DE1591113B2 - Verfahren zur befestigung eines integrierten schaltungsplaett chens auf einem substrat - Google Patents
Verfahren zur befestigung eines integrierten schaltungsplaett chens auf einem substratInfo
- Publication number
- DE1591113B2 DE1591113B2 DE1967E0033622 DEE0033622A DE1591113B2 DE 1591113 B2 DE1591113 B2 DE 1591113B2 DE 1967E0033622 DE1967E0033622 DE 1967E0033622 DE E0033622 A DEE0033622 A DE E0033622A DE 1591113 B2 DE1591113 B2 DE 1591113B2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- webs
- plate
- platelet
- electron beam
- carrier
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K15/00—Electron-beam welding or cutting
- B23K15/0046—Welding
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L24/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2101/00—Articles made by soldering, welding or cutting
- B23K2101/36—Electric or electronic devices
- B23K2101/40—Semiconductor devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/75—Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/75—Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
- H01L2224/757—Means for aligning
- H01L2224/75743—Suction holding means
- H01L2224/75745—Suction holding means in the upper part of the bonding apparatus, e.g. in the bonding head
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/81—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
- H01L2224/818—Bonding techniques
- H01L2224/81801—Soldering or alloying
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01005—Boron [B]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01006—Carbon [C]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01013—Aluminum [Al]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01019—Potassium [K]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01032—Germanium [Ge]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01038—Strontium [Sr]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01074—Tungsten [W]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01079—Gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/013—Alloys
- H01L2924/0132—Binary Alloys
- H01L2924/01322—Eutectic Alloys, i.e. obtained by a liquid transforming into two solid phases
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/102—Material of the semiconductor or solid state bodies
- H01L2924/1025—Semiconducting materials
- H01L2924/10251—Elemental semiconductors, i.e. Group IV
- H01L2924/10253—Silicon [Si]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/156—Material
- H01L2924/15786—Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
- H01L2924/15787—Ceramics, e.g. crystalline carbides, nitrides or oxides
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Welding Or Cutting Using Electron Beams (AREA)
- Wire Bonding (AREA)
Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Befestigung eines integrierten Schaltungsplättchens
(Festkörper-Schaltungsplättchen) an mehreren leitenden Stegen auf einem Substrat (Träger).
Integrierte Schaltungsplättchen aus Halbleitermaterial werden üblicherweise auf einem Halterungssubstrat
aus keramischem Material befestigt, und zwar mit Hilfe von elektrisch leitenden Stegen, die
eine elektrische Verbindung zwischen den Bauteilen des Plättchens und den zur Einschaltung des Plättchens
in eine elektronische Schaltung erforderlichen Leitern ermöglichen. Es ist äußerst wichtig, daß alle
Verbindungen zwischen den Plättchen, den Stegen und dem Substrat mechanisch und elektrisch einwandfrei
sind, da anderenfalls die Zuverlässigkeit und Lebensdauer der integrierten Schaltung stark beeinträchtigt
wird.
Die Ausbildung von Verbindungen zwischen den verschiedenen Elementen eines integrierten Schaltungsplättchens
ist auf Grund der stark unterschiedlichen physikalischen und mechanischen Eigenschaften der Materialien der Elemente und der sehr geringen
Abmessungen der Elemente ein sehr schwieriger Vorgang. Auf Grund der verwendeten Materialien ist
es erforderlich, irgendeine Schweißtechnik bei der Herstellung der integrierten Schaltungen zu verwen^
den, und dies setzt voraus, daß die verschiedenen Elemente der integrierten Schaltung ausreichend hohen
Temperaturen ausgesetzt werden, um das Schmelzen der zu verschweißenden Elemente zu ermöglichen.
Halbleitermaterialien sind jedoch im allgemeinen gegen Beschädigungen durch Wärme sehr empfind-
3 4
lieh, so daß sie grundsätzlich nicht besonders für krön tiefe Vertiefungen 11 ausgebildet sind. Leitkis-
Schweiverfahren geeignet sind. Diese Schwierigkeit sen 12 von ungefähr 2,5 Mikron Dicke sind an der
wird noch durch die geringe Dicke des für die inte- unteren Oberfläche des Plättchens unterhalb der
grierten Schaltungsplättchen verwendeten Materials Vertiefungen 11 ausgebildet. Die Kissten 12 sind mit
vergrößert. Weiterhin müssen die für integrierte 5 den Schaltungsbestandteilen im Plättchen elektrisch
Schaltungselemente verwendeten Halbleitermateria- verbunden und schaffen Eingangs- und Ausgangs-
lien extrem genau festgelegte elektrische und elektro- schaltungspfade für diese Schaltungsbestandteile,
nische Eigenschaften aufweisen, die in vielen Fällen Das Plättchen 10 ist oberhalb eines keramischen
temperaturabhängig sind. Daher besteht die Gefahr, Substrats (Träger) 13 gehalten, an dessen oberer
daß die zum Schweißvorgang benötigte Wärme die io Oberfläche Metallstege 14 von ungefähr 50 Mikron
Schaltungsplättchen derart beschädigen könnte, daß Höhe derart befestigt sind, daß die Stege 14 und die
ihre elektrischen Eigenschaften derart verändert wer- Kissen 12 — wie gezeigt — zusammengepreßt sind,
den, daß das Schaltungsplättchen nicht mehr die ge- Die Stege 14 sind auf Bahnen 15 ausgebildet, die
wünschten Eigenschaften aufweist. über die Oberfläche des Trägers verlaufen und die
Weiterhin kann die beim Schweiß Vorgang benötig- 15 Verbindungen zwischen diesen Stegen und weiteren
te Wärme zur Ausbildung von mechanischen. Span- Stegen bilden, die mit anderen Plättchen auf dem
nungen in den zu verschweißenden Elementen füh- gleichen Träger verbunden sind. Die Bahnen scharren,
die zu nicht einwandfreien Verschweißungen fen auch Verbindungen für Eingangs- und Ausgangsoder
zur teilweisen Zerstörung einer verschweißten schaltungen.
Verbindung führen können. 20 Zur Befestigung des Plättchens auf dem Träger
Verbindung führen können. 20 Zur Befestigung des Plättchens auf dem Träger
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein wird ein Elektronenstrahl für eine vorbestimmte
Verfahren zur Befestigung eines integrierten Schal- Zeitspanne auf das Plättchen gerichtet, wobei der
tungsplättchens an mehreren leitenden Stegen auf Strahl durch das Plättchen läuft und die oberen Teile
einem Substrat zu schaffen, bei dem keine Gefahr der der darunterliegenden Stege 14 schmelzt, wodurch
Beschädigung des integrierten Schaltungsplättchens 25 Schweißverbindungen zwischen den entsprechenden
besteht und bei dem sich einwandfreie elektrische Kissen und Stegen 14 beim Wiedererstarren der Stege
und mechanische Verbindungen zwischen dem Schal- gebildet werden. Der Schweißvorgang wird in einem
tungsplättchen und dem Substrat ergeben. Vakuum oder unter einer inerten Atmosphäre ausge-
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch ge- führt.
löst, daß ein Elektronenstrahl von geeigneter Energie 30 Diese Schweißtechnik ist insbesondere für automa-
mindestens auf die Zonen des Schaltungsplättchens tische oder halbautomatische Verfahren geeignet, und
gerichtet wird, die über den Stegen liegen, daß die im folgenden wird unter Bezugsnahme auf Fig. 3
Stege aus einem Werkstoff mit niedrigerem Schmelz- ein derartiges Verfahren beschrieben. Ein Ausleger
punkt als das Plättchen bestehen, und daß der durch 20, der ein Plättchen 21 hält, ist mit einer Vielzahl
das Plättchen, ohne es zu schmelzen, durchtretende 35 von Kanälen 22 oberhalb des Plättchens ausgebildet
Elektronenstrahl in die Stege gelangt und diese in der und gestattet damit, daß ein Elektronenstrahl durch
Nähe des Plättchens schmelzt und auf diese Weise die vertieften Teile des Plättchens 21 laufen kann,
das Plättchen mit den Stegen verschweißt. Von einem (nicht gezeigten) Arbeitstisch wird ein
Auf diese Weise ist es möglich, das Schaltungs- mit einer Vielzahl von Stegen 24 ausgeibldeten Träplättchen
mit dem Substrat oder Träger ohne über- 40 ger 23 getragen und derart gesteuert, daß er in eine
mäßige Erwärmung des Schaltungsplättchens zu ver- spezifische vorgegebene Stellung unterhalb des Haischweißen,
da lediglich die Stege geschmolzen wer- ters 20 bewegt wird. Das Steuersystem zur Einsteiden
müssen. lung des Trägers entspricht einem normalerweise für
Dabei ist es vorteilhaft, wenn der Elektronen- X/Y-Schreiber verwendeten Steuersystem,
strahl der Reihe nach auf die über jedem Steg liegen- 45 Sobald der Träger in seine Stellung gebracht ist,
den Zonen des Plättchens derart abgelenkt wird, daß wird der Ausleger 20 abgesenkt und preßt die Kissen
alle Stege in der Nachbarschaft des Plättchens gleich- am Plättchen 21 gegen die entsprechenden Stege auf
zeitig in den Schmelzzustand gelangen. dem Träger 23; sodann wird das Plättchen — wie
Durch diese Führung des Elektronenstrahls ergibt oben unter Bezugnahme auf die F i g. 1 und 2 besieh
lediglich eine sehr geringe Erwärmung des 50 schrieben — mit den Stegen verschweißt.
Schaltungsplättchens, die zu keiner Beeinflussung der Sobald der Schweißvorgang vollendet ist, läßt der Eigenschaften des Schaltungsplättchens führt. Ausleger 20 das Plättchen los und gestattet, daß das
Schaltungsplättchens, die zu keiner Beeinflussung der Sobald der Schweißvorgang vollendet ist, läßt der Eigenschaften des Schaltungsplättchens führt. Ausleger 20 das Plättchen los und gestattet, daß das
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen des erfin- Plättchen zusammen mit dem Träger wegzunehmen
dungsgemäßen Verfahrens ergeben sich aus den Un- ist. Sodann wird ein weiteres Plättchen im Ausleger
teransprüchen. 55 angeordnet, und der Träger wird in eine neue vorbe-
Die Erfindung wird im folgenden an Hand von in stimmte Stellung bewegt, um ein weiteres Plättchen
der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispielen auf die gleiche Weise am Träger anzuschweißen. Der
noch näher erläutert. In der Zeichnung zeigt Ausleger kann derart ausgebildet sein, daß er gleich-
Fig. 1 einen Schnitt eines Teils eines Plättchens zeitig mehr als ein Plättchen hält, so daß mit einem
und eines.Trägers in der zum Schweißen dienenden 60 Schweißvorgang mehrere Plättchen am Träger an-
Stellung, schweißbar sind.
Fig. 2 eine Draufsicht auf den Teil des Platt- Das Verfahren wird in einem Vakuum oder unter
chens, einer inerten Atmosphäre ausgeführt; es sei jedoch
F i g. 3 einen Teilschnitt eines Teils einer Schweiß- bemerkt, daß die den Elektronenstrahl erzeugende
maschine zur Durchführung des Schweißvorgangs. 65 Elektronenkanone selbst nicht im Vakuum oder in
In F i g. 1 und 2 ist ein integriertes Silizium-Schal- der inerten Atmosphäre sein muß. Die Elektronenka-
tungsplättchen 10 von ungefähr 100 Mikron Dicke none kann statt dessen derart angeordnet sein, daß
gezeigt, in dessen oberer Oberfläche ungefähr 50 Mi- sie den Elektronenstrahl durch Durchlässe oder
transparente Fenster in das evakuierte oder inerte Gebiet wirft.
Das einfachste Schweißverfahren besteht darin, einen breiten oder nicht fokussierten Elektronenstrahl
zu verwenden, dessen Energieinhalt über die ganze Fläche des Plättchens hinweg im wesentlichen
gleichförmig ist. Ein geeignetes Beschleunigungspotential für den Strahl liegt bei 150 kV. Diese Anordnung
hat jedoch die Neigung, das Plättchen zu beschädigen, so daß ein besonderes Verfahren darin besteht,
einen nicht fokussierten Strahl zu verwenden und während des Schweißens oberhalb des Plättchens
eine Maske anzuordnen, in der entsprechend den Stegen öffnungen ausgebildet sind und die die
übrigen Teile des Plättchens (d, h. jene Teile, die nicht oberhalb der Stege liegen) vor Schädigungen
bewahren.
Die Schwierigkeit bei der Verwendung eines nicht fokussierten Strahls besteht darin, daß die Gesamtenergie
des Strahls extrem hoch sein muß, damit man an jedem der Stege eine hinreichend hohe Energie
zur Bewirkung des Schweißens erhält. Diese Schwierigkeit kann durch die Verwendung eines fokussierten
Strahls überwunden werden, der der Reihe nach jeden Steg abtastet oder darauf gelenkt wird. Für
einen derartigen Strahl ist ein Strahlstrom von 2,5 mA geeignet. Das einfachste Verfahren bei der
• Verwendung eines derartigen Strahls umfaßt ein Abtasten über alle Stege in einem einzigen Zyklus, wobei
die Zykluszeit kurz genug ist, damit alle Stege an ihren oberen Teilen gleichzeitig geschmolzen sind.
Dies gewährleistet, daß alle Stege das Plättchen berühren und vermindert jegliche Spannungen, die
beim Abkühlen und Erstarren der Stege entstehen. Zu diesem Zweck ist eine Zykluszeit von weniger als
10 Mikro-Sekunden wünschenswert, und eine Strahlbewegung von ungefähr 0,5 cm während dieser Zeit
ist erforderlich. Diese Bewegung kann kontinuierlich erfolgen; alternativ kann diese Bewegung diskontinuierlich
erfolgen, wobei der Strahl der Reihe nach auf jedem Steg verweilt, wenn das Strahl-Ablenkungssystem
in der Lage ist, die notwendigen schnellen Wechsel der Strahlablenkung zu erzeugen. Eine Abänderung
dieses Verfahrens verwendet mehrere Abtastzyklen, wobei der Strahl während jedes der Zyklen
der Reihe nach auf jeden Steg fällt. Dies macht es möglich, daß man höhere Temperaturen erreicht,
wobei noch immer alle Stege gleichzeitig geschmolzen werden.
Ein weiteres Verfahren verwendet ebenfalls einen fokussierten und tastenden Strahl und kann für Plättchen
verwendet werden, deren Stege gleichmäßig um ihren Umfang herum angeordnet sind. Bei diesem
Verfahren werden die Stege in entgegengesetzte Paare aufgeteilt, und für jedes derartige Stegpaar wird ein
getrennter Tastzyklus verwendet, so daß dann beispielsweise für vierzehn Stege eine Gesamtheit von
sieben Zyklen zum Vollenden des Schweißens erforderlich ist. Dieses Verfahren ist natürlich etwas langsamer
als die vorher genannten Verfahren.
Bei allen Verfahren, die einen abtastenden und fokussierten
Strahl verwenden, kann der Strahl natürlich bei seiner Bewegung abgeschaltet und nur dann
eingeschaltet sein, wenn er auf die Stege gerichtet ist. Bei jeder der Abtaststrahlverfahren kann auch zum
Schutz der Plättchen vor Beschädigung eine Maske verwendet werden.
Das Plättchen ist aus Silizium hergestellt und sollte in den Bereichen, in denen es mit den darunterliegenden
Stegen verschweißt werden soll, eine 50 Mikron nicht übersteigende Dicke aufweisen. Wenn demgemäß
durch die besonderen Verfahren, mittels welcher die integrierte Schaltung ausgebildet wird, eine größere
Dicke als die eben angegebene erforderlich ist, so muß das Plättchen mit Vertiefungen, wie sie in den
Fi g. 1 und 2 gezeigt sind, versehen werden. Die aktiven
Zonen des Plättchens, d. h. die für Schaltungsfunktionen verwendeten Zonen sollten von den Kontakten
entfernt gehalten werden; demgemäß enthält die Zone 10 A in F i g. 2 die aktiven Zonen des Plättchens
10. Der Elektronenstrahl übt eine dreifache Wirkung auf das Plättchen aus. Erstens kann eine Oberflächenbeschädigung
an der oberen Oberfläche des Plättchens auftreten. Aus diesem Grunde sind die aktiven
Zonen des Plättchens — wie in F i g. 1 gezeigt — an der unteren Oberfläche ausgebildet. Zweitens kann
beim Durchlaufen des Elektronenstrahls durch das Plättchen eine Körperschädigung auftreten. Diese
Schädigung wird sich hauptsächlich auf die obersten 10 oder 15 Mikron der Dicke des Plättchens beschränken,
und da die aktiven Zonen auf der entgegengesetzten Seite des Plättchens in einer Dicke von
nicht mehr als 25 Mikron ausgebildet werden können, sollte diese Körperschädigung eine geringe
schädliche Wirkung auf die elektrischen Eigenschaften des Plättchens haben. Drittens bewirkt der Elektronenstrahl
einen Temperaturanstieg des Plättchens, und dies kann eine geringe Diffusion der die aktiven
Zonen des Plättchens bildenden Unreinheiten (Störstellen) zur Folge haben. Durch die Verwendung
eines fokussierten Strahls und/oder einer Maske kann jedoch der Temperaturanstieg gering und auf
die Bereiche des Plättchens beschränkt gehalten werden, die von den aktiven Zonen verhältnismäßig weit
entfernt liegen. Ferner kann die Strahlungsschädigung auch durch Anlassen (Tempern) des Plättchens
nach dem Schweißen wesentlich vermindert werden.
Die Strahlungsschädigung kann schließlich auch dadurch
auf ein Minimum herabgesetzt werden, daß man einen Schutzüberzug aus einem geeigneten
Werkstoff—wie beispielsweise Gold — an der oberen
Oberfläche des Plättchens entgegengesetzt zu den aktiven Zonen, wie z. B. an der Fläche 10Λ in Fig. 2,
anbringt.
Der Werkstoff für die Stege sollte in bezug auf den Werkstoff für das Plättchen eine hohe Dichte aufweisen,
so daß der durch das Plättchen laufende Elektronenstrahl von den oberen Teilen der Stege wirksam
absorbiert wird. Die untere praktische Grenze ist ein spezifisches Gewicht (Wichtezahl) von ungefähr 6
oder 7. Der Werkstoff für die Stege sollte ebenfalls einen niedrigen Schmelzpunkt relativ zu dem des
Plättchens haben, und ferner ist auch eine niedrige thermische Leitfähigkeit erwünscht, so daß die in den
oberen Teilen der Stege absorbierte Energie nicht zu schnell durch Leitung zu dem Träger hinab verteilt
wird. Die thermische Leitfähigkeit sollte jedoch auch nicht zu niedrig sein, da die Wärmeleitung vom Plättchen
durch die Stege in den Träger eine wichtige Rolle bei der Verteilung vom Plättchen kommenden
Wärme spielt, wenn dies in. einer vollständigen Schaltung arbeitet.
Ein für die Stege geeigneter Werkstoff ist ein Gold-Germanium-Eutektikum, welches ungefähr 27 %>
Germanium enthält. Dieser Werkstoff hat im festen Zustand zwei Phasen, und die Rate mit der er
schmilzt, hängt demnach von der Korngröße der Goldphase ab. Auf diese Weise ist ein zur Verwendung
mit diesem Werkstoff geeignetes Schweißverfahren dasjenige Verfahren, das mehrere Abtastungen
des Elektronenstrahls benutzt, wobei die Korngröße bei jeder Abtastung vermindert wird, bis ein
vollständiges Schmelzen des Werkstoffs erreicht ist.
Die Höhe der Stege muß hinreichend genau kontrolliert werden, damit sichergestellt ist, daß beim
Schweißen alle Stege das Plättchen berühren. Während des Schweißens dehnen sich die Stege beim Erwärmen
aus, und eine angemessene Toleranz der Steghöhe beträgt 0,1 Mikron für eine Gesamt-Steghöhe
von 50 Mikron.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (15)
1. Verfahren zur Befestigung eines integrierten Halbleiterplättchens an mehreren leitenden Stegen
auf einem Träger, dadurch gekennzeichnet,
daß ein Elektronenstrahl von geeigneter Energie mindestens an die Zonen des Plättchens
(10) geleitet wird, die über den Stegen (14) liegen, daß die Stege (14) aus einem Werkstoff
mit niedrigerem Schmelzpunkt als das Plättchen (10) bestehen und daß der durch das Plättchen
(10) ohne es zu schmelzen hindurchtretende Elektronenstrahl in die Stege (14) gelangt und
diese in der Nähe des Plättchens (10) schmelzt und auf diese Weise das Plättchen (10) mit den
Stegen (14) verschweißt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Elektronenstrahl der Reihe
nach auf die über jedem Steg (14) liegenden Zonen des Plättchens (10) derart abgelenkt wirdi,
daß alle Stege (14) in der Nachbarschaft des Plättchens (10) gleichzeitig in den Schmelzzustand
gelangen.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Ablenkung in einem einzigen Abtastzyklus durchgeführt wird.
4. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Ablenkung in mehreren
aufeinanderfolgenden Abtastzyklen durchgeführt wird.
5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Stege (14) gleichmäßig um die Kante des Plättchens (10) herum angeordnet
sind und daß der Elektronenstrahl derart abgelenkt wird, daß er entgegengesetzt liegende Paare
von Stegen (15) mit dem Plättchen (10) im wesentlichen
gleichzeitig verschweißt.
6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Elektronenstrahl nicht fokussiert
ist und eine im wesentlichen gleichmäßige Energieverteilung über die Querschnittsfläche
des Strahles in der Nähe des Plättchens (10) aufweist.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Elektronenstrahl
derart moduliert ist, daß er dann, wenn er nicht auf eine über einem Steg (14) liegende Zone
des Plättcheris (10) gerichtet ist, abgeschaltet wird.
8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß während
des Schweißens eine Maske mit den Stegen (14) entsprechenden Öffnungen über das Plättchen
(10) gehalten wird, um zu verhindern, daß der Elektronenstrahl auf irgendwelche anderen
Teile des Plättchens, als gerade die über den Stegen (14) liegenden Teile des Plättchens (10)
fällt.
9. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der
Steg-Werkstoff eine wesentlich höhere Dichte als das Plättchen (10) aufweist.
10. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die aktiven
Zonen des Plättchens in solchen Teilen angeordnet sind, die nicht die Stege (14) überdekken.
11. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch den Schritt der
Verkleinerung der Dicke des Plättchens (10) in den über den Stegen (14) liegenden Bereichen zur
Schaffung örtlicher Bereiche mit verringerter Dikke des Plättchens.
12. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch den Schritt der
Anordnung der aktiven Bereiche des Plättchens (10) auf der dem Substrat gegenüberliegenden
Seite des Plättchens.
13. Verfahren nach Anspruch 10 und 12, gekennzeichnet
durch den Schritt der Ausbildung einer für den Elektronenstrahl relativ undurchlässigen
Materialschicht auf der dem Substrat oder Träger abgewandten Seite des Plättchens und
über einen Bereich, der die aktiven Bereiche des Plättchens überdeckt.
14. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch den Schritt der
Ausbildung dünner metallischer Kissen (12) auf den mit den Stegen (14) zusammenwirkenden Bereichen
des Plättchens, wobei diese Kissen (12) so angeordnet sind, daß sie elektrische Verbindungen
zwischen den Stegen (14) und den aktiven Zonen des Plättchens bilden.
15. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch den Schritt der
Ausbildung ebener Leiter auf dem Substrat oder Träger zur Formung der Stege (14) auf der frei
liegenden Oberfläche der Leiter.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB11624/66A GB1125745A (en) | 1966-03-16 | 1966-03-16 | Attaching integrated circuits to substrates |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1591113A1 DE1591113A1 (de) | 1970-02-26 |
DE1591113B2 true DE1591113B2 (de) | 1972-03-30 |
Family
ID=9989698
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1967E0033622 Granted DE1591113B2 (de) | 1966-03-16 | 1967-03-16 | Verfahren zur befestigung eines integrierten schaltungsplaett chens auf einem substrat |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3480755A (de) |
DE (1) | DE1591113B2 (de) |
FR (1) | FR1514656A (de) |
GB (1) | GB1125745A (de) |
NL (1) | NL6703972A (de) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3988564A (en) * | 1972-07-17 | 1976-10-26 | Hughes Aircraft Company | Ion beam micromachining method |
US4379218A (en) * | 1981-06-30 | 1983-04-05 | International Business Machines Corporation | Fluxless ion beam soldering process |
US5058800A (en) * | 1988-05-30 | 1991-10-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Method of making electric circuit device |
DE19726489C1 (de) * | 1997-06-21 | 1999-02-11 | Hartmann & Braun Gmbh & Co Kg | Verfahren zur Herstellung einer mechanischen Verbindung zwischen einem dünnen metallischen Draht und einem Glaskörper |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE712434C (de) * | 1938-01-26 | 1941-10-18 | Siemens & Halske Akt Ges | Verfahren zur Herstellung von reinen Oberflaechenfiltern und Ultrafiltern |
BE630858A (de) * | 1962-04-10 | 1900-01-01 | ||
US3391451A (en) * | 1965-03-22 | 1968-07-09 | Sperry Rand Corp | Method for preparing electronic circuit units |
US3368116A (en) * | 1966-01-18 | 1968-02-06 | Allen Bradley Co | Thin film circuitry with improved capacitor structure |
-
1966
- 1966-03-16 GB GB11624/66A patent/GB1125745A/en not_active Expired
-
1967
- 1967-03-15 FR FR98858A patent/FR1514656A/fr not_active Expired
- 1967-03-16 DE DE1967E0033622 patent/DE1591113B2/de active Granted
- 1967-03-16 NL NL6703972A patent/NL6703972A/xx unknown
- 1967-03-16 US US623604A patent/US3480755A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3480755A (en) | 1969-11-25 |
DE1591113A1 (de) | 1970-02-26 |
GB1125745A (en) | 1968-08-28 |
NL6703972A (de) | 1967-09-18 |
FR1514656A (fr) | 1968-02-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1300788C2 (de) | Verfahren zur herstellung kugeliger loetperlen auf traegerplatten | |
DE3042085C2 (de) | Halbleiteranordnung | |
EP0242626B1 (de) | Verfahren zur Befestigung von elektronischen Bauelementen auf einem Substrat | |
DE3423172C2 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Solarbatterie | |
DE1640457C2 (de) | ||
DE3824008A1 (de) | Elektronische schaltung sowie verfahren zu deren herstellung | |
DE1696075C3 (de) | Verfahren zur partiellen Galvanisierung einer Halbleiterschicht | |
DE2814044C2 (de) | ||
DE1766528B1 (de) | Elektrischer modulbauteil | |
DE2319287B2 (de) | Verfahren zum Entfernen von überschüssigem Lot von Kontaktfingern auf Modulsubstraten | |
DE2450907A1 (de) | Verfahren zum herstellen von tiefen dioden | |
DE1805396A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von plattierten metallischen Figuren auf einer Unterlage | |
DE4103834A1 (de) | Verfahren zur herstellung von leiterplatten | |
DE2831035A1 (de) | Verfahren zur herstellung eines waermeempfindlichen halbleiter-schaltelements | |
DE1052572B (de) | Elektrodensystem, das einen halbleitenden Einkristall mit wenigstens zwei Teilen verschiedener Leitungsart enthaelt, z. B. Kristalldiode oder Transistor | |
DE1591113B2 (de) | Verfahren zur befestigung eines integrierten schaltungsplaett chens auf einem substrat | |
DE2139850A1 (de) | Verfahren und einrichtung zur verbindung von kontakten an solargeneratoren | |
DE10303588B3 (de) | Verfahren zur vertikalen Montage von Halbleiterbauelementen | |
DE1591113C3 (de) | ||
DE2238569C3 (de) | Verfahren zum Löten einer Halbleiterplatte | |
EP0284817B1 (de) | Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen | |
DE1021520B (de) | Verfahren zur Punkt- oder Buckelschweissung zwischen T-foermig aneinanderstossenden Blechen | |
DE1912931C3 (de) | Halbleiterbauelement | |
DE2828044A1 (de) | Hochleistungs-halbleiteranordnung | |
DE3390451T1 (de) | Verfahren zum Laser-Löten |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |