DE112020000928B4 - Anzeigevorrichtung - Google Patents

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Abstract

Anzeigevorrichtung, die umfasst:ein erstes Substrat mit einem Anzeigegebiet, in dem mehrere Pixel vorgesehen sind, und mit einem Peripheriegebiet auf einer Außenseite des Anzeigegebiets;eine Verdrahtung, die in dem Anzeigegebiet vorgesehen ist und mit den Pixeln gekoppelt ist, um den Pixeln ein Signal zuzuführen;einen ersten Treiberanschluss, der in einem ersten Peripheriegebiet vorgesehen ist, das das Peripheriegebiet auf der Seite einer ersten Richtung des Anzeigegebiets ist, und der mit der Verdrahtung gekoppelt ist und mit dem eine erste Treiber-IC gekoppelt werden kann;einen zweiten Treiberanschluss, der an einer Stelle, die auf den ersten Treiberanschluss in einer Richtung, die die erste Richtung in dem ersten Peripheriegebiet schneidet, ausgerichtet ist, vorgesehen ist und der mit der Verdrahtung gekoppelt ist und mit dem eine zweite Treiber-IC gekoppelt werden kann;mehrere Prüfanschlüsse, die in dem ersten Peripheriegebiet vorgesehen sind;einen ersten Prüfschalter, der mit dem ersten Treiberanschluss gekoppelt ist und so konfiguriert ist, dass er das Koppeln und Unterbrechen des Prüfanschlusses und der Verdrahtung schalten kann; undeinen zweiten Prüfschalter, der mit dem zweiten Treiberanschluss gekoppelt ist und so konfiguriert ist, dass er das Koppeln und Unterbrechen des Prüfanschlusses und der Verdrahtung schalten kann, wobeidie Prüfanschlüsse in einem ersten Gebiet auf einer Seite des ersten Treiberanschlusses, die einer Seite des zweiten Treiberanschlusses gegenüberliegt, in einem zweiten Gebiet auf einer Seite des zweiten Treiberanschlusses, die der Seite des ersten Treiberanschlusses gegenüberliegt, und in einem dritten Gebiet zwischen dem ersten Treiberanschluss und dem zweiten Treiberanschluss vorgesehen sind.

Description

  • Gebiet
  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Anzeigevorrichtung.
  • Hintergrund
  • Um die Zuverlässigkeit einer Anzeigevorrichtung sicherzustellen, sind verschiedene Techniken zum Prüfen der Anzeigevorrichtung untersucht worden. Zum Beispiel beschreibt die Patentliteratur 1, dass in einer Anzeigevorrichtung Prüfanschlüsse vorgesehen sind, die über eine Prüfschaltung mit Signalleitungen gekoppelt sind, die mit Pixeln gekoppelt sind. Die Patentliteratur 1 beschreibt, dass durch Eingeben eines Prüfdatensignals in die Prüfschaltung über die Prüfanschlüsse, um zu veranlassen, dass die Pixel eine Farbentwicklung in Übereinstimmung mit dem Prüfdatensignal vornehmen, ein Färbungszustand geprüft wird.
  • Ferner beschreibt Patentliteratur 2 eine Anzeigevorrichtung mit einem ersten Substrat, das einen ersten Bereich, in dem ein Bild angezeigt wird, und einen zweiten Bereich, der sich um den ersten Bereich herum befindet, enthält, und einem Verdrahtungssubstrat, das eine erste Seite und den zweiten Bereich des ersten Substrats überlappt, wobei das erste Substrat eine dritte Verbindungsanschlussgruppe, eine vierte Verbindungsanschlussgruppe, die sich auf einer der Seiten der dritten Verbindungsanschlussgruppe befindet und aus einem Verbindungsanschluss besteht, der kleiner als ein Verbindungsanschluss der dritten Verbindungsanschlussgruppe ist, und eine fünfte Verbindungsanschlussgruppe, die sich auf der anderen Seite der dritten Verbindungsanschlussgruppe befindet und aus einem Verbindungsanschluss besteht, der kleiner als ein Verbindungsanschluss der dritten Verbindungsanschlussgruppe, enthält.
  • Patentliteratur 3 beschreibt eine Anzeigevorrichtung mit einem ersten Substrat, das einen Anzeigebereich und einen Nicht-Anzeigebereich aufweist, einem mit dem ersten Substrat verbundenen Schaltungsfilm, einer mit dem Schaltungsfilm verbundenen gedruckten Leiterplatte und einem ersten Inspektionspad, einem zweiten Inspektionspad und einem dritten Inspektionspad, die in dem Nicht-Anzeigebereich angeordnet sind, und einer Brücke, die so konfiguriert ist, dass sie das erste Inspektionspad, das zweite Inspektionspad und das dritte Inspektionspad elektrisch verbindet. Der Schaltungsfilm enthält eine erste Leitung, die elektrisch mit dem ersten Inspektionspad verbunden ist, eine zweite Leitung, die elektrisch mit dem zweiten Inspektionspad verbunden ist, eine dritte Leitung, die elektrisch mit dem dritten Inspektionspad verbunden ist, und einen Verzweigungspunkt, der so konfiguriert ist, dass er mindestens eine Leitung von der ersten Leitung, der zweiten Leitung und der dritten Leitung in zwei Unterleitungen verzweigt. Die Leiterplatte enthält eine Testpad-Einheit, die mit der ersten Leitung, der zweiten Leitung und der dritten Leitung verbunden ist. Patentliteratur 4 beschreibt eine elektrooptische Vorrichtung. Diese umfasst ein Schaltelement zur Videosignalauswahl, ein Abtastsignalauswahlelement, eine Vielzahl von externen Signalverbindungsanschlüssen und eine Vielzahl von Prüfanschlüssen. Inspektionsschaltelemente sind mit jeder einer Vielzahl von Videosignal-Zuführungsleitungen verbunden.
  • Patentliteratur 5 beschreibt, dass eine Vielzahl von Anschlüssen auf einer Anzeigetafel und einem Signalsubstrat durch eine Vielzahl von Pressverbindungselementen, TCP 3 und FPC 4, verbunden sind. Die Vielzahl der Anschlüsse besteht aus einer Anschlussgruppe, die dem TCP 3 entspricht, und einer Anschlussgruppe, die dem FPC 4 entspricht. Die Klemmen der Klemmengruppen sind entlang derselben Seite der Anzeigetafel angeordnet. Patentliteratur 6 beschreibt, dass ein Pad-Bereich einer Anzeigetafel mit einer Vielzahl von Pixelschaltungen vorgesehen ist. Der Pad-Bereich enthält mindestens einen Treiber-Pad, der mit einer Datenleitung oder einer Abtastleitung gekoppelt ist, mindestens einen Test-Pad, der mit einer ersten Leitung zum Übertragen eines Testsignals an die Pixel-Schaltungen und einer zweiten Leitung zum Übertragen eines Treiber-Steuersignals an die Pixel-Schaltungen gekoppelt ist, mindestens einen ersten Transistor, der eine elektrische Kopplung zwischen der ersten Leitung und dem Test-Pad steuert, und mindestens einen zweiten Transistor, der eine elektrische Kopplung zwischen der zweiten Leitung und dem Test-Pad steuert.
  • Liste der Entgegenhaltungen
  • Patentliteratur
  • Zusammenfassung
  • Technisches Problem
  • Auf einer großen Anzeigevorrichtung können z. B. mehrere Treiber-IC montiert sein, wobei in diesem Fall den Treiber-IC entsprechend außerdem mehrere Prüfschaltungen montiert sind. In diesem Fall nehmen Bedenken zu, dass ein als Prüfdatensignale über die Prüfschaltungen fließender Strom unter den Prüfschaltungen im Ungleichgewicht ist. Das Ungleichgewicht der Potentiale der Prüfdatensignale zwischen den Prüfschaltungen veranlasst bei der Prüfung eine Ungleichmäßigkeit der Farbdichte der Pixel, was zu einer Verringerung der Prüfgenauigkeit führt. Dementsprechend ist eine Verhinderung der Verringerung der Zuverlässigkeit dadurch, dass verhindert wird, dass die Prüfgenauigkeit der Anzeigevorrichtung verringert wird, erwünscht.
  • Die vorliegende Erfindung wurde angesichts des oben erwähnten Problems gemacht, wobei es ihre Aufgabe ist, eine Anzeigevorrichtung zu schaffen, die eine Verringerung der Zuverlässigkeit verhindern kann.
  • Lösung des Problems
  • Eine Anzeigevorrichtung gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung umfasst: ein erstes Substrat mit einem Anzeigegebiet, in dem mehrere Pixel vorgesehen sind, und mit einem Peripheriegebiet auf einer Außenseite des Anzeigegebiets; eine Verdrahtung, die in dem Anzeigegebiet vorgesehen ist und mit den Pixeln gekoppelt ist, um den Pixeln ein Signal zuzuführen; einen ersten Treiberanschluss, der in einem ersten Peripheriegebiet vorgesehen ist, das das Peripheriegebiet auf der Seite einer ersten Richtung des Anzeigegebiets ist, und der mit der Verdrahtung gekoppelt ist und mit dem eine erste Treiber-IC gekoppelt werden kann; einen zweiten Treiberanschluss, der an einer Stelle, die auf den ersten Treiberanschluss in einer Richtung, die die erste Richtung in dem ersten Peripheriegebiet schneidet, ausgerichtet ist, vorgesehen ist und der mit der Verdrahtung gekoppelt ist und mit dem eine zweite Treiber-IC gekoppelt werden kann; mehrere Prüfanschlüsse, die in dem ersten Peripheriegebiet vorgesehen sind; einen ersten Prüfschalter, der mit dem ersten Treiberanschluss gekoppelt ist und so konfiguriert ist, dass er das Koppeln und Unterbrechen des Prüfanschlusses und der Verdrahtung schalten kann; und einen zweiten Prüfschalter, der mit dem zweiten Treiberanschluss gekoppelt ist und so konfiguriert ist, dass er das Koppeln und Unterbrechen des Prüfanschlusses und der Verdrahtung schalten kann, wobei die Prüfanschlüsse in einem ersten Gebiet auf einer Seite des ersten Treiberanschlusses, die einer Seite des zweiten Treiberanschlusses gegenüberliegt, in einem zweiten Gebiet auf einer Seite des zweiten Treiberanschlusses, die der Seite des ersten Treiberanschlusses gegenüberliegt, und in einem dritten Gebiet zwischen dem ersten Treiberanschluss und dem zweiten Treiberanschluss vorgesehen sind.
  • Kurzbeschreibung der Zeichnungen
    • 1 ist eine Draufsicht, die schematisch eine Anzeigevorrichtung gemäß der Ausführungsform darstellt.
    • 2 ist eine schematische Darstellung, die eine Pixelanordnung der Anzeigevorrichtung in der Ausführungsform darstellt.
    • 3 ist eine schematische Querschnittsansicht der Anzeigevorrichtung in der Ausführungsform.
    • 4 ist eine schematische Darstellung, die die Konfiguration der Anzeigevorrichtung in der Ausführungsform darstellt.
    • 5 ist eine schematische Darstellung, die ein Beispiel einer Alterungsverarbeitung darstellt.
    • 6 ist eine schematische Darstellung, die ein Beispiel einer Beleuchtungsprüfung darstellt.
    • 7 ist eine Draufsicht, die schematisch eine Anzeigevorrichtung gemäß einer Änderung darstellt.
    • 8 ist ein schematischer Stromlaufplan der Konfiguration der Anzeigevorrichtung in der Änderung.
    • 9 ist eine Draufsicht, die schematisch eine Anzeigevorrichtung gemäß einer anderen Änderung darstellt.
  • Beschreibung von Ausführungsformen
  • Im Folgenden wird anhand der Zeichnungen eine Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben. Was hier offenbart ist, ist lediglich ein Beispiel, und selbstredend werden innerhalb des Hauptpunkts der Erfindung geeignete Änderungen, die der Fachmann leicht erreichen kann, als im Schutzumfang der vorliegenden Erfindung angesehen. In den Zeichnungen können Breiten, Dicken, Formen und dergleichen der Komponenten im Vergleich mit tatsächlichen Ausführungsarten zur klareren Erläuterung schematisch dargestellt sein. Allerdings sind sie lediglich Beispiele und beschränken die Interpretation der vorliegenden Erfindung nicht. In der vorliegenden Beschreibung und in den Zeichnungen bezeichnen dieselben Bezugszeichen ähnliche Komponenten wie jene, die zuvor anhand der Zeichnung, auf die bereits Bezug genommen worden ist, beschrieben worden sind, und ihre ausführliche Erläuterung kann geeignet weggelassen sein.
  • (Konfiguration der Anzeigevorrichtung)
  • 1 ist eine Draufsicht, die schematisch eine Anzeigevorrichtung gemäß der Ausführungsform darstellt. Wie in 1 dargestellt ist, enthält eine Anzeigevorrichtung 1 in der Ausführungsform ein erstes Substrat SUB1 als ein Anordnungssubstrat und ein zweites Substrat SUB2 als ein Gegensubstrat. Im Folgenden ist eine Richtung parallel zu den Oberflächen des ersten Substrats SUB1 und des zweiten Substrats SUB2 eine Richtung X. Eine Richtung parallel zu den Oberflächen des ersten Substrats SUB1 und des zweiten Substrats SUB2 und die die Richtung X schneidet, in diesem Beispiel eine Richtung orthogonal zu der Richtung X, ist eine Richtung Y. Eine Richtung der Richtung Y in Richtung einer Seite ist eine erste Richtung Y1 und eine Richtung der Richtung Y in Richtung der anderen Seite, d. h. eine Gegenrichtung zu der ersten Richtung Y1, ist eine zweite Richtung Y2. Ähnlich ist eine Richtung der Richtung X in Richtung einer Seite eine dritte Richtung X1 und ist eine Richtung der Richtung X in Richtung der anderen Seite, d. h. eine Gegenrichtung zu der dritten Richtung X1, eine vierte Richtung X2. Eine Richtung orthogonal zu der Richtung X und zu der Richtung Y, d. h. eine Richtung orthogonal zu der Oberfläche des ersten Substrats SUB1 und des zweiten Substrats SUB2, ist eine Richtung Z.
  • Das erste Substrat SUB1 und das zweite Substrat SUB2 sind in der Richtung Z gestapelt. Das erste Substrat SUB1 weist eine größere Fläche als das zweite Substrat SUB2 auf. Das erste Substrat SUB1 und das zweite Substrat SUB2 sind in der Weise gestapelt, dass ein Abschnitt des ersten Substrats SUB1 auf der Seite der ersten Richtung Y1, von der Richtung Z gesehen, zu der Seite der ersten Richtung Y1 anstatt zu dem zweiten Substrat SUB2 vorsteht. Das heißt, die Anzeigevorrichtung 1 weist ein Überlagerungsgebiet AR1, in dem das erste Substrat SUB1 und das zweite Substrat SUB2 einander überlagert sind, und ein Vorsprunggebiet AR2, in dem kein zweites Substrat SUB2 vorgesehen ist und nur das erste Substrat SUB1 vorgesehen ist, auf. Das Vorsprunggebiet AR2 ist zu dem Überlagerungsgebiet AR1 auf der Seite der ersten Richtung Y1 benachbart.
  • Die Anzeigevorrichtung 1 weist ein Anzeigegebiet A und ein Peripheriegebiet B auf. Das Anzeigegebiet A ist ein Gebiet, in dem mehrere Pixel angeordnet sind und Bilder angezeigt werden. Das Peripheriegebiet B ist ein Gebiet, in dem kein Pixel angeordnet ist und kein Bild angezeigt wird. Das Peripheriegebiet B ist, von der Z-Richtung gesehen, ein Gebiet auf der Außenseite des Anzeigegebiets A. In der Ausführungsform weist das Peripheriegebiet B eine Rahmenform auf, die das Anzeigegebiet A umgibt und ebenfalls als ein Rahmengebiet bezeichnet werden kann. Das Anzeigegebiet A ist in dem Überlagerungsgebiet AR1 vorgesehen, in dem das erste Substrat SUB1 und das zweite Substrat SUB2 einander überlagert sind. Das Peripheriegebiet B ist ein Gebiet in dem ersten Substrat SUB1. Genauer ist ein Teil des Peripheriegebiets B in dem Überlagerungsgebiet AR1 vorgesehen und ist ein anderer Teil davon in dem Vorsprunggebiet AR2 vorgesehen. Das heißt, das Peripheriegebiet B ist in dem Überlagerungsgebiet AR1 zu dem Vorsprunggebiet AR2 vorgesehen. Dementsprechend wird betrachtet, dass das erste Substrat SUB1 das Anzeigegebiet A und das Peripheriegebiet B aufweist, und genauer, dass das erste Substrat SUB1 in das Anzeigegebiet A und in das Peripheriegebiet B geteilt ist.
  • Das Peripheriegebiet B weist ein erstes Peripheriegebiet B1, ein zweites Peripheriegebiet B2, ein drittes Peripheriegebiet B3 und ein viertes Peripheriegebiet B4 auf. Das erste Peripheriegebiet B1 ist das Peripheriegebiet B auf der Seite der ersten Richtung Y1 des Anzeigegebiets A. Das zweite Peripheriegebiet B2 ist das Peripheriegebiet B auf der Seite der zweiten Richtung Y2 des Anzeigegebiets A, mit anderen Worten, das Peripheriegebiet B auf der Gegenseite des ersten Peripheriegebiets B1 in Bezug auf das Anzeigegebiet A. Das dritte Peripheriegebiet B3 ist das Peripheriegebiet B auf der Seite der dritten Richtung X1 des Anzeigegebiets A. Das vierte Peripheriegebiet B4 ist das Peripheriegebiet B auf der Seite der vierten Richtung X2 des Anzeigegebiets A, mit anderen Worten, das Peripheriegebiet B auf der Gegenseite zu dem dritten Peripheriegebiet B3 in Bezug auf das Anzeigegebiet A.
  • Das erste Peripheriegebiet B1 ist in dem Überlagerungsgebiet AR1 bis zu dem Vorsprunggebiet AR2 auf der Seite der ersten Richtung Y1 des Überlagerungsgebiets AR1 vorgesehen. Das heißt, das erste Peripheriegebiet B1 enthält ein inneres Peripheriegebiet B1a, das sich in dem Überlagerungsgebiet AR1 befindet, und ein äußeres Peripheriegebiet B1b, das sich in dem Vorsprunggebiet AR2 befindet. Das zweite Peripheriegebiet B2, das dritte Peripheriegebiet B3 und das vierte Peripheriegebiet B4 befinden sich in dem Überlagerungsgebiet AR1. Das heißt, das Überlagerungsgebiet AR1 ist durch das Anzeigegebiet A, durch das innere Peripheriegebiet B1a, durch das zweite Peripheriegebiet B2, durch das dritte Peripheriegebiet B3 und durch das vierte Peripheriegebiet B4 belegt und das Vorsprunggebiet AR2 ist durch das äußere Peripheriegebiet B1b belegt.
  • In dem äußeren Peripheriegebiet B1b des ersten Peripheriegebiets B1 sind Verdrahtungssubstrate 101a und 101b vorgesehen. Die Verdrahtungssubstrate 101a und 101b sind z. B. durch flexible gedruckte Schaltungen (FPCs) konfiguriert. Auf dem Verdrahtungssubstrat 101a ist eine integrierte Treiberschaltung (Treiber-IC) 110a vorgesehen und auf dem Verdrahtungssubstrat 101b ist eine Treiber-IC 110b vorgesehen. Jede der Treiber-IC 110a und 110b enthält eine Steuerschaltung, die die Anzeige der Anzeigevorrichtung 1 steuert, eine Detektionsschaltung und einen analogen Eingangsteil. Das heißt, in der Ausführungsform sind die Treiber-IC 110a und 110b jeweils durch Chip-auf-Film (COF) (im Folgenden als „COF-Montage“ bezeichnet) auf den Verdrahtungssubstraten 101a und 101b montiert. Das Verdrahtungssubstrat 101a und die Treiber-IC 110a und das Verdrahtungssubstrat 101b und die Treiber-IC 110b sind in der Richtung X ausgerichtet. Das heißt, in der Ausführungsform befindet sich das Verdrahtungssubstrat 101b auf der Seite der dritten Richtung X1 des Verdrahtungssubstrats 101a und der Treiber-IC 110a und befindet sich die Treiber-IC 110b auf der Seite der dritten Richtung X1 des Verdrahtungssubstrats 101a und der Treiber-IC 110a. Wenn die Verdrahtungssubstrate 101a und 101b im Folgenden nicht voneinander unterschieden sind, sind sie als ein Verdrahtungssubstrat 101 bezeichnet, und wenn die Treiber-IC 110a und 110b nicht voneinander unterschieden sind, sind sie als eine Treiber-IC 110 bezeichnet. Es ist ausreichend, dass die Anzeigevorrichtung 1 eine Konfiguration aufweist, die mit dem Verdrahtungssubstrat 101 und mit der Treiber-IC 110 gekoppelt werden kann, wobei die Anzeigevorrichtung 1 eine Konfiguration aufweisen kann, die das Verdrahtungssubstrat 101 und die Treiber-IC 110 nicht enthält. Alternativ kann die Anzeigevorrichtung 1 eine Konfiguration aufweisen, die das Verdrahtungssubstrat 101 und die Treiber-IC 110 enthält.
  • Ferner weist die Anzeigevorrichtung 1 mehrere erste Treiberanschlüsse Da, mehrere zweite Treiberanschlüsse Db und mehrere Prüfanschlüsse T, die in dem Peripheriegebiet B vorgesehen sind, auf. In der Ausführungsform sind die ersten Treiberanschlüsse Da, die zweiten Treiberanschlüsse Db und die Prüfanschlüsse T in dem ersten Peripheriegebiet B1 vorgesehen und genauer in dem äußeren Peripheriegebiet B1b vorgesehen.
  • Die ersten Treiberanschlüsse Da sind Anschlüsse, die mit der Treiber-IC 110a gekoppelt werden können. Die ersten Treiberanschlüsse Da sind Anschlüsse, um verschiedene von der gekoppelten Treiber-IC 110a ausgegebene Signale der Verdrahtung (Signalleitungen S, die später beschrieben werden) der Anzeigevorrichtung 1 zuzuführen. Die zweiten Treiberanschlüsse Db sind Anschlüsse, die mit der Treiber-IC 110b gekoppelt werden können. Die zweiten Treiberanschlüsse Db sind Anschlüsse, um verschiedene von der gekoppelten Treiber-IC 110b ausgegebene Signale der Verdrahtung (Signalleitungen S, die später beschrieben werden) der Anzeigevorrichtung 1 zuzuführen. Die ersten Treiberanschlüsse Da sind der Treiber-IC 110a entsprechend vorgesehen und die zweiten Treiberanschlüsse Db sind der Treiber-IC 110b entsprechend vorgesehen. Dementsprechend sind die ersten Treiberanschlüsse Da und die zweiten Treiberanschlüsse Db in der Richtung X ausgerichtet. Die zweiten Treiberanschlüsse Db befinden sich in der Ausführungsform auf der Seite der dritten Richtung X1 der ersten Treiberanschlüsse Da. Mit anderen Worten, ein Gebiet, in dem die zweiten Treiberanschlüsse Db vorgesehen sind, befindet sich auf der Seite der dritten Richtung X1 eines Gebiets, in dem die ersten Treiberanschlüsse Da vorgesehen sind.
  • Die Prüfanschlüsse T sind Anschlüsse zum Ausführen einer Prüfung der Verdrahtung, in diesem Fall der Alterungsverarbeitung und Beleuchtungsprüfung, die später beschrieben werden. Die Alterungsverarbeitung und die Beleuchtungsprüfung werden später beschrieben. Die Prüfanschlüsse T sind in dem ersten Peripheriegebiet B1 (in diesem Beispiel in dem äußeren Peripheriegebiet B1b) in einem ersten Gebiet R1, in einem zweiten Gebiet R2 und in einem dritten Gebiet R3 vorgesehen. Das erste Gebiet R1 gibt ein Gebiet auf der Seite der ersten Treiberanschlüsse Da, die zu der Seite der zweiten Treiberanschlüsse Db entgegengesetzt ist, an. Das heißt, das erste Gebiet R1 ist ein Gebiet, das sich auf der Seite der vierten Richtung X2 des Gebiets, in dem die ersten Treiberanschlüsse Da vorgesehen sind, befindet. Das zweite Gebiet R2 gibt ein Gebiet auf der Seite der zweiten Treiberanschlüsse Db, das zu der Seite der ersten Treiberanschlüsse Da entgegengesetzt ist, an. Das heißt, das zweite Gebiet R2 ist ein Gebiet, das sich auf der Seite der dritten Richtung X1 des Gebiets, in dem die zweiten Treiberanschlüsse Db vorgesehen sind, befindet. Das dritte Gebiet R3 ist ein Gebiet zwischen den ersten Treiberanschlüssen Da und den zweiten Treiberanschlüssen Db. Das heißt, das dritte Gebiet R3 ist in der X-Richtung ein Gebiet zwischen dem Gebiet, in dem die ersten Treiberanschlüsse Da vorgesehen sind, und dem Gebiet, in dem die zweiten Treiberanschlüsse Db vorgesehen sind, mit anderen Worten, es ist ein Gebiet auf der Seite der dritten Richtung X1 des Gebiets, in dem die ersten Treiberanschlüsse Da vorgesehen sind, und auf der Seite der vierten Richtung X2 des Gebiets, in dem die zweiten Treiberanschlüsse Db vorgesehen sind. Das erste Gebiet R1 wird ebenfalls als ein Gebiet der Treiber-IC 110a auf der Seite, die der Seite der Treiber-IC 110b gegenüberliegt, (das Gebiet auf der Seite der vierten Richtung X2 der Treiber-IC 110a) angesehen und das zweite Gebiet R2 wird ebenfalls als ein Gebiet der Treiber-IC 110b auf der Seite, die der Seite der Treiber-IC 110a gegenüberliegt, (das Gebiet auf der Seite der dritten Richtung X1 der Treiber-IC 110b) angesehen, und das dritte Gebiet R3 wird ebenfalls als ein Gebiet zwischen der Treiber-IC 110a und der Treiber-IC 110b (ein Gebiet auf der Seite der dritten Richtung X1 der Treiber-IC 110a und auf der Seite der vierten Richtung X2 der Treiber-IC 110a) angesehen.
  • Die Anzeigevorrichtung 1 enthält eine erste Prüfschaltung C1a, eine zweite Prüfschaltung C1b, eine erste Kopplungsschaltung C2a und eine zweite Kopplungsschaltung C2b als Schaltungen zum Prüfen der Verdrahtung. Die erste Prüfschaltung C1a enthält erste Prüfschalter SWA, die später beschrieben werden, und ist mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelt. Die erste Prüfschaltung C1a ist über die ersten Treiberanschlüsse Da mit der Treiber-IC 110a gekoppelt. Die zweite Prüfschaltung C1b enthält zweite Prüfschalter SWB, die später beschrieben werden, und ist mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt. Die zweite Prüfschaltung C1b ist über die zweiten Treiberanschlüsse Db mit der Treiber-IC 110b gekoppelt. Die erste Prüfschaltung C1a und die zweite Prüfschaltung C1b sind in dem ersten Peripheriegebiet B1 vorgesehen und sind in der Ausführungsform in dem inneren Peripheriegebiet B1a vorgesehen. Die erste Prüfschaltung C1a ist den ersten Treiberanschlüssen Da entsprechend vorgesehen und die zweite Prüfschaltung C1b ist den zweiten Treiberanschlüssen Db entsprechend vorgesehen. Dementsprechend sind die erste Prüfschaltung C1a und die zweite Prüfschaltung C1b in der Richtung X ausgerichtet. In der Ausführungsform befindet sich die zweite Prüfschaltung C1b auf der Seite der dritten Richtung X1 der ersten Prüfschaltung C1a.
  • Die erste Kopplungsschaltung C2a enthält erste Kopplungsschalter SWc, die später beschrieben werden, und ist über die Signalleitungen S, die später beschrieben werden, mit der ersten Prüfschaltung C1a gekoppelt. Die zweite Kopplungsschaltung C2b enthält zweite Kopplungsschalter SWD, die später beschrieben werden, und ist über die Signalleitungen S, die später beschrieben werden, mit der zweiten Prüfschaltung C1b gekoppelt. Die erste Kopplungsschaltung C2a und die zweite Kopplungsschaltung C2b sind in dem zweiten Peripheriegebiet B2 vorgesehen. Die erste Kopplungsschaltung C2a und die zweite Kopplungsschaltung C2b sind in der Richtung X ausgerichtet. In der Ausführungsform befindet sich die zweite Kopplungsschaltung C2b auf der Seite der dritten Richtung X1 der ersten Kopplungsschaltung C2a. Die Schaltungskonfigurationen der ersten Prüfschaltung C1a, der zweiten Prüfschaltung C1b, der ersten Kopplungsschaltung C2a und der zweiten Kopplungsschaltung C2b werden später beschrieben.
  • 2 ist eine schematische Darstellung, die die Pixelanordnung der Anzeigevorrichtung in der Ausführungsform darstellt. Wie in 2 dargestellt ist, enthält die Anzeigevorrichtung 1 in dem Anzeigegebiet A mehrere Pixel PX. Die Pixel PX sind in der Richtung X und in der Richtung Y in einer Matrix mit einer Zeilen-Spalten-Konfiguration angeordnet. Die Anzeigevorrichtung 1 enthält in dem Anzeigegebiet A mehrere Leitungen der Verdrahtung. Die Anzeigevorrichtung 1 enthält als die in dem Anzeigebiet A vorgesehene Verdrahtung g Abtastleitungen G (G1 bis Gg), n Signalleitungen S (S1 bis Sn) und eine gemeinsame Leitung CL. Sowohl g als auch n sind ganze Zahlen gleich oder größer als zwei. Die Abtastleitungen G sind mit einem Gate-Treiber GD gekoppelt. Signale, die für Operationen des Gate-Treibers GD notwendig sind, werden von der Treiber-IC 110 zugeführt. Die Signalleitungen S und die gemeinsame Leitung CL sind mit der Treiber-IC 110 gekoppelt. Die Abtastleitungen G, der Gate-Treiber GD, die Signalleitungen S und die gemeinsame Leitung CL sind auf dem in 1 dargestellten ersten Substrat SUB1 gebildet.
  • Jedes der Pixel PX enthält ein Schaltelement W, eine Pixelelektrode PE, eine gemeinsame Elektrode CE und eine Flüssigkristallschicht LC. Das Schaltelement W ist z. B. durch einen Dünnfilmtransistor (TFT) gebildet und ist mit der Abtastleitung G und mit der Signalleitung S elektrisch gekoppelt. Die Pixelelektrode PE ist mit dem Schaltelement W elektrisch gekoppelt. Die gemeinsame Elektrode CE ist mit der gemeinsamen Leitung CL elektrisch gekoppelt.
  • Der Gate-Treiber GD gibt an die Abtastleitungen G Steuersignale aus, um die mit den Abtastleitungen G gekoppelten Schaltelemente W in leitende Zustände zu versetzen. Die Treiber-IC 110 gibt in einer Zeitdauer, in der die Schaltelemente W in den leitenden Zuständen sind, an die Signalleitungen S Videobildsignale aus. Dadurch werden gewünschte Pixelpotentiale in die Pixelelektroden PE geschrieben. Die Treiber-IC 110 führt der gemeinsamen Leitung CL ein gemeinsames Potential zu. Dadurch weisen die gemeinsamen Elektroden CE das gemeinsame Potential auf. In jedem der Pixel PX liegt die Pixelelektrode PE der gemeinsamen Elektrode CE gegenüber, wobei die Flüssigkristallschicht LC mit einem durch die Potentialdifferenz zwischen dem Pixelpotential der Pixelelektrode PE und dem gemeinsamen Potential der gemeinsamen Elektrode CE erzeugten elektrischen Feld angesteuert wird. Zum Beispiel ist zwischen einer Elektrode mit demselben Potential wie die gemeinsame Elektrode CE und einer Elektrode mit demselben Potential wie die Pixelelektrode ein Haltekondensator CS gebildet.
  • 3 ist eine schematische Querschnittsansicht der Anzeigevorrichtung in der Ausführungsform. Wie in 3 dargestellt ist, enthält die Anzeigevorrichtung 1 das erste Substrat SUB1 und das zweite Substrat SUB2, die in der Richtung Z gestapelt sind. Das erste Substrat SUB1 enthält ein isolierendes Substrat 10, Isolierschichten 11, 12, 13, 14 und 15, untere Lichtabschirmschichten US, Halbleiterschichten SC, die Abtastleitungen G, die Signalleitungen S, Kopplungselektroden RE, die gemeinsamen Elektroden CE, die Pixelelektroden PE und einen Orientierungsfilm AL1. Das isolierende Substrat 10 ist ein transparentes Substrat wie etwa ein Glassubstrat und ein Harzsubstrat. Die unteren Lichtabschirmschichten US befinden sich zwischen dem isolierenden Substrat 10 und der Isolierschicht 11. In dem in 3 dargestellten Beispiel sind die unteren Lichtabschirmschichten US beiden Gate-Elektroden überlagert gebildet, wobei sie aber für die jeweiligen Gate-Elektroden auf getrennte Weise gebildet sein können. Die Halbleiterschichten SC befinden sich zwischen der Isolierschicht 11 und der Isolierschicht 12. Die Halbleiterschichten SC sind z. B. aus polykristallinem Silicium hergestellt, können aber aus amorphem Silicium oder aus einem Oxidhalbleiter hergestellt sein. Zwischen der Isolierschicht 12 und der Isolierschicht 13 befinden sich zwei Gate-Elektroden GE als Teil der Abtastleitungen G. Zwischen der Isolierschicht 13 und der Isolierschicht 14 befinden sich die Signalleitungen S und die Kopplungselektroden RE. Die Signalleitungen S und die Kopplungselektroden RE stehen mit den Halbleiterschichten SC in Kontakt. Zwischen der Isolierschicht 14 und der Isolierschicht 15 befinden sich die gemeinsamen Elektroden CE. Zwischen der Isolierschicht 15 und dem Orientierungsfilm AL1 befinden sich die Pixelelektroden PE. Teile der Pixelelektroden PE liegen den gemeinsamen Elektroden CE gegenüber, wobei die Isolierschicht 15 dazwischen eingefügt ist. Die gemeinsamen Elektroden CE und die Pixelelektroden PE sind aus einem leitfähigen Material mit Lichtdurchlässigkeit wie etwa Indium-Zinn-Oxid (ITO) und Indium-Zink-Oxid (IZO) hergestellt. Die Pixelelektroden PE stellen durch Kontaktlöcher CH, die die Isolierschichten 14 und 15 an Stellen, die Öffnungen AP der gemeinsamen Elektroden CE überlagert sind, durchdringen, einen Kontakt mit den Kopplungselektroden RE her. Die Isolierschichten 11 bis 13 und die Isolierschicht 15 sind transparente anorganische Isolierschichten, die aus Siliciumoxid, Siliciumnitrid, Siliciumoxynitrid oder dergleichen hergestellt sind und die eine Einschichtstruktur oder eine Mehrschichtstruktur aufweisen können. Die Isolierschicht 14 ist eine transparente organische Isolierschicht, die aus Acrylharz oder dergleichen hergestellt ist.
  • Das zweite Substrat SUB2 enthält ein isolierendes Substrat 20, eine Lichtabschirmschicht BM, eine Farbfilterschicht CF, eine Überzugsschicht OC und einen Orientierungsfilm AL2. Das isolierende Substrat 20 ist ein transparentes Substrat wie etwa ein Glassubstrat und ein Harzsubstrat. Die Lichtabschirmschicht BM und das Farbfilter CF befinden sich zwischen dem isolierenden Substrat 20 und der Überzugsschicht OC. Der Orientierungsfilm AL2 bedeckt die Überzugsschicht OC.
  • Die Flüssigkristallschicht LC befindet sich zwischen dem ersten Substrat SUB1 und dem zweiten Substrat SUB2 und ist zwischen dem Orientierungsfilm AL1 und dem Orientierungsfilm AL2 gehalten. Die Flüssigkristallschicht LC ist aus einem positiven Flüssigkristallmaterial (mit einer positiven dielektrischen Anisotropie) oder aus einem negativen Flüssigkristallmaterial (mit einer negativen dielektrischen Anisotropie) hergestellt. Unter dem ersten Substrat SUB1 (auf der dem zweiten Substrat SUB2 gegenüberliegenden Seite) ist eine Polarisationsplatte PL1 angeordnet. Über dem zweiten Substrat SUB2 (auf der dem ersten Substrat SUB1 gegenüberliegenden Seite) ist eine Polarisationsplatte PL2 angeordnet. Nach Bedarf können zusätzlich zu den Polarisationsplatten PL1 und PL2 eine Verzögerungsplatte, eine Streuschicht, eine Reflexionsverhinderungsschicht oder dergleichen enthalten sein. Unter der Polarisationsplatte PL1 (auf der dem ersten Substrat SUB1 gegenüberliegenden Seite) befindet sich eine Beleuchtungsvorrichtung IL.
  • Wie oben beschrieben wurde, ist die Anzeigevorrichtung 1 in dem Beispiel aus 3 eine Flüssigkristallanzeigevorrichtung in einer Betriebsart eines transversalen elektrischen Felds, genauer in einer Streufeldschaltbetriebsart (FFS-Betriebsart). Die Anzeigevorrichtung 1 ist nicht auf die Nutzung der FFS-Betriebsart beschränkt und kann eine gewünschte Anzeigevorrichtung in einer Betriebsart eines longitudinalen elektrischen Felds oder dergleichen sein.
  • Die Anzeigevorrichtung 1 weist eine Konfiguration zum Ausführen der Prüfung der Verdrahtung auf. Im Folgenden wird die Konfiguration zum Ausführen der Prüfung der Verdrahtung ausführlich beschrieben.
  • 4 ist ein Prinzipschaltbild, das die Konfiguration der Anzeigevorrichtung in der Ausführungsform darstellt. Wie in 4 dargestellt ist, sind die ersten Treiberanschlüsse Da über Videoleitungen Va als Verdrahtung und eine Kopplungsschaltung MU mit dem Signalleitungen S als die Verdrahtung gekoppelt. Ähnlich sind die zweiten Treiberanschlüsse Db über Videoleitungen Vb als Verdrahtung und die Kopplungsschaltung MU mit den Signalleitungen S als die Verdrahtung gekoppelt. Obwohl 4 zur Zweckmäßigkeit der Erläuterung sechs erste Treiberanschlüsse Da und sechs zweite Treiberanschlüsse Db als die ersten Treiberanschlüsse Da und die zweiten Treiberanschlüsse Db darstellt, können die tatsächlichen Anzahlen erster Treiberanschlüsse Da und zweiter Treiberanschlüsse Db mehr als sechs sein. Mit der Kopplungsschaltung MU sind über jeweilige Videoleitungen Va1, Va2, Va3, Va4, Va5 und Va6 erste Treiberanschlüsse Da1, Da2, Da3, Da4, Da5 und Da6 gekoppelt. Ähnlich sind mit der Kopplungsschaltung MU über die jeweiligen Videoleitungen Vb die zweiten Treiberanschlüsse Db gekoppelt. Die Kopplungsschaltungen MU sind auf der Seite der zweiten Richtung Y2 der ersten Treiberanschlüsse Da und der zweiten Treiberanschlüsse Db vorgesehen und befinden sich in dem inneren Peripheriegebiet B1a des ersten Peripheriegebiets B1. Dementsprechend sind die Videoleitungen Va und Vb in dem äußeren Peripheriegebiet B1b auf den Seiten der ersten Treiberanschlüsse Da und der zweiten Treiberanschlüsse Db bis zu dem inneren Peripheriegebiet B1a auf der Seite der Kopplungsschaltungen MU vorgesehen. In dem Beispiel aus 4 sind die ersten Treiberanschlüsse Da und die zweiten Treiberanschlüsse Db mit den unterschiedlichen Kopplungsschaltungen MU gekoppelt. Allerdings ist die Kopplungsart darauf nicht beschränkt und können die ersten Treiberanschlüsse Da und die zweiten Treiberanschlüsse Db mit derselben Kopplungsschaltung MU gekoppelt sein.
  • Die Kopplungsschaltungen MU sind mit den Videoleitungen Va und Vb und mit den Signalleitungen S gekoppelt und schalten die Kopplungen zwischen den Videoleitungen Va und Vb und den Signalleitungen S. Genauer koppeln die Kopplungsverdrahtungsleitungen MU wenigstens eine aus den Signalleitungen S ausgewählte Signalleitung S und die Videoleitung Va und koppeln sie wenigstens eine aus den Signalleitungen S ausgewählte Signalleitung S und die Videoleitung Vb. Die Kopplungsschaltung MU koppelt die Signalleitung S1 mit der Videoleitung Va1, d. h. in der Ausführungsform mit dem ersten Treiberanschluss Da1. Die Kopplungsschaltung MU koppelt die Signalleitung S2 mit der Videoleitung Va2, d. h. mit dem ersten Treiberanschluss Da2. Ähnlich koppelt die Kopplungsschaltung MU die Videoleitung Va3 (den Treiberanschluss Da3) und die Signalleitung S3, koppelt sie die Videoleitung Va4 (den Treiberanschluss Da4) und die Signalleitung S4, koppelt sie die Videoleitung Va5 (den Treiberanschluss Da5) und die Signalleitung S5 und koppelt sie die Videoleitung Va6 (den Treiberanschluss Da6) und die Signalleitung S6. Ähnlich koppelt die Kopplungsschaltung MU die Signalleitungen S mit jeder der Videoleitungen Vb, d. h., mit jedem der zweiten Treiberanschlüsse Db. Obwohl in dem Beispiel aus 4 zur Zweckmäßigkeit der Erläuterung 12 Videoleitungen V dargestellt sind, ist die Anzahl der Videoleitungen V nicht auf 12 beschränkt.
  • Wie oben beschrieben wurde, weist die Anzeigevorrichtung 1 die Konfiguration auf, in der die ersten Treiberanschlüsse Da und die zweiten Treiberanschlüsse Db über die Videoleitungen Va und Vb und die Kopplungsschaltungen MU mit den Signalleitungen S gekoppelt sind. In der Ausführungsform sind die ersten Treiberanschlüsse Da mit irgendwelchen der Signalleitung S1 bis der Signalleitung Sm gekoppelt und sind die zweiten Treiberanschlüsse Db mit irgendwelchen der Signalleitung Sm+1 bis der Signalleitung Sn gekoppelt. Dementsprechend werden die Signale von der Treiber-IC 110a als Videobildsignale über die ersten Treiberanschlüsse Da, die Videoleitungen Va und die Kopplungsschaltung MU an die Signalleitungen S (irgendwelche der Signalleitung S1 bis der Signalleitung Sm) ausgegeben, wenn Signale in einem Zustand, in dem die ersten Treiberanschlüsse Da mit der Treiber-IC 110a gekoppelt sind, von der Treiber-IC 110a ausgegeben werden. Ähnlich werden die Signale von der Treiber-IC 110b als Videobildsignale über die zweiten Treiberanschlüsse Db, die Videoleitungen Vb und die Kopplungsschaltung MU an die Signalleitungen S (irgendwelche der Signalleitung Sm+1 bis der Signalleitung Sn) ausgegeben, wenn Signale in einem Zustand, in dem die zweiten Treiberanschlüsse Db mit der Treiber-IC 110b gekoppelt sind, von der Treiber-IC 110b ausgegeben werden.
  • Die Anzeigevorrichtung 1 enthält in dem ersten Substrat SUB1 die erste Prüfschaltung C1a, die zweite Prüfschaltung C1b, die erste Kopplungsschaltung C2a und die zweite Kopplungsschaltung C2b. Die erste Prüfschaltung C1a enthält die ersten Prüfschalter SWA und die zweite Prüfschaltung C1b enthält die zweiten Prüfschalter SWB. Die erste Kopplungsschaltung C2a enthält die ersten Kopplungsschalter SWc und die zweite Kopplungsschaltung C2b enthält die zweiten Kopplungsschalter SWD. Die ersten Prüfschalter SWA, die zweiten Prüfschalter SWB, die ersten Kopplungsschalter SWC und die zweiten Kopplungsschalter SWD sind Schaltelemente und sind in diesem Beispiel Transistoren. Die Anzeigevorrichtung 1 enthält als die Prüfanschlüsse T erste Schalteranschlüsse TaA und TaB, zweite Schalteranschlüsse TbA und TbB, erste Prüfanschlüsse Ta0 und zweite Prüfanschlüsse Tb0. Die ersten Schalteranschlüsse TaA und TaB sind Anschlüsse zum Ausgeben von Gate-Signalen an die ersten Prüfschalter SWA und an die ersten Kopplungsschalter SWc und die zweiten Schalteranschlüsse TbA und TbB sind Anschlüsse zum Ausgeben von Gate-Signalen an die zweiten Prüfschalter SWB und an die zweiten Kopplungsschalter SWD. Die ersten Prüfanschlüsse Ta0 und die zweiten Prüfanschlüsse Tb0 sind Anschlüsse zum Ausgeben eines Prüfstroms an die Signalleitungen S. Obwohl in der Ausführungsform insgesamt 12 erste Prüfanschlüsse Ta0 einschließlich eines ersten Prüfanschlusses Ta1 bis eines ersten Prüfanschlusses Ta12 vorgesehen sind, ist deren Anzahl nicht auf 12 beschränkt und kann sie auf Wunsch eingestellt werden, solange die mehreren ersten Prüfanschlüsse vorgesehen sind. Ähnlich ist, obwohl in der Ausführungsform insgesamt 12 zweite Prüfanschlüsse Tb0 einschließlich eines zweiten Prüfanschlusses Tb1 bis eines zweiten Prüfanschluss Tb12 vorgesehen sind, deren Anzahl nicht auf 12 beschränkt und kann sie auf Wunsch eingestellt werden, solange die mehreren zweiten Prüfanschlüsse vorgesehen sind. Vorzugsweise sind die Anzahl der ersten Prüfanschlüsse Ta0 und die Anzahl der zweiten Prüfanschlüsse Tb0 dieselben.
  • Die ersten Prüfanschlüsse Ta0, die ersten Schalteranschlüsse TaA und TaB, die ersten Prüfschalter SWA und die ersten Kopplungsschalter SWc sind entsprechend den Signalleitungen S (der Signalleitung S1 bis der Signalleitung Sm) vorgesehen, die mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelt sind und als erste Prüfeinheit angesehen werden können, die die mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelten Signalleitungen S prüft. Im Folgenden werden die jeweiligen Komponenten der ersten Prüfeinheit beschrieben.
  • Einige der ersten Prüfanschlüsse Ta0 als die Prüfanschlüsse sind in dem ersten Gebiet R1 vorgesehen und die anderen der ersten Prüfanschlüsse Ta0 sind in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen. In dem Beispiel aus 4 sind die ersten Prüfanschlüsse Ta1, Ta2, Ta3, Ta4, Ta5 und Ta6 in dem ersten Gebiet R1 vorgesehen und sind die ersten Prüfanschlüsse Ta7, Ta8, Ta9, Ta10, Ta11 und Ta12 in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen. Die ersten Prüfanschlüsse Ta0 sind mit Kopplungsleitungen La0 als die Verdrahtung gekoppelt. Die Kopplungsleitungen La0 verlaufen von Stellen in dem äußeren Peripheriegebiet B1b, in denen sie mit den ersten Prüfanschlüssen Ta0 gekoppelt sind, zu dem inneren Peripheriegebiet B1a und verlaufen in der dritten Richtung X1 in dem inneren Peripheriegebiet B1a. Genauer sind die Kopplungsleitungen La0 sowohl mit den ersten Prüfanschlüssen Ta0, die in dem ersten Gebiet R1 vorgesehen sind, als auch mit den ersten Prüfanschlüssen Ta0, die in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen sind, gekoppelt. Das heißt, in dem Beispiel aus 4 sind der erste Prüfanschluss Ta1 und der erste Prüfanschluss Ta7 mit einer Kopplungsleitung La1 gekoppelt, sind der erste Prüfanschluss Ta2 und der erste Prüfanschluss Ta8 mit einer Kopplungsleitung La2 gekoppelt, sind der erste Prüfanschluss Ta3 und der erste Prüfanschluss Ta9 mit einer Kopplungsleitung La3 gekoppelt, sind der erste Prüfanschluss Ta4 und der erste Prüfanschluss Ta10 mit einer Kopplungsleitung La4 gekoppelt, sind der erste Prüfanschluss Ta5 und der erste Prüfanschluss Ta11 mit einer Kopplungsleitung La5 gekoppelt und sind der erste Prüfanschluss Ta6 und der erste Prüfanschluss Ta12 mit einer Kopplungsleitung La6 gekoppelt.
  • Es sind die ersten Prüfschalter SWA vorgesehen. Die ersten Prüfschalter SWA sind in dem ersten Peripheriegebiet B1 vorgesehen und sind auf der Seite des Anzeigegebiets A der ersten Treiberanschlüsse Da (auf der Seite der zweiten Richtung Y2 der ersten Treiberanschlüsse Da) in dem ersten Peripheriegebiet B1 vorgesehen. In der Ausführungsform sind die ersten Prüfschalter SWA in dem inneren Peripheriegebiet B1a vorgesehen. Genauer können die ersten Prüfschalter SWA an Stellen vorgesehen sein, die aus der Richtung Z in dem inneren Peripheriegebiet B1a gesehen, in dem das erste Substrat SUB1 und das zweite Substrat SUB2 einander überlagert sind, mit der Farbfilterschicht CF überlagert sind. Darüber hinaus können die ersten Prüfschalter SWA zwischen dem ersten Gebiet R1 und dem dritten Gebiet R3 in der Richtung X vorgesehen sein.
  • Die ersten Prüfschalter SWA sind mit den Kopplungsleitungen La0 und mit den Videoleitungen Va gekoppelt. Das heißt, die ersten Prüfschalter SWA sind über die Kopplungsleitungen La0 mit den ersten Prüfanschlüssen Ta0 gekoppelt. Die ersten Prüfschalter SWA sind mit den Signalleitungen S (irgendwelchen der Signalleitung S1 bis der Signalleitung Sm) gekoppelt, die über die Videoleitungen Va mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelt sind, und werden ebenfalls als über die Videoleitungen Va mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelt angesehen. Genauer sind die Drain-Elektroden Dr der ersten Prüfschalter SWA über die Kopplungsleitungen La0 mit den ersten Prüfanschlüssen Ta0 gekoppelt. Die Source-Elektroden So der ersten Prüfschalter SWA sind über die Videoleitungen Va mit den mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelten Signalleitungen S (irgendwelchen der Signalleitung S1 bis der Signalleitung Sm) und mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelt.
  • Es sind die ersten Prüfschalter SWA vorgesehen und in dem Beispiel aus 4 sind erste Prüfschalter SWA1, SWA2, SWA3, SWA4, SWA5 und SWA6 vorgesehen. Die Drain-Elektrode Dr des ersten Prüfschalters SWA1 ist mit der Kopplungsleitung La5 gekoppelt und seine Source-Elektrode So ist mit der Videoleitung Va1 gekoppelt. Die Drain-Elektrode Dr des ersten Prüfschalters SWA2 ist mit der Kopplungsleitung La3 gekoppelt und seine Source-Elektrode So ist mit der Videoleitung Va1 gekoppelt. Die Drain-Elektrode Dr des ersten Prüfschalters SWA6 ist mit der Kopplungsleitung La1 gekoppelt und seine Source-Elektrode So ist mit der Videoleitung Va1 gekoppelt. Die Drain-Elektrode Dr des ersten Prüfschalters SWA4 ist mit der Kopplungsleitung La6 gekoppelt und seine Source-Elektrode So ist mit der Videoleitung Va2 gekoppelt. Die Drain-Elektrode Dr des ersten Prüfschalters SWA5 ist mit der Kopplungsleitung La4 gekoppelt und seine Source-Elektrode So ist mit der Videoleitung Va1 gekoppelt. Die Drain-Elektrode Dr des ersten Prüfschalters SWA6 ist mit der Kopplungsleitung La2 gekoppelt und seine Source-Elektrode So ist mit der Videoleitung Va2 gekoppelt. Das heißt, die Drain-Elektroden Dr der ersten Prüfschalter SWA sind mit irgendwelchen der Kopplungsleitungen La1, La2, La3, La4, La5 und La6 gekoppelt und die Source-Elektroden So davon sind mit irgendwelchen der Videoleitungen Va1 und Va2 gekoppelt. Die Anzahl erster Prüfschalter SWA wird auf Wunsch eingestellt und ist vorzugsweise dieselbe wie die Anzahl der Signalleitungen S (die Gesamtanzahl der Signalleitung S1 bis der Signalleitung Sm), die mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelt sind.
  • Die ersten Prüfanschlüsse Ta0 in dem ersten Gebiet R1 und die ersten Prüfanschlüsse Ta0 in dem dritten Gebiet R3 sind mit den Kopplungsleitungen La0 gekoppelt. Dementsprechend werden die ersten Prüfschalter SWA als mit den ersten Prüfanschlüssen Ta0 in dem ersten Gebiet R1 gekoppelt und über die Kopplungsleitungen La0 mit den ersten Prüfanschlüssen Ta0 in dem dritten Gebiet R3 gekoppelt angesehen. Die Kopplungsstellen der ersten Prüfschalter SWA mit den Kopplungsleitungen La0 befinden sich zwischen den Kopplungsstellen der ersten Prüfanschlüsse Ta0, die in dem ersten Gebiet R1 vorgesehen sind, mit den Kopplungsleitungen La0 und den Kopplungsstellen der ersten Prüfanschlüsse Ta0, die in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen sind, mit den Kopplungsleitungen La0. Das heißt, die Kopplungsstellen der ersten Prüfschalter SWA mit den Kopplungsleitungen La0 befinden sich auf der Seite der dritten Richtung X1 der Kopplungsstellen der ersten Prüfanschlüsse Ta0, die in dem ersten Gebiet R1 vorgesehen sind, mit den Kopplungsleitungen La0 und auf der Seite der vierten Richtung X2 der Kopplungsstellen der ersten Prüfanschlüsse Ta0, die in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen sind, mit den Kopplungsleitungen La0.
  • Der erste Schalteranschluss TaA ist mit einer Kopplungsleitung LaA gekoppelt. Die Kopplungsleitung LaA verläuft von einer Stelle in dem äußeren Peripheriegebiet B1b, in dem sie mit dem ersten Schalteranschluss TaA gekoppelt ist, zu dem inneren Peripheriegebiet B1a und verläuft in der dritten Richtung X1 in dem inneren Peripheriegebiet B1a. Die Kopplungsleitung LaA ist mit den ersten Prüfschaltern SWA in dem inneren Peripheriegebiet B1a gekoppelt. Genauer ist die Kopplungsleitung LaA mit Gate-Elektroden Ga der ersten Prüfschalter SWA gekoppelt. Das heißt, die Gate-Elektroden Ga der ersten Prüfschalter SWA sind über die Kopplungsleitung LaA mit dem ersten Schalteranschluss TaA gekoppelt. Die Kopplungsleitung LaA ist mit jeder der Gate-Elektroden Ga der ersten Prüfschalter SWA, in 4 mit jeder der Gate-Elektroden Ga der ersten Prüfschalter SWA1, SWA2, SWA3, SWA4, SWA5 und SWA6, gekoppelt. Das heißt, mit jedem der ersten Prüfschalter SWA ist eine Kopplungsleitung LaA gekoppelt.
  • Wie oben beschrieben wurde, sind die Drain-Elektroden Dr der ersten Prüfschalter SWA über die Kopplungsleitungen La0 mit den ersten Prüfanschlüssen Ta0 gekoppelt, sind ihre Source-Elektroden So mit den Signalleitungen S (irgendwelchen der Signalleitung S1 bis der Signalleitung Sm) gekoppelt, die über die Videoleitungen Va mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelt sind, und sind ihre Gate-Elektroden Ga über die Kopplungsleitung LaA mit dem ersten Schalteranschluss TaA gekoppelt. Dementsprechend koppeln die ersten Prüfschalter SWA elektrisch die Kopplungsleitungen La0 und die Videoleitungen Va, d. h. die ersten Prüfanschlüsse Ta0 und die Signalleitungen S (irgendwelche der Signalleitung S1 bis der Signalleitung Sm), die mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelt sind, wenn in die Gate-Elektroden Ga der ersten Prüfschalter SWA über den ersten Schalteranschluss TaA ein Strom (Gate-Signal) eingegeben wird. Andererseits unterbrechen (trennen) die ersten Prüfschalter SWA elektrisch die Kopplungsleitungen La0 und die Videoleitungen Va, d. h. die ersten Prüfanschlüsse Ta0 und die Signalleitungen S, die mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelt sind, in einem Zustand, in dem in die Gate-Elektroden Ga der ersten Prüfschalter SWA kein Strom (Gate-Signale) eingegeben wird. Somit sind die ersten Prüfschalter SWA in der Weise konfiguriert, dass sie das Koppeln und Unterbrechen der ersten Prüfanschlüsse Ta0 und der Signalleitungen S schalten können. Genauer schalten die ersten Prüfschalter SWA das Koppeln und Unterbrechen der ersten Prüfanschlüsse Ta0 und der Signalleitungen S mit dem Gate-Signal von dem ersten Schalteranschluss TaA.
  • Die ersten Kopplungsschalter SWC als die Kopplungsschalter sind in dem zweiten Peripheriegebiet B2 vorgesehen. Das heißt, die ersten Kopplungsschalter SWc sind auf der Seite der zweiten Richtung Y2 der ersten Prüfschalter SWA, die in dem ersten Peripheriegebiet B1 vorgesehen sind, und der Signalleitungen S, die in dem Anzeigegebiet A vorgesehen sind. Jeder der ersten Kopplungsschalter SWc ist mit den Signalleitungen S gekoppelt, die mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelt sind, und ist in der Ausführungsform mit zwei Signalleitungen S (zwei der Signalleitung S1 bis der Signalleitung Sm) gekoppelt, die mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelt ist. Genauer ist die Drain-Elektrode Dr jedes ersten Kopplungsschalters SWC mit einer Signalleitung S der zwei mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelten Signalleitungen S gekoppelt und ist seine Source-Elektrode So mit der anderen Signalleitung S der zwei mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelten Signalleitungen S gekoppelt. Vorzugsweise sind die ersten Kopplungsschalter SWc mit Endabschnitten der Signalleitungen S auf der Seite der zweiten Richtung Y2 gekoppelt.
  • Es sind die ersten Kopplungsschalter SWC vorgesehen und in dem Beispiel aus 4 sind erste Kopplungsschalter SWC1, SWC2 und SWC3 vorgesehen. Die Drain-Elektrode Dr des ersten Kopplungsschalters SWC1 ist mit der Signalleitung S1 gekoppelt und seine Source-Elektrode So ist mit der Signalleitung S2 gekoppelt. Die Drain-Elektrode Dr des ersten Kopplungsschalters SWC2 ist mit der Signalleitung S3 gekoppelt und seine Source-Elektrode So ist mit der Signalleitung S4 gekoppelt. Die Drain-Elektrode Dr des ersten Kopplungsschalters SWC3 ist mit der Signalleitung S5 gekoppelt und seine Source-Elektrode So ist mit der Signalleitung S6 gekoppelt. Die ersten Kopplungsschalter SWC1, SWC2 und SWC3 können in der Weise vorgesehen sein, dass die Source-Elektroden So und die Drain-Elektroden Dr invertiert sind. Die Anzahl erster Kopplungsschalter SWc wird auf Wunsch eingestellt und ist vorzugsweise die Hälfte der Anzahl der mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelten Signalleitungen S
  • Der erste Schalteranschluss TaB ist mit einer Kopplungsleitung LaB gekoppelt. Die Kopplungsleitung LaB verläuft von einer Stelle in dem äußeren Peripheriegebiet B1b, in dem sie mit dem ersten Schalteranschluss TaB gekoppelt ist, durch das innere Peripheriegebiet B1a und durch das vierte Peripheriegebiet B4 (oder durch das dritte Peripheriegebiet B3) zu dem zweiten Peripheriegebiet B2 und verläuft in der dritten Richtung X1 in dem zweiten Peripheriegebiet B2. Die Kopplungsleitung LaB ist mit den ersten Kopplungsschaltern SWc in dem zweiten Peripheriegebiet B2 gekoppelt. Genauer ist die Kopplungsleitung LaB mit den Gate-Elektroden Ga der ersten Kopplungsschalter SWc gekoppelt. Das heißt, die Gate-Elektroden Ga der ersten Kopplungsschalter SWc sind über die Kopplungsleitung LaB mit dem ersten Schalteranschluss TaB gekoppelt. Die Kopplungsleitung LaB ist mit jeder der Gate-Elektroden Ga der ersten Kopplungsschalter SWC, in 4 mit jeder der Gate-Elektroden Ga der ersten Kopplungsschalter SWC1, SWC2 und SWC3, gekoppelt. Das heißt, mit jedem der ersten Kopplungsschalter SWC ist eine Kopplungsleitung LaB gekoppelt.
  • Wie oben beschrieben wurde, ist die Drain-Elektrode Dr jedes ersten Kopplungsschalters SWc mit einer der zwei mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelten Signalleitungen S gekoppelt, ist seine Source-Elektrode So mit der anderen der zwei mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelten Signalleitungen S gekoppelt und ist seine Gate-Elektrode Ga über die Kopplungsleitung LaB mit dem ersten Schalteranschluss TaB gekoppelt. Dementsprechend koppeln die ersten Kopplungsschalter SWC elektrisch mit den zwei Signalleitungen S, die mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelt sind, wenn ein Strom (Gate-Signal) über den ersten Schalteranschluss TaB in die Gate-Elektroden Ga der ersten Kopplungsschalter SWc eingegeben wird. Andererseits unterbrechen (trennen) die ersten Kopplungsschalter SWc elektrisch die zwei Signalleitungen S, die mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelt sind, in einem Zustand, in dem kein Strom (Gate-Signal) in die Gate-Elektroden Ga der ersten Kopplungsschalter SWc eingegeben wird. Die ersten Kopplungsschalter SWc sind mit dem ersten Schalteranschluss TaB und mit den Signalleitungen S gekoppelt und sind so konfiguriert, dass sie das wie oben beschriebene Koppeln und Unterbrechen der Signalleitungen S mit dem Gate-Signal von dem ersten Schalteranschluss TaB schalten können.
  • Die ersten Prüfanschlüsse Ta0, die ersten Schalteranschlüsse TaA und TaB, die ersten Prüfschalter SWA und die ersten Kopplungsschalter SWc sind wie oben beschrieben als die erste Prüfeinheit konfiguriert. Andererseits sind die zweiten Prüfanschlüsse Tb0, die zweiten Schalteranschlüsse TbA und TbB, die zweiten Prüfschalter SWB und die zweiten Kopplungsschalter SWD den Signalleitungen S (der Signalleitung Sm+1 bis der Signalleitung Sn), die mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt sind, entsprechend vorgesehen und können sie als eine zweite Prüfeinheit angesehen werden, die die Signalleitungen S prüft, die mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt sind. Die Konfiguration der zweiten Prüfeinheit ist ähnlich der der ersten Prüfeinheit und Einzelheiten davon werden im Folgenden beschrieben.
  • Einige der zweiten Prüfanschlüsse Tb0 als die Prüfanschlüsse sind in dem zweiten Gebiet R2 vorgesehen und die anderen der zweiten Prüfanschlüsse Tb0 sind in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen. In dem Beispiel aus 4 sind zweite Prüfanschlüsse Tb1, Tb2, Tb3, Tb4, Tb5 und Tb6 in dem zweiten Gebiet R2 vorgesehen und sind zweite Prüfanschlüsse Tb7, Tb8, Tb9, Tb10, Tb11 und Tb12 in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen. Die zweiten Prüfanschlüsse Tb0 sind mit Kopplungsleitungen Lb0 als Verdrahtung gekoppelt. Die Kopplungsleitungen Lb0 verlaufen von Stellen in dem äußeren Peripheriegebiet B1b, an denen sie mit den zweiten Prüfanschlüssen Tb0 gekoppelt sind, zu dem inneren Peripheriegebiet B1a und verlaufen in der vierten Richtung X2 in dem inneren Peripheriegebiet B1a. Genauer sind die Kopplungsleitungen Lb0 sowohl mit den zweiten Prüfanschlüssen Tb0, die in dem zweiten Gebiet R2 vorgesehen sind, als auch mit den zweiten Prüfanschlüssen Tb0, die in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen sind, gekoppelt. Das heißt, in dem Beispiel aus 4 sind der zweite Prüfanschluss Tb1 und der zweite Prüfanschluss Tb7 mit einer Kopplungsleitung Lb1 gekoppelt, sind der zweite Prüfanschluss Tb2 und der zweite Prüfanschluss Tb8 mit einer Kopplungsleitung Lb2 gekoppelt, sind der zweite Prüfanschluss Tb3 und der zweite Prüfanschluss Tb9 mit einer Kopplungsleitung Lb3 gekoppelt, sind der zweite Prüfanschluss Tb4 und der zweite Prüfanschluss Tb10 mit einer Kopplungsleitung Lb4 gekoppelt, sind der zweite Prüfanschluss Tb5 und der zweite Prüfanschluss Tb11 mit einer Kopplungsleitung Lb5 gekoppelt und sind der zweite Prüfanschluss Tb6 und der zweite Prüfanschluss Tb12 mit einer Kopplungsleitung Lb6 gekoppelt.
  • Auf diese Weise ist kein zweiter Prüfanschluss Tb0 vorgesehen und sind die ersten Prüfanschlüsse Ta0 in dem ersten Gebiet R1 vorgesehen, ist kein erster Prüfanschluss Ta0 vorgesehen und sind die zweiten Prüfanschlüsse Tb0 in dem zweiten Gebiet R2 vorgesehen und sind sowohl die ersten Prüfanschlüsse Ta0 als auch die zweiten Prüfanschlüsse Tb0 in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen. Mit anderen Worten, die Prüfanschlüsse (die ersten Prüfanschlüsse Ta0), die in dem ersten Gebiet R1 vorgesehen sind, sind mit den ersten Prüfschaltern SWA gekoppelt und die Prüfanschlüsse (die zweiten Prüfanschlüsse Tb0), die in dem zweiten Gebiet R2 vorgesehen sind, sind mit den zweiten Prüfschaltern SWB gekoppelt. Die ersten Prüfanschlüsse Ta0, die mit den ersten Prüfschaltern SWA gekoppelt sind, und die zweiten Prüfanschlüsse Tb0, die mit den zweiten Prüfschaltern SWB gekoppelt sind, sind in dem dritten Gebiet R3 enthalten. Vorzugsweise sind die ersten Prüfanschlüsse Ta0 auf der Seite des ersten Gebiets R1 (auf der Seite der vierten Richtung X2) der zweiten Prüfanschlüsse Tb0 in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen.
  • In der Ausführungsform sind einer der ersten Prüfanschlüsse Ta0, die in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen sind, und einer der zweiten Prüfanschlüsse Tb0, die in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen sind, miteinander gekoppelt. Das heißt, die Kopplungsleitung La0, die mit einem der ersten Prüfanschlüsse Ta0 in dem dritten Gebiet R3 gekoppelt ist, und die Kopplungsleitung Lb0, die mit einem der zweiten Prüfanschlüsse Tb0 in dem dritten Gebiet R3 gekoppelt, sind miteinander gekoppelt. Die Kopplungsleitung La1, die mit dem ersten Prüfanschluss Ta7 gekoppelt ist, und die Kopplungsleitung Lb1, die mit dem zweiten Prüfanschluss Tb7 gekoppelt ist, sind in 4 miteinander gekoppelt. Ähnlich sind die Kopplungsleitung La2 und die Kopplungsleitung Lb2 miteinander gekoppelt, sind die Kopplungsleitung La3 und die Kopplungsleitung Lb3 miteinander gekoppelt, sind die Kopplungsleitung La4 und die Kopplungsleitung Lb4 miteinander gekoppelt, sind die Kopplungsleitung La5 und die Kopplungsleitung Lb5 miteinander gekoppelt und sind die Kopplungsleitung La6 und die Kopplungsleitung Lb6 miteinander gekoppelt. Das heißt, alle Kopplungsleitungen La0 und Kopplungsleitungen Lb0, mit anderen Worten, alle ersten Prüfanschlüsse Ta0 und zweiten Prüfanschlüsse Tb0, die in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen sind, sind in 4 in Paaren miteinander gekoppelt. Die ersten Prüfanschlüsse Ta0, die in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen sind, und die zweiten Prüfanschlüsse Tb0, die in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen sind, d. h. die Kopplungsleitungen La0 und die Kopplungsleitungen Lb0, können nicht miteinander gekoppelt sein.
  • Es sind mehrere der zweiten Prüfschalter SWB vorgesehen. Die zweiten Prüfschalter SWB sind in dem ersten Peripheriegebiet B1 vorgesehen und sind auf der Seite des Anzeigegebiets A der zweiten Treiberanschlüsse Db (der Seite der zweiten Richtung Y2 der zweiten Treiberanschlüsse Db) in dem ersten Peripheriegebiet B1 vorgesehen. In der Ausführungsform sind die zweiten Prüfschalter SWB in dem inneren Peripheriegebiet B1a vorgesehen. Genauer können die zweiten Prüfschalter SWB aus der Richtung Z in dem inneren Peripheriegebiet B1a gesehen, in dem das erste Substrat SUB1 und das zweite Substrat SUB2 einander überlagert sind, an Stellen vorgesehen sein, die mit der Farbfilterschicht CF überlagert sind. Darüber hinaus können die zweiten Prüfschalter SWB zwischen dem zweiten Gebiet R2 und dem dritten Gebiet R3 in der Richtung X vorgesehen sein.
  • Die zweiten Prüfschalter SWB sind mit den Kopplungsleitungen Lb0 und mit den Videoleitungen Vb gekoppelt. Das heißt, die zweiten Prüfschalter SWB sind über die Kopplungsleitungen Lb0 mit den zweiten Prüfanschlüssen Tb0 gekoppelt. Die zweiten Prüfschalter SWB sind mit den Signalleitungen S (irgendwelchen der Signalleitung Sm+1 bis der Signalleitung Sn) gekoppelt, die über die Videoleitungen Vb mit den zweiten Prüfschaltern SWB gekoppelt sind, und werden ebenfalls als über die Videoleitungen Vb mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt angesehen. Genauer sind die Drain-Elektroden Dr der zweiten Prüfschalter SWB über die Kopplungsleitungen Lb0 mit den zweiten Prüfanschlüssen Tb0 gekoppelt. Die Source-Elektroden So der zweiten Prüfschalter SWB sind mit den Signalleitungen S (irgendwelchen der Signalleitung Sm+1 bis der Signalleitung Sn) gekoppelt, die mit den zweiten Treiberanschlüssen Db und über die Videoleitungen Vb mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt sind. Die Anzahl zweiter Prüfschalter SWB wird auf Wunsch eingestellt und ist vorzugsweise dieselbe wie die Anzahl der Signalleitungen S, die mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt sind.
  • Die zweiten Prüfanschlüsse Tb0 in dem zweiten Gebiet R2 und die zweiten Prüfanschlüsse Tb0 in dem dritten Gebiet R3 sind mit den Kopplungsleitungen Lb0 gekoppelt. Dementsprechend werden die zweiten Prüfschalter SWB als über die Kopplungsleitungen Lb0 mit den zweiten Prüfanschlüssen Tb0 in dem zweiten Gebiet R2 und mit den zweiten Prüfanschlüssen Tb0 in dem dritten Gebiet R3 gekoppelt angesehen. Die Kopplungsstellen der zweiten Prüfschalter SWB mit den Kopplungsleitungen Lb0 befinden sich zwischen Kopplungsstellen der zweiten Prüfanschlüsse Tb0, die in dem zweiten Gebiet R2 vorgesehen sind, mit den Kopplungsleitungen Lb0 und Kopplungsstellen der zweiten Prüfanschlüsse Tb0, die in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen sind, mit den Kopplungsleitungen Lb0. Das heißt, die Kopplungsstellen der zweiten Prüfschalter SWB mit den Kopplungsleitungen Lb0 befinden sich auf der Seite der vierten Richtung X2 der Kopplungsstellen der zweiten Prüfanschlüsse Tb0, die in dem zweiten Gebiet R2 vorgesehen sind, mit den Kopplungsleitungen Lb0 und auf der Seite der dritten Richtung X1 der Kopplungsstellen der zweiten Kopplungsanschlüsse Tb0, die in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen sind, mit den Kopplungsleitungen Lb0.
  • Der zweite Schalteranschluss TbA ist mit einer Kopplungsleitung LbA gekoppelt. Die Kopplungsleitung LbA verläuft von einer Stelle in dem äußeren Peripheriegebiet B1b, in dem sie mit dem zweiten Schalteranschluss TbA gekoppelt ist, zu dem inneren Peripheriegebiet B1a und verläuft in der vierten Richtung X2 in dem inneren Peripheriegebiet B1a. Die Kopplungsleitung LbA ist mit den zweiten Prüfschaltern SWB in dem inneren Peripheriegebiet B1a gekoppelt. Genauer ist die Kopplungsleitung LbA mit den Gate-Elektroden Ga der zweiten Prüfschalter SWB gekoppelt. Das heißt, die Gate-Elektroden Ga der zweiten Prüfschalter SWB sind über die Kopplungsleitung LbA mit dem zweiten Schalteranschluss TbA gekoppelt. Die Kopplungsleitung LaA ist mit jeder der Gate-Elektroden Ga der zweiten Prüfschalter SWB gekoppelt. Das heißt, mit jedem der zweiten Prüfschalter SWB ist eine Kopplungsleitung LbA gekoppelt. Obwohl die Kopplungsleitung LbA und die Kopplungsleitung LaA in der Ausführungsform nicht miteinander gekoppelt sind, können sie miteinander gekoppelt sein. In diesem Fall kann nur der erste Schalteranschluss TaA oder der zweite Schalteranschluss TbA vorgesehen sein.
  • Wenn in die Gate-Elektroden Ga der zweiten Prüfschalter SWB über den zweiten Schalteranschluss TbA ein Strom (Gate-Signal) eingegeben wird, koppeln die zweiten Prüfschalter SWB elektrisch die Kopplungsleitungen Lb0 und die Videoleitungen Vb, d. h. die zweiten Prüfanschlüsse Tb0 und die Signalleitungen S (irgendwelche der Signalleitung Sm+1 bis der Signalleitung Sn), die mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt sind. Andererseits unterbrechen (trennen) die zweiten Prüfschalter SWB elektrisch die Kopplungsleitungen Lb0 und die Videoleitungen Vb, d. h. die zweiten Prüfanschlüsse Tb0 und die Signalleitungen S, die mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt sind, in einem Zustand, in dem kein Strom (Gate-Signal) in die Gate-Elektroden Ga der zweiten Prüfschalter SWB eingegeben wird. Somit sind die zweiten Prüfschalter SWB in der Weise konfiguriert, dass sie das Koppeln und Unterbrechen der zweiten Prüfanschlüsse Tb0 und der Signalleitungen S schalten können. Genauer schalten die zweiten Prüfschalter SWB das Koppeln und Unterbrechen der zweiten Prüfanschlüsse Tb0 und der Signalleitungen S mit dem Gate-Signal von dem zweiten Schalteranschluss TbA.
  • In dem zweiten Peripheriegebiet B2 sind die zweiten Kopplungsschalter SWD als die Kopplungsschalter vorgesehen. Das heißt, die zweiten Kopplungsschalter SWD sind auf der Seite der zweiten Richtung Y2 der zweiten Prüfschalter SWB, die in dem ersten Peripheriegebiet B1 vorgesehen sind, und der Signalleitungen S, die in dem Anzeigegebiet A vorgesehen sind, vorgesehen. Jeder zweite Kopplungsschalter SWD ist mit den Signalleitungen S, die mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt sind, gekoppelt und ist in der Ausführungsform mit zwei Signalleitungen S (zwei der Signalleitung Sm+1 bis der Signalleitung Sn), die mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt sind, gekoppelt. Genauer ist die Drain-Elektrode Dr jedes zweiten Kopplungsschalters SWD mit einer Signalleitung S der zwei Signalleitungen S, die mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt sind, gekoppelt und ist seine Source-Elektrode So mit der anderen Signalleitung S der zwei Signalleitungen S, die mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt sind, gekoppelt. Vorzugsweise sind die zweiten Kopplungsschalter SWD mit Endabschnitten der Signalleitungen S auf der Seite der zweiten Richtung Y2 gekoppelt. Die Anzahl zweiter Kopplungsschalter SWD wird auf Wunsch eingestellt und ist vorzugsweise die Hälfte der Anzahl der Signalleitungen S, die mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt sind.
  • Der zweite Schalteranschluss TbB ist mit einer Kopplungsleitung LbB gekoppelt. Die Kopplungsleitung LbB verläuft von einer Stelle in dem äußeren Peripheriegebiet B1b, in dem sie mit dem zweiten Schalteranschluss TbB gekoppelt ist, über das innere Peripheriegebiet B1a und das dritte Peripheriegebiet B3 (oder das vierte Peripheriegebiet B4) und verläuft in der vierten Richtung X2 in dem zweiten Peripheriegebiet B2 zu dem zweiten Peripheriegebiet B2. Die Kopplungsleitung LbB ist mit den zweiten Kopplungsschaltern SWD in dem zweiten Peripheriegebiet B2 gekoppelt. Genauer ist die Kopplungsleitung LbB mit den Gate-Elektroden Ga der zweiten Kopplungsschalter SWD gekoppelt. Das heißt, die Gate-Elektroden Ga der zweiten Kopplungsschalter SWD sind über die Kopplungsleitung LbB mit dem zweiten Schalteranschluss TbB gekoppelt. Die Kopplungsleitung LbB ist mit jeder der Gate-Elektroden Ga der zweiten Kopplungsschalter SWD gekoppelt. Das heißt, mit jedem der zweiten Kopplungsschalter SWD ist eine Kopplungsleitung LbB gekoppelt. Obwohl die Kopplungsleitung LbB und die Kopplungsleitung LaB in der Ausführungsform nicht miteinander gekoppelt sind, können sie miteinander gekoppelt sein. In diesem Fall kann nur einer des ersten Schalteranschlusses TaB und des zweiten Schalteranschlusses TbB vorgesehen sein.
  • Wenn in die Gate-Elektroden Ga der zweiten Kopplungsschalter SWD über den zweiten Schalteranschluss TbB ein Strom (Gate-Signal) eingegeben wird, koppeln die zweiten Kopplungsschalter SWD elektrisch die zwei Signalleitungen S, die mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt sind. Andererseits unterbrechen (trennen) die zweiten Kopplungsschalter SWD elektrisch die zwei Signalleitungen S, die mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt sind, in einem Zustand, in dem in die Gate-Elektroden Ga kein Strom (Gate-Signal) eingegeben wird. Die zweiten Kopplungsschalter SWD sind mit dem zweiten Schalteranschluss TbB und mit den Signalleitungen S gekoppelt und sind so konfiguriert, dass sie das wie oben beschriebene Koppeln und Unterbrechen der Signalleitungen S mit dem Gate-Signal von dem zweiten Schalteranschluss TbB schalten können.
  • (Prüfverfahren)
  • Die Anzeigevorrichtung 1 weist die oben erwähnte Konfiguration auf. Nachfolgend wird ein Verfahren zum Prüfen der Verdrahtung der Anzeigevorrichtung 1, d. h. der Alterungsverarbeitung und der Beleuchtungsprüfung, beschrieben. 5 ist eine schematische Darstellung, die ein Beispiel der Alterungsverarbeitung darstellt. Wenn die Alterungsverarbeitung ausgeführt wird, sind die Treiber-IC 110a und 110b nicht mit den ersten Treiberanschlüssen Da und mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt und werden Signale von den Treiber-IC 110a und 110b nicht in die ersten Treiberanschlüsse Da und in die zweiten Treiberanschlüsse Db eingegeben. Allerdings können die Treiber-IC 110a und 110b mit den ersten Treiberanschlüssen Da und mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt sein, solange kein Signal von den Treiber-IC 110a und 110b in die ersten Treiberanschlüsse Da und in die zweiten Treiberanschlüsse Db eingegeben wird.
  • 5 stellt zur Zweckmäßigkeit der Erläuterung ein Beispiel dar, wenn die Alterungsverarbeitung an den Signalleitungen S1, S2, Sn-5 und Sn-4 ausgeführt wird. Wie in 5 dargestellt ist, sind mit den Prüfanschlüssen T Prüfvorrichtungen 200 gekoppelt, wenn die Alterungsverarbeitung ausgeführt wird. Jede Prüfvorrichtung 200 enthält einen Controller 201, einen Detektor 202, einen Prozessor 203 und eine Ansteuerschaltung 204. Die Prüfvorrichtungen 200 sind lediglich ein Beispiel und können einige dieser Funktionen nicht aufweisen und können eine andere Funktion aufweisen. Die Treiber-IC 110a und 110b (siehe 1) können einige der Funktionen der Prüfvorrichtungen 200 aufweisen.
  • Der Controller 201 ist eine Schaltung, die so konfiguriert ist, dass sie den Detektor 202, den Prozessor 203 und die Ansteuerschaltung 204 steuern und die Anzeigevorrichtung 1 prüfen kann. Der Detektor 202 ist eine Schaltung, die so konfiguriert ist, dass sie von den Signalleitungen S ausgegebene Signale (in diesem Beispiel einen Strom I1) detektieren kann. Der Detektor 202 ist z. B. eine Spannungsdetektionsschaltung oder eine Stromdetektionsschaltung. Der Prozessor 203 ist eine Bestimmungsschaltung, die so konfiguriert ist, sie auf der Grundlage von Detektionssignalen des Detektors 202 einen Kurzschluss, eine Trennung und dergleichen der Signalleitungen S bestimmen kann. Die Ansteuerschaltung 204 erzeugt die Gate-Signale, um die Schalter und Prüfsignale anzusteuern, um zu veranlassen, dass der Strom I1 über die Signalleitungen S fließt, und gibt sie an die Anzeigevorrichtung 1 aus.
  • Im Folgenden wird der Fall beschrieben, dass die Alterungsverarbeitung an den Signalleitungen S1 und S2 ausgeführt wird. Die Prüfvorrichtung 200 gibt die Gate-Signale von der Ansteuerschaltung 204 an den ersten Schalteranschluss TaA und an den ersten Schalteranschluss TaB aus. Die Gate-Signale sind ein Strom mit einem vorgegebenen Potential, wobei das Potential vorzugsweise ein festgesetztes Potential ist, das konstant ist. Die Prüfvorrichtung 200 gibt die Gate-Signale für eine vorgegebene Zeitdauer, d. h. für eine Zeitdauer, in der die Alterungsverarbeitung ausgeführt wird, ununterbrochen an den ersten Schalteranschluss TaA und an den ersten Schalteranschluss TaB aus. Das an den ersten Schalteranschluss TaA ausgegebene Gate-Signal wird über die Kopplungsleitung LaA in die Gate-Elektroden Ga der ersten Prüfschalter SWA eingegeben. Wenn das Gate-Signal in die Gate-Elektroden Ga der ersten Prüfschalter SWA eingegeben wird, koppeln die ersten Prüfschalter SWA die Kopplungsleitungen La0 und die Videoleitungen Va, d. h. die ersten Prüfanschlüsse Ta0 und die Signalleitungen S, die mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelt sind. Das heißt, in dem Beispiel aus 5 koppelt der erste Prüfschalter SWA3 die Kopplungsleitung La1 und die Videoleitung Va1 und koppelt der erste Prüfschalter SWA6 die Kopplungsleitung La2 und die Videoleitung Va2. Andererseits wird das an den ersten Schalteranschluss TaB ausgegebene Gate-Signal über die Kopplungsleitung LaB in die Gate-Elektroden Ga der ersten Kopplungsschalter SWC eingegeben. Wenn das Gate-Signal in die Gate-Elektroden Ga der ersten Kopplungsschalter SWC eingegeben wird, koppeln die ersten Kopplungsschalter SWC die Signalleitungen S, die mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelt sind, in dem Beispiel aus 5 die Signalleitung S1 und die Signalleitung S2. Somit ist durch die Prüfvorrichtung 200, den ersten Prüfanschluss Ta1, die Kopplungsleitung La1, den ersten Prüfschalter SWA3, die Videoleitung Va1, die Signalleitung S1, den ersten Kopplungsschalter SWC1, die Signalleitung S2, die Videoleitung Va2, den ersten Prüfschalter SWA6, die Kopplungsleitung La2 und den ersten Prüfanschluss Ta2 ein geschlossener Stromkreis gebildet.
  • Die Prüfvorrichtung 200 gibt die Prüfsignale von der Ansteuerschaltung 204 an die ersten Prüfanschlüsse Ta0 in dem ersten Gebiet R1 und an die ersten Prüfanschlüsse Ta0 in dem dritten Gebiet R3 aus. Die Prüfsignale sind ein Strom mit einem vorgegebenen Potential. Die Prüfvorrichtung 200 gibt die Prüfsignale mit verschiedenen Potentialen an die ersten Prüfanschlüsse Ta0 aus, die Paare bilden. Vorzugsweise gibt die Prüfvorrichtung 200 die Prüfsignale an die ersten Prüfanschlüsse Ta0, die Paare bilden, mit Potentialen entgegengesetzter Polaritäten aus. Die ersten Prüfanschlüsse Ta0, die das Paar bilden, geben zwei erste Prüfanschlüsse Ta0 an, die mit zwei Signalleitungen S gekoppelt sind, mit denen der erste Kopplungsschalter SWc gekoppelt ist. Der erste Prüfanschluss Ta1 und der erste Prüfanschluss Ta2 und der erste Prüfanschluss Ta7 und der erste Prüfanschluss Ta8 sind die ersten Prüfanschlüsse Ta0, die in dem Beispiel aus 5 die Paare bilden. In dem Beispiel aus 5 gibt die Prüfvorrichtung 200 die Prüfsignale mit Potentialen der positiven Polarität an den ersten Prüfanschluss Ta1 und an den ersten Prüfanschluss Ta7 aus und die Prüfsignale mit Potentialen der negativen Polarität an den ersten Prüfanschluss Ta2 und an den ersten Prüfanschluss Ta8 aus. Wie oben beschrieben ist, wird der geschlossene Stromkreis gebildet, so dass der Strom I1 in dieser Reihenfolge von dem ersten Prüfanschluss Ta1 und dem ersten Prüfanschluss Ta7 mit einer Potentialdifferenz zwischen den Prüfsignalen in den ersten Prüfanschlüssen Ta0, die die Paare bilden, über die Kopplungsleitung La1, den ersten Prüfschalter SWA3, die Videoleitung Va1, die Signalleitung S1, den ersten Kopplungsschalter SWC1, die Signalleitung S2, die Videoleitung Va2, den ersten Prüfschalter SWA6, die Kopplungsleitung La2 und den ersten Prüfanschluss Ta2 und den ersten Prüfanschluss Ta8 fließt. Das heißt, die Prüfvorrichtung 200 führt den Strom den Signalleitungen S sowohl von den ersten Prüfanschlüssen Ta0 in dem ersten Gebiet R1 als auch von den ersten Prüfanschlüssen Ta0 in dem dritten Gebiet R3 zu. Die Prüfvorrichtung 200 stellt die Potentialdifferenz zwischen den ersten Prüfanschlüssen Ta so hoch wie möglich, z. B. auf mehrere zehn Volt, ein, um zu veranlassen, dass der Strom I1 mit einer hohen Spannung fließt. Der Spannungswert des Stroms I1 wird wenigstens höher als die Spannungen der Videobildsignale von der Treiber-IC 110 eingestellt. Die Prüfvorrichtung 200 kann die Polaritäten der Prüfsignale, die an die ersten Prüfanschlüsse Ta ausgegeben werden, jedes Mal schalten, wenn eine vorgegebene Zeitdauer verstrichen ist. Dadurch kann die Richtung des Stroms I1 in jeder vorgegebenen Zeitdauer umgekehrt werden.
  • Wenn in der in 5 dargestellten Alterungsverarbeitung ein teilgetrennter Abschnitt der Signalleitung S, d. h. ein Abschnitt, in dem die Leitungsbreite lokal verengt ist, gebildet ist, kann der Abschnitt dadurch, dass veranlasst wird, dass der Strom I1 wie oben beschrieben über die Signalleitung S1 und die Signalleitung S2 fließt, getrennt werden. Dadurch, dass ein Produkt vor dem Versand gebrochen wird und der Bruch detektiert wird, ist es möglich, eine Trennung nach dem Versand zu verhindern und die Zuverlässigkeit zu verbessern. Wenn die Signalleitung S in der Alterungsverarbeitung getrennt wird, fließt kein Strom durch sie. Somit detektieren der Detektor 202 und der Prozessor 203, dass kein Strom oder keine Spannung fließt, und detektieren sie dadurch die Trennung der Signalleitung S. Zum Beispiel wird der getrennte Abschnitt nicht in Farbe angezeigt, wenn an die Signalleitungen S in der Beleuchtungsprüfung oder dergleichen nach der Alterungsverarbeitung Beleuchtungsprüfsignale ausgegeben werden. Somit ermöglicht die Detektion davon in der Beleuchtungsprüfung, die später beschrieben wird, dass die Trennung der Signalleitung S detektiert wird. Somit kann durch die Ausführung der in 5 dargestellten Alterungsverarbeitung detektiert werden, ob es in den Signalleitungen S einen teilgetrennten Abschnitt gibt. In der in 5 dargestellten Alterungsverarbeitung fließt der Strom I1 ebenfalls über Abschnitte der Videoleitungen Va von den ersten Prüfschaltern SWA zu der Kopplungsschaltung MU. Dementsprechend kann detektiert werden, ob es für die Videoleitungen Va zusätzlich zu den Signalleitungen S einen teilgetrennten Abschnitt gibt.
  • Die Detektionsvorrichtungen 200 führen an allen Signalleitungen S eine ähnliche Verarbeitung aus, so dass die Alterungsverarbeitung an allen Signalleitungen S ausgeführt wird. Die Detektionsvorrichtung 200 veranlasst, dass der Strom I1 in dieser Reihenfolge von dem zweiten Prüfanschluss Tb1 und von dem zweiten Prüfanschluss Tb7, wie in 5 dargestellt ist, über die Kopplungsleitung Lb1, den zweiten Prüfschalter SWC(n-5), die Videoleitung Vb, die Signalleitung Sn-5, den zweiten Kopplungsschalter SWDq, die Signalleitung Sn-4, die Videoleitung Vb, den zweiten Prüfschalter SWB(n-4), die Kopplungsleitung Lb und den zweiten Prüfanschluss Tb2 und den zweiten Prüfanschluss Tb8 fließt.
  • Nachfolgend wird die Beleuchtungsprüfung beschrieben. 6 ist eine schematische Darstellung, die ein Beispiel der Beleuchtungsprüfung darstellt. Vorzugsweise wird die Beleuchtungsprüfung nach der Alterungsverarbeitung ausgeführt. Wie in 6 dargestellt ist, gibt die Prüfvorrichtung 200 in der Beleuchtungsprüfung das Gate-Signal von der Ansteuerschaltung 204 an den ersten Schalteranschluss TaA aus, aber kein Gate-Signal an den ersten Schalteranschluss TaB aus. Dementsprechend sind die Prüfvorrichtung 200, die ersten Prüfanschlüsse Ta0, die Kopplungsleitungen La0, die ersten Prüfschalter SWA, die Videoleitungen Va und die Signalleitungen S elektrisch miteinander gekoppelt und sind die Signalleitungen S nicht elektrisch miteinander gekoppelt. In diesem Zustand gibt die Prüfvorrichtung 200 den Strom I2 von der Ansteuerschaltung 204 als die Beleuchtungsprüfsignale an die ersten Prüfanschlüsse Ta0 in dem ersten Gebiet R1 und an die ersten Prüfanschlüsse Ta0 in dem dritten Gebiet R3 aus. Der Strom I2 fließt über die Kopplungsleitungen La0, die ersten Prüfschalter SWA, die Videoleitungen Va und die Signalleitungen S und wird an die mit den Signalleitungen S gekoppelten Pixel PX ausgegeben. Die Pixel PX werden mit dem Strom I2 leuchten gelassen. Der Strom I2 ist ein Strom mit einem vorgegebenen Potential, wobei das Potential vorzugsweise ein festgesetztes Potential ist, das konstant ist. Ein Spannungswert (Stromwert) des Stroms I2 ist äquivalent den Spannungswerten (Stromwerten) der Videobildsignale und ist niedriger als der Spannungswert (Stromwert) des Prüfsignals der Alterungsverarbeitung. Obwohl die Beleuchtungsprüfung unter Verwendung derselben Prüfvorrichtungen 200 ausgeführt wird, die für die Alterungsverarbeitung in 6 verwendet werden, können andere Prüfvorrichtungen verwendet werden.
  • In der in 6 dargestellten Beleuchtungsprüfung führen die Prüfvorrichtungen 200 an allen Signalleitungen S eine ähnliche Verarbeitung aus, um den Strom I2 als die Beleuchtungsprüfsignale an alle Signalleitungen S auszugeben. Zum Beispiel gibt die Prüfvorrichtung 200 den Strom I2 ebenfalls an die Pixel PX aus, die über die Kopplungsleitungen Lb0, die zweiten Prüfschalter SWB, die Videoleitungen VB und die Signalleitungen S, wie in 6 dargestellt ist, mit den Signalleitungen S gekoppelt sind. Ob die Signalleitungen S in normalen Zuständen sind, d. h., ob die Signalleitungen S nicht getrennt sind usw., wird auf der Grundlage der Beleuchtungszustände der Pixel PX z. B. in der Beleuchtungsprüfung geprüft. Zum Beispiel erhält der gesamte Bildschirm dieselbe Farbe, wenn an alle Pixel PX die Beleuchtungsprüfsignale mit demselben Potential ausgegeben werden. Allerdings wird bestimmt, dass die Signalleitung S, die der Stelle entspricht, eine Anomalie aufweist, wenn es eine Stelle in einer anderen Farbe gibt.
  • Wenn mehrere der Prüfschalter vorgesehen sind, weisen die Prüfschalter auf der von den Prüfanschlüssen weiter entfernten Seite längere Wege auf, über die die Ströme fließen und deren Widerstände aufsummiert und erhöht sind. Desto weniger Strom fließt über die Prüfschalter auf der von den Prüfanschlüssen weiter entfernten Seite, d. h. über die von den Prüfanschlüssen weiter entfernten Signalleitungen S, was zu einem Risiko des Ungleichgewichts des über die Signalleitungen S fließenden Stroms führt. Der Weg, über den der Strom fließt, ist zwischen den ersten Prüfschaltern SWA und den zweiten Prüfschaltern SWB unterschiedlich. Somit kann die Abweichung des Stroms zwischen den Signalleitungen S deutlicher werden, wenn die ersten Prüfschalter SWA und die zweiten Prüfschalter SWB vorgesehen sind, d. h., wenn die Treiber-IC 110 vorgesehen sind. Zum Beispiel kann die Signalleitung S, die teilgetrennt ist, möglicherweise in der Alterungsverarbeitung nicht richtig getrennt werden, wenn der Strom somit zwischen den Signalleitungen S abweicht. In der Beleuchtungsprüfung werden die Farben der Pixel PX wegen unterschiedlicher Stromwerte zu den Pixeln PX geändert, selbst wenn die Signalleitung S tatsächlich normal ist, wobei eine fehlerhafte Detektion auftreten kann, dass die Signalleitung S eine Anomalie aufweist. Wie oben beschrieben wurde, verringert das Ungleichgewicht des Stroms zwischen den Signalleitungen S in der Prüfung die Prüfgenauigkeit. Um dies zu bewältigen, enthält die Anzeigevorrichtung 1 in der Ausführungsform die ersten Prüfanschlüsse Ta0 auf beiden Seiten der ersten Prüfschalter SWA, d. h. in dem ersten Gebiet R1 und in dem dritten Gebiet R3, und enthält sie die zweiten Prüfanschlüsse Tb0 auf beiden Seiten der zweiten Prüfschalter SWB, d. h. in dem zweiten Gebiet R2 und in dem dritten Gebiet R3. Dementsprechend kann der Strom den ersten Prüfschaltern SWA von beiden Seiten einschließend von dem ersten Gebiet R1 und von dem dritten Gebiet R3 zugeführt werden und kann der Strom den zweiten Prüfschaltern SWB von beiden Seiten einschließlich von dem zweiten Gebiet R2 und von dem dritten Gebiet R3 zugeführt werden. Somit kann die Leistung den mit den ersten Prüfschaltern SWA und mit den zweiten Prüfschaltern SWB gekoppelten Signalleitungen S von beiden Seiten zugeführt werden, so dass die Verringerung des Stromwerts verhindert werden kann und eine Abweichung des Stroms zwischen den Signalleitungen S verhindert werden kann. Somit kann die Anzeigevorrichtung 1 verhindern, dass die Anzeigegenauigkeit und die Zuverlässigkeit verringert werden.
  • Die ersten Prüfanschlüsse Ta0, die mit den ersten Prüfschaltern SWA gekoppelt sind, und die zweiten Prüfanschlüsse Tb0, die mit den zweiten Prüfschaltern SWB gekoppelt sind, sind in der Ausführungsform in dem dritten Gebiet enthalten. Irgendwelche der ersten Prüfanschlüsse Ta0 und der zweiten Prüfanschlüsse Tb0 können nicht in dem dritten Gebiet enthalten sein. Das heißt, die zweiten Prüfanschlüsse Tb0 können nicht in dem dritten Gebiet vorgesehen sein, wobei in diesem Fall die ersten Prüfanschlüsse Ta0 in dem dritten Gebiet über die Kopplungsleitungen La0 mit den ersten Prüfschaltern SWA gekoppelt sind und außerdem über die Kopplungsleitungen Lb0 mit den zweiten Prüfschaltern SWB gekoppelt sind. Somit ist es ausreichend, dass die Prüfanschlüsse, die in dem dritten Gebiet vorgesehen sind, wenigstens mit einem der ersten Prüfschalter SWA und der zweiten Prüfschalter SWB gekoppelt sind.
  • Wie oben beschrieben wurde, enthält die Anzeigevorrichtung 1 in der Ausführungsform das erste Substrat SUB1, die Signalleitungen S (die Verdrahtung), die ersten Treiberanschlüsse Da, die zweiten Treiberanschlüsse Db, die Prüfanschlüsse (die ersten Prüfanschlüsse Ta0 und die zweiten Prüfanschlüsse Tb0), die in dem ersten Peripheriegebiet B1 vorgesehen sind, die ersten Prüfschalter SWA und die zweiten Prüfschalter SWB. Das erste Substrat SUB1 weist das Anzeigegebiet A, in dem die Pixel PX vorgesehen sind, und das Peripheriegebiet B auf der Außenseite des Anzeigegebiets A auf. Die Signalleitungen S sind in dem Anzeigegebiet A vorgesehen und sind mit den Pixeln PX gekoppelt, um den Pixeln PX die Videobildsignale zuzuführen. Die ersten Treiberanschlüsse Da sind Anschlüsse, die in dem ersten Peripheriegebiet B1 auf der Seite der Dickenrichtung X1 des Anzeigegebiets A vorgesehen sind und mit den Signalleitungen S gekoppelt sind und mit denen die Treiber-IC 110a (die erste Treiber-IC) gekoppelt werden kann. Die zweiten Treiberanschlüsse Db sind Anschlüsse, die an Stellen vorgesehen sind, die auf die Richtung, die die erste Richtung Y1 schneidet, (in diesem Beispiel die Richtung X) in dem ersten Peripheriegebiet B1 ausgerichtet sind und die mit den Signalleitungen S gekoppelt sind und mit denen die Treiber-IC 110b (die zweite Treiber-IC) gekoppelt werden kann. Die ersten Prüfschalter SWA sind mit den ersten Treiberanschlüssen Da gekoppelt und sind so konfiguriert, dass sie das Koppeln und Unterbrechen der Prüfanschlüsse und der Signalanschlüsse S schalten können. Die zweiten Prüfschalter SWB sind mit den zweiten Treiberanschlüssen Db gekoppelt und sind so konfiguriert, dass sie das Koppeln und Unterbrechen der Prüfanschlüsse und der Signalleitungen S schalten können. Die Prüfanschlüsse sind in dem ersten Gebiet R1 auf der Seite der ersten Treiberanschlüsse Da, die der Seite der zweiten Treiberanschlüsse Db gegenüberliegt, in dem zweiten Gebiet R2 auf der Seite der zweiten Treiberanschlüsse Db, die der Seite der ersten Treiberanschlüsse Da gegenüberliegt, und in dem dritten Gebiet R3 zwischen den ersten Treiberanschlüssen Da und den zweiten Treiberanschlüssen Db vorgesehen.
  • Die Anzeigevorrichtung 1 in der Ausführungsform enthält die Prüfanschlüsse in dem ersten Gebiet R1, in dem zweiten Gebiet R2 und in dem dritten Gebiet R3. Dementsprechend kann bei der Prüfung der Signalleitungen S eine Leistungsversorgung beider Seiten von diesen Prüfanschlüssen ausgeführt werden, um ein Ungleichgewicht des Stromwerts zwischen den Signalleitungen S zu verhindern und dadurch zu verhindern, dass die Prüfgenauigkeit und die Zuverlässigkeit verringert werden.
  • Die Prüfanschlüsse (die ersten Prüfanschlüsse Ta0), die in dem ersten Gebiet R1 vorgesehen sind, sind mit den ersten Prüfschaltern SWA gekoppelt, die Prüfanschlüsse (die zweiten Prüfanschlüsse Tb0), die in dem zweiten Gebiet R2 vorgesehen sind, sind mit den zweiten Prüfschaltern SWB gekoppelt und die Prüfanschlüsse, die in dem dritten Gebiet vorgesehen sind, sind mit wenigstens einem der ersten Prüfschalter SWA und der zweiten Prüfschalter SWB gekoppelt. Die Anzeigevorrichtung 1 kann dadurch, dass die ersten Prüfanschlüsse Ta0 in dem ersten Gebiet R1 und in dem dritten Gebiet R3 auf beiden Seiten der ersten Prüfschalter SWA vorgesehen sind, den ersten Prüfschaltern SWA von beiden Seiten Leistung zuführen. Ähnlich kann die Anzeigevorrichtung 1 den zweiten Prüfschaltern SWB von beiden Seiten Leistung zuführen. Somit kann die Anzeigevorrichtung 1 das Ungleichgewicht des Stromwerts zwischen den Signalleitungen S verhindern und dadurch verhindern, dass die Zuverlässigkeit verringert wird.
  • Die ersten Prüfanschlüsse Ta0, die mit den ersten Prüfschaltern SWA gekoppelt sind, und die zweiten Prüfanschlüsse Tb0, die mit den zweiten Prüfschaltern SWB gekoppelt sind, sind in dem dritten Gebiet R3 enthalten. Die Anzeigevorrichtung 1 kann den Strom den ersten Prüfschaltern SWA und den zweiten Prüfschaltern SWB von beiden Seiten zuführen, so dass das Ungleichgewicht des Stromwerts zwischen den Signalleitungen S verhindert werden kann und dadurch verhindert werden kann, dass die Zuverlässigkeit verringert wird.
  • Die ersten Prüfanschlüsse Ta0, die mit den ersten Prüfschaltern SWA in dem dritten Gebiet R3 gekoppelt sind, und die zweiten Prüfanschlüsse Tb0, die mit den zweiten Prüfschaltern SWB in dem dritten Gebiet R3 gekoppelt sind, sind miteinander gekoppelt. Die Anzeigevorrichtung 1 kann durch Koppeln der ersten Prüfanschlüsse Ta0 und der zweiten Prüfanschlüsse Tb0 ein Ungleichgewicht der Spannung zwischen den ersten Prüfschaltern SWA und den zweiten Prüfschaltern SWB verhindern und dadurch verhindern, dass die Zuverlässigkeit verringert wird.
  • Ferner enthält die Anzeigevorrichtung 1 den ersten Schalteranschluss TaA, der in dem ersten Peripheriegebiet B1 vorgesehen ist und mit den ersten Prüfschaltern SWA gekoppelt ist, und den zweiten Schalteranschluss TbA, der in dem ersten Peripheriegebiet B1 vorgesehen ist und mit den zweiten Prüfschaltern SWB gekoppelt ist. Die ersten Prüfschalter SWA schalten das Koppeln und Unterbrechen der ersten Prüfanschlüsse Ta0 und der Signalleitungen S mit dem Gate-Signal von dem ersten Schalteranschluss TaA und die zweiten Prüfschalter SWB schalten das Koppeln und Unterbrechen der zweiten Prüfanschlüsse Tb0 und der Signalleitungen S mit dem Gate-Signal von dem zweiten Schalteranschluss TbA. Die Anzeigevorrichtung 1 koppelt die Signalleitungen S und die Prüfanschlüsse durch die ersten Prüfanschlüsse SWA und die zweiten Prüfschalter SWB und prüft dadurch vorzugsweise die Signalleitungen S.
  • Die ersten Prüfschalter SWA und die zweiten Prüfschalter SWB sind in dem ersten Peripheriegebiet B1 vorgesehen. Die ersten Prüfschalter SWA und die zweiten Prüfschalter SWB sind auf den Seiten der ersten Treiberanschlüsse Da bzw. der zweiten Treiberanschlüsse Db vorgesehen und prüfen dadurch vorzugsweise die Signalleitungen S.
  • Ferner enthält die Anzeigevorrichtung 1 die Kopplungsschalter (die ersten Kopplungsschalter SWc und die zweiten Kopplungsschalter SWD). Die Kopplungsschalter sind in dem zweiten Peripheriegebiet B2 vorgesehen und sind so konfiguriert, dass sie das Koppeln und Unterbrechen der Signalleitungen S schalten können. Die Anzeigevorrichtung 1 enthält die Kopplungsschalter, die die Signalleitungen S koppeln können, so dass die Alterungsverarbeitung vorzugsweise ausgeführt werden kann.
  • (Änderungen)
  • Nachfolgend werden Änderungen beschrieben. Die Anzeigevorrichtung 1 in der oben erwähnten Ausführungsform nutzt die COF-Montage, mit der die Treiber-IC 110 auf dem Verdrahtungssubstrat 101 montiert ist. Die Treiber-IC 110 ist nicht darauf beschränkt, durch die COF-Montage montiert zu sein, und kann auf dem ersten Substrat SUB1 vorgesehen sein, d. h. durch eine Chip-auf-Glas-Montage (COG-Montage), wie sie in einer Anzeigevorrichtung 1A gemäß einer Änderung dargestellt ist, montiert sein. Obwohl im Folgenden die Anzeigevorrichtung 1A in der Änderung beschrieben wird, wird eine Erläuterung von Teilen mit gemeinsamen Konfigurationen wie jenen der Anzeigevorrichtung 1 in der Ausführungsform weggelassen.
  • 7 ist eine Draufsicht, die schematisch die Anzeigevorrichtung in der Änderung darstellt. Wie in 7 dargestellt ist, enthält die Anzeigevorrichtung 1A in der Änderung eine Treiber-IC 110Aa, eine Treiber-IC 110Ab, ein Verdrahtungssubstrat 102a und ein Verdrahtungssubstrat 102b, die in dem äußeren Peripheriegebiet B1b des ersten Peripheriegebiets B1 vorgesehen sind. Die Prüfanschlüsse T, die ersten Treiberanschlüsse Da, die zweiten Treiberanschlüsse Db, die ersten Eingangsanschlüsse Ea, die zweiten Eingangsanschlüsse Eb, die ersten Verdrahtungsanschlüsse Fa und die zweiten Verdrahtungsanschlüsse Fb sind in dem äußeren Peripheriegebiet B1b vorgesehen.
  • Die ersten Verdrahtungsanschlüsse Fa sind für das Verdrahtungssubstrat 102a vorgesehen und mit ihm gekoppelt. Die ersten Eingangsanschlüsse Ea sind für die ersten Verdrahtungsanschlüsse Fa und für die Treiber-IC 110Aa vorgesehen und mit ihnen gekoppelt. Die ersten Treiberanschlüsse Da sind mit der Treiber-IC 110Aa gekoppelt. Signale von dem Verdrahtungssubstrat 102a werden über die ersten Verdrahtungsanschlüsse Fa und die ersten Eingangsanschlüsse Ea in die Treiber-IC 110Aa eingegeben. Die Treiber-IC 110Aa erzeugt auf der Grundlage der Signale von dem Verdrahtungssubstrat 102a Videobildsignale und die Videobildsignale werden über die ersten Treiberanschlüsse Da an die Signalleitungen S ausgegeben.
  • Die zweiten Verdrahtungsanschlüsse Fb sind für das Verdrahtungssubstrat 102b vorgesehen und mit ihm gekoppelt. Die zweiten Eingangsanschlüsse Eb sind für die zweiten Verdrahtungsanschlüsse Fb und für die Treiber-IC 110Ab vorgesehen und mit ihnen gekoppelt. Die zweiten Treiberanschlüsse Db sind mit der Treiber-IC 110Ab gekoppelt. Signale von dem Verdrahtungssubstrat 102b werden über die zweiten Verdrahtungsanschlüsse Fb und die zweiten Eingangsanschlüsse Eb in die Treiber-IC 110Ab eingegeben. Die Treiber-IC 110Ab erzeugt auf der Grundlage der Signale von dem Verdrahtungssubstrat 102b Videobildsignale und die Videobildsignale werden über die zweiten Treiberanschlüsse Db an die Signalleitungen S ausgegeben.
  • 8 ist ein Prinzipschaltbild der Konfiguration der Anzeigevorrichtung gemäß der Änderung. Wie in 8 dargestellt ist, ist die Schaltungskonfiguration zum Prüfen der Signalleitungen S in der Anzeigevorrichtung 1A gemäß der Änderung ähnlich der Schaltungskonfiguration gemäß der in 4 dargestellten Ausführungsform. Wie in 8 dargestellt ist, sind die Treiber-IC 110Aa und die Ansteuer-IC 110Ab vorzugsweise über eine Verdrahtung Lx, die in dem äußeren Peripheriegebiet B1b vorgesehen ist, miteinander gekoppelt. Die Verdrahtung Lx verläuft in dem äußeren Peripheriegebiet Bb1 in der Weise, dass sie keinen Kontakt mit den ersten Prüfanschlüssen Ta0 und mit den zweiten Prüfanschlüssen Tb0, die in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen sind, herstellt. Zum Beispiel verläuft die Verdrahtung Lx vorzugsweise auf der Seite der ersten Richtung Y1 der ersten Prüfanschlüsse Ta0 und der zweiten Prüfanschlüsse Tb0, die in dem dritten Gebiet R3 vorgesehen sind. Eine Rauschstörung zwischen der Anzeigevorrichtung 1 und den Treiber-IC und dergleichen kann wie oben beschrieben durch Koppeln der Treiber-IC 110Aa und 110Ab über die Verdrahtung Lx verhindert werden. Die Treiber-IC 110Aa und die Ansteuer-IC 110Ab können nicht miteinander gekoppelt sein.
  • 9 ist eine Draufsicht, die schematisch eine Anzeigevorrichtung gemäß einer anderen Änderung darstellt. In 7 sind die erste Prüfschaltung C1a und die zweite Prüfschaltung C1b, d. h. die ersten Prüfschalter SWA und die zweiten Prüfschalter SWB, ähnlich der Ausführungsform in 1 in dem inneren Peripheriegebiet B1a vorgesehen. In der COG-Montage können die erste Prüfschaltung C1a und die zweite Prüfschaltung C1b, d. h. die ersten Prüfschalter SWA und die zweiten Prüfschalter SWB, wie in 9 dargestellt ist, in dem äußeren Peripheriegebiet B1b angeordnet sein. In diesem Fall ist die erste Prüfschaltung C1a, d. h. sind die ersten Prüfschalter SWA, vorzugsweise auf der unteren Seite der Treiber-IC 110Aa in der Z-Richtung vorgesehen. Ähnlich ist die zweite Prüfschaltung C1b, d. h. sind die zweiten Prüfschalter SWB, vorzugsweise auf der unteren Seite der Treiber-IC 110Ab in der Z-Richtung vorgesehen. Eine derartige Anordnung veranlasst, dass die ersten Prüfschalter SWA und die zweiten Prüfschalter SWB durch die Treiber-IC 110Aa und 110Ab bedeckt sind, um ein Freiliegen der ersten Prüfschalter SWA und der zweiten Prüfschalter SWB zu verhindern, selbst wenn die ersten Prüfschalter SWA und die zweiten Prüfschalter SWB in dem äußeren Peripheriegebiet B1b angeordnet sind. Die untere Seite in der Z-Richtung gibt die Seite des ersten Substrats SUB1 an, wenn das erste Substrat SUB1 und das zweite Substrat SUB2 in der Z-Richtung einander überlagert sind.
  • Andere Aktionswirkungen, die durch den in der Ausführungsform beschriebenen Aspekt geschaffen werden, die aus der Beschreibung der vorliegenden Patentschrift offensichtlich sind oder die der Fachmann geeignet erreichen kann, sind so zu interpretieren, dass sie durch die vorliegende Erfindung geschaffen werden.
  • Bezugszeichenliste
    • 1
    ANZEIGEVORRICHTUNG
    110A, 110b
    TREIBER-IC
    A
    ANZEIGEGEBIET
    B
    PERIPHERIEGEBIET
    B1
    ERSTES PERIPHERIEGEBIET
    B1a
    INNERES PERIPHERIEGEBIET
    B1b
    ÄUSSERES PERIPHERIEGEBIET
    Da
    ERSTER TREIBERANSCHLUSS
    Db
    ZWEITER TREIBERANSCHLUSS
    PX
    PIXEL
    R1
    ERSTES GEBIET
    R2
    ZWEITES GEBIET
    R3
    DRITTES GEBIET
    S
    SIGNALLEITUNG (VERDRAHTUNG)
    SUB1
    ERSTES SUBSTRAT
    SUB2
    ZWEITES SUBSTRAT
    SWA
    ERSTER PRÜFSCHALTER
    SWB
    ZWEITER PRÜFSCHALTER
    SWC
    ERSTER KOPPLUNGSSCHALTER
    SWD
    ZWEITER KOPPLUNGSSCHALTER
    Ta0
    ERSTER PRÜFANSCHLUSS (PRÜFANSCHLUSS)
    Tb0
    ZWEITER PRÜFANSCHLUSS (PRÜFANSCHLUSS)
    Y1
    ERSTE RICHTUNG

Claims (7)

  1. Anzeigevorrichtung, die umfasst: ein erstes Substrat mit einem Anzeigegebiet, in dem mehrere Pixel vorgesehen sind, und mit einem Peripheriegebiet auf einer Außenseite des Anzeigegebiets; eine Verdrahtung, die in dem Anzeigegebiet vorgesehen ist und mit den Pixeln gekoppelt ist, um den Pixeln ein Signal zuzuführen; einen ersten Treiberanschluss, der in einem ersten Peripheriegebiet vorgesehen ist, das das Peripheriegebiet auf der Seite einer ersten Richtung des Anzeigegebiets ist, und der mit der Verdrahtung gekoppelt ist und mit dem eine erste Treiber-IC gekoppelt werden kann; einen zweiten Treiberanschluss, der an einer Stelle, die auf den ersten Treiberanschluss in einer Richtung, die die erste Richtung in dem ersten Peripheriegebiet schneidet, ausgerichtet ist, vorgesehen ist und der mit der Verdrahtung gekoppelt ist und mit dem eine zweite Treiber-IC gekoppelt werden kann; mehrere Prüfanschlüsse, die in dem ersten Peripheriegebiet vorgesehen sind; einen ersten Prüfschalter, der mit dem ersten Treiberanschluss gekoppelt ist und so konfiguriert ist, dass er das Koppeln und Unterbrechen des Prüfanschlusses und der Verdrahtung schalten kann; und einen zweiten Prüfschalter, der mit dem zweiten Treiberanschluss gekoppelt ist und so konfiguriert ist, dass er das Koppeln und Unterbrechen des Prüfanschlusses und der Verdrahtung schalten kann, wobei die Prüfanschlüsse in einem ersten Gebiet auf einer Seite des ersten Treiberanschlusses, die einer Seite des zweiten Treiberanschlusses gegenüberliegt, in einem zweiten Gebiet auf einer Seite des zweiten Treiberanschlusses, die der Seite des ersten Treiberanschlusses gegenüberliegt, und in einem dritten Gebiet zwischen dem ersten Treiberanschluss und dem zweiten Treiberanschluss vorgesehen sind.
  2. Anzeigevorrichtung nach Anspruch 1, wobei der Prüfanschluss, der in dem ersten Gebiet vorgesehen ist, mit dem ersten Prüfschalter gekoppelt ist, der Prüfanschluss, der in dem zweiten Gebiet vorgesehen ist, mit dem zweiten Prüfschalter gekoppelt ist, und der Prüfanschluss, der in dem dritten Gebiet angeordnet ist, mit dem ersten Prüfschalter und/oder mit dem zweiten Prüfschalter gekoppelt ist.
  3. Anzeigevorrichtung nach Anspruch 2, wobei der Prüfanschluss, der mit dem ersten Prüfschalter gekoppelt ist, und der Prüfanschluss, der mit dem zweiten Prüfschalter gekoppelt ist, in dem dritten Gebiet enthalten sind.
  4. Anzeigevorrichtung nach Anspruch 3, wobei der Prüfanschluss, der mit dem ersten Prüfschalter in dem dritten Gebiet gekoppelt ist, und der Prüfanschluss, der mit dem zweiten Prüfschalter in dem dritten Gebiet gekoppelt ist, miteinander gekoppelt sind.
  5. Anzeigevorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, die ferner einen ersten Schalteranschluss, der in dem ersten Peripheriegebiet vorgesehen ist und mit dem ersten Prüfschalter gekoppelt ist, und einen zweiten Schalteranschluss, der in dem ersten Peripheriegebiet vorgesehen ist und mit dem zweiten Prüfschalter gekoppelt ist, umfasst, wobei der erste Prüfschalter das Koppeln und Unterbrechen des Prüfanschlusses und der Verdrahtung mit einem Signal von dem ersten Schalteranschluss schaltet und der zweite Prüfschalter das Koppeln und Unterbrechen des Prüfanschlusses und der Verdrahtung mit einem Signal von dem zweiten Schalteranschluss schaltet.
  6. Anzeigevorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei der erste Prüfschalter und der zweite Prüfschalter in dem ersten Peripheriegebiet vorgesehen sind.
  7. Anzeigevorrichtung nach Anspruch 6, die ferner einen Kopplungsschalter umfasst, der in einem zweiten Peripheriegebiet vorgesehen ist, das das Peripheriegebiet auf einer Seite der Anzeigevorrichtung ist, die eine Seite der Gegenrichtung zu der ersten Richtung ist, und so konfiguriert ist, dass er das Koppeln und Unterbrechen mehrerer Leitungen der Verdrahtung schalten kann.
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7076991B2 (ja) * 2017-12-04 2022-05-30 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
KR20200053716A (ko) * 2018-11-08 2020-05-19 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN114967251B (zh) * 2021-02-20 2023-12-12 福州京东方光电科技有限公司 显示基板及其补偿方法、显示装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005084535A (ja) 2003-09-10 2005-03-31 Sharp Corp 表示装置
JP2010243524A (ja) 2009-04-01 2010-10-28 Sony Corp 電気光学装置
US20140139509A1 (en) 2012-11-19 2014-05-22 Samsung Display Co., Ltd. Pad areas, display panels having the same, and flat panel display devices
CN107664883A (zh) 2016-07-29 2018-02-06 株式会社日本显示器 显示装置
US20190064239A1 (en) 2017-08-28 2019-02-28 Samsung Display Co., Ltd. Display device

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3297335B2 (ja) * 1997-01-06 2002-07-02 アルプス電気株式会社 液晶表示装置
JP3606138B2 (ja) * 1999-11-05 2005-01-05 セイコーエプソン株式会社 ドライバｉｃ、電気光学装置及び電子機器
JP4483224B2 (ja) * 2003-08-08 2010-06-16 セイコーエプソン株式会社 電気光学パネル、電気光学装置、及び電子機器
JP2007293074A (ja) * 2006-04-26 2007-11-08 Epson Imaging Devices Corp 液晶表示装置及びその液晶表示装置を使用したカーナビゲーション装置
JP2010286617A (ja) * 2009-06-10 2010-12-24 Hitachi Displays Ltd 液晶表示装置
JP5535707B2 (ja) * 2010-03-19 2014-07-02 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置及び表示装置の接続状況検査方法
JP2013058428A (ja) * 2011-09-09 2013-03-28 Japan Display East Co Ltd コネクタ接続検査回路、表示装置、コネクタ接続検査方法及び表示装置の製造方法
JP2013182128A (ja) * 2012-03-01 2013-09-12 Sharp Corp 表示装置
JP2017224095A (ja) * 2016-06-14 2017-12-21 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005084535A (ja) 2003-09-10 2005-03-31 Sharp Corp 表示装置
JP2010243524A (ja) 2009-04-01 2010-10-28 Sony Corp 電気光学装置
US20140139509A1 (en) 2012-11-19 2014-05-22 Samsung Display Co., Ltd. Pad areas, display panels having the same, and flat panel display devices
CN107664883A (zh) 2016-07-29 2018-02-06 株式会社日本显示器 显示装置
US20190064239A1 (en) 2017-08-28 2019-02-28 Samsung Display Co., Ltd. Display device

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