DE112005003449A5 - Testverfahren und Herstellungsverfahren für eine aus Teilschaltungen zusammengesetzte Halbleiterschaltung - Google Patents

Testverfahren und Herstellungsverfahren für eine aus Teilschaltungen zusammengesetzte Halbleiterschaltung Download PDF

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    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7926018B2 (en) * 2007-09-25 2011-04-12 Synopsys, Inc. Method and apparatus for generating a layout for a transistor
US8543958B2 (en) * 2009-12-11 2013-09-24 Synopsys, Inc. Optical proximity correction aware integrated circuit design optimization
JP5795697B2 (ja) * 2012-05-16 2015-10-14 サイデンス コーポレーション メモリデバイス用の電源投入検出システム
WO2017142558A1 (en) 2016-02-19 2017-08-24 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Antenna and cap

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2321118B (en) * 1997-01-14 2002-03-27 Integral Design Res Ltd Development of integrated circuits
US6141630A (en) * 1997-08-07 2000-10-31 Verisity Design, Inc. System and method for automated design verification

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