPI) wird ein Verfahren
zur Bildung einer von vornherein strukturierten transpa
renten Leiterschicht - etwa aus ITO - auf einer Glasplatte
mittels einer durch UV-Bestrahlung induzierten lokalen Gas
phasenreaktion aus einer Materialgasmischung beschrieben.
Dieses Verfahren stellt insgesamt einen garätetechnisch
aufwendigen und für die Serienfertigung von - insbesondere
größeren - Leiterstrukturen wenig geeigneten Vakuumprozeß
dar.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
der eingangs genannten Gattung anzugeben, das die hochpro
duktive und kostengünstige Herstellung von Mehrleitungs-
Verbindern des Chip-and-Foil-Typs erlaubt.
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren mit den Merkmalen
des Anspruchs 1 gelöst.
Die Erfindung schließt den Gedanken ein, die besagten Ver
binder unter Verwendung von vollflächig leitfähig be
schichteten Halbzeugen (insbesondere Kunststoffolien) her
zustellen, die mit energiereicher Strahlung von exakt den
Absorptionseigenschaften der leitfähiger Beschichtung ei
nerseits und des Trägers andererseits angepaßten Bestrah
lungsparametern (insbesondere Bestrahlungswellenlänge) di
rekt strukturiert werden.
Wesentlich ist dabei die Auswahl der Bestrahlungs-
Wellenlänge bzw. -Teilchenenergie derart, daß sie mög
lichst mit einem Absorptionsmaximum bzw. der Bandlücke des
Beschichtungsmaterials zusammen-, aber in den Bereich ei
nes Absorptionsminimums des Trägermaterials fällt.
Neben der Anpassung der Bestrahlungsparameter an die je
weiligen optischen Eigenschaften (speziell das Absorp
tionsvermögen) ist eine Abstimmung auf die thermischen Ma
terialparameter, insbesondere Wärmeleitfähigkeiten und
-kapazitäten und Schmelztemperaturen, von Bedeutung für
eine optimale Verfahrensführung.
Die vollflächige Aufbringung der leitfähigen Schicht - ins
besondere auch mehrschichtig - zur späteren Strukturierung
erfolgt in besonders produktiver Weise durch Besputtern
des Trägermaterials, speziell etwa von Kunststoffolie als
Rollenware.
In einer speziellen Ausbildung des vorgeschlagenen Verfah
rens, in der die integrierte Schaltung nach dem vollflä
chigen Aufbringen der leitfähigen Schicht auf den Träger
mit der Leiterschicht verbunden und die Erzeugung der Lei
terbahnstruktur nach dem Schritt des Verbindens ausgeführt
wird, lassen sich in vorteilhafter Weise Justageprobleme
beim Anschluß des Verbinders an den IC vermeiden.
Der Schritt des Verbindens kann in hochproduktiver Weise
ein Verkleben mit leitfähigem Klebstoff und/oder ein Ver
schweißen umfassen, wobei er in der letzteren Ausführung
in unmittelbarer zeitlicher Zuordnung zum Strukturierungs
schritt ausgeführt werden kann.
Soll für den Strukturierungsschritt die energiereiche
Strahlung von derjenigen Seite des Trägers auf die leitfä
hige Schicht eingestrahlt werden, auf der die leitfähige
Schicht aufgebracht ist, so ist es von Vorteil, wenn vor
deren Aufbringen voll flächig eine im Wellenlängenbereich
der energiereichen Strahlung hochgradig reflektierende
Schicht auf den Träger aufgebracht wird.
Sieht die Verfahrensführung - etwa bei der Strukturierung
im Nachgang zur Verbindung mit den IC - hingegen vor, daß
die Bestrahlung von der der leitfähigen Schicht abgewand
ten Seite des Trägers her erfolgt, kann es günstig sein,
wenn vor dem Aufbringen der leitfähigen Schicht vollflä
chig eine für die energiereiche Strahlung hochgradig
transparente Schicht mit niedriger elektrischer und ther
mischer Leitfähigkeit auf den Träger aufgebracht wird.
Zusätzlich läßt sich die Effizienz des Verfahrens dann da
durch erhöhen, daß nach dem Aufbringen der leitfähigen
Schicht und vor dem Einstrahlen der energiereichen Strah
lung eine diese hochgradig reflektierende Schicht mit nie
driger elektrischer Leitfähigkeit auf die leitfähige
Schicht aufgebracht wird.
Diese Weiterbildungen des Verfahrens erfordern etwas er
höhten Aufwand für die Herstellung des Halbzeugs, bieten
jedoch den Vorteil eines vergrößerten Bearbeitungsparame
terbereiches, speziell auch zu höheren Strahlleistungen
und Arbeitsgeschwindigkeiten hin.
Als Quelle der energiereichen Strahlung wird insbesondere
ein in Abstimmung auf Leitschicht- und Trägermaterial aus
gewählter UV- oder NIR-Laser eingesetzt; grundsätzlich ist
aber auch eine Elektronenstrahl- oder andere Quelle mit
auf die Materialien abgestimmter Korpuskularenergie bzw.
Wellenlänge einsetzbar.
Die Leistungsdichte und/oder Vorschubgeschwindigkeit der
Strahlung werden so eingestellt, daß in deren Einwirkungs
bereich die leitfähige Schicht lokal weitgehend entfernt
und/oder in nicht leitfähiges Material umgewandelt wird.
Wesentlich ist, daß dabei die thermische Belastung des
empfindlichen Trägers derart begrenzt wird, daß dessen
Struktur nicht beschädigt wird. Zur Verringerung der effek
tiven thermischen Belastung wird in einer speziellen Ver
fahrensführung der Träger während der Strukturierung ge
kühlt.
Bei Vorrichtungen von besonderer praktischer Bedeutung ist
der Träger eine dünne Kunststoffolie, beispielsweise
PE-Folie, und die leitfähige Schicht eine aufgesputterte oder
aufgedampfte elementare Metallschicht.
Zur Strukturierung wird energiereiche Strahlung mit einer
Wellenlänge im Bereich von etwas über 1 µm eingesetzt, wie
sie ausgereifte, mit großer Leistungsbandbreite verfügbare
Festkörperlaser auf Seltenerdionenbasis (Seltenerd-Glas-
oder -YAG-Laser, insbesondere Nd- oder Yb-YAG-Laser) lie
fern.
Alternativ zur Strukturierung mittels Strahlung im nahen
Infrarotbereich (NIR) ist bei herkömmlichen Träger- und
Beschichtungsmaterialien - unter Beachtung des obigen
Grundsatzes für die Auswahl der Bestrahlungswellenlänge -
insbesondere auch eine solche mittels Ultraviolett(UV)-
Strahlung, speziell mit einer Wellenlänge im Bereich von
etwa 120 bis 350 nm möglich, wie sie von einem Stickstoff-
oder Excimer-Gaslaser geliefert wird.
In einer speziellen Ausführung für kostengünstige Verbin
der mit sehr geringem Leiterbahnwiderstand und hoher Kor
rosionsbeständigkeit wird die leitfähige Schicht in minde
stens zwei Auftragsschritten aus mindestens zwei verschie
denen Materialien, speziell etwa aus Cu und Ni, erzeugt.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Un
teransprüchen gekennzeichnet bzw. werden nachstehend zu
sammen mit der Beschreibung der bevorzugten Ausführung der
Erfindung anhand der Figuren näher dargestellt. Es zeigen:
Fig. 1a bis 1c Prinzipdarstellungen zur Erzeugung einer
Leiterstruktur auf einem leitfähig beschichteten Träger
gemäß verschiedenen Ausführungsformen der Erfindung,
Fig. 2a und 2b schematische Darstellungen zur Vorgabe der
Strukturierungs-Wellenlänge bei zwei Ausführungsformen der
Erfindung,
Fig. 3 eine Draufsicht auf einen mittels des erfindungs
gemäßen Verfahrens hergestellten Mehrleitungsverbinder
vom Chip-and-Foil-Typ,
Fig. 4 eine schematische Darstellung einer Anordnung zur
Durchführung der Leiterschichtstrukturierung bei einer
Ausführungsform der Erfindung.
Fig. 1a gibt eine Prinzipdarstellung zur Erzeugung einer
Leiterstruktur auf einer vorab voll flächig mit einem
Cu-Ni-Zweischichtaufbau 2 mit sehr niedrigem Flächenwider
stand versehenen PET-Folie 1. Auf der Folie 1 und unter
halb der Leiterschicht 2 ist eine dünne aufgedampfte Re
flexionsschicht 3 vorgesehen. Auf einem in der xy-Ebene
verschieblichen metallischen Tisch bzw. Halter 4 angeord
net, wird die Folie 1 von der Seite her, auf der die
Cu-Ni-Schicht 2 aufgebracht ist, unter Einsatz einer Fokus
sierungsoptik 5 einer abtastenden Bestrahlung mit Laser
strahlung 6 unterzogen. Die Wellenlänge und Energiedichte
der Laserstrahlung 6 werden so gewählt, daß es in den Be
reichen, in denen die Laserstrahlung auf die Leiterschicht
2 auftrifft, durch die Absorption in dieser zu einer sehr
schnellen Temperaturerhöhung kommt. Diese führt zu einem
eruptiven Aufschmelzen und Verdampfen der Leiterschicht,
wodurch - unterstützt durch einen Gasstrom 7 zum Abtrans
port der Schmelzspritzer und verdampften Anteile - in ei
nem Schmelzkrater 2a ein Abschnitt der Leiterschicht ent
fernt wird. Wird der Laserstrahl 6 auf einer vorbestimmten
Bahn und mit geeigneter Geschindigkeit über die Oberfläche
der Leiterschicht 2 geführt, lassen sich zusammenhängende
lineare und/oder flächige Bereiche aus der ursprünglich
geschlossen aufgebrachten Leiterschicht entfernen, wodurch
diese strukturiert wird.
Die für die gewählte Laserstrahlung hochreflektierende
Schicht 3 reflektiert den größten Teil der nicht von der
Leiterschicht 2 absorbierten Strahlung wie auch der Absorp
tionswärme zurück in die Schicht 2 bzw. in die Atmosphäre
und schützt dadurch die Oberfläche der PET-Folie 1. Zudem
erfolgt die Bearbeitung mit einer geeignet gewählten Kom
bination der Bestrahlungsparameter Energiedichte und Ab
tastgeschwindigkeit, die die Einstellung eines thermischen
Gleichgewichtes zwischen der Schicht 2 und dem Träger 1 im
Einwirkungsbereich des Laserstrahls 6 nicht erlaubt.
Im übrigen - und vor allem - wir die Trägerfolie 1 derart
gewählt, daß sie für die Wellenlänge der Laserstrahlung
einen möglichst niedrigen Absorptionskoeffizienten sowie
(unter Beachtung der übrigen anwendungsrelevanten Mate
rialparameter) einen hohen Schmelzpunkt hat.
Für eine Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens
wird speziell ein Folienmaterial gewählt, das im Wellen
längenbereich um 1 µm einen sehr hohen Transmissions- bzw.
niedrigen Absorptionsgrad aufweist, und als strukturbil
dende Strahlung wird NIR-Laserstrahlung eingesetzt - bei
spielsweise die Strahlung eines Nd-YAG-Lasers mit einer
Wellenlänge von 1.06 µm und einer Dauerstrichleistung von
einigen zehn Watt. Die Zwischenschicht 3 besteht bei die
ser Ausführung aus einer (als solche von Wärmedämmgläsern
her bekannten) sehr dünnen Au-Schicht.
Fig. 2a ist eine schematische Darstellung zur Vorgabe der
Strukturierungs-Wellenlänge anhand der Absorptionskurven
(Absorptionskoeffizient αrel in relativen Einheiten als
Funktion der Wellenlänge λ) von Beschichtung - durchgezo
gene Linie - und Träger - gestrichelte Linie - für diesen
Fall. Die Strukturierungs-Wellenlänge ist innerhalb eines
Wellenlängenbereiches A zu wählen.
In einer weiteren Ausführungsform wird die Zusammensetzung
des Trägermaterials so eingestellt, daß es im höheren
UV-Bereich noch eine relativ hohe Transparenz aufweist, und
als strukturbildende Strahlung wird die eines UV-Lasers
eingesetzt, beispielsweise eines N₂-Lasers mit einer Wel
lenlänge von 337 nm oder eines KrF-Excimerlasers mit einer
Wellenlänge von 248 nm.
Wieder ist die Abstimmung auf die materialspezifischen Ab
sorptionskurven wesentlich - vgl. Fig. 2b, die in zu Fig.
2a analoger (ebenfalls rein illustrierender) Darstellung
auf einen geeigneten Wellenlängenbereich B hinweist.
Fig. 1b zeigt in einer weiteren Prinzipdarstellung die Er
zeugung einer Leiterstruktur auf einer wärmeempfindlichen
Folie 11. Diese wurde vorab vollflächig mit einer leitfä
higen metallischen Beschichtung 12 versehen, und zwischen
der halbsteifen Kunststoffolie 11 und der Leiterschicht 12
ist eine dünne Wärmedämmschicht 13 vorgesehen. Analog zur
Anordnung nach Fig. 1a ist das Halbzeug auf einem in der
xy-Ebene verschieblichen metallischen Halter bzw. Proben
tisch 14 angeordnet. Dieser ist jedoch gemäß Fig. 1b rück
seitig verrippt und dient nicht nur der Halterung und Füh
rung des Substrates 11, sondern auch der wirksamen Wärmea
bleitung von diesem, wenn es unter Einsatz einer Fokussie
rungsoptik 15 einer abtastenden Bestrahlung mit Laser
strahlung 16 unterzogen wird. Die Wellenlänge und Energie
dichte der Laserstrahlung 6 werden gemäß den unter Bezu
gnahme auf Fig. 1a, 2a und 2b erläuterten Grundsätzen vor
gegeben, und deren Wirkung ist grundsätzlich dieselbe, wie
oben angegeben.
Die dünne Wärmedämmschicht 13 - die aus einem Kunststoff
mit besonders hoher T-Beständigkeit und geringer Wärme
leitfähigkeit (etwa einem HT-Epoxid oder Polyimid), einem
Oxid (etwa SiO₂) oder einer dünnen Glaskeramik- oder Kera
mikschicht bestehen kann - verhindert weitgehend die Über
tragung der in der Leiterschicht 12 erzeugten Absorptions
wärme in das Substrat 11, weniger jedoch das Eindringen
der Laserstrahlung in dieses. Aufgrund dessen geringen Ab
sorptionsvermögens bei der Wellenlänge der Laserstrahlung
wird der eingedrungene Strahlungsanteil jedoch im wesent
lichen an der metallischen Oberfläche des Halters 14 zu
rückgeworfen, und dieser Anteil trägt über die starke Ab
sorption in der Leiterschicht 13 zusätzlich zu deren loka
ler Erhitzung und Abtragung bei.
Der Gasstrom 17 wirkt hier - zusätzlich zum verrippten
xy-Tisch 14 - kühlend, so daß in der Umgebung des Laser
kraters 12a sehr hohe T-Gradienten eingestellt werden und
ein (auch nur oberflächliches) Schmelzen des Kunststoff
trägers 11 verhindert wird. Als Kühlgas kann beispiels
weise unmittelbar aus dem flüssigen Vorrats-Zustand ver
dunsteter Stickstoff eingesetzt werden.
Auch hier erfolgt die Auswahl des Trägermaterials derart,
daß sich für die Wellenlänge der Laserstrahlung ein nie
driger Absorptionskoeffizient sowie (unter Beachtung der
übrigen anwendungsrelevanten Materialparameter) ein rela
tiv hoher Schmelzpunkt ergibt. Zur Auswahl der Strahlungs
quelle wird auf die obigen Ausführungen verwiesen; tenden
ziell ist aufgrund der Materialeigenschaften der Einsatz
von UV-Lasern dem von NIR-Lasern bei einem Kunststoffträ
ger vorzuziehen.
Fig. 1c zeigt - unter Verwendung von Bezugsziffern, die an
die bei den Fig. 1a und 1b verwendeten angelehnt sind -
eine Modifikation des Verfahrens, bei dem die Laserstrah
lung durch einen Quarzglas-Halter 24 von der unbeschichte
ten Seite der Trägerfolie 21 her und durch einen diese be
netzenden und kühlenden Wasserfilm 27 hindurch auf die
Leiterschicht 22 eingestrahlt wird. Diese Modifikation ist
besonders zweckmäßig für Anordnungen, bei denen die Lei
terschichtoberfläche nicht ohne weiteres zugänglich ist -
etwa wenn bereits ein Schaltkreis oder anderes Bauelement
über dieser angeordnet wurde.
Neben Kunststoffolien kommen für spezielle Anwendungen als
Träger grundsätzlich auch flexible Dünngläser in Frage,
die den Vorteil einer wesentlich größeren T-Beständigkeit
haben.
Sowohl bei Einsatz eines Glas- als auch eines Kunststoff
trägers kann die in Fig. 1a und 1b gezeigte Zwischen
schicht entfallen. Als Material für die Leiterschicht kön
nen neben den (zu diesem Zweck verbreitetesten) Cu-Ni-
Zweischichtaufbauten auch sonstige Schichten mit hoher
elektrischer Leitfähigkeit zum Einsatz kommen, etwa aufge
dampfte oder -gesputterte Schichten aus anderen elementa
ren Metallen oder bevorzugt Legierungen mit nicht zu hohem
Schmelzpunkt.
Fig. 3 zeigt in einer Draufsicht in annähernd natürlicher
Größe einen unter Anwendung des erfindungsgemäßen Verfah
rens Mehrleitungsverbinder 100 zur Verbindung eines inte
grierten Schaltkreises 101 mit einem Anzeigebaustein 102
(die beide in Art einer "black box" nur schematisch darge
stellt sind). Der Verbinder umfaßt eine Leiterbahnanord
nung 100b aus einer Cu- und einer darüberliegenden
Ni-Schicht auf einer dünnen, biegsamen PET-Folie 100a.
(genaue Schrittfolge und physikalische Parameter bei der
Herstellung, Materialdicken etc.?)
Fig. 4 zeigt in schematischer Darstellung in Art eines
Blockschaltbildes eine Anordnung zur Durchführung der
Leiterschichtstrukturierung bei einer Ausführungsform der
Erfindung. Ausgangspunkt ist ein -vollflächig mit einer
Leiterschicht 100b′ versehenes Halbzeug 100′, dessen Leit
erschicht mittels einer Laserstrahl-Bearbeitungsvorrich
tung 200, gesteuert durch eine Steuerung 300, durch loka
len Abtrag in eine Leiterbahnstruktur 100b umgewandelt
wird.
Kernstück der Bearbeitungsvorrichtung 200 ist ein Nd-YAG-
Impulslaser 201 (λ = 1,06 µm, P = 50 W) mit Stromversor
gung 202 und Ansteuerschaltung 203. Die Laserstrahlung RL
gelangt über eine Kollimationsoptik 204 und zwei Umlenk
spiegel 205 und 206 (von denen der Spiegel 206 von der
Rückseite her für sichtbares Licht durchlässig ist) zu ei
nem einstellbaren Spalt 207, über den die Strahlabmessun
gen vorgegeben werden, und dann über einen weiteren
(dichroitischen) Umlenkspiegel 208 und eine Fokussierungs
optik bzw. Objektivlinse 209 auf die die Leiterschicht
100b′ tragende Oberfläche des Werkstücks 100′.
Zur Beobachtung des Strahlenganges und des Bearbeitungser
gebnisses sind zwei mit weißem Licht arbeitende Beleuch
tungseinrichtungen 210 (hinter dem Arbeitsspalt 207, zur
Sichtbarmachung des Verlaufes des NIR-Laserstrahls) und
211, 212 (aus einer Lampe 211 und einem Umlenkspiegel 212,
oberhalb des dichroitischen Spiegels 208, zur Gesichts
feldbeleuchtung) vorgesehen. Über eine Okularlinse 213 und
eine angeschlossene Videokamera 214 werden die Führung des
Laserstrahls auf dem Werkstück und der Ablauf der Struk
turbildung überwacht. Die Umlenkspiegel 208, 211 und die
Linsen 209, 213 sind in einer relativ zum Werkstück ver
schieblichen optischen Baugruppe 200a zusammengefaßt, die
etwa von einem modifizierten Lichtmikroskop gebildet sein
kann.
Zur Positionierung des Werkstücks 100′ relativ zum Bear
beitungsstrahl RL dient eine Positionssteuereinheit 215,
die (in der Figur nicht gezeigte) Schrittmotorantriebe für
die Optikeinheit 200a bzw. den Probentisch 216 ansteuert.
Zur Einstellung der Arbeitsspaltabmessungen ist eine
Spaltsteuereinheit 217 vorgesehen, die ebenfalls auf einen
in der Figur nicht dargestellten Motorantrieb einwirkt.
Das Kernstück der eigentlichen Steuerung 300 ist ein
Mikroprozessor-Controller 301, dem in üblicher Weise eine
Eingabetastatur 302, ein Bildschirm 303 und ein Programm
speicher 304 sowie ein Datenspeicher 305 zugeordnet sind.
Der Bildschirm 303 ist neben dem Controller 301 mit der
Videokamera 214 verbunden.
Zur Herstellung einer Leiterstruktur mit vorgegebener Kon
figuration werden über die Eingabetastatur 302 - die hier
lediglich zur Illustration angegeben ist und an deren
Stelle oder zusätzlich zu der auch ein Scanner eingesetzt
werden kann - die Konfiguration und die aktuellen Mate
rialdaten eingegeben oder ein bereits im Datenspeicher 305
gespeicherter Konfigurations-/Materialdatensatz abgerufen
und in den Arbeitsspeicher des Controllers 301 übernommen.
Der Controller liefert daraufhin entsprechend den Konfigu
rationsdaten sowohl an die Leistungs-Ansteuerung 203 des
Laseroszillators 201 und die Spaltsteuereinheit 217 als
auch an die Positionssteuereinheit 215 die für den geziel
ten lokalen Abtrag der Leiterschicht erforderlichen Steu
ersignale. Der Laserstrahl wird daraufhin automatisch mit
an die Materialspezifikation des Schichtaufbaus angepaßter
Energiedichte und Abtastgeschwindigkeit und mit einer
Strahlbreite und Positionskoordinaten entsprechend dem
vorgegebenen Leiterbahnverlauf über des Schichtaufbau ge
führt.
Mit Hilfe der Beleuchtungseinrichtungen 210 und 211, 212
und der Kamera 214 werden der Verlauf des (selbst un
sichtbaren) Bearbeitungsstrahls RL und die erzeugte Struk
tur beobachtet, so daß auch während der Bearbeitung korri
gierende Eingriffe in den Ablauf - und zugleich eine Kor
rektur des Datensatzes im Speicher 305 für die spätere
Herstellung identischer Strukturen - möglich sind.
Die Erfindung beschränkt sich in ihrer Ausführung nicht
auf das vorstehend angegebene bevorzugte Ausführungsbei
spiel. Vielmehr ist eine Anzahl von Varianten denkbar,
welche von der dargestellten Lösung auch bei grundsätzlich
anders gearteten Ausführungen Gebrauch macht.
Insbesondere liegen Abwandlungen hinsichtlich der in den
Beispielen genannten Materialien und Bearbeitungs-Strahl
quellen sowie der Arbeitstisch- und etwaiger Kühlanordnun
gen ebenso im Bereich der Erfindung wie eine manuelle oder
halbautomatische Steuerung des Strukturierungsvorganges.
In besonders zweckmäßiger Ausgestaltung des Verfahrens
können der Chip und/oder die weitere an den Verbinder an
zuschließende Baugruppe auch zunächst mit dem Verbinder-
Halbzeug, d. h. der Folie mit unstrukturierter Leiter
schicht, elektrisch und mechanisch verbunden werden -
etwa durch Verlöten oder Verkleben der Bauelementanschlüs
se mit der Leiterschicht mittels leitfähigem Kleber
und/oder Verschweißen von Abschnitten der Bauelementgehäu
se mit dem Folienträger - , und anschließend kann die
Strukturierung der Leiterbahnen entsprechend der konkreten
Position der Bauelementanschlüsse relativ zur Folie erfol
gen. Eine Einstrahlung der Arbeitsstrahlung von der Rück
seite der Trägerfolie her (wie in Fig. 1c gezeigt) kann
dabei besonders zweckmäßig sein.
In einer weiteren Ausgestaltung kann die Erzeugung der
Leiterbahnstruktur mit dem Verlöten bzw. Verschweißen
oder dem Härten eines (geeignet ausgewählten, strahlungs
vernetzenden) leitfähigen Klebers unter Nutzung ein und
derselben Strahlungsquelle verknüpft sein. Auch hierfür
ist eine Abstimmung zwischen Materialspezifikationen und
Bearbeitungsparametern wesentlich.
Als Beispiel hierfür sei genannt, daß bei Einsatz eines
UV-Lasers zur Leiterbahnstrukturierung in zweckmäßiger
Weise ein UV-härtender Kunstharzkleber mit leitfähiger
Beimischung eingesetzt wird, und daß im Strukturierungs
prozeß Teilschritte einer großflächigen Bestrahlung des
Trägers mit dem (entsprechend aufgeweiteten) Laserstrahl
zum Härten des Klebers ausgeführt werden.
Ein weiteres Beispiel für die genannte Abstimmung ist, daß
eine unstrukturiert oder nur grob strukturiert erzeugte
Lotschicht im wesentlichen zeitgleich mit der Strukturie
rung der Leiterschicht durch zielgerichteten lokalen Ab
trag derart strukturiert wird, daß Lötpunkte verbleiben,
die in optimaler räumlicher Zuordnung zur erzeugten Leiter
bahnstruktur positioniert sind. Durch sofort anschließend
ausgeführte Bestrahlungsschritte mit verminderter Energie
dichte können diese sogleich - in ein und derselben Bear
beitungsvorrichtung - mit den Bauelementanschlüssen verlö
tet werden.
Zur sofortigen Herstellung von Chip-and-Foil-Verbindern
für Standardschaltkreise können deren Anschlußkonfigura
tionen in den Datenspeicher eingegeben werden, so daß die
se "auf Tastendruck" für die Folienstrukturierung bereit
stehen. Im Controller kann auch ein optimierter Leiter
bahnverlauf errechnet werden, wenn lediglich die Lage der
Anschlüsse des anderen Bauelementes bzw. der Bauelemente
oder Baugruppen eingegeben wird oder bereits gespeichert
ist. Damit wird sogar die Erstellung einer grafischen Dar
stellung des Leiterbahnverlaufes - ganz zu schweigen von
der üblichen aufwendigen Maskenproduktion - überflüssig.
Claims (17)
1. Verfahren zur Herstellung eines Mehrleitungs-Verbin
ders für eine integrierte Schaltung, insbesondere vom
chip-and-foil-Typ, der einen flächigen Träger aufweist,
welcher auf mindestens einer Oberfläche eine in Leiterbah
nen strukturierte leitfähige Schicht trägt,
dadurch gekennzeichnet, daß
die leitfähige Schicht im wesentlichen vollflächig auf den
Träger aufgebracht, insbesondere aufgesputtert, und danach
mittels fokussierter energiereicher Strahlung, insbesonde
re Laserstrahlung, in der leitfähigen Schicht die Leiter
bahnstruktur erzeugt wird, wobei energiereiche Strahlung
mit einer derart auf das Material des Trägers und der
leitfähigen Schicht abgestimmten Wellenlänge oder derart
abgestimmtem Wellenlängenbereich eingesetzt wird, daß
diese(r) im Bereich eines spektralen Absorptionsmaximums
der leitfähigen Schicht, aber außerhalb von spektralen Ab
sorptionsmaxima des Trägers liegt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch ge
kennzeichnet, daß die integrierte Schaltung
nach dem vollflächigen Aufbringen der leitfähigen Schicht
auf den Träger mit diesem verbunden und die Erzeugung der
Leiterbahnstruktur nach dem Schritt des Verbindens ausge
führt wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß das Verbinden ein Verkleben
mit leitfähigem Klebstoff oder ein Verschweißen aufweist.
4. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die
energiereiche Strahlung von derjenigen Seite des Trä
gers auf die leitfähige Schicht eingestrahlt wird, auf der
die leitfähige Schicht aufgebracht ist.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch ge
kennzeichnet, daß vor dem Aufbringen der
leitfähigen Schicht voll flächig eine im Wellenlängenbe
reich der energiereichen Strahlung hochgradig reflektie
rende Schicht niedriger elektrischer Leitfähigkeit auf den
Träger aufgebracht wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, da
durch gekennzeichnet, daß die energie
reiche Strahlung von der der leitfähigen Schicht abgewand
ten Seite des Trägers her auf die leitfähige Schicht fo
kussiert wird.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch
gekennzeichnet, daß vor dem Aufbringen der
leitfähigen Schicht voll flächig eine für die energiereiche
Strahlung hochgradig transparente Schicht mit niedriger
elektrischer und thermischer Leitfähigkeit auf den Träger
aufgebracht wird.
8. Verfahren nach Anspruch 6 oder 7, dadurch
gekennzeichnet, daß nach dem Aufbringen der
leitfähigen Schicht und vor dem Einstrahlen der energie
reichen Strahlung eine diese hochgradig reflektierende
Schicht mit niedriger elektrischer Leitfähigkeit auf die
leitfähige Schicht aufgebracht wird.
9. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß als
Quelle der energiereichen Strahlung ein UV- oder NIR-Laser
eingesetzt wird.
10. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Lei
stungsdichte und/oder Vorschubgeschwindigkeit der energie
reichen Strahlung so eingestellt werden, daß in deren je
weiligem Einwirkungsbereich die leitfähige Schicht lokal
weitgehend entfernt und/oder in nicht leitfähiges Material
umgewandelt wird, jedoch keine wesentliche Veränderung des
Trägermaterials eintritt.
11. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß der Trä
ger während der Erzeugung der Leiterbahnstruktur gekühlt
wird.
12. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß der Trä
ger eine Kunststoffolie, insbesondere PE-Folie, ist und
die leitfähige Schicht eine Metallschicht, insbesondere
Cu-Ni-Schicht, aufweist und energiereiche Strahlung mit
einer Wellenlänge im Bereich von etwa 1.04 bis 1,08 µm
eingesetzt wird.
13. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch ge
kennzeichnet, daß als Quelle der energierei
chen Strahlung ein Seltenerd-Glas- oder -YAG-Laser, insbe
sondere ein Nd- oder Yb-YAG-Laser, eingesetzt wird.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 11,
dadurch gekennzeichnet, daß der Trä
ger eine Kunststoffolie, insbesondere PE-Folie, ist und
die leitfähige Schicht eine Metallschicht, insbesondere
Cu-Ni-Schicht, aufweist und energiereiche Strahlung mit
einer Wellenlänge im Bereich von etwa 120 bis 350 nm ein
gesetzt wird.
15. Verfahren nach Anspruch 14, dadurch
gekennzeichnet, daß als Quelle der energie
reichen Strahlung ein Stickstoff- oder Excimer-Gaslaser
eingesetzt wird.
16. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die
vollflächige leitfähige Schicht unter Anwendung von Be
dampfen oder Sputtern bzw. chemischer Gasphasenabscheidung
erzeugt wird.
17. Verfahren nach einem der vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die
vollflächige leitfähige Schicht in mindestens zwei Auf
tragsschritten aus mindestens zwei verschiedenen Materia
lien erzeugt wird.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19603962A DE19603962A1 (de) | 1996-01-26 | 1996-01-26 | Verfahren zur Herstellung eines Mehrleitungs-Verbinders |
AU21500/97A AU2150097A (en) | 1996-01-26 | 1997-01-24 | Process for producing a conductor structure |
PCT/DE1997/000163 WO1997027727A1 (de) | 1996-01-26 | 1997-01-24 | Verfahren zur herstellung einer leiterstruktur |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19603962A DE19603962A1 (de) | 1996-01-26 | 1996-01-26 | Verfahren zur Herstellung eines Mehrleitungs-Verbinders |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19603962A1 true DE19603962A1 (de) | 1997-07-31 |
Family
ID=7784467
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19603962A Withdrawn DE19603962A1 (de) | 1996-01-26 | 1996-01-26 | Verfahren zur Herstellung eines Mehrleitungs-Verbinders |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19603962A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000057468A2 (de) * | 1999-03-24 | 2000-09-28 | Infineon Technologies Ag | Elektrische schaltung sowie verfahren zu deren herstellung |
WO2005085309A2 (de) * | 2004-03-05 | 2005-09-15 | Crylas Gmbh | Verfahren zum aushärten eines photosensitiven füllmaterials und aushärtevorrichtung |
EP1742290A1 (de) * | 2005-07-04 | 2007-01-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Interne Antennenstruktur für ein Mobilgerät and Verfahren zur deren Herstellung |
-
1996
- 1996-01-26 DE DE19603962A patent/DE19603962A1/de not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000057468A2 (de) * | 1999-03-24 | 2000-09-28 | Infineon Technologies Ag | Elektrische schaltung sowie verfahren zu deren herstellung |
WO2000057468A3 (de) * | 1999-03-24 | 2001-05-31 | Infineon Technologies Ag | Elektrische schaltung sowie verfahren zu deren herstellung |
WO2005085309A2 (de) * | 2004-03-05 | 2005-09-15 | Crylas Gmbh | Verfahren zum aushärten eines photosensitiven füllmaterials und aushärtevorrichtung |
WO2005085309A3 (de) * | 2004-03-05 | 2005-11-24 | Crylas Gmbh | Verfahren zum aushärten eines photosensitiven füllmaterials und aushärtevorrichtung |
EP1742290A1 (de) * | 2005-07-04 | 2007-01-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Interne Antennenstruktur für ein Mobilgerät and Verfahren zur deren Herstellung |
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