DE1547441A1

DE1547441A1 - Verfahren zum Sortieren von Massenguetern

Info

Publication number: DE1547441A1
Application number: DE19671547441
Authority: DE
Inventors: Wigand Lunau
Original assignee: Rheinische Kalksteinwerke GmbH
Current assignee: Rheinische Kalksteinwerke GmbH
Priority date: 1967-02-22
Filing date: 1967-02-22
Publication date: 1969-11-13

Description

Verfahren zum Sortieren von Massengütern Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Sortieren von durchlaufenden Massengütern nach dem Reflektionsverfahren, insbes. von mineralischen Rohstoffen, wobei als Erkennungsmerkmal unterschiedliche Reflektionseigenschaften ausgenutzt werden.
Es sind eine Reihe von Methoden bekannt geworden, die sich mit dem Sortieren von Massengütern nach der Reflektionsmethode unter Verwendung von sichtbarem Licht auch von Licht spezieller Wellenlängen beschäftigen. Ein Problem bei dieser Erkennungsmethode nach dem Reflektionsverfahren ist die vollständige Ausleuchtung der zu erkennenden Güter ; insbes. dann, wenn das Sortieren aufgrund geringer Helligkeitsunterschiede, wie es beim Sortieren von Hartbrand und chbrand beispielsweise der Fall ist, zu erfolgen hat, können unerwünschte Schattierungen, die durch eine mangelhafte Beleuchtung hervorgerufen werden zu Auslesefehlern führen. Es ist daher bereits eine Vorrichtung bekannt geworden, welche diese Rehler derch kranz-oder schirmartig angeordnete Beleuchtungseinrichtungen in Verbindung mit einem oder mehreren Detektoren zu vermeiden sucht. Großerc Massengutstücke worden heufig nur nach den Reflektionseigenschaften eines kleinen Teiles ihrer sichtbaren Fläche beurteilt.
Sind mehrere Lichtquellen vorgesehen, so können dennoch bei ungünstigen Formen der Massengutstücke durch Schattenbildung Auslesefehler auftreten. Dazu kommt, daB der Untergrund eine definierte Helligkeit aufwoisen muß, wenn man nicht, wie es bei manchen Verfahren der Fall ist, zusätzlich Werte nach der Durchstrahlungsmethode z. B. mit Röntgenstrahlen mit berücksichtigt.
Es wurde nun gefunden, daß man bei einem Verfahren zum Sortieren von durchlaufenden Massengütern nach dem Reflektionsverfahren Auslesefehler über eine verbesserte Erkennungsmethode vermeiden kann, wenn man die Massenguter auch auf der der Meßstelle entgegengesetzten Seite vorzugsweise mit diffuse Licht beleuchtet.
Vorteilhaft fur die Erkennungsmethode ist es, wenn man sich die Tatsache der Totalreflektion zunutze macht. indem man die Rutsche, die aus lichtdurchlassigem Material bestehen mut. ales Lichtleitsystem benutzt. In diesem speziellen Fall kommt eine Lichtquelle zur Anwendung, die an einer gunstigan und zugänglichen Stelle der Rutsche angebracht wird. Die lichtdurchlässige Seite der Meßstrecke, die dem Sortiergut zugewandt ist. muß eine Rauhigkeit aufweisen, damit an diesen Stellen das Licht nicht reflektiert wird und austreten kann.
Zweckmäßig benutzt man zur Ermittlung der Reflektionseigenschaften ein optisches System, welches die Helligkeitswerte auf eine Strahlenmeßvorrichtung z. B. eine Fotozelle oder ein anderes lichtempfindliches Element projiziert. Es ist sehr vorteilhaft, zur Ermittlung der Helligkeitswerte eine Fernsehkamera zu verwenden, weil es mit Hilfe dies@@ Kamera möglich ist, nicht nur einzelne Stücke, sondern eine ganze Forderstra-#e mit mehreren Bahnen von Massengutstücken zu überwachen.
Die sonstige Ausleuchtung der Massengüter erfolgt wie üblich mit Auflicht, das diffus oder parallel auf die Massengüter fällt. Dadurch, da# erfindungsgem&B auch die Massengüter auf der der Meßstelle bzw. der Auinahmekamera entgegengesetzten Seite beleuchtet werden, entstehen auch bei enger Lage der Massenguter keine Schatten und es wird gleichzeitig ein in der Helligkeit definierter Hintergrund erhalten, der sich über die Beleuchtungsstärke auf den gewünschten Wert leicht einregulieren läßt.
Bei komplizierten unregelmäBigen Formen der MassengUter treten an den Flächen, die gegen die Beobachtungsrichtung stark geneigt sind infolge unterschiedlicher Beleuchtungsstärke schwankende Reflektionswerte auf, die zu fehlerhaften Aussortierungen fiihren können. Es ist daher sehr vorteilhaft, wenn man das zur Aufnahme der Reflektionseigenschaften benutzte optische System so einstellt. daß es den Bereich der Flächen geringster Beleuchtungsstärke unscharf aufnimmt.
Ferner ist es vorteilhaft. wenn man ein optisches System verwendet, welches eine geringere Tiefenschärfe besitzt und dieses optische System so auf die MassengUter einstellt, dal3 die zur Beobachtungsrichtung im wesentlichen senkrecht verlaufenden Flächen der MassengUter, das-sind die Flächen großer Beleuchtungsstarke innerhalb des Tiefenschärfebereiches.
Zur Durchführung des Verfahrens kann man erfindungsgemäß eine Vorrichtung benutzen, bei welcher der Teil welcher im Bereich der Erkennungseinrichtung liegt das ist z. B. eine Rutsche oder ein Forderband aus für diffuses Licht durchlässigem Material besteht. Hierfür kommen in erster Lirie eine Rutsche aus mattiertem Panzerglas oder durchlässigen Kunststoffen möglichst gober Harten, infrage. Ferner kann man ein Farderband aus lichtdurchlässigem elastischen Material für diese Vorrichtung verwenden. Es hat sich gezeigt daß beispielsweise eine Rutsche aus Panzerglas durch Kratzer. die herabrutschende Mineralien verursachen, in ihrer Lichtdurchlässigkeit so wenig verändert wird, das Auslesefehler icht zu befUrchten sind.

Claims

P a t e n t a n s p r U c h e 1.) Verfahren zum Sortieren von durchlaufenden Massengiitern nach dem Reflektionsverfahren, insbesondere von minera--lischen Rohstoffen, wobei als Erkennungsmerkmal unterschiedliche Reflektionseigenschaften ausgenutzt werden, dadurch gekennzeichnet, daß die Massengiiter von der der Meßstelle entgegengesetzten Seite vorzugsweise mit diffusem Licht beleuchtet werden.
2.) Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dal3 die Reflektionseigenschaften der Massengiiter über ein optisches System ermittelt werden, welches den Bereich der Flächen geringster Beleuchtungsstärke unscharf aufnimmt.
3.) Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet-daß ein optisches System mit geringer Tiefenschärfe verwendet wird.
4.) Verfahren nach den Ansprüchen 2 oder 3, dadurch gkennzeichnet, daß die der Optik zugewandten Flächen großer Beleuchtungsstärke der Massengüter innerhalb des Tiefenschärfebereiches liegen.
5.) Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach den Anspruchen 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Teil der Durchlaufvorrichtung für die Massengiiter, welcher im Bereich der Erkennungseinrichtung liegt z. B. eine Rutsche oder das Förderband, aus für diffuses Licht durchlässigem Material besteht.
6.) Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß das lichtdurchlässige Material nach dem Gesetz der Totalreflektion als Lichtleitsystem ausgebildet -ist.
7.) Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Fläche, die dem MeBsystem zugewandt ist, eine gerav. hte Oberflache aufweist.