DE1544282A1 - Verfahren und Vorrichtung zum Haltern flacher Halbleiterkristalle beim Eintauchen in eine Fluessigkeit - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zum Haltern flacher Halbleiterkristalle beim Eintauchen in eine Fluessigkeit

Info

Publication number
DE1544282A1
DE1544282A1 DE19661544282 DE1544282A DE1544282A1 DE 1544282 A1 DE1544282 A1 DE 1544282A1 DE 19661544282 DE19661544282 DE 19661544282 DE 1544282 A DE1544282 A DE 1544282A DE 1544282 A1 DE1544282 A1 DE 1544282A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
crystals
liquid
bars
semiconductor crystals
end plates
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19661544282
Other languages
English (en)
Inventor
Emeis Dr-Ing Reimer
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Publication of DE1544282A1 publication Critical patent/DE1544282A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
    • C23F1/08Apparatus, e.g. for photomechanical printing surfaces
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
    • H01L23/31Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
    • H01L23/3157Partial encapsulation or coating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Weting (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Description

  • Verfahren und Vorrichtung zum Haltern flacher Halbleiterkristalle beim-zintauchen in eine Flüssigkeit Es ist bekannt, Halbleiterkristalle für die Fertigung e.Lektrischer Halbleiterelemente durch Eintauchen in eine Flüssigkeit aufzubereI.ten. Auf diese a'eIse können die Krisialle, die meist eine flache Form, insbesondere "')#-,Iieiber.form, aufweisen beispielsweise durch Ätzen und jpülen gereinigt werden und eine ungestörte Oberflächenstruktur erhalten. Diese für,die weitere Fertigung notwendige Beschaffenheit kann während oder unmittelbar nach einer derartigen Behandlung leicht wieder beeinträchtigt werden, z.B. dadurch, daZ sich die gle,icnzeitig-behandelten Halbleiterkristalle aneinander reiben. Die Oberflächenstruktur kann ferner durch Ergreifen der Halbleiterkristalle z.B. mit einer Nletallpinzette wieder gestört werden. Dabei kann sich Abrieb von der Metallpinzette auf der Oberfläche der Halbleiterkristalle ablagern, der dann bei einem nachfolgenden Erwärmungsvorgang in diese eindringen und die elekt-CD rischen 3igenschaften der aus den Halbleiterkristallen hergestellten Halbleiterelemente in nicht voraussehbarer Weise beeinflussen kann. So können z.B. in die Halbleiterkristalle eingedrungene Abriebatome als zusätzliche parasitäre Störstellen oder als zusätzl:khe parasitäre Rekombinationszentren wirksam ein.
  • Die Aufbereitung von Halbleiterkristallen in eine-r Flüssigkeit kanniauch zu dem Zwecke dienen, einen Oberflächenüberzug mit bestimmten Eigenschaften aufzut-ragen oder zu erzeugen,'z.B. einejOxydhaut. Erfahrungsgemäß kann es leicht vorkommen, daß solche Oberflächenüberzüge während oder nach der Behandlung durch Berühren der Halbleiterkristalle untereinander oder mit Fremdkörpern, z.B. mit einer Pinzette, zumindest stellenweise beschädigt werden. Besonders empfindlich ist unter anderem ein nachleinem früheren Vorschlag durch Eintauchen in eine Behandlungsflüsbigkeit von spezieller Zusammensetzung hergestellter gallertartiger Oberflächenüberzug, der anschließend außerhalb der Behand . lungsflüssigkeit durch erhöhte Temperatur verfestigt wird und . dazu bestimmt ist, während eines im Zuge der Weiterverarbeitung folg enden Erhitzungs#rorgangs, insbesondere eines Diffusionsprozes-Ises,etwa noch im Halbleiterkristall vorhandene Schwermetallverunrein igungen zu gettern. Für einen derartigen Überzug ist es von außerordentlicher Bedeutung, daß er den Halbleiterkristall möglichst lückenlos umschließt.
  • Die!.Erfindung ermöglicht mi.t-einfachen Mitteln eine schonende Behandlung-der flachen Halbleiterkristalle beim Eintauchen in eine Aufbereitungsflüssigkeit,- ohne den Aufbereitungsvorgang #zu.;behindern oder zu stören. Sie kann diesen im Gegenteil in manchen Fällen sogar förderne indem sie der Flüssigkeit einen. bess#:t*-e'n'-und umfassenderen Zutritt zu den Ilalbleiterkristallen 1 verschafft.
  • Demgemäß betrifft die Erfindung ein Verfahren zum Haltern fl.-3.dher Halbleiterkristalle, insbesondere Siliziumscheiben, beim EintJuchen in eine Flüssigkeit,mit der die Kristalle für die Fertigung elektronischer Halblelterbauelemente äufbereitet werden. Erfindungsgemäß werden mehrere zu einem Stadel vereinigte Flachlicristalle mit waagrecht#liegender Stapelachse in einem ihrer Umfangsge-stalt ringepaßten Gestell nach Art eines Käfigs oder Halbkäfigs aus g#;gen die Flüssigkeit wiederstandsfähigem Werkstoff mit soviel axialem Spiel nebeneinander angeordnet, daß sich die einzelnen K-ristalle beim Aufbereitungsvorgang in der Flüssigkeit voneinander abheben können. In einem solchen Gestell können die HalbleiterkristaAe auch mehreren aufeinanderfolgenden gemeinsamen Behandlungen d er obeh geschilderten Art unterzogen und dazwischen nötigenfalls!in 1 verschiedeneBehandlungsapparaturen schonend eingebracht bzw. herausgenommen werden, bis ihre Oberflächenbeschaffenheit genügendiwiderotandsfähig geworden ist, daß sie unbeschadet einzeln einer #ndividuellen-Weiterverarbeitung ausgesetzt werden könnbn.' Das erwähnte axiale Spiel ermöglicht ein Eindringen der Behandlungsflüssi#keit-9 in die Zwischenräume zwischen den einzelnen Kristallplättchen.
  • Es wurde beobachtetp daß sich diese-beim Eintauchen des mit ihnen bestückten Gestells von selbst.voneinander abheben und eine aufrechte btellung einzunehmen. Wenn aie Behandlung mit einer Gasbildung an der lialbleiteroberfläche*vet-bun(len ist wie b . eispielsl,#e.L,3e da"; Ätzen, so tragen die zahlreichen immer neu entstehenden Gasblüschen zur Ab,.itändf-- zwischen den Kristallplättchen hei. Lie Z,wir;(--henrrititne daß die G"j#,-bl#-*jt;j#?ii(#t leicht entweichen könneng um neu gebildeten Gasbläschen Platz zu mabhen und dadurch die Intensität der Behandlung zu steigern. Eine weitere Steigerung ist dadurch möglich, daß das bestückte Haltegestell in der Flüssigkeit bewegt wird, vorne-hmlich-senkrecht zur Stapelachse.
  • Weitere Einzelheiten und Vorteile können.der folgenden Schilderung eines in der Zeichnung schematisch dargestellten Ausführungsbeispiels der neuen Halterungsvorrichtung entnommen werden.
  • Figur 1 zeigt eine Seitenansicht, Figur 2 die DraufsiQht der Vorrichtung., Die Vorrichtung, in der sich die zu einem zylinderförmi#en Stapel geordneten, s.-iCheibenförmigen Halbleiterkristalle 2- befinden, besteht au8-Vier Leisten 3 parallel zur Achse des zylinderförmigen Stapels und aus zwei S'ti-rnplatten 4. Die Leisten 3 haben beispielsweise rechteckigen Querschnitt und umgeben mit voneinander gleichen Winkelabständen wie ein zylindrischer Käfig den aus-den Halbleiterkristallen 2 zusammengesetzten Stapel mit radialem Spiel. Eine Schmalseite der Leisten 3 ist dem Stapel zugeWandt. Ihre Enden sind in an den Rändern der Stirnplatten 4 befindlichen Kerben 5 mit Reibungssitz befestigt, so daß die Stirnplatten 4 entlang den Leisten 3 verschiebbar sind. Die Leisten 3 und die Stirnplatten 4 bestehen vorteilhaft aus Kunststoff, insbe sondere aus Polytetrafluoräthyleng das auch unter der Markenbezeichnung "Teflontt b.ekanint ist, oder aus Chromnickelstahl.
  • Die Vorrichtung.kann so zusanimengebaut werden, daß zunächst die vier Leisten 3 an einem Ende in-den Kerben 5 einer der bel#dün Stirnplatten 4 befestigt vierden, Sodann werden auf diese Stirnplatten 4 die scheibenförmigen Halbleiterkristalle 2 unter Ausbildung eines -zylinderförmigen Stapels geschichtet. Hierauf wird die Vorrichtung verschlossen, indem die zweite Stirnplatte 4 mit ihren Kerben 5 auf die freien Enden der Kunststoffleisten 3 geschoben wird. Die Vorrichtung mit den Halbleiterkristallen kann nunmehr in die Behandlungsflüssigkeit getaucht werden.
  • Nach Entnahme der bestückten Vorrichtung aus der Behandlungsflüssigkeit kann man durch weiteres Zusammenschieben der beiden Stirn-.platten 4-den größten Teil der in den ZwischenräumEn befindlichen Flüssigkeit heräusdrücken, um einen gleichmäßigen, wohldefinierten Flüssigkeitsfilm auf den Flachseiten der Halb-leiterkristalle zu erhalten. Man kann diesen Flüssigkeitsfilm unter Belassung der Halbleiterkristalle in der Vorrichtung eintrocknen lassen und so eine unter Umständen gleichmäßige Ablagerung von in der Behandlungsflüssigkeit enthaltenen Bestandteilen auf der Oberfläche der Halbleiterkristalle erreichen. Die aus der vorstehenden Be'schreibung- oder/und die aus der zugehörigen Zeichnung - entnehmbaren Merkmale, Arbeitsvorgänge und Anweisungen sind, soweit nicht vorbekannt, im ein.zelnen, ebenso wie ihre hier erstmals offenbarten Kombinationen untereinander, als wertvolle erfinderische Verbesserungen anzusehen.

Claims (2)

  1. Patentansprüche Verfahren zum Haltern fladher Halbleiterkristalle, insbesondere Siliziumscheiben, beim Eintauchen in eine Flüssigkeit,-mit der die Kristalle für die Fertigung elektroniseiier Halbleiterbauelemente aufbereitet werden, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere zu einem Stapel vereinigte Flachkristalle mit waagrecht liegender Stapelachse in einem ihrer Umfangsgestalt angepaßten Gestell nach Art eines Käfigs oder HalbIkäfigs aus gegen die Flüssigkeit widerstandsfähigem Werkstoff mit soviei axialem Spiel nebeneinander angecrdnet werden, daß' sich die einzelnen Kristalle beim Aufbereitungsvorgang in der Flüssigkeit voneinander abheben können.
  2. 2. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,- daß das Gestell aus mindestens zwei voneinander lösbaren Teilen zusammengesetzt ist. 3. Vorrichtung nach Anspruch 2, für scheibenförmige Halbleiterkristalle, dadurch gekennzeichnet"daß das Gestell-die Form eines.zylindrischen Käfigs hat, dessen-Gitterstäbe mindestens zum Teil lösbar mit,scheiben- oder ringscheibenförmigen-Stirnplatten verbunden sind. 4. Vorrichtung. nach Anspruch 3, dadurch.gekennzeich4(-,t, daß die Stirnplatten und/oder die Gitterstäbe aus Kunststoffg vorzugsweise Pölytdtrafluoräthylen)"bestehen. 5. Vorrichtung nach Ans.pruch 3, dadurch gekennzeichilet, daß die- Stirnplatten und/oder die Gitterstäbe aus Chromnickelstahl bestehen. 6. Vorrichtung.nach Anspruch 3 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Gitterstäbe in Aussparungen der Stirnplatten mit Reibungssitz befestigt sind.
DE19661544282 1966-03-05 1966-03-05 Verfahren und Vorrichtung zum Haltern flacher Halbleiterkristalle beim Eintauchen in eine Fluessigkeit Pending DE1544282A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DES0102374 1966-03-05

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1544282A1 true DE1544282A1 (de) 1969-02-20

Family

ID=7524396

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19661544282 Pending DE1544282A1 (de) 1966-03-05 1966-03-05 Verfahren und Vorrichtung zum Haltern flacher Halbleiterkristalle beim Eintauchen in eine Fluessigkeit

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE1544282A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3820591A1 (de) * 1988-06-16 1989-12-21 Texas Instruments Deutschland Vorrichtung zum nassaetzen von duennen filmen

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3820591A1 (de) * 1988-06-16 1989-12-21 Texas Instruments Deutschland Vorrichtung zum nassaetzen von duennen filmen
US5019205A (en) * 1988-06-16 1991-05-28 Texas Instruments Deutschland Gmbh Apparatus for wet etching of thin films

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2362241A1 (de) Elektrische vorrichtung mit duennschichtwiderstaenden und verfahren zu ihrer herstellung
DE840418C (de) Verfahren zum Herstellen Stoerstellen enthaltender Halbleiter, insbesondere fuer Trockengleichrichter
DE1544282A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Haltern flacher Halbleiterkristalle beim Eintauchen in eine Fluessigkeit
DE1619975A1 (de) Halbleitender Koerper und Verfahren zu seiner Herstellung
DE2323988A1 (de) Verfahren zur abscheidung sehr duenner metallischer schichten
DE1614800C3 (de) Verfahren zum Herstellen eines Planartransistors mit Tetrodeneigenschaften
DE2524616A1 (de) Vorrichtung zum thermischen behandeln von halbleiterscheiben
DE589824C (de) Salzbadofen
DE1290925B (de) Verfahren zum Abscheiden von Silicium auf einem Halbleiterkoerper
DE1490652B2 (de) Verfahren zur Herstellung dünnschichtiger magnetfeldabhängiger Halbleiterkörper
DE675294C (de) Gestaltung von mit Gutstraegern bzw. Scheiben ausgeruesteten Einrichtungen zur Waermebehandlung und Trocknung von Guetern
DE883476C (de) Verfahren zur Verringerung der Alterung von Selengleichrichtern mit auf die Selenschicht aufgebrachter, beispielsweise aus einer Zinn-Kadmium-Legierung bestehender Deckelektrode
DE851981C (de) Verfahren zur Herstellung von Kupferoxydul-Trockengleichrichtern
DE868949C (de) Salzbadofen
DE1260033C2 (de) Verfahren zum herstellen von halbleiteranordnungen
DE1117965B (de) Verfahren zum Kennzeichnen einer Oberflaeche eines Halbleiterkristalls durch chemisches AEtzen
DE646493C (de) Verfahren zur Herstellung von Oxydkathoden
DE2437197A1 (de) Halbleiteranordnung und verfahren zur herstellung derselben
CH242724A (de) Elektrischer Kondensator, der aus mit Metallbelägen bedecktem Isoliermaterial aufgebaut ist.
DE629056C (de) Verfahren zur Verminderung von Kopplungen in Fernmeldekabeln mit Luftraumadern
DE853647C (de) Backhaube
DE961364C (de) Gleichrichtergeraet, insbesondere mit Germaniumgleichrichter vom Grossflaechentyp
Dyroff X. Das histologische Heilungsbild des Karzinoms nach Röntgenbestrahlung
Antweiler Religion als Einweihung
Rohlfs Dichtefluktuationen des interstellaren Gases und die Interpretation der 21-cm Emission