DE1061542B - Verfahren und Vorrichtungen zur Massenspektrometrie - Google Patents
Verfahren und Vorrichtungen zur MassenspektrometrieInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf Massenspektrometer und betrifft insbesondere das Auflösungsvermögen
und die Empfindlichlceit von Hochfrequenzionenresonanzmassenspektrometern. Insbesondere befaßt
sich die Erfindung mit einem Verfahren und einer Vorrichtung zur Einstellung der Amplitude der
Hochfrequenzspannung eines solchen Massenspektrometers derart, daß eine optimale Auflösung und
Empfindlichkeit erreicht wird. Die Anwendung der Massenspektrometrie für industrielle Zwecke ist in
den letzten Jahren immer wichtiger geworden, und die Technik der Massenspektroskopie hat genaue und
rasche Gasanalysen möglich gemacht. Beispielsweise sind Massenspektrometer erfolgreich zur laufenden
Verfahrensüberwachung, zur Gasanalyse im Betrieb, zur Feststellung von Undichtigkeiten und zur Spurenanalyse
verwendet worden.
Es sind mehrere Typen von Massenspektrometern entwickelt worden. Bei jedem Typ wird die gasförmige
Probe unter niedrigem Druck in eine Ionisierungskammer eingeführt, worin die Gasmoleküle
mittels eines von einem Glühdraht aus Wolfram, Wolframcarbid od. dgl. ausgesandten Elektronenstromes
ionisiert werden. Bei einer Massenspektrometerart werden die so in der Ionisierungskammer
gebildeten Ionen mittels eines elektrischen Feldes von der Ionisierungskammer in einen Analysenteil des
Massenspektrometers geführt und beschleunigt. Gleichzeitig werden die Ionen im Analysenteil mittels eines
magnetischen Feldes aus ihrer normalen Bahn abgelenkt, wobei die Bahnkrümmung eines Ions von
seinem Massenladungsverhältnis (m/e) abhängt. Am Ende des Analysenteils gegenüber der Ionisierungskammer
ist ein schmaler Spalt angebracht, hinter dem sich unmittelbar ein Ionenauf fänger befindet. Für jede
bestimmte Zusammenstellung von Arbeitsbedingungen, d. h. für eine gegebene elektrische und magnetische
Feldstärke, können nur Ionen mit einem ganz bestimmten m/e-Verhältnis durch den Schlitz hindurchtreten
und treffen auf den Auffänger. Die Anzahl der auf den Ionenauffänger gelangenden Ionen
steht in unmittelbarer Beziehung zur Anzahl derartiger in der Ionisierungskammer gebildeten Ionen.
Es ist infolgedessen möglich, die Bestandteile einer gasförmigen Probe zu bestimmen, indem die Mengen
der Ionen mit verschiedenen m/e-Verhältnissen, die auf den Ionenauffänger auftreffen, gemessen werden.
Dies wird dadurch erreicht, daß die Stärke des elektrischen und/oder magnetischen Feldes des Massenspektrometers
verändert wird, um hierdurch wahlweise die Ionenmenge mit jedem m/e-Verhältnis zu
bestimmen.
Eine andere Spektrometerart ist das HocMrequenzionenresonanzmassenspektrometer,
das auf einem Verfahren und Vorriehtungen
zur Massenspektrometrie
zur Massenspektrometrie
Anmelder:
General Electric Company,
Schenectady, N.Y. (V.St.A.)
Schenectady, N.Y. (V.St.A.)
Vertreter: Dipl.-Ing. E. Prinz, Patentanwalt,
München-Pasing, Bodenseestr. 3 a
München-Pasing, Bodenseestr. 3 a
Beanspruchte Priorität:
V. St. v. Amerika vom 9. Juni 1954
V. St. v. Amerika vom 9. Juni 1954
Keith Palmer Lanneau und Lloyd Hicksey Lane,
Baton Rouge, La. (V. St. A.),
sind als Erfinder genannt worden
Baton Rouge, La. (V. St. A.),
sind als Erfinder genannt worden
anderen Gedanken beruht. Es wurde bereits in der Literatur beschrieben, so z. B. in der Arbeit: »An lon
Resonance Mass Spectrometer for Industrial Application« von W.A.Morgan, G. Jernakoff und
K. P, Lanneau, vorgetragen bei dem »American Chemical Society Symposium on Process Instrumentation,
Chicago, Illinois, September 9, 1953«. Im Ionenresonanzmassenspektrometer dient die Ionisierungskammer
nicht nur zur Ionisierung der Gasprobe, sondern auch als Analysenteil des Spektrometers.
Dies wird dadurch erreicht, daß in der Ionisierungskammer mittels Kondensatorplatten ein elektrisches
Hochfrequenzfeld quer zum Elektronenstrahl und außerdem ein magnetisches Feld "senkrecht zum
elektrischen Feld erzeugt wird. Die Kombination des elektrischen und des magnetischen Feldes zwingt die
in der Ionisierungskammer gebildeten Ionen eine Spiralbahn in der Ebene des elektrischen Feldes auszuführen.
Für eine bestimmte Zusammenstellung von Bedingungen, nämlich für ein gegebenes elektrisches
und magnetisches Feld werden nur Ionen mit einem bestimmten m/e-Verhältnis in einer Spiralbahn mit
zunehmendem Durchmesser dauernd beschleunigt. Diese Ionen haben natürliche Frequenzen, die der
Frequenz des angelegten Hochfrequenzfeldes entsprechen, und werden Resonanzionen genannt. In
einer festen Entfernung vom Mittelpunkt der Ionisierungskammer ist in der Ebene der Ionenbahn ein
Auffangschirm angebracht, auf den die Resonanzionen auftreffen. Die nicht in Resonanz befindlichen
Ionen schwingen im Analysenteil infolge der Wir-
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kung des elektrischen und magnetischen Feldes hin η issen zu trennen. Die Empfindlichkeit eines Massen-
und her, erhalten aber nie eine so große Beschleuni- sjpektrometers bezieht sich auf das Vermögen des
gung, daß sie auf den Schirm auftreffen. Diese Ionen Geräts, auf dem Ionenauffänger eine hohe Konzendurchlaufen
periodisch eine Spiralbahn bis zu ein^jg||pji^ktion von Ionen mit einem gegebenen m/e-Verhältgrößteri
Radius kurz vor dem Schirm und laitf eft^^S-Wb'_ zu sammeln und andere Ionen zurückzutreiben,
dann in Spiralen zum Mittelpunkt des AnalysentiWr Beif der Messung von Ionen mit einem gegebenen
(Anälysenröhre) zurück. Das Ionenresonanzprinzip mltVVerhältnis findet man, daß die Empfindlichkeit
ist im einzelnen z. B. in der Arbeit »The measurement
of e/m by Cyclotron Resonance« von PI. A. Sommer,
H.A. Thomas und J. A. Hippie in der Physical ίο
Review vom 1. Juni 1951 beschrieben.
of e/m by Cyclotron Resonance« von PI. A. Sommer,
H.A. Thomas und J. A. Hippie in der Physical ίο
Review vom 1. Juni 1951 beschrieben.
Die Menge und das mle-Verhältnis der auf den Ionenauffänger auftreffenden Ionen ist ein Maß für
die Zusammensetzung der Gasprobe. Durch Verände-
des; Massenspektrbmeters von der Amplitude der verweaiieten Hochfrequenzspannung abhängt.
Es wurde von dem Erfinder festgestellt, daß bei einer Fretnienzänderung des Massenspektrometers
zum Zweck Clferi Auswahl von Ionen mit verschiedenen mit- Verhältnissen^ das Auflösungsvermögen des Geräts
bei hohen «7 β,Γ Verhältnissen abnimmt. Darum
rung der Frequenz des elektrischen Feldes, während 15 wird erfindungsgemäß die Amplitude der Hoch-
das Magnetfeld konstant gehalten wird, und/oder durch Veränderung der Stärke des Magnetfeldes,
während die Frequenz des elektrischen Wechselfeldes konstant bleibt, können Ionen mit verschiedenen
natürlichen Frequenzen, also mit verschiedenen mle-Verhältnissen, aufgefangen werden. Die Mengen der
so aufgefangenen Ionen mit verschiedenen m/e-Verhältnissen können als Maß für die Zusammensetzung
der Gasprobe dienen. Die Messung kann beispiels-
frepenzspannung im umgekehrten Verhältnis zum m/e- Verhältnis verändert, um hierdurch die Abnahme
des Auflösungsvermögens auszugleichen.
Es wurde also gefunden, daß für den optimalen Betrieb eines Ionenresonanzmassenspektrometers nicht
nur die Frequenz der Hochfrequenzspannung in Befrackt gezogen werden darf, sondern daß auch die
Amplitude dieser Spannung richtig gewählt werden raul, wenn Ionen mit einem bestimmten m/e-Ver
weise dadurch vorgenommen werden, daß der von den 25 hältnis gemessen werden. Die vorliegende Erfindung
auf den Schirm auf treffenden Ionen erzeugte Strom bestimmt wird. Da der im Massenspektrometer auftretende
Strom sehr klein ist, wird er normalerweise verstärkt, in eine Spannung verwandelt und die verliefert
ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Amplittdenänderung der Hochfrequenzspannung eines
Ionearesonanzmassenspektrometers, während die Frequenz dieser Spannung entweder für kontinuierliche
stärkte Spannung dann einem Registriergerät zu- 30 Abtastung des gesamten Massenspektrums oder für
aufeinanderfolgende Auswahl von Ionen mit verschiedenen m/e-Verhältnissen verändert wird.
Zitl der Erfindung ist demgemäß die Schaffung eines Verfahrens und einer Vorrichtung zur Er
geführt.
Ein Ionenresonanzmassenspektrometer kann dazu
verwendet werden, alle Komponenten einer Gasprobe
durch kontinuierliche Abtastung des Massenspektrums
zu bestimmen, oder es kann zur wahlweisen Messung 35 zielung des bestmöglichen Auflösungsvermögens eines von nur einigen Bestandteilen der Gasprobe dienen. Ioneiresonanzmassenspektrometers für Ionen mit Wenn man eine Gasprobe durch kontinuierliche Ab- jeden gegebenen m/e-Verhältnis sowie zur Erzielung tastung auf alle Bestandteile untersuchen will, wird der größtmöglichen Empfindlichkeit und angemessenen normalerweise das Magnetfeld konstant gehalten, Auflösung bei der Messung von Ionen mit bestimmwährend die Frequenz der Hochfrequenzspannung in 40 ten nie-Verhältnissen.
verwendet werden, alle Komponenten einer Gasprobe
durch kontinuierliche Abtastung des Massenspektrums
zu bestimmen, oder es kann zur wahlweisen Messung 35 zielung des bestmöglichen Auflösungsvermögens eines von nur einigen Bestandteilen der Gasprobe dienen. Ioneiresonanzmassenspektrometers für Ionen mit Wenn man eine Gasprobe durch kontinuierliche Ab- jeden gegebenen m/e-Verhältnis sowie zur Erzielung tastung auf alle Bestandteile untersuchen will, wird der größtmöglichen Empfindlichkeit und angemessenen normalerweise das Magnetfeld konstant gehalten, Auflösung bei der Messung von Ionen mit bestimmwährend die Frequenz der Hochfrequenzspannung in 40 ten nie-Verhältnissen.
einem Bereich, der alle Ionen der Probe umschließt, Das erfindungsgemäße Verfahren zur Analyse der
gleichförmig verändert wird. Wenn andererseits nur Zusammensetzung. _einer^gasförmigen Probe mittels
bestimmte Bestandteile der Gasprobe analysiert wer- eines Ionenresonanzmassenspektrometers, worin die
den sollen, wählt man nur einige vorbestimmte Fre- Frequenz eines elektrischen Hochfrequenzfeldes ver-
qUenzen, die so ausgewählt werden, daß Ionen mit 45 ändert wird, um nacheinander die Mengen der Ionen
Jw/e-Verhältnissen, welche diesen Frequenzen ent- mit ierschiedenen mle-Verhältnissen zu messen, ist
sprechen, erfaßt werden. Jede Analysenart erfordert dadurch gekennzeichnet, daß die Amplitude des elek-
ein besonderes Verfahren und ein besonderes Gerät zu ihrer Durchführung. Bei einer Gesamtanafyse kann
der Abstimmkondensator des Massenspektrometeroszillators durch mechanische Mittel, z. B. einen
Motor, gleichmäßig durchgedreht werden. Wenn andererseits nur Ionen mit einigen mle-Verhältnissen
gemessen werden sollen, kann eine Anzahl fester Kondensatoren nacheinander verwendet werden. Indessen
ist bei der letzteren Analysenart offenbar wesentlich, daß die geeignete Frequenz so gewählt
wird, daß eine richtige Ablesung für die Ionen mit jedem m/e-Verhältnis erfolgreich durchgeführt werden
kann.
Bei beiden Analysenarten ist eine Reihe von Schwierigkeiten bei der Messung von Ionen mit verschiedenen
mle-Verhältnissen aufgetreten. Insbesondere hat der Erfinder festgestellt, daß die Empfind-
trischn Feldes in umgekehrter Richtung wie das m/e-"Verhältnis verändert wird.
Weitere Einzelheiten der Erfindung ergeben sich aus dtr nachfolgenden Beschreibung an Hand der Zeichnung. Hierin zeigt
Weitere Einzelheiten der Erfindung ergeben sich aus dtr nachfolgenden Beschreibung an Hand der Zeichnung. Hierin zeigt
Figl ein teilweises Blockschaltbild einer Ausführuigsform der Erfindung mit kontinuierlicher
Abtastong des Massenspektrums und
Fig,2 ein teilweises Blockschaltbild einer anderen Ausfülrungsform der Erfindung mit aufeinanderfolgenler
Auswahl von Ionen mit verschiedenen m/e-Vrhältnissen.
In !ig. 1 bezeichnet 10 ein Hochfrequenzionenresonazmassenspektrometer, das durch einen Oszillator 1! gespeist wird. Dieser ist so eingerichtet, daß er die Frequenz der an das Massenspektrometer 10 angelegen Hochfrequenzspannung verändern kann.
In !ig. 1 bezeichnet 10 ein Hochfrequenzionenresonazmassenspektrometer, das durch einen Oszillator 1! gespeist wird. Dieser ist so eingerichtet, daß er die Frequenz der an das Massenspektrometer 10 angelegen Hochfrequenzspannung verändern kann.
Iichkeit und das Auflösungsvermögen eines Ionen- 65 Die Hchfrequenzspannung wird der Endplatte 111
resonanzmassenspektrometers von dem betreffenden des Spetrometerkondensators unmittelbar zugeführt,
mle-Verhältnis abhängen. Das Auflösungsvermögen währeni die Spannungsabstufungsplatten 112, 113,
eines Massenspektrometers bedeutet die Fähigkeit des 114 und20 sowie die Endplatte 115 über den Ohm-Geräts,
Ionen mit einem gegebenen w/e-Verhältnis sehen Sahnungsteiler 116 mit der Endplatte 111 vervon
Ionen mit unmittelbar benachbarten w/e-Verhält- 70 bunden ihd und die Endplatte 115 bei 117 geerdet
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ist. Die Zwischenplatten 112, 113, 114 und 120 sind in der Mitte ausgeschnitten und bilden eine Kammer
118, welche als Ionisationskammer und Analysenteil dient. Durch die Endplatte 115 hindurch ragt der
Ionenauffänger 119 in die Kammer 118. Auf diesem treffen die Resonanzionen auf und erzeugen einen
Ionenstrom. Der Oszillator 11 ist mit einem Abstimmkondensator 12 versehen, der mit dem Synchronmotor
13 mechanisch verbunden ist. Bei dieser Ausführungsform der Erfindung dreht der Motor 13
den Kondensator 12 gleichmäßig durch, so daß eine kontinuierliche Abtastung des Massenspektrums einer
im Spektrometer 10 befindlichen Gasprobe erreicht wird. Die von den Ionen mit verschiedenen We-Verhältnissen
im Massenspektrometer 10 erzeugten Ionenströme werden in Spannungen verwandelt und im
Spektrometerverstärker 14 verstärkt. Die verstärkten Spannungen, die ein Maß für die Mengen der entsprechenden
Ionen darstellen, werden vom Registriergerät 15 aufgezeichnet. Bis hierher handelt es sich um
ein bekanntes Ionenresonanzmassenspektrometer.
Da der Erfinder festgestellt hat, daß es wünschenswert ist, die Amplitude der Hochfrequenzspannuhg in
umgekehrter Richtung wie das m/e-Verhältnis zu verändern, um hierdurch das Auflösungsvermögen
des Massenspektrometers 10 stets auf seinen bestmöglichen Wert zu bringen, ist gemäß der vorliegenden
Ausführungsform der Erfindung ein Verfahren und eine Vorrichtung vorgesehen, um dies während
der gesamten Analyse zu gewährleisten. Hierzu ist der Motor 13 mit einem Potentiometer 16 mechanisch
verbunden, so daß während der Durchführung der Analyse die vom Potentiometer 16 gelieferte Spannung
gleichzeitig mit der durch den Kondensator 12 veränderten Frequenz der Hochfrequenzspannung geändert
wird. Das Potentiometer 16 ist in den Stromkreis 17 eingeschaltet, so daß ein Gleichstrom von der
bei 20 geerdeten Batterie 18 durch das Potentiometer fließt. Der Motor 13 ändert die Stellung des Abgriffs
16 a auf den Potentiometerwiderstand 19 und erzeugt hierdurch eine veränderliche Spannung.
Für jede Stellung des Kondensators 12 ergibt sich somit ein entsprechendes Bezugsgleichpotential am
Potentiometer 16. Dieses Bezugspotential wird dem Differenzen-Rückkopplungsverstärker 21 zugeführt,
worin die Ausgangsspannung des Potentiometers 16 mit der Amplitude der Hochfrequenzspannung des
Massenspektrometers 10 verglichen wird. Das letztere wird dadurch erreicht, daß der Oszillator 11 an das
erste Steuergitter 121 eines Kathodenverstärkers 23 angeschlossen ist. Die hochfrequente Ausgangsspannung
des Kathodenverstärkers 23 wird dem Gleichrichter 22 sowie dem Massenspektrometer 10 zugeführt.
Im Gleichrichter 22 wird die Hochfrequenz gleichgerichtet und dann dem Verstärker 21 zugeführt.
Jede Differenz zwischen der gleichgerichteten Hochfrequenzspannung und dem vom Potentiometer
16 gelieferten Bezugspotential wird verstärkt und als korrigierendes Steuersignal auf das zweite Steuergitter
122 des Kathodenverstärkers 23 rückgekoppelt. Auf diese Weise liefert die Erfindung ein Verfahren
und eine Vorrichtung zur Aufrechterhaltung des Optimalwertes der Hochfrequenzamplitude für jede
im Massenspektrometer 10 gewählte Frequenz.
Während im allgemeinen vorzugsweise die Amplitude der Hochfrequenzspannung umgekehrt proportional
zur Frequenz verändert wird, kann offenbar für gewisse Spektrometer der optimale Zusammenhang
zwischen diesen beiden Größen es erforderlich machen, daß 16 ein nichtlineares Potentiometer dar-542
stellt. Bei der bevorzugten Ausführungsform der Erfindung sind die Schwingkreiswerte des Oszillators Il
so gewählt, daß bei einer Drehung des Kondensators 12 um 180° ein Frequenzband durchlaufen wird,
welches den gewünschten Massenbereich umfaßt. Ferner ist das Potentiometer 16 vorzugsweise stetig um
360° drehbar. Bei einer anderen Anordnung könnte der Kondensator 12 durch ein Potentiometer ersetzt
werden, das mechanisch mit dem Potentiometer 16 gekuppelt ist. Diese Potentiometerart würde zur Erzeugung
eines veränderlichen Gleichstromes dienen, der einen Hochfrequenzoszillator mit Stromsteuerung
der Frequenz beaufschlagt.
In Fig. 2 bedeutet 10 ein Hochfrequenzionenresönanzmassenspektrometer,
das mit demjenigen nach Fig. 1 übereinstimmt. Der Ionenstrom vom Massenspektrometer 10 wird in eine Spannung verwandelt
und vom Spektrometerverstärker 14 verstärkt, woraufhin die verstärkte Spannung dem Registriergerät
15 zugeführt wird. Die in Fig. 2 gezeigte Äusführungsform ist für solche Analysen bestimmt,
bei denen eine aufeinanderfolgende Auswahl von Ionen mit verschiedenen m/e-Verhältnissen durchgeführt
wird; Die Frequenz der Hochfrequenzspannung des Massenspektrometers 10 wird am Oszillator
IIa dadurch verändert, daß verschiedene Kondensatorpaare für Ionen mit jedem zu messenden
m/e-Verhältnis eingeschaltet werden. Der Oszillator IIa in Fig. 2 ist mit Kondeiisatorgruppen 35, 36 und
37 versehen. Selbstverständlich könnten noch weitere Kondensatorgruppen auf Wunsch vorgesehen sein.
Die Wahl der aufeinanderfolgenden Kondensatorgruppen wird folgendermaßen vorgenommen. Der
Motor 30 mit der Welle 31 wird während der Analyse dauernd betrieben. Mit der Welle 31 ist ein Nocken
32 verknüpft, der nach jeder Umdrehung um 360° den von der Relaiswicklungsspannungsquelle 33 gespeisten
Stromkreis schließt. Wenn dies geschieht, wird das Schrittrelais 34 erregt, so daß es die aufeinanderfolgenden
Kondensatorgruppen nacheinander mechanisch anschaltet. Auf diese Weise werden Ionen
mit verschiedenen m/e-Verhältnissen dadurch ausgewählt, daß die Kondensatoren der verschiedenen
Gruppen in geeigneter Weise gewählt werden. Wenn die Kondensatoren richtig voreingestellt sind, ist die
für die Ionen mit den einzelnen m/e-Verhältnissen erhaltene Ablesung richtig, und das Gerät bestimmt den
Scheitel jedes Massengipfels. Als Massengipfel ist hierbei der größte Ionenstrom bezeichnet, der festgestellt
werden kann, wenn Ionen mit einem bestimmten w/e-Verhältnis gemessen werden.
Da es jedoch schwierig ist, die Scheitel der einzelnen Massengipfel unmittelbar zu. erfassen, ist die vorliegende
Ausführungsform der Erfindung so angeordnet, daß Frequenzen am Grunde der einzelenen
Massengipfel ausgewählt und dann über jeden solchen Massengipfelabgetastet werden. Dies geschieht mittels
der Kondensatorgruppe 38, die stets in die Schaltung des Oszillatorslla eingeschaltet ist. Die Kondensatorgruppe
38 ist mit zwei vollständig durchdrehbaren Drehkondensatoren versehen, deren Größe gerade
ausreicht, um den ganzen Massengipfel abzutasten. Wenn der Motor 30 umläuft, wird die Kapazität
der Kondensatorgruppe 38 während einer Umdrehung der Welle 31 um 360° gleichförmig verändert.
Auf diese Weise arbeitet der Motor 30 ununterbrochen und bewirkt nicht nur eine stufenweise
Auswahl von Ionen mit verschiedenen m/e-Verhältnissen, sondern tastet auch jedes m/e-Verhältnis
mittels der Kondensatorgruppe 38 ab.
Der Oszillator 11 a ist mit dem Massenspektrometer 10 über einen Spannungsteiler 42 verbunden, der aus
einer Anzahl fester Widerstände 39, 40 und 41 besteht. Der Abgriff des Spannungsteilers 42 ist mechanisch
mit dem Stufenrelais 34 verbunden, so daß jedesmal, wenn eine andere Kondensatorgruppe mit
dem Oszillator IIa verbunden wird, ein anderer Widerstand in die Kopplungsleitung zwischen Oszillator
11 a und Massenspektrometer 10 eingeschaltet wird. Die Widerstände im Spamaungsteiler 42 sind so vorbestimmt,
daß sie für jede Frequenzwahl des Oszillators IIa eine optimale Amplitude der Hochfrequenzspannung für das Massenspektrometer 10 liefern. Auf
diese Weise werden Auflösungsvermögen und Empfindlichkeit des Massenspektrometers 10 für jeden
ausgewählten Massengipfel auf den bestmöglichen Wert gehalten.
Der Massenspektrometerverstärker 14 ist mit dem Registriergerät 15 über einen Spannungsteiler 46 verbunden,
der eine Anzahl verschiedener vorgewählter Widerstände, z. B. die Widerstände 43, 44 und 45,
aufweist.. Der Spannungsteiler 46 ist ähnlich wie der Spannungsteiler 42 mechanisch mit dem Stufenrelais
34 verbunden. Der Spannungsteiler 46 liefert ein Mittel zur Veränderung der Aufzeichnungsempfindlichkeit
des Registriergeräts 15, um hierdurch für jedes abgetastete m/e-Verhältnis eine optimale Aufzeichnungsempfindlichkeit
zu erhalten.
In Fig. 2 ist angenommen, daß die Anordnung in Stellung B arbeitet, daß also die Kondensatorgruppe
36 zur Abstimmung des Oszillators IIa herangezogen wird, während das Potentiometer 42 zwischen den
Widerständen 40 und 41 und der Spannungsteiler 46 zwischen den Widerständen 44 und 45 angeschlossen
ist. Die Widerstände der Spannungsteiler 42 und 46 sind so bestimmt, daß die für die Mitte der Kondensatorgruppe
36 erreichte Frequenz das optimale Auflösungsvermögen des Massenspektrometers 10 und die
optimale Aufzeichnungsempfindlichkeit des Registriergeräts 15 gewährleisten.
Beim Betrieb dieser Ausführungsform wird die Anfangsablesung des Registriergerätes 15 durchgeführt,
wenn das Gerät in Stellung A ist. Nach einer Umdrehung der Welle 31 des Motors 30 um 360° schaltet
sich das Gerät in die Stellung B und nach einer weiteren Umdrehung um 360° in die Stellung C. Weitere
Stellungen könnten erreicht werden, indem zusätzliche Kondensatorgruppen für den Oszillator 11 a und zusätzliche
Widerstände in den Spannungsteilern 42 und 46 vorgesehen werden. Die als Reihenschaltungen dargestellten
Spannungsteiler 42 und 46 könnten auch als getrennte parallel geschaltete Widerstände ausgeführt
sein, um die größtmögliche Anpassung der Auswahl der Hochfrequenzspannungsamplitude und der Aufzeichnungsempfindlichkeit
für jede abzutastende Masse zu erreichen.
Offenbar könnte auch die in Fig. 1 gezeigte Anordnung zur Gewinnung eines berichtigenden Steuersignals
in Fig. 2 angewendet werden. Der Spannungsteiler 42 in Fig. 2 könnte also ähnlich wie das Potentiometer
16 in Fig. 1 dazu herangezogen werden, ein hochfrequentes Signal für eine selbsttätige Amplitudenregelungsschaltung
wie in Fig. 1 zu erzeugen.
Ebenso wie in Fig. 1, wo der Kondensator 12 durch ein Potentiometer ersetzt werden konnte, das einen
stromgesteuerten Oszillator steuert, ist es in Fig. 2 möglich, die Kondensatorgruppen 35., 36, 37 und 38
durch veränderliche Widerstände zu ersetzen, um einen stromgesteuerten Hochfrequenzoszillator zu betreiben.
Der Vorteil dieser Ausführungsform besteht
darin, daß die Abstimmeinrichtungen bequemer fern vom Oszillator aufgestellt werden können, als dies bei
Kondensatoren der Fall ist.
Das folgende Beispiel einer Messung mit einem erfindungsgemäßen Massenspektrometer wird mitgeteilt,
um erstens die Erfindung noch deutlicher hervortreten zu lassen und zweitens die Vorteile zu zeigen, die bezüglich
Auflösung und Empfindlichkeit erreicht werden können. Die mitgeteilten spezifischen Werte stellen
aber in keiner Weise eine Beschränkung der Erfindung dar.
Ein Ionenresonanzmassenspektrometer der beschriebenen Art, worin die Ionen in einer Spiralbahn beschleunigt
werden, wurde in mehreren Tests verwendet, um die Ionen von Normalbutan mit gewissen
Massenzahlen, nämlich den Massenzahlen 58, 43, 29 und 15 zu messen. In Test 1 wurde die Amplitude der
Hochfrequenzspannung durchgängig auf 1,4 Volt, in Test 2 auf 3,6 Volt festgehalten. In Test 3 wurde die
Hochfrequenzspannung erfindungsgemäß folgendermaßen automatisch eingeregelt:
Massenzahl | Volt |
58 | 1,44 |
43 | 1,70 |
29 | 2,50 |
15 | 3,60 |
Folgende Resultate wurden erzielt:
Test 1 | |||||||
Massenzahl .... | 58 | 43 | 29 | 15 | |||
Gipfelhöhe* .... Auflösung, 0/0** |
65 | 517 | 202 | 7 | |||
98,5 | 100,0 | 100,0 | 100,0 | ||||
Gipfelgestalt ... | gut | scharf | scharf | scharf | |||
Test 2 | |||||||
Massenzahl .... | 58 | 43 | 29 | 15 | |||
Gipfelhöhe* .... Auflösung, °/o** |
90 | 775 | 333 | 19 | |||
0 | 85,0 | 98,5 | 100,0 | ||||
Gipfelgestalt ... | asymme | asymme | gut | gut | |||
trisch | trisch | ||||||
Test 3 | |||||||
Massenzahl .... | 58 | 43 | 29 | 15 | |||
Gipfelhöhe* .... Auflösung, %** |
65 | 590 | 284 | 17 | |||
98,5 | 99,9 | 100,0 | 100,0 | ||||
Gipfelgestalt ... | gut | gut | gut | gut |
* Ionenströme, ausgedrückt in Skalenteilen des Registrierstreifens.
** Bedeutet das Verhältnis der Höhe eines Gipfels über dem Tal zwischen ihm und dem benachbarten Gipfel, geteilt durch
die Höhe des betreffenden Gipfels über der GrundHnie für verschwindenden Inonenstrom, ausgedrückt in v. H. Die betreffenden
Gipfelpaare sind: 58 und 57, 43 und 42, 29 und 28, 15 und 14.
Aus den Ergebnissen von Test 3 erkennt man, daß durch Amplitudenänderung der Hochfrequenzspannung
im umgekehrten Verhältnis zur Massenzahl ein gleichmäßigerer Betrieb des Hochfrequenzionenresonanzmassenspektrometers
möglich ist. Insbesondere sieht man, daß in Test 3 bessere Gesamtauflösung erreicht
wurde als in Test 2 und daß in Test 3 im ganzen bessere Empfindlichkeit als in Test 1 erreicht wurde.
Man erkennt also, daß durch Amplitudenänderung der Hochfrequenzspannung im umgekehrten Verhältnis
zur Massenzahl die Erreichung der optimalen Auf-
Claims (5)
1. Verfahren zur Analyse der Zusammensetzung einer gasförmigen Probe mittels eines Hochfrequenzionenresonanzmassenspektrometers
mit einem elektrischen Hochfrequenzfeld quer zum Elektronenstrahl und einem magnetischen Feld senkrecht
zum elektrischen Feld, worin die Frequenz des elektrischen Hochfrequenzfeldes geändert wird, um
nacheinander die Mengen der Ionen mit verschiedenen wt/e-Verhältnissen zu messen, mit dem Ziel,
bei angemessener Empfindlichkeit ein bestmögliches Auflösungsvermögen des Spektrometers für
Ionen mit jedem gegebenen We-Verhältnis zu erreichen, dadurch gekennzeichnet, daß die Amplitude
des elektrischen Feldes in umgekehrter Richtung wie das mle-Verhältnis verändert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß während der Analyse gleichzeitig die
Aufzeichnungsempfindlichkeit verändert wird, indem die Verstärkung des Ionenstromes so eingestellt
wird, daß jeweils die höchstmögliche Aufzeichnungsempfindlichkeit erzielt wird.
3. Hochfrequenzionenresonanzmassenspektrometer zur Ausführung des Verfahrens nach Anspruch
1 unter Verwendung der vereinigten Wirkung eines Magnetfeldes und eines dazu senkrechten elektrischen Hochfrequenzfeldes, um
Ionen mit verschiedenen We-Verhältnissen zu trennen, wobei die Hochfrequenzspannung an
mehrere Kondensatorplatten in der Ionisierungskammer angelegt wird, mit einem Oszillator, der
ein elektrisches Hochfrequenzfeld mit veränderlicher Frequenz liefern kann, gekennzeichnet durch
zwischen dem Ausgang des Oszillators und den Kondensatorplatten eingeschaltete Mittel, um die
Amplitude des Hochfrequenzfeldes im umgekehrten Sinn wie die Frequenz desselben zu verändern.
4. Anordnung nach Anspruch 3 mit Kondensatorplatten zur Erzeugung eines elektrischen
Hochfrequenzfeldes in der Ionisierungskammer und einem Hochfrequenzoszillator mit Abstimmkondensator,
gekennzeichnet durch Mittel zur Erzeugung eines Bezugsgleichpotentials, Mittel zur
Änderung dieses Bezugspotentials gleichzeitig mit der Frequenzänderung der an die Platten angelegten
Spannung, Mittel zum Amplitudenvergleich dieser Spannung mit dem Bezugspotential und
Mittel zur Veränderung der Hochfrequenzspannung derart, daß sie mit dem Bezugspotential übereinstimmt.
5. Anordnung nach Anspruch 4, wobei der Abstimmkondensator von einem Motor durchgedreht
wird, gekennzeichnet durch einen Kathodenverstärker, dessen erstes Steuergitter an den Oszillator
und dessen Kathode an die Kondensatorplatten in der Ionisierungskammer angeschlossen ist, ferner
durch ein Potentiometer, das von einem Gleichstrom durchflossen wird und dessen Abgriff durch
den Motor laufend verstellt wird, während ein Differenzverstärker mit seinem Eingang an den
Abgriff des Potentiometers und mit seinem Ausgang an ein zweites Steuergitter des Kathodenverstärkers
angeschlossen ist, sowie durch einen Gleichrichter, dessen Eingang an die Kathode des
Kathodenverstärkers und dessen Ausgang an den Eingang des Differenzverstärkers angeschlossen ist.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Patentschriften Nr. 873 765, 944 900.
Deutsche Patentschriften Nr. 873 765, 944 900.
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US435524A US2798956A (en) | 1954-06-09 | 1954-06-09 | Ion resonance mass spectrometer |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1061542B true DE1061542B (de) | 1959-07-16 |
Family
ID=23728744
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DEG17338A Pending DE1061542B (de) | 1954-06-09 | 1955-06-08 | Verfahren und Vorrichtungen zur Massenspektrometrie |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US2798956A (de) |
DE (1) | DE1061542B (de) |
FR (1) | FR1134531A (de) |
GB (1) | GB777005A (de) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2967932A (en) * | 1957-01-15 | 1961-01-10 | Core Lab Inc | Gas detecting and analyzing methods and apparatus |
NL109528C (de) * | 1958-03-15 | |||
US4959543A (en) * | 1988-06-03 | 1990-09-25 | Ionspec Corporation | Method and apparatus for acceleration and detection of ions in an ion cyclotron resonance cell |
GB0028586D0 (en) * | 2000-11-23 | 2001-01-10 | Univ Warwick | An ion focussing and conveying device |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE873765C (de) * | 1950-09-16 | 1953-04-16 | Csf | Massenspektrometer mit Laufzeit-Selektion und Frequenzmodulation |
DE944900C (de) * | 1953-12-24 | 1956-06-28 | Wolfgang Paul Dr Ing | Verfahren zur Trennung bzw. zum getrennten Nachweis von Ionen verschiedener spezifischer Ladung |
-
1954
- 1954-06-09 US US435524A patent/US2798956A/en not_active Expired - Lifetime
-
1955
- 1955-06-08 DE DEG17338A patent/DE1061542B/de active Pending
- 1955-06-08 GB GB16485/55A patent/GB777005A/en not_active Expired
- 1955-08-02 FR FR1134531D patent/FR1134531A/fr not_active Expired
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE873765C (de) * | 1950-09-16 | 1953-04-16 | Csf | Massenspektrometer mit Laufzeit-Selektion und Frequenzmodulation |
DE944900C (de) * | 1953-12-24 | 1956-06-28 | Wolfgang Paul Dr Ing | Verfahren zur Trennung bzw. zum getrennten Nachweis von Ionen verschiedener spezifischer Ladung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB777005A (en) | 1957-06-12 |
FR1134531A (fr) | 1957-04-12 |
US2798956A (en) | 1957-07-09 |
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