DE112012006033T5 - Befestigung einer mikroelektronischen Vorrichtung auf einem umgekehrten mikroelektronischen Paket - Google Patents
Befestigung einer mikroelektronischen Vorrichtung auf einem umgekehrten mikroelektronischen Paket Download PDFInfo
- Publication number
- DE112012006033T5 DE112012006033T5 DE112012006033.4T DE112012006033T DE112012006033T5 DE 112012006033 T5 DE112012006033 T5 DE 112012006033T5 DE 112012006033 T DE112012006033 T DE 112012006033T DE 112012006033 T5 DE112012006033 T5 DE 112012006033T5
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- microelectronic
- substrate
- interposer
- opening
- microelectronic substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000004377 microelectronic Methods 0.000 title claims abstract description 289
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 107
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 12
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 5
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 3
- 239000003365 glass fiber Substances 0.000 description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 3
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- -1 copper and aluminum Chemical class 0.000 description 2
- JYEUMXHLPRZUAT-UHFFFAOYSA-N 1,2,3-triazine Chemical compound C1=CN=NN=C1 JYEUMXHLPRZUAT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XQUPVDVFXZDTLT-UHFFFAOYSA-N 1-[4-[[4-(2,5-dioxopyrrol-1-yl)phenyl]methyl]phenyl]pyrrole-2,5-dione Chemical compound O=C1C=CC(=O)N1C(C=C1)=CC=C1CC1=CC=C(N2C(C=CC2=O)=O)C=C1 XQUPVDVFXZDTLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101100189378 Caenorhabditis elegans pat-3 gene Proteins 0.000 description 1
- 229910000978 Pb alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 229910001128 Sn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 229920003192 poly(bis maleimide) Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/12—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates
- H01L23/13—Mountings, e.g. non-detachable insulating substrates characterised by the shape
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/18—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
- H05K1/181—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/367—Cooling facilitated by shape of device
- H01L23/3677—Wire-like or pin-like cooling fins or heat sinks
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/498—Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
- H01L23/49827—Via connections through the substrates, e.g. pins going through the substrate, coaxial cables
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/065—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
- H01L25/0652—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00 the devices being arranged next and on each other, i.e. mixed assemblies
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/14—Structural association of two or more printed circuits
- H05K1/141—One or more single auxiliary printed circuits mounted on a main printed circuit, e.g. modules, adapters
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2225/00—Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2225/03—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
- H01L2225/04—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers
- H01L2225/065—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
- H01L2225/06503—Stacked arrangements of devices
- H01L2225/06517—Bump or bump-like direct electrical connections from device to substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2225/00—Details relating to assemblies covered by the group H01L25/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2225/03—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
- H01L2225/04—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers
- H01L2225/065—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
- H01L2225/06503—Stacked arrangements of devices
- H01L2225/0652—Bump or bump-like direct electrical connections from substrate to substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/42—Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations selected or arranged to facilitate heating or cooling
- H01L23/427—Cooling by change of state, e.g. use of heat pipes
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/14—Structural association of two or more printed circuits
- H05K1/144—Stacked arrangements of planar printed circuit boards
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10227—Other objects, e.g. metallic pieces
- H05K2201/10378—Interposers
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/30—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/341—Surface mounted components
- H05K3/3415—Surface mounted components on both sides of the substrate or combined with lead-in-hole components
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49117—Conductor or circuit manufacturing
- Y10T29/49124—On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
- Y10T29/4913—Assembling to base an electrical component, e.g., capacitor, etc.
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
- Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)
Abstract
Die vorliegende Beschreibung betrifft im Allgemeinen das Gebiet der Herstellung mikroelektronischer Strukturen. Die mikroelektronische Struktur kann ein mikroelektronisches Substrat mit einer Öffnung beinhalten, wobei die Öffnung durch das mikroelektronische Substrat gebildet werden oder ein Rücksprung sein kann, der im mikroelektronischen Substrat gebildet wird. Ein mikroelektronisches Paket kann an dem mikroelektronischen Substrat befestigt werden, wobei das mikroelektronische Paket einen Interposer mit einer ersten Fläche und einer entgegengesetzten zweiten Fläche beinhalten kann. Eine mikroelektronische Vorrichtung kann an der ersten Fläche des Interposers befestigt sein und der Interposer kann mit der ersten Fläche des Interposers am mikroelektronischen Substrat befestigt sein, sodass sich die mikroelektronische Vorrichtung in die Öffnung erstreckt. Mindestens eine sekundäre mikroelektronische Vorrichtung kann an der zweiten Fläche des Interposers befestigt sein.
Description
- HINTERGRUND
- Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung beziehen sich im Allgemeinen auf den Bereich mikroelektronischer Pakete und insbesondere auf die umgekehrte Befestigung eines mikroelektronischen Pakets auf einem Substrat und mindestens eine sekundäre mikroelektronische Vorrichtung, die am mikroelektronischen Paket befestigt ist.
- KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
- Der Gegenstand der vorliegenden Offenbarung wird insbesondere im Schlussteil der Beschreibung dargelegt und klar beansprucht. Vorstehendes und andere Merkmale der vorliegenden Offenbarung werden besser aus der folgenden Beschreibung und den beigefügten Ansprüchen verstanden, die in Verbindung mit den begleitenden Zeichnungen gegeben werden. Es ist selbstverständlich, dass die begleitenden Zeichnungen nur mehrere Ausführungsformen in Übereinstimmung mit der vorliegenden Offenbarung darstellen und daher den Umfang nicht einschränken sollen. Die Offenbarung wird zusätzlich spezifischer und detaillierter durch die Verwendung der begleitenden Zeichnungen beschrieben, sodass die Vorteile der vorliegenden Offenbarung rascher bestimmt werden können. Wobei:
-
1 eine Querschnittseitenansicht eines mikroelektronischen Pakets veranschaulicht, das auf einem mikroelektronischen Substrat montiert ist, wie auf diesem technischen Gebiet bekannt bekannt. -
2 eine Querschnittseitenansicht der Struktur von1 mit einer Wärmeableitungsvorrichtung veranschaulicht, die mit dem mikroelektronischen Paket in Kontakt ist, wie auf diesem technischen Gebiet bekannt. -
3 eine Querschnittseitenansicht eines mikroelektronischen Pakets veranschaulicht, das umgekehrt auf einem mikroelektronischen Substrat montiert ist, wobei sich mindestens eine mikroelektronischen Vorrichtung des mikroelektronischen Pakets in eine Öffnung im mikroelektronischen Substrat erstreckt, gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Beschreibung. -
4 eine Querschnittseitenansicht der Struktur von3 mit einer Wärmeableitungsvorrichtung veranschaulicht, die mit der mikroelektronischen Vorrichtung des mikroelektronischen Pakets in Kontakt ist, gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Beschreibung. -
5 eine Querschnittseitenansicht eines mikroelektronischen Pakets veranschaulicht, das umgekehrt auf einem mikroelektronischen Substrat montiert ist, wobei sich mindestens eine mikroelektronischen Vorrichtung des mikroelektronischen Pakets in einen Rücksprung im mikroelektronischen Substrat erstreckt, gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Beschreibung. -
6 eine Querschnittseitenansicht eines mikroelektronischen Pakets veranschaulicht, das umgekehrt auf einem mikroelektronischen Substrat montiert ist, wobei sich eine Vielzahl mikroelektronischer Vorrichtungen des mikroelektronischen Pakets in eine Öffnung im mikroelektronischen Substrat mit einer Wärmeableitungsvorrichtung erstreckt, die mit der mikroelektronischen Vorrichtung in Kontakt ist, gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Beschreibung. -
7 ist ein Ablaufdiagramm eines Prozesses der Herstellung einer mikroelektronischen Struktur, gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Beschreibung. -
8 veranschaulicht ein elektronisches System/eine elektronische Vorrichtung, gemäß einer Implementierung der vorliegenden Beschreibung. - AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG
- In der folgenden ausführlichen Beschreibung wird auf die beigefügten Zeichnungen Bezug genommen, die einige bestimmte Ausführungsformen, in denen der beanspruchte Gegenstand ausgeführt werden kann, darstellt. Diese Ausführungsformen werden in ausreichendem Detail beschrieben, um fachkundige Personen zu befähigen, den Gegenstand auszuführen. Es ist selbstverständlich, dass die verschiedenen Ausführungsformen, auch wenn diese sich unterscheiden, sich nicht notwendigerweise gegenseitig ausschließen. Zum Beispiel kann ein bestimmtes Merkmal, eine bestimmte Struktur oder eine bestimmte Eigenschaft, das/die hierin in Verbindung mit einer Ausführungsform beschrieben wird, in anderen Ausführungsformen implementiert werden, ohne vom Sinn und Umfang des beanspruchten Gegenstands abzuweichen. Verweise in dieser Beschreibung auf „eine Ausführungsform” bedeuten, dass ein bestimmtes Merkmal, eine Struktur oder Charakteristik, das/die in Verbindung mit der Ausführungsform beschrieben wird, mindestens in einer innerhalb der vorliegenden Erfindung eingeschlossenen Implementierung enthalten ist. Daher bezieht sich die Verwendung des Ausdrucks „eine Ausführungsform” nicht notwendigerweise auf die gleiche Ausführungsform. Außerdem ist selbstverständlich, dass der Ort oder die Anordnung einzelner Elemente in der jeweiligen offenbarten Ausführungsform geändert werden können, ohne vom Sinn und Umfang des beanspruchten Gegenstands abzuweichen. Die folgende ausführliche Beschreibung ist deshalb in keiner Weise einschränkend zu sehen, und der Umfang des Gegenstands wird nur durch die angefügten Ansprüche definiert, angemessen interpretiert, zusammen mit dem ganzen Bereich von Äquivalenten, zu denen die angehängten Ansprüche berechtigen. In den Zeichnungen beziehen sich ähnliche Zahlen auf dieselben oder ähnliche Elemente oder Funktionen in den zahlreichen Ansichten, und die hierin dargestellten Elemente sind nicht notwendigerweise im gleichen Maßstab, sondern einzelne Elemente können größer oder kleiner dargestellt sein, um die Elemente im Zusammenhang der vorliegenden Beschreibung einfacher zu verstehen.
- Ausführungsformen der vorliegenden Beschreibung beziehen sich auf das Gebiet der Herstellung mikroelektronischer Strukturen. Die mikroelektronische Struktur kann ein mikroelektronisches Substrat mit einer Öffnung beinhalten, wobei die Öffnung durch das mikroelektronische Substrat gebildet werden oder ein Rücksprung sein kann, der im mikroelektronischen Substrat gebildet wird. Ein mikroelektronisches Paket kann an dem mikroelektronischen Substrat befestigt werden, wobei das mikroelektronische Paket einen Interposer mit einer ersten Fläche und einer entgegengesetzten zweiten Fläche beinhalten kann. Eine mikroelektronische Vorrichtung kann an der ersten Fläche des Interposers befestigt sein und der Interposer kann mit der ersten Fläche des Interposers am mikroelektronischen Substrat befestigt sein, sodass sich die mikroelektronische Vorrichtung in die Öffnung erstreckt. Mindestens eine sekundäre mikroelektronische Vorrichtung kann an der zweiten Fläche des Interposers befestigt sein.
- Bei der Produktion von mikroelektronischen Strukturen werden mikroelektronische Pakete im Allgemeinen auf mikroelektronischen. Substraten montiert, die elektrische Kommunikationswege zwischen den mikroelektronischen Paketen und externen Komponenten bereitstellen. Wie in
1 dargestellt, kann eine mikroelektronische Vorrichtung102 , z. B. ein Mikroprozessor, ein Chipsatz, eine Grafikeinheit, ein drahtloses Gerät, ein Speichergerät, ein anwendungsspezifischer integrierter Schaltkreis oder ähnliches, an einem mikroelektronischen Interposer104 über eine Vielzahl von Verbindungen106 befestigt werden, um ein mikroelektronisches Paket120 zu bilden. Die Verbindungen von der Vorrichtung zum Interposer106 können sich zwischen Bondflächen108 auf einer aktiven Fläche112 der mikroelektronischen Vorrichtung102 und im Wesentlichen spiegelbildlichen Bondflächen114 auf einer Vorrichtungsbefestigungsfläche116 des mikroelektronischen Interposers104 erstrecken. Die Bondflächen der mikroelektronischen Vorrichtung108 können mit dem integrierten Schaltkreis (nicht dargestellt) in der mikroelektronischen Vorrichtung102 elektrisch kommunizieren. Die Bondflächen des mikroelektronischen Interposers114 können mit den leitenden Wegen (als gestrichelte Linien118 dargestellt) im mikroelektronischen Interposer104 elektrisch kommunizieren. Die leitenden Wege des Interposers118 liefern Wege für die elektrische Kommunikation zu den Bondflächen122 auf einer Substratbefestigungsfläche124 des mikroelektronischen Interposers104 . - Der mikroelektronische Interposer
104 und die leitenden Wege des jeweiligen Interposers118 können aus mehreren Schichten leitender Traces, z. B. Kupfer oder Aluminium, hergestellt sein, die auf oder durch dielektrische Schichten, z. B. Epoxid, aufgebaut werden, die auf beiden Seiten des Matrixkerns laminiert sind, z. B. Glasfaser oder Epoxid. Des Weiteren können passive Vorrichtungen126 , z. B. Widerstände, Kondensatoren und Induktionsspulen, an der Befestigungsfläche des Substrats des mikroelektronischen Interposers124 befestigt sein und mit der mikroelektronischen Vorrichtung102 über die leitenden Wege des jeweiligen Interposers118 elektrisch kommunizieren. - Wie des Weiteren in
1 dargestellt, kann das mikroelektronische Paket120 auf einem mikroelektronischen Substrat130 , z. B. einer Hauptplatine, montiert sein, die Wege für die elektrische Kommunikation zwischen dem mikroelektronischen Paket120 und externen Komponenten bereitstellt. Das mikroelektronische Paket120 kann am mikroelektronischen Substrat130 über eine Vielzahl von Verbindungen132 befestigt sein, um eine mikroelektronische Struktur100 zu bilden. Die Verbindungen vom Substrat zum Interposer132 können sich zwischen Bondflächen der Befestigungsfläche des Substrats des mikroelektronischen Interposers122 und im Wesentlichen spiegelbildlichen Bondflächen134 auf einer ersten Fläche136 des mikroelektronischen Substrats130 erstrecken. Die Bondflächen der ersten Fläche des mikroelektronischen Substrats134 können mit den leitenden Wegen (als gestrichelte Linien138 dargestellt) im mikroelektronischen Substrats130 elektrisch kommunizieren. Die leitenden Wege des mikroelektronischen Substrats138 stellen Wege für die elektrische Kommunikation zu externen Komponenten, z. B. sekundären mikroelektronischen Vorrichtungen142 , bereit. Die sekundären mikroelektronischen Vorrichtungen142 können durch Verbindungen144 befestigt werden, die sich zwischen Bondflächen146 auf den sekundären mikroelektronischen Vorrichtungen142 und sekundären Bondflächen148 auf dem mikroelektronischen Substrat130 erstrecken. Die sekundären mikroelektronischen Vorrichtungen142 können u. a. einen Mikroprozessor, einen Chipsatz, eine Grafikeinheit, ein drahtloses Gerät, ein Speichergerät, einen anwendungsspezifischen integrierten Schaltkreis oder ähnliches umfassen. - Wie in
1 zu sehen, kann die Anordnung der Komponenten in der mikroelektronischen Struktur100 erheblichen Platz benötigen, was bei mobilen Geräten mit kleinem Formfaktor, wie Mobiltelefonen, Computer-Tablets und Laptop-Computern, schwierig zu bewerkstelligen sein kann. Des Weiteren kann, wenn Wärme von der mikroelektronischen Vorrichtung102 abgeleitet werden muss, z. B. durch eine Wärmeableitungsvorrichtung150 (in2 als Wärmeverteiler152 , der mit einen Wärmerohr154 gekoppelt ist, dargestellt), die Dicke der Anordnung der Komponenten in der mikroelektronischen Struktur100 die Unterbringung in Geräten mit kleinem Formfaktor ebenfalls erschweren. - Eine Ausführungsform der mikroelektronischen Strukturen der vorliegenden Beschreibung ist in
3 veranschaulicht. Wie in3 dargestellt, kann eine mikroelektronische Vorrichtung202 , z. B. ein Mikroprozessor, ein Chipsatz, eine Grafikeinheit, ein drahtloses Gerät, ein Speichergerät, ein anwendungsspezifischer integrierter Schaltkreis oder ähnliches, an einem mikroelektronischen Interposer204 über eine Vielzahl von Verbindungen206 befestigt werden, um ein mikroelektronisches Paket220 zu bilden. Die Verbindungen von der Vorrichtung zum Interposer206 können sich zwischen Bondflächen208 auf einer ersten Fläche212 der mikroelektronischen Vorrichtung202 und im Wesentlichen spiegelbildlichen Bondflächen214 auf einer ersten Fläche216 des mikroelektronischen Interposers204 erstrecken. Die Bondflächen der mikroelektronischen Vorrichtung208 können mit dem integrierten Schaltkreis (nicht dargestellt) in der mikroelektronischen Vorrichtung202 elektrisch kommunizieren. Die Bondflächen des mikroelektronischen Interposers214 können mit den leitenden Wegen (als gestrichelte Linien218 dargestellt) im mikroelektronischen Interposer204 elektrisch kommunizieren. Die leitenden Wege des Interposers218 liefern Wege für die elektrische Kommunikation zu den Bondflächen222 auf einer zweiten Fläche224 des mikroelektronischen Interposers204 . - Auch wenn die Verbindungen zwischen Gerät und Interposer
206 als aufschmelzbare Lötpunkte oder -kugeln dargestellt sind, eine Konfiguration, die im Allgemeinen als Flip-Chip oder C4-Montagetechnik (controlled collapse chip connection) bekannt ist, können die Verbindungen auch Stifte, Lötaugen oder Drahtbonds sein, wie auf diesem technischen Gebiet bekannt. Der mikroelektronische Interposer204 und die leitenden Wege des jeweiligen Interposers218 können aus mehreren Schichten leitender Traces, z. B. Kupfer oder Aluminium, hergestellt sein, die auf oder durch dielektrische Schichten, z. B. Epoxid, aufgebaut werden, die auf beiden Seiten des Matrixkerns laminiert sind, z. B. Glasfaser oder Epoxid. - Wie des Weiteren in
3 dargestellt, kann eine Öffnung210 im mikroelektronischen Substrat230 gebildet werden, z. B. einer Hauptplatine, montiert sein, die Wege für die elektrische Kommunikation zwischen dem mikroelektronischen Paket220 und externen Komponenten bereitstellt. In einer Ausführungsform kann die Öffnung im mikroelektronischen Substrat210 sich durch das mikroelektronische Substrat230 , wie veranschaulicht, von einer ersten Fläche236 des mikroelektronischen Substrats230 zu einer zweiten Fläche240 des mikroelektronischen Substrats230 erstrecken. Das mikroelektronische Paket220 kann auf der ersten Fläche des mikroelektronischen Substrats236 in umgekehrter Konfiguration montiert werden, sodass sich die mikroelektronische Vorrichtung202 in die Öffnung des mikroelektronischen Substrats erstreckt210 . Das mikroelektronische Paket220 kann am mikroelektronischen Substrat230 über eine Vielzahl von. Verbindungen232 befestigt sein, um eine mikroelektronische Struktur200 zu bilden. Die Verbindungen vorn Interposer zum Substrat232 können sich zwischen Bondflächen228 auf einer ersten Fläche des mikroelektronischen Interposers216 und im Wesentlichen spiegelbildlichen Bondflächen234 auf einer ersten Fläche236 des mikroelektronischen Substrats230 erstrecken. Die Bondflächen des mikroelektronischen Substrats234 können mit den leitenden Wegen (als gestrichelte Linien238 dargestellt) im mikroelektronischen Substrats230 elektrisch kommunizieren. Die leitenden Wege des mikroelektronischen Substrats238 stellen Wege für die elektrische Kommunikation zu externen. Komponenten (nicht dargestellt) bereit. - Mindestens eine sekundäre mikroelektronische Vorrichtung
242 kann durch Verbindungen244 an der zweiten Fläche des mikroelektronischen Interposers224 befestigt werden, die sich zwischen Bondflächen246 auf den sekundären mikroelektronischen Vorrichtungen242 und Bondflächen222 auf der zweiten Fläche des mikroelektronischen Substrats224 erstrecken. Die sekundären mikroelektronischen Vorrichtungen242 können u. a. einen Mikroprozessor, einen Chipsatz, eine Grafikeinheit, ein drahtloses Gerät, ein Speichergerät, einen anwendungsspezifischen integrierten Schaltkreis oder ähnliches umfassen. in einer Ausführungsform kann das mikroelektronische Substrat202 ein Mikroprozessor und die sekundäre mikroelektronische Vorrichtung242 kann ein Speichergerät sein. Des Weiteren können passive Vorrichtungen226 , z. B. Widerstände, Kondensatoren und Induktionsspulen, an der zweiten Fläche des mikroelektronischen Interposers224 befestigt sein und mit der mikroelektronischen Vorrichtung202 über die leitenden Wege des jeweiligen Interposers218 elektrisch kommunizieren. - Auch wenn die Verbindungen zwischen Interposer und Substrat
232 als aufschmelzbare Lötpunkte oder -kugeln dargestellt sind, können sie Stifte oder Lötaugen sein, wie auf diesem technischen Gebiet bekannt. Des Weiteren können, auch wenn die Verbindungen zwischen Vorrichtung und Substrat244 als aufschmelzbare Lötpunkte oder -kugeln dargestellt sind, diese Stifte, Lötaugen oder Drahtbonds sein, wie auf diesem technischen Gebiet bekannt. - Das mikroelektronische Substrat
230 kann hauptsächlich aus einem geeigneten Material bestehen, einschließlich, aber nicht beschränkt auf, Bismaleimid, Triazinharz, Material der Feuerbeständigkeitsklasse4 , Polyimid-Materialien, glasfaserverstärktes Epoxid-Matrixmaterial und ähnliches, sowie Laminate aus mehreren Lagen daraus. Die leitenden Wege des mikroelektronischen Substrats238 können aus jedem leitfähigen Material bestehen, einschließlich, aber nicht beschränkt auf, Metalle wie Kupfer und Aluminium sowie Legierungen daraus. Für Fachleute ist es selbstverständlich, dass die leitenden Wege des mikroelektronischen Substrats238 aus einer Vielzahl von leitenden Traces (nicht dargestellt) gebildet werden können, die sich auf Schichten von dielektrischem Material bilden (die die Schichten des mikroelektronischen Substratmaterials darstellen), die durch leitende Vias (nicht dargestellt) verbunden sind. - Wenn Lötkugeln oder -punkte verwendet werden, um die Verbindungen zwischen Vorrichtung und Interposer
206 , die Verbindungen zwischen Interposer und Substrat232 und/oder die Verbindungen zwischen sekundärer mikroelektronischer Vorrichtung und Interposer244 zu bilden, kann das Lötmetall jedes geeignete Material sein, einschließlich, aber nicht beschränkt auf, Blei/Zinn-Legierungen und Legierungen mit hohem Zinngehalt (z. B. 90% oder mehr Zinn) und ähnliche Legierungen. Das Lötmetall kann entweder durch Hitze, Druck und/oder Schallenergie aufgebracht werden. - Wie in
4 zu sehen, kann, wenn Wärme von der mikroelektronischen Vorrichtung202 entfernt werden muss, eine Wärmeableitungsvorrichtung250 (als Wärmeverteiler252 dargestellt, der mit einen Wärmerohr254 gekoppelt ist) sich in die Öffnung des mikroelektronischen Substrats210 erstrecken, um einen thermischen Kontakt zur mikroelektronischen Vorrichtung202 herzustellen. Durch Erweiterung der Wärmeableitungsvorrichtung250 in die Öffnung des mikroelektronischen Substrats210 kann die Dicke der Anordnung der Komponenten in der mikroelektronischen Struktur200 verringert werden - In einer anderen Ausführungsform der vorliegenden Beschreibung, die in
5 dargestellt ist, kann die Öffnung des mikroelektronischen Substrats210 ein Rücksprung sein, der sich von der ersten Fläche des mikroelektronischen Substrats236 in das mikroelektronische Substrat230 erstreckt. - Es ist selbstverständlich, dass Ausführungsformen der vorliegenden Beschreibung zahlreiche Konfigurationen umfassen können. Wie in
6 dargestellt, kann sich eine Vielzahl mikroelektronischer Vorrichtungen (dargestellt als202 und202' ) in die Öffnung des mikroelektronischen Substrats210 erstrecken. Ein Teil der Wärmeableitungsvorrichtung250 kann im mikroelektronischen Substrat230 enthalten sein, wie z. B. hier beigefügt. Das mikroelektronischen Substrat230 kann doppelseitig sein, sodass zusätzliche mikroelektronische Vorrichtungen262 an der ersten Fläche des mikroelektronischen Substrats236 und/oder an der zweiten Fläche des mikroelektronischen Substrats240 befestigt werden können. - Ausführungsformen der vorliegenden Beschreibung können den Platz, der auf einem mikroelektronischen Substrat für das Befestigen sekundärer mikroelektronischer Vorrichtungen auf dem mikroelektronischen Substrat benötigt wird, erheblich verringern. Des Weiteren, wenn die Verlegung einer Verbindungsplatine mit hoher Dichte zwischen der sekundären mikroelektronischen Vorrichtung und der mikroelektronischen Vorrichtung erforderlich ist, die am mikroelektronischen Interposer befestigt ist, was die Kosten der mikroelektronischen Struktur verringern kann. Insbesondere, wenn die sekundäre mikroelektronische Vorrichtung ein Speichergerät ist und die mikroelektronische Vorrichtung, die am mikroelektronischen Interposer befestigt ist, ein Mikroprozessor ist. Darüber hinaus, kann die Verringerung des Platzes, der auf dem mikroelektronischen Substrat erforderlich ist, eine größere Batteriegröße bei spezifischen Plattformen ermöglichen, z. B. elektronische Tablets und Ultrabook-Plattformen.
- Eine Ausführungsform eines Prozesses der Herstellung einer mikroelektronischen Struktur der vorliegenden Beschreibung ist in einem Ablaufdiagramm
300 von7 veranschaulicht. Wie in Block310 definiert, kann ein mikroelektronisches Substrat mit einer Öffnung darin gebildet werden. Es kann ein mikroelektronisches Paket gebildet werden, das einen mikroelektronischen Interposer beinhaltet, der mindestens eine mikroelektronische Vorrichtung hat, die an einer ersten Fläche des mikroelektronischen Interposers befestigt ist, wie in Block320 definiert. Wie in Block330 definiert, kann die erste Fläche des mikroelektronischen Interposers elektrisch an einer ersten Fläche des mikroelektronischen Substrats befestigt sein, wobei die mikroelektronische Vorrichtung so positioniert ist, dass sie sich zumindest teilweise in die Öffnung des mikroelektronischen Substrats erstreckt. Mindestens eine sekundäre Vorrichtung kann an einer zweiten Fläche des mikroelektronischen Interposers befestigt sein, wie in Block340 definiert. -
8 veranschaulicht eine Ausführungsform eines elektronischen Systems/einer elektronischen Vorrichtung400 , z. B. ein tragbarer Computer, ein Desktop-Computer, ein Mobiltelefon, eine Digitalkamera, ein digitaler Music Player, ein Webtablet-/Pad-Gerät, ein Personal Digital Assistant, ein Pager, ein Instant-Messaging-Gerät oder ein anderes Gerät. Das elektronische System/die elektronische Vorrichtung400 kann so angepasst sein, dass es/sie Informationen drahtlos überträgt und/oder empfängt, z. B. über ein WLAN-System (wireless local area network), ein WPAN-System (wireless personal area network) und/oder ein Mobiltelefonnetz. Das elektronische System/die elektronische Vorrichtung400 kann eine mikroelektronische Struktur410 (z. B. die mikroelektronische Struktur200 in3 –6 ) in einem Gehäuse420 enthalten. Wie bei Ausführungsformen der vorliegenden Anmeldung kann die mikroelektronische Struktur410 eine mikroelektronische Struktur440 mit einer Öffnung (siehe Element210 von3 –6 ) darin und ein mikroelektronisches Paket430 mit einem mikroelektronischen Interposer (siehe Element204 von3 –6 ) mit mindestens einer mikroelektronischen Vorrichtung (siehe Element202 von3 –6 ) umfassen, die an einer ersten Fläche davon befestigt ist, wobei das mikroelektronische Paket430 durch die erste Fläche des mikroelektronischen Interposers elektrisch am mikroelektronischen Substrat410 befestigt ist und wobei die mikroelektronische Vorrichtung sich mindestens teilweise in die Öffnung des mikroelektronischen Substrats erstreckt, und mindestens eine sekundäre mikroelektronische Vorrichtung (siehe Element202 von3 –6 ), die an einer zweiten Fläche des mikroelektronischen Interposers befestigt ist. Das mikroelektronische Substrat410 kann an verschiedenen Peripheriegeräten befestigt sein, z. B. ein Eingabegerät450 , wie eine Tastatur, und ein Anzeigegerät460 , wie ein LCD-Display. Es ist selbstverständlich, dass das Anzeigegerät460 auch als Eingabegerät fungieren kann, wenn das Anzeigegerät460 berührungsempfindlich ist. - Es ist selbstverständlich, dass der Gegenstand der vorliegenden Beschreibung nicht notwendigerweise auf spezifische Anwendungen beschränkt ist, die in
1 –8 veranschaulicht sind. Für Fachleute ist es selbstverständlich, dass der Gegenstand auf andere Herstellungsanwendungen für mikroelektronische Vorrichtungen angewandt werden kann. - Nachdem Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung im Detail beschrieben wurden, ist es selbstverständlich, dass die von den angehängten Ansprüchen definierte Erfindung nicht durch bestimmte Details beschränkt wird, die in der obigen Beschreibung ausgeführt sind, da viele offensichtliche Varianten davon möglich sind, ohne vom Sinn oder Umfang abzuweichen.
Claims (27)
- Eine mikroelektronische Struktur, umfassend: ein mikroelektronisches Substrat mit einer Öffnung darin und ein mikroelektronisches Paket, das einen mikroelektronischen Interposer mit mindestens einer mikroelektronischen Vorrichtung umfasst, die elektrisch an einer ersten Fläche des mikroelektronischen Interposers befestigt ist, wobei das mikroelektronische Paket durch die erste Fläche des mikroelektronischen Interposers elektrisch am mikroelektronischen Substrat befestigt ist und wobei die mikroelektronische Vorrichtung sich mindestens teilweise in die Öffnung des mikroelektronischen Substrats erstreckt.
- Mikroelektronische Struktur nach Anspruch 1 des Weiteren umfassend mindestens eine sekundäre mikroelektronische Vorrichtung, die an einer zweiten Fläche des mikroelektronischen Interposers befestigt ist.
- Mikroelektronische Struktur nach Anspruch 2, wobei die mikroelektronische Vorrichtung einen Mikroprozessor und die sekundäre mikroelektronische Vorrichtung ein Speichergerät umfasst.
- Mikroelektronische Struktur nach Anspruch 1, wobei sich die Öffnung des mikroelektronischen Substrats von einer ersten Fläche des mikroelektronischen Substrats zu einer zweiten Fläche des mikroelektronischen Substrats erstreckt.
- Mikroelektronische Struktur nach Anspruch 1, wobei die Öffnung des mikroelektronischen Substrats einen Rücksprung beinhaltet, der sich von der ersten Fläche des mikroelektronischen Substrats in das mikroelektronische Substrat erstreckt.
- Mikroelektronische Struktur nach Anspruch 1, des Weiteren umfassend eine Wärmeableitungsvorrichtung, die in thermischem Kontakt mit der mikroelektronischen Vorrichtung ist.
- Mikroelektronische Struktur nach Anspruch 6, wobei mindestens ein Teil der Wärmeableitungsvorrichtung sich in die Öffnung des mikroelektronischen Substrats erstreckt.
- Mikroelektronische Struktur nach Anspruch 6, wobei mindestens ein Teil der Wärmeableitungsvorrichtung im mikroelektronischen Substrat enthalten ist.
- Mikroelektronische Struktur nach Anspruch 1 des Weiteren umfassend mindestens eine passive Vorrichtung, die an einer zweiten Fläche des mikroelektronischen Interposers befestigt ist.
- Verfahren zur Bildung einer mikroelektronischen Struktur, umfassend: Bildung eines mikroelektronischen Substrats mit einer Öffnung darin Bildung eines mikroelektronischen Pakets, das einen mikroelektronischen Interposer beinhaltet, der mindestens eine mikroelektronische Vorrichtung hat, die an einer ersten Fläche des mikroelektronischen Interposers befestigt ist, und elektrische Befestigung der ersten Fläche des mikroelektronischen Interposers an einer ersten Fläche des mikroelektronischen Substrats, wobei sich die mikroelektronische Vorrichtung zumindest teilweise in die Öffnung des mikroelektronischen Substrats erstreckt.
- Verfahren nach Anspruch 10 des Weiteren umfassend die elektrische Befestigung von mindestens einer sekundären mikroelektronischen Vorrichtung an einer zweiten Fläche des mikroelektronischen Interposers.
- Verfahren nach Anspruch 11, wobei Bildung eines mikroelektronischen Pakets, das einen mikroelektronischen Interposer mit mindestens einer mikroelektronischen Vorrichtung umfasst, die elektrisch an einer ersten Fläche des mikroelektronischen Interposers befestigt ist, die mikroelektronische Vorrichtung einen Mikroprozessor und die sekundäre mikroelektronische Vorrichtung ein Speichergerät umfasst, Bildung eines mikroelektronischen Pakets, das einen mikroelektronischen Interposer mit einen Mikroprozessor umfasst, der elektrisch an einer ersten Fläche des mikroelektronischen Interposers befestigt ist, und wobei die elektrische Befestigung mindestens einer sekundären Vorrichtung an einer zweiten Fläche des mikroelektronischen Interposers die elektrische Befestigung mindestens eines Speichergeräts an einer zweiten Fläche des mikroelektronischen Interposers umfasst.
- Verfahren nach Anspruch 10, wobei Bildung eines mikroelektronischen Substrats mit einer Öffnung darin die Bildung eines mikroelektronischen Substrats mit einer Öffnung umfasst, die sich von der ersten Fläche des mikroelektronischen Substrats zu einer zweiten Fläche des mikroelektronischen Substrats erstreckt.
- Verfahren nach Anspruch 10, wobei Bildung eines mikroelektronischen Substrats mit einer Öffnung darin die Bildung eines mikroelektronischen Substrats mit einer Öffnung umfasst, wobei die Öffnung des mikroelektronischen Substrats einen Rücksprung umfasst, der sich von der ersten Fläche des mikroelektronischen Substrats in das mikroelektronische Substrat erstreckt.
- Verfahren nach Anspruch 10, des Weiteren umfassend den Kontakt einer Wärmeableitungsvorrichtung mit der mikroelektronischen Vorrichtung.
- Verfahren nach Anspruch 15, wobei mindestens ein Teil der Wärmeableitungsvorrichtung sich in die Öffnung des mikroelektronischen Substrats erstreckt.
- Verfahren nach Anspruch 15, wobei mindestens ein Teil der Wärmeableitungsvorrichtung im mikroelektronischen Substrat enthalten ist.
- Verfahren nach Anspruch 10 des Weiteren umfassend die Befestigung mindestens einer passiven Vorrichtung an einer zweiten Fläche des mikroelektronischen Interposers.
- Ein mikroelektronisches System, umfassend: ein Gehäuse und eine mikroelektronische Struktur, die im Gehäuse angeordnet ist, umfassend: ein mikroelektronisches Substrat mit einer Öffnung darin und ein mikroelektronisches Paket, das einen mikroelektronischen Interposer mit einer mikroelektronischen Vorrichtung umfasst, die elektrisch an einer ersten Fläche des mikroelektronischen Interposers befestigt ist, wobei das mikroelektronische Paket durch die erste Fläche des mikroelektronischen Interposers elektrisch am mikroelektronischen Substrat befestigt ist und wobei die mikroelktronische Vorrichtung sich mindestens teilweise in die Öffnung des mikroelektronischen Substrats erstreckt.
- Mikroelektronisches System nach Anspruch 19, wobei das mikroelektronische Paket des Weiteren mindestens eine sekundäre mikroelektronische Vorrichtung umfasst, die an einer zweiten Fläche des mikroelektronischen Interposers befestigt ist.
- Mikroelektronisches System nach Anspruch 20, wobei die mikroelektronische Vorrichtung einen Mikroprozessor und die sekundäre mikroelektronische Vorrichtung ein Speichergerät umfasst.
- Mikroelektronisches System nach Anspruch 19, wobei sich die Öffnung des mikroelektronischen Substrats von einer ersten Fläche des mikroelektronischen Substrats zu einer zweiten Fläche des mikroelektronischen Substrats erstreckt.
- Mikroelektronisches System nach Anspruch 19, wobei die Öffnung des mikroelektronischen Substrats einen Rücksprung beinhaltet, der sich von der ersten Fläche des mikroelektronischen Substrats in das mikroelektronische Substrat erstreckt.
- Mikroelektronisches System nach Anspruch 19, des Weiteren umfassend eine Wärmeableitungsvorrichtung, die in thermischem Kontakt mit der mikroelektronischen Vorrichtung ist.
- Mikroelektronisches System nach Anspruch 24, wobei mindestens ein Teil der Wärmeableitungsvorrichtung sich in die Öffnung des mikroelektronischen Substrats erstreckt.
- Mikroelektronisches System nach Anspruch 24, wobei mindestens ein Teil der Wärmeableitungsvorrichtung im mikroelektronischen Substrat enthalten ist.
- Mikroelektronisches System nach Anspruch 19 des Weiteren umfassend mindestens eine passive Vorrichtung, die an einer zweiten Fläche des mikroelektronischen Interposers befestigt ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/MY2012/000055 WO2013137710A1 (en) | 2012-03-13 | 2012-03-13 | Microelectronic device attachment on a reverse microelectronic package |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE112012006033T5 true DE112012006033T5 (de) | 2015-02-26 |
DE112012006033B4 DE112012006033B4 (de) | 2024-09-12 |
Family
ID=49161522
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE112012006033.4T Active DE112012006033B4 (de) | 2012-03-13 | 2012-03-13 | Befestigung einer mikroelektronischen Vorrichtung auf einem umgekehrten mikroelektronischen Paket |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9699904B2 (de) |
CN (1) | CN104335342A (de) |
DE (1) | DE112012006033B4 (de) |
WO (1) | WO2013137710A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE112013000508B4 (de) | 2012-09-27 | 2023-09-07 | Intel Corporation | Chiplagenstapel-Paket einschließlich Chiplage-in-Paket-Substrat |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE112012006033B4 (de) | 2012-03-13 | 2024-09-12 | Intel Corp. | Befestigung einer mikroelektronischen Vorrichtung auf einem umgekehrten mikroelektronischen Paket |
US10136516B2 (en) | 2012-03-13 | 2018-11-20 | Intel Corporation | Microelectronic device attachment on a reverse microelectronic package |
US9526175B2 (en) | 2012-04-24 | 2016-12-20 | Intel Corporation | Suspended inductor microelectronic structures |
US9331058B2 (en) * | 2013-12-05 | 2016-05-03 | Apple Inc. | Package with SoC and integrated memory |
KR20160122022A (ko) * | 2015-04-13 | 2016-10-21 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 인터포저를 갖는 반도체 패키지 및 제조 방법 |
US9837345B2 (en) * | 2015-07-17 | 2017-12-05 | Ibiden Co., Ltd. | Interposer and circuit substrate |
WO2018063351A1 (en) * | 2016-09-30 | 2018-04-05 | Elsherbini Adel A | Semiconductor packaging with high density interconnects |
TWI626722B (zh) * | 2017-05-05 | 2018-06-11 | 矽品精密工業股份有限公司 | 電子封裝件及其製法 |
CN109121294B (zh) * | 2018-09-29 | 2020-09-18 | 维沃移动通信有限公司 | 电路板结构及电子设备 |
CN109643705A (zh) * | 2018-10-31 | 2019-04-16 | 北京比特大陆科技有限公司 | 电路板及芯片布局方法、计算设备 |
JP2021018996A (ja) * | 2019-07-17 | 2021-02-15 | レノボ・シンガポール・プライベート・リミテッド | 電子基板、電子機器 |
EP3876683A1 (de) | 2020-03-05 | 2021-09-08 | AT & S Austria Technologie & Systemtechnik Aktiengesellschaft | Wärmeabfuhrmechanismus für eine stapelbasierte elektronische vorrichtung mit prozesssteuerungskomponente und verarbeitungskomponenten |
US11596067B2 (en) | 2020-04-23 | 2023-02-28 | Hong Fu Jin Precision Industry (Wuhan) Co., Ltd. | Stacked circuit boards |
US11769752B2 (en) * | 2020-07-24 | 2023-09-26 | Micron Technology, Inc. | Stacked semiconductor die assemblies with substrate heat sinks and associated systems and methods |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4704592A (en) | 1984-09-13 | 1987-11-03 | Siemens Aktiengesellschaft | Chip inductor electronic component |
JP3288840B2 (ja) | 1994-02-28 | 2002-06-04 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
US6423570B1 (en) * | 2000-10-18 | 2002-07-23 | Intel Corporation | Method to protect an encapsulated die package during back grinding with a solder metallization layer and devices formed thereby |
US6580611B1 (en) | 2001-12-21 | 2003-06-17 | Intel Corporation | Dual-sided heat removal system |
JP3937840B2 (ja) * | 2002-01-10 | 2007-06-27 | 株式会社日立製作所 | 高周波モジュール |
US6765152B2 (en) | 2002-09-27 | 2004-07-20 | International Business Machines Corporation | Multichip module having chips on two sides |
EP1469599B1 (de) | 2003-04-18 | 2010-11-03 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Dünnschicht-Resonator von Luftspaltbauart, Duplexer mit dem Resonator und deren Herstellungsverfahren |
US7636242B2 (en) | 2006-06-29 | 2009-12-22 | Intel Corporation | Integrated inductor |
US7751205B2 (en) * | 2006-07-10 | 2010-07-06 | Ibiden Co., Ltd. | Package board integrated with power supply |
US7566962B2 (en) | 2006-12-26 | 2009-07-28 | Advanced Semiconductor Engineering Inc. | Semiconductor package structure and method for manufacturing the same |
US7750408B2 (en) | 2007-03-29 | 2010-07-06 | International Business Machines Corporation | Integrated circuit structure incorporating an inductor, a conductive sheet and a protection circuit |
WO2010050627A1 (ja) | 2008-10-31 | 2010-05-06 | 太陽誘電株式会社 | プリント配線板およびその製造方法 |
US8519537B2 (en) * | 2010-02-26 | 2013-08-27 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | 3D semiconductor package interposer with die cavity |
CN102169875B (zh) | 2010-02-26 | 2013-04-17 | 台湾积体电路制造股份有限公司 | 半导体装置及其制造方法 |
DE112012006033B4 (de) | 2012-03-13 | 2024-09-12 | Intel Corp. | Befestigung einer mikroelektronischen Vorrichtung auf einem umgekehrten mikroelektronischen Paket |
US9526175B2 (en) | 2012-04-24 | 2016-12-20 | Intel Corporation | Suspended inductor microelectronic structures |
-
2012
- 2012-03-13 DE DE112012006033.4T patent/DE112012006033B4/de active Active
- 2012-03-13 CN CN201280071413.8A patent/CN104335342A/zh active Pending
- 2012-03-13 US US13/993,343 patent/US9699904B2/en active Active
- 2012-03-13 WO PCT/MY2012/000055 patent/WO2013137710A1/en active Application Filing
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE112013000508B4 (de) | 2012-09-27 | 2023-09-07 | Intel Corporation | Chiplagenstapel-Paket einschließlich Chiplage-in-Paket-Substrat |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2013137710A8 (en) | 2014-09-25 |
US9699904B2 (en) | 2017-07-04 |
WO2013137710A1 (en) | 2013-09-19 |
CN104335342A (zh) | 2015-02-04 |
DE112012006033B4 (de) | 2024-09-12 |
US20140293563A1 (en) | 2014-10-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE112012006033B4 (de) | Befestigung einer mikroelektronischen Vorrichtung auf einem umgekehrten mikroelektronischen Paket | |
DE112013000508B4 (de) | Chiplagenstapel-Paket einschließlich Chiplage-in-Paket-Substrat | |
US9460982B2 (en) | Integrated heat spreader for multi-chip packages | |
DE112006001177B4 (de) | Thermisches Schnittstellenmaterial, Verfahren und System | |
DE112012002506B4 (de) | Mikroelektronische Vorrichtung, Stapelchippackung und Rechnersystem, das diese enthält, Verfahren zur Herstellung eines Mehrfachkanalkommunikationsweges in dieser und Verfahren zum Ermöglichen einer elektrischen Kommunikation zwischen Komponenten einer Stapelchippackung | |
DE112012006469B4 (de) | Mikroelektronisches Gehäuse mit nicht komplanaren gekapselten mikroelektronischen Bauelementen und einer Aufbauschicht ohne Kontaktierhügel | |
DE102020122699A1 (de) | Hochdichte zwischenverbindungen für integrierter-schaltkreis-gehäuse | |
DE102019106314A1 (de) | Wärmeableitvorrichtung mit anisotropen thermisch leitfähigen abschnitten und isotropen thermisch leitfähigen abschnitten | |
DE202014104575U1 (de) | Gestapelte mikroelektronische Chips, die in einem mikroelektronischen Substrat eingebettet sind | |
DE102015109154B4 (de) | Hochdichte chip-chip-verbindung und verfahren zu deren herstellung | |
DE112017008340T5 (de) | Ultradünne hochdichte halbleiter-packages | |
DE112009002155T5 (de) | Hauptplatinenbaugruppe mit einem Gehäuse über einem direkt auf der Hauptplatine angebrachten Chip | |
DE102020122692A1 (de) | Organische interposer für integrierter-schaltkreis-gehäuse | |
DE102012215438A1 (de) | System mit einem High-Power-Chip und einem Low-Power-Chip, das niedrige Verbindungsparasitäten aufweist | |
DE112011105967T5 (de) | Mikroelektronisches Gehäuse und gestapelte mikroelektronische Baugruppe und Rechensystem mit denselben | |
CN105575931B (zh) | 半导体封装 | |
DE112013000686T5 (de) | Flexible Schaltungen und Substrate mit spannungsschaltbarem dielektrischem Material | |
DE112012002370T5 (de) | Mikroelektronisches Substrat für alternierende Package-Funktionalität | |
DE102019106317A1 (de) | Wärmeableitvorrichtung mit einer thermisch leitfähigen struktur und einer thermischen isolierstruktur in der thermisch leitfähigen struktur | |
DE102013018601A1 (de) | Verbesserung des thermischen Verhaltens eines Logikchips in einer Gehäuse-auf-Gehäuse-Struktur | |
DE102013019514A1 (de) | Chipgehäuse mit niedrigem profil und mit modifiziertem wärmeverteilungselement | |
DE102020124814A1 (de) | Hybridkernsubstratarchitektur für hochgeschwindigkeitssignalisierung und fli/slizuverlässigkeit und herstellung davon | |
DE102014003462B4 (de) | Substrat-Routing mit lokaler hoher Dichte und Verfahren zum Herstellen einer entsprechenden Vorrichtung | |
DE102018202938A1 (de) | Fexibler integrierter Wärmespreizer | |
US20170271267A1 (en) | Semiconductor packaging structure |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R012 | Request for examination validly filed | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R016 | Response to examination communication | ||
R018 | Grant decision by examination section/examining division |