DE19502865A1 - Verbesserter Reaktor zur CVD-Abscheidung von Silicium mit Halbleiterqualität - Google Patents
Verbesserter Reaktor zur CVD-Abscheidung von Silicium mit HalbleiterqualitätInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft einen verbesserten Reaktor
zur Herstellung von Silicium mit Halbleiterqualität durch Dampf
phasenabscheidung mit chemischem Verfahren (CVD) von Chlorsila
nen auf beheizten Siliciumelementen. Der Reaktor ist gekenn
zeichnet durch die Verwendung eines Wärmeaustauschelementes, das
innerhalb des Reaktors angeordnet ist, um die Gastemperatur zu
vermindern, ohne die beheizten Siliciumelemente wesentlich von
der von anderen beheizten Siliciumelementen emittierten
Strahlungswärme abzuschirmen. Die Verminderung der Gastemperatur
vermindert die schädliche Homonukleierung des Siliciums inner
halb des Reaktors, wodurch der Reaktor effizienter betrieben
werden kann.
Die Herstellung von Silicium mit Halbleiterqualität wird typi
scherweise durch Dampfphasenabscheidung mit chemischem Verfahren
(CVD) von hochreinem Silan oder Halogensilan auf beheizte Ele
mente erreicht. Solche Verfahren sind im Stand der Technik wohl
bekannt und werden in US-A 3 053 638; US-A 3 147 141; US-A 3 099
534; US-A 4 150 168 und US-A 4 173 944 beschrieben. Das Durch
führen des CVD-Verfahrens erfordert, daß die beheizten Elemente,
die typischerweise aus Silicium gebildet werden, über die Zer
setzungstemperatur des Silans oder Halogensilans, das dem
Reaktor zugeführt wird, beheizt werden. Wenn die heterogene
Abscheidung von Silicium auf die beheizten Elemente erfolgt,
erhöht sich die Oberfläche der Elemente, was ein Ansteigen der
Strahlungswärme von den Elementen verursacht. Die Übertragung
der Strahlungswärme zwischen den beheizten Elementen ist wesent
lich für den effizienten Betrieb des CVD-Reaktors, da dies die
Strommenge vermindert, die durch die Elemente geleitet werden
muß, um die gewünschte Temperatur aufrechtzuerhalten.
Jedoch erhöht die von den Elementen emittierte Konvektionswärme
die Gastemperatur des Reaktors. Wenn die Gastemperatur des
Reaktors eine kritische Temperatur erreicht, kann eine Silicium
bildung durch Homonukleierung im Reaktor auftreten. Der durch
das Homonukleierungsverfahren gebildete Siliciumstaub kann die
Reaktorwände überziehen und dient als Isoliermaterial, was auch
verursacht, daß die Gastemperatur weiterhin steigt. Als Folge
der Erhöhung der Gastemperatur in dem Reaktor steigt die homoge
ne Nukleierung an, was zusätzlichen Siliciumstaub erzeugt. Die
ser Siliciumstaub enthält typischerweise hohe Gehalte an Kon
taminanten und kann sich auf dem Halbleitersilicium absetzen,
was unannehmbare Gehalte an Kontaminanten und Oberflächenmängel
verursacht.
Um Probleme mit durch Homonukleierung gebildetem Siliciumstaub
zu verhindern, ist es typischerweise notwendig, die Energie zu
den sich bildenden Siliconelementen zu vermindern oder den Mol
prozentanteil der Silan- oder Halogensilanbeschickung für den
Reaktor im Verlauf eines Durchlaufs zu vermindern. Jede dieser
Hilfsmaßnahmen vermindert die heterogene Bildung von Silicium,
was zu einem weniger effizienten Reaktor führt.
Mit der vorliegenden Erfindung wird ein CVD-Reaktor zur Abschei
dung von Chlorsilangas auf einem beheiztem Siliciumelement ein
geführt. Sie ist dadurch gekennzeichnet, daß innerhalb des
Reaktors ein Wärmeaustauschelement angeordnet wird. Dieses Wär
meaustauschelement hat eine solche Größe und einen solchen Auf
bau, daß es die beheizten Siliciumelemente nicht wesentlich von
der von anderen beheizten Siliciumelementen emittierten Strah
lungswärme abschirmt. Das Wärmeaustauschelement dient dazu, die
Konvektionswärme des Gases zu entfernen, wodurch sich die Tempe
ratur des Gases vermindert und die Homonukleierung von Silicium
staub im Reaktor vermindert wird. Die dadurch erfolgende Reduk
tion von Siliciumstaub in dem Reaktor läßt es zu, daß der Reak
tor über längere Zeiträume mit höheren Temperaturen der Si
liciumelemente und mit höheren Molprozentanteilen von Chlorsi
lanbeschickungsgas betrieben werden kann. Dies führt zu einer
höheren Ausbeute an Silicium mit Halbleiterqualität aus einem
Reaktor während einer Fabrikationsperiode.
In US-A 4 150 168 wird ein CVD-Verfahren gelehrt zur Abscheidung
von Silan (SiH₄) auf beheizten Siliciumelementen. Dieses Doku
ment betrifft hauptsächlich die Bereitstellung von Siliciumele
menten mit gleichmäßiger Form, die für tiegelfreies Zonenschmel
zen geeignet sind. Es wird die Verwendung eines Wärmeisolators
beschrieben, um jedes der Siliciumelemente in dem Reaktor vor
der von anderen Siliciumelementen in dem Reaktor emittierten
Strahlungswärme zu isolieren. Es wird angegeben, daß die thermi
sche Abschirmung jedes der Stäbe gleichmäßigere Stabtemperaturen
und damit ein gleichmäßigeres Stabwachstum liefert. Es wird auch
gelehrt, daß eine Pyrolysezersetzungsreaktion von Silan auf
tritt, die bei der Zersetzung von Halogensilanen, wie Chlorsi
lan, nicht beobachtet wird, das heißt, eine Homonukleierung. Es
wird berichtet, daß dieses Homonukleierungsverfahren vermindert
werden kann durch Verwendung des Wärmeisolators.
Obwohl dieses Dokument lehrt, daß die Siliciumbildung durch
Homonukleierung in einem CVD-Reaktor zur Abscheidung von Chlor
silanen nicht auftritt, wurde gefunden, daß dies nicht der Fall
ist. Statt dessen wurde gefunden, daß dann, wenn die Gastempera
tur eines CVD-Reaktors für die Pyrolyse von Chlorsilanen auf
beheizten Siliciumelementen eine kritische Temperatur erreicht,
der durch die Homonukleierungsreaktion gebildete Siliciumstaub
die Leistung des Reaktors negativ beeinflußt. Im Gegensatz zu
dem, was im Stand der Technik gelehrt wird, ist es nicht notwen
dig, jedes Siliciumelement vollständig von der von anderen Ele
menten emittierten Strahlungswärme abzuschirmen, um dieses Homo
nukleierungsverfahren zu vermindern, noch ist es erwünscht, da
es auch den Energieverbrauch erhöht. Es wurde gefunden, daß ein
Wärmeaustauschelement innerhalb des CVD-Reaktors so angeordnet
werden kann, daß die Gastemperatur vermindert wird, ohne die
beheizten Siliciumelemente wesentlich von der von den beheizten
Siliciumelementen emittierten Strahlungswärme abzuschirmen. Der
Vorteil dieses Anordnens des Wärmeaustauschelements besteht
darin, daß:
- (1) Konvektionswärme von dem Gas entfernt werden kann, was zu einer Verminderung der Siliciumstaubbildung durch Homonukleierung führt, und
- (2) weniger Strom für die einzelnen Siliciumelemente erforderlich ist, da sie nicht wesentlich von der von jedem Element emittierten Strahlungswärme abgeschirmt werden.
Fig. 1 ist eine schematische Darstellung eines typischen Reak
tors, der für das CVD von Chlorsilanen auf beheizten Silicium
elementen geeignet ist, wobei in dem Reaktor ein Wärmeaustausch
element angeordnet ist. Fig. 2 und Fig. 3 sind Querschnitte
von beispielhaften Reaktoren mit Wärmeaustauschelementen, die
zur Durchführung der vorliegenden Erfindung geeignet sind.
Fig. 1 ist eine schematische Darstellung eines typischen Reak
tors, der für das CVD von Chlorsilanen auf einem beheizten Sili
ciumelement geeignet ist, wobei in dem Reaktor ein Wärmeaus
tauschelement angeordnet ist. Reaktoren für das CVD von Silanen
und Chlorsilanen auf beheizten Elementen sind im Stand der
Technik wohlbekannt, und es wird vorausgesetzt, daß das Wärme
austauschelement der vorliegenden Erfindung in jedem solchen
Reaktor, der zur Abscheidung von Chlorsilanen auf beheizten
Siliciumelementen unter Bildung von Halbleitersilicium verwendet
wird, verwendet werden kann. Solche Reaktoren werden in US-A 3
053 638; US-A 3 147 141; US-A 3 099 534; US-A 4 150 168 und US-A
4 173 944 beschrieben.
Der Reaktor von Fig. 1 umfaßt eine Basisplatte 1. In der Basis
platte 1 ist eine Aussparung angeordnet, und die Basisplatte 1
weist ein Zulaufrohr 2 und ein Ablaufrohr 3 auf, was eine Zirku
lation eines Kühlmittels durch die Basisplatte zuläßt. In der
Basisplatte 1 sind auch Beschickungsdüsen 4 angeordnet, durch
die Wasserstoff und Chlorsilangas dem Reaktor entweder getrennt
oder als Mischung zugeführt werden können. Die Beschickungsdüsen
sind nicht auf die zwei in der Basisplatte angeordneten be
schränkt, und es kann eine Vielzahl an irgendeiner geeigneten
Stelle in dem Reaktor angeordnet sein. Die Basisplatte 1 enthält
einen Entlüftungsauslaß 5, um Gase, die während des Abschei
dungsverfahrens erzeugt wurden, zu entfernen. Die Basisplatte 1
weist Verbindungsglieder 6 auf, die eine Einrichtung liefern, um
dem Siliciumelement 7 elektrischen Strom zuzuführen, um ein
Erwärmen des Siliciumelements 7 zu bewirken. Das Verbindungs
glied 6 kann einen standardmäßigen Aufbau haben. Der Fachmann
erkennt, daß diese Basisplatte 1 eine Vielzahl von Verbindungs
gliedern 6 enthalten kann, um eine Vielzahl von Siliciumelemen
ten 7 in dem Reaktor beheizen zu können.
Auf der Basisplatte 1 ist der Behälter 8 angeordnet. Der Behäl
ter 8 wird mit der Basisplatte 1 in Kontakt gebracht und daran
befestigt, um einen im wesentlichen geschlossenen Reaktor zu
bilden. Unter "im wesentlichen geschlossener Reaktor" wird ver
standen, daß der Kontakt zwischen Basisplatte 1 und Behälter 8
ausreichend ist, daß der Reaktor unter einem anderen Druck als
Umgebungsdruck entstehen kann. Im allgemeinen ist es bevorzugt,
daß die Basisplatte 1 den Behälter 8 dicht verschließt, um ein
Entweichen von Gasen aus dem Reaktor zu minimieren. Bei einer
bevorzugten Ausgestaltung ist der Behälter 8 doppelwandig mit
einem zwischen den Behälterwänden angeordneten Kühlbett. Die
Einlaßöffnung 9 und die Auslaßöffnung 10 liefern eine Einrich
tung, um ein Kühlmittel durch das Kühlbett des Behälters zu lei
ten. In den Behälterwänden sind Beobachtungsfenster 11 angeord
net. Der Reaktor ist nicht auf drei Beobachtungsfenster, wie sie
dargestellt sind, beschränkt, sondern kann keine Fenster oder so
viele Fenster wie notwendig, um das Innere des Reaktors zu
kontrollieren, aufweisen. Die Beobachtungsfenster 11 können aus
irgendeinem durchsichtigem Material sein, das der Wärme des
Reaktors widerstehen kann und keine wesentliche Kontamination
des darin gebildeten Halbleitersiliciums verursacht.
In dem zentralen Teil des Behälters 8 ist ein Wärmeaustausch
element 12 befestigt. In Fig. 1 umfaßt das Wärmeaustauschele
ment 12 zwei konzentrisch angeordnete Röhren, die eine innere
Kammer und eine äußere Kammer erzeugen. Durch die Einlaßöffnung
13 kann ein Kühlmittel in den inneren Kanal gepumpt werden und
nach unten durch den inneren Kanal und nach oben durch den äuße
ren Kanal fließen, wobei es durch Auslaßöffnung 14 austritt. Die
Anordnung des Wärmeaustauschelementes 12 in dem Reaktor ist
nicht kritisch und es kann irgendeine Position sein, die den
Kontakt mit der Gasmasse innerhalb des Reaktors zuläßt, ohne die
Mehrzahl der Siliciumelemente 7 von der von den Siliciumelemen
ten emittierten Strahlungswärme abzuschirmen. In einer alterna
tiven Anordnung kann das Wärmeaustauschelement 12 an der Basis
platte 1 befestigt sein.
Fig. 2 ist ein Querschnitt einer geeigneten Konfiguration des
Wärmeaustauschelementes 12. In Fig. 2 umfaßt das Wärmeaus
tauschelement 12 konzentrisch angeordnete Röhren, die einen
inneren und äußeren Kanal erzeugen, durch den eine Kühlflüssig
keit zirkuliert werden kann. Rund um das Wärmeaustauschelement
12 ist eine Vielzahl von Siliciumelementen 7 angeordnet. Das
Wärmeaustauschelement 12 und die Mehrzahl der Siliciumelemente
7 sind von der Behälterwand 8 umgeben, die eine Kammer enthält,
um darin Kühlflüssigkeit zu zirkulieren.
Fig. 3 ist ein Querschnitt einer bevorzugteren Konfiguration
des Wärmeaustauschelementes 12. In Fig. 3 umfaßt das Wärmeaus
tauschelement 12 einen inneren röhrenförmigen Kanal, der von
vier Rippen mit doppelwandigem Aufbau umgeben ist, wobei der
doppelwandige Aufbau einen Kanal innerhalb der Rippen liefert,
durch den ein Kühlmittel geleitet werden kann. Der innere röh
renförmige Kanal ist mit dem Kanal innerhalb der Rippen verbun
den, wodurch ein kontinuierlicher Kanal geschaffen wird, durch
den ein Kühlmittel geleitet werden kann. Der Fachmann erkennt,
daß das in Fig. 3 dargestellte Wärmeaustauschelement 12 nicht
auf vier Rippen begrenzt ist, sondern jede geeignete Anzahl von
Rippen aufweisen kann. Rund um das in Fig. 3 dargestellte Wär
meaustauschelement ist eine Vielzahl von Siliciumelementen 7
angeordnet. In Fig. 3 sind das Wärmeaustauschelement 12 und die
Mehrzahl der Siliciumelemente 7 von der Behälterwand 8 umgeben,
die eine Kammer enthält, um Kühlflüssigkeit zu zirkulieren.
In der Praxis betrifft die vorliegende Erfindung einen im we
sentlichen geschlossenen Reaktor, der einen Behälter umfaßt, der
eine Kammer bildet, die zur Durchführung von CVD von Silicium
aus einer gasförmigen Mischung, die Wasserstoff und ein Chlorsi
lan der Formel ClnSiH4-n umfaßt, worin n = 1, 2, 3 oder 4 ist,
auf einer Vielzahl von in der Kammer angeordneten beheizten
Siliciumelementen geeignet ist. Die Verbesserung des Reaktors
umfaßt ein extern gekühltes Wärmeaustauschelement, das innerhalb
der Kammer angeordnet ist, um die Temperatur der in der Kammer
vorhandenen Gasmasse zu vermindern, ohne die Mehrzahl der be
heizten Siliciumelemente wesentlich von der von anderen Si
liciumelementen emittierten Strahlungswärme abzuschirmen.
Im wesentlichen geschlossene Reaktoren für die CVD von Silicium
auf beheizten Siliciumelementen sind im hier diskutierten Stand
der Technik bereits beschrieben. Eine schematische Darstellung
eines solchen geeigneten Reaktors ist in Fig. 1 angegeben.
Unter "im wesentlichen geschlossener Reaktor" wird verstanden,
daß der Reaktor ausreichend abgeschlossenen ist, um zuzulassen,
daß der Reaktor unter anderen als Umgebungsbedingungen betrieben
werden kann. Im allgemeinen ist es bevorzugt, daß der Reaktor so
abgedichtet ist, daß ein Entweichen von Gasen aus dem Reaktor
minimiert ist.
Die Funktion der vorliegenden Erfindung besteht darin, die Effi
zienz des Reaktors zu verbessern, indem Konvektionswärme aus der
Gasmasse entfernt wird, ohne die Mehrzahl der beheizten Sili
ciumelemente von der von den Siliciumelementen emittierten
Strahlungswärme abzuschirmen. Daher kann das extern gekühlte
Wärmeaustauschelement irgendeinen Standardaufbau haben, der den
Konvektionswärme-Transferbereich innerhalb des Reaktors wirksam
erhöht. Solche Ausführungen sind in der vorliegenden Fig. 1
gezeigt, wobei das Wärmeaustauschelement aus zwei konzentrisch
angeordneten Röhren besteht, die ein inneres Lumen und ein äuße
res Lumen erzeugen, durch das ein Wärmeaustauschmedium zirku
liert werden kann. Ein Beispiel eines bevorzugten Wärmeaus
tauschelementes ist in der vorliegenden Fig. 3 gezeigt, wobei
das Wärmeaustauschelement aus einem inneren Lumen besteht, das
von vier Rippen umgeben ist, die wiederum Lumina aufweisen,
durch die eine Wärmeaustauschflüssigkeit zirkuliert werden kann.
Das in Fig. 3 dargestellte bevorzugte Wärmeaustauschelement ist
nicht auf vier Rippen begrenzt, sondern kann irgendeine Anzahl
von Rippen aufweisen.
Das Wärmeaustauschelement kann so aufgebaut sein, daß dann, wenn
es in der Reaktorkammer angeordnet ist, es die Mehrzahl der
beheizten Siliciumelemente nicht wesentlich von der von den
Siliciumelementen emittierten Strahlungswärme abschirmt. Unter
"wesentlich abschirmt" wird verstanden, daß weniger als 50% der
von einem beheizten Siliciumelement emittierten Strahlungswärme
abgeschirmt werden von dem Kontakt mit anderen beheizten Sili
ciumelementen in dem Reaktor. Bevorzugt ist es, wenn weniger als
20% der von einem beheizten Siliciumelement emittierten Strah
lungswärme von dem Kontakt mit anderen beheizten Siliciumelemen
ten in dem Reaktor abgeschirmt werden. Beispiele für solche
Wärmeaustauschelemente und ihre Anordnung sind in der Fig. 1,
Fig. 2 und Fig. 3 dargestellt.
Die Anordnung des Wärmeaustauschelementes innerhalb der Reaktor
kammer kann irgendeine Anordnung sein, die den Kontakt mit der
Gasmasse zuläßt und die Mehrzahl der beheizten Siliciumelemente
nicht wesentlich von der von Siliciumelementen emittierten
Strahlungswärme abschirmt. Das Wärmeaustauschelement kann von
der Reaktorbehälterwand herabhängen, wie in Fig. 1 dargestellt,
oder kann auf der Basisplatte eines Reaktors angeordnet sein.
Das Wärmeaustauschelement kann auch exzentrisch innerhalb des
Reaktors angeordnet sein. Der Reaktor kann mehr als ein Wärme
austauschelement enthalten, solange die Wärmeaustauschelemente
zusammen die beheizten Siliciumelemente nicht wesentlich von der
von den Siliciumelementen emittierten Strahlungswärme abschir
men.
Das Wärmeaustauschelement wird extern gekühlt. Eine externe
Kühlung wird erreicht, indem ein geeignetes Wärmeaustauschmedium
durch einen oder mehrere Kanäle oder Lumina des Wärmeaustau
schers geleitet wird. Ein solches Wärmeaustauschmedium schließt
flüssiges Polydimethylsiloxan, Wasser und gasförmige Kühlmittel
ein. Ein bevorzugtes Wärmeaustauschmedium ist flüssiges Polydi
methylsiloxan.
Das Wärmeaustauschelement kann aus Standardmaterialien aufgebaut
sein, die zur Konstruktion von CVD-Reaktoren, die zur Pyrolyse
von Chlorsilanen auf beheizten Siliciumelementen unter Bildung
von Silicium mit Halbleiterqualität verwendet werden, geeignet
sind. Das Wärmeaustauschelement kann zum Beispiel aus Stahl mit
hohem Kohlenstoffgehalt hergestellt werden.
Der vorliegende, im wesentlichen geschlossene Reaktor enthält
eine Vielzahl von beheizten Siliciumelementen. Der Reaktor muß
zwei oder mehr beheizte Siliciumelemente enthalten, wobei die
obere Grenze der Anzahl von beheizten Siliciumelementen durch
den jeweiligen Aufbau des Reaktors begrenzt wird.
Der vorliegende, im wesentlichen geschlossene Reaktor wird für
die CVD einer gasförmigen Mischung, die Wasserstoff und ein
Chlorsilan der Formel ClnSiH4-n worin n = 1, 2, 3 oder 4 ist,
umfaßt, auf eine Vielzahl von beheizten Siliciumelementen ver
wendet. Ein bevorzugtes Chlorsilan ist Trichlorsilan. Allgemein
wird das Wasserstoffgas dem Reaktor in einem molaren Überschuß
bezogen auf das aus dem Chlorsilan während der Pyrolyse des
Chlorsilans freigesetzte Chlor zugeführt. Das Wasserstoffgas
kann als Träger und Verdünnungsgas für das dem Reaktor zugeführ
te Chlorsilan verwendet werden.
Die Wärmeaustauschkapazität des Wärmeaustauschelementes wird
bestimmt durch thermodynamische Standardüberlegungen, wie die
Oberfläche des Wärmeaustauschelementes, die Wärmeleitfähigkeit
der Baumaterialien und die Temperatur und Wärmekapazität der
Wärmeaustauschmedien. Im allgemeinen ist es bevorzugt, daß die
Temperatur des Reaktorgases unterhalb der Temperatur gehalten
wird, bei der das jeweilige Chlorsilan Mengen an Silicium durch
Homonukleierung bildet, die für das Produktionsverfahren schäd
lich sind. Diese Temperatur hängt von dem jeweiligen Chlorsilan
und dem jeweils angewendeten Reaktor ab.
Die vorliegende Erfindung ist besonders geeignet zur Herstellung
von Silicium mit Halbleiterqualität, das in Verfahren verwendet
werden soll wie dem Czochralski-Verfahren zum Züchten von Sili
ciumeinkristallen aus einer Siliciumschmelze. Unter "Silicium
mit Halbleiterqualität" wird allgemein ein Material verstanden,
das zu mehr als 99,9 Gewichtsprozent aus Silicium besteht.
Das folgende Beispiel soll die Vorteile der vorliegenden Erfin
dung zeigen.
Die Wirkungen eines in einem üblichen Reaktor für die CVD von
Trichlorsilan angeordneten Wärmeaustauschelementes wurden ausge
wertet.
Der Reaktor hat einen üblichen Aufbau und war ähnlich dem in der
vorliegenden Fig. 1 beschriebenen und enthielt eine Mehrzahl
von Siliciumelementen. Die Beschickung des Reaktors war eine
Mischung von Wasserstoff und Trichlorsilan. Die Anfangstempera
tur der Siliciumelemente war 1060°C und wurde nach und nach auf
eine Temperatur von 965°C während des Versuchsverlaufs abge
senkt. Es wurde in dem Reaktor ein Basisversuch durchgeführt
ohne Wärmeaustauschelement. Der Zweck des Basisversuches war es,
die Zeitdauer festzustellen, während der der Reaktor betrieben
werden konnte, bevor die Temperatur der Gasmasse einen Punkt
erreichte, an dem die Homonukleierung die Leistung des Reaktors
beeinflußte, was eine Verminderung der dem Reaktor zugeführten
Trichlorsilanmenge erforderte, und um die Abscheidungsrate des
Siliciums zu bestimmen.
Für den verwendeten Reaktor wurde empirisch festgestellt, daß
dann, wenn die Temperatur der Gasmasse 650°C erreichte, was
durch ein in einer Reaktoröffnung angeordnetes Thermoelement
bestimmt wurde, der Grad an Homonukleierung die Leistung des
Reaktors in einem Ausmaß beeinflußte, daß der Molprozentanteil
von dem dem Reaktor zugeführten Trichlorsilan vermindert werden
mußte. Für den Basisversuch erreichte die Temperatur der Gasmas
se die kritischen 650°C nach etwa 33 Betriebsstunden, was erfor
derte, daß der dem Reaktor zugeführte Molprozentanteil Trichlor
silan für den Rest des 42-Stunden-Versuchs vermindert wurde. Die
durchschnittliche Siliciumabscheidungsrate für den Basisversuch
war 1,2 mm/h.
Im Vergleichsversuch wurde ein Wärmeaustauschelement ähnlich dem
in Fig. 3 beschriebenen in dem Reaktor angeordnet. Die Kühlung
erfolgte, indem durch das Wärmeaustauschelement SylthermTM Wär
meaustauschflüssigkeit (Dow Corning Corporation, Midland, MI)
zirkuliert wurde. Die Wärmeaustauschflüssigkeit hatte eine Tem
peratur von 190°C, die am Eingang des Wärmeaustauschelementes
bestimmt wurde. Der Vergleichsversuch wurde durchgeführt ähnlich
dem für den Grundversuch beschriebenen. Das Temperaturprofil der
Siliciumelemente wurde kontrolliert, damit es gleich war wie das
Temperaturprofil der Siliciumelemente für den Grundversuch. Der
Vergleichsdurchlauf wurde über einen Zeitraum von 43 Stunden
durchgeführt, wonach die Temperatur der Gasmasse die kritische
Temperatur von 650°C erreichte, und der Versuch wurde gestoppt.
Die durchschnittliche Siliciumabscheidungsrate für den Ver
gleichsversuch war 1,3 mm/h.
Claims (6)
1. Im wesentlichen geschlossener Reaktor umfassend eine Basis
platte (1) und einen Behälter (8), der darauf angeordnet ist,
unter Bildung einer Reaktionskammer, die geeignet ist, um darin
ein chemisches Dampfphasen-Abscheidungverfahren von Silicium aus
einer gasförmigen Mischung, die Wasserstoff und ein Chlorsilan
der Formel ClnSiH4-n worin n 1, 2, 3 oder 4 ist, auf einer
Vielzahl von beheizten Siliciumelementen (7), die innerhalb der
Kammer angeordnet sind, zu bewirken, wobei der Reaktor dadurch
gekennzeichnet ist, daß ein extern gekühltes Wärmeaustausch
element (12) innerhalb der Kammer angeordnet ist, um die Tempe
ratur der in der Kammer vorhandenen Gasmasse zu vermindern, ohne
die Mehrzahl der beheizten Siliciumelemente (7) von der von den
Siliciumelementen emittierten Strahlungswärme wesentlich abzu
schirmen.
2. Reaktor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das
Wärmeaustauschelement (12) zwei konzentrisch angeordnete Röhren
umfaßt, die ein inneres Lumen und ein äußeres Lumen erzeugen,
durch das ein Wärmeaustauschmedium zirkuliert werden kann.
3. Reaktor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das
Wärmeaustauschelement (12) ein Rohr umfaßt mit einem inneren
Lumen, wobei das Rohr ein oder mehrere externe Rippen mit Lumina
darin aufweist, durch die eine Wärmeaustauschflüssigkeit zirku
liert werden kann.
4. Reaktor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das
Wärmeaustauschelement (12) so angeordnet ist, daß weniger als
50% der von den beheizten Siliciumelementen (7) emittierten
Strahlungswärme von einem Kontakt mit anderen beheizten Sili
ciumelementen (7) in dem Reaktor abgeschirmt werden.
5. Verfahren zur Herstellung von Silicium mit Halbleiterquali
tät, umfassend, daß man
- (A) eine gasförmige Mischung aus Wasserstoff und einem Chlorsi lan der Formel ClnSiH4-n, worin n 1, 2, 3 oder 4 ist, in einen im wesentlichen geschlossenen Reaktor einleitet, der eine Basisplatte (1) und einen Behälter (8) umfaßt, die eine Reaktionskammer definieren, wobei innerhalb der Kammer eine Vielzahl von beheizten Siliciumelementen (7) angeord net ist,
- (B) Strom durch die beheizten Siliciumelemente (7) leitet, um ein Beheizen der Siliciumelemente über die Zersetzungstem peratur des Chlorsilans zu bewirken, wodurch eine heteroge ne Abscheidung von elementarem Silicium auf den beheizten Siliciumelementen (7) bewirkt wird und die Gasmasse inner halb der Kammer erhitzt wird und
- (C) eine Wärmeaustauschflüssigkeit durch ein extern gekühltes Wärmeaustauschelement (12), das innerhalb der Kammer an geordnet ist, leitet, um das Erwärmen der Gasmasse zu ver mindern, wodurch die Siliciumbildung durch homogene Nukleierung innerhalb der Kammer vermindert wird, ohne die Mehrzahl der beheizten Siliciumelemente (7) wesentlich von der von den Siliciumelementen emittierten Strahlungswärme abzuschirmen.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß das
Chlorsilan Trichlorsilan ist und die Temperatur der Gasmasse
innerhalb des im wesentlichen geschlossenen Reaktors geringer
als etwa 650°C ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US18886194A | 1994-01-31 | 1994-01-31 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19502865A1 true DE19502865A1 (de) | 1995-08-03 |
Family
ID=22694856
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1995102865 Withdrawn DE19502865A1 (de) | 1994-01-31 | 1995-01-30 | Verbesserter Reaktor zur CVD-Abscheidung von Silicium mit Halbleiterqualität |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07226384A (de) |
DE (1) | DE19502865A1 (de) |
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EP2578724A1 (de) | 2011-10-07 | 2013-04-10 | Wacker Chemie AG | Vorrichtung und Verfahren zur Abscheidung von polykristallinem Silicium |
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-
1995
- 1995-01-30 DE DE1995102865 patent/DE19502865A1/de not_active Withdrawn
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EP2719663A1 (de) | 2012-10-15 | 2014-04-16 | Wacker Chemie AG | Verfahren zur Abscheidung von polykristallinem Silizium |
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CN110306171B (zh) * | 2019-06-28 | 2023-09-08 | 郑州磨料磨具磨削研究所有限公司 | 一种改善气体分布的沉积室及mpcvd装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07226384A (ja) | 1995-08-22 |
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