DE1154656B - Photoelektrische Oberflaechenabtastvorrichtung laufender Bahnen - Google Patents

Photoelektrische Oberflaechenabtastvorrichtung laufender Bahnen

Info

Publication number
DE1154656B
DE1154656B DEL39107A DEL0039107A DE1154656B DE 1154656 B DE1154656 B DE 1154656B DE L39107 A DEL39107 A DE L39107A DE L0039107 A DEL0039107 A DE L0039107A DE 1154656 B DE1154656 B DE 1154656B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
error
stage
light spot
control signal
blocking
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEL39107A
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Dipl-Ing Felix Lentze
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Original Assignee
Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to NL279098D priority Critical patent/NL279098A/xx
Application filed by Licentia Patent Verwaltungs GmbH filed Critical Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Priority to DEL39107A priority patent/DE1154656B/de
Priority to GB20808/62A priority patent/GB1003014A/en
Priority to US198911A priority patent/US3198951A/en
Publication of DE1154656B publication Critical patent/DE1154656B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
DEL39107A 1961-05-31 1961-05-31 Photoelektrische Oberflaechenabtastvorrichtung laufender Bahnen Pending DE1154656B (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL279098D NL279098A ( ) 1961-05-31
DEL39107A DE1154656B (de) 1961-05-31 1961-05-31 Photoelektrische Oberflaechenabtastvorrichtung laufender Bahnen
GB20808/62A GB1003014A (en) 1961-05-31 1962-05-30 A photo-electric surface scanning device
US198911A US3198951A (en) 1961-05-31 1962-05-31 Photoelectric control device for a flaw detector for moving webs

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEL39107A DE1154656B (de) 1961-05-31 1961-05-31 Photoelektrische Oberflaechenabtastvorrichtung laufender Bahnen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1154656B true DE1154656B (de) 1963-09-19

Family

ID=7268531

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEL39107A Pending DE1154656B (de) 1961-05-31 1961-05-31 Photoelektrische Oberflaechenabtastvorrichtung laufender Bahnen

Country Status (4)

Country Link
US (1) US3198951A ( )
DE (1) DE1154656B ( )
GB (1) GB1003014A ( )
NL (1) NL279098A ( )

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1547447B1 (de) * 1967-01-05 1970-09-24 Sick Erwin Spiegelrad-Abtastanordnung
US3584963A (en) * 1968-12-27 1971-06-15 Rca Corp Optical flaw detector
DE2258158A1 (de) * 1971-11-30 1973-06-07 Ferranti Ltd Schaltungsanordnung fuer einen detektor zum feststellen von fehlern in einer bewegten flaeche
DE2611539A1 (de) * 1976-03-18 1977-09-29 Agfa Gevaert Ag Verfahren zur fehlersuche bei bewegten materialbahnen
DE2834587A1 (de) * 1977-08-11 1979-03-01 Ti Fords Ltd Flascheninspektionsvorrichtung
DE2854057A1 (de) * 1977-12-16 1979-06-28 Canon Kk Ebenheits-messeinrichtung
DE3017672A1 (de) * 1979-05-11 1980-11-20 Sira Institute Vorrichtung und verfahren zum nachweis von loechern in platten-, blatt- oder folienmaterial
FR2470499A1 (fr) * 1979-11-26 1981-05-29 Dainippon Screen Mfg Procede de balayage d'une image originale au moyen d'un faisceau lumineux a grande vitesse
DE3013549A1 (de) * 1980-04-09 1982-01-28 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Anordnung zur signalauswertung bei einem lochsuchgeraet
DE3317538A1 (de) * 1982-05-19 1983-11-24 Hitachi Koki Co., Ltd., Tokyo Optisches abtastsystem
DE3404407C1 (de) * 1984-02-08 1985-08-22 Mergenthaler Linotype Gmbh, 6236 Eschborn Optisch-mechanischer Ablenker
DE3408106A1 (de) * 1984-03-05 1985-09-12 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Optischer rauheits-scanner
DE3447869C1 (de) * 1984-12-31 1986-04-10 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Optische Fadenrissueberwachungsvorrichtung
DE3539536C1 (de) * 1985-11-07 1987-06-19 Sick Optik Elektronik Erwin Optische Fadenrissueberwachungsvorrichtung fuer Tuftingmaschinen
DE3800543A1 (de) * 1988-01-12 1989-07-20 Feldmuehle Ag Vorrichtung zum pruefen von sich mit hoher geschwindigkeit bewegenden bahnfoermigen flaechengebilden
US4949191A (en) * 1986-10-24 1990-08-14 Edward & Leimer GmbH System for scanning an image on a moving surface
US4984898A (en) * 1987-02-27 1991-01-15 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. Laser interferometer for interferometric length measurements including an automatic-compensating circuit

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3317738A (en) * 1963-12-12 1967-05-02 Licentia Gmbh Photoelectric scanning arrangement using light conducting rod with fluorescent portion
US3345835A (en) * 1964-12-11 1967-10-10 Appalachian Electronic Instr Retro-reflective stop motion system
US3385971A (en) * 1965-08-06 1968-05-28 Appalachian Electric Instr Inc Radiation sensitive fabric flaw detecting systems
US3517202A (en) * 1967-11-14 1970-06-23 Us Navy Rotating-mirror optical scanning system with optical path length compensation
US3510664A (en) * 1968-01-08 1970-05-05 Gaf Corp Automatic laser beam scanning film flaw detector
US3521074A (en) * 1968-04-19 1970-07-21 Mandrel Industries Defect detector with rotating scanner
US3646353A (en) * 1970-10-19 1972-02-29 Eastman Kodak Co Flying spot scanner blanking
GB1389444A (en) * 1971-03-09 1975-04-03 Sira Institute Apparatus for automatic inspection of materials
JPS482793U ( ) * 1971-05-20 1973-01-13
DE2245058A1 (de) * 1972-09-14 1974-03-21 Sick Optik Elektronik Erwin Photoelektrische oberflaechenabtastvorrichtung
DE2256736C3 (de) * 1972-11-18 1979-01-25 Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart Meßanordnung zur automatischen Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit und Ebenheit einer Werkstückoberfläche
JPS5074987U ( ) * 1973-11-07 1975-06-30
DE2433682C3 (de) * 1974-07-12 1979-02-15 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Vorrichtung zur Überwachung einer Materialbahn oder einer sonstigen Abtastebene
JPS5127183U ( ) * 1974-08-20 1976-02-27
JPS51126191A (en) * 1975-04-25 1976-11-04 Central Glass Co Ltd Optical method to inspect a surface condition of a glass plate
DE2524152A1 (de) * 1975-05-30 1976-12-16 Philips Patentverwaltung Lichtstrahlablenkspiegelsystem zum abtasten von grossformatigen unterlagen
US4021031A (en) * 1975-12-08 1977-05-03 Butler Automatic, Inc. Web alignment system
US4203672A (en) * 1976-11-18 1980-05-20 E. I. Du Pont De Nemours And Company Scanning beam displacement compensation control system
DE2800351B2 (de) * 1978-01-04 1979-11-15 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Optische Vorrichtung zur Bestimmung des Lichtaustrittswinkels bei einer mit einem Lichtfleck abgetasteten Materialbahn
DE2827704C3 (de) * 1978-06-23 1981-03-19 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Optische Vorrichtung zur Bestimmung der Lichtaustrittswinkel
DE2827705C3 (de) * 1978-06-23 1981-07-30 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Gerät zur Feststellung von Fehlern an Bahnmaterial
US4723659A (en) * 1985-06-28 1988-02-09 Supernova Systems, Inc. Apparatus for detecting impurities in translucent bodies
DE3644124A1 (de) * 1986-12-23 1988-07-07 Linotype Gmbh Optisch-mechanischer ablenker
CN104568949B (zh) * 2014-12-23 2018-02-23 宁波亚洲浆纸业有限公司 一种纸板爆墨程度的定量检测方法及其装置
KR101994051B1 (ko) * 2016-05-23 2019-06-27 닛폰세이테츠 가부시키가이샤 형상 측정 장치 및 형상 측정 방법

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1771763U (de) * 1958-06-21 1958-08-07 Max Grundig Geraet zur linienweisen abtastung mit einer halbzylinderlinse.

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2393631A (en) * 1940-11-27 1946-01-29 Ilford Ltd Testing of photographic films, plates, and papers
US2719235A (en) * 1954-04-08 1955-09-27 Eastman Kodak Co Continuous inspection by optical scanning
US2812447A (en) * 1956-05-18 1957-11-05 Ca Nat Research Council Flaw detector for continuous sheet material
US2961547A (en) * 1957-04-16 1960-11-22 Benjamin L Snavely Scanning trace converter
US3026415A (en) * 1958-10-20 1962-03-20 Eastman Kodak Co Flaw detector for continuous web
NL259070A ( ) * 1959-12-22

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1771763U (de) * 1958-06-21 1958-08-07 Max Grundig Geraet zur linienweisen abtastung mit einer halbzylinderlinse.

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1547447B1 (de) * 1967-01-05 1970-09-24 Sick Erwin Spiegelrad-Abtastanordnung
US3584963A (en) * 1968-12-27 1971-06-15 Rca Corp Optical flaw detector
DE2258158A1 (de) * 1971-11-30 1973-06-07 Ferranti Ltd Schaltungsanordnung fuer einen detektor zum feststellen von fehlern in einer bewegten flaeche
DE2611539A1 (de) * 1976-03-18 1977-09-29 Agfa Gevaert Ag Verfahren zur fehlersuche bei bewegten materialbahnen
DE2834587A1 (de) * 1977-08-11 1979-03-01 Ti Fords Ltd Flascheninspektionsvorrichtung
DE2854057A1 (de) * 1977-12-16 1979-06-28 Canon Kk Ebenheits-messeinrichtung
DE3017672A1 (de) * 1979-05-11 1980-11-20 Sira Institute Vorrichtung und verfahren zum nachweis von loechern in platten-, blatt- oder folienmaterial
FR2470499A1 (fr) * 1979-11-26 1981-05-29 Dainippon Screen Mfg Procede de balayage d'une image originale au moyen d'un faisceau lumineux a grande vitesse
DE3013549A1 (de) * 1980-04-09 1982-01-28 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Anordnung zur signalauswertung bei einem lochsuchgeraet
DE3317538A1 (de) * 1982-05-19 1983-11-24 Hitachi Koki Co., Ltd., Tokyo Optisches abtastsystem
US4620768A (en) * 1982-05-19 1986-11-04 Hitachi, Ltd. Optical scanning system
DE3404407C1 (de) * 1984-02-08 1985-08-22 Mergenthaler Linotype Gmbh, 6236 Eschborn Optisch-mechanischer Ablenker
US4629283A (en) * 1984-02-08 1986-12-16 Allied Corporation Optical flat bed scanning system
DE3408106A1 (de) * 1984-03-05 1985-09-12 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Optischer rauheits-scanner
DE3447869C1 (de) * 1984-12-31 1986-04-10 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch Optische Fadenrissueberwachungsvorrichtung
DE3539536C1 (de) * 1985-11-07 1987-06-19 Sick Optik Elektronik Erwin Optische Fadenrissueberwachungsvorrichtung fuer Tuftingmaschinen
US4949191A (en) * 1986-10-24 1990-08-14 Edward & Leimer GmbH System for scanning an image on a moving surface
US4984898A (en) * 1987-02-27 1991-01-15 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. Laser interferometer for interferometric length measurements including an automatic-compensating circuit
DE3800543A1 (de) * 1988-01-12 1989-07-20 Feldmuehle Ag Vorrichtung zum pruefen von sich mit hoher geschwindigkeit bewegenden bahnfoermigen flaechengebilden

Also Published As

Publication number Publication date
NL279098A ( )
US3198951A (en) 1965-08-03
GB1003014A (en) 1965-09-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1154656B (de) Photoelektrische Oberflaechenabtastvorrichtung laufender Bahnen
DE3688015T2 (de) Profilmesseinrichtung mit vom Lichtfleck überstreifter Apertur.
DE2428123C2 (de) Anordnung zum Nachweisen von Fehlstellen eines mittels eines Laserstrahls abgetasteten Materials
DE2549457B2 (de) Elektronische Einrichtung zur Erfassung optisch erkennbarer Fehler
CH693468A5 (de) Verfahren und Vorrichtung für die Detektion oder Lagebestimmung von Kanten.
DE2827704C3 (de) Optische Vorrichtung zur Bestimmung der Lichtaustrittswinkel
CH643959A5 (de) Verfahren und vorrichtung zur automatischen lageerkennung von halbleiterchips.
DE2620240A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur pruefung lichtundurchlaessiger werkstuecke
DE3602008C2 ( )
DE19914962C2 (de) Optoelektronische Vorrichtung
DE2208559A1 (de) Anordnung zur bestimmung des ortes eines fliegenden gegenstandes
DE2727926C3 (de) Vorrichtung zur Ermittlung von Fehlstellen auf der reflektierenden Oberfläche einer Bahn
DE1211421B ( )
DE2800351B2 (de) Optische Vorrichtung zur Bestimmung des Lichtaustrittswinkels bei einer mit einem Lichtfleck abgetasteten Materialbahn
DE2258158C3 (de) Schaltungsanordnung für einen Detektor zum Feststellen von Fehlern in einer bewegten Materialbahn
DE69603619T2 (de) Vorrichtung und verfahren zum berührungslosen zählen von gestapelten objekten in einem stapel dünner objekte
DE2718711C2 ( )
DE2655704C3 (de) Vorrichtung zum Ermitteln von Fremdkörpern in Glasflaschen
DE1919879B2 (de) Vorrichtung zum nachweisen von oberflaechenfehlern
DE1914394A1 (de) Einrichtung zum Erfassen einer Randmarkierung
DE2817096A1 (de) Geschwindigkeits-erfassungsvorrichtung
DE3208042C1 (de) Verfahren zum Pruefen von sich in einer Richtung bewegten Gegenstaenden
DE1573496A1 (de) Vorrichtung zur Pruefung und Sortierung von bahn- oder blattfoermigen Erzeugnissen
DE2251915A1 (de) Vorrichtung zum feststellen von flekken oder fehlern in einer oberflaeche
DE2350278A1 (de) Verfahren und einrichtung zum lesen von codes