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Verfahren zur Prüfung von Geräten, die elektronische oder magnetische
Sp eicheranordnungen enthalten In nachrichtentechnischen und elektronischen Geräten
werden verschiedentlich Anordnungen benutzt, die eine Speicherwirkung aufweisen.
Hierbei sind bezüglich der Anforderungen, die an die Speicheranordnung gestellt
werden, zwei Möglichkeiten zu unterscheiden.
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Bei der einen Art von Geräten bestehen die Speicheranordnungen aus
Elementen, die lediglich imstande sein müssen, wahlweise einen von zwei möglichen
Zuständen (aus/ein, ja/nein) einzunehmen. Ein Beispiel hierfür sind die Speicher
der elektrischen bzw. elektronischen Digital-Rechenmaschinen, die häufig von bistabilen
Elementen wie Relais, Speicherkernen, bistabilen Multivibratoren u. dgl. Gebrauch
machen. Die Überprüfung bzw. Überwachung dieser Elemente beschränkt sich im ailgemeinen
auf die bloße Feststellung der Funktionsfähigkeit. Erst eine geordnet zusammenwirkende
Vielzahl von derartigen Speicherelementen besitzt Speicherwirkung im eigentlichen
Sinne, nämlich die Fähigkeit der reproduzierbarren Summierung einzelner Eindrücke,
die sich hier stets nur in vorgegebenen Schritten, nach Art des Zählens, vollziehen
kann.
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Eine andere Art von Geräten benötigt dagegen Speicheranordnungen,
deren Speicherelemente außer den Extremzuständen »leer« und »voll«, denen im allgemeinen
keine Sonderstellung zukommt, alle Zwischenzustände einnehmen können. Hier besitzt
also bereits das einzelne Element eine Speicherwirkung im oben definierten Sinne,
wobei grundsätzlich ein praktisch kontinuierlicher Übergang zwischen den einzelnen
Ladezuständen möglich und vielfach auch erforderlich ist. Verhältnisse dieser Art
finden sich beispielsweise bei den auf magnetischer Basis (Band, Draht, Platte)
arbeitenden Tonspeichergeräten, bei den Bildspeicherröhren sowie bei Ikonoskopen
und ähnlichen Ladungsspeichern. In allen diesen Fällen interessiert der funktionelle
Zusammenhang zwischen der Eingangs- und der Ausgangsgröße, dem veranlassenden Vorgang
einerseits und der dem Speicher entnehmbaren Anzeige andererseits. Dieser Zusatz
menhang wird durch die Kennlinie des Speichers dargestellt, deren Ermittlung und
Überwachung daher von großer praktischer Bedeutung ist.
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Um eine solche Kennlinie aufzunehmen, könnte man beispielsweise versuchen,
den Speicher stetig zu füllen und die jeweils erzielbare Summierung stetig zu messen.
Die quantitative Festlegung einer solchen Füllung ist jedoch insbesondere bei Speichern
für sehr schnelle Vorgänge schwierig, weil Zeitkonstanten und nichtlineare Kennlinien
von Schaltelementen nicht übersehbare Fehler hervorrufen können. Bei manchen Speicheranordnungen,
wie Bildspeichern und Ikonoskopen, lassen sich die Kennlinien durch übliche Meß-
verfahren
sehr schwer oder überhaupt nicht ermitteln.
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So ist z. B. die Aufladekurve eines einzelnen Punktes, der sich hochisoliert
von seiner Umgebung als Kapazitätselement auf dem Speicherschirm eines Ikonoskops
befindet, durch ein einfaches Meßverfahren nicht zu ermitteln.
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Die Erfindung verfolgt das Ziel, diese Schwierigkeiten durch ein
besonderes Verfahren zum Prüfen von Geräten der zweitgenannten Art, und zwar ihrer
Speicheranordnungen zu überwinden und insbesondere die rasche Feststellung und unmittelbare
optische Anzeige der Speicherkennlinie zu ermöglichen.
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Das Wesen der Erfindung besteht darin, daß der Speicheranordnung
des zu prüfenden Gerätes in periodischer Folge Gruppen von gleichen, äquidistanten
Ladeimpulsen zugeführt werden, wobei innerhalb einer solchen, einem Prüfzyklus entsprechenden
Folge von Gruppen die Anzahl der Impulse von Gruppe zu Gruppe um einen konstanten
Betrag a zu-oder abnimmt; die so bewirkten Aufladungen werden sodann jeweils abgetastet,
und die Größe der einzelnen Entladeimpulse wird mittels einer geeigneten Anzeigevorrichtung
in Zuordnung zu den Ladeimpulsanzahlen sichtbar gemacht, beispielsweise auf dem
Bildschirm eines Oszillographen. Die einzelnen Impulsgruppen können hierbei aus
einer laufenden Folge gleicher, äquidistanter (Grund-) Impulse in der Weise gewonnen
werden, daß eine Aufblendschaltung nur die jeweils benötigten Impulse durchläßt,
indern die Aufblendzeit von Gruppe zu Gruppe um einen jeweils gleichen Betrag wächst
oder abnimmt.
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Dieses Verfahren weist gegenüber den anderen7 oben angedeuteten Möglichkeiten
zur Ermittlung der Speicherkennlinie entscheidende Vorteile auf. Durch
die
periodische Aufeinanderfolge der zu einem Prüfzyklus gehörenden Impulsgruppen wird
bezüglich der Eingangsgröße des Speichers eine Reihe von Meß-I unkten definiert,
deren Stufenabstände ohne irgendwelche weiteren Hilfsmittel oder Kontrollen genau
gleich sind, da sie auf der Gleichheit der Impulse der ursprünglichen Impulsfolge
basieren. Diese ergibt sich wiederum aus dem Umstand, daß eine impulserzeugende
Apparatur unter gleichen Bedingungen stets gleiche Impulse liefert, ohne daß dabei
Nichtlinearitäten oder störende Zeitkonstanten dieser Apparatur zur Wirkung kommen
können. Auch ist es auf einfache Weise möglich, sowohl die zeitliche Aufeinanderfolge
der Impulsgruppen (die Gruppenperiode) als auch die Stufen abstände der Meßpunkte
durch entsprechende Umschaltung zu variieren, wobei auch hier die ursprüngliche
Folge der Grundimpulse als exakt reproduzierbares Bezugsmaß dienen kann.
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Der Grundgedanke der Erfindung, weitere besonders vorteilhafte Ausgestaltungen
des erfindungsgemäßen Verfahrens sowie die wesentlichen Elemente einer zu seiner
Durchführung geeigneten Schaltungsanordnung sollen nachstehend an Hand der Zeichnung
beispielsweise erläutert werden.
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Fig. 1 zeigt ein Impulsschema, aus dem in vereiniachter Weise die
grundsätzliche Methode zur Gewinnung der Impulsgruppen hervorgeht, während in Fig.
2 eine Möglichkeit der unmittelbaren Darstellung der Speicherkennlinie auf dem Schirm
eines Oszillographen gezeigt ist; Fig. 3 dient zur näheren Erläuterung der Einzelvorgänge
bei der Gruppenbildung; Fig. 4 schließlich stellt ein vereinfachtes Blockschaltbild
einer Schaltungsanordnung dar, die zur Erzeugung der verfahrensgemäßen Prüfzyklen
geeignet ist.
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Hierbei wird das Verfahren so durchgeführt, daß die Impulsanzahl
in den aufeinanderfolgenden Impulsgruppen von Gruppe zu Gruppe ansteigt. Es wäre
jedoch im Rahmen des Erfindungsgedankens auch ebenso möglich, die Impulsanzahl,
von einem gegebenen Höchstwert beginnend, von Gruppe zu Gruppe abnehmen zu lassen.
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In zweckmäßiger Weise werden die zur Prüfung dienenden Impulsgruppen
aus einer Folge gleicher, äquidistanter Grundimpulse (Fig. 1 a) mit einem gegenseitigen
zeitlichen Abstand t abgeleitet (Impulsperiode). Durch Frequenzteilung 1: rn gewinnt
man aus ihr eine langsamere Folge äquidistanter Startimpulse (Fig. 1 b), die den
Beginn der einzelnen, zur Prüfung dienenden Impulsgruppen auslösen und deren Abstand
m' t daher als Gruppenperiode bezeichnet werden soll. Die Startimpulse öffnen jeweils
eine Ausblendschaltnng, die so beschaffen ist, daß die Länge der erzeugten Ausblendimpulse
(Fig. lc) mit jedem weiteren Startimpuls um einen konstanten Betrag, nämlich um
das Zeitintervall t oder ein Vielfaches hiervon, wächst. Dieser Ausblendschaltung
werden nun die ursprünglichen Grundimpulse der Fig. la zugeführt, so daß dahinter
eine Folge von Impulsgruppen mit der Gruppenperiode m t verfügbar ist, deren Impulsanzahl
von Gruppe zu Gruppe um denselben Betrag - im Beispiel um je einen Impuls - anwächst
(Fig ld). Wenn die Zahl der ausgeblendeten Impulse einen bestimmten Betrag erreicht
hat, der entsprechend den Gegebenheiten des zu prüfenden Gerätes gewählt werden
kann, wird die Folge der Impulsgruppen abgebrochen. Eine solche Folge von Impulsgruppen
wachsender (oder abnehnieder) Impulsanzahl soll als Prüfzyklus bezeichnet
werden.
Díe Prüfung eines Gerätes, welches z. B. einen elektronischen Bildspeicher aufweist,
kann nun in folgender Weise vor sich gehen, wobei angenommen ist, daß sich die Prüfung
jeweils auf einen einzelnen Speicherpunkt erstrecken soll.
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Der Schreibstrahl wird synchron mit der Impulsperiode t der Grundimpulse
periodisch über eine Zeile geführt. Wenngleich es möglich wäre, dies in der Weise
zu bewirken, daß eine in dem betreffenden Gerät vorhandene Ablenkstufe durch die
Grundimpulse synchronisiert wird, ist es zweckmäßiger, grundsätzlich bereits in
dem zur Durchführung des Verfahrens dienenden Prüfgerät eine geeignete sägezahnförmige
Ablenkspannung mit der Periode t bereitzustellen. Die vom Prüfgerät kommenden Impulse
werden dazu verwendet, die Stromstärke des Schreibstrahles aufzutasten, so daß also
jedesmal, wenn ein Impuls eintrifft, ein und demselben Speicherelement eine definierte
Ladungsmenge eingeschrieben wird.
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Das Prüfgerät kann ferner eine Einrichtung erhalten, die es gestattet,
die Lage der Prüfimpulse relativ zu der den Schreibstrahl ablenkenden Sägezahnspannung
zu verschieben, so daß also die Prüfung wahlweise an jeder gewünschten Stelle der
Schreibzeile vorgenommen werden kann. Ferner steht eine weitere Sägezahnspannung
(Fig. ie) zur Verfügung, die mit der Periode in t, also der Gruppenperiode, eine
Ab tastung der betreffenden Speicherzeile bewirkt.
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Während einer jeden Gruppenperiode wird der Schreibstrahl m-mal über
die Zeile geführt und schreibt dem zu prüfenden Speicherelement so viele Ladungen
ein, als die betreffende Impulsgruppe Impulse aufweist. Im Beispiel der Fig. 1 würde
demnach von den in (= 10) Schreibvorgängen innerhalb der ersten Gruppenperiode (1
in Fig. id) nur der erste eine Ladung in das betreffende Speicherelement schreiben,
während die restlichen in- 1 Schreibvorgänge leer durchlaufen. Die durch diesen
einen Ladeimpuls bewirkte Aufladung des Speicherelementes wird abgetastet und dem
Anzeigegerät zugeführt.
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Innerhalb der zweiten Gruppenperiode (2 in Fig. 1 d) bringen der erste
und der zweite Schreibvorgang je einen Ladeimpuls auf das Speicherelement auf, die
restlichen m-2 Schreibvorgänge laufen leer durch.
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Dasselbe gilt für die Gruppenperioden 3, 4 usw.
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Die durch jede der Impulsgruppen bewirkte Aufladung wird jeweils
abgetastet, und die einzelnen Entladeimpulse (Summenimpulse) werden in Zuordnung
zu den Ladeimpulsanzahien auf dem Anzeigegerät sichtbar gemaaht. Vorzugsweise wird
hierfür ein Oszillograph verwendet, auf dessen Schirm gemäß Fig. 2 die einzelnen
Entladeimpulse nebeneinander als vertikale Striche unterschiedlicher Größe sichtbar
gemacht werden, wobei also z. B. der mit 1 bezeichnete Strich derjenigen Impulsgruppe
zugeordnet ist, die einen Ladeimpuls eingeschrieben hat, der mit 2 bezeichnete der
Impulsgruppe mit zwei Ladeimpulsen usw. Der am weitesten rechts befindliche Strich
entspricht der längsten Impulsgruppe des gesamten Prüfzyklus, die hier mit elf Impulsen
angenommen ist.
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Insbesondere bei der bevorzugten oszillographischen Darstellung wird
man den Prüfvorgang nicht nach Durchlauf eines einzigen Prüfzyklus abbrechen, sondern
eine Vielzahl von Prüfzyklen periodisch sich wiederholen lassen. Durch Synchronisierung
der Ablenkung des Oszillographen mit der Wiederholungsfrequenz der Prüfzyklen erzielt
man ein stehendes Bild, aus dem unmittelbar die Kennlinie des geprüften Speicherpunktes
(gestrichelt) zu entnehmen ist. Das erfindungsgemäße Verfahren macht es somit möglich,
unter
dauernder optischer Kontrolle die Betriebsdaten (Spannungen, Strahlstrom) eines
Speichers in kürzester Zeit so einzustellen, daß die günstigste Kennlinie erzielt
wird.
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Vorzugsweise läßt man - in Abweichung von der grundsätzlichen Darstellung
der Fig. 1 - die erste Gruppenperiode nicht mit einem, sondern mit null Ladeimpulsen
beginnen, wie in Fig. 2 bereits angedeutet ist.
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An Stelle eines Oszillographen könnten im Rahmen der Erfindung auch
andere Anzeigegeräte benutzt werden. Es wäre z. B. möglich, jeder Gruppenperiode
(Impulsgruppe) ein elektronisches Zählgerät zuzuordnen, so daß nach Ablauf eines
Prüfzyklus die den einzelnen Ladeimpulsanzahlen entsprechenden Ordinaten der Speicherkennlinie
als Zahlenwerte vorliegen.
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Durch Betätigung der erwähnten Impulsverschiebung kann man in der
beschriebenen Weilse die Speicherzeile an jedem gewünschten Punkt abtasten und so
das Bild der dort auftretenden Speicherkennlinie erhalten. Dies ist jedoch nicht
die einzige Möglichkeit, den Prüfvorgang durchzuführen. Man könnte beispielsweise
auch so vorgehen, daß die aufeinanderfolgenden Impulsgruppen eines Prüfzyklus der
Reihe nach einem jeweils anderen Speicherelement zugeführt werden. In dieser Form
gestattet es das Verfahren, bei der Aufnahme der Speicherkennlinie auch die gegenseitige
Beeinflussung nebeneinanderliegender Speicherelemente zu erfassen. Hierbei kann
man wie oben die durch jede Impulsgruppe erzielte Ladungssumme jeweils innerhalb
der betreffenden Gruppenperiode abtasten. Da jedoch diese Ladungssummen nebeneinander
in verschiedenen Speicherelementen gesammelt sind, wäre es auch möglich, sie jeweils
erst nach Ablauf eines ganzen Prüfzyklus mit einem einzigen Abtastvorgang festzustellen
und anzuzeigen.
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Eine weitere Durchfiihrungsmöglichkeit unter gleichzeitiger Erfassung
einer Reihe von Speicherelementen besteht darin, daß bereits innerhalb einer jeden
Gruppenperiode der erste Impuls der betreffenden Impulsgruppe dem ersten, der zweite
dem zweiten Speicherelement, also allgemein der jeweils n-te Impuls (soweit in der
betreffenden Gruppe überhaupt vorhanden) dem n-ten Speicherelement zugeführt wird,
wenn die Impulsgruppen um jeweils einen Impuls anwachsen. Beträgt der Zuwachs, wie
es ebenfalls eingerichtet werden kann, von Gruppe zu Gruppe nicht einen Impuls,
sondern a Impulse, dann würden sinngemäß jeweils die zwischen dem « (,i- 1)-ten
und (a n+l)-ten Impuls liegenden Impulse jeder Gruppe dem n-ten Speicherelement
zugeführt werden.
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Abgetastet wird jeweils nach Durchlauf eines Prüfzyklus.
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Das gleichzeitige Schreiben und Abtasten innerhalb einer Gruppenperiode
ist z. B. bei elektronischen Speichern dann durchführbar, wenn die Speicheranordnung
des zu prüfenden Gerätes je einen selbständigen Schreib- und Lesestrahl aufweist.
Ansonsten wird zwischen die einzelnen Gruppenperioden bzw.
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Prüfzyklen jeweils eine das Abtasten ermöglichende Pause eingeschoben.
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Der grundsätzliche Aufbau eines Gerätes zur Erzeugung der bei dem
Verfahren benötigten Prüfzyklen ist in Form eines vereinfachten Blockschaltbildes
in Fig. 4 dargestellt. Hierbei ist jede Verbindungsleitung durch einen Buchstaben
bezeichnet, durch den auf den Impulsverlauf gemäß dem betreffenden Teilbild der
Fig. 3 hingewiesen ist. In der Schaltungseinheit 5 befindet sich z. B. ein mit 1000
Hz frei laufender Sperrschwinger. Dieser erzeugt eine Folge von Grund-
impulsen (Fig.
3a), deren Periode t ein Bezugsmaß für sämtliche impulsartigen Vorgänge im Gerät
bildet.
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Aus den Grundimpulsen wird in einer Stufe 6 eine Sägezahnspannung
b gebildet, deren Vorlaufdauer auf bekannte Art einstellbar ist. Der Spannungsrücklauf
dieses Sägezahnes, der in jeweils starrer Zuordnung zu dem auslösenden Grundimpuls
erfolgt, stößt diejenigen weiteren Stufen an, die die Ausblendimpulse erzeugen.
Ferner wird die Sägezahnspannung b einer Amplituden-Vergleichsschaltung 7 zugeführt,
in der eine Impulsfolge ausgelöst wird, deren Impulse jeweils um einen bestimmten
Betrag gegenüber dem Beginn des Sägezahnverlaufes verzögert sind. Das Ausmaß der
Impulsverschiebung läßt sich durch Verändern einer bei 8 zugeführten Vergl eichsspannung
variieren. Da von den aus den Grundimpulsen abgeleiteten, in Schaltung 7 erzeugten
Impulsen jeweils nur eine bestimmte Anzahl, entsprechend der jeweiligen Größe der
Impulsgruppen, dem Prüfobjekt zugeleitet werden darf, werden in der Stufe 7 außer
der Vergleichsspannung noch die Ausblendimpulse a eingespeist. Nur wenn diese positiv
sind, wird ein von Stufe 6 her angestoßener Impuls tatsächlich ausgelöst. Die so
gebildeten Impulsgruppen f gelangen in eine Ausgangsstufe 9, wo aus den einzelnen
Impulsen Rechteckimpulse gebildet werden, deren Form durch nachgeschaltete Vierpole
erforderlichenfalls verzerrt werden kann. Zur Gewinnung der Ausblendimpulse e werden
die Rücklaufimpulse aus der Stufe 6 an zwei Zählschaltungen 10 und 11 weitergeleitet.
Die Schaltung 10 zählt jeweils bis m (im Beispiel der Fig. 3 ist nz = 3), stellt
also einen Frequenzteiler 1 in dar, dessen Spannungsverlauf durch die Treppenkurve
der Fig. 3 c schematisch veranschaulicht ist. Die Zählschaltung 11 zählt gemäß Fig.
3 d bis +1. Nach der Zeit in t gibt die Stufe 10, nach der Zeit (mol) t die Stufe
11 einen Impuls an eine Stufe 12, wobei jeweils der erste Impuls die Stufe öffnet
und der zweite sie wieder sperrt. Auf diese Weise werden Impulse (Fig. 3 e) gestaffelter
Länge gebildet, die dann die Amplitudenvergleichsstufe 7 zur Bildung der Impulsgruppen
f auftasten. Hieraus ergibt sich auch, daß bei Koinzidenz der Ausgangsimpulse von
10 und 11, die nach jeder (in+ 1) -ten Gruppenperiode stattfindet, wieder ein neuer
Prüfzyklus beginnt, dessen erste Gruppenperiode null Impulse enthält. In einer besonderen
Koinzidenzschaltung 13 wird jeweils nach der Zeit m in. (n+l) 1) t, entsprechend
einem Prüfzyklus, ein Impuls freigegeben, der eine als Ablenkspannung z. B. für
den Lesestrahl oder des Anzeigegerätes benutzbare Sägezaihnschwingung auslöst.
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Das vorstehend beschriebene Verfahren ist nicht nur zum Prüfen von
Geräten mit elektronischen oder magnetischen Halbtonspeichern (in fernseh- oder
tontechnischen Apparaturen) u. dgl. verwendbar, sondern eignet sich in besonderem
Maße auch zum Prüfen von solchen Geräten, bei denen auf Grund ihrer eigenen Arbeitsweise
bereits äquidistante Impulsgruppen auftreten bzw. Additionsvorgänge in Speichern
vorgenommen werden. Dies ist z. B. bei Radargeräten der Fall. Fast alle Radargeräte
arbeiten nach dem Speicherprinzip, d. h., ihre Impulsfolgefrequenz ist so hoch,
daß jedes Ziel trotz des räumlich bewegten Antennendiagramms von mehreren, oft sogar
von sehr vielen aufeinanderfolgenden Impulsen erfaßt wird.
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Um alle diese Impulse auszunutzen, macht man vom sogenannten Speicherprinzip
Gebrauch. Alle vom gleichen Zielobjekt zurückkehren den Impulse werden jeweils dem
gleichen Speicherelement (z. B. Leuchtfleck einer Bildröhre oder Kondensator eines
Ladungsspeichers
) zugeführt und dort zu einer Summenanzeige addiert.
Diese Summierung führt zur Verbesserung des Rauschabstandes, zur verbesserten Erkennbarkeit
von Zielen mit stark schwankenden Reflexionseigenschaften und zur Verminderung der
Wirkung von Störsendern. Die richtige Einstellung der Speicherwirkung ist daher
besonders wichtig, sie ist jedoch schwierig. Durch das erfindungsgemäße Verfahren
werden diese Schwierigkeiten überwunden, wobei bei der Untersuchung solcher Geräte
deren normale Arbeitsbedingungen in sehr vorteilhafter Weise nachgehildet werden
können.
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Unter anderem gestattet die vorgesehene Verschiebbarkeit der Prüfimpulse
gegenüber dem Schreibvorgang, damit ein Eingangssignal nachzubilden, welches einem
radial bewegten Ziel entspricht. Durch eine zusätzliche Aufblendschaltung kann erreicht
werden, daß in rhythmischer Wiederholung nur während bestimmter Zeitintervalle,
die z. B. mit der Bewegung einer Suchantenne des betreffenden Gerätes synchronisiert
sind, Prüfimpulse in das Gerät eingespeist werden. Durch dieselbe oder eine ähnliche
Aufblendschaltung kann man die Amplitude der dem Gerät zugeführten Impulsgruppen
bzw. Folgen solcher Gruppen in rhythmischer Wiederholung gemäß einem Spannungsverlauf
steuern, der mit der normalen Verwendungsweise des betreffenden Gerätes in funktionellem
Zusammenhang steht, beispielsweise das Strahlungsdiagramm einer Suchantenne nachbildet.
Wenn man mit dieser Anordnung nicht das ganze Radargerät, sondern nur dessen speichernden
Teil allein prüfen will, werden die Prüfimpulse erfindungsgemäß durch eine Rauschspannung
ergänzt, weil auch das Radargerät rauscht und dieses Rauschen die optimale Einstellung
des Speichers beeinflußt. Statt des Rauschens muß man bisweilen andere Störungen
hinzufügen (z.B. nichtsynchronisierte Hilfsimpulse zur Nachbildung von Störsendern),
wenn nämlich das Radargerät systematisch solchen Störungen ausgesetzt ist und die
Speicherkennlinie im Hinblick auf optimale Unterdrückung der betreffenden Störungen
eingestellt werden muß. Ein Zusatzgerät zur Nachbildung von Störspannungen wird
daher in vielen Fällen ein wichtiger Bestandteil der Prüfapparatur sein.
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Das erfindungsgemäße Verfahren beschränkt sich nicht auf die beispielsweise
erläuterten Einzelheiten, sondern kann verschiedene Abwandlungen erfahren, ohne
dadurch den Rahmen der Erfindung zu überschreiben. Es wurde beispielsweise bereits
erwähnt, daß sich die Anzahl der Impulse von Gruppe zu Gruppe auch mehr als einen
Impuls ändern kann.
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Hierbei würden die einzelnen Impulsgruppen der Reihe nach z. B. aus
a O, a 1.... a a'(in-1), a Ladeimpulsen bestehen. Wenn man sehr viele Impulse erzeugen
muß, kann man die Zählschaltungen einfacher halten. indem man innerhalb der Impulsgruppen
gemäß Fig. 1 d nur wendige Impulse erzeugt, aber jeden dieser Impulse dazu verwendet,
eine Impulsschaltung anzustoßen, die zu jedem anstoßenden Impuls eine Folge gleicher
Impulse bestimmter Zahl erzeugt, so daß die Zahl der Prüfimpulse dadurch in delinierter
Weise um einen vorgeschriebenen Faktor vervielfacht wird. Insbesondere kann diese
Vervielfacherschaltung auch zu jedem anstoßenden Impuls einen Doppel impuls erzeugen,
d. h. zwei in sehr kurzem, vorzugsweise einstellbarem Abstand aufeinanderiaigel:de
Impulse. Führt man diese unter gleich zeitiger .Äblenlung des Scllreibstrahles der
Speicherfläche zu. so kann man auch auf diese Weise das Auflösungsvermögen des Speichers,
d. h. die gegenseitige
Beeinflussung benachbarter Elemente und den kleinsten Abstand
noch unterscheidbarer Eingangssignale messen.
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PATENTANSPROCHE: 1. Verfahren zur Prüfung von Geräten, die elektronische
oder magnetische Speicheranordnungen mit normalerweise stetiger Speicheraufladecharakterilstik,
wie Bildspeicherröhren, Magnetbänder od. dgl., enthalten, insbesondere zur Feststellung
und optischen Darstellung der Speicherkennlinie solcher Anordnungen, dadurch gekennzeichnet,
daß der Speicheranordnung des zu prüfenden Gerätes in periodischer Folge Gruppen
von gleichen, äquidistanten Ladeimpulsen zugeführt werden, wobei innerhalb einer
solchen, einem Prüfzyklus entsprechenden Folge von Gruppen die Anzahl der Impulse
von Gruppe zu Gruppe um einen konstanten Betrag a zu- oder abnimmt, und daß die
so bewirkten Aufladungen jeweils abgetastet werden und die Größe der einzelnen Entladeimpulse
mittels einer geeigneten Anzeigevorrichtung in Zuordnung zu den Ladeimpuisanzahlen
sichtbar gemacht wird.