DE1905415A1 - Verfahren zum Dotieren von Silicium- oder Germaniumkristallen mit Antimon und/oder Wismut - Google Patents

Verfahren zum Dotieren von Silicium- oder Germaniumkristallen mit Antimon und/oder Wismut

Info

Publication number
DE1905415A1
DE1905415A1 DE19691905415 DE1905415A DE1905415A1 DE 1905415 A1 DE1905415 A1 DE 1905415A1 DE 19691905415 DE19691905415 DE 19691905415 DE 1905415 A DE1905415 A DE 1905415A DE 1905415 A1 DE1905415 A1 DE 1905415A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
doping
compound
antimony
bismuth
crystals
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19691905415
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Dr Helmut Murrmann
Dr Erich Pammer
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19691905415 priority Critical patent/DE1905415A1/de
Priority to NL6916174A priority patent/NL6916174A/xx
Priority to FR7003532A priority patent/FR2033290A1/fr
Priority to CH141370A priority patent/CH527641A/de
Priority to AT93770A priority patent/AT307507B/de
Priority to GB499370A priority patent/GB1253765A/en
Priority to JP934470A priority patent/JPS4824666B1/ja
Priority to SE143270A priority patent/SE354791B/xx
Publication of DE1905415A1 publication Critical patent/DE1905415A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/22Diffusion of impurity materials, e.g. doping materials, electrode materials, into or out of a semiconductor body, or between semiconductor regions; Interactions between two or more impurities; Redistribution of impurities
    • H01L21/223Diffusion of impurity materials, e.g. doping materials, electrode materials, into or out of a semiconductor body, or between semiconductor regions; Interactions between two or more impurities; Redistribution of impurities using diffusion into or out of a solid from or into a gaseous phase

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
DE19691905415 1969-02-04 1969-02-04 Verfahren zum Dotieren von Silicium- oder Germaniumkristallen mit Antimon und/oder Wismut Pending DE1905415A1 (de)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19691905415 DE1905415A1 (de) 1969-02-04 1969-02-04 Verfahren zum Dotieren von Silicium- oder Germaniumkristallen mit Antimon und/oder Wismut
NL6916174A NL6916174A (fr) 1969-02-04 1969-10-27
FR7003532A FR2033290A1 (fr) 1969-02-04 1970-02-02
CH141370A CH527641A (de) 1969-02-04 1970-02-02 Verfahren zum Dotieren von Silicium- oder Germaniumkristallen mit Antimon und/oder Wismut
AT93770A AT307507B (de) 1969-02-04 1970-02-02 Verfahren zum Dotieren von Silizium- oder Germaniumkristallen mit Antimon und bzw. oder Wismut
GB499370A GB1253765A (en) 1969-02-04 1970-02-03 Improvements in or relating to the doping of silicon or germanium crystals with antimony and/or bismuth
JP934470A JPS4824666B1 (fr) 1969-02-04 1970-02-04
SE143270A SE354791B (fr) 1969-02-04 1970-02-04

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19691905415 DE1905415A1 (de) 1969-02-04 1969-02-04 Verfahren zum Dotieren von Silicium- oder Germaniumkristallen mit Antimon und/oder Wismut

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1905415A1 true DE1905415A1 (de) 1970-08-06

Family

ID=5724275

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19691905415 Pending DE1905415A1 (de) 1969-02-04 1969-02-04 Verfahren zum Dotieren von Silicium- oder Germaniumkristallen mit Antimon und/oder Wismut

Country Status (8)

Country Link
JP (1) JPS4824666B1 (fr)
AT (1) AT307507B (fr)
CH (1) CH527641A (fr)
DE (1) DE1905415A1 (fr)
FR (1) FR2033290A1 (fr)
GB (1) GB1253765A (fr)
NL (1) NL6916174A (fr)
SE (1) SE354791B (fr)

Also Published As

Publication number Publication date
CH527641A (de) 1972-09-15
AT307507B (de) 1973-05-25
SE354791B (fr) 1973-03-26
JPS4824666B1 (fr) 1973-07-23
FR2033290A1 (fr) 1970-12-04
GB1253765A (en) 1971-11-17
NL6916174A (fr) 1970-08-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2557079C2 (de) Verfahren zum Herstellen einer Maskierungsschicht
DE1185151B (de) Verfahren und Vorrichtung zum Herstellen von einkristallinen, insbesondere duennen halbleitenden Schichten
DE2306614C2 (de) Verfahren zum Eindiffundieren von Arsen in Silicium aus einer arsendotierten Glasschicht
DE1514807B2 (de) Verfahren zum herstellen einer planaren halbleiteranordnung
DE1213054B (de) Diffusionsverfahren zur Herstellung von Halbleiteranordnungen
DE1034776B (de) Diffusionsverfahren fuer leitungstypbestimmende Verunreinigungen in Halbleiteroberflaechen
DE1931417B2 (de) Verfahren zur doppeldiffusion von halbleitermaterial
DE1519914B2 (de) Vorrichtung zum Ziehen eines Verbindungshalbleiterknstalls
DE1614385B1 (de) Verfahren zum herstellen einer halbleiteranordnung
DE3019635A1 (de) Verbesserung eines verfahrens zur herstellung von platten-, band- oder folienfoermigen siliziumkristallkoerpern fuer solarzellen
DE1018558B (de) Verfahren zur Herstellung von Richtleitern, Transistoren u. dgl. aus einem Halbleiter
DE1905415A1 (de) Verfahren zum Dotieren von Silicium- oder Germaniumkristallen mit Antimon und/oder Wismut
EP0008642A1 (fr) Procédé de diffusion de bore dans des substrats de silicium
DE1913565B2 (de) Verfahren zur Herstellung eines Kristalls einer halbleitenden A"1 Bv -Verbindung
DE2439535A1 (de) Verfahren zum eindiffundieren aktiver stoerelemente in halbleitermaterialien
DE2315894A1 (de) Verfahren zum durchfuehren von diffusionen mit zwei quellen
DE1919563A1 (de) Verfahren zum Herstellen von mit Gallium diffundierten Zonen in Halbleiterkristallen
DE1444520A1 (de) Halbleiteranordnung und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE2624513A1 (de) Verfahren zur herstellung eines feldeffekttransistors
DE2915883A1 (de) Verfahren zum anbringen einer epitaktischen schicht
DE1444536C3 (de) Verfahren zum Diffusionsdotieren eines Silicium-Halbleiterkristalls
AT202981B (de) Verfahren und Kohleofen zum Herstellen von Siliziumkarbid-Halbleiterkristallen durch Sublimation
DE1925969C (de) Verfahren zum Niederschlagen einer aus Oxiden von Antimon und Silicium aufgebauten Schicht auf einen Halbleiterkörper
DE1224278B (de) Verfahren zum Herstellen von dotierten, einkristallinen Halbleiterschichten
DE2023992A1 (de) Verfahren zum Dotieren von Silicium- oder Germaniumkristallen mit Antimon und/ oder Wismut im Einzonenofen