DE19518348C1 - Speicher mit dynamischen Speicherzellen - Google Patents

Speicher mit dynamischen Speicherzellen

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    • G11INFORMATION STORAGE
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Description

Integrierte elektronische Informationsspeicher werden entwe­ der als flüchtige, d. h. dynamisch reprogrammierbare Speicher, oder nicht flüchtige Festwertspeicher angeboten. Dynamische Zufallszugriffsspeicher (DRAM) müssen periodisch aufgefrischt werden, oder sie verlieren die gespeicherte Information. Die Festwertspeicher dagegen können nach ihrer Herstellung nicht mehr geändert werden. Beim Festwertspeicher ist die Informa­ tion also ständig verfügbar.
Eine Kombination von flüchtigem und Festwertspeicher wäre vorteilhaft, wenn beide Speicherarten in ein Gerät erforder­ lich sind. Es ist bekannt, beide Speicherarten zu kombinie­ ren, dabei werden aber die Speicherzellen bei beiden Spei­ cherarten unterschiedlich ausgeführt. Aus US-PS 4 095 281 ist weiterhin bekannt, eine 4-Transistorzelle mit Hilfe von MNOS-Tran­ sistoren aufzubauen, die sowohl als RAM oder als ROM-Spei­ cherzelle verwendbar ist. Als ROM-Speicherzelle werden die Schwellwerte der MNOS-Transistoren entsprechend der zu speichernden Information eingestellt.
Das der Erfindung zugrundeliegende Problem besteht ebenfalls darin, flüchtige und nicht flüchtige, also Festwertspeicher, zu kombinieren. Dabei sollen dynamische Speicherzellen verwendet werden, die sowohl als Speicherzellen für den flüchtigen Speicher als auch für nichtflüchtige Festwertspeicher verwendbar sind.
Das Problem wird gemäß den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst.
Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteran­ sprüchen.
Wesentlich ist, daß die Größe des kapazitiven Ladungsspei­ chers der dynamischen Speicherzelle entsprechend der als Festwert zu speichernden Information bemessen wird.
Arbeitet der Speicher als flüchtiger Speicher, dann liegt an den Speicherzellen ein Refresh-Signal mit hoher Taktrakte an und der Kondensator jeder Speicherzelle wird unabhängig von seiner Größe vollstandig aufgeladen. Ein Unterschied zu gebräuchlichen dynamischen Speichern besteht in dieser Be­ triebsart deswegen nicht.
Soll der Speicher auch als Festwertspeicher benutzt werden, dann ist es zweckmäßig, Speicherzellen mit unterschiedlichen Kondensatoren zu verwenden. Zum Beispiel können zwei Arten von Speicherzellen verwendet werden, erste Speicherzellen mit einem ersten Kondensatorwert und zweite Speicherzellen mit einem zweiten Kondensatorwert. Zum Einprägen der Information "1" oder "0" in den Festwertspeicher werden zunächst alle Kondensatoren der Speicherzellen aufgeladen, anschließend wird eine Refresh-Signal mit einer derartigen Taktrate ange­ legt, daß sich die Kondensatoren der Speicherzellen mit kleinem Kondensatorwert entladen, jedoch die Speicherzellen mit großen Kondensatorwellen nicht entladen. Die Speicherzel­ len mit großen Kondensatorwerten speichern dann die Informa­ tion der einen Art, z. B. "1", die Speicherzellen mit kleinen Kondensatorwert die Information der anderen Art, z. B. "0".
Selbstverständlich ist es möglich, weitere Arten von Spei­ cherzellen mit anderen Kondensatorwerten zu verwenden, so daß mehrere Informationswerte eingeprägt werden können.
Anhand eines Ausführungsbeispieles wird die Erfindung weiter erläutert. Es zeigen
Fig. 1 ein Prinzipbild einer Speicherzelle,
Fig. 2 die Entladekennlinie eines Kondensators,
Fig. 3 verschiedene Entladekennlinien unterschiedlicher Kondensatoren jeweils aufgetragen über der Zeit t.
Das Prinzipbild einer Speicherzelle SP nach Fig. 1 zeigt einen Kondensator C, einen Widerstand R, einen Schalter S und eine Stromquelle Q. Über den Schalter S kann der Kondensator C aufgeladen werden. Ist der Schalter S geöffnet, dann ent­ lädt sich der Kondensator C über den Widerstand R entspre­ chend der Kennlinie, die in Fig. 2 dargestellt ist. Hier ist die Spannung U über der Zeit t aufgetragen. Weiterhin ist das Refresh-Signal stark ausgezogen dargestellt. Es ist zu sehen, daß nach dem Refresh-Signal, durch das der Kondensator C aufgeladen worden ist, die Entladung des Kondensators auf bekannte Weise abläuft. Wenn die Spannung des Kondensators eine vorgegebene Schwellwertspannung Uth unterschreitet, ändert sich die im Kondensator c gespeicherte Information.
Zum Beispiel kann das Vorhandensein einer über der Schwell­ wertspannung liegenden Spannung als eine logische "1" angese­ hen werden, daß Fehlen einer Spannung am Kondensator als eine logische "0". Für die Fälle, bei denen keine eindeutige Spannung der "1" oder der "0" zugeordnet werden kann, kann ein logischer Wert "X" zugeordnet werden.
Wenn der Speicher aus Speicherzellen besteht, bei denen jeweils nur zwei unterschiedliche Kondensatortypen vorliegen, also Speicherzellen mit einem Kondensator C1 und Speicherzel­ len mit einem Kondensator C2, dann kann die Größe oder der Wert des Kondensators C1 so gewählt werden, daß er seine Information verliert, wenn die Taktrate f1 eines Refresh-Signa­ les zu klein ist. Der Kondensator C2, dessen Wert größer gewählt werden kann als der Wert des Kondensators C1, wird mit einer Taktrate f2 betrieben. Der Kondensator C2 verliert seine Information, wenn die Taktrate f2 zu langsam ist. Wenn nun f2 genügend größer ist als f1, dann wird eine "1" in C1 geschrieben, und wenn die Speicherzelle mit C1 mit der Takt­ rate f2 aufgefrischt wird, dann wird später hier eine "0" gelesen. Wenn zur selben Zeit eine "1" in eine Speicherzelle mit C2 geschrieben worden ist und es wird mit der Taktrate f2 aufgefrischt, dann wird aus Speicherzellen mit C2 immer noch eine "1" gelesen. Selbstverständlich werden bei beiden Spei­ cherzellen gespeicherte "0" immer als "0" gelesen.
Bei der Betriebsart als flüchtiger Speicher (RAM) werden alle Zellen mit der Taktrate f1 aufgefrischt. Das heißt in der Betriebsart RAM verhält sich der Speicher wie ein typischer DRAM.
In der Betriebsart als Festwertspeicher ist die in den Spei­ cherzellen gespeicherte Information durch die Herstellung festgelegt. In dieser Betriebsart werden zunächst alle Spei­ cherzellen mit einer "1" geschrieben, also alle Speicherzel­ len aufgeladen. Anschließend erfolgt das Auffrischen mit der Taktrate f2. Dies führt dazu, daß die Speicherzellen mit C1 sich entladen und somit dort eine "0" eingespeichert wird, während die Speicherzellen mit C2 aufgeladen bleiben, somit dort eine "1" gespeichert ist. Im folgenden muß der Festwert­ speicher nur noch mit der Taktrate f2 aufgefrischt werden.
Die zwei Taktraten f1 und f2 können zwei verschiedene Taktim­ pulse darstellen oder aus einem einzelnen Taktimpuls gewonnen werden.
Ein Speicher kann auch so ausgeführt sein, daß er Speicher­ zellen mit mehr als zwei verschiedenen Kondensatorwerten aufweist, im allgemeinen Fall mit n verschiedenen Kondensa­ torwerten. Damit sind in dem Speicher Speicherzellen enthal­ ten, die mit unterschiedlichen Taktraten fn aufgefrischt werden müssen, wobei n eine ganze Zahl ist. Ein solcher Spei­ cher kann in der Betriebsart als RAM mit der Taktrate f1 aufgefrischt werden. In der Betriebsart als ROM werden wie­ derum die Speicherzellen zunächst alle geladen und dann mit einer Taktrate aufgefrischt, die so gewählt ist, daß sich der gewünschte Teil der Speicherzellen entladen kann und die restlichen dagegen nicht. Es ist auch möglich, den Speicher­ zellen mit unterschiedlichen Kondensatorwerten unterschiedli­ che Informationen zuzuordnen, die dadurch erreicht werden, daß beim Anliegen von Refresh-Signalen einer Taktrate die einzelnen Kondensatoren eine unterschiedliche Ladung haben, die bewertet werden. Diese Verhältnisse können z. B. der Fig. 3 entnommen werden:. Hier sind drei Kondensatoren C1 bis C3 unterschiedlichen Wertes mit ihren Entladekennlinien dar­ gestellt. Dabei hat der Kondensator C1 den kleinsten Kapazi­ tätwert, der Kondensator C3 den größten Wert. Es werden zwei Schwellen VH und VL gezeigt. Wenn ein Kondensator einen Wert hat, der über VH liegt, dann kann dies einer "1" zugeordnet werdend wenn sie einen Wert hat, der unter VL liegt, einer "0" und wenn er einen Wert hat, der zwischen VL und VH liegt, einer "X". Werden weitere Kondensatoren mit anderen Kapazi­ tätswerten verwendet, können noch mehrere Arten von Informa­ tionen gespeichert werden.

Claims (3)

  1. l. Speicher mit dynamischen Speicherzellen, der sowohl in einer Betriebsart als Festwertspeicher als auch in einer anderen Betriebsart als flüchtiger Speicher nutzbar ist, dadurch gekennzeichnet, daß
    • - jede Speicherzelle (SP) jeweils einen eine Information speichernden Kondensator aufweist, dessen Kapazitätswert entsprechend der als Festwert zu speichernden Information bemessen ist,
    • - den Speicherzellen ein Refresh-Signal in einer von der Betriebsart abhängigen Taktrate zugeführt wird.
  2. 2. Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Gruppen von Speicherzellen mit jeweils unterschiedlichen Kondensatorwerten vorgesehen sind.
  3. 3. Speicher nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß erste Speicherzellen mit einem ersten Kondensator mit einem ersten Kapazitätswert und zweite Speicherzellen mit zweiten Kondensatoren mit im Vergleich zu dem ersten Kapazitätswert größeren Kapazitätswert vorgesehen sind.
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5995409A (en) * 1998-03-20 1999-11-30 Silicon Aquarius, Inc. Electrically-programmable read-only memory fabricated using a dynamic random access memory fabrication process and methods for programming same
DE19960247B4 (de) * 1999-12-14 2005-09-08 Infineon Technologies Ag Datenspeicher und Verfahren
US7337282B2 (en) * 2003-11-28 2008-02-26 Infineon Technologies Ag Memory system and process for controlling a memory component to achieve different kinds of memory characteristics on one and the same memory component
US7099221B2 (en) 2004-05-06 2006-08-29 Micron Technology, Inc. Memory controller method and system compensating for memory cell data losses
US20060010339A1 (en) * 2004-06-24 2006-01-12 Klein Dean A Memory system and method having selective ECC during low power refresh
US7340668B2 (en) * 2004-06-25 2008-03-04 Micron Technology, Inc. Low power cost-effective ECC memory system and method
US7116602B2 (en) * 2004-07-15 2006-10-03 Micron Technology, Inc. Method and system for controlling refresh to avoid memory cell data losses
US6965537B1 (en) * 2004-08-31 2005-11-15 Micron Technology, Inc. Memory system and method using ECC to achieve low power refresh
FR2890483A1 (fr) * 2005-09-08 2007-03-09 St Microelectronics Sa Cellule memoire volatile remanente
US7894289B2 (en) * 2006-10-11 2011-02-22 Micron Technology, Inc. Memory system and method using partial ECC to achieve low power refresh and fast access to data
US7900120B2 (en) 2006-10-18 2011-03-01 Micron Technology, Inc. Memory system and method using ECC with flag bit to identify modified data
US10796729B2 (en) * 2019-02-05 2020-10-06 Micron Technology, Inc. Dynamic allocation of a capacitive component in a memory device
US11194726B2 (en) 2019-02-25 2021-12-07 Micron Technology, Inc. Stacked memory dice for combined access operations

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4095281A (en) * 1976-03-04 1978-06-13 Rca Corporation Random access-erasable read only memory cell

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3654499A (en) * 1970-06-24 1972-04-04 Bell Telephone Labor Inc Charge coupled memory with storage sites
US5020025A (en) * 1990-01-09 1991-05-28 Advanced Micro Devices, Inc. Capacitively coupled read-only memory
JP2660111B2 (ja) * 1991-02-13 1997-10-08 株式会社東芝 半導体メモリセル
JP3187153B2 (ja) * 1992-08-11 2001-07-11 株式会社東芝 マスクromのメモリセル及びマスクrom
JP3311059B2 (ja) * 1993-01-28 2002-08-05 沖電気工業株式会社 半導体メモリ回路
JP3365650B2 (ja) * 1993-05-31 2003-01-14 沖電気工業株式会社 半導体メモリ装置
US5406507A (en) * 1993-05-24 1995-04-11 Tektronix, Inc. Reduced input capacitance analog storage array

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4095281A (en) * 1976-03-04 1978-06-13 Rca Corporation Random access-erasable read only memory cell

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Publication number Publication date
JPH09153291A (ja) 1997-06-10
US5706225A (en) 1998-01-06
JP3638718B2 (ja) 2005-04-13

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