DE1919879B2 - Vorrichtung zum nachweisen von oberflaechenfehlern - Google Patents
Vorrichtung zum nachweisen von oberflaechenfehlernInfo
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Description
)ie vorliegende Erfindung betrifft eine beispielsse durch »Iron und Steel Engineer«, November
1965, S. 99 bis 102, oder in ähnlicher Weise durch »Tappi«, Bd. 48, Nr. 11, November 1965, S. 67A bis
73 A, bekannte Vorrichtung zum Nachweisen von Fehlern auf einer Oberfläche eines abzutastenden, in
seiner Längsrichtung durch eine Fördereinrichtung fortbewegten ebenen Objektes mit einer stationären
Lichtquelle zum Beleuchten des Objektes, die so angeordnet ist, daß auffallende und von der Objektoberfläche
reflektierte Lichtstrahlen nahezu parallel
ίο verlaufen, mit einem Drehspiegel, auf welchen die
von der Objektoberfläche reflektierten Lichtstrahlen treffen und der von einem Antriebsmotor so angetrieben
wird, daß er die Objektoberfläche nach einem vorgegebenen Abtastmuster abtastet und die Lichtstrahlen
zu einer eine Abbildungslinse und eine Blende aufweisenden Einrichtung zum Erzeugen einer
Abbildung eines Bereichs der abzutastenden Oberfläche in der Blendenebene weiterleitet, mit einer
Blendenöffnung, deren Fläche die jeweilige Größe des Abtastbereichs bzw. die noch nachzuweisende
Fehlergröße bestimmt und mit einer photoelektrischen Nar:hweiseinrichtung, welche das von der Abbildung
eines Oberflächenbereichs herrührende, durch die Blendenöffnung hindurchtretende Licht empfängt.
Diese Vorrichtung ist besondere in Verbindung mit Inspektion;;- oder Sortierungsvorrichtungen verwendbar.
Es sind verschiedene Vorrichtungstypen entwickelt worden, die zum Nachweisen von Fehlern wie Tupfen,
Flecken und Oberflächenstörungen (im folgenden allgemein als Fehler bezeichnet) Lichtnachweistechniken
verwenden, wobei der von den Fehlern reflektierte Lichtbetrag von dem der umgebenden
Oberfläche verschieden ist. Eine Fehlernachweisvorrichtung kann in Verbindung mit Sortierungsvorrichtungen
zum Sortieren von Objekten verschiedener Gestalt verwendet werden, um jene Objekte auszusortieren,
die unerwünschte Oberflächeneigenschaften haben. Eine Fehlernachweiseinrichtung kann auch
zur Inspektion von Heizfäden oder Streifen aus Materialien wie Papier oder Garn oder Seilen verwendet
werden.
Bekannte Nachweisvorrichtungen weisen, obwohl sie in vielen Fällen zufriedenstellend s'nd, dennoch
gewisse Unzulänglichkeiten auf. Beispielsweise wird bei einem bekannten Fehlernachweisvorrichtungstyp
ein Schlitz oder eine längliche öffnung verwendet, die so lang ist, wie die zu untersuchende Oberfläche
breit ist und die so breit ist, wie die Breite des kleinsten nachzuweisenden Fehlers. Wenn das Objekt relativ
zur Beobachtungsöffnung bewegt wird, kommt die vollständige Oberfläche in das Blickfeld der öffnung.
Das Vorhandensein eines Fehlers in dem Bereich, der für die öffnung sichtbar ist, verursacht eine Anderung
der Beleuchtung, die zum Erzeugen eines das Vorhandensein eines Fehlers anzeigenden Signals
nachgewiesen wird. Wenn die Oberfläche groß ist und die Fehler relativ klein, dann wird ein Schwanken
des von der Oberfläche herkommenden Lichtes nachgewiesen, wobei Beleuchtungsänderungen oder
eine sprunghafte Bewegung der Oberfläche Signalschwankungen hervorrufen, die gleich oder größer
den Signaländerungen sind, die vom Vorhandensein eines Fehlers herrühren. Demzufolge werden ungewollte
Signale erzeugt und ein Zurückweisen von Objekten oder Heizfadenteilen verursacht, die nicht
mit Fehlern behaftet sind.
Als anderes Beispiel für die bei bekannten Vor-
richtungen auftretenden Schwierigkeiten sei eine weitere
bekannte Fehlernachweisvorrichtung erwähnt, bei der eine Matrix kleiner Festkörperfotozellen verwendet
wird, die so angeordnet sind, daß sie einen Beobachtungsbereich bilden, der eine ähnliche Konfiguration
hat wie der oben beschriebene Schlitz oder längliche öffnung. Jede Zelle sieht daher nur einen
schmalen Streifen der zu untersuchenden Oberfläche, wenn die Oberfläche an der Matrix vorbeibewegt
wird. Die Zellen sind so verbunden, daß jede Zelle, die einen Fehler sieht, ein Ausgangssignal erzeugen
kann, das eine Zurückweisungsvorrichtung oder einen ähnlichen Mechanismus auslöst. Obwohl eine
solche Vorrichtung eine gute Ansprechempfindlichkeit ohne häuges Auftreten eines ungewollten Ansprechens
aufweist, sind Festkörperfotozellen dennoch viel zu kostspielig, vor allem da, wo ein schnelles
Ansprechen der Fotozellen erforderlich ist Weiterhin sind die teuren Siliziumfestkörperfotozellen
häufig gegen blaues Licht relativ unempfindlich, so daß extrem starke Lichtquellen benötigt werden,
wenn die Oberfläche mit Licht einer Spektralfarbe des blauen Endes des Lichtspektrums untersucht
wird.
Es sei als Beispiel noch eine andere bekannte Vorrichtung erwähnt. Bei einer solchen Vorrichtung
wird ein Schlitz oder eine längliche öffnung verwendet, wie in der zuerst beschriebenen Vorrichtung, in
Verbindung mit einer rotierenden Scheibe. Die Scheibe ist mit einer Vielzahl Löchern versehen und
wenn de Scheibe gegenüber dem Rahmen gedreht wird, wird der Schlitz längsweise durch die Bewegung
der Löcher in der Scheibe abgetastet. Zum Sammeln des die Löcher in der rotierenden Scheibe
durchdringenden Lichtes sind ein geeignetes Linsensystem und eine Fotozelle geeignet angeordnet. Ein
solches System gewährleistet eine hohe Empfindlichkeit ohne Erzeugen eines ungewollten Ansprechens.
Jedoch ändert die Quelle des in das Linsensystem einfallenden Lichtes ihre Position über einen relativ
großen Bereich mit der Bewegung der Löcher, die das Licht durchdringt. Demzufolge muß gewöhnlich
eine genügend große Linse verwendet werden, die ein Bild mit sehr geringer Vignettierung oder Qualitätsverringerung
oder Helligkeit über die Gesamtlänge des Schlitze* erzeugt. Das vergrößert in vielen
Fällen den Umfang und die Kosten beträchtlich.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es daher, eine zum Nachweisen von Fehlern auf einer Oberfläche
besser geeignete Vorrichtung anzugeben, die eine hohe Empfindlichkeit aufweist, die relativ unempfindlich
gegen Schwankungen des reflektierten Lichtes und ruckartige Bewegungen der zu untersuchenden
Oberfläche ist. bei der das Problem der Linsenvignettierung minimal ist, die billig ist, die ein
rasches Ansprechen gewährleistet und die, um den Schwankungen des reflektierten Lichtes Rechnung zu
tragen, automatisch normierbar ist.
Bei einer Vorrichtung der eingangs genannten Art wird die vorstehende Aufgabe erfindungsgemäß dadurch
gelöst, daß üie Geschwindigkeit der Fördereinrichtung
so mit der Geschwindigkeit! des Antriebsmotors für den Drehspiegel abgestimmt ist. daß die
Abbildung der Objektoberfläche während der Abtastung durch ein Spiegelteil des Drehspiegels nur
um dfe Hälfte der Breite der Blendenöffnung verschoben wird, und daß eine Normierungseinrichtung
zum Normieren der photoelektrischen Nachweiseinrichtung auf einen Bezugsspannungspegei vorgesehen
ist, welche eine Steuerschaltung umfaßt, durch welche ein elektronischer Schalter zwischen einen in den
Signalweg der photoelektronischen Nachweiseinrichtung in Reihe geschalteten Koppelkondensator und
einer Bezugsspannungsquelle abwechselnd bei der Abtastung der Objektoberfläche durch jedes aufeinanderfolgende
Spiegelteil ein- und ausgeschaltet wird. An dieser Stelle sei schließlich noch erwähnt, daß
ίο durch die deutsche Auslegeschrift 1 127 109 eine Vorrichtung zur laufenden Überwachung von bahn-
oder blattförmigen Erzeugnissen, zum Beispiel aus Papier,- auf optisch erkennbare Abweichungen bekannt
ist, bei dem von einer Lichtquelle aus auf die Oberfläche des Erzeugnisses ein Lichtstrahl gerichtet
und quer zur Bewegungsrichtung dieser Oberfläche von einem Rand zum anderen so geführt wird, daß
der vom Strahl auf dem Erzeugnis erzeugte Lichtfleck dessen gesamte Oberfläche abtastet, während
ao die vom Lichtfleckt erzeugte Helligkeit auf eine photoelektrische Einrichtung einwirkt und die hier
erzeugte elektrische Spannung zur Meldung etwaiger Fehler bzw. zur Aussortierung der mit Fehlem behafteten
Teile ausgewertet wird, wobei in der Zeit. die zwischen zwei aufeinanderfolgenden Querbewegungen
des abtastenden Lichtflecks über die zu prüfende Räche liegt, durch von der Bewegung des
Lichtstrahls abgeleitete Impulse eine — aus der Fernsehtechnik an sich bereits bekannte — Klemmschaltung
gesteuert wird, die dem Eingang der zur Auswahl der zu berücksichtigenden Fehler dienenden
Stufe der Auswerteeinrichtung am Beginn des einmaligen Uberquerens der Bahn durch den Lichtfleck
eine konstante — in geeigneter Höhe wählbare — Anfangsspannung aufzwingt.
Bei dieser bekannten Vorrichtung wird nur der Bereich durch die Abtasteinrichtung erfaßt, der durch
den von der Lichtquelle erzeugten Abtastlichtstrahl beleuchtet wird. Es ist daher bei dieser bekannten
Vorrichtung keine Verringerung des Betrachtstrahlformates auf einen Bereich in der Größenordnung
des kleinsten auf dem Produkt nachzuweisenden Fehlers vorgesehen. Die bekannte Vorrichtung weist
einen Schlitz auf, der sich über die Gesamtlänge des abzutastenden Produktes erstreckt, wobei der Schlitz
zwischen den Drehspiegeln und dem Produkt angeordnet ist. Dieser Schlitz bildet quasi ein Fenster, das
lediglich jegliches Fremdlicht vom Außendurchmesser des Abtastlichtstrahles fernhält und das nicht
selbst den Fleck erzeugt, der auf dem Produkt gebildet ist. Der Lichtfleck wird andererseits durch das
von der Lichtquelle erzeugte und über die Optik der Vorrichtung transmittierte Strahlformat bestimmt.
Somit ist diese bekannte Vorrichtung zum Fehlernachweis wenig empfindlich.
Diese bekannte Vorrichtung enthält darüber hinaus eine Normierungseinrichtung, die nicht auf das
abzutastende Objekt, d. h. das Produkt selbst, sondern die durch Betrachten eines separaten fehlerfreien
Streifens normiert, der neben der Bahn entfernt vom Produkt angeordnet ist. Folglich ist ein Normieren
vor jedem Überstreichen des Produktes vorgesehen, während im Unterschied hierzu gemäß dem Vorschlag
nach der Erfindung, ein Überstreichen des Produktes zum Bewirken des Normierens und das
nachfolgende Überstreichen des Produktes zum Erzeugen des Sortiersignals vorgesehen ist. Daraus folgt,
daß die bekannte Vorrichtung eine Schaltung auf-
weist, die zu Beginn jedes Überstreichens des Pro- in enthaltenen Fotomultipliers jeder geeigneten Konduktes
normieren muß, während die Vorrichtung struktion dargestellt. Die öffnung 18 hat eine Abnach
der Erfindung eine Schaltung enthält, die bei messung, deren Fläche ungefähr der Fläche des
jedem Überstreichen um das andere des Produktes kleinsten nachzuweisenden Fehlers entspricht. Demselbst
auf einen ausgewählten Pegel eingestellt ist. 5 zufolge wird sich das Ausgangssignal des Fotomulti-
Die Erfindung ist nachfolgend an Hand der Be- pliers entsprechend ändern, wenn während des wei-
schreibung von Ausführungsbeispielen gemäß den ter unten beschriebenen Abtast Vorganges ein Fehler
F i g. 1 bis 6 näher erläutert. In in den Abbildungsbereich rückt, den die Abtastein-
F i g. 1 ist ein Ausführungsbeispiel einer Vorrich- richtung oder der Fotomultiplier 13 sieht. Dieses
tung gemäß der Erfindung schematisch dargestellt; io Ausgangssignal wird, wie weiter unten beschrieben,
F i g. 2 zeigt schematisch die Vorrichtung nach mit einem Vergleichspegel verglichen und wenn eine
Fig. 1 von hinten gesehen; ausreichende Abweichung von diesem Vergleichspegel
F i g. 3 stellt ein Blockschaltbild der in einem Aus- vorhanden ist, dann wird ein Signal erzeugt, das eine
führungsbeispicl der Vorrichtung gemäß der Erfin- geeignete, nicht dargestellte, Zurückweisungsvorrich-
dung verwendeten Schaltung dar; 15 tung in Tätigkeit setzt.
F i g. 4 zeigt eine Reihe von Kurven, die die Funk- Um den Lichtweg von der Oberfläche 12 auf die
tionsweise der in Fig. 3 dargestellten Schaltung ver- Abtasteinrichtung 11 zu lenken, ist die reflektierende
anschaulichen; Einrichtung 14 zwischen der Oberfläche und der Ab-
F i g. 5 zeigt eine schematische Darstellung einer tasteinrichtung angeordnet. Die reflektierende Einweiteren
Ausführungsform der erfindungsgemäßen 20 richtung wird in einem vorgegebenen Abtastmuster
Vorrichtung; bewegt, so daß der abgebildete Bereich der Ober-
F i g. 6 stellt ein Blockschaltbild der in der Vor- fläche, den die Abtasteinrichtung 13 durch die
richtung nach Fig. 5 verwendeten elektrischen öffnung 18 sieht, gewechselt wird. In der dargestell-
Schaltung dar. ten Vorrichtung enthält die reflektierende Einrich-
Die Fehlemachweisvorrichtung umfaßt im wesent- 25 tung 14 einen Spiegel, der eine Vielzahl ebener Teile
liehen eine Einrichtung 11, die zum Erzeugen eines 22 besitzt, die um die Peripherie eines Trägerteiles 23
Bildes eines Bereiches der zu untersuchenden Ober- derart angeordnet sind, daß sie eine achteckige re-
fläche 12 dient, dessen Bildfläche ungefähr die glei- flektierende Außenfläche bilden. Der Trägerteil 23
ehe Größe wie die Fläche des kleinsten nachzuwei- wird mittels einer Riemenscheibe 24 gedreht, die
senden Fehlers hat. Außerdem ist eine Abtastein- 30 über einen Treibriemen 26 mit der Antriebsscheibe
richtung vorgesehen, die zum Abtasten des Beleuch- 27 eines Motors 28 gekoppelt ist. Die Rotationsrich-
tungsgrades des erzeugten Bildes dient. Zudem sind tung ist in Fig. 1 durch den Pfeil am Rotationsteil
reflektierende Einrichtungen 14 im Strahlengang der- angedeutet.
art angeordnet, daß der Strahlengang zwischen der Bei Betrachtung der Fig. 1 ist ersichtlich, daß,
Oberfläche und der Abtasteinrichtung in geeigneter 35 wenn der Trägerteil 23 rotiert, aufeinanderfolgend
Weise umgelenkt wird. Weiterhin ist eine Einrich- eines der Spiegelteile 22 in eine Stellung gebracht
tung 16 vorgesehen, die zum Bewegen der reflektie- wird, in der ein Bild der Oberfläche 12 auf den Spierenden
Einrichtungen dient in einem vorgegebenen gel 21 reflektiert wird und von diesem durch die
Abtastmuster, um den Abbildungsbereich der Ober- Linse 19 und die öffnung 18 auf den Fotomultiplier
fläche, den die Abtasteinrichtung sieht, zu wechseln. 40 13 abgebildet wird. Wenn sich die Winkelstellung der
Es folgt eine genauere Betrachtung der Fig. 1 einzelnen Spiegelteile ändert, wird der Bildausschnitt,
und 2. Die Bilderzeugungseinrichtung 11 umfaßt eine den der Fotomultiplier 13 durch die öffnung 18
lichtundurchläsige Platte 17 aus einem hierzu geeig- sieht, in Fig. 1 von links nach rechts bewegt. Der
neten Material, die einen Spalt 18 bildet. Eine Linse besondere Lichtweg eines Bildes von einem Bereich
19 ist gegenüber der Blende 18 so angeordnet, daß 45 24 auf der Oberfläche 12 ist mit den Linien 31, 32
sie ein Bild der Oberfläche 12 in oder nahe der und 33 aufgezeigt. Die Folge der Bewegung des
Ebene der mit der öffnung versehenen Platte 17 Spiegelteiles ist eine Verschiebung der Linie 31 in
fokussiert. Wenn es gewünscht wird, kann statt der Richtung des sie kreuzenden Pfeiles. Die Folge ist
dargestellten Einzellinse 14 eine Linsenkombination ein Abtasten von links nach rechts in Fig. 1, wenn
verwendet werden. Die BHderzeugungseinrichtung 50 jedes nachfolgende Spiegelteil in die geeignete Stelumfaßt
außerdem einen Spiegel 21, der mit seiner lung hinein und durch diese hindurch bewegt wird,
reflektierenden Oberfläche in einem Winkel von etwa Gleichzeitig wird das Objekt 34, das die zu unter-45°
zur Linsen-Öffnungs-Achse angeordnet ist. Der suchende Oberfläche 12 aufweist, in einer Richtung
Spiegel 21, die Linse 19 und die Öffnungsplatte 17 in die Zeichenebene von Fig. 1 hinein bewegt, mitsind
relativ zur Bewegung der Oberfläche 12 fixiert, 55 tels eines geeigneten Antriebes eines Fördergerätes
wie noch beschrieben wird, und die Lichtstrahlen, 36, auf dem das Objekt 34 liegt. Diese Bewegung ist
die durch die öffnung 18 hindurchtreten, durchdrin- so gewählt, daß die Oberfläche 12 — aus Gründen,
gen immer denselben Linsenteil der Linse 19 und die nachfolgend erläutert werden — nicht mehr als
immer in der gleichen Richtung. Das reduziert die an um die Hälfte der Breite der Öffnung 18 bei jeder
die zu verwendende Linse gestellten Anforderungen 60 links-rechts Bewegung der optischen Bahn 31 verhinsichtlich
ihrer Größe und Qualität stark und die schoben wird. Vom Antriebsmotor 28 zum Förder-Vignettierung
des Bildes, das die öffnung passiert, ist gerät 36 verläuft eine Antriebsvorrichtung, die schedurch
die Linse minimal. matisch angedeutet und mit dem Bezugszeichen 35 Um den Beleuchtungsgrad der durch die Apertur versehen ist, welche dazu dient, die Bewegungen beidefinierten
Abbildung abzutasten, ist die Abtast- 65 der in einer gewünschten Beziehung zu halten. Die
einrichtung 13 hinter der Platte 17 gegenüber der Fördergerätbewegung kann linear sein, wie dargestellt,
Öffnung 18 und der Linse 19 ausgerichtet angeord- sie kann aber auch jedes anderen zum Abtasten der
net. Die Abtasteinrichtung 13 ist in Form eines dar- zu untersuchenden Oberfläche geeigneten Typs sein.
teils 23 rotiert. Zum
vorrichtung, ^»
banden ist und zum s
die Untersuchung vol endet ^t * fW
nicht dargestellte Emm^ungen,wk ζ^ mecna
„,sehe Kontaktschalter oder eine J otozel^erwenaei
we T rden·. „,„ Ansnrerhen der Nachweisvor-
Um ein ungewolltes ^'^"„^^^β /u
riC UUng| SUT'SSSSchc w hr"ni des Abt ,tens
untersuchende Oberfläche walirei u " Ej
ausrechend ^.^^^^^^Z
^^Ά3ίΤ£ " ihr L- Zwischenstückes
zweier benachbarter Teile 22 des Siegels 14 sich der öffnung 18 nähert, nicht auftritt,
J6n* j nd eine der Objektoberflächen sichtbar 1Stt
sondern 6 nur dann auftritt, wenn Bereiche außerhalb
objektoberfläcbe nach beiden Seiten sichtbar
^ ^ ^ ^^ ^^^ ^ bdden £nden der
Ablenkung wird mittels einer torgesteuerten Einrichlung
geachtet, die im folgenden beschrieben wird und diesen unge;ünschten Teil der Ablenkung beseitigt.
DJ torgesteuerte Einrichtung wird zum Beseitigen
„ unerwünschter Teile der Ablenkung mittels einer Tor-Lampe47 und einer Tor-Fotozelle48 ausgelöst.
Die Tor-Lampe ist in einem Gehäuse ^angeordnet.
Spiegelsystem kongruiert
Refiexpnnzig arbeitet ™
zeugen, die paralle ™»™*™%^£^&n auf
dTotermZmdste 14 Tu e nem u'nge'wollten
der Oberfläche des 5P'^* Verunreinieungen
Ansprechen uhren we η sol ge J™2enden
,„ den von der Ober"^«/V1 X.™xTtösung ist eine
Lichtp ad gelangen. Die na hJbejte 1^s«"8 >«
Beleuchtung vorzusehen che erner Kleben p^ra
Beleuchtung so nahe w rnoghcl korn^m
sten Lampenbrnien bind jedoch in der Anwe α t
auf Grund .hrer G sun hu lunfc m dem MaBc^o
t'S elun« deί gewüisdSn SSeuchtun£4.keb
zur Erz elung des gewunw.ju «.
herangebracht werden tonnen
Bei der in P 1 g.,2 dargestellten Vornc^ggei^i
der Erfindung wird das ^^J"6™^? Sl
icuchtungsproblem durch £^^
pnsmenpaares 37 und 38 ge ost, o
liegenden Se.ten des Rota »1«^23 JJgeoran«
sind. Das von_ einem Lampcnbirnenpaa^ ^d Ji
herrührende Licht wird vo. K°"denso^mfn p«
43 so gebündeH daß ehe L ^^Pr
1!!
ΉΤί7ϊϊ
ΉΤί7ϊϊ
1!!^AiS Sie auf die Ober-
ΉΤί,7ϊϊ an den mit den Bezugszeichen 44 und 46
flache 12 an,der1 mi t acn g eine
versehenen Stellen Pro,^n 1";n W 1"prismen 37 und 38
KH? d!fs^ Sonteil 23 herangebracht
l d ß dt Bei eE SS immer parallel
n, so daß f^JÄ S zwei Lampen und
mt dp rntn'werdfn Se Schatten nSmali&rt und
zwei Prismen werden ^eJ.cnau
be Vertiefungen und R^ *»g beleihtet
den ausreichend und ^™^ 0J , M TQÜeTU
Es sei bemerkt, ^r^^fg^ der linse
sich die Lange des opMch«[Z£^JZ^6 ^.
19 zur ObeiflaotoUMtot Da^^bedmgt emeAn^
derung des Brennpunktes aea J»™?. ^* Demzu-Vergrößerungsverhaltnisses
der AbbddungDem^
folge .st es ratsam, ei~ ^^
messer zu verwende^ um^r^g
zu vernngern, der ,nfoh|£ J^™^ j
2°* aU^T fLL vSSn, um die Vergrößt
brennweitige.lapse-ζ»^^^^^^ der
rungsanderung und ^J-™"^
Luise w verringern, wenn sictt
rotierende Spiegel 14 ist an einem solchen S^ ^geordnet, daß eine Abtast-52
angeordnet, das eine kleine öffnung 53 aufweist.
Di d ö(Inungen 51 und 53 sind so angeordnet,
daß dic Tor-Fotozelle von der Tor-Lampe nur in
einer bestimmten Winkelstellung jedes Teiles 22 des
Spiegels 14 Licht empfängt. Wenn der Spiegel rotiert
wird von der Tor-Fotozelle ein Impuls erzeugt, und
* zwar jedesmal, wenn ein Spiegelteil vorbeigeht. Die-
ser Impuls wird zum Starten der Abtastperiode ver-
.ndem der Abtasti ls eher auftritt als das
ünschte Einsetzen der Abtastperiode und einen
terzögerungsmultivibrator (weiter unten beschrie-
b B Startstellung der Abtastperiode
^^ ^ ^ ^.^ ^B der Mu]tivjbrator
rasch in die genaue Startstellung der Abtastperiode eingestellt werden. Ein ähnlicher Multivibrator (un-
beschrieben), der zu Beginn der Abtastperiode ^ zum ^^ der ^ der
Abtastperiode verwendet werden. Als eine Alterna-
tive zu der vorausgehend beschriebenen Anordnung
kann der yon der F tozeUe 48 erzeugte Impuls zum
der verwendet werden, indem
Objektes durch die öffnung 18 in Sicht kommt.
^ ^ ^ wesen4hen die Anordnung des
in der Erfindung verwendeten elektrischen Systems
dargestellt. Der t-otomuitipner u, ω "«*'■ Sic.c
eine Festkö erfotozelle verwendet werden kann, umfaßt
eine Platte 54, eine Primärkathode 56 und eine Vielzahl von Sekundärkathoden oder Dynoden 57,
die mit Punkten verbunden sind, die längs eines Spannungsteiler^ verteilt sind. Der Spannungsteiler
58 ist über einen verstellbaren Abgriff 54 mit Erde verbunden und die an den Spannungsteuer 58 angelegte
Spannung wird durch Einstellen des Abgriffes 54 geregelt. Der AbgrifE büdet einen Teil eines Poten-
tiometersol, das mit einem Widerstand 62 zwischen
einer Spannungsquelle 63 mit hohem negativen Po-
ist über einen Widerstand 64 mit einer positiven g^ 66 verbunden. Die Platte £ außer.
dem mit einem Fotoröhrenverstärker 67 verbunden.
Änderungen in der vom Fotomultipüer 13 nachgewiesenen
Lichtmenge erzeugen entsprechende Anderungen in der Höhe des an den Verstärker 67 apgelegten
Signals. Das Ausgangssignal des Verstärkers
65 67 wird über eine, weiter unten ausführlich« be-
^^^ Nonnierungsvornchtung 68 einem Verstärker
69 zugeführt, der aus noch zu erläuternden
Gründen eine relativ hohe Emgangsimpedanz hat
Das Ausgangssignal des Verstärkers 69 wird über ein elektronischen Schalter 76 zugeführt, um den Schal-Gatter
70 in einen Spannungsdetektor 73 eingespeist. ter für die geeignete Länge der Zeit für die Nach-Das
Gatter70 umfaßt einen Widerstand 71 und einen weisperiode während des Abtastens geöffnet zu
Verstärker 72, die zwischen dem Verstärker 69 und halten.
dem Spannungsdetektor 73 in Reihe geschaltet sind. 5 Die Beziehung der verschiedenen Impulse kann
Der Verbindungspunkt zwischen dem Widerstand 71 aus F i g. 4 durch Vergleichen der graphischen Dar-
und dem Verstärker 72 ist über einen elektronischen Stellungen A, B, C und H entnommen werden. Es ist
Schalter 76 geerdet. ersichtlich, daß das Einsetzen des Ansteigens der
Der Spannungsdetektor 73 ist ein geeignetes span- Eingangsspannung an dem Spannungsdetektor mit
nungsempfindliches Gerät, das seinen Zustand an- io der Vorderflanke des Impulses des monostabilen
dert, wenn das Eingangssignal einen vorgegebenen Multivibrators 78 zeitlich übereinstimmt. Die Lage
Wert übersteigt, und ist durch ein geeignetes, sehe- dieser Vorderflanke ist einstellbar, wie das mit
matisch dargestelltes Potentiometer 74 regelbar. Die Pfeilen angedeutet ist. Ähnlich wird die Hinterflanke
Ausbildung des Detektors ist abhängig von dem des Eingangsspannungssignals zum Spannungsdetek-Signaltyp,
der zum Antreiben der verwendeten spe- i5 tor durch die Hinterflanke des rechteckwellenförmiziellen
Sortier- oder Zurückweisungsvorrichtung be- gen Ausgangssignals des Multivibrators 81 gesteuert,
nötigt wird, die von der Natur des zu untersuchenden das einstellbar ist, wie das durch die Pfeile in
Objektes oder der zu untersuchenden Objekte ab- F i g. 4 C angedeutet ist.
hängt. Wenn das zu untersuchende Objekt kontinu- Für einen zuverlässigen und exakten Betrieb ist es
ierlich ist, wie z. B. ein ausgezogener Heizfaden oder 20 erwünscht, daß das Eingangssignal zum Spannungs-Streifen
aus Papier oder Stoff, und wenn die Zurück- detektor 73 mit einem präzisen Bezugsweit eichbar
Weisungseinrichtung eine solche ist, die nur auf den ist, so daß die Dunkelheit der Fehler gegen ein unTeil
des Streifens oder Heizfadens einwirkt, der veränderliches Standard gemessen werden kann. Vereinen
Defekt hat, dann kann der Detektor eine schiedene Einflüsse können zu einem zeitlichen Wan-Schmidt-Trigger-Schaltunger
enthalten. Eine solche 25 dem des Fotomultipliers 13 führen. Wenn im Förder-Schaltung
stellt sich automatisch zurück, sobald der gerät zum Befördern der Objekte eine transparente
Defekt vorbeigelaufen ist. Wenn das zu untersuchende Flüssigkeit verwendet wird anstatt eines Fördcrban-Objekt
eines von vielen diskreten Objekten ist und des oder eines beweglichen Tisches wie bei den daiwenn
ein fehlerhaftes Objekt individuell von einer gestellten Vorrichtungen, dann kann die Flüssigkeit
geeigneten Ausrückvorrichtung ausgestoßen werden 30 verunreinigt und damit die Lichtdurchlässigkeit versoll,
dann kann der Detektor 73 eine rückstellbare ringert werden. Die Lampenbirnen 39 und 41 können
bistabile Einrichtung enthalten, wie z. B. eine Flip- zu einer mit dem Alter zunehmenden Verringerung
Flop-Stufe oder einen geeignet verbundenen, gesteu- der Lichtausbeute neigen und damit eine Venirceerten
Verstärker. Der Spannungsdetektor ändert da- rung des Beleuchtungsgrades der zu untersueUuibei
seinen Zustand, sobald ein Fehler festgestellt 35 den Oberfläche bewirken. Das Ausgangssigna'! des
wird und verbleibt in diesem Zustand bis er rück- Fotomultipliers 13 kann unstabil sein oder sich
gestellt wird, nachdam das ganze Objekt abgetastet in der Stärke ändern. Deshalb ist eine Normieruno.sworden
ist. Der Spannungsdetektor73 kann in seinen vorrichtung 67 und 69 vorgesehen, die von Zc;t :<u
Nichtzurückweisungszustand zurückgestellt werden, Zeit zum automatischen Normieren oder Eichen des
sobald ein abzutastendes anderes Objekt an einer 40 Fotomultipliers 13 dient.
geeigneten Stelle erscheint. Wenn die abzutastenden Objekte relativ kleine
Wie bereits beschrieben, ist Vorsorge getroffen, Oberflächen haben, ist es möglich, während de>- Z.-it
daß die Schaltung in der Weise gesteuert wird, daß zwischen zwei Objekten zu normieren oder na.:h/.;>
das tatsächliche Abtasten nur während der Zeit statt- eichen. Wenn die Oberfläche jedoch groß ist, so ciuß
findet, während der die Oberfläche des Objektes an 45 mehrere Überstreichungen der Oberfläche vorgcncr/ider
Bilderzeugungsvorrichtung vorbeigeführt wird. men werden müssen, kann es erwünscht sein, ΜϊυίΊ-Das
Steuern wird durch das Gatter 70 bewerkstelligt, ger zu normieren. Die Normierungseinrichtung 63
das den elektronischen Schalter 76 umfaßt, der an der Erfindung umfaßt einen Widerstand 83 "und
den Verbindungspunkt zwischen dem Widerstand 71 einen Kondensator 84, die zwischen den Ausesr.g
und dem Eingang des Verstärkers 72 angeschlossen 50 des Verstärkers 67 und den Eingang des Verstärkers
ist, um die Signale mit Erde nebenzuschließen. Der 69 mit hoher Impedanz in Reihe geschaltet sind. Ein
von der Torsteuerfotozelle 48 erzeugte Impuls, der elektronischer Schalter 86 ist von dem Verbindungsmit
der Bewegung des Spiegels 14 synchronisiert ist, punkt zwischen dem Kondensator 84 und dem Verwird
über einen Verstärker 77 einen die Nachweis- stärker 69 mit dem veränderbaren Abgriff eines Poperiode
startenden monostabilen Multivibrator 78 zu- 55 tentiometers 87 verbunden. Das Potentiometer 87 ist
geführt. Der monostabile Multivibrator 78 ist mit an einem Ende mit einer Vorspannungsquelle 88 vereiner
Verzögerung verbunden, die mittels einer sehe- bunden und ermöglicht ©ine Einstellung der Vormatisch
dargestellten Potentiometereinrichtung 79 spannung am Punkt 89 durch den elektronischen
einstellbar ist. Auf einen Eingangsimpuls anspre- Schalter 86. Der elektronische Schalter 86 ist bidirekchend
liefert der monostabile Multivibrator 78 nach 60 tional und kann beispielsweise eine geeignete FeIdder
eingestellten Verzögerungsdauer ein Ausgangs- effektvorrichtung enthalten. Wenn der Schalter
signal, das einen die Periodenlänge nachweisenden eingeschaltet ist, ist der Punkt 89 über den variablen
monostabilen Multivibrator 81 zugeführt wird. Auf Widerstand 87 mit der Vorspannungsquelle 88 verden
Empfang dieses Impulses ansprechend liefert der bunden. Unter solchen Umständen nrnmt der Kon-Multivibrator
81 ein Ausgangssignal, dessen Dauer 65 densator 84 eine Ladung auf, die gleich tier Potendurch
ein geeignetes Potentiometer 82, das in den tialdifferenz zwischen dem Ausgang des Fotozellen-Figuren
schematisch dargestellt ist, einstellbar ist Verstärkers 67 und der Vorspannung am Abgriff des
Das Ausgangssignal des Multivibrators 81 wird dem Potentiometers 87 ist. Der Normierungsprozeß, der
O 12
unten beschrieben wird, findet statt während einem Normierungsperioden ist das Ausgangssignal des
Überstreichen um das andere der Abbildung auf der Normierungsverstärkers 69 mit hoher Impedanz
Oberfläche. Das ist möglich, weil, wie bereits er- jedoch eben wie es das Eingangssignal zum Spanwähnt,
das Fördergerät so betrieben wird, daß es nungsdetektor 73 ist (graphische Darstellung H).
während jedes Überstreichens nicht mehr als um die 5 Dieses Niveau, das durch Einstellen des Vorspan-Hälfte
der Breite der Öffnung 18 wandert. Der elek- nungspotentiometers 87 ausgewählt ist, liegt unter
tronische Schalter 86 wird in einer solchen Weise dem Schaltniveau, das in der graphischen Darstelein-
und ausgeschaltet, daß er während einem Über- lung H durch die gestrichelte Linie angezeigt ist. Es
streichen um das andere eingeschaltet ist. Um dies zu sei an diesem Punkt außerdem bemerkt, daß der
ermöglichen, ist der Nachweisperiodenlängenmulti- io elektronische Schalter 76 während der Normierungsvibrator
81 mit dem Eingang oder der Triggerverbin- perioden die Eingangsspannung zum Spannungsdung einer bistabilen Einrichtung oder Flip-Flop- detektor 73 auf Null absenkt. Während der NichtStufe 91 verbunden. Der Flip-Flop 91 ist von dem normierungsperioden kann auch beobachtet werden,
Typ, der nach dem Empfang von aufeinanderfolgen- daß das Fotomultiplierausgangssignal die am Konden
Impulsen seinen Zustand in ein oder aus wech- 15 densator 84 liegende Spannung moduliert. Wie in der
seit oder schaltet. graphischen Darstellung H angezeigt ist, wird das
Der Ausgang des Nachweisperiodenlängenmulti- resultierende Signal von dem Verstärker 69 mit
vibrators 81 überbrückt außerdem den Flip-Flop 91 hoher Impedanz verstärkt und dem Spannungsdetek-
und ist mit dem Eingang eines UND-Gatters 92 ver- tor 73 zugeführt. Die Spitze 93 ist während der
bunden. Der Ausgang des bistabilen Flip-Flop 91 ist ao Nichtnormierungsperiode vorhanden, und durch gemit
dem anderen Eingang des UND-Gatters 92 ver- eignete Einstellung des Vergleichniveaus des Spanbunden.
Der Ausgang des UND-Gaiieis 92 ist mit nungsdetektors übersteigt das Schaltniveau des Spandem
bidirektionalen Schalter86 verbunden und wenn nungsdetektors das Vergleichsniveau. Das hat zur
das UND-Gatter einen Impuls dahin liefert, wird der Folge, daß der Spannungsdetektor ein Ausgangs-Schalter
86 während der Nachweisperiode geschlos- 25 signal zum Zurückweisen des entsprechenden Objeksen
Das UND-Gatter liefert jedoch nur dann ein tes oder Heizfadenteils oder Blattes liefert.
Ausgangssignal, wenn an dessen beiden Eingängen In F i g. 5 ist ein weiteres Ausführungsbeispiel der
Ausgangssignal, wenn an dessen beiden Eingängen In F i g. 5 ist ein weiteres Ausführungsbeispiel der
Signale gegenwärtig sind. Vorrichtung gemäß der Erfindung dargestellt. Die
Infolgedessen liefert das UND-Gatter nur während Vorrichtung nach F i g. 5 ist zum Abtasten von mehr
einer Nachweisperiode um die andere ein Ausgangs- 30 als einer Oberfläche eines Objektes geeignet, indem
signal zum Schließen des bidirektionalen Schalters zwei Teile des Spiegels gleichzeitig verwendet wer-86.
Diese soeben beschriebene Betriebsweise läßt den. In F i g. 5 sind Teile, die in ihrer Funktion Teilen
sich durch Vergleichen der Kurven C, D und E der in F i g. 1 ähnlich sind, mit dem gleichen Bezugs-F
i g. 4 verstehen. zeichen versehen, denen eine 1 voraussteht. Folglich
Während des Normierungsprozesses mit geschlos- 35 wird die Oberseite 112 eines auf einem Fördergerät
senem bidirektionalen Schalter 86 ist die im Konden- 136 befindlichen Objektes 134 mit einem Fotomultisator
84 während der Nachweisperiode gespeicherte plier 113 und den Bilderzeugungseinrichtungen 111
Ladung ungefähr gleich dem Mittelwert des während untersucht. Die Bilderzeugungseinrichtungen umfasgeschlossenem
Schalter86 empfangenen Lichtsignals. sen eine mit einer Öffnung 118 versehene licht-Dies
wird durch eine solche Auswahl der Kompo- 40 undurchlässige Platte 117, eine Linse 119 und ein
nenten ausgeführt, daß die Zeitkonstante des Kop- Reflexionsprisma 121. An dieser Stelle sei bemerkt,
pelkondensators 84 und des Reihenwiderstandes des daß ein Spiegel statt des Prismas 121 verwendet wer-Fotoröhrenverstärkers
67 und des elektronischen den kann und daß ein Prisma durch den Spiegel 21 Schalters 86 ungefähr gleich der zum Überstreichen in der in F i g. 1 dargestellten Vorrichtung ersetzt
der Oberfläche benötigten Zeit ist. Um die auf dem 45 werden kann.
Koppelkondensator 84 befindliche Ladung an einer Der Drehspiegel 114 umfaßt acht Spiegelteüe 122.
Änderung während der Zeit zu hindern, während der die achteckförmig um die Peripherie des Drehteils
der Schalter 86 geöffnet ist, ist die Zeitkonstante des 123 angeordnet sind. Zur besseren Übersicht sind
Koppelkondensators und der Eingangsimpedanz des die Einrichtungen zum Drehen des Drehteiles 123
Verstärkers 69 so ausgewählt, daß sie ausreichende 50 nicht dargestellt, es können aber dieselben verwendet
Länge hat, um eine Ladungsänderung in dem Koppel- werden, die in der zuvor beschriebenen Vorrichtung
kondensator während zwei Nachweisperioden zu ver- verwendet worden sind. Wenn der Spiegel rotiert,
hindern. fungiert der Lichtpfad, der durch die Öffnung 118
Da der Eingang des Normierungsverstärkers 69 hindurchtritt und durch die Linie 131,132 und 133
während einer Nachweisperiode um die andere mit 55 dargestellt ist, in einer ähnlichen Weise, wie der in
der Vergleichvorspannungsquelle am Potentiometer der vorhergehenden Vorrichtung, indem er über die
87 verbunden ist, ist jede Änderung der Lichtstärke Oberfläche 112 von links nach rechts ausgelenkt
ausgeschlossen, die von Verunreinigungen der opti- wird.
sehen Elemente oder der Bewegung des Objektes Unter gewissen Umständen, z. B. durch unexaktes
herrührt. 60 Plazieren der Objekte 134 auf dem Transportgerät
Die graphischen Darstellungen F, G und H der 136, kann es nicht möglich sein, das Absperren des
Fig. 4 illustrieren den Normierungsbetrieb. Aus der Eingangs zum Spannungsdetektor auf das präzise Ende
Darstellung F ist ersichtlich, daß das Fotomultiplier- der Nachweisperiode einzustellen. Eine Möglichkeit
ausgangssignal mit den Spitzen 93 während jeder zum Venneiden eines ungewollten Ansprechens unter
Nachweisperiode das Vorhandensein eines Fehlers 65 solchen Umständen ist in F i g. 5 dargestellt Ein beanzeigt.
Ein solcher Fehler, der sich wiederholende leuchtetes Teil, das aus einer Platte 201 aus diffusem
Anzeigen liefert, kann eine Linie sein, die transversal Glas besteht, ist so angeordnet, daß, wenn sich der
zur Überstreichungsrichtung verläuft. Während der Spiegel in der von einem Schattenbild angezeigten
Stellung befindet und der Iichtpfad daher keinen Teil der Oberfläche 112 einschließt, der Lichtpfad
vom diffusen Glas 201 aufgefangen wird. Das ist mit der gestrichelten Erweiterung der Linie 131 angedeutet.
Eine geeignete Lampe 202 ist mit einem nicht dargestellten Netzausschluß über eine variable Steuerung
203 verbunden. Der Beleuchtungsgrad der Lampe ist so groß, daß die Oberfläche des diffusen
Glases ungefähr den gleichen Beleuchtungsgrad aufweist wie die Oberfläche 112 des Objektes 134. Infolgedessen
tritt in der elektrischen Schaltung kein ungewolltes Ansprechen auf..
Die vertikale Oberfläche 204 des Objektes 134 wird durch einen Fotomultiplier 206 abgetastet Der
Fotomultiplier sieht einen kleinen Bereich der Oberfläche 204 durch eine öffnung 207 in einer lichtundurchlässigen Platte 208. Gegenüber der öffnung
207 ist eine Linse 209 angeordnet, wodurch eine der Bilderzeugungseinrichtung 111 ähnliche Bilderzeugungseinrichtung
211 gebildet ist. Ein anderer der Einsätze oder Teile 122 des Spiegels 114 wird zum
Reflektieren des Lichtes in ein Prisma 212 verwendet, welche wiederum das Licht auf die Oberfläche 204
reflektiert. Wenn der Spiegel 114 gedreht wird, wird der Lichtpfad über den abzutastenden Bereich der
Oberfläche 204 geführt. In dieser Anordnung tritt beim Überstreichen kein ungewolltes Ansprechen
auf, weil der Fotomultiplier 206 lediglich die Oberseite 112 des Objektes sieht, wenn sich der Spiegel
in der im Schattenbild gezeigten Stellung befindet, in der das Überstreichen des Lichtpfades erfolgt, wie
das mit der gestrichelten Linie in F i g. 5 angedeutet ist, wobei die Oberfläche im wesentlichen in demselben
Grad beleuchtet wird wie die Oberfläche 204.
Die elektrische Schaltung für die Vorrichtung nach F i g. 5 ist in F i g. 6 dargestellt. Jene Teile in F i g. 6,
die identisch mit den Teilen in F i g. 3 sind, sind mit den gleichen Bezugszeichen versehen, wobei ihnen
eine 1 voraussteht. In der Einrichtung nach Fig. 6
ist für das Seitenoberflächenabtasten ein zweiter Kanal vorgesehen. Der zweite Kanal ist identisch mit dem
ersten und dessen Elemente sind daher mit den gleichen Bezugszeichen versehen und mit einer vorausstehenden
2. Für beide Kanäle wird eine, in Fig. 5 nicht dargestellte, Einzeltorsteuerungsfotozelle 148
verwendet. Die Torsteuerungsfotozelle 148 liefert über einen Verstärker 177 an beide monostabilen
Multivibratoren Signale. Die Ausgänge der Spannungsdetektoren 173 und 273 sind über ein ODER-Gatter301
mit der, nicht dargestellten, Zurückweisungseinrichtung oder ähnlichen Mechanismen verbunden.
In dem Fall, in dem ein Fehler von einem der Abtastkanäle nachgewiesen wird, wird ein Zurückweisungssignal
erzeugt.
Die Beleuchtungseinrichtung für die Vorrichtungen nach den Fig. 5 und 6, die nicht dargestellt ist, enthält
geeignete Beleuchtungslampen in Verbindung mit Kondensorlinsen und reflektierenden Prismen in
der in Fig. 2 dargestellten Weise. Somit ist eine gleichmäßige Beleuchtung der zu untersuchenden
Oberflächen gewährleistet, obwohl in einer solchen Oberfläche Unregelmäßigkeiten vorhanden sein
können.
Es ist daher offensichtlich, daß die Vorrichtung gemäß der Erfindung eine empfindliche und exakte
Einrichtung zum Untersuchen von Oberflächen auf Fehler darstellt. Die Vorrichtung ist relativ billig,
gewährleistet ein rasches Ansprechen und ist, um Lichtschwankungen Rechnung zu tragen, automatisch
normierbar. Probleme, die im Zusammenhang mit der Vignettierung von Linsen auftreten, sind minimalisiert
und die Vorrichtung kann derart ausgebildet sein, daß sie sich zum gleichzeitigen Abtasten mehrer
Seiten eines Objektes eignet.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (4)
1. Vorrichtung zum Nachweisen von Fehlern auf einer Oberfläche eines abzutastenden, in seiner
Längsrichtung durch eine Fördereinrichtung fortbewegten ebenen Objektes mit einer stationären
Lichtquelle zum Beleuchten des Objektes, die so angeordnet ist, daß auffallende und von der
Objektoberfläche reflektierte Lichtstrahlen nahezu parallel verlaufen, mit einem Drehspiegel, auf
welchen die von der Objektoberfläche reflektierten Lichtstrahlen treffen und der von einem Antriebsmotor
so angetrieben wird, daß er die Objektoberfiäche nach einem vorgegebenen Abtastmuster
abtastet und die Lichtstrahlen zu einer eine Abbildungslinse und eine Blende aufweisenden
Einrichtung zum Erzeugen einer Abbildung eines Bereichs der abzutastenden Oberfläche in der
Blendenebene weiterleitet, mit einer Blendenöffnung, deren Fläche die jeweilige Größe des
AbLdbtbeieidis bzw. die noch nachzuweisende
Fehlergröße bestimmt und mit einer photoelektrischen Nachweiseinrichtung, welche das von der
Abbildung eines OberflXchenbereichs herrührende, durch die Blendenöffnung hindurchtretende
Licht empfängt, dadurch gekennzeichnet,
daß die Geschwindigkeit der Fördereinrichtung (36) so mit der Geschwindigkeit des Antriebsmotors (28) für den Drehspiegel (14)
abgestimmt ist, daß die Abbildung der Objektoberfläche (12) während der Abtastung durch ein
Spiegelteil (22) des Drehspiegels nur um die Hälfte der Breite der Blendenöffnung (18) verschoben
wird, und daß eine Normierungseinrichtung (68) zum Normieren der photoelektrischen
Nachweiseinrichtung auf einen Bezugsspannungspegel vorgesehen ist, welche eine Steuerschaltung
umfaßt, durch welche ein elektronischer Schalter zwischen einem in den Signalweg der photoelektronischen
Nachweiseinrichtung in Reihe geschalteten Koppelkondensator und einer Bezugsspannungsquelle
(88) abwechselnd bei der Abtastung der Objektoberfläche durch jedes aufeinanderfolgende
Spiegelteil ein- und ausgeschaltet wird.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Normierungseinrichtung
(68) eine Einrichtung zum Synchroniseren mit der Bewegung des Drehspiegels (14) umfaßt.
3. Vorrichtung nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß die Einrichtung zum Synchronisieren eine Steuerschaltung (70,76) und eine optische
Nachweiseinrichtung (47,48) umfaßt, die auf eine bestimmte Stellung des Drehspiegels (14)
zum Auslösen der Steuerschaltung anspricht.
4. Vorrichtung nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet,
daß die Einrichtung zum Synchronisieren zum periodischen Schließen des Schalters und damit
zum Koppeln der Vorspannungsquelle (88) mit dem Koppelkondensator (84) dient.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US72279168A | 1968-04-19 | 1968-04-19 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1919879A1 DE1919879A1 (de) | 1969-11-13 |
DE1919879B2 true DE1919879B2 (de) | 1972-12-14 |
Family
ID=24903400
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19691919879 Granted DE1919879B2 (de) | 1968-04-19 | 1969-04-18 | Vorrichtung zum nachweisen von oberflaechenfehlern |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3521074A (de) |
DE (1) | DE1919879B2 (de) |
GB (1) | GB1220901A (de) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3668409A (en) * | 1971-02-26 | 1972-06-06 | Computer Indentics Corp | Scanner/decoder multiplex system |
NO135609C (de) * | 1975-06-03 | 1977-05-11 | Tore Planke | |
US4454029A (en) * | 1981-05-27 | 1984-06-12 | Delta Technology Corporation | Agricultural product sorting |
US4626677A (en) * | 1984-09-27 | 1986-12-02 | Esm International, Inc. | Continuous normalizer for an electronic circuit that compensates for external and internal drifts factors |
JPH0620922B2 (ja) * | 1984-10-19 | 1994-03-23 | 株式会社東芝 | 被検物の搬送装置 |
US4723659A (en) * | 1985-06-28 | 1988-02-09 | Supernova Systems, Inc. | Apparatus for detecting impurities in translucent bodies |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
NL279098A (de) * | 1961-05-31 |
-
1968
- 1968-04-19 US US722791A patent/US3521074A/en not_active Expired - Lifetime
-
1969
- 1969-04-18 GB GB20013/69A patent/GB1220901A/en not_active Expired
- 1969-04-18 DE DE19691919879 patent/DE1919879B2/de active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1220901A (en) | 1971-01-27 |
DE1919879A1 (de) | 1969-11-13 |
US3521074A (en) | 1970-07-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) |