DE1250164B - - Google Patents

Description

BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND

DEUTSCHES

PATENTAMT

AUSLEGESCHRIFT

Int. Cl.:

G06k

Deutsche Kl.: 42 m6 - 7/00

Nummer: 1 250 164

Aktenzeichen: S 85618 IX c/42 m6

Anmeldetag: 11. Juni 1963

Auslegetag: 14. September 1967

In Datenverarbeitungssystemen, in denen Lochkarlen oder Lochstreifen verwendet werden, ist es erforderlich, beim Abtasten der Daten, welche in Form von Löchern aufgezeichnet sind, Fehler zu vermeiden, da jeder Fehler, der während des Eingäbevorganges entstanden ist, sich bei der nachfolgenden Datenverarbeitung laufend wiederholt.

Eine bekannte Methode zur Prüfung der Einrichtung zum Abtasten der Eingabedaten besteht darin, den Lochstreifen oder die Lochkarten zweimal abzütasten und die beiden Abtastwerte zu vergleichen. Liegt eine Abweichung vor, dann Wird angenommen, daß durch eine Fehlleistung der Einrichtung ein Fehler entstanden ist. Bei anderen bekannten Prüfsystemen wird nur angezeigt, wenn ein Bauelement in der Abtasteinrichtung ausgefallen ist. Hierbei sind doppelte Einrichtungen und Vergleichsschaltungen erforderlich, was zu einer komplizierten Und kostspieligen Anlage führt. Fehlleistungen in optischen Abtasteinrichtungen sind beispielsweise der Ausfall der Lichtquelle, das Verschleißen der Öffnungen im Lichtweg zu den einzelnen Kartenlöchern, das Altern der lichtempfindlichen Elemente und der entsprechenden elektronischen Verstärker und der Anzeige-, vorrichtungen.

Durch das deutsche Patent 1 027 438 ist eine Einrichtung bekanntgeworden, welche bei Sperrung der Belichtung aller lichtempfindlichen Elemente durch die Kante des Aufzeichnungsträgers vermittels eines gemeinsamen, nichtlinearen Widerstandes eine Anzeige nur dann vermittelt, wenn alle Abtastkreise ansprechen. Diese Prüfeinrichtung erfordert zusätzlichen Aufwand. Auch eine weitere, durch die Auslegeschrift 1128 202 bekanntgewordene Prüfeinrichtung verwendet zusätzliche Schaltkreise und Relais zur Durchführung einer Prüfung auf Betriebsfähigkeit.

Die Erfindung bezweckt, den zusätzlichen Aufwand bekannter Prüfeinrichtungen zu vermeiden. Die Erfindung erreicht dies durch eine besondere Ausbildung des Abtastkreises, welche die Durchführung verschiedener Prüfungen mittels der gleichen Schaltglieder gestattet, die im gewöhnlichen Lesevorgang eingesetzt sind. Die Erfindung betrifft daher einen Abtaster für gelochte Aufzeichnungsträger, mit je einem lichtempfindlichen Element für jede der gleichzeitig abzutastenden ■ Lochpositionen, deren jedes über je einen abtasttaktgesteuerten UND-Schaltkreis auf eine Auswerteschaltung einwirkt. Sie ist dadurch gekennzeichnet, daß zur Prüfung des Alterungszustandes der lichtempfindlichen Elemente zusätzlich zu dem Abtasttaktimpuls dann, wenn kein Aufzeichnungsträger oder ein in sämtlichen Lochpositionen Abtaster für gelochte Aufzeichnungsträger

Anmelder:

Sperry Rand Corporation,

New York, N.Y. (V. St. A.)

Vertreter:

Dipl.-Ing. E. Weintraud, Patentanwalt,

Frankfurt/M., Mainzer Landstr. 136-142

Als Erfinder benannt:

John Antonio, Fairfield, Conn. (V. St. A.)

Beanspruchte Priorität:

V. St. v. Amerika vom 11. Juni 1962 (202 627) - -

gelochter Aufzeichnungsträger an der Abtaststelle vorliegt, ein höherer Prüfimpuls, zur Prüfung des betriebsfähigen Zustandes der Verstärkungselemente hingegen außerhalb des Abtasttaktes, wenn kein eine Information enthaltender Aufzeichnungsträgerbereich an der Abtaststelle vorliegt, ein Prüfimpuls an den dem zu prüfenden Abtastkanal zugeordneten UND-Schaltkreis gelegt wird, der zwischen das lichtempfindliche Element und das Verstärkerelement des Abtastkanals geschaltet ist.

Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.

Die lichtempfindliche Zelle beeinflußt ein zweckmäßig als Transistor ausgebildetes steuerbares Schaltglied. Wird die lichtempfindliche Zelle nicht belichtet, weil die Karte an dieser Stelle kein Loch aufweist, so bleibt der Transistor im nichtleitenden Zustand. Infolgedessen kann ein Impuls der mit dem Transistor verbundenen Impulsquelle auf den nachfolgenden Verstärker übertreten, und dieser vermag ein als Detektor wirkendes Flip-Flop einzustellen, so daß der Einstellausgang Spannung führt und kennzeichnet, daß keine Lochung abgetastet wurde. Fällt jedoch Licht auf die lichtempfindliche Zelle, dann wird der Transistor leitfähig geschaltet, so daß der Impuls der Impulsquelle nach Masse abgeleitet wird und nicht auf den nachfolgenden Verstärker übertreten kann. Das Flip-Flop verbleibt so in seiner Ruhelage und kennzeichnet die festgestellte Lochung. An die Verbindungsstelle zwischen dem nachfolgenden Verstärker und dem Schaltglied des Ableitpfades können

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verschiedene Impulsquellen angelegt werden. Es kann eine Impulsquelle mit höherer Spannung verwendet werden als der Spannung, die bei dem normalen Abtastvorgang verwendet wird, so daß Feststellungen möglich sind, ob die physikalischen Größen der Elemente der Einrichtung in ihren Werten oder unter einen vorbestimmten Arbeitspegel gesunken sind.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in den Zeichnungen dargestellt. Es zeigt

Fig.l
tung,

Ein Signal mit relativ kleinem Pegel erscheint am Ausgang einer Torschaltung 18, wenn auf den Leitungen 17 und auf Leitung 19 oder 71 Signale mit geeigneter Amplitude auftreten. Wenn an den Leitun-5 gen 17 kein Signal anliegt, während an Leitungen 19 oder 71 ein Signal gelegt wird, dann erscheint am Ausgang der Torschaltung 18 ein Signal mit relativ hohem Pegel. Der Ausgang der Torschaltung 18 ist mit einem Verstärker 22 verbunden. Der Ausgang

das Blockschaltbild einer Abtasteinrich- io des Verstärkers 22 führt zu dem Eingang eines Detektors 23, dessen Ausgangsleitungen an die Ausgangs

gefallen ist und ein Ausfall bevorsteht. Der Pegel des zulässigen Leitungsabfalles kann auf einen vorbestimmten Wert eingestellt werden. Es kann sowohl

werden. Der offene Lichteinfall wird zur Prüfung zweckmäßig im Abstand zwischen zwei einanderfolgenden Karten verwendet; es können hierfür jedoch

Fig. 2 die Schaltung eines Abtastkanals der Ab- klemmen 24 und 25 geschaltet sind, tasteinrichtung nach F i g. 1. Jeder Abtastkanal der Abtaststation 12 besteht aus

Vor der ausführlichen Beschreibung an Hand der einem lichtempfindlichen Element 16, deren nachge-Zeichnungen sollen kurz die allgemeinen Grundsätze 15 schalteter Torschaltung 18 mit daran angeschlossedes Erfindungsgegenstandes erläutert werden. nem Verstärker 22 und dem zugeordneten Detek-

Die Abtasteinrichtung nach der Erfindung dient tor 23.

dazu, binäre Informationen auf gelochten karten- Die Abtasteinrichtung 11 verfügt über nicht näher

oder streifenförmigen Aufzeichnungsträgern abzu- dargestellte Antriebsmittel, wie z.B. Antriebsrollen tasten und sich selbst darauf zu prüfen, ob eines ihrer 20 _od. dgl., die den Transport der Lochkarten durch die Bauelemente ausgefallen oder in seiner Leistung ab- Abtasteinrichtung bewirken. In der Abtaststation 12

werden während der Kartenbewegung die Spalten der Karten 15 aufeinanderfolgend abgetastet. Es gelangt dabei Licht von der Lichtquelle 13 durch eine Blennach der Methode des offenen Lichteinfalls und nach 25 denmaske auf den in der Abtaststation befindlichen der Methode des gesperrten Lichteinfalls gearbeitet Bereich der Oberfläche der Karte 15. Es werden jeweils alle Lochpositionen einer Kartenspalte gleichzeitig abgetastet. Dort, wo die Karte 15 gelocht ist, erregt das Licht durch die Lochungen 14 hindurch

auch vollständig gelochte Spalten oder Aufzeich- 30 die' einzelnen lichtempfindlichen Elemente 16, deren längsträger benutzt werden. Die Methode des ge- jedes je einer der Lochpositionen zugeordnet ist. sperrten Lichteinfalls kann dagegen unter Ausnutzung Während eine Lochspalte zwischen der Lichtquelle der Aufzeichnungsträgerteile verwendet werden, die 13 und den lichtempfindlichen Elementen 16 hinzwischen den Lochspalten stehenbleiben und somit durchbewegt wird, wird ein Erregerimpuls an die stets den Strahlungsweg des Lichtes sperren. Es kanu 35 Klemmen 19 sämtlicher Torschaltungen 18 zur Vor- 7,. B. auch der Bereich zwischen dem vorderen bereitung dieser Tore gelegt, damit eine Information Kartenende und der ersten Lochspalte verwendet hindurchgelangen kann. Wird keine Lochung an der werden. abgetasteten Lochposition festgestellt, dann bewirkt

Im weiteren Verlauf der Beschreibung wird zur das Ausgangssignal der Torschaltung 18 nach seiner Vereinfachung für die Methode des offenen Licht- 40 Verstärkung eine Umschaltung im Detektor 23. einfalls die Bezeichnung »offene Prüfmethode« und Gegenüber seinem Grundzustand, bei dem die Ausfür die Methode des gesperrten Lichteinfalls die Be- gangsklemme 24 positives und die Klemme 25 negazeichnung »gesperrte Prüfmethode« verwendet. tives Potential führt, liegt nach der Umschaltung die

Als Ausführungsbeispiel wird eine Abtasteinrich- Ausgangsklemme 21 an negativem und die Klemme tung mit einer Abtaststation und einer Lichtquelle 45 25 an positivem Potential.

beschrieben, welche durch die auf Karten vorhande- In F i g. 2 ist die Lichtquelle 13 neben den beiden

aufeinander abzutastenden Karten 15 und 15 ^4 gezeichnet. Es sind ferner die Bauteile eines Abtastkanals dargestellt. Der Ausgang der lichtempfind-50 liehen Elemente 16 ist an die Basiselektrode 34 eines Transistors 31 der Torschaltung 18 geschaltet. Ein Kondensator 35 ist zwischen die Basiselektrode 34 und Masse geschaltet. Die Emitterelektrode 32 ist über den Widerstand 37 an Masse geschaltet. Von bestimmter Höhe ausgesteuert, welches seinerseits 55 einer Impulsquelle 38 werden über die Klemme 19 zum Detektor geführt wird, der anzeigt, ob das Signal und einen Widerstand 36 Taktimpulse angelegt. Die einen vorbestimmten Pegel überschreitet. Kollektorelektrode 33 ist über einen Kondensator 39

Die F i g. 1 zeigt eine Lochkarten-Abtasteinrich- an die Basiselektrode 44 eines Transistors 41 des tung 11 mit einer Abtäststation 12. Das Licht einer Verstärkers 22 angeschlossen. Die Emitterelektrode Lichtquelle 13 gelangt durch Lochungen 14 einer 60 42 des Transistors 41 ist über einen Widerstand 46 Karte 15 auf lichtempfindliche Elemente 16, deren an Masse gelegt; die Kollektorelektrode 43 ist an eine Ausgang über die Drähte 17 jeweils mit dem Eingang Klemme 47 angeschlossen, die ein Gleichspannungseiner zugeordneten Torschaltung 18 verbunden ist. potential von -fl5V führt. Über Widerstand 45 ist Jede Torschaltung 18 besitzt Klemmen 19 und 71, die Basiselektrode 44 mit Masse verbunden. Die über die Signale zugeführt werden können, welche 65 Ausgangssignale des Verstärkers 22 werden an dem zusammen mit den Impulsen der lichtempfindlichen Verbindungspunkt der Emitterelektrode 42 und des Elemente 16 die Torschaltungen 18 auszusteuern ver- Widerstandes 46 abgenommen; sie werden über einen mögen. ' Kondensator 74 und eine Diode 75 zur Bäsiselek-

nen Lochungen strahlt, wobei das Licht auf lichtempfindliche Elemente fällt und diese erregt. Der Ausgang jedes lichtempfindlichen Elementes wird zu einer Torschaltung geführt.

Der Ausgang der Torschaltung führt zu einem Pegeldetektor, der nachfolgend »Detektor« genannt wird. Um den Zustand der Abtasteinrichtung zu prüfen, wird die Torschaltung von einem Signal mit vor-

trode 64 eines Transistors 61 geleitet. Der Transistor 61 ist ein Teil des Detektors 23, der als Flip-Flop ausgebildet ist und ferner den Transistor 51 enthält. Die Kollektorelektroden 53 und 63 sind kreuzgeschaltet, wobei die Kollektorelektrode 53 über einen Widerstand 66 an die Basiselektrode 64 und die Kollektorelektrode 63 über einen Widerstand 56 an die Basiselektrode 54 geschaltet sind. Die eine Ausgangsklemme 24 ist an die Kollektorelektrode 63 und die andere Ausgangsklemme 25 an die Kollektorelektrode 53 angeschlossen. Über einen Widerstand 55 bzw. 65 ist die Klemme 58, die ein Gleichspannungspotential von —15 V führt, mit den Kollektorelektroden 63 bzw. 53 verbunden. Widerstände 57 und 67 verbinden die Basiselektroden 54 und 64 mit einer Klemme 68, die auf einem Gleichspannungspotential von +15 V gehalten wird. Ein aus Widerständen 59 und 69 bestehender Spannungsteiler ist zwischen eine Klemme mit — 15-V-Potential und Masse geschaltet; der Verbindungspunkt der beiden Widerstände 59 und 69 ist mit der Basiselektrode 64 des Transistors 61 über eine Diode 75 verbunden.

Ein Impuls zur Rückstellung des Flip-Flops 23 in den Grundzustand kann über Klemme 76 und eine Diode 77 an die Basiselektrode 54 des Transistors 51 gelegt werden. Ein Impuls zur Prüfung des Abtastkanals kann über die Klemme 71 zugeführt werden. Über einen Widerstand 72 und eine Diode 73 wirkt er auf den Kollektor 33 des Transistors 31 ein.

Wenn während eines Abtasttaktes eine Lochung an einer Lochposition der abgetasteten Spalte vorhanden ist, gelangt Licht von der Lichtquelle 13 durch die Lochung und trifft auf das zugeordnete lichtempfindliche Element 16. Dieses erzeugt ein Ausgangssignal, das auf die Basiselektrode 34 einwirkt und den Transistor 31 in den leitfähigen Zustand schaltet. Während dieses Abtasttaktes wird von der Impulsquelle 38 über Widerstand 36 ein positiver Impuls an den Kollektor 33 des Transistors 31 gelegt. Da der Transistor 31 sich im leitfähigen Zustand befindet und der Wert des Widerstandes 36 verhältnismäßig niedrig ist, gelangt der positive Impuls von der Quelle 38 über den Kollektor und Emitter des Transistors 31 zur Masse, was dazu führt, daß am Kollektor 33 des Transistors 31 ein sehr kleines oder überhaupt kein Ausgangssignal erscheint. Die Parameter des Kreises sind so gewählt, daß das unter diesen Umständen erzielte Signal nicht ausreicht, um das Flip-Flop 23 einzustellen.

Wenn während eines Abtasttaktes an einer Lochposition der abzutastenden Spalte keine Lochung vorhanden ist, dann gelangt an dieser Lochposition kein Licht durch den Aufzeichnungsträger, und das zugeordnete lichtempfindliche Element 16 wird nicht erregt. Deshalb wird kein Signal an die Basis des Transistors 31 gelegt, und der Transistor 31 verbleibt im nichtleitenden Zustand. Der während des Abtasttaktes von der Quelle 38 angelegte positive Impuls wird, weil die Impedanz der Kollektor-Emitter-Strecke des Transistors 31 nun groß ist, als positives Signal über den Kondensator 39 an den Transistor 41 übertragen. Das Ausgangssignal des Transistors 41 schaltet das Flip-Flop 23 in den 1-Zustand, in dem die Ausgangsklemme 25 positives Potential führt.

Die Impulse der Quelle 38 sind mit dem Vorschub der Karten derart synchronisiert, daß sie jeweils dann auftreten, wenn sich eine Spalte des Aufzeichnungsträgers in der Abtaststation 12 befindet.

Wenn keine Karte in der Abtaststation 12 vorhanden ist, trifft das Licht von der Lichtquelle 13 auf sämtliche lichtempfindlichen Elemente 16. Dadurch ist die Möglichkeit gegeben, zwischen zwei Karten, aber auch bei Durchgang einer vollständig gelochten Spalte, sämtliche lichtempfindlichen Elemente zu prüfen, um festzustellen, ob sie richtig arbeiten. Durch Alterung der lichtempfindlichen Elemente, durch Schmutz in den Blendenöffnungen, zu niedrige Potentiale an den Transistoren und lichtempfindlichen Elementen, durch zu schwache Lampen und durch andere Auswirkungen des Gebrauchs und der Alterung fallen unter Umständen einzelne Abtastkanäle in der Leistung ab. Zur Prüfung der Abtastkanäle werden positive Impulse mit bestimmter Höhe an die zugeordneten Prüfklemmen 71 gelegt. Wenn genügend Licht auf das lichtempfindliche Element 16 auftrifft und die Vorrichtung richtig arbeitet, dann liegt ein hinreichend großes Eingangssignal an der Basiselektrode 34 und schaltet den Transistor 31 in den leitfähigen Zustand. Die Amplitude des Impulses an der Prüfklemme 71 ist größer als die eines Impulses der Impulsquelle 38. Nur wenn ein lichtempfindliches Element richtig arbeitet, dann reicht die Leitfähigkeit des zugeordneten Transistors 31 gerade aus, um die Weitergabe des Prüfimpulses von der Prüfklemme 71 zum Transistor 41 zu verhindern, so daß das Flip-Flop 23 nicht eingestellt wird. Wenn jedoch ein lichtempfindliches Element nicht richtig funktioniert, dann ist die Impedanz des zugeordneten Transistors 31 größer als bei richtiger Funktion. Daher wirkt nun ein Teil eines angelegten Impulses auch als Ausgangssignal, das am Kollektor 33 auftritt. Während aber in diesem Fall ein Impuls der Impulsquelle 38 nur ein so schwaches Ausgangssignal erzeugt, daß der Transistor 41 keinen Schaltbefehl an das Flip-Flop 23 abgeben kann, beeinflußt der größere Impuls der Prüfklemme 71 den Transistor 41, so daß dieser einen Impuls an die Basiselektrode 64 des Transistors 61 abgibt, der groß genug ist, um den Transistor 61 zu öffnen und somit das Flip-Flop 23 in den 1-Zustand einzustellen. Die Ausgangsklemme 25 erlangt dann ein positives Potential, und die Klemme 24 hat ein negatives Potential.

Ein danach an eine Klemme 76 gelegter Löschimpuls schaltet das eingestellte Flip-Flop 23 in den Grundzustand zurückt. Dadurch ergibt sich ein Ausgangssignal an Klemme 25, das anzeigt, daß die physikalischen Größen des lichtempfindlichen Elementes des Abtastkanals sich gegenüber einem vorbestimmten Stand verschlechtert haben. Das Ausgangssignal zeigt somit nicht an, daß ein Abtastfehler vorhanden ist, sondern weist nur darauf hin, daß der Abtastkanal in seiner Leistung bis zu dem Punkt abgesunken ist, an dem bei fortschreitendem Leistungsabfall Fehler zu erwarten sind. Der Punkt, an dem ein Ausgangssignal erzeugt wird, kann durch Einstellen eines der Bauelemente festgelegt werden. Das Flip-Flop 23 erhält seine Vorspannung von dem Spannungsteiler 59 bis 69, der das Potential bestimmt, das vor der Zustandsänderung des Flip-Flops überwunden werden muß. Die Amplitude des Prüfimpulses, welcher an die Klemme 71 gelegt wird, wird so groß gewählt, daß das Flip-Flop umgeschaltet wird, sobald die physikalischen Größen der optischen Bauteile unter einen vorbestimmten Stand abgesunken sind.

Die kurze niederohmige Strecke zwischen Kollektor 33 und Emitter 34 des Transistors 31 und der Detek-

lor 23 werden mit der beschriebenen offenen Prüfmethode nicht erfaßt. Eine vollständige Prüfung der Bauteile des gesamten Abtastkanals hinter dem lichtempfindlichen Element kann nach der gesperrten Prüfmethode durchgeführt werden. Hierbei erhalten die Torschaltungen 18 einen Impuls der Impulsquelle 38 oder der Prüf klemme 71 gerade dann, wenn eine nichtgelochte Spalte des Aufzeichnungsträgers oder der Bereich zwischen zwei Spalten in der Abtaststation 12 liegt; es fällt daher kein Licht auf die lichtempfindlichen Elemente 16.

Bei der offenen Prüfung würde ein Kurzschluß zwischen dem Kollektor 33 und dem Emitter 32 des Transistors 31 den Abtastkanal ebenso beeinflussen wie der Lichteinfall auf das lichtempfindliche EIement 16 infolge einer Lochung. Die gesperrte Prüfmethode ermöglicht es, solche Kurzschlüsse zu erkennen. Wenn zwischen Kollektor 33 und Emitter 32 ein Kurzschluß vorliegt, dann leitet der Transistor 31, und das Signal von der Quelle 38 wird über den Transistor 31 an Masse geleitet. Die Amplitude dieses Signals am Kollektor 33 ist daher nicht groß genug, um das Flip-Flop 23 aus der Grundstellung zu schaltern Während des gesperrten LichteinfaUs bleibt das Flip-Flop daher im Grundzustand, dagegen sollte ein richtig arbeitender Abtastkanal in diesem Fall (kein Lichteinfall) das Flip-Flop umschalten. Im Fall der gesperrten Prüfmethode ist an der Klemme 71 kein Signal erforderlich; statt dessen wird das Signal von der Quelle 38 angelegt. Auf diese Weise wird dei Abtastkanal, ausgehend vom Transistor 31, mit der gesperrten Prüfmethode erfaßt. Die offene Prüfmethode prüft hingegen nur die optischen Bauteile.

Obgleich ein Flip-Flop als Beispiel für einen Pegeldetektor angeführt wurde, so läßt sich zu diesem Zweck jede Schaltung verwenden, die auf Spannungspegel anspricht. An Stelle des Flip-Flops 23 können beispielsweise Differentialverstärker, potentialempfindliche Verstärker oder Torkreise und ähnliche Elemente verwendet werden.

Claims (4)

Patentansprüche:

1. Abtaster für gelochte Aufzeichnungsträger mit je einem lichtempfindlichen Element für jede der gleichzeitig abzutastenden Lochpositionen, deren jedes über je einen abtasttaktgesteuerten UND-Schaltkreis auf eine Auswerteschaltung einwirkt, dadurch gekennzeichnet, daß zur Prüfung des Alterungszustandes der lichtempfindlichen Elemente zusätzlich zu dem Abtasttaktimpuls dann, wenn kein Aufzeichnungsträger oder ein in sämtlichen Lochpositionen gelochter Aufzeichnungsträger an der Abtaststelle vorliegt, ein höherer Prüfimpuls, zur Prüfung des betriebsfähigen Zustandes der Verstärkungselemente hingegen außerhalb des Abtasttaktes, wenn kein eine Information enthaltender Aufzeichnungsträgerbereich an der Abtaststelle vorliegt, ein Prüfimpuls an den dem zu prüfenden Abtastkanäl zugeordneten UND-Schaltkreis gelegt wird, der zwischen das lichtempfindliche Element und das Verstärkerelement des Abtastkanals geschaltet ist.

2. Abtaster nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mit dem Verbindungspunkt des Ableitpfades (31) und der Auswerteeinrichtung (41, 23) eine Weitere Prüfimpulsquelle (21, 71) verbunden ist, welche Impulse größerer Amplitude als die Abtasttaktimpulse (18, 38) zu liefern vermag.

3. Abtaster nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das steuerbare Schaltglied (18) des Ableitpfades als Emitter-Kollektor-Strecke eines Transistors (31) ausgebildet ist, dessen Kollektor (33) mit den Impulsquellen (38, 71) und über einen Koppelkondensator (39) mit der Auswerteeinrichtung (41) verbunden ist.

4. Abtaster nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Ausgang eines dem Koppelkondensator (39) nachgeschalteten Verstärkers (41) mit dem Einstelleingang eines Flip-Flops (23) verbunden ist, dessen Rückstelleingang (76) periodisch zwischen zwei Abtasttakten Impulse zur Rückstellung in die Ausgangslage empfängt.

In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Patentschrift Nr. 577 035;
deutsche Auslegeschriften Nr. 1 027 438,
202;

schweizerische Patentschrift Nr. 356 946;
britische Patentschrift Nr. 771 592;
USA.-Patentschrift Nr. 2 891720.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

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