DE1614773C3 - Verfahren zum Herstellen einer SotarzeWe - Google Patents
Verfahren zum Herstellen einer SotarzeWeInfo
- Publication number
- DE1614773C3 DE1614773C3 DE19671614773 DE1614773A DE1614773C3 DE 1614773 C3 DE1614773 C3 DE 1614773C3 DE 19671614773 DE19671614773 DE 19671614773 DE 1614773 A DE1614773 A DE 1614773A DE 1614773 C3 DE1614773 C3 DE 1614773C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- insulating layer
- semiconductor
- metal contacts
- metal
- solar cell
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 33
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 29
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 29
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 10
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000004332 silver Substances 0.000 claims description 5
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 4
- -1 titanium-silver Chemical compound 0.000 claims description 4
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 claims description 3
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 claims description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 claims description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 238000000454 electroless metal deposition Methods 0.000 claims description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000005245 sintering Methods 0.000 claims description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 2
- 238000011068 load Methods 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005234 chemical deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 238000005342 ion exchange Methods 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 239000004922 lacquer Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 229910000510 noble metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 230000003014 reinforcing Effects 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Inorganic materials [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011780 sodium chloride Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N titanium nitride Chemical compound [Ti]#N NRTOMJZYCJJWKI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Description
50
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Herstellen einer Solarzelle, bei dem ein Halbleiterkörper
mit zwei Zonen unterschiedlichen Leitungstyps hergestellt, auf die Halbleiteroberfläche eine dünne Isolierschicht
aufgebracht und die beiden Halbleiterzonen vom entgegengesetzten Leitungstyp durch
Metallkontakte kontaktiert werden.
Kontakte und Leitbahnen auf der Oberfläche eines Halbleiterbauelementes sollen eine bestimmte Mindestdicke
aufweisen. Dies ist einerseits erforderlich, um die Halbleiterbauelemente mit einem der bekannten
Kontaktierungsverfahren in Gehäuse oder Schaltungen so einbauen zu können, daß zwischen den
Elektroden bzw. Leitbahnen des Halbleiterbauelementes und den jeweiligen Kontaktelementen des
Gehäuses oder der Schaltung eine gute und dauerhafte elektrische Verbindung zustande kommt.
Andererseits sinkt mit der Dicke einer Leitbahn ihr Widerstandswert, was beispielsweise bei Solarelementen
von besonderer Bedeutung ist, da der Widerstandswert der Leitbahnen eines Solarelementes,
die sich auf der vom Licht bestrahlten Oberfläche des Elementes befinden, nicht durch Verbreiterung
der Leitbahnen herabgesetzt werden kann. Eine Verbreiterung der Leitbahnen bei Solarelementen würde
den Wirkungsgrad der Bauelemente herabsetzen, da die vom Licht bestrahlte Halbleiterfläche durch breite
Leitbahnen zu sehr verkleinert wird.
Relativ dicke Leitbahnen können beispielsweise durch Aufdampfen hergestellt werden. Es hat sich
jedoch erwiesen, daß die zur Aufdampfung erforderlichen hohen Temperaturen und besonders die zeitlich
lange Aufdampfdauer, die zur Herstellung dicker Leitbahnen erforderlich ist, die elektrischen Eigenschaften
des Halbleiterbauelementes verändern oder das Bauelement ganz zerstören. Außerdem geht bei
der Aufdampfung der Teil der Aufdampfsubstanz verloren, der sich auf der für die Aufdampfung erforderlichen
Metall- oder Lackmaske niederschlägt. Handelt es sich bei der Aufdampfsubstanz um Gold
oder ein anderes wertvolles Metall, so ist bei der Herstellung dicker Leitbahnen der dadurch entstehende
Verlust relativ groß.
Man kann, um dicke Leitbahnen herzustellen, auch so vorgehen, daß auf die Halbleiteroberfläche
zunächst sehr dünne Leitbahnen oder Kontaktflächen aufgedampft und diese anschließend durch Tauchverzinnen
verstärkt werden. Die so hergestellten Leitbahnen und Kontaktflächen sind jedoch meist uneben
und an der Oberfläche gewölbt, so daß auch sie die Anforderungen der Anwender der gefertigten Bauelemente
nicht hinreichend erfüllen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Herstellen einer Solarzelle anzugeben,
bei dem die nach der Erfindung hergestellten Kontakte eben sind, gut haften, mit definierter und ausreichender
Dicke herstellbar sind und einen guten elektrischen Kontakt mit den zu kontaktierenden
Halbleiterzonen ergeben. Zur Lösung dieser Aufgabe wird bei einem Verfahren der eingangs erwähnten
Art nach der Erfindung vorgeschlagen, daß die Metallkontakte auf die Isolierschicht aufgebracht
werden, daß die Metallkontakte durch Sintern des Halbleiterbauelementes mit dem unter der Isolierschicht
befindlichen Halbleitermaterial in elektrischen Kontakt gebracht werden und daß die auf der Isolierschicht
befindlichen Kontakte durch galvanische oder stromlose Metallabscheidung verstärkt werden.
Durch die US-PS 30 91 555 ist eine Solarzelle bekannt,
die auf einer Oberfläche mit einer Isolierschicht bedeckt ist. Da an diese Solarzelle ein Lastwidersland
angeschaltet wird, ist in der Figur dieser Palentschrift ein Lastwiderstand symbolisch eingezeichnet,
der durch symbolisch eingezeichnete Zuleitungen mit der p- und η-Zone der Solarzelle verbunden
werden soll. Die symbolische Zuleitung ist jedoch bei der fertigen Solarzelle nicht an der p-Zone,
sondern an der Isolierschicht angebracht.
Die DT-AS 10 04 294 vermittelt die Lehre, einen Kontakt an einen Halbleiterkörper durch Ionenaustausch
anzubringen und anschließend diesen Kontakt durch galvanische Abscheidung eines Metalls zu verstärken.
Das erfindungsgemäße Verfahren eignet sich besonders zur Kontaktierung von Si-Solarzellen, bei
denen die Isolierschicht aus thermisch erzeuatem
Siliziumdioxid bestehen kann und so dünn ausgebildet wird, daß sie vom einfallenden Licht ohne
weiteres durchdrungen wird. Als Kontaktmetalle eignen sich Titan oder Chrom, die bei Temperaturen
von 500° C leicht durch die SiO2-Schicht hindurchdiffundieren
und mit dem darunterliegenden Halbleiter einen guten elektrischen Kontakt bilden. Auf
diese erste Metallschicht wird dann vorteilhafterweise Silber oder ein Edelmetall aufgedampft, auf dem
besonders leicht weiteres Kontaktmetall galvanisch abgeschieden werden kann.
Es hat sich erwiesen, daß die nach dem erfindungsgemäßen
Verfahren hergestellten Kontakte eben sind, gut haften, mit definierter und ausreichender
Dicke herstellbar sind und einen guten elekfrischen Kontakt mit den zugeordneten Zonen des
Halbleiterbauelementes ergeben.
Die Erfindung soll an Hand eines Ausführungsbeispieles näher erläutert werden. ·
F i g. 1 zeigt in perspektivischer Ansicht eine Solarzelle,
während in Fig. 2 und 3 die Solarzelle im Schnitt in zwei verschiedenen Fertigungsphasen dargestellt
ist. .
Die Solarzelle nach Fig. 1 besteht aus einem einkristallinen
Silizium-Halbleiterkörper 1, der sich aus zwei Zonen unterschiedlichen Leitfähigkeitstyps zusammensetzt.
Die eine Zone ist mit einem kammförmigen Metallkontakt 2 versehen, während die
andere Zone auf der der Kammstruktur gegenüberliegenden Oberflächenseite der Solarzelle einen
flächenhaften Metallkontakt 3 besitzt. Die Leitbahnen 4 des kammförmigen Metallkontaktes auf der
vom Licht bestrahlten Oberflächenseite 5 der Solarzelle müssen schmal sein, um die vom Licht getroffene
Halbleiteroberfläche der Solarzelle möglichst wenig einzuschränken. Andererseits müssen die Leitbahnen
einen kleinen Widerstand aufweisen, um Verluste in den Leitbahnen zu vermeiden. Die Leitbahnen
müssen weiterhin gleichmäßig über die bestrahlte Oberfläche verteilt sein, um die inneren
Verluste durch den Bahnwiderstand des Halbleitermaterials klein zu halten.
In F i g. 2 ist die Solarzelle 1 im Schnitt mit den beiden Halbleiterzonen 6 und 7 dargestellt. Zu seiner
Herstellung geht man beispielsweise so vor, daß in einen p-leitenden, einkristallinen Silizium-Halbleiterkörper
allseitig ein Störstellenmaterial eindifTundiert wird, das im Randbereich des Halbleiterkörpers eine
schmale η-leitende Zone 7 bildet. Der an einer Oberflächenseite vorhandene Teil dieser n-leitenden
Zone 7 wird durch Ätzen oder Schleifen so weit abgetragen, bis die p-leitende Zone 6 in diesem Bereich
an die Oberfläche des Halbleiterbauelementes tritt und dort kontaktiert werden kann. Anschließend
wird die Halbleiteranordnung mit einer dünnen isolierenden Schicht 8 überzogen, die bei einem Silizium-Halbleiterkörper
vorteilhafterweise aus Siliziumdioxid besteht und weniger als 1000 A dick ist.
Diese Isolierschicht wird beispielsweise durch thermische Oxydation bei 800° C hergestellt.
Auf die dünne Isolierschicht, die für das einfallende Licht kein Hindernis bildet, werden Metallkontakte
bzw. Leitbahnen 3 und 4 zur Kontaktierung der Halbleiterzonen 6 und 7 aufgedampft. Hierzu
wird beispielsweise zunächst ein Titanbelag 9 und anschließend ein Silberbelag 10 auf die Isolierschicht
8 aufgedampft. Die Aufdampfung erfolgt vorteilhafterweise mit Hilfe der an sich bekannten
Maskentechnik, wobei sowohl Metall- als auch Photolackmasken zur Anwendung gelangen können.
Die aufgedampfte Titan-Silber-Schichtenfolge 9, 10 weist vorteilhafterweise eine Dicke von etwa 2 μηι
auf.
Anschließend wird die Halbleiteranordnung nach Fig. 2 etwa 2 Minuten lang bei 500° C gesintert.
Dabei diffundiert Titan durch die dünne SiO.,-Schicht
und stellt den elektrischen Kontakt zu den Zonen 6 bzw. 7 des Solarelementes her. Das in die Oxidschicht
8 eindiffundierte Titan ist in Fig. 2 durch Punktierung angedeutet.
F i g. 3 zeigt die fertig kontaktierte Solarzelle. Dazu wurde die Anordnung nach F i g. 2 in einen
Elektrolyten eingebracht und an die Kathode des galvanischen Bades angeschlossen. Als Elektrolyt
dient beispielsweise das Metallsalz des abzuscheidenden Metalls. Wird dann an die Elektroden des galvanischen
Bades eine Spannung angelegt, so scheiden sich die Metallionen an den Titan-Silber-Kontakten 4
der Solarzelle ab, während die an den übrigen Stellen der Halbleiteroberfläche vorhandene Isolierschicht
8 ein Abscheiden des Metalls verhindert. Auf diese Weise verstärken sich die Titan-Silber-Kontakte
in der erwünschten Form. Für die Verstärkung der Metallkontakte eignen sich besonders
die Metalle Silber, Kupfer, Nickel oder Gold. Die Metallkontakte können auch durch stromlose Abscheidung
verstärkt werden, d. h. durch chemische Abscheidung aus einer geeigneten Lösung.
Es hat sich herausgestellt, daß es bei Solarzellen besonders vorteilhaft ist, die Metallkontakte bzw.
Leitbahnen bis zu einer Dicke von etwa 10 μηι zu verstärken.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (7)
1. Verfahren zum Herstellen einer Solarzelle, bei dem ein Halbleiterkörper mit zwei Zonen
unterschiedlichen Leitungstyps hergestellt, auf die Halbleiteroberfläche eine dünne Isolierschicht
aufgebracht und die beiden Halbleiterzonen vom entgegengesetzten Leitungstyp durch Metallkontakte
kontaktiert werden, dadurch gekennzeichnet,
daß die Metallkontakte auf die Isolierschicht aufgebracht werden, daß die Metallkontakte
durch Sintern des Halbleiterbaueleirientes mit dem unter der Isolierschicht befindlichen
Halbleitermaterial in elektrischen Kontakt gebracht werden und daß die auf der Isolierschicht
befindlichen Kontakte durch galvanische oder stromlose Metallabscheidung verstärkt werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch cekennzeichnet,
daß das Halbleitermaterial aus Silizium und die Isolierschicht aus Siliciumdioxid
bestehen und daß die Sili/.iumdioxidschicht weniger als 1000 A dick ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß auf die Isolierschicht Titan
und anschließend Silber zur Bildung von Metallkontakten unter Verwendung einer Aufdampfmaske
aufgedampft wird.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die aufgedampfte Titan-Silber-Schichtenfolge etwa 2 um dick ist.
5. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Solarzelle nach dem Aufdampfen
der Melallkontaktc bei etwa 500° C etwa 2 Minuten lang gesintert wird.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß zur Verstärkung der Metallkontakte
eine Lösung verwendet wird, aus der Silber. Kupfer, Nickel oder Gold auf den Metallkontakten
abgeschieden wird.
7. Verfahren nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Metallkontakle auf der
Isolierschicht bis zu einer Dicke von etwa 10 um verstärkt werden.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DET0033279 | 1967-02-25 | ||
DET0033279 | 1967-02-25 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1614773A1 DE1614773A1 (de) | 1970-12-10 |
DE1614773B2 DE1614773B2 (de) | 1975-09-04 |
DE1614773C3 true DE1614773C3 (de) | 1976-04-08 |
Family
ID=
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1764951B1 (de) | Mehrschichtige metallisierung fuer halbleiteranschluesse | |
DE1930669C2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer integrierten Halbleiterschaltung | |
DE2036139A1 (de) | Dunnfümmetallisierungsverfahren fur Mikroschaltungen | |
DE1903961B2 (de) | Integrierte Halbleiterschaltung und Verfahren zu ihrer Herstellung | |
DE1811389C3 (de) | Flächenhaftes Halbleiterbauelement | |
DE1200439B (de) | Verfahren zum Herstellen eines elektrischen Kontaktes an einem oxydueberzogenen Halbleiterplaettchen | |
DE6606541U (de) | Halbleiteranordnung | |
DE2726003A1 (de) | Verfahren zur herstellung von mis- bauelementen mit versetztem gate | |
DE1614148B2 (de) | Verfahren zum herstellen einer elektrode fuer halbleiter bauelemente | |
DE2033532B2 (de) | Halbleiteranordnung mit einer Passivierungsschicht aus Siliziumdioxid | |
DE1614306C3 (de) | Verfahren zur Herstellung elektrischer Anschlüsse auf einer Oberfläche eines elektronischen Bauelementes und durch Anwendung dieses Verfahrens hergestelltes Bauelement | |
DE2550346A1 (de) | Verfahren zum herstellen eines elektrisch isolierenden bereiches in dem halbleiterkoerper eines halbleiterbauelements | |
DE2123595A1 (de) | Halbleiteranordnung | |
DE1639262A1 (de) | Halbleiterbauelement mit einer Grossflaechen-Elektrode | |
DE1589890B2 (de) | Verfahren zum herstellen eines halbleiterbauelementes mit mis struktur | |
DE1614773C3 (de) | Verfahren zum Herstellen einer SotarzeWe | |
DE1901645A1 (de) | Halbleiterbauelement mit Aluminiumueberzuegen | |
DE2134291A1 (de) | Halbleitervorrichtung | |
DE1614773B2 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Solarzelle | |
DE1764937C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von Isolationsschichten zwischen mehrschichtig übereinander angeordneten metallischen Leitungsverbindungen für eine Halbleiteranordnung | |
DE2100731A1 (de) | Dotierter metallischer, elektrischer Dünnschicht Verbindungsleiter fur mikroelektromsche Konfigurationen, insbesondere für Sihcium-Planardioden, Transistoren und monolithische integrierte Schaltungen | |
DE2018027A1 (de) | Verfahren zum Einbringen extrem feiner öffnungen | |
DE2225163C3 (de) | Verfahren zur Herstellung von Kondensatoren in einer planaren elektronischen MikroStruktur | |
DE2855972A1 (de) | Halbleiteranordnung | |
DE1514668B2 (de) | Verfahren zum herstellen von chrom- silber-kontakten auf halbleiterbauelementen |