DE1619998B2 - Vorrichtung zum thermischen behandeln von scheibenfoermigen halbleiterkoerpern - Google Patents
Vorrichtung zum thermischen behandeln von scheibenfoermigen halbleiterkoerpernInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum thermischen Behandeln von scheibenförmigen Halbleiterkörpern,
die am Boden eines zylindrischen Behandlungsgefäßes angeordnet sind, mit einer unterhalb dieses
Bodens befindlichen, flächenhaft ausgedehnten und mit ihrer Oberseite sich parallel zu den zu behandelnden
Scheiben erstreckenden Heizvorrichtung, die mittels ihrer Stromzuführungselektroden gehaltert ist.
Solche Vorrichtungen sind beispielsweise in der DT-OS 16 44 017 und in der DT-AS 12 16 851
beschrieben.
Zum Herstellen von Halbleiterbauelementen, z. B. aus Silicium, wird häufig' das als Epitaxie bekannte
Verfahren angewendet. Dieses Verfahren besteht darin, daß man scheibenförmige Halbleiterkristalle, insbesondere
Einkristalle, auf eine hohe, jedoch unterhalb des Schmelzpunktes des Halbleiters liegende Temperatur
aufheizt und gleichzeitig über die Scheiben ein Reaktionsgas hinwegleitet, welches bei der Temperatur
der Scheiben den betreffenden Halbleiter auf den Scheiben in vorzugsweise einkristallinem Zustand
niederschlägt. Die Beheizung der Halbleiterscheiben erfolgt vornehmlich auf elektrischem Wege, indem z. B.
diese Scheiben während des Abscheidevorganges mit einem aus hitzebeständigem, leitendem Material bestehenden,
von einem elektrischen Heizstrom durchflossenen Träger und Heizer in direkter Berührung oder über
eine isolierende Zwischenschicht in mittelbarem Kontakt gehalten werden. Natürlich sind auch andere
Beheizungsarten möglich. Als Reaktionsgas verwendet man aus verschiedenen bekannten Gründen zweckmäßig
eine Halogen- oder Halogen-Hydrid-Verbindung des darzustellenden Elementes. Dieser aktive Bestandteil
wird zweckmäßig mit Wasserstoff, gegebenenfalls auch mit einem Inertgas, verdünnt. Häufig werden auch
dotierende Zusätze in definierter Konzentration zum Reaktionsgas angewendet.
Bei der Herstellung von Halbleiterbauelementen durch Epitaxie werden hohe Gleichmäßigkeiten der
abgeschiedenen Schichten bezüglich ihrer Stärken und Dotierungen verlangt. Eine der hierfür notwendigen
Voraussetzungen ist eine äußerst gleichmäßige Aufheizung der zu behandelnden Halbleiterscheiben. Die
andere ist die, Wärmeverluste auszugleichen.
Man hat dazu drei Möglichkeiten:
Man hat dazu drei Möglichkeiten:
1. Die Stromzuführungselektroden werden so dimensioniert,
daß die in ihnen entstehende Joulesche Wärme die durch Wärmeableitung bedingten Verluste ausgleicht;
2. man verwendet einen Teil der von der Heizvorrichtung abgestrahlten, jedoch nicht zur Erhitzung der
ίο zu behandelnden Halbleiterscheiben dienenden
Wärmeenergie dazu, um die besagten Wärmeverluste durch die Elektroden zu kompensieren.
Beispielsweise kann die an der Unterseite der Heizvorrichtung abgestrahlte Wärmeenergie ganz
oder teilweise durch Reflexion der Anschlußstellen der Stromzuleitungselektroden zugeführt werden;
3. man kann zusätzliche Hilfswärmequellen in der Nähe der Anschlußstellen der Stromzuleitungselektroden
anordnen, welche den genannten Wärmeverlusten entgegenwirken.
Demgemäß wird nach der Erfindung vorgeschlagen, daß unter der Heizvorrichtung mindestens ein Strahlungsschirm
oder mindestens eine zusätzliche Heizvorrichtung vorgesehen ist, oder daß die Stromzuführungen
so dimensioniert sind, daß die in ihnen während des Betriebes entstehende Joulesche Wärme die durch
Wärmeableitung bedingten Verluste ausgleicht.
Wichtig ist, daß die besagten, eine lokale Kühlung des Heizers bedingenden Wärmeverluste durch die genannten
Maßnahmen zwar möglichst ausgeglichen, jedoch nicht so weit überkompensiert werden, daß durch solche
Maßnahmen bedingte eventuelle Temperaturerhöhungen zu solchen Temperaturunterschieden führen, daß
die auszugleichenden Temperaturunterschiede lediglich ihr Vorzeichen gewechselt haben, ohne daß hierdurch
eine Verminderung des Betrages dieser Temperaturunterschiede eingetreten ist.
Eine der Erfindung entsprechende Vorrichtung ist in der Zeichnung dargestellt. Diese Vorrichtung dient
vornehmlich der epitaktischen Beschichtung von Halbleiterscheiben. Es wird jedoch verständlich, daß die
dargestellte Apparatur z. B. auch zum Dotieren von Halbleiterscheiben aus der Gasphase verwendet werden
kann.
Der zylindrische Reaktionsraum 1 wird von unten von einem topfförmigen Unterteil 2 und einem zylindrischen
Oberteil 3 umschlossen. Diese Teile bestehen zweckmäßig aus Quarz. Es empfiehlt sich, wenn sämtliche sich
während des Betriebes stark erwärmenden Teile des Behandlungsgefäßes, insbesondere der Boden des
Reaktionsgefäßes, aus einer im Spektralbereich von 2,6 bis 2;8 μ möglichst absorptionsfreien SiO2-Sorte bestehen.
Oben wird der Reaktionsraum 1 von einem Deckel 4, z. B. aus Edelstahl, abgeschlossen. Die zu beschichtenden,
insbesondere aus monokristallinem Halbleitermaterial, z. B. Silicium, bestehenden Scheiben 5 sind am
ebenen Boden des topfförmigen Unterteiles 2 angeordnet. Die Beheizung der Scheiben erfolgt von unten,
wobei die erforderliche Wärme von einem stromdurchflossenen Heizelement 6 geliefert wird. Das Unterteil 2
des Reaktionsraumes 1 sowie 'die' Heizvorrichtung 6 befinden sich zweckmäßig in einem gekühlten Heizertopf
8 aus Metall. Die Zufuhr für das frische Reaktionsgas, oder sonstige Behandlungsgas, sowie die
Abfuhr des verbrauchten Gases erfolgt zweckmäßig von bzw. nach oben. Zu diesem Zweck sind ein
Gaszuführungsrohr 9 zentral durch den Metalldeckel 4 und konzentrisch hierzu eine Anzahl von Gasaustritts-
öffnungen 10 vorgesehen. Im Beispielsfalle ist das Gaszuführungsrohr bewegbar im Deckel 4 gelagert.
Gleichzeitig ist für eine gasdichte Verbindung zwischen dem Rohr 9 und dem Deckel 4 gesorgt. Hierzu dient
eine das Rohr 9 ringförmig umschließende Dichtung 11
aus chemisch und thermisch widerstandsfähigem, elastischem Material. Sie wird im Beispielsfalle durch
einen Druckring 12 sowohl gegen ein Widerlager im Deckel 4 als gegen das Zuleitungsrohr 9 gedrückt. An
der Außenseite des Zuleitungsrohres (s. den gebogenen Pfeil in der Zeichnung) können Mittel wirksam sein,
welche eine Bewegung des Rohres bewirken. Das Gaszuführungsrohr 9 ist im Innern des reaktionsraumes
von einer schalenförmig nach oben gestülpten Schutzmanschette 13 umgeben, und mit ihr starr verbunden.
Diese Manschette dient als Strahlungsschutz gegen zu starke Erwärmung des Deckels 4. Außerdem fängt sie
die sich bevorzugt am kühleren Deckel 4 bildenden, als Störkeime wirksamen Partikeln ab, wenn die Anordnung
für epitaktische Zwecke herangezogen wird. Schließlich ist es im Interesse der Reinheit des
Reaktionsgases zweckmäßig, wenn für den Fall, daß das Unterteil 2 und der obere Teil 3 des Reaktionsgefäßes
voneinander gelöst werden können, das Gaszuführungsrohr 9 stets in den unteren Teil 2 hineinragt.
Zwischen dem Heizelement 6 und dem die zu beschichtenden Scheiben 5 tragenden Boden des
Reaktionsgefäßes (die Wand des Bodens soll gleiche Wandstärke aufweisen) ist eine Temperaturausgleichsplatte
vorgesehen. Falls der Querschnitt des Reaktionsgefäßes 2 ein Kreis ist, sind auch die horizontalen
Querschnitte der Temperaturausgleichsplatte 7 und des Heizelementes 6 — sofern man von einer durch die
Windung eines gestreckten Leiters bedingten Unterstruktur absieht — als im Hinblick auf den äußeren
Umfang ebenfalls kreisförmig.
Die Erfindung bezieht sich nun auf die spezielle Ausgestaltung der Heizvorrichtung 6 bzw. der sie
kontaktierenden Stromzuführungen 6a.
Der Heizer besteht bevorzugt aus einem aus hitzebeständigem Material wie Kohle, Graphit, Molybdän,
Tantal od. dgl. bestehenden Leiter mit gleichförmigem, vorzugsweise rechteckigem oder rundem Querschnitt,
der — zweckmäßig in einer einzigen — Ebene parallel zur Erstreckung der zu erhitzenden Halbleiterscheiben
5 spiralig oder vorzugsweise mäanderförmig gewunden ist. Die Windungen sind dabei so dicht
geführt, daß sich oberhalb des Heizers 6 eine möglichst homogene Temperaturverteilung ergibt. Aus dem
gleichen Grunde sind die einzelnen Windungen des Heizers — vorzugsweise durch einen dünnen Luftspalt
— gegeneinander isoliert, um eine möglichst gleiche Stromdichte über die gesamte Oberseite des Heizers zu
erreichen. Die Windungen des Heizers sind zweckmäßig gegen die Peripherie des Heizers hin etwas verjüngt, um
den Randabfall der Temperatur im Gebiet oberhalb des Heizers möglichst flach verlaufen zu lassen. Die
Windungen des Heizers 6 schneiden an ihrer Oberseite an einer parallel zu den Scheiben 5 sowie zum Boden
des Behandlungsraumes verlaufenden Ebene ab. Die Temperaturausgleichsplatte 7 ist ebenfalls parallel zu
dieser Ebene angeordnet. Sie besitzt den im horizontalen Querschnitt in F i g. 2 dargestellten mäanderförmigen
Verlauf. In F i g. 2 sind ferner die Stellen der Anschlußelektroden 6a angedeutet Entsprechend der
Lehre der Erfindung sind Strahlungsschirme 13 angeordnet, welche einen Teil der nach unten
abgestrahlten Wärme wieder der Heizvorrichtung in der Umgebung der Anschlußstellen für die Stromzuführungselektroden
6a durch Strahlung und Leitung über diese Zuführungselektroden zurückführen. Für die
elektrischen Zuleitungen sind folgende Überlegungen zweckmäßig:
In F i g. 3 sind die Abmessungen einer Stromzuleitung 6a dargestellt, die die Heizvorrichtung 6 trägt Wie aus
dieser Figur ersichtlich, kann diese Stromzuleitung aus Teilen mit unterschiedlichen Querschnitten für den
Stromfluß bestehen. Besteht die Stromzuführung beispielsweise aus Teilen mit den Querschnitten Fi, F2,
Fz und den zugehörigen Längen I1, k und h und ist 71 die
Temperatur des Heizers 6 und T2 die Temperatur am
anderen Ende der Elektrodenzuführung, so gilt für den Strom /die Beziehung
J2-β
λ ■ (T1 - T2)
Hierbei wird vorausgesetzt, daß der Querschnitt (Fi und F3) der Stromzuführungen an den Enden größer als
in der Mitte (F2) ist. In der Formel bedeuten noch ρ den
spezifischen Widerstand der (aus homogenen Material bestehenden) elektrischen Zuleitung 6a und λ das
spezifische Wärmeleitvermögen dieses Materials. Wenn, wie im Beispielsfalle, Fi = F3 und I1 = I3 ist, so
folgt:
T1 -T2) = F1-F2J1-I2,
r2
J Q .
oder, falls
F1 = F2 = F3 = F und I1 = I2 = I3
J2 ■<?:;.-(T1 -T2) = F2:P.
J2 ■<?:;.-(T1 -T2) = F2:P.
Schließlich können noch Heizvorrichtungen, z. B. Heizspiralen 14, in der Nähe der Kontaktanschlußstellen
unterhalb der Heizvorrichtung 6 angeordnet sein, welche die Wärmeverluste durch Ableitung längs der
Elektroden neutralisieren. Es empfiehlt sich auch in diesem Falle, daß die Heizvorrichtung in einem inerten
Gas betrieben wird, um die Oxydation des Heizers und gegebenenfalls auch der Heizspiralen zu unterbinden.
Zu bemerken ist noch, daß es günstig ist, wenn ein Teil
der vom Heizer nach unten abgestrahlten Wärmeenergie auf absorbierenden, die Wärme gut leitenden, an den
Stromzuführungen befestigten Strahlungsschienen aufgefangen und durch Wärmeleitung den Stromzuführungselektroden
zugeleitet wird, um diese möglichst weit in Richtung auf die Heizertemperatur zusätzlich zu
erwärmen. Auf diese Weise wird nämlich der Wärmefluß vom Heizer 6 in die Stromleitungen 6a reduziert.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (2)
1. Vorrichtung zum thermischen Behandeln von scheibenförmigen Halbleiterkörpern, die am Boden
eines zylindrischen Behandlungsgefäßes angeordnet sind, mit einer unterhalb dieses Bodens befindlichen,
flächenhaft ausgedehnten und mit ihrer Oberseite sich parallel zu den zu behandelnden Scheiben
erstreckenden Heizvorrichtung, die mittels ihrer Stromzuführungselektroden gehaltert ist, dadurch
gekennzeichnet, daß unter der Heizvorrichtung mindestens eine Strahlungsschirm
oder mindestens eine zusätzliche Heizvorrichtung vorgesehen ist, oder daß die Stromzuführungen so
dimensioniert sind, daß die in ihnen während des Betriebes entstehende Joulesche Wärme die durch
Wärmeableitung bedingten Verluste ausgleicht.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahlungsschirm wärmeleitend
mit der Heizvorrichtung verbunden ist.
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