DE1806520A1 - Verfahren und Anordnung zum Einschiessen geladener Partikeln in einen Hochfrequenz-Massenanalysator - Google Patents

Verfahren und Anordnung zum Einschiessen geladener Partikeln in einen Hochfrequenz-Massenanalysator

Info

Publication number
DE1806520A1
DE1806520A1 DE19681806520 DE1806520A DE1806520A1 DE 1806520 A1 DE1806520 A1 DE 1806520A1 DE 19681806520 DE19681806520 DE 19681806520 DE 1806520 A DE1806520 A DE 1806520A DE 1806520 A1 DE1806520 A1 DE 1806520A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
analyzer
particles
charged particles
mass analyzer
source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19681806520
Other languages
English (en)
Inventor
Wilson M Brubaker
Robinson Charles F
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Bell and Howell Co
Original Assignee
Bell and Howell Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bell and Howell Co filed Critical Bell and Howell Co
Publication of DE1806520A1 publication Critical patent/DE1806520A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/02Details
    • H01J49/06Electron- or ion-optical arrangements
    • H01J49/067Ion lenses, apertures, skimmers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/36Radio frequency spectrometers, e.g. Bennett-type spectrometers, Redhead-type spectrometers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Description

BELL & HOWSJjL COMPANY, eine Gesellschaft nach den Gesetzen des Staates Illinois, Chicago., Staat Illinois (V.St.A.)
Verfahren und Anordnung zum Einschießen geladener Partikel in einen Iiachfrequens-Massenanalysator
Di© Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Anord~ nung für einen Hochfrequenz-Massenanalysator mit ungleichförmigem elektrischen Feld, in dessen Eingang geladene Partikel so hineingeschossen werden, daß aufgrund der Trennwirkung des elektrischen Analysatorfeldös Partikel mit vorgegebener Masse den Analysator durchlaufen und nach ihrem Austritt aus dem Analysator aufgefangen werden.
Unter der Bezeichnung "Hochfrequenz-Massenanalysator mit ungleichförmigem elektrischen Feld" werden einr, zwei-und vierpolige Massenanalysatoren verstanden. Mit dieser Bezeichnung sollen ferner Massenanalyaatoren mit swei koaxialen Zylindern umschrieben werden, wobei diese Zylinder ein analysierendes Gebiet in dem zwischen dem Äußeren des kleineren Zylinders und dem
909828/1056
Inneren cues größeren Zylinders befindlichen Raum bestimmen. In j«dem der genannten Mas.senanalysatortypen erfahren die durch die Jälfigangsapertur ins diesen Analysator eingeleiteten geladenen Partikel einen Übergangsimpuls, wenn sie in «las starke elektrische Feld innerhalb des Analysators eintreten»
Aufgrund dieses Impulses treffen Partikel, die normalerweise den Analysator durchlaufen- wurden, auf die Elektroden des Analysators und werden entladen? dadurch bildet sich an dem Eingangsgebiet des Analysators eine Isolierende Schicht aus, die die Wirkung des analysierenden Feldes herabsetzt» Der Impuls, den die Partikel beim Durchlaufen des Übergangsbere.iches erfahren, karra auch di** Ausbildung einer Wolke aus geladenen Partikeln in der Nähe des Eingangsgeeistes des Analysators zur Folge haben; es kenn sich in diesem Gebiet eine Raumladung ausbilden , dia die Feldstärke und die Wirkung des analysierenden Feldes verkleinert.
Zur Bekämpfung dieser unerwünschten Einflösse beschränkt man die Eingangsapertur bei den Analysatoren mit stabförmigen Elektroden ohne Magnetfeld auf eine relativ kleine Gestalt, um die in den Analysator gegebenen Partikel auf ein Gebiet zu beschränken, das relativ nahe der Achse des Instrumentes liegt· Die in den Analysator eintretenden geladenen Partikel werden dadurch auf Gebiete beschränkt, in denen das analysierende Föld ungefähr Null oder jedenfalls von sehr kleiner Stärke ist, so daß die Beeinflussung der Teilchen bei dem Eintritt in das Feld klein bleibt und sich die oben erwähnten Isolations- und Raumladungswirkungen kaum einstellen· In den Analysatoren mit koaxialen Elektroden ist das analysierende Feld nahe-
909828/1056 bad
su gleichförmig In dem ganzen von den beiden Zylindern begrenzten Gebiet. Die Mehrzahl der in diese Analysatoren eintretenden geladenen Partikel können ihn in seiner ganzen Länge nur dann durchlaufen, wenn sie in ihn nur während genau festgelegter Phasenwinkelintervelle eintreten. Wsnn derartige Partikel kontinuierlich entlang dem mittleren Radius des Analysators eingeschossen wsx-den» beträgt der w.trkungsgz-ad der Transmission nur etwa 5 % ,bis 10 %,
Es stellt sich daher die Aufgabe, die Transmission der geladenen Partikel durch die verschiedenen Analysatortypen wesentlich zu verbessern«
Zur Lösung dieser Aufgabe wird aunächst von eine» Hochfrequenz-Hassenanalysator mit ungleichförmigem elektrischen PeId ausgegangen, in dessen Eingang geladene Partikel so hineingeschossen werden, daß aufgrund der Trennwirkung des elektrischen Analysatorfeldes Partikel mit vorgegebener Kasse den Analysator durchlaufen und nach ihrem Austritt aus dem Analysator aufgefangen werden? nach dem erfindungsgemSßen Verfahren werden die geladenen Teilchen nun nur dann in den |
Analysator eingeschossen, wenn sich die in dem Analysator angewandte Wechselspannung in mindestens einem vorgegebenen schmalen Phasenwinfcelbereich befindet. Dadurch wird der Eintritt der geladenen Partikel in den Analysator auf die ' für die Transmission günstigen schmalen Phasenwinkelbereiche des benutzten elektrischen Wechselfeldes beschränkt- Diese Begrenzung geschieht vorzugsweise dadurch, daß die geladenen Partikel in eine Reihe räumlich getrennter Ptslke gebündelt werden, so daß die Partikel in jedem Pulk einen ersten vorgegebenen Raumbereich in einer Zeitspanne & t durchlaufen und daß die Pulke über eine
ORIGINAL 909828/1056
«. 4—
Entfernung d so beschleunigt werden*, daß die Partikel in jedem PuUc einen zweiten vorgegebenen Raumbereich in einer wesentlich kürzeren Zeitspanne als Δ. t durchlaufen. Die für dieses Verfahren benötigte Beschränkungsvorrichtung arbeitet voraugsweis® nach dem Klystron-Prlnssip. Der erfindungsgemäße Hassen·* analysator umfaßt eine erste Gruppe aus mindestens einer länglichen Elektrode und eine zweite Gruppe aus mindestens einer länglichan, au der ersten parallel und ißi wesentlichst gleich ausgedehnt angeordneten Elektrode; ■ er umfaßt weiterhin Gleich- und Wechsel-. spannurigsquellen, die an die !Elektroden angeschlossen sind* um.zwischen der ersten und aweiten Elektrodengruppe elektrische, !ccr«?oinierte Gleich- und Wechselfelder KU erEsixjen j und er umfaßt schließlich eine Quölle geladener Partikel» die am Eingangsbereicfo der beiden Elektrodengruppen angeordnet ist. Zwischen der Quelle und dem Ende der Elektroden sorgen ein oder mehrere Bauteile für die Sintrit.tsbeschr&nkung der geladenen, .von der Quelle erzeugten Partikel für das analysierende Feld auf vorbestimrate PfoasenwinksXbereiche der Wechselspannung. Am Ausgangsgebiet der Elektroden qeaenüber der Quelle für geladene Partikel- ist ein Kollektor vorgesehen, der die durch den Analysator gelaufenen Partikel aufnimmt·
Durch die Eingangsbegrensung der geladenen Partikel für den Analysator, auf ein Zeitintervall, das nur ein kleiner Bruchteil eines Zyklus der Wechselspannung für das analysierende Feld ist, kann das Eintreten der geladenen Partikel in den Analysator auf den günstigsten Phasenwinkel jener Spannung beschräßSst werden. Es ergab sich, daß es swei derartige Period« während jedes Wechselspanmangs-Zyklus" gibt, und atiar eine während des positiven und eine während des
9 0 9 8 2 8/1058 bad original
tiven Zyklusteiles. Vorzugsweise liegen die genannten schmalen Phasenwinkelbereiche bei den Phasenwinkeln 90° und 270° der Wechselspannung, die durch die Beziehung V a VA. sincat bestimmt ist*
Durch ""die ßingangsbegrcnsung dar geladenen Partikel in dem Analysator auf einen oder baics,e der geiennten Zeitintervall© während jedes Zyklus- wird eine wesentliche Verbesserung des Wirkungsgrades der Transmission erreicht, und swar reicht der Wirkungsgrad an 100% heran« Die örfindungsgemäße Verbesserung ist beson- ™
ders gut für Analysatoren mit koaxialen Elektroden wegen deren besonderer PhasenwinkelabhUngigkeit geeignet ο Mit der Anwendung der Erfindung auf Analysatoren mit stabförmigen Elektroden ohne Magnetfeld 1st es jetst möglich, eine wesentlich größere Eingangsapertur für die geladenen Partikel zu benutzen» So ist s.B» in einem konrentioncl-ien Quadrutjol-Massen analysator mit hoher Auflösung ohne die erfindunos— gemäße Verbesserung nur eine Singnngsapertur von ungefähr 3 % bis 5 % des Stabdurchmessers möglich. Wendet man das erfindungsgemSße Verfahren an» dann kann die Eingangsapertur um mehr als eine Größenordnung i
vergrößert werden.
Die Erfindung wird an einigen Ausführungsbeispielen mit Bezug auf die beigefügte Zeichnung im folgenden genauer erläutert· Ss zeigen:
Pig· 1 ein Blockdiagramm eines erfindungsgentäßen Massenanalysators;
Pig· 2 einen Schnitt durch eine erfindungsgemäße Quadrupol-Ausführung;
Pig· 3 eine weitere erfindungsgemäße Ausführung mit einer Ionenquelle, die nach dem, Flugzeit-Prinzip arbeitet, und mit einem Massenanalysator mit koaxialen Zylinderlektröden; und
909828/1056
SAD
FIgβ 4 eine erfindungsgemäße einpolige Ausführung«
Fig» 1 zeigt einen erf indungsgernäßen Massenanalysator in Blockform. Zu ihm gehört eine Quelle für gela-* dene Partikel 12, ein Hochfrequeiiz-Massenanalysator Abschnitt 14 und eine »wischen der Ionenquelle und dem Bingangsgebiet 18 dos Analysatorabschnitts liegende Beschränkungsvorrich'tuncj 16» Hinter dem Aus— gangsbisreich 20 des Analysatorabschnittes befindet sich ein Auffänger 22s der die geladenen Partikel, airs den Analysator durchlaufen haben, aufnimmt? das am Auffänger festgestellte Signal wird auf ein Registriergerät 24 v;eifcergeleitet. In einer besonderen Ausführungsform besteht die Beschränkungsvorricfttung 16 aus einer langgestreckten Anordnung für die Gawinnimg eines Priftrautes, damit die schneller fliegenden geladenen Partikel die langsamer fliegenden geladenen Partikel vor dem Eintritt in den Analysierabschnitt einholen.. Wie noch weiter unten genauer ausgeführt wird, können mit Hilfe einer gegebenen Partikel-Beschleunigungsspannung, eines Taktgebers und einer gegebenen Länge des Triftraumes geladene Partikel gegebener Masse gebündelt und die Bündel räumlich so angeordnet werden, daß alle Bündel in den Analysierabschnitt ira wesentlichen su einem Zeitpunkt eintreten, bei dem sich die auf die Elektroden des Analysators gegebene Wechselspannung in einem Phasenwinkel befindet, der die geringste Störung durch die oben erwähnten Randeffekte in dem Analysator gewährleistet.
Dieses Verfahren wird mit Blick auf Pig. 2 noch ge~ nauer erläutert, in der eine Impulsvorrichtung 26, die nach dem Klystron-Prinzip arbeitet, in der Nähe des Eingangsbereiches eines Quadrupol-Massenanalysators 28 angeordnet ist. Der Quadrupol-Massenanalysator
90982 8/1058
enthält vier parallele, lange Stab? IeJc tr öden, .die symmetrisch zu und mit Abstand von der Mittelachse gehaltert sind» Ge.sinoleküle, die analysiert werden sollen, gelangen durch einen Einlaß 30 in einen Tubus 32· Diese Moleküle werden durch einen von einer Elektronenkanone 34 gelieferten Elektronenstrahl ionisiert und danach mit Hilfe der Elektroden 35,36 vnd 33 in Richtung auf den Sin^ongäböjceich des Masseii-Analysators beschleunigt- Ein t»aar nahe aneinanderstöhönd Elektroden 40 und 42 jenseits des Beschleunigivngsgebietes sind an eine Hochfrequenz-pannungsquelle 44 angeschlossen. Nach der bekannten Klystron-Theorie werden die Partikel moduliert, d.h«, von den durch die nahs at^einander~.stehenden Gitter 40 und 42 laufenden Partikeln werden einige beschleunigt und andere verzögert» je nach der Phase der aus der Quelle 44 kommenden Spannung.
In einem Triftraum 46 zwischen dem Gitter 42 und der E^ingangsapertur 47 des Kcissin-Anaiysators können die schneller fliegenden Partikel die langsamer fliegenden Partikel einholen,, so daß nach dem Durchlaufen des TriftrauHies auf die Apertur 47 hin itiassengleiche Partikel in Bündeln oder Paketen fliegen. Am Eingang zu dem Triftraum passieren die pulsierenden Partikel ein erstes Raumgebiet innerhalb eines ersten Zeitintervalles (At)* Am Ende des Triftrauines sind diese Partikel jetzt gebündelt und passieren ein zweites gegebenes Rauragebiet innerhalb eines zweiten Zeitintervalles (jjjt), das WQsentlich kleiner als das erste ZeitintervaJl ist. Durch das Abstimmen der Länge des Triftraumes und der Amplitude der Beschleunigungsspannung auf Umständer von denen noch weiter unten berichtet wird, werden gebündelte, ionisierte Partikel vorgegebener Masse zu vorgegebenem Zeitpunkt
909828/1056
in die Eingangsapertur 47 der« Analysators gebracht·
Die Elektroden des Analysators sind mit der Wechselspannungsquelle 44 und mit einer Gleichspannungsquelle 45 verbunden, wodurch ein elektrisches, kombiniertes Gleich- und Wechselfeld (ein nicht gleichförmiges elektrisches Feld) in dem durch die Elektroden des Analysators bestimmten Raumgebiet erzeugt wird. Die Ionenquelle und die Itnpulsvorrichtung sind so angeordnet und werden so aktiviert, daß der vorbsstiromte Zeitpunkt der Einspeisung der gebündelten, geladenen Partikel in den Analysator auf gegebene Phasenwinkelbefeiche der auf die Elektroden des Analysators gegebenen Wechselspannung beschränkt wird»
Zu den theore ti. sehen Grundlagen der Arbeitsweise des erfindungsgemäßen Analysators ist das folgende mitzuteilen: Die Strecke für das Zusammenführen und Bündeln des Ionenstrahles auf seinem Wege durch die Triftröhre sei S; die Geschwindigkeit des Strahles ohne Modulation sei V3; dann beträgt die Zeit für das Durchlaufen dieser Strecke to oder Wenn die Teilchen die kinetische Energie 1/2 erhalten sollen, ist dazu die elektrische Energie Vq nötig, wobei beide Energieformen über die Beziehung
Vq » 1/2 rav2
zusammenhängenο Dabei bedeuten V die Beschleunigungsspannung, q die Ladung eines Teilchens, m seine Masse und ν seine Geschwindigkeit, die es nach Durch laufen der Potentialdifferenz V gewonnen hat. In einem Ausführungsbeispiel einer Triftröhre ist die
9 0 9 8 2 8/1056 ftA0
Durchgangssseit durch die Triftröhre auf eine Zeit t begrenzt, die gleich der Zyklus-Dauer der Wechselspannung für die Elektroden des Analysator^ ist. In diesem Pail ist die LMnge S des Triftrauraes gegeben durch
S= (2VO)
wobei V0 die Nenn-Beschleunigungsspannung, f die Frequenz der Wechselspannung an den Elektroden des Analysator s und dV die modulierende Spannung bedeuten, die der Nenn-Beschleunigungsspannung für die Erzeugung der Teilchenbündel aufgeprägt ist.
Wenn die Durchganga2eit der geladenen Teilchen von ihrer Masse unabhängig sein soll, erhält die Nenn-Böschleunigungsspannung V0 einender Masse proportionalen Wert. Bei dieser Beschränkung ist dann
dV/Vo a konstant 9 (2)
Die Gleichungen (1.) und (2) sind Dimensionlerungsgleichungen für die Gestaltung einer Quelle für einen erfindungsgemäßen Analysatorν Die Verwendung einer Ionenquelle in Übereinstimmung mit diesen Dimensionierungsgleichungen ergibt ein Bündeln geladener Partikel, die an der Eingangsapertur des Analysatorabschnittes in Zeitintervallen ankommen, die Phasenwinkeln von 90° und 270° der Wechselspannung an den Elektroden des Analysatorabschnittes entsprechen; dabei ist die Wechselspannung gegeben durch V = VA« sind) t mit V^ der Maximalamplitude der Spannung* Die erfindungsg2in8ße Verbesserung des Transmissions-Wirkungsgrades wird erreicht, wenn die Partikel an der Eingangsapertur in Zeitintervallen ankommen, die einem schmalen Phasenwinkelbereich (^ 10°)
909828/1056 S*D original
um die Winkel 90° und 270° herum entsprechen·
In einer anderen erfindungsgemäßen Ausführungsform (Fig. 3) befindet sich ein Modul 48 ähnlich einem Flugaeit-Massenanalysator zwischen einer Quelle für geladene Partikel und einem Hochfrequenz«-Ma§senana·- lysator mit nicht gleichförmigem elektrischem Feld» Ein Flugzeitabschnitt 48 liegt zwischen dem Eingangsbereich eines Massenanalysators 50 mit koaxialen Elek~ troden. Der Analysator enthält ein paar lange koaxia~ Ie Zylinder, von denen einer einen kleineren Radius besitzt und ganz im Inneren des anderen Zylinders angeordnet ist. Die Moleküle der zu analysierenden Probe gelangen durch den Einlaß 52 herein, werden durch Elektronen aus der Kanone 54 ionisiert und infolge des elektrischen Potentialgefälles zwischen der Elektrode 56 und den Gittern 58 und 60 in Richtung auf das Analyslergebiet beschleunigt. Die Elektrode 56 und die Gitter 58 und 60 sind über eine geeignete Spannungsteilerimpedanz 62 mit einer Hochspannungsversorgung 64 verbunden, die selbst wieder an einen Impulsformer 66 angeschlossen ist« Das Impulsformer-Gerät 66 ist über eine geeignete Verzögerungsschaltung 68 mit einer WechselSpannungsquelle 70 verbunden, die auch mit den Zylindern 72 und 74 des Analysators in Verbindung stehen. Eine Gleichspannungquelle 76 liegt in Reihe mit der Quelle 70 und besitzt ebenfalls eine Verbindung zu den Zylindern des Analysators, um den Aufbau eines kombinierten statischen und wechselnden elektrischen Feldes in dem Gebiet zwischen den beiden Zylindern zu erwirken«
909828/105 6
BAD
Die Verzögerungsschaltung 68 liefert die gewünschte Zeitverzögerung swischen der Quelle 70 und dem Impulsformer, so daß geladene Partikel aus einem gegebenen Massenbereich den Triftraum 78 durchlaufen und das Eingangsgebiet des analysierenden Feldes erreichen, wenn der Phasenwinkel der Wechselspannung an den Elektroden des Analysator« geeignete Werte besitzt· Wie bereits erwähnt,, liegen die für den Eintritt günstigen Phasenwinkel in einem schmalen Bereich um die Winkel 90° und 270° herum, wenn die Wechselspannung durch die Beziehung V = VA sin ω t bestimmt ist.
ßin weiteres erfindungsgemäßes Ausführungsbeispiel ist in Fig. 4 dargestellt. Hier ist die impulsformende Vorrichtung SO verbunden mit einem Elektrodenpaar 82 in dem Gabiet zwischen der Ionisierung der durch den Einlaß 86 eingetretenen Moleküle durch Elektronen aus der Kanone 84 und der Eingangsapertur 88 eines Massenanlaysators 90. Dieser Massenanalysator 90 enthält eine langgestreckte Stabelektrode 92 und eine rechtwinklige Elektrode 94, die sich in Längsrichtung und abgesetzt von der Elektrode 92 erstreckt, wie das in einpoligen Massenanalysatoren üblich ist. Bei dieser besonderen Analysatorbauart wie auch bei den anderen Analysatortypen mit nicht gleichförmigem elektrischen Feld, die hier betrachtet wurden, liegt die Grundfrequene der Wechselspannung an den Elektroden in dem MHz-Gebiet; aus diesem Grunde und weil die Frequenz, mit der die Ionen in den Analysator eingeschossen werden, das Doppelte der Grundfrequenz der Wechselspannung ist, beträgt die günstigste Einschußzeit nur einen kleinen Bruchteil einer Miferosekunde« Daher können die in der Quelle erzeugten Ionen in ihr für dieses kurze Zeitintervall gesammelt und dann in Form von Pulken in
9 0 9 8 2 8/1056 sad
dem gewünschten Zeitabstand in den Analysator geschossen werden. Oa ein Triftraue nicht vorgesehen ist, werden alle geladenen Partikel dar Probe dem Analysator zugeführt· Dadurch ist die Rauntladuna in dem Analysator in dieser AusfUhrungsform etwas größer als in den Ausführungen entsprechend den Fig· l-»3; aber diese vergrößerte Ladung ist wesentlich geringer als jene Raumladung, deren man in Analysatoren mit gewöhnlichen lonenquellen begegnet· In allen Fällen ist der Transmissions-Wirkungsgrad sehr viel P günstiger, da die Eingangsapertur 88 gegenüber früheren Ausführungen wesentlich größer gehalten werden kann.
In den Anordnungen nach den Fig. 1-4 können die Ionen kontinuierlich in einer Quelle erzeugt und diese geladenen Partikel mit hohem Wirkungsgrad analysiert und sortiert werden. Durch die Konzentration der in den Massenanalysator eintretenden Ionen auf Zeiten, die für ihre Transmissionswahrscheinlichkeit sehr günstig sind, wird die Empfindlichkeit der Anordnung sehr günstig beeinflußt. Das Bündeln der ge- ^ ladenen Partikel und die EingangsbeschrHnkung auf bestimmte Phasenwinkelbereiche sind dann noch wirkungsvoller, wenn es sich um große lonenenergien handelt und die Ionen das Randfeld im Eingangebereich des Maeeenanalysators in weniger als swei Zyklen der angewandten Wechselspannung durchlaufen·
In einer anderen Au»fUhrungeforn der Massenanalysatoren mit stabfOmigen Elektroden sind zwei Stabelektroden parallel un eine central· Achse herum angeordnet· Von den beiden Stuben abg*««tst let eine vorsugsveite in der Form einer ebenen Platt· ausgebildete Elektrode vorgesehen, die relativ su den beiden anderen Stob-
909828/1056
elektroden so angeordnet ist, daß die Plattenebene parallel zu der durch die beiden Stabelektroden definierten Ebene liegt· Diese Analysatorart wird gewöhnlich als ein zweipoliger Massenanalysator bezeichnet und ist im einzelnen, z. B. in der amerikanischen Patentschrift 3 418 464 beschrieben.
Die verschiedenen Ausführungsfornen der beschriebenen lonenquellen sind in dem zweipoligen Massenanalysator gleich gut verwendbar. Obgleich spezielle Ausführungsformen der erfindungsgeraäßen Ionenquelle in Verbindung mit bestimmten Arten von Massenanalysatoren beschrieben wurden, stellen die angegebenen Beispiele keine Begrenzung des erfinderischen Gedankens, sondern lediglich seine Erläuterung dar. Die verschiedenen Ausführungen der beschriebenen lonenquellen können wechselseitig mit den verschiedenen Typen von Hassenanalysatoren, wie sie oben beschrieben wurden, verwendet werden.
9098 28/1 056

Claims (6)

  1. Ansprüche
    1· Arbeitsverfahren für einen Hochfrequenz~Massen*- analyaator mit ungleichförmigem elektrischen Feld, in dessen Eingang geladene Partikel so hineingegeben werden, daß aufgrund der Tresmwirkung des sehen Analysatorfeldes Partikel mit vorgegebener Kasse den Analysator d«ir cn laufen und nach ihrem Austritt aus dem Analysator aufgefangen werden, dadurch gekeiMH zeichnet, daß die geladenen Partikel nur dann in den Analysator eingegeben werden, wenn sich die In dtnrs, Analysator angewandte Wechselspannung in mindestens einem vorgegebenen schmalen Phasenwlnkelbereich befindet» ' "
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1» dadurch gekennzeichnet, daß die geladenen Partikel in eine Reihe räumlich getrennter Pulke gebündelt werden, so daß die Partikel in Jedem Pulle einen ersten vorgegebenen Raumbereich in einer Zeitspanne £t durchlaufen; und daß die Pulke über eine Entfernung d so beschleunigt werden9 daß die Partikel in jedem Pulk eins« zweiten vorgegebenen Raumbereich in einer wesentlich küreeren Zeitspanne als /}t durchlaufen*
  3. 3« Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet $ daß die schmalen Phasenwinleelfcereiche bei und 270° liegen· .
  4. 4· Massenanalysator zur Ausführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1-3 mit einer erstem Gruppe aus mindestens einer langgestreckten Elektrode und einer aweiten Gruppe aus mindestens .eines· l®fö<g§e- ; streckten, zu der ersten parallel wru im ueaentli-· " eben gleich auegedehnt angeordneten Eloktrode, ferner ~
    . ; 909828/1056
    mit einer Gleich- und einer Wechselspannungsquelle, die an die Elektroden angeschlossen sind, um zwischen der ersten und zweiten Elefctrodengruppe ein elektrisches, kombiniertes Gleich- und Wechselfeld zu erzeugen, wobei weiterhin vor einem Eingang in den räumlichen Bereich der Elektroden eine Quelle für geladene Partikel und hinter dem Ausgang des Elektrodenbereiches ein Auffänger für die Partikel angebracht ist, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der Partikel- ä
    quelle (12) und dem Eingangsbereich (18) der Elektroden eine BeschrSnktmgsvorrichtung (16,26,48,80) angebracht ist, die den Eintritt der geladenen Partikel in den Analysator auf die Phasenwinkelbereiche beschränkt.
  5. 5* Massenanalysator nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Beschränkungsvorrichtung einen Impulsformer (26,66,80) aufweist, der die aus der Quelle kommenden Partikel so pulsieren läßt, daß sie den Eingangsbereich der Elektroden in Bündeln erreichen»
  6. 6. Massenanalysator nach Anspruch 5, dadurch gekenn- I
    zeichnet, daß die Beschränkungsvorrichtung einen Triftraum (46,78) umfaßt, der zwischen dem Impulsformer und dem Eingangsbereich liegt·
    7· Massenanalysator nach einem der Ansprüche 4 - 6, dadurch gekennzeichnet, daß die BeechrSnkungsvorrichtung aus einer Anordnung (26) besteht, die nach des Klystron-Prinzip arbeitet.
    8· Massenanalysator n*ch einem der Ansprüche 5-7, dadurch gekennseichnet, dafi der Inpulsforner mindestens eine Gitterelektrode (58), die im Wege der
    909828/1056
    geladenen Partikel zwischen der Quelle und dem Eingangstosreich angeordnet ist, und einen elektrischen Impulsgenerator umfaßt, der mit der Gitterelektrode verbunden ist.
    9» Massenanalysator nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß eine Triftröhre (78) swischen der Gitterelektrode und dem Ausgang der Quelle vorgesehen ist»
    909828/1056 ä*D ORIGINAL
    it
DE19681806520 1967-11-06 1968-11-02 Verfahren und Anordnung zum Einschiessen geladener Partikeln in einen Hochfrequenz-Massenanalysator Pending DE1806520A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US68074267A 1967-11-06 1967-11-06

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1806520A1 true DE1806520A1 (de) 1969-07-10

Family

ID=24732329

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19681806520 Pending DE1806520A1 (de) 1967-11-06 1968-11-02 Verfahren und Anordnung zum Einschiessen geladener Partikeln in einen Hochfrequenz-Massenanalysator

Country Status (2)

Country Link
US (1) US3555271A (de)
DE (1) DE1806520A1 (de)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3629573A (en) * 1970-08-20 1971-12-21 Bendix Corp Monopole/quadrupole mass spectrometer
JPS6082956A (ja) * 1983-10-14 1985-05-11 Seiko Instr & Electronics Ltd 交流変調型四重極分析装置
US6153880A (en) * 1999-09-30 2000-11-28 Agilent Technologies, Inc. Method and apparatus for performance improvement of mass spectrometers using dynamic ion optics
KR100890579B1 (ko) * 2002-08-19 2009-04-27 프로테온 주식회사 Rna 결합 단백질의 유전자를 융합파트너로 이용한재조합 단백질의 제조방법
US6794647B2 (en) 2003-02-25 2004-09-21 Beckman Coulter, Inc. Mass analyzer having improved mass filter and ion detection arrangement
US7186972B2 (en) * 2003-10-23 2007-03-06 Beckman Coulter, Inc. Time of flight mass analyzer having improved mass resolution and method of operating same
US8258470B2 (en) * 2008-12-15 2012-09-04 Edward W Sheehan Radio frequency lens for introducing ions into a quadrupole mass analyzer

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2726335A (en) * 1954-04-12 1955-12-06 Phillips Petroleum Co Mass spectrometer
US2950389A (en) * 1957-12-27 1960-08-23 Siemens Ag Method of separating ions of different specific charges
US3075076A (en) * 1958-12-12 1963-01-22 Siemens Ag Gas-analyzing method and apparatus
US3371205A (en) * 1964-11-17 1968-02-27 Cons Electrodynamics Corp Multipole mass filter with a pulsed ionizing electron beam

Also Published As

Publication number Publication date
US3555271A (en) 1971-01-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4430240B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Analysieren von Ionen
DE882769C (de) Verfahren und Einrichtung zur Trennung geladener Teilchen von verschiedenem e/m-Verhaeltnis
DE19517507C1 (de) Hochfrequenz-Ionenleitsystem
DE2546225A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur ionenzyklotronresonanzspektroskopie mit fourier-transformation
DE112011104377T5 (de) Ionendetektion
DE2040521A1 (de) Massenspektrometer
DE2825760C2 (de) Einrichtung zum alternativen Nachweis von positiv und negativ geladenen Ionen am Ausgang eines Massenspektrometers
DE2701606A1 (de) System zum verarbeiten positiver und negativer ionen im massenspektrometer
DE2018297A1 (de) Verfahren und Einrichtung zum Erzeugen von Massenspektren
DE3627605C2 (de)
DE1806520A1 (de) Verfahren und Anordnung zum Einschiessen geladener Partikeln in einen Hochfrequenz-Massenanalysator
CH656229A5 (de) Verfahren zur ionen-zyklotron-resonanz-spektroskopie.
DE19635645A1 (de) Hochauflösende Ionendetektion für lineare Flugzeitmassenspektrometer
DE2458025A1 (de) Vorrichtung fuer massenanalyse und strukturanalyse einer oberflaechenschicht durch ionenstreuung
DE2340372A1 (de) Doppelfokussierendes massenspektrometer hoher eingangsapertur
DE102013015046A1 (de) Bildgebendes Massenspektrometer und Verfahren zum Steuern desselben
DE4408489C2 (de) Massenspektrometer
EP0378648B1 (de) Icr-ionenfalle
EP0221339B1 (de) Ionen-Zyklotron-Resonanz-Spektrometer
DE1498983A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Trennung von Ionen verschiedener spezifischer elektrischer Ladung
WO2006119966A2 (de) Verfahren und vorrichtungen zum massenselektiven ionentransport
DE1673223A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Massen-Spektrometrie
DE1698175A1 (de) Geraet zur Erzeugung von fuer massenspektrometrische Analysen dienende Ionen
DE1589037C3 (de) Wanderwellen- Linearbeschleuniger
EP0200027A2 (de) Ionen-Zyklotron-Resonanz-Spektrometer