DE1619809A1 - Verfahren zum Herstellen von ausscheidungsfreien Mg-Al-Spinell-Kristallen - Google Patents

Verfahren zum Herstellen von ausscheidungsfreien Mg-Al-Spinell-Kristallen

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    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • C30B11/04Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method adding crystallising materials or reactants forming it in situ to the melt
    • C30B11/08Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method adding crystallising materials or reactants forming it in situ to the melt every component of the crystal composition being added during the crystallisation
    • C30B11/10Solid or liquid components, e.g. Verneuil method

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Description

  • Verfahren zum Herstellen von ausscheidungsfreien Mg-A1:-Spinell-Kristallen Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen von tonerderechen, ausscheidungsfreien Mg-A1-Spinell-Kristallen, insbesondere von als Substratseheiben für epitaktische Abscheidungen von Halbleitermaterialien zu verwendenden Spinellkristallen, nach dem sogenannten Verneuil-Verfahren, bei dem feinverteiltes Mg-A1-Spinellpulver im Mischungsverhältnis von ?eig0:Al203 -> 1:1.7, vorzugsweise im Verhältnis von lvig0:Al203 = 1:3.5 mit der erhitzten bzw. geschmolzenen Kuppe eines Trägerkristalls in Berührung gebracht und durch auf die Aufschmelzgeschwindigkeit des Pulvers abgestimmtes Herausbewegen des Trägerkristalls aus der Heizzone zum Abkühlen und Kristallisieren auf der Kuppe veranlaßt wird.-Zur Lösung des Isolationsproblems bei integrierten Schaltungen zeigen dünne, epitaktisch abgeschiedene Siliciumschichten auf hochisolierenden, einkristallinen Substrat-Scheiben wesentliche Vorteile.. Es ist bekannt, als Substratscheiben Saphire oder Spinelle zu verwenden. Für die Verwendung von Spinellen sprechen mehrere Faktoren: Sie haben gegenüber den Saphiren die gleiche kubische Gittorsymmetrie wie Silicium; außerdem besitzen -sie eine geringere Härte, so daß sie sich leichter verarbeiten lassen. Die Nachteile d,es Spnells, der nach dem Verneuil-Verfahren hergestellt wird, liegen in der Entmischung während der Abkühlung im Verneuia-Ofen und bei späteren Tempera-turbehand-Lungen. I3i jetzt können einkristalline Spinelle technisch nur mit einem Mischungsverhältnis Mg0:A1203 von 1:2 bis 1:4 hergestellt werden. Diese tonerderechen Spinelle sind stark verspannt und nach der Abkühlung im Verneuil-0fen bereits im Stadium der Vorausscheidung,. Bei einer folgenden Temperaturbehandlung, wie sie bei der Glühreinigung und der epitaktischen Beschichtung notwendig ist, führen diese Vorausscheidungen (Stadium einer gewissen jelilordnung) über eine metaGtabile Zwischenstruktur. (Übe°rstruktur dd lstehlstollen) zu A120 -Endausscheidungen. Sie treten hauptsächlich an der Oberfläche auf und können dadurch in der aufgewachsenen Siliciumschieht- zu S-;apelfehlern, zur Zwillingsbildung oder sogar zu einem polykristallin entarteten Wachstum führen. Im Kristallinnern bilden sieh diese. A120 --Keime bevorzugt an den optisch sichtbaren Störungen und erzeugen hierdurch eine zusätzliche Verspannung der SubstratscheibeAußerdem führen diese Kristallbaufehler des Substrates zur Kristallwachstumsstörungen in der epitaxial aufgebrachten Siliciumschicht, die eine Streuung der Elektronen und Löcher bewirken und hierdurch .die elektrischen Eigenschaften der Schicht beeinflussen. Zum Beispiel wurde beöbachtet, daß Siliciumschichten-mit weniger Zwillingen eine i-öhere IIallbeweglichkeit aufweisen als :solche mit mehr Zwillingen; ebenso wird durch eine erhöhte Trspyramidendichte die Ballbeweglichkeit bis zu 40 % herabgesetzt. Soll der Mg-h1-Spinell-Kristall als Substrätscheibe in I integz-ierten Schaltungen. eingesetzt vrerden, eo muß er. vor allem zwei Bedingungen erfüllen: 1.) Er muß in einem molaren Mischungsverhältnis von 17g0 zu A1203 hergestellt werden können, welches die Bildung von A1203 oder einer ihrer - Vorstufen bei der Abkühlung bzw. bei einer späteren Temperaturbehandlung der Kristalle ausschließt. 2.) seine mechanische Stabilität muß so groß sein, daß sie die Verspannung aufnehmen kann., die sich infolge der unterschiedlichen thermischen Ausdehnungskoeffizienten von Halbleitermaterial (z.B. Silicium = 6.10 6.Graa7.1, bei 900°C) und Spinell (=8,10.Graa7.@@ bei 900°C) exgibt.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde:, ausscheidungsfreie Mg-Al-Spinell-Kristalle nach dem sogenannten Verneuil-Verfahren herzustellen, die als Substratscheiben für eine epitaktische Abscheidung von Halbleitermaterial geeignet sind. Die Erfindung löst die gestellte Aufgabe durch eine Modifizie-rung des Verneuil-Verfahrens und, erzielt damit eine Verbesserung in Bezug auf die Kristallqualität gegenüber dem , . bekannten Verfahren. Das Verfahren gemäß der Erfindung_ist dadurch gek,ennzeichnet, daß der gewachsene Kristallunmittelbar näch der Züchtung möglichst rasch, vorzugswe=ise in weniger als fünf 14Tinuten, auf eine Temperatur von weniger .als 700 C gebracht wird. Zur Erläuterung des Erfindungs=gedankens sei auf die Figur 1 verwiesen, in welcher das Zustandsdiagramm des binären Systems rtlg0-Al 203 im Bereich von 50 - 100 Molgö A120 3 dargestellt ist. Als Ordinate würde die Temperatur in ° 0 aufgetragen. Die-Kurve ZZ' begrenzt nach unten hin den Bereich, in dem völlige Löslichkeit von A120 3 in -Fdg0.A1203 möglich ist. Für 1:3,5-Kristalle endet das Gebiet völliger Löslichkeit bei 1660 ±40.C. Darunter bis zur Kurve EE' liegt ein zwe.phasiges Gebiet, in welchem A1203 und der stöchiometrisahe SpinelT Ptig0.A12,03.nebeneinander vorkommen. Die Kurve EE' zeigt den Beginn der Endausscheidungen an. Ihre Zwischenstruktur beginnt mit der Kurve ZZ'. Oberhalb VV' tritt Vorausscheidung auf. Wird nun durch das erfindungsgemäße Verfahren das Zweiphasengebiet zWischen ZZ' und EEI, also zwischen ca. 164-0 und cä. 10000, rasch überwunden, d.h. der Kristall möglichst schnell auf' eine Temperatur-von weniger als .7000C abgekühlt, so können. Kristalle erhalten werden, die keine Endaus s.aheidungen enthalten. Werden die Kristalle' nach dem- erfindungsgemäßen Verfahren von Temperaturen, die oberhalb der löslichkoits- -kurve liegen, rasch unterhalb ZZ' bzw. VV' abgekühlt, so können Kristalle erhalten werden, die auch noch frei sind von Zwischenstruktur bzw. Zwischenstruktur und Vorausscheidung.
  • Die rasche Abkühlung geschieht in der Weise, daß in einer Weiterbildung des Erfindungsgedankens der Kristallhalter mit dem gewachsenen Kristall nach unten aus.der Heizzone des Verneuil-Ofens mittels eines Getriebes herausgezogen wird. Beim raseheri Abkühlen muß jedoch darauf geachtet werden, daß die Entfernung des. Kristalls äu-- der Heizzone nicht so rasch erfolgt, daß die.Kristalle zerplatzen. Nach einem besonders günstigen Ausführungsbeispiels wird vor dem raschen Abkühlen bzw. vor dem Abschrecken des Kristalls ein Kristall mit einer Länge von 60 mm und einem Durchmesser von 35 mm hergestellt.
  • Das Verfahren gemäß der Erfindung ist- besonders gut geeignet zur Herstellung von Spinellkristallen, die-als Substrate für epitaktische Abscheidungen von Halbleitermaterialien, insbesondere von Silicium, Verwendung finden. Die in diesen Siliciumschichten erzeugten integrierten Schaltungen zeichnen sich durch besonders stabile und gute elektrische Kenndaten aus. Das Verfahren gemäß der Erfindung `ist insofern nicht naheliegend, als es nach dem heutigen Stand der Technik bei der Kristallzüchtung üblich ist,, zur Vermeidung von makroskopischen Rissen oder gar des Zerplatzens der Kristalle dieäe langsam und stetig in der Verneuil-Apparatur abzukühlen. An Hand der Figur 2 sollen weitere Einzelheiten des erfindungsgemäßen Verfahrens an einem Ausführungsbeispiel erläutert werden. In der Figur 2 ist im Prinzip eine Verneuil-Apparatur dargestellt, crie sie auch für andere Kristallzüchtungen, z.B. zur Züchtung von synthetischen Rubinkristallen, Verwendung findet. In den Trichter 1 ist die Schüttelbüchse 2 mit dem Ausgangsmaterial 6, bestehend aus einem feinkörnigen ?49-Al-Oxidpulver (r.Tg0.A1203 = 1:3,5) mit einer Teilchengröße kleiner 70u, eingesetzt.- Das Ausgangsmaterial wird durch etwa zweistündiges Brennen im Quarzschiffchen von Ammonium-Aluminium-Alaun (NH4(A1(S04)2.H20) und Magnesium-Aluminium-Sulfat (",ig3A12(S04)6H20) bei 120'00C erhalten. Der Boden der Schüttelbüchse 2 ist ein Metallsieb 3 (Maschengröße 80u), welches auf einem in der Figur nicht dargestellten Ring aufgespannt ist. Der bespannte Ring ist auf die Schüttelbüchse 2 aufschraubbar. Über dem Trichter 1 ist ein Hammer 4 angebracht, welcher durch eine dichtgesintertem Degussitgranulat 23 ausgefüllt, wobei eine Schichtdicke- von etwa 100 mm gewählt wird. In den Ofen ragt von unten der Kristallhalter 1 4 (ein Stäbchen oder Röhrchen aus Degussit oder aus einem Spinellkristall) hinein, welcher auf einer in der -jenkreehten -beweglichen Spindel eines Getriebeblocks 15 aufgesetzt ist. Der Getriebeblock dient von einem Motor gedrehte Noekenvrelle 5 in Bewegung gesetzt wird und die mit OYidpulver 6 gefüllte Schüttelbüchse 2 60 bis 120ma1/I#iIn. anstößt. Unter dem Trichter 1 ist der Brenner 7 angesetzt. Der beim Pfeil 8 einströmende Sauerstoff wird dem Trichter 1, der beim Pfeil 9 einströmende` Wasserstoff über im Brennerrohr zusätzlich vorhandene Bohrungen 20 direkt dem Brenner 7 zugeführt. Der Brenner 7 ragt mit seiner B-rennerdüse 17 etwas in einen zylindrischen, ca. 250 mm hohen, mit Aluminiumblech 11 ummantelten Ofen 10 von cm: 250 mm Außen-0 und 40 mm Innen-0 hinein, der nach oben mit einer Deckplatte 21 und nach unten mit einer Bodenplatte 22 aus Aluminium abgeschlossen wird.. An einer Stelle ist die Ummantelung etwas ausgeschnitten, so daß ein Schauloch 13 gebildet wird, durch welches die Vorgänge im Innern des Ofens 10 beobachtet werden können. Zur Vermeidung von Verunreinigungen und zur Einstellung der optimalen Närmedämmung wird der Ofen mit einem in seinem Durchmesser angepaßten Rohr 'f2 aus feuerfester Keramik ausgekleidet:.
  • Der Raum zwischen Mantel und Innenrohr ist mit nichtzum Abziehen des gezüchteten Kristalls entcreder von. Hand oder durch Motorbetrieb.. Zu Beginn der Züchtung wird auf dem Kristallhalter 14 ein Sinterkegol gebildet. Dieser Sinterkegel wird in seiner Spitze durch die Knallgasflamme zu einer kleinen Kugelzusammengeschmolzen, ;'teueres Oxidpulver 6wrd durch den zusätzlich in den Trichter 1 zur Steuerung der gleichmäßigen Pulverzufuhr eingesetzten Schütteltrichter 18" der ebenfalls von einem Metallsieb 19-(160 fu Maschenweite) abgeschlossen ist, der Kanallgasflamme zugeführt und wieder erschmolzen. In kurzer Zeit entsteht bei ca4 1g50° 0 ein dünnes Spinellstäbchen von 2 mm 0 und etwa 4 mm Länge, welches den Keim des Spinells 16 bildet. Wird die Flammentemperatur erhöht und die-Pulverzufuhr vermehrt, so wird das Kristallstäbchcn nach oben verbreitert und man gelangt zur gewünschten Dicke des-Spinells. Dann läßt_man denn Spinell bei möglichst gleichbleibender Flamme und gleichmäßiger Pulverzufuhr bis zur geforderten Länge weiterwachsen. Um zu vermeiden, daß der Kristall in die flamme hineinwächst, wird er entsprechend seiner Größenzunahme mit Hilfe des Getriebes 1 5 nach unten mit einer Ziehgoschvrindigkeit von ca.@5 mmh abgesenkt. Hat der Kristall die gewünschte Länge von beispielsweise- 60 mm, erreicht, so wird die Pulverzufuhr unterbrochen und der Kristallhalter 1 4 mit dem gezüchteten Kristall 16@nach dem erfindungsgemäßen Verfahren nach dem Abschalten der Knallgasflamme oder auch bei brennender Flamme innerhalb einer Zeit von _ ca. drei Minuten aus der Heizzone des Verneuil-Ofens mit Hilfe des Getriebes entfernt. Als--geeignete Zeitspanne für die rasche Abkühlung bzw. Abschreckung des Spfnellkristallauf mindestens 700°C wird die Zeit von 1 - 5 Minuten angesehen. ifird schneller als in einer Minute abgekühlt, so besteht die Gefahr,, daß der gezüchtete Kristall zerplatzt. Pei.langsamerer Abkühlung als in fünf Minuten können Vorausscheidungen oder unter Umständen sogar die Zwischenstruktur auftreten. -Die Zufuhr und Zusammensetzung des Reaktionsgases wurde .nach bekannten Verfähren aus-der Rubinzüchtung vorgenommen. Auch der Mechanismus der Pulverzufuhr wurde auf die Spinellzüchtung übertragen. -

Claims (5)

  1. P a t e n t ans r ü c-h e 1. Verfahren Zum Herstellen von tonerdereichen und ausscheidungsfreien ldg-A1-Spinell-Kristallen, insbesondere von als Substratscheiben für epitaktische Abscheidung der Halbleitermaterialien zu verwendenden Spnellkristallen, nach dem sagenännten Verneuil-Verfahren, bei- dem feinverteiltes Mg=A1-Spinellpulver, im Mischungsverhältnis. von @`°7_gOA1203> 1:1,7, vorzugsweise im Verhältnis Mg0:A120 = 1:3.5, mit der erhitzten bzw. geschmolzenen Kuppe eines Trägerkristalls in Berührung gebracht und durch auf die Aufschmelzgeschwindigkeit des Pulvers abgestelltes Herausbewegen des Trägerkristalls aus der Heizzone zum Abkühlen und Kristallisieren auf der Kuppe veranlaßt wird, dadurch gekennzeichnet, daß der gewachsene Kristall unmittelbar nach der Züchtung möglichst rasch, vorzugsweise Zn weniger als fünf Minu-.o ten,auf eine Temperatur von weniger als 700 0 gebracht wird.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Temperatur von weniger als 7'00°0 durch Herausziehen des Kristallhalters aus der Heizzone des Vermeuil-Ofens erf 0 lgt. 3.
  3. Verfahren nach Anspruch 1 und/oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Kristallhalter nach unten mittels eines Getriebes aus=der Heizzone entfernt wird.
  4. Ausscheidungsfreie 15g-A1-Spinelle, hergestellt nach einem Verfahren flach Anspruch 1 - 3.
  5. 5. Halbleiterbauelement, bei dem ein nach einem der Ansprüche 1 - 3 hergestellter Mg-A1-Spinell als Substratscheibe für das epitaktisch abgeschiedene Halbleitermaterial verwendet ist.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2506748A1 (fr) * 1981-06-02 1982-12-03 Ugine Kuhlmann Procede de preparation d'alumines ou de spinelles alumine-magnesie tres divises a structure poreuse homogene
US7919815B1 (en) 2005-02-24 2011-04-05 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Spinel wafers and methods of preparation

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EP0067744A1 (de) * 1981-06-02 1982-12-22 Criceram Verfahren zur Herstellung von sehr verteilten Aluminiumoxiden oder Aluminium-Magnesium-Spinellen mit homogenen porösen Strukturen
US7919815B1 (en) 2005-02-24 2011-04-05 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Spinel wafers and methods of preparation

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