DE1045687B - Ionenresonanz-Massenspektrometer - Google Patents
Ionenresonanz-MassenspektrometerInfo
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Description
BEKANNTMACHUNG DER ANMELDUNG UND AUSGABE DER AÜSLEGESCHRIFT: 4. DEZEMBER 1958
Anmelder:
General Electric Company, Schenectady, N. Y. (V. St. A.)
Vertreter: Dipl.-Ing. E. Prinz, Patentanwalt,
München-Pasing, Bodenseestr. 3 a
Beanspruchte Priorität: V. St. v. Amerika vom 8. Juni 1954
Keith Palmer Lanneaü und Lloyd Hicksey Lane,
Baton Rouge, La. (V. St. A.), sind als Erfinder genannt worden
Die Erfindung betrifft die Massenspektrometrie und
befaßt sich insbesondere mit der Hochfrequenz-Ionenresonanz-Massenspektrometrie. Sie bezieht sich im
einzelnen auf eine Vorrichtung zur Spannungszuführung für die Platten eines Hochfrequenz- 5
Ionenresonanz-Massenspektrometers.
befaßt sich insbesondere mit der Hochfrequenz-Ionenresonanz-Massenspektrometrie. Sie bezieht sich im
einzelnen auf eine Vorrichtung zur Spannungszuführung für die Platten eines Hochfrequenz- 5
Ionenresonanz-Massenspektrometers.
Die Anwendung der Massenspektrometrie für Industriezwecke ist in den letzten Jahren immer
wichtiger geworden, und die Technik der Massenspektrometrie hat genaue und rasche Gasanalysen io
möglich gemacht. Beispielsweise sind Massenspektrometer erfolgreich für laufende Verfahrensüberwachung,
Gasanalyse im Betrieb, Undichtigkeitsfeststellungen
und Spurenanalyse verwendet worden. Eine besondere
Form des Massenspektrometers ist das Hochfrequenz- 15
Ionenresonanz-Massenspektrometer. Diese Form ist
z. B. in der Arbeit »An Ion Resonance Mass Spectrometer for Industrial Application« von W.A.Morgan, G. Jernakoff und K. P. Lanneau, veröffentlicht beim American Chemical Society Symposium 20
on Process Instrumentation, Chicago, Illinois, am
9. September 1953 beschrieben worden. Bei dieser
Art des Massenspektrometers wird die zu analysie- 9
wichtiger geworden, und die Technik der Massenspektrometrie hat genaue und rasche Gasanalysen io
möglich gemacht. Beispielsweise sind Massenspektrometer erfolgreich für laufende Verfahrensüberwachung,
Gasanalyse im Betrieb, Undichtigkeitsfeststellungen
und Spurenanalyse verwendet worden. Eine besondere
Form des Massenspektrometers ist das Hochfrequenz- 15
Ionenresonanz-Massenspektrometer. Diese Form ist
z. B. in der Arbeit »An Ion Resonance Mass Spectrometer for Industrial Application« von W.A.Morgan, G. Jernakoff und K. P. Lanneau, veröffentlicht beim American Chemical Society Symposium 20
on Process Instrumentation, Chicago, Illinois, am
9. September 1953 beschrieben worden. Bei dieser
Art des Massenspektrometers wird die zu analysie- 9
rende Gasprobe bei niedrigem Druck in eine Ionisierungskammer eingelassen, worin die Gasmoleküle 25 geerdet. Ein Ionenauffänger erstreckt sich teilweise
mittels eines von einem Glühdraht erzeugten Elek- in den Analysenteil des Massenspektrometers und
tronenstroms ionisiert werden. Der Glühdraht kann dient als Schirm, um die Ionen während der Analyse
aus Wolfram, Wolframcarbid usw. bestehen. Die in der Gasprobe zu sammeln. Die auf den Auffänger
der Ionisierungskammer gebildeten Ionen werden dann treffenden Ionen erzeugen einen schwachen Ionenin
einer Spiralbahn von zunehmendem Durchmesser 3° strom, der dann verstärkt und registriert wird, worn
einer Ebene senkrecht zum Elektronenstrahl be- durch der Anteil jeder in der Ionisierungskammer
schleunigt. Dies wird durch ein kombiniertes elek- gebildeten Ionenmasse gemessen werden kann,
irisches und magnetisches Feld bewerkstelligt. Bei Durch Frequenzänderung der den Platten zugeführ-
dieser Art des Massenspektrometers dient die Ioni- ten Hochfrequenzspannung ist es möglich, die Mengen
sierungskammer gleichzeitig als Ionisierungsteil und 35 der Ionen mit verschiedenen Massen-Ladungs-Verals
Analysenteil des Apparates. Das elektrische Feld hältnissen (m/e) zu messen. Im allgemeinen treffen
wird durch eine Reihe von. Kondensatorplatten er- für eine gegebene Frequenz des elektrischen Feldes
zeugt, die so angeordnet und mit Spannung versorgt und eine gegebene magnetische elektrische Feldstärke
werden, daß sie ein homogenes elektrisches Hoch- nur Ionen mit einem bestimmten m/e-Verhältnis auf
frequenzfeld erzeugen, das senkrecht zum Elektronen- 40 den Auffänger. Diese besonderen Ionen werden als
strahl gerichtet ist. Diese Anordnung wird als Resonanzionen bezeichnet. Das Prinzip der Ionen-
»Omegatron« bezeichnet. Die Kondensatorplatten resonanz ist im einzelnen in dem Artikel »The
sind normalerweise parallel zueinander angeordnet, Measurement of e/m by Cyclotron Resonance« von
wobei alle Platten, abgesehen von den Endplatten, H. Sommer, H.A.Thomas und J. A. Hippie in
mit einer Mittelöffnung versehen sind, welche die 45 der Physical Review vom 1. Juni 1951 beschrieben.
Ionisierungskammer und den Analysenteil des Massen- Genauer gesagt werden nur diejenigen in der Ionispektrometers
darstellt. Das Magnetfeld, das durch sierungskammer gebildeten Ionen, die in Resonanz
einen Permanentmagnet oder einen Elektromagnet stehen, fortgesetzt in einer Spiralbahn zunehmenden
erzeugt werden kann, ist parallel zum Elektronen- Durchmessers beschleunigt, so daß sie auf den Aufstrahl,
so daß es senkrecht zum elektrischen Feld 50 fänger treffen. Die nicht in Resonanz befindlichen
wirkt. Ein Hochfrequenzoszillator ist mit einer End- Ionen schwingen dagegen im Analysenteil hin und
platte elektrisch verbunden, wobei diese Platte mit her, da sie durch die elektrischen und magnetischen
den anderen Platten über einen Ohmschen Spannungs- Felder abwechselnd beschleunigt und verzögert werteiler
in Verbindung steht. Die andere Endplatte ist den, jedoch nie so stark beschleunigt werden können,
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3 4
daß sie den Ionenauffänger erreichen. Diese nicht in oder mit dem erfindungsgemäßen nichtlinearen asym-Resonanz
befindlichen Ionen durchlaufen periodisch metrischen Hochfrequenzfeld ergibt eine weitere
eine Spiralbahn bis zu einem größten Radius kurz wesentliche Verbesserung des Auflösungsvermögens,
vor dem Auffänger und laufen dann in Spiralen der Empfindlichkeit, Stabilität und Linearität des
zurück zum Mittelpunkt des Analysenteils (Röhre). 5 Spektrometer.
Es ist wesentlich, daß bei dieser Art von Massen- Weitere Einzelheiten der Erfindung ergeben sich
spektrometer sowohl ein elektrisches Hochfrequenz- aus der nachfolgenden Beschreibung einiger Ausfeld
als auch ein magnetisches Feld verwendet wird, führungsbeispiele an Hand der Zeichnung. Hierin zeigt
um diese Ergebnisse zu erzielen. Fig. 1 einen schematischen Querschnitt durch ein
In Massenspektrometern für analytische Zwecke io bekanntes Hochfrequenz - Ionenresonanz - Massenspeksind
solche Eigenschaften, wie Auflösungsvermögen, trometer senkrecht zum Elektronenstrahl,
EmpfindlichkeitjLinearitätjSpaltungsstabilitä^Hinter- Fig. 2 einen schematischen Querschnitt durch einen
EmpfindlichkeitjLinearitätjSpaltungsstabilitä^Hinter- Fig. 2 einen schematischen Querschnitt durch einen
gruiidinterferenz usw., wichtig. Insbesondere befaßt Hochfrequenz-Ionenresonanz-Massenspektrometer mit
sich die vorliegende Erfindung mit dem Auflösungs- einer Ausführungsform der Erfindung zur Erzeugung
vermögen, der Empfindlichkeit, Stabilität und Lineari- 15 eines nichtlinearen asymmetrischen elektrischen FeI-tät
von Ionenresonanz - Massenspektrometern oder des und
Omegatrons. Das. Auflösungsvermögen eines Massen- Fig. 3 einen schematischen Querschnitt ähnlich
spektrometers ist ein Maß für seine Fähigkeit, Ionen Fig. 2 zur Darstellung einer anderen Ausführungsmit
einem bestimmten nife-Verhältnis von Ionen mit form der vorliegenden Erfindung, wobei ein nichtanderen
mfe-Werten zu trennen. Die Empfindlichkeit 20 lineares Hochfrequenzfeld und ein elektrisches Gleicheines
Massenspektrometers ist ein Maß für seine feld angewandt sind.
Fähigkeit, auf dem Ionenauffänger eine hohe Kon- Fig. 1 zeigt ein bekanntes Hochfrequenz-Ionen-
zentration von Ionen mit einem bestimmten m/e-Ver- resonanz-Massenspektrometer. Dies ist mit einem
hältnis zu sammeln und die anderen Ionen zurück- Oszillator IO zur Erzeugung eines elektrischen Hochzutreiben.
Linearität ist ein Maß für die Fähigkeit 25 frequenzfeldes ausgerüstet. Der Oszillator 10 ist mit
eines Massenspektrometers, einen Ionenstrom zu er- der Erde 12 verbunden und an die Platte 24 über den
zeugen, dessen Stärke direkt proportional zur Kon- Kopplungskondensator 11 angeschlossen. Mit 13 ist
zentration der Resonanzionen ist, die durch die ein Ohmscher Spannungsteiler bezeichnet, der aus
Elektronenbeschießung der Gasmoleküle der Probe einer Reihe gleicher Widerstände 14., 15, 16, 17
gebildet werden. Bei einem Gerät für analytische 30 und 18 besteht. Der Spannungsteiler 13 besitzt AbZwecke
ist ferner erforderlich, daß Ionen mit einem griffe 19, 20, 21, 22, 23 und 24a zum Anschluß der
gegebenen m/e-Verhältnis in direktem Verhältnis zur Kondensatorplatten des Massenspektrometers. Das
Molekülkonzentration jedes Bestandteiles in der Spektrometer ist mit Endplatten 24 und 25 und einer
Probe gebildet werden. Ferner ist es für Analysen- Reihe von Spannungsabstufungsplatten 26, 27, 28
geräte wesentlich, daß die gesamte Empfindlichkeit 35 und 29 versehen, wobei die letzteren Mittelöffnungen
und die Spaltungsstabilität praktisch konstant sind. aufweisen, welche den Analysenteil des Massen-
Ein Hochfrequenz-Ionenresonanz-Massenspektro- spektrometers bestimmen. Die Platten sind mit Anmeter
mit zwei parallelen Endplatten, einer Reihe Schlüssen 30, 31, 32, 33, 34 und 35 versehen, über die
paralleler, gleich weit voneinander entfernter, parallel sie an die Anzapfungen des Spannungsteilers 13 anzu
den Endplatten zwischen diesen angeordneten 4° geschlossen sind. Es ist also Anschluß 30 mit Anzap-Spannungsabstüfungsplatten,
einem Ionenauffänger fung 19, Anschluß 31 mit Anzapfung 20, Anschluß 32
und einem Hochfrequenzspannungserzeuger ist be- mit Anzapfung 21, Anschluß 33 mit Anzapfung 22,
katint. Hierbei ist der Spannungserzeuger an die eine Anschluß 34 mit Anzapfung 23 und Anschluß 35 mit
Endplatte angeschlossen, während die andere End- Anzapfung 24 α verbunden. Bei dieser Anordnung ist
platte geerdet ist. Die Spannungsabstufungsplatten 45 das elektrische Hochfrequenzfeld von der Platte 24
sind derart an einen Spannungsteiler angeschlossen, bis zur Platte 25 mittels der Platten 26 bis 29 linear
daß das Hochfrequenzfeld zwischen den beiden End- verteilt. Dies ergibt ein lineares^ und homogenes
platten linear verteilt ist. Es wurde gefunden, daß die Hochfrequenzfeld im Bereich zwischen den End-Eigenschaften
des Spektrometers durch, eine andere platten und den Ausschnitten der Zwischenplatten.
Spannungsverteilung wesentlich verbessert werden 50 Ein Elektronenstrahl 36 wird senkrecht zur Zeichenkönnen. Durch die Erfindung wird eine erhebliche ebene von Fig. 1 durch die Mitte der lonisierungs-Erhöhung des Auflösungsvermögens, der Empfind- kammer geschickt, wobei diese bei der vorliegenden lichkeit, Stabilität und Linearität des Spektrometers Art des Massenspektrometers auch als Analysenteil erreicht. dient. Die Resonanzionen laufen auf der gestrichelt
Spannungsverteilung wesentlich verbessert werden 50 Ein Elektronenstrahl 36 wird senkrecht zur Zeichenkönnen. Durch die Erfindung wird eine erhebliche ebene von Fig. 1 durch die Mitte der lonisierungs-Erhöhung des Auflösungsvermögens, der Empfind- kammer geschickt, wobei diese bei der vorliegenden lichkeit, Stabilität und Linearität des Spektrometers Art des Massenspektrometers auch als Analysenteil erreicht. dient. Die Resonanzionen laufen auf der gestrichelt
Das erfindungsgemäße Hochfrequenz-Ionenresonanz- 55 angedeuteten Spiralbahn und treffen auf den Ionen-Massenspektrometer
der beschriebenen Art ist dadurch auffänger 37 auf. Der vom Aufprall der Resonanzgekennzeichnet, daß der Oszillator mit einer Span- ionen auf den Auffänger 37 erzeugte Ionenstrom
nungsabstufu-ngsplatte elektrisch verbunden ist, wäh- wird im allgemeinen auf einen Verstärker gegeben
rend die anderen Spannungsabstufungsplatten und und dann einem Registriergerät zugeführt. Der Spandie
beiden Endplatten hochfrequenzmäßig geerdet 60 nungsteiler 13 und die Endplatte 25 sind bei 38
sind. geerdet Diese in Fig. 1 dargestellte Anordnung
Anstatt der linear ansteigenden Hochfrequenz- ist bei Hochfrequenz-Ionenresonanz-Massenspektrofelder,
die bisher verwendet wurden, wird also ein meiern bekannt.
nichtlineares und asymmetrisches Hochfrequenzfeld Fig. 2 zeigt eine Ausführungsform der vorliegenden
angewandt. 65 Erfindung, wobei ein nichtlineares asymmetrisches
Nach einem weiteren Kennzeichen der Erfindung elektrisches Hochfrequenzfeld verwendet wird; d. h.
werden den Kondensatorplatten zusammen mit der es ist asymmetrisch in bezug auf den Röhrenmittel-Hochfrequenzspannung
Gleichspannungen zugeführt. punkt. Bei dieser Ausführungsform der Erfindung Die Anlegung dieser Gleichspannungen in Kombi- ist der Oszillator 10 bei 12 geerdet und bei 34 über
nation mit dem bekannten linearen Hochfrequenzfeld 70 den Kopplungskondensator 11 an die Spannungs-
abstufungsplatte 29 angeschlossen. Die Endplatten 24 und 25 und die Abstufungsplatten 26, 27 und 28 sind
über die Anschlüsse 30, 35,31,32 und 33 mit der Erde
38 verbunden, so daß also alle Platten außer der Platte
29 sich auf Erdpotential befinden. Nur die Platte 29 ist an die vom Oszillator 10 erzeugte Hochfrequenzspannung
angekoppelt. Obwohl der Einfluß des nichtlinearen elektrischen Feldes auf die vom Elektronenstrahl
36 gebildeten Ionen, die zum Iönenauffänger 37 gelangen, nicht ganz klar ist, ergibt sich praktisch,
daß das Auflösungsvermögen, die Empfindlichkeit, Linearität und Stabilität des Massenspektrometer
ganz wesentlich erhöht wird. Wie man sieht, ist der in Fig. 1 dargestellte Spannungsteiler 13 bei
der Ausführungsform der Erfindung nach Fig. 2 nicht verwendet.
Die elektrische Hochfrequenzspannung kann irgendeiner der Abstufungsplatten 26, 27, 28 und 29 zugeführt
werden und ist nicht auf die Platte 29 beschränkt. Auch ist die in Fig. 2 dargestellte
Ausführungsform nicht auf vier Abstufungsplätten beschränkt, sondern kann mit mehr oder weniger
Zwischenplatten ebenfalls angewendet werden. Vorzugsweise wird jedoch die Hochfrequenzspannung
vom Oszillator 10 einer der Platten in der Nähe der Endplatte, an der sich der Ionenauffänger befindet,
zugeführt. Ferner können auch andere Mittel zur Erzeugung eines nichtlinearen asymmetrischen Feldes
verwendet werden.
Nach Fig. 3 ist das in Fig. 2 dargestellte nichtlineare elektrische Feld mit einer besonderen Gleichspannungszuführung
zu den Platten kombiniert. Der Oszillator 10 erzeugt eine Hochfrequenzspannung und
ist ebenso wie in Fig. 2 einerseits bei 12 geerdet und andererseits über den Kopplungskondensator 11 mit
dem Anschluß 34 der Abstufungsplatte 29 verbunden.
Die dargestellte Schaltung erzeugt, wie man sieht, dieselben Hochfrequenzfelder wie die nach Fig. 2. Zu
diesem Zweck sind die Kondensatoren 43 und 44 vorgesehen, die so groß sind, daß sie für Hochfrequenzspannung
der betreffenden Frequenzen praktisch einen Kurzschluß darstellen. Demgemäß wird, wie in Fig. 2,
die Hochfrequenzspannung vom Oszillator 10 der Platte 29 über den Kondensator 11 und den Anschluß
34 zugeführt, während alle anderen Platten hochfrequenzmäßig sich auf Erdpotential befinden. Fig. 3
unterscheidet sich von Fig. 2 nur dadurch, daß zusätzlich gewisse Gleichspannungen vorgesehen sind.
Die Spannungsquellen 40, 41 und 42 können im Bereich von 0,001 bis 3 Volt einstellbare Gleich-Spannungsquellen
sein, wie sie z. B. aus Batterien und niederohmigen Spannungsteilern hergestellt werden
können. Diese Spannungsquellen besitzen einen gemeinsamen positiven Pol, der auf Erdpotential liegt.
Der negative Pol der Gleichspannungsquelle 41 ist mit der Platte 24 beim Anschluß 30 verbunden und
von den anderen Platten durch den Kondensator 43 isoliert. Der negative Pol der Gleichspannungsquelle
42 ist mit den Abstufungsplatten 26 und 28 über die Anschlüsse 31 und 33 verbunden. Der Kondensator
44 dient als hochfrequenzmäßiger Kurzschluß der Spannungsquelle 42. Die Platten 27, 25 sind unmittelbar
geerdet.
Wie erwähnt, ist der Hochfrequenzoszillator 10 mit der Platte 29 über den Kondensator 11 und den An-Schluß
34 verbunden. Ferner ist der negative Pol einer Spannungsquelle 40 mit dem Anschluß 34 der
Platte 29 über einen Widerstand 45 gekoppelt. Der Widerstand 45 ist so groß, daß er eine Belastung des
Oszillators 10 verhindert.
Wenn die Hochfrequenzspannung einer anderen Platte als der Platte 29 zugeführt wird, kann die
Gleichspannungsquelle 40 ebenfalls mit derselben Platte verbunden werden. Vorzugsweise wird jedoch
diese Platte in der Nähe des Auffängers 31 gewählt. Die Gleichspannungsquelle 41 wird in jedem Falle
vorzugsweise mit der Endplatte 24 verbunden. Die Spannungsquelle 42 könnte mit einem anderen Plattenpaar
als 26 und 28 verbunden sein, jedoch sollte auf alle Fälle dieses Plattenpaar sich im Mittelteil der
Röhre befinden und zu beiden Seiten einer Abstufungsplatte liegen, die sich in der Nähe der Röhrenmitte
und des Elektronenstrahls befindet.
Es ist wesentlich, daß die Polarität der von den Batterien 40, 41 und 42 entwickelten Gleichspannungen
die in Fig. 3 gezeigte Richtung hat. Die Größen der von diesen Batterien entwickelten drei Potentiale
werden gleichzeitig so eingestellt, daß sie optimale Empfindlichkeit, Linearität und Auflösung für das
Massenspektrometer ergeben. Dies führt auch zur bestmöglichen Stabilität. Für verschiedene m/e-Verhältnisse,
Hochfrequenzspannungen, Elektronenstrahlstärken und Betriebsdrücke können verschiedene Optimalwerte
der Gleichspannungen existieren, jedoch ist es möglich, eine Optimalzüsammenstellung von Gleichspannungen
zu wählen, die in einem großen Bereich des Massenspektrometers vorzügliche Ergebnisse
liefern. Es sei darauf hingewiesen, daß die Anwendung der Gleichspannungen zusätzlich zum Hochfrequenzfeld
mit guten Ergebnissen sowohl zusammen mit einem linearen Hochfrequenzfeld als auch mit
irgendeiner Form eines nichtlinearen, asymmetrischen
Hochfrequenzfeldes verwendet werden können. Es wurde ein Vergleich der Betriebseigenschaften für
zwei Fälle durchgeführt, nämlich (I) einen Ionenresonanz-Massenspektrometer
mit linearem Hochfrequenzfeld nach Fig. 1 und (II) das erfindungsgemäße Massenspektrometer mit nichtlinearem asymmetrischem
Hochfrequenzfeld nach Fig. 3. In beiden Fällen wurden die optimalen Gleichpotentiale an die
Platten angelegt. Es wurden folgende Ergebnisse gefunden:
Höchste befriedigend aufgelöste
Ionenmasse (m/e)
Ionenmasse (m/e)
IonenstroHistärke in Ampere für
n-C4H10 (Masse 43)
n-C4H10 (Masse 43)
Stabilität
Typische Analyse
C2H6-] r 25,0%
C3H8 U^ 25>°°/o
I Ub4H8 Synthese 250„/o
N-C4H10J I 25,0%
Lineares
HF-Feld
HF-Feld
43
mäßig
27,0
24,6
23,8
24,6
24,6
23,8
24,6
Nichtlineares HF-Feld
100
lO-io gut
25,4 24,9 24,2 25,5
In jedem Falle wurden die verschiedenen Betriebswerte der Röhre so eingestellt, daß die bestmögliche
Reproduzierbarkeit und Linearität vorhanden war.
Diese Ergebnisse zeigen einen entschiedenen Vorteil der Anordnung II bezüglich der Auflösung, der
Ionenstromempfindlichkeit, der Stabilität und der Genauigkeit einer Kohlenwasserstoff-Gasanalyse. Ferner
wurde gefunden, daß ohne Anwendung der Gleich-
spannungen in beiden Fällen weit schlechtere Ergebnisse erzielt wurden.
Vermutlich rührt der Vorteil des asymmetrisch nichtlinearen Feldes davon her, daß die Begrenzung der Röhreneigenschaften im Betrieb durch
Raumladung auf ein Minimum herabgedrückt wird. Die Gleichspannungspotentiale haben eine ähnliche
Wirkung und verbessern dadurch die Fokussierung der Resonanzionenstrahlen. Auch andere nichtlineare
Feldformen können verwendet werden, um vorteilhafte Ergebnisse gemäß der Erfindung zu erzielen.
Claims (5)
1. Hochfrequenz-Ionenresonanz-Massenspektrometer mit zwei parallelen Endplatten, einer Reihe
paralleler, gleich weit voneinander entfernter, parallel zu den Endplatten zwischen diesen angeordneten
Spannungsabstuf ungsplatten, einem Ionenauffänger und einem Hochfrequenzspannungserzeuger,
dadurch gekennzeichnet, daß der Oszillator mit einer Spannungsabstufungsplatte elektrisch
verbunden ist, während die anderen Spannungsabstufungsplatten und die beiden Endplatten
hochfrequenzmäßig geerdet sind.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Oszillator mit der dem
Ionenauffänger benachbarten Spannungsabstufungsplatte verbunden ist.
3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß eine Endplatte mit einer
Gleichspannungsquelle verbunden und die andere Endplatte geerdet ist, während die der geerdeten
Endplatte benachbarte Spannungsabstufungsplatte an den Oszillator und eine zweite Gleichspannungsquelle angeschlossen ist, daß ferner die der nicht
geerdeten Endplatte benachbarte Spannungsabstufungsplatte und die der mit dem Oszillator
verbundenen Platte benachbarte Platte mit einer dritten Spannungsplatte verbunden sind, während
die verbleibende Spannungsabstufungsplatte unmittelbar geerdet ist.
4. Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Spannungsquellen einstellbare
Gleichspannungen im Bereich von etwa 0,001 bis 3 Volt liefern.
5. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine Analysenkammer, Mittel zur Ionisierung
von in die Kammer eingebrachten Substanzproben, Mittel zur Erzeugung eines Magnetfeldes,
das die Analysenkammer durchsetzt, Mittel zur Erzeugung eines konzentrierten elektrischen
Wechselfeldgradienten senkrecht zum Magnetfeld in einem asymmetrisch angeordneten Bereich der
Analysenkammer, wobei das Wechselfeld eine Frequenz besitzt, welche der natürlichen Frequenz
von Ionen mit einer bestimmten Masse entspricht, wodurch diese Ionen in Spiralbahnen beschleunigt
werden, Mittel zur Sammlung der so beschleunigten Ionen und Mittel zur Entfernung von
Ionen mit unerwünschter natürlicher Frequenz aus dem Bereich der gekreuzten und elektrischen
magnetischen Felder.
In Betracht gezogene Druckschriften:
USA.-Patentschrift Nr. 2 627 034.
USA.-Patentschrift Nr. 2 627 034.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
© 809 697/301 11.5»
Applications Claiming Priority (1)
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DEG17328A Pending DE1045687B (de) | 1954-06-08 | 1955-06-07 | Ionenresonanz-Massenspektrometer |
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DE (1) | DE1045687B (de) |
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- 1954-06-08 US US435160A patent/US2868986A/en not_active Expired - Lifetime
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- 1955-07-27 FR FR1128268D patent/FR1128268A/fr not_active Expired
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