DE1516146B2 - Abtasteinrichtung zur lokalisierung von fehlerstellen in einem kabel - Google Patents
Abtasteinrichtung zur lokalisierung von fehlerstellen in einem kabelInfo
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors
- G01R31/59—Testing of lines, cables or conductors while the cable continuously passes the testing apparatus, e.g. during manufacture
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- G—PHYSICS
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- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/16—Construction of testing vessels; Electrodes therefor
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Description
15
Die Erfindung bezieht sich auf eine Abtasteinrichtung zur Lokalisierung von Fehlerstellen in einem mit
einer halbleitenden Hülle umgebenen Kabel, mit zwei an einen Entladungsdetektor angeschlossenen Elementen.
Derartige Einrichtungen sind bekannt (vgl. z. B. die französische Patentschrift 1139 032).
Sie umfassen in Laufrichtung des Kabels vor und hinter
den an einen Entladungsdetektor angeschlossenen Elementen liegende Laufrollen. Die aus leitendem
Werkstoff gefertigten Laufrollen dienen nicht nur zur Führung und Unterstützung des zu prüfenden Kabels,
sondern auch zur elektrischen Verbindung der halbleitenden Hülle des Kabels mit ErdeT Diese bekannte
Einrichtung ist jedoch nur zum Abtasten von Kabeln geeignet, die einen Leiterquerschnitt bis zu 95 mm2
besitzen. Eine Einrichtung zum Abtasten von Kabeln mit größeren Leiterquerschnitten würde zu groß werden,
da der kleinste Biegeradius des Leiters berücksichtigt werden muß.
Ferner sind Einrichtungen bekannt, bei denen das zu prüfende Kabel einen Behälter durchläuft, der mit
elektrisch leitenden Kugeln gefüllt ist (vgl. z. B. die deutschen Patentschriften 491 800 und 604 427). Auf
diese Weise ist die Berührungsfläche zwischen der halbleitenden Hülle des abzutastenden Kabels zwar
größer, jedoch wird der durch unterschiedliche Berührung der Kugeln untereinander und der Mantelfläche
des Kabels gebildete Störwert größer, wodurch die Meßgenauigkeit absinkt. Darüber hinaus liegt der
Geräuschpegel einer solchen Vorrichtung durch die ständige Bewegung der Kugeln wesentlich höher, als
bei der vorbeschriebenen Einrichtung, bei der die leitende Verbindung durch Abrollen erfolgt. Um die
Geräuschentwicklung zu verhindern, wurde an Stelle des Kugelbades ein Quecksilberbad verwendet. Dies
wirft jedoch an der Auslaufstelle des Kabels aus dem Quecksilberbehälter große Probleme bezüglich der
Abdichtung auf. Die bekannte Einrichtung konnte daher nur für eine bestimmte Kabelabmessung verwendet
werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Abtasteinrichtung kompakter Konstruktion zu schaffen,
die für jeden Leiterquerschnitt geeignet ist und die eine gleichmäßige Abtastung der gesamten Kabeloberfläche
ermöglicht. Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung dadurch gelöst, daß die Elemente
durch elektrisch leitende, mit Graphitpulver gefüllte Speicher gebildet sind und daß jeder Speicher mit
einer Einrichtung zum Erzeugen mechanischer Schwingungen ausgerüstet ist. Durch diese Anordnung
ist es möglich, das abzutastende Kabel, wie bei der erstgenannten bekannten Einrichtung, horizontal
durchlaufen zu lassen und das im Speicher befindliche Graphitpulver durch die mechanischen Schwingungen
praktisch in einem fließenden Zustand zu halten, so daß der Übergangswiderstand vom Speicher
auf die halbleitende Kabelhülle immer der gleiche ist. Darüber hinaus werden selbsttätig etwa vorhandene
Löcher oder schwache Stellen in der halbleitenden Abschirmung des Kabels durch Einfließen des elektrisch
leitenden Graphitpulvers in diese Stellen beseitigt.
Die Erfindung wird ausführlicher unter Bezug-" nähme auf die Zeichnung erläutert, wobei
F i g. 1 eine schematische Darstellung dej,,erfindungsgemäßen
Einrichtung und ·
Figr2 ein Schnitt an der Linie 2-2 der Fig. 1 im
vergrößerten Maßstab ist.
Gemäß der Darstellung in F i g. 1 umfaßt die erfindungsgemäße Einrichtung vier Metallspeicher 2, 3, 4
und 5, die alle mit Graphitpulver 6 gefüllt sind. Der Kabelkern 1 wird sukzessive durch alle vier Speicher
gezogen, indem er durch die Öffnungen 10 geführt wird, die gegenüber dem Kabelkern 1 abgedichtet
sind, um ein Austreten von Graphitpulver 6 zu verhindern.
Die Speicher 2 und 5 sind geerdet, während die Speicher 3 und 4 an einen Entladungsdetektor 7 angeschlossen
sind, dessen Meßwert zu einem Schreiber 8 geleitet wird.
Der Leiter 13 (F i g. 2), der durch eine Isolierung 12 isoliert und durch die halbleitende Hülle 11 geschirmt
ist, wird an einer Hochspannungsquelle angeschlossen, die allgemein durch das Bezugszeichen 9
gekennzeichnet ist.
In einem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist jeder der Speicher mit einem Vibrator 14 ausgerüstet, der
das Graphitpulver in einem schwebenden Zustand hält, so daß das Pulver in einem gewissen Sinne die
Eigenschaften einer Flüssigkeit annimmt, wodurch ein geringes Kontaktgeräusch erzielt wird.
Wenn sich auf Grund heraustretenden Graphitpulvers Schwierigkeiten einstellen, kann die gesamte
Einrichtung in einem belüfteten Raum aufgestellt sein.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
Claims (1)
- Patentanspruch:Abtasteinrichtung zur Lokalisierung von Fehlerstellen in einem mit einer halbleitenden Hülle umgebenen Kabel, mit zwei an einen Entladungsdetektor angeschlossenen Elementen, dadurch gekennzeichnet, daß die Elemente durch elektrisch leitende, mit Graphitpulver gefüllte Speicher gebildet sind und daß jeder Speieher mit einer Einrichtung zum Erzeugen mechanischer Schwingungen ausgerüstet ist.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL6508742 | 1965-07-07 | ||
NL656508742A NL153673B (nl) | 1965-07-07 | 1965-07-07 | Onderzoekinrichting voor kabeladers. |
DEN0027839 | 1965-12-31 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1516146A1 DE1516146A1 (de) | 1969-07-17 |
DE1516146B2 true DE1516146B2 (de) | 1972-07-13 |
DE1516146C DE1516146C (de) | 1973-02-15 |
Family
ID=
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3364420A (en) | 1968-01-16 |
SE330731B (de) | 1970-11-30 |
NL153673B (nl) | 1977-06-15 |
FR1462792A (fr) | 1966-12-16 |
GB1070089A (en) | 1967-05-24 |
BE673452A (de) | 1966-04-01 |
NL6508742A (de) | 1967-01-09 |
DE1516146A1 (de) | 1969-07-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
SH | Request for examination between 03.10.1968 and 22.04.1971 | ||
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |