-
Spektroskopische Vorrichtung zur Herstellung von zeitlich aufgelösten
Spektren Bei der Untersuchung und Auswertung von in üblicher Weise erzeugten Funkenspektralaufnahmen
verursacht die Überlagerung der Spektren infolge der zeitlichen Änderung der Lichtemission
imFunkenSchwierigkeiten. Aus den bisherigen Untersuchungen ist bekannt, daß in den
Funkenspektren zu Beginn der Entladung das charakteristische, kontinuierliche Hintergrundspektrum
dem umgebenden Gases erscheint, welchem sich danach dessen schwerer anregbare Spektrallinien
überlagern. In der ersten Periode der Entladung erscheinen auch die vom Dampf der
Elektrode ausgestrahlten Linien, und erst dann (mit Abnahme der Anregungsenergie)
wird das interessierende Bogenspektrum ausgestrahlt. Zu Beginn der Funkenentladung
tritt außerdem in der Funkenstrecke infolge des von den durch die starken elektrischen
Felder der Elektronen und Ionen verursachten Starkeffekts auch die Verbreiterung
der Linien und Wellenlängenverschiebung einiger Linien auf. Wegen der sehr veränderlichen
Verhältnisse in der Lichtquelle ist auch die Veränderung der Halbwertsbreite und
Selbstabsorption der Spektrallinien sehr bedeutend. Weiterhin ist auch das Auftreten
und der zeitliche Verlauf dieser Erscheinungen an verschiedenen Stellen der Funkenstrecke
unterschiedlich. Aus diesen Erörterungen ergibt sich, daß die restlose Aufklärung
der in der spektroskopischen Lichtquelle verlaufenden optischen Erscheinungen nur
mittels zeitlich aufgelöster Spektren möglich ist.
-
DieAufgabe, zeitlich aufgelöste Spektren von Hochfrequenzfunkenentladungen
relativ kleiner Energie aufzunehmen, ist dadurch erschwert, daß die Lichtausbeute
einer einzigen solchen Funkenentladung zur Schwärzung der fotografischen Platte
nicht genügt. Es muß vielmehr der Lichteffekt von mehreren hundert oder tausend
solcher Entladungen verwendet werden, um eine brauchbare Aufnahme des Spektrums
zu erhalten. Da zur Untersuchung von zeitlich aufgelösten Spektren eine Auflösung
in der Größenordnung von Mikrosekunden oder noch darunter nötig ist, müssen solche
mehrere hundert oder tausend zeitlich aufgelöster Spektren genau aufeinander fotografiert
werden.
-
Um dies zu erreichen, wurden verschiedene Wege beschritten: a) Auflösung
der Spektren durch lichtelektrische Verfahren, b) Auflösung der in der Funkenentladung
herrschenden Spektralerscheinungen durch Drehspiegel. Im letzten Fall läßt sich
das Spektrum fotografisch oder fotoelektrisch wahrnehmen.
-
Das Verfahren nach b) hat den Nachteil, bei foto-
grafischer Wahrnehmung
des Spektrums lediglich für Funkenentladungen hoher Energie brauchbar zu sein, da
in diesem Falle einmalige Funkenentladungen mit geringem Energieinhalt nicht zur
Schwärzung der fotografischen Platte ausreichen.
-
Bei Verwendung solcher Drehspiegel ist das zeitliche Auflösungsvermögen
diejenige Zeit, in der sich das Bild der Lichtquelle um seine eigene Länge weiterbewegt.
Das Auflösungsvermögen ist also um so größer, je kleiner das Bild der Lichtquelle
in der Längsrichtung des Spektrografenspaltes und je größer die Laufgeschwindigkeit
des Bildes längs dieses Spaltes ist. Daraus ist ersichtlich, daß die Grenze des
Auflösungsvermögens bei der Kleinheit des Ausschnittes liegt bzw. bei der Kleinheit
des Funkenüberganges. Mit anderen Worten bedeutet dies, daß zu einer weitgehenden
Zeitauflösung sehr kleine Lichtquellenabmessungen gehören. Für eine Zeitauflösung
in der Größenordnung einer Mikrosekunde kann daher die zum Spektrografenspalt parallele
Dimension der Lichtquelle die Größenordnung von 0,1 mm nicht übersteigen. Diese
geringe Ausnutzung der Lichtenergie der spektroskopischen Lichtquelle ist auf gewissen
praktischen Arbeitsgebieten der Spektroskopie, hauptsächlich in der spektrochemischen
Analyse, unzulässig. Als Nachteil wird auch die verhältnismäßig verwickelte Optik
bei einer solchen
Drehspiegelanordnung empfunden, welche mit einem
großen Unsicherheitsfaktor sowie erheblichem Wirkungsgradverlust verbunden ist.
-
Es ergab sich somit die Forderung auf ein Gerät, welches folgende
Bedingungen erfüllen muß: 1. Die Zeitauflösung des Analysefunkens muß unter einer
Mikro sekunde liegen.
-
2. Die Analysefunken dürfen in ihrem Energieinhalt nicht beschnitten
sein.
-
3. Der Spektrografenspalt zur Durchlässigkeit eines Funken ausschnittes
muß so groß sein, daß kein nennenswerter Wirkungsgradverlust eintritt bzw. daß der
Bildausschnitt hierdurch unzulässig beschränkt wird.
-
4. Der Wirkungsgrad der Gesamtanordnung soll möglichst hoch sein,
um die Zeitdauer der Belichtung bei fotografischen Aufnahmen kurz halten zu können.
-
5. Die Punkte 1 bis 4 müssen in einem Gerät vereinigt sein, das auf
wirtschaftliche Weise herzustellen ist.
-
Diese Bedingungen werden durch eine spektroskopische Vorrichtung
zur Herstellung zeitlich aufgelöster Spektren mit einer zeitlich sehr genau arbeitenden
periodischen Lichtquelle, einem damit synchron bewegten Unterbrecher und einem elektrischen
Signalgenerator erreicht, die erfindungsgemäß als Unterbrecher eine da sich bekannte
Blende verwendet.
-
Der Unterbrecher ist im Wege des von der spektroskopischen Lichtquelle
ausgestrahlten Lichtes zum Spektrografen angeordnet. Durch Bewegen des Unterbrechers
wird einmal der Signalgenerator gesteuert, welcher die Funkenentladung einleitet,
zum andern aber auch gleichzeitig bzw. mit einer kurzen vorausbestimmbaren und einstellbaren
Laufzeitverzögerung der Spektrografenspalt freigegeben. Durch die Einstellmöglichkeit
der erfindungsgemäß verwendeten Blende ist es möglich, aus der Gesamtdauer des Analysefunkens
einen bestimmten Zeitabschnitt, welcher unter einer Mikrosekunde liegen kann, herauszuschneiden
und einmalig oder in wiederholter Folge auf den Spektrografen bzw. dessen fotografische
Platte oder lichtelektrische Einrichtungen zu projizieren.
-
Der aus dem gesamten Ablauf des Funkens herausgeschnittene Zeitabschnitt
kann hierbei immer gleichbleiben oder kann durch Wahl der Laufzeit zwischen Aussteuerung
des Signalgenerators und Freigabe des Spektrografenspaltes innerhalb der Zeitdauer
des Analysefunkens verschoben werden.
-
Die Vorrichtung ermöglicht auf diese Weise eine Zeitauflösung welche
ohne weiteres unterhalb einer Mikro sekunde gelegt werden kann. Somit ist die erste
oben gestellte Bedingung erfüllt. Da weiterhin ein so ausgestattetes Gerät unabhängig
vom Energieinhalt des Analysefunkens arbeitet, ist auch die zweite Forderung in
vollkommener Weise berücksichtigt.
-
Die Form des Spektrografenspaltes kann nach den opitmalen Bedingungen
des Spektrografen gewählt werden, da die Spaltbreite keinen Einfluß auf die Zeit-Auflösung
hat, wenn das Gerät mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung ausgestattet ist. Außerdem
wird der Bildausschnitt nicht eingeengt, und es tritt durch unzulässige Abdeckung
der Lichquelle kein Wirkungsgradverlust ein. Da weiterhin die nachfolgende Optik
durch Verwendung leistungsstarker Funken wesentlich vereinfacht werden kann, ergibt
sich ein hoher
Wirkungsgrad der Gesamtanordnung, womit die Voraussetzung zur Erfüllung
der Punkte 3 und 4 gegeben ist. Die Herstellung der Vorrichtung gemäß der Erfindung
ist auf einfachste Weise möglich, da lediglich die als Unterbrecher dienende Blende
im Wege des vom Analysefunken ausgehenden Lichtes angeordnet und bewegt werden muß.
Somit ist auch die fünfte Bedingung erfüllt.
-
Es hat sich als zweckmäßig erwiesen, die Blende als Drehscheibe mit
mindestens einer Öffnung auszubilden. Bei Verwendung einer solchen rotierenden Scheibe
als Unterbrecher sind die Verhältnisse besonders leicht überschaubar. Insbesondere
trifft dies zu, wenn der Signalgenerator durch eine optische Einrichtung, also beispielsweise
durch eine Fotozelle, gesteuert wird. Zweckmäßigerweise wird dann davon ausgegangen,
daß durch die erwähnte Öffnung in der Drehscheibe hindurch die Fotozelle belichtet
wird, die ihrerseits den Signalgenerator aussteuert, der die Einleitung der Funkenentladung
bewirkt, und daß die gleiche Öffnung sodann beim Weiterwandern der Drehscheibe den
Spektrografenspalt freigibt und hiermit einen Abschnitt aus dem Analysefunken zur
Projektion freigibt, wobei die Größe dieses Abschnittes der Zeit nach durch die
Größe der Öffnung und die Drehzahl der rotierenden Scheibe und der Lage nach durch
die Laufzeitverzögerung zwischen Belichtung der Fotozelle und Freigabe des Spektrografenspaltes
festlegbar ist.
-
Ein weiterer Vorteil einer solchen als Drehscheibe ausgebildeten
Blende ist darin zu sehen, daß sich Öffnungen beliebiger Form an verschiedenen Stellen
auf dem den Spektrografenspalt abdeckenden Umfang der Drehscheibe anbringen lassen.
Hierdurch ist sowohl die Zeitdauer des interessierenden Teiles aus der Gesamtdauer
des Analysefunkens zu beeinflussen als auch die gegebenenfalls erwünschte zeitliche
Wanderung des herausgeschnittenen Zeitabschnittes.
-
Es sei hier noch angemerkt, daß Blenden zwar bei den verschiedensten
optischen Vorrichtungen bekannt sind, sie dort aber einerseits der Schwächung von
Strahlenbündeln und andererseits der räumlichen Zuordnung von Gegenstandspunkten
zu entsprechenden Bildpunkten dienen. Demgegenüber wird mit der erfindungsgemäßen
Vorrichtung keinesfalls eine solche Wirkung beabsichtigt, sondern es ist hierdurch
erst möglich geworden, die volle Lichtausbeute des Analysefunkens auf die lichtempfindliche
Schicht bzw. die fotografische Platte des Spektrografen zu projizieren.
-
Außerdem ist der Analysefunken in seinem Energieinhalt nicht beschnitten,
sondern die Blende ergibt die Möglichkeit, Analysefunken mit derjenigen Energie
zu verwenden, welche vom spektroskopischen Standpunkt aus gefordert werden muß.
-
In den Zeichnungen sind einige Ausführungen der Vorrichtung nach
der Erfindung dargestellt, doch ist die Erfindung nicht auf sie beschränkt.
-
Fig. 1 stellt die Lichtquelle hoher Präzision, den mit diesem synchron
bewegten Abblendschirm in Draufsicht ferner schematisch den elektrischen Signalgenerator
und den Spektrografen dar; Fig. 2 a zeigt in Vorderansicht eine Drehscheibe als
Abblendschirm mit dem dazugehörigen Skalensystem; it2b 2b ist eine Draufsicht zu
Fig. 2 a mit dem Motor zum Antrieb der Drehscheibe; Fig. 3 und 4 zeigen zwei Abänderungen
der Drehscheibe als Abblendschirm.
-
Im unteren Teil der Fig. list das Schaltschema des elektronisch gesteuerten
Präzisions-Funkenerzeugers als Lichtquelle dargestellt, der obere Teil zeigt die
optische Vorrichtung.
-
Im Funkenerzeuger ist C der die Anregungsenergie liefernde Kondensator
(Arbeitskondensator), welcher vom Hochspannungstransformator T über die Gleichrichterdioden
V 1 und V2 aufgeladen wird. Links vom Kondensator C des in Fig. 1 dargestellten
Funkenerzeugers befindet sich der Ladungsstromkreis rechts der Entladungsstromkreis.
Im Entladungskreis ist A die Analysenfunkenstrecke, die durch Widerstand R 5 überbrückt
wird, G1 und G2 sind Steuerfunkenstrecken, L 2 und R 3 im Entladungskreis sind eine
zur Einstellung der Betriebsverhältnisse benötigte Selbstinduktion bzw. ein ohmscher
Widerstand. R 1 und R2 sind spannungsteilende ohmsche Widerstände, welche die Ladespannung
des Kondensators C gleichmäßig auf die symmetrisch eingestellten Doppelsteuerfunkenstrecken
G1 und G 2 verteilen. V3 ist eine Elektronenröhre oder ein gleichwertiges Element,
in dessen Anodenkreis der Widerstands4 eingeschaltet ist. Die Elektronenröhre ist
durch etine negative Vorspannung auf dem Gitter abgesperrt.
-
Die Doppelsteuerfunkenstrecken G1 und G2 sind so eingestellt, daß
im aufgeladenen Zustand des Kondensators C durch diese Funk strecken eben kein Durchschlag
erfolgt. Wird in diesem Zustand auf das Gitter der Röhre V 3 ein positives Spannungssignal
gegeben, zündet die Röhre an, und die ganze Ladungsspannung des Kondensators C erscheint
an der Funkenstrecke G1, infolgedessen schlägt diese durch, und der Kondensator
C beginnt sich über L2-R3-R5-G1-R4 und V3 zu entladen. Da der Durchschlag bei G1
praktisch einen Kurzschluß bedeutet, erscheint nach dem Durchschlag nahezu die ganze
Ladungsspannung des Kondensators C an den Polen der Widerstände R 4 und R 5 und
erfolgt somit der Durchschlag bei G2 oder A abhängig davon. welcher von den letzteren
durch einen größeren Widerstand überbrückt ist. Falls - wie es in der Praxis üblich
ist R 5 bedeutend größer ist als R 4, folgt dem Durchschlag bei G 1 ein Durchschlag
von A Nachher gestaltet sich der Weg zur Entladung des Kondensators C so: L2-R3-A
-G1-R4-V3.
-
Nach diesem Moment erscheint aber die Ladespannung des Kondensators
C an den Polen von R 4 bzw.
-
G2, somit schlägt auch G2 durch, dann entladet sich C über L2-R3-A-G1-G2
und liefert die Anregungsenergie. Der Entladungskreis ist in der Figur mit starken
Linien gezeichnet.
-
Einen möglichen Aufbau des optischen Systems stellt der obere Teil
der Fig. 1 dar. Das aus der Analysenstrecke A kommende Licht bildet die Linse L
durch den Spalt S auf die Kollimatorlinse des Spektrografen ab. D ist das Prisma
des Spektrografen, P die fotografische Platte oder im Fall unmittelbarer Lichtmessung
die Stelle der Fotozellen. In Fig. 1 liegt im Weg des Lichtes beispielsweise eine
abschirmende Drehscheibe T auf der Welle eines Synchronmotors. In Fig. 1 ist die
Scheibe T in Draufsicht dargestellt. Auf der Scheibe sind entsprechende Öffnungen
bzw. Einschnitte angebracht. Ein solcher Einschnitt der Scheibe T ist in Fig. 1
mit K bezeichnet. Durch diese Öffnungen bzw. Einschnitte gelangt das Licht in den
Spektrografen. Natürlich befindet sich in Fig. 1 die Drehachse der Scheibe T weit
unter
dem Spalt des Spektrografen, damit der Einschnitt K der Scheibe T vor dem Spalt
S zu liegen kommt.
-
Das Zusammenwirken zwischen Lichtquelle und optischem System wird
im vorliegenden Beispiel durch die Fotozelle 1 ermöglicht. Das aus der HilfslichtquelleH
kommende Licht fällt durch eine Öffnung der Scheibe auf die Fotozelle 1. Der durch
die Fotozelle gelieferte und durch Verstärker IG verstärkte Fotostrom dient zur
Steuerung des Gitters der Elektronenröhre V3. Die mit der Rotation der Scheibe T
synchrone Belichtung der Fotozelle kann auch so erfolgen, daß das Bild der Hilfslichtquelle
H auf einen Drehspiegel fällt, welcher dann das Licht auf die Fotozelle wirft.
-
Zum leichteren Verständnis der Wirkungsweise der optischen Vorrichtung
ist in Fig. 2 a und 2 b die Drehscheibe nach Fig. 1 auch in Vorderansicht und Draufsicht
ersichtlich. In Fig. 2 b ist x-x die optische Achse, A die Analysenstrecke. Die
vor dem Spalt S rotierende Scheibe T ist an der Welle des Motors Z befestigt. Die
Scheibe T läßt durch den Spalt S nur so lange Licht in den Spektrografen eintreten,
als einer der Einschnitte vor dem Spalt S vorbeiläuft. Durch entsprechende Einstellung
der Drehphasenstellung der Scheibe T relativ zum Spalt des Spektrografen kann erreicht
werden, daß nur vor oder nach einer bestimmten Zeit Licht aus der Funkenentladung
in den Spektrografen gelangt. Die Einstellung der Drehphasenlage der Drehscheibe
T relativ zum Spalt des Spektrografen kann z. B. in folgender Weise geschehen. In
Fig. 2 beleuchtet das Licht der Analysenfunkenstrecke A unmittelbar oder durch eine
Linse den Umkreis der Drehscheibe T, wo ein Zeichen N angebracht ist. Die Steuerung
des elektronisch gesteuerten Funkenerzeugers erfolgt entweder mit Hilfe der Kombination
eines an der Motorwelle angebrachten Drehspiegels und einer Fotozelle oder durch
ein Spannungssignal, das mittels einer Kombination des durch die Scheibe T unterbrochenen
Lichtes und einer Fotozelle erzeugt wird. In beiden Fällen ist der Zeitabstand zwischen
dem durch die Fotozelle erzeugten elektrischen Signal und dem Beginn der Funkenentladung
veränderbar. Da zwischen der Drehung der Scheibe T und der erfolgten Funkenentladung
ein Synchronismus besteht, erscheint das an der rotierenden Drehscheibe T angebrachte
Zeichen N als unbeweglich. Bei Änderung des Zeitabstandes zwischen Anlaßsignal der
Fotozelle und Eintreten der Funkenentladung wird das scheinbar unbewegliche Zeichen
N am Umfang der Scheibe T weiterwandern. Gegenüber dem Zeichen ist eine Anlegskala
M angebracht, auf welcher die scheinbare relative Lage des Zeichens N und das Maß
der Verschiebung abgelesen werden können. Die Kalibrierung des Systems geschieht
in der Weise, daß in verschiedenen Stellungen des Zeichens N zur Anlegskala M Spektrumaufnahmen
bereitet werden. Durch Einstellung der dem zweckentsprechenden Spektrum gehörigen
Relativlage von N zu M ist das gewünschte Spektrum stets herstellbar.
-
Das Wesen der in Fig. 1 dargestellten elektronisch gesteuerten Präzisionslichtquelle
besteht darin, daß die Zeitstreuung zwischen dem auf das Gitter der Röhre V 3 des
Funkenerzeugers gegebenen Signals und dem Durchschlag der Analysenfunkenstrecke
A sehr gering ist und nur 1 Mikrosekunde oder weniger beträgt. Mit anderen Worten,
die durch die in Fig. 1 und 2 dargestellte Drehscheibe T abgetrennten Zeiträume
können
mit dieser Genauigkeit getrennt werden. Bei der Untersuchung von kurz andauernden
elektrischen Entladungen ist dieser Umstand sehr wichtig.
-
In der Anordnung laut Fig. 1 kann vor dem Spalt S des Spektrografen
auch die in Fig. 3 dargestellte Scheibe rotieren. Diese Scheibe hat zwei Paar Einschnitte,
um 1803 versetzt. Mit Hilfe dieser Einschnitte kann das Licht von kurzdauernden
Entladungen in zwei Teile geteilt werden. Bei richtiger Drehphaseneinstellung der
Scheibe nach Fig. 3 relativ zum Spalt des Spektrografen kann erreicht werden, daß
das Licht aus der Anfangsperiode der Entladung durch die obere Öffnung des Einschnittenpaares
in den Spektrografen gelangt, während das Licht einer späteren Zeitspanne der Entladung
durch die untere Öffnung des Einschnittenpaares in den Spektrografen fallen wird.
Diese Scheibe kann selbstredend auch nur zum Abtrennen des Hintergrundes verwendet
werden.
-
Wenn die Drehscheibe nach Fig. 2 so eingestellt wird, daß ihr Umfang
von der Länge des Spaltes des Spektrografen nur einen Teil verdeckt, so gelangt
durch den unbedeckten Teil des Spaltes die gesamte, also auch den Hintergrund enthaltende
Strahlung in den Spektrografen. In dieser Weise erhält man, ähnlich wie bei der
Anwendung der Scheibe nach Fig. 3, ein Doppelspektrum.
-
Will man das durch die verhältnismäßig lange dauernden elektrischen
Entladungen ausgestrahlte Licht zeitlich aufgelöst untersuchen, so kann die Drehscheibe
nach Fig. 4 verwendet werden. Diese Scheibe ist in Beziehung zum Spalt S des Spektrografen
mit zwei schrägen Einschnitten versehen. Bei richtiger Drehphaseneinstellung der
Drehscheibe relativ zum Spalt S der Spektrografen lassen diese Öffnungen Strahlung
aus verschiedenen Zeitspannen der Entladung durch verschiedene Punkte des Spaltes
S zum Spektrografen. In dieser Weise erhält man ein kontinuierlich aufgelöstes Spektrum.
-
Die die Lichtquelle steuernde Fotozelle kann man synchron mit der
Funkenentladung auch so belichten, daß das Licht durch die Ausschnitte der in den
Fig. 2, 3 und 4 dargestellten Scheiben auf die Fotozelle fällt, wenn einer der Ausschnitte
in eine solche Stellung kommt, daß dabei dem Licht der Hilfslichtquelle der Weg
frei gemacht ist.
-
Die Nullstellung der Drehscheiben nach Fig. 2, 3 und 4, d. h. die
Stellung, bei welcher der Weg für das Licht durch den Spalt des Spektrografen eben
frei liegt, kann am einfachsten durch eine im Spektrografen angebrachten Fotozelle
bestimmt werden. In diesem Fall dreht man die Scheibe z. B. nach Fig. 2 langsam
um, bestimmt, mit Hilfe der Fotozelle im Spektografen, jene Drehphase der Scheibe,
bei welcher der Weg zum Spalt eben frei wird und liest diese Stellung an der AnlegeskalaM
ab. Bei Apparaten mit unmittelbarer Lichtmessung ist diese Einstellungsmöglichkeit
von selbst gegeben. Die Einstellung ist auch so ausführbar, daß man das Öffnen des
Spaltes des Spektrografen mit freiem Auge aus Richtung der fokalen Ebene beobachtet.
-
Die Tatsache, daß in der beschriebenen Weise der Hintergrund des
Funkenspektrums von dem Spektrum abgetrennt werden kann, hat z. B. für die spektrochemische
Analyse mehrere Vorteile. Erstens nimmt die Empfindlichkeit zu, weil die schwachen
Linien im Hintergrund nicht verschwinden. Zweitens werden die Arbeitskurven auch
ohne Hintergrund-
korrektur gerade, die Korrektur des Hintergrundes ist also unnötig.
Des weiteren kann man den vom Spektrum abgetrennten Hintergrund wie folgt nutzbar
machen.
-
Die Grundlage der zeitgemäßen spektrochemischen Analyse liegt in
der Anwendung sogenannter homologer Linienpaare (internal standars). Das Wesen dieses
Verfahrens besteht darin, daß zur Bestimmung von Verunreinigungen eines Stoffes
oder der Bestandteile einer Legierung das Verhältnis der Lichtintensitäten in je
einer Spektrallinie der Grundsubstanz und der zu bestimmenden Verunreinigung oder
des Legierungselementes festgestellt wird, woraus die prozentuellen Mengen bestimmt
werden können. Dieses Verfahren ist möglich, wenn im Spektrum die Linie der Verunreinigung
oder des Legierungselementes einer entsprechenden Bezugslinie der Grundsubstanz
nahe liegt. Liegen nämlich die zu vergleichenden Linien entfernter und wird die
Aufnahme des Spektrums fotografisch durchgeführt, so ist der Vergleich der beiden
Linien wegen der verschiedenen Empfindlichtkeiten der fotografischen Platte gegen
Licht verschiedener Wellenlängen nicht einfach. In diesem Fall nimmt man aus einem
fremden Spektrum solche Bezugslinien zu Hilfe, deren Intensitätsverhältnisse bekannt
sind. Dieses Verfahren, benannt als äußere Vergleichsmethode (external standard
method), ist umständlich und wird nur selten verwendet. Dabei besteht in den meisten
Fällen noch die Vorbedingung, daß die prozentuelle Menge der Grundsubstanz überwiegend
groß sein soll. Die Erfüllung dieser Bedingungen ist in der Praxis mehr eine Ausnahme
als Regel. Es kommt sogar in der Praxis vor, daß die eine Grundsubstanz keine entsprechende
Bezugslinie besitzt. In solchen Fällen kann die Aufgabe so gelöst werden, daß man
mit der untersuchten Substanz einen entsprechenden Stoff in Pulverform oder in Lösung
versetzt. Die Linien dieses Stoffes geben dann die Vergleichsgrundlage.
-
Die Erfindung ermöglicht ein solches neues spektrochemisches Analyseverfahren,
wozu keine innere oder äußere Vergleichsbasis nötig ist, da der vom Spektrum abgetrennte
Hintergrund bei der Analyse als Vergleichsbasis dient. Es werden die Linien der
Verunreinigung oder des Legierungselementes im hintergrundfreien Spektrum mit dem
Teil des Spektrums annähernd gleicher Wellenlänge des in der ganzen Länge des Spektrums
(in Richtung der Dispersion) vorhandenen kontinuierlichen Spektrums verglichen.