DE10392315T5 - Optische Konfiguration und Verfahren für differentielle Brechungskoeffizientenmessungen - Google Patents
Optische Konfiguration und Verfahren für differentielle Brechungskoeffizientenmessungen Download PDFInfo
- Publication number
- DE10392315T5 DE10392315T5 DE10392315T DE10392315T DE10392315T5 DE 10392315 T5 DE10392315 T5 DE 10392315T5 DE 10392315 T DE10392315 T DE 10392315T DE 10392315 T DE10392315 T DE 10392315T DE 10392315 T5 DE10392315 T5 DE 10392315T5
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- optical
- configuration according
- sub
- optical configuration
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- AKIYFMCSWFMLQL-UHFFFAOYSA-N CCC1C(C)(C2)CC2C1 Chemical compound CCC1C(C)(C2)CC2C1 AKIYFMCSWFMLQL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 0 CCCC1(C2C3C4C5C6C(CCCCC*)C7IC8C6C6(C)C4C(C)C6)C7C58C23[C@@]1C Chemical compound CCCC1(C2C3C4C5C6C(CCCCC*)C7IC8C6C6(C)C4C(C)C6)C7C58C23[C@@]1C 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/4133—Refractometers, e.g. differential
Abstract
Optische
Konfiguration zur Verwendung beim Messen der Brechungskoeffizientendifferenz zwischen
einer Testprobe und einer Referenzprobe, wobei die optische Konfiguration
aufweist:
einen optischen Pfad;
eine erste optische Übergangsfläche, die mit der Testprobe zusammenhängt;
eine zweite optische Übergangsfläche, die mit der Referenzprobe zusammenhängt; ein Beleuchtungsbündel, das entlang dem optischen Pfad verläuft, wobei Licht von dem Beleuchtungsbündel auf die erste und die zweite optische Übergangsfläche einfällt, um ein erstes Teilbündel, das durch den Brechungskoeffizienten der ersten Testprobe definiert ist, und zweites Teilbündel bereitstellt, das durch den Brechungskoeffizienten der Referenzprobe definiert ist;
eine linear abgetastete Anordnung, die eine Mehrzahl von photoelektrischen Zellen aufweist, die jeweils während des Abtastens einen Austrittspuls mit einer Amplitude bereitstellen, die durch den Beleuchtungsgrad der jeweiligen Zelle durch einfallendes Licht bestimmt ist; und
ein optisches Mittel zum Richten des ersten und des zweiten Teilbündels, um unterschiedliche jeweilige Segmente der linear abgetasteten Anordnung zu beleuchten, wobei das...
einen optischen Pfad;
eine erste optische Übergangsfläche, die mit der Testprobe zusammenhängt;
eine zweite optische Übergangsfläche, die mit der Referenzprobe zusammenhängt; ein Beleuchtungsbündel, das entlang dem optischen Pfad verläuft, wobei Licht von dem Beleuchtungsbündel auf die erste und die zweite optische Übergangsfläche einfällt, um ein erstes Teilbündel, das durch den Brechungskoeffizienten der ersten Testprobe definiert ist, und zweites Teilbündel bereitstellt, das durch den Brechungskoeffizienten der Referenzprobe definiert ist;
eine linear abgetastete Anordnung, die eine Mehrzahl von photoelektrischen Zellen aufweist, die jeweils während des Abtastens einen Austrittspuls mit einer Amplitude bereitstellen, die durch den Beleuchtungsgrad der jeweiligen Zelle durch einfallendes Licht bestimmt ist; und
ein optisches Mittel zum Richten des ersten und des zweiten Teilbündels, um unterschiedliche jeweilige Segmente der linear abgetasteten Anordnung zu beleuchten, wobei das...
Description
- Gebiet der Erfindung
- Die vorliegende Erfindung betrifft hauptsächlich optische Instrumente zum Messen des Brechungskoeffizienten einer Substanz und insbesondere eine optische Konfiguration und ein Verfahren zum Messen der Brechungskoeffizientendifferenz zwischen einer Testprobe und einer Referenzprobe. Die vorliegende Erfindung ist anwendbar auf differenzielle Refraktometer und Oberflächenplasmonresonanz-Biosensor-Einrichtungen (engl.: surface plasmon resonance, SPR).
- Beschreibung des Standes der Technik
- Refraktometer messen den Grenzwinkel der Totalreflektion durch Richten eines schief einfallenden, nicht parallel gerichteten Lichtbündels auf eine Oberfläche-Oberfläche Begrenzung zwischen einem Prisma mit hohem Brechungskoeffizienten und einer Probe, um einen Anteil des Lichts nach der Wechselwirkung an der Begrenzung zu beobachten. In Durchlichtrefraktometer wird Licht beobachtet, das durch die Probe und das Prisma durchgelassen wird, während im Reflektionslichtrefraktometer Licht beobachtet wird, das aufgrund von Totalreflektion an der Oberfläche-Oberfläche Begrenzung reflektiert wird. In beiden Fällen wird ein beleuchteter Bereich in einem Abschnitt eines Erfassungssichtfelds erzeugt und der Ort der Schattenlinie zwischen dem beleuchteten Bereich und dem angrenzenden dunklen Bereich in dem Erfassungssichtfeld ermöglicht ein geometrisches Ableiten des Brechungskoeffizienten der Probe. Differentielle Refraktometer, die beispielsweise in
US 5,157,454 offenbart sind, wurden zum Messen der Brechungskoeffizientendiferenz zwischen einer Testprobe und einer bekannten Referenzprobe entwickelt, wobei variable Testbedingungen, die das Meßergebnis beeinflussen, wie beispielsweise die Temperatur der Probe, das Beleuchtungsniveau, etc., "abgezogen" werden können, um ein genaueres und präziseres Meßergebnis zu erhalten. Die aus dem Stand der Technik bekannten differentiellen Refraktometer, die den Anmeldern bekannt sind, enthalten bewegte Teile, die versagen oder mit der Zeit verschleißen und/oder auf die Durchlichtvielfältigkeit beschränkt sind, um Messungen von Proben mit relativ hoher Lichtdurchlässigkeit zu unterbinden. - Optische Biosensor-Einrichtungen, die für die Analyse der Bindung von Analytmolekülen an eine Bindungsschicht durch Beobachten der Veränderungen der internen Reflektion an einer Abtastoberfläche konstruiert sind, sind auch Teil des herangezogenen Standes der Technik. Insbesondere wird in
US 5,313,264 von Ivarsson et al. ein optisches Biosensorsystem beschrieben, das eine Mehrzahl von nebeneinander liegenden Abtastoberflächen39A–D , die durch einen Lichtstreifen5 beleuchtet werden, der quer über die Abtastoberflächen sich erstreckt, und ein Verzerrungslinsensystem6 aufweist, durch das Lichtstrahlen, die von den jeweiligen Abtastoberflächen reflektiert werden, auf korrespondierende Kolonnen einer zweidimensionalen Anordnung7 von photoempfindlichen Elementen abgebildet werden. Dementsprechend können die Signale von den photoempfindlichen Elementen verarbeitet werden, um das Minimum des Reflektionsgrads zu bestimmen, das mit dem Resonanzwinkel an jeder Abtastoberfläche zusammenhängt. Obwohl das inUS 5,313,264 beschriebene System die Verwendung von bewegten Teilen vermeidet, ist es nichtsdestotrotz optisch komplex und erfordert eine zweidimensionale Anordnung, also Faktoren, die von erhöhten Kosten begleitet sind. - Schließlich sei bemerkt, daß eindimensionale (lineare) Anordnungen von photoempfindlichen Elementzellen üblich in automatischen Refraktometern verwendet werden, die konstruiert sind nicht-differentielle Ablesungen hinsichtlich einer einzelnen Testprobe zu machen. Beispiele sind auch in
US 4,640,616 (Michalik) undUS 6,172,746 (Byrne et al.) gezeigt. Jedoch kennen die Anmelder eine Grenzwinkel-Optikeinrichtung für differentielle Brechungskoeffizientenmessungen nicht, die unter Verwendung einer linearen Anordnung arbeitet, trotz der erkannten von dieser Art Anordnung gebotenen Wirtschaftlichkeit. - Kurze Zusammenfassung der Erfindung
- Deshalb ist es ein Ziel der vorliegenden Erfindung eine optische Konfiguration für differentielle Brechungskoeffizientenmessungen bereitzustellen, wobei eine Testprobe und eine Referenzprobe durch ein einzelnes Beleuchtungsbündel beleuchtet werden.
- Es ist ein zusätzliches Ziel der vorliegenden Erfindung, eine optische Konfiguration für differentielle Brechungskoeffizientenmessungen bereitzustellen, wobei sich die Konfiguration nicht auf bewegte Teile stützt.
- Es ist ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung, eine optische Konfiguration für differentielle Brechungskoeffizientenmessungen bereitzustellen, wobei erfaßtes Licht eher reflektiert als an einer optischen Übergangsfläche der Konfiguration durchgelassen worden ist.
- Es ist ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung, eine optische Konfiguration für differentielle Grenzwinkel-Brechungskoeffizientenmessungen bereitzustellen, wobei Licht, das an einer ersten und einer zweiten optischen Übergangsfläche wechselwirkt, die einer Testprobe und einer Referenzprobe entsprechen, durch eine einzelne linear abgetastete Anordnung aus photoelektrischen Zellen erfaßt wird.
- Es ist ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung, eine optische Konfiguration für differentielle Brechungskoeffizientenmessungen gemäß den vorhergehenden Zielen bereitzustellen, wobei die Konfiguration basierend auf dem Oberflächenplasmonresonanzprinzip zur Verwendung in einer Biosensor-Einrichtung arbeitet.
- Eine gemäß einer ersten Ausführungsform gemäß der vorliegenden Erfindung ausgebildeten optischen Konfiguration weist einen optischen Pfad auf, der die Meridionalebene der Konfiguration definiert. Ein Prisma mit hohem Koeffizienten in dem optischen Pfad weist eine Probenoberfläche auf, die durch eine Partition aufgeteilt ist, die in der Meridionalebene angesiedelt ist, so daß eine Testprobe und eine Referenzprobe, die von der Probenoberfläche abgestützt sind, an gegenüberliegenden Seiten der Meridionalebene angeordnet sind, um eine erste optische Übergangsfläche zu bilden, die mit der Testprobe zusammenhängt, und eine zweite optische Übergangsfläche zu bilden, die mit der Referenzprobe zusammenhängt. Ein Beleuchtungsbündel, das entlang dem optischen Pfad verläuft, beleuchtet gleichzeitig beide optischen Übergangsflächen, um ein erstes Teilbündel bereitzustellen, das durch den Brechungskoeffizienten der Testprobe definiert wird, und ein zweites Teilbündel bereitzustellen, das durch den Brechungskoeffizienten der Referenzprobe definiert wird. Ein optisches Mittel richtet das erste und das zweite Teilbündel, um unterschiedliche jeweilige Segmente einer linear abgetasteten Anordnung von photoelektrischen Zellen zu beleuchten, die in der Meridionalebene ausgerichtet sind, wobei ein Unterschied im Brechungskoeffizienten durch einen Unterschied im Ort der Schattenlinie auf der Anordnung bestimmt werden kann. In der ersten Ausführungsform weist das optische Mittel einen einzelnen Keil auf, der auf der Austrittsoberfläche des Prismas in dem Pfad des ersten Teilbündels befestigt ist, um dessen Ablenkung relativ zu dem zweiten Teilbündel zu verursachen.
- In einer der ersten Ausführungsform ähnlichen zweiten Ausführungsform ist ein zusätzlicher Keil an der Austrittsoberfläche des Prismas in dem Pfad des zweiten Teilbündels befestigt und in entgegengesetzter Orientierung relativ zu dem ersten Keil, um eine größere Trennung zwischen den Teilbündeln zu erreichen.
- Eine auf der ersten und der zweiten Ausführungsform basierende dritte Ausführungsform ist eine Anpassung der Basiskonfiguration, um Molekularwechselwirkungen zu beobachten, insbesondere die spezifische Bindung von Analytmolekülen an eine Bindungsschicht unter Anwendung des Prinzips der Oberflächenplasmonresonanz. Gemäß der dritten Ausführungsform ist ein dünner metallischer Film auf ein Dia angebracht, das auf der Probenoberfläche oder direkt an der Probenoberfläche angebracht ist und die Testprobe und die Referenzprobe sind in Kontakt mit dem metallischen Film gebracht, um eine erste und eine zweite infinitesimale Wellenoptikübergangsfläche zu definieren. In dieser Ausführungsform werden die Orte der Resonanzminima dargestellt und durch das erste und das zweite Teilbündel erfaßt.
- Wie gemäß einer vierten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung gelehrt wird, kann das optische Mittel ein Paar von Zweiachsenkeilen aufweisen, die in gegenüberliegender Art und Weise jeweils in dem Pfad des ersten bzw. des zweiten Teilbündels angeordnet sind zum sowohl Trennen der Teilbündel entlang der Achse der linear abgetasteten Anordnung als auch zum Konvergieren der Teilbündel in Richtung zur Meridionalebene, um an der linear abgetasteten Anordnung anzukommen. Als Alternative zur Verwendung von Zweiachsenkeilen kann ein Paar von Einachsenkeilen in Kombination mit einer Zylinderlinse oder ein Bi-Prismas zwischen dem Prisma und der linear abgetasteten Anordnung verwendet werden.
- Die vorliegende Erfindung umfaßt ferner Verfahren zum Messen der Brechungskoeffizientendifferenz zwischen einer Testprobe und einer Referenzprobe basierend auf den spezifizierten optischen Konfigurationen.
- Kurze Beschreibung der verschiedenen Ansichten in den Zeichnungen
- Die Natur und die Funktionsweise der vorliegenden Erfindung wird nun mit mehr Einzelheiten in der folgenden detaillierten Beschreibung im Zusammenhang mit der beiliegenden Zeichnung beschrieben, in der:
-
1A und1B seitliche schematische Ansichten einer gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ausgebildeten optischen Konfiguration zum Durchführen von differentiellen Brechungskoeffizientenmessungen basierend auf dem Grenzwinkelprinzip sind, wobei Strahlpfade für eine Testprobe (1A ) und einer Referenzprobe (1B ) jeweils gezeigt sind, wobei sowohl die Testprobe als auch die Referenzprobe Wasser sind; -
2 eine schematische Draufsicht eines optischen Übergangsflächenabschnitts der in1A und1B gezeigten optischen Konfiguration ist; -
3 eine Ansicht ähnlich der in2 ist, wobei jedoch die Testprobe eine Substanz ist, die einen höheren Brechungskoeffizienten hat als die Referenzprobe; -
4 eine schematische Vorderansicht des in2 gezeigten optischen Übergangsflächenabschnitts ist; -
5 eine schematische Ansicht ist, die ein Beispiel eines Beleuchtungsmusters zeigt, das auf einer linear abgetasteten Anordnung gemäß der optischen Konfiguration der ersten Ausführungsform ausgebildet wird; -
6A und6B schematische Seitenansichten einer gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ähnlich der ersten Ausführungsform ausgebildeten optischen Konfiguration sind, wobei Strahlspuren für eine Testprobe (6A ) und einer Referenzprobe (6B ) jeweils gezeigt sind, wobei sowohl die Testprobe als auch die Referenzprobe Wasser sind; -
7 eine schematische Draufsicht eines optischen Übergangsflächenabschnitts der6A und6B gezeigten optischen Konfiguration ist; -
8 eine schematische Vorderansicht des in7 gezeigten optischen Übergangsflächenabschnitts ist; -
9 eine schematische Draufsicht eines optischen Übergangsflächenabschnitts einer optischen Konfiguration ist, die gemäß einer dritten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zum Durchführen von differentiellen Brechungskoeffizientenmessungen basierend auf dem Oberflächenplasmonresonanzprinzip basiert; -
10A eine schematische Ansicht hauptsächlich entlang der Linie A-A in9 ist; -
10B eine schematische Ansicht hauptsächlich entlang der Linie B-B in9 ist; -
11 eine Ansicht ähnlich der in10A ist, wobei eine Variation des optischen Übergangsflächenabschnitts der optischen Konfiguration der dritten Ausführungsform gezeigt ist; -
12 ein Graph der Lichtintensität als Funktion der Zellenanzahl basierend auf Signalen von einer linear abgetasteten Anordnung gemäß einer optischen Konfiguration der dritten Ausführungsform ist, wobei Wasser sowohl als Testprobe als auch als Referenzprobe dient; -
13 eine schematische Seitenansicht einer optischen Konfiguration ist, die gemäß einer vierten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ausgebildet ist; -
14 eine schematische Draufsicht der in13 gezeigten optischen Konfiguration ist; -
15 eine vergrößerte Detailansicht ist, die auf optische Mittel der in13 gezeigten optischen Konfiguration ist; -
16 eine Ansicht ähnlich der in14 ist, wobei eine Variation der optischen Konfiguration in13 und14 gezeigt ist, in der ein Bi-Prisma als Teil des optischen Mittels verwendet wird; -
17 eine Ansicht ähnlich der in13 ist, wobei eine Variation der in13 und14 gezeigten optischen Konfiguration gezeigt ist, in der gegenüberliegende Zweiachsenkeile als das optische Mittel verwendet werden; und -
18 eine perspektivische Ansicht ist, wobei ein der in der Variation in17 verwendeter Zweiachsenkeil gezeigt ist. - Detaillierte Beschreibung der Erfindung
- Eine gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ausgebildete optische Konfiguration wird jetzt unter Bezugnahme auf
1A bis6 der Zeichnung beschrieben. Die optische Konfiguration der ersten Ausführungsform wird hauptsächlich in1A und1B gezeigt und ist mit dem Bezugszeichen10 bezeichnet. Die optische Konfiguration10 weist ein Beleuchtungsbündel12 auf, das entlang dem optischen Pfad OP von dem Bündelursprung einer Lichtquelle11 verläuft. Das Beleuchtungsbündel12 verläuft nacheinander durch einen Diffuser14 , einen Polarisator16 , eine Kollimatorlinse18 , einen monochromatischen Filter20 , der zum Durchlassen einer engen Bandbreite von Licht mit einer zentralen Wellenlänge von 589 nm nahe der Kollimatorlinse18 angeordnet ist, und eine nahe dem Filter20 angeordnete Fokussierlinse22 . Das konvergente Beleuchtungsbündel wird dann von einem Spiegel24 in Richtung eines Prismas26 mit hohem Brechungskoeffizienten umgerichtet. - Das Prisma
26 , das in Draufsicht in2 gezeigt ist, weist eine Lichteintritts-/austrittsoberfläche26A , eine erste innere Reflektionsoberfläche26B , eine Probenoberfläche26C und eine zweite innere Reflektionsoberfläche26D auf. Die Probenoberfläche26C ist von einer Partition27 in einen ersten Bereich zum Aufnehmen einer Testprobe TS und einen zweiten Bereich zum Aufnehmen einer Referenzprobe RS aufgeteilt. Nach Reflektion durch den Spiegel24 tritt das Beleuchtungsbündel12 in das Prisma26 durch die Lichteintritts-/austrittsoberfläche26A ein und wird an der ersten inneren Reflektionsoberfläche26B reflektiert, so daß das Beleuchtungsbündel schief auf die Probenoberfläche26C einfällt. Insbesondere nähert sich das Beleuchtungsbündel12 der Probenoberfläche als ein Bündel von nicht parallelen Lichtstrahlen, in diesem Fall divergente Lichtstrahlen, die schief auf die Probenoberfläche26C in verschiedenen Einfallswinkeln innerhalb eines Winkelbereichs einfallen. Wie am besten aus2 ersichtlich ist, ist die Partition27 koplanar zum optischen Pfad OP, da sich der optische Pfad der Probenoberfläche26C nähert, so daß die das Beleuchtungsbündel12 zusammensetzenden Lichtstrahlen symmetrisch zwischen einer ersten optischen Übergangsfläche30A , die mit der Testprobe TS zusammenhängt, und einer zweiten optischen Übergangsfläche30B verteilt sind, die mit der Referenzprobe RS zusammenhängt. - In der vorliegenden Ausführungsform sind die erste optische Übergangsfläche
30A und die zweite optische Übergangsfläche30B optische Grenzwinkel-Übergangsflächen, die jeweils durch den Kontaktbereich der Testprobe TS mit der Probenoberfläche26C und den Kontaktbereich der Referenzprobe RS mit der Probenoberfläche26C definiert sind. Diese Kontaktbereiche können durch Tropfen der Testprobe TS und der Referenzprobe RS auf die Probenoberfläche26C auf gegenüberliegenden Seiten der Partition27 gebildet werden unter Verwendung einer Strömungszelle, die konstruiert ist, die Testprobe TS und die Referenzprobe RS mit der Probenoberfläche26C an gegenüberliegenden Seiten der Partition27 in Kontakt zu bringen, oder unter anderweitigem Anbringen der Testprobe TS und der Referenzprobe RS an den jeweiligen Bereich der Probenoberfläche26C . Der Abschnitt des Beleuchtungsbündels12 , der die erste optische Übergangsfläche30A erreicht, wird an dieser Übergangsfläche gemäß dem Snell-Gesetz wechselwirken, wobei mit einem Winkel größer oder gleich dem Grenzwinkel einfallende Strahlen innen an der Probenoberfläche26C total reflektiert werden und mit einem Winkel kleiner als der Grenzwinkel einfallende Strahlen gebrochen und durch die Testprobe und aus dem optischen System durchgelassen werden. Dementsprechend bildet das innen reflektierte Licht ein erstes Teilbündel13A aus, das durch den Brechungskoeffizienten der Testprobe TS definiert ist. Eine ähnliche Wechselwirkung tritt hinsichtlich des Abschnitts des Beleuchtungsbündels12 auf, der die zweite optische Übergangsfläche30B erreicht, wobei innen reflektiertes Licht ein zweites Teilbündel13B ausbildet, das durch den Brechungskoeffizienten der Referenzprobe RS definiert wird. Dies kann besser durch Vergleichen der2 und3 verstanden werden. In2 haben die Testprobe TS und die Referenzprobe RS den gleichen Brechungskoeffizienten, wobei in3 die Testprobe TS und die Referenzprobe RS unterschiedliche Brechungskoeffizienten haben. - Gemäß der vorliegenden Erfindung ist ein optisches Mittel
40 zum Richten des ersten Teilbündels13A und des zweiten Teilbündels13B vorgesehen, um unterschiedliche jeweilige Segmente einer linear abgetasteten Anordnung38 von photoelektrischen Zellen zu beleuchten. In der nun beschriebenen ersten Ausführungsform weist das optische Mittel40 einen einfachen "Einachsen-"Keil42 , der bevorzugt an der Lichteintritts-/austrittsoberfläche26A des Prismas26 angehaftet ist, beispielsweise durch optischen Zement, eine Sammellinse44 , die zum Kompensieren von optischen Variationen in dem Prisma26 dient, und einen Spiegel46 zum Umrichten des Lichts in Richtung der linear abgetasteten Anordnung38 auf. Der Keil42 ist derart angeordnet, daß er nur das erste Teilbündel13A aufnimmt und bricht und nicht das zweite Teilbündel13B aufnimmt und bricht. Im Gegensatz dazu empfangen und beeinflussen die Sammellinse44 und der Spiegel46 sowohl das erste Teilbündel13A als auch das zweite Teilbündel13B . Bezogen nur auf das erste Teilbündel13A entsprechend der ersten Testprobe TS beleuchtet das erste Teilbündel13A als Folge der ausschließlichen Verwendung des Keils42 ein unterschiedliches Segment der linear abgetasteten Anordnung38 als es das zweite Teilbündel13B tut, sogar wenn die Testprobe und die Referenzprobe den gleichen Brechungskoeffizienten haben. - Der optische Pfad OP definiert die Meridionalebene MP, in der der optische Pfad angesiedelt ist. Die Partition
27 ist in der Meridionalebene MP ausgerichtet, so daß die optische Konfiguration von der Meridionalebene in ein optisches Testprobensystem auf der einen Seite der Meridionalebene und in ein optisches Referenzprobensystem auf der gegenüberliegenden Seite der Meridionalebene aufgeteilt ist. Die Zellenreihe in der linear abgetasteten Anordnung38 ist bevorzugt in der Meridionalebene MP angesiedelt. Es wird realisiert, daß, wo die Lichtquelle11 sich einer wirklichen Punktquelle annähert, weder das erste Teilbündel13A noch das zweite Teilbündel13B geeignet auf der linear abgetasteten Anordnung abgebildet werden, weil sie jeweils auf der Anordnung auf gegenüberliegenden Lateralseiten der Zellenreihe ankommen. Jedoch wird bei der ersten Ausführungsform eine Halogenglühlampe als Lichtquelle11 verwendet, so daß die Lateraldefinition des ersten Teilbündels13A und des zweiten Teilbündels13B nicht scharf genug ist, um zu verhindern, daß die Teilbündel die Zellen der linear abgetasteten Anordnung38 beleuchten. Folglich stellt das optische Mittel40 kein laterales Umrichten des ersten Teilbündels13A oder des zweiten Teilbündels13B bereit. - Wie es auf dem Gebiet der Grenzwinkel-Brechungsmessung gut verstanden wird und unter Bezugnahme auf
5 wird das erste Teilbündel13A an einem ersten Ort auf der linear abgetasteten Anordnung38 eine Schattenlinie15A ausbilden, die auf den Brechungskoeffizienten der Testprobe TS hinweist. In ähnlicher Art und Weise wird das zweite Teilbündel13B an einem zweiten Ort auf der linear abgetasteten Anordnung38 eine Schattenlinie15B ausbilden, die auf den Brechungskoeffizienten der Referenzprobe RS hinweist. Wenn die Testprobe TS und die Referenzprobe RS den gleichen Brechungskoeffizienten haben, sind die Schattenlinien15A und15B durch eine Basisdistanz voneinander getrennt, die sich durch den Einfluß des Keils42 auf das ersten Teilbündel13A bestimmt. Ist einmal die Basisdistanz durch Kalibrieren bekannt, ist es möglich, die Brechungskoeffizientendifferenz zwischen einer beliebigen Testprobe TS und einer beliebigen Referenzprobe RS zu berechnen durch Beobachten der Distanz zwischen den jeweiligen Schattenlinien, die auf der linear abgetasteten Anordnung38 abgebildet werden, und durch Bestimmung des Grads, um den die beobachtete Distanz von der Basisdistanz abweicht. Wenn der Brechungskoeffizient der Referenzprobe RS für bestimmte Testbedingungen bekannt ist, kann der Brechungskoeffizient der Testprobe TS aus der gemessenen Differenz der Brechungskoeffizienten berechnet werden. - Es sei hier bemerkt, daß verschiedene Algorithmen zur Bestimmung des Orts der Schattenlinie auf einer linear abgetasteten Anordnung anwendbar sind, wie beispielsweise in
US 4,640,616 ,US 5,617,201 undUS 6,172,746 und in der US-Patentanmeldung09/794,991 27 und einen Keil42 zu erhalten. Rein als nicht beschränkendes Beispiel wurde ein optischer Glaskeil mit einem Brechungskoeffizienten von ND = 1,517, einer Abbeschen Zahl von V = 64,5 und einem Keilwinkel von 5° 25' verwendet und es wurde eine Partition27 durch Anbringen von RTV-Silikon, das bei Raumtemperatur vulkanisiert, auf die Probenoberfläche26C ausgebildet. Natürlich stellen andere synthetische Gummidichtungsmaterialien, beispielsweise die synthetische Gummimischung VITON®, eine geeignete Barriere bereit. -
6A bis8 zeigen eine gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ausgebildeten optische Konfiguration, die durch das Bezugszeichen110 bezeichnet ist. Die optische Konfiguration110 ist ähnlich der optischen Konfiguration10 der ersten Ausführungsform, außer daß ein zweiter Keil hinzugefügt ist, um das zweite Teilbündel13B in einer Art und Weise entgegengesetzt zum ersten Teilbündel13A umzurichten, um eine größere Trennung der Teilbündel zu erreichen, was zu einer größeren Basisdistanz an der linear abgetasteten Anordnung38 führt. Insbesondere weist das optische Mittel40 einen ersten Keil42A , der angeordnet ist, um das erste Teilbündel13A zu empfangen, und einen zweiten Keil42B , der angeordnet ist, um das zweite Teilbündel13B zu empfangen. Der erste und der zweite Keil42A und42B sind bevorzugt hinsichtlich des Materials und der Geometrie identisch, um Kosten einzusparen, jedoch ist der zweite Keil42B um 180° relativ zu dem ersten Keil42A gedreht. Dementsprechend ist das dicke Ende des ersten Keils42A näher an dem Zentrum der Lichteintritts-/austrittsoberfläche26A , während das dicke Ende des zweiten Keils42B näher an der äußeren Kante der Lichteintritts-/austrittsoberfläche26A ist. - Es ist aus der vorhergehenden Beschreibung ersichtlich, daß das optische Mittel 40 zum Richten des ersten und des zweiten Teilbündels
13A und13B zum Beleuchten unterschiedlicher jeweiliger Segmente der linear abgetasteten Einrichtung38 durch Beeinflussung der Richtung entweder des ersten Teilbündels13A oder des zweiten Teilbündels13B arbeiten kann oder durch Beeinflussen der Richtung der beiden Teilbündel. Während das optische Mittel40 als einen einzigen Keil42 oder ein Keilpaar42A ,42B aufweisend beschrieben wird, wird erkannt, daß andere Arten von optischen Elementen verwenden werden können, um die Richtung von einem oder beiden Teilbündeln zu beeinflussen, eingeschlossen, jedoch nicht begrenzend, sind Prismen, Linsen und Spiegel. -
9 ,10A und10B sind vergrößerte schematische Ansichten eines optischen Übergangsflächenabschnitts einer gemäß einer dritten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ausgebildeten optischen Konfiguration zum Durchführen von differentiellen Brechungsmessungen basierend auf dem Oberflächenplasmonresonanzprinzip. Die dritte Ausführungsform ist in jeder Hinsicht der vorhergehend beschriebenen ersten Ausführungsform ähnlich, außer, daß die jeweiligen optischen Übergangsflächen130A und130B für die Testprobe TS und die Referenzprobe RS eher optische Übergangsflächen mit herabgesetzter kritischer Frequenz als optische Grenzwinkel-Übergangsflächen sind und enge Bandpaßfilter18 bevorzugt Licht mit einer zentralen Wellenlänge von 780 nm durchlassen. Ein Glasdia50 ist auf seiner nach oben gewandten Oberfläche mit einem dünnen metallischen Film52 versehen. In der vorliegenden Ausführungsform weist der metallische Film52 eine Chromschicht von ungefähr 10 Angström Dicke auf zur Adhesion mit der Glasoberfläche des Dia50 und eine Goldschicht mit einer Dicke von ungefähr 50 nm auf. Ein Dichtungsmaterial, wie beispielsweise RTV-Silikon, ist an dem metallischen Film52 angebracht, um die Partition27 bereitzustellen. Der metallische Film52 ist optisch indirekt mit der Priosmenprobenoberfläche26C durch das transparente Glasdia50 gekoppelt und eine dünne Schicht von transparentem Öl54 ist zwischen der Unterseite des Glasdia50 und der Probenoberfläche26C vorgesehen. Natürlich kann der metallische Film52 mit der Probenoberfläche26C durch Anbringen des Films direkt an der Probenoberfläche26C optisch gekoppelt werden, wie aus11 ersichtlich ist. Die Testprobe TS und die Referenzprobe RS sind mit einer metallischen Beschichtung52 an den gegenüberliegenden Seiten der Partition27 in Kontakt gebracht, so daß jeweils eine erste und eine zweite optische Übergangsfläche ausgebildet wird. Wenn Licht von dem Beleuchtungsbündel12 den metallischen Film52 an der ersten optischen Übergangsfläche erreicht, werden bestimmte Strahlen bei einem Resonanzwinkel einfallen, der durch den Brechungskoeffizienten der Testprobe TS bestimmt ist, und Energie, die mit diesen Strahlen zusammenhängt, wird absorbiert, während die restlichen Strahlen innen von dem metallischen Film52 reflektiert werden. Folglich zeigt das erste Teilbündel13A ein Resonanzminimum an einem ersten Ort auf der linear abgetasteten Anordnung38 auf, was auf den Brechungskoeffizienten der Testprobe TS hinweist. Ebenfalls wird das zweite Teilbündel13B ein Resonanzminimum an einem zweiten Ort auf der linear abgetasteten Anordnung38 aufzeigen, was auf den Brechungskoeffizienten der Referenzprobe RS hinweist. - Wenn die Testprobe TS und die Referenzprobe RS den gleichen Brechungskoeffizienten haben, werden die Resonanzminima durch eine Basisdistanz getrennt, die durch den Einfluß des Keils
42 auf das erste Teilbündel13A bestimmt ist. Sobald die Basisdistanz durch Kalibrieren bekannt ist, ist es möglich, die Brechungskoeffizientendifferenz zwischen einer beliebigen Testprobe TS und einer beliebigen Referenzprobe RS durch Beobachten der Distanz zwischen den jeweiligen Resonanzminima zu berechnen, die auf die linear abgetastete Anordnung38 abgebildet werden, und den Grad zu bestimmen, bis zu dem diese beobachtete Distanz von der Basisdistanz abweicht. Wenn der Brechungskoeffizient der Referenzprobe RS für die speziellen Testbedingungen bekannt ist, kann der Brechungskoeffizient der Testprobe TS mit der gemessenen Brechungskoeffizientendifferenz berechnet werden. Die Beleuchtungskurve, die in12 aufgetragen ist, demonstriert das Auftreten von erfaßbaren Resonanzminima17A und17B an dem ersten und dem zweiten Ort entlang der linear abgetasteten Anordnung38A . - Die vorliegende Erfindung, die auf das Prinzip des Herabsetzens kritischer Frequenz basiert, findet nützliche Anwendung in der Beobachtung von molekularen Wechselwirkungen, insbesondere in der Analyse der spezifischen Bindung von Analytmolekülen an einer Bindungsschicht. Dementsprechend können präparierte Dias mit einer vorherbestimmten, anwendungsspezifischen Bindungsschicht, die auf dem metallischen Film
52 angebracht ist, für die Anwendung mit einer Vielfalt von Analyten produziert werden. -
13 bis18 zeigen eine gemäß einer vierten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung ausgebildeten optischen Konfiguration210 . Die optische Konfiguration210 weist eine Beleuchtungsquelle211 auf, die ein Beleuchtungsbündel212 bereitstellt, das entlang einem optischen Pfad OP verläuft, nacheinander durch einen Diffuser214 , eine Kollimatorlinse215 , einen schmalen Bandpaßfilter216 , einen linearen Polarisator218 und eine Fokussierlinse220 . Eine Punktlochöffnung222 ist in der Fokusebene der Fokuslinse220 angeordnet. Das divergente Bündel212 wird dann durch eine Glaslinse224 mit hohem Brechungskoeffizienten wieder fokussiert, bevor es in ein Prisma216 mit hohem Brechungskoeffizienten eintritt, das eine Lichteintrittsoberfläche226A , eine Probenoberfläche226B , die mit der Testprobe TS und der Referenzprobe RS in Kontakt steht, und eine Lichtaustrittsoberfläche226C aufweist. Bevorzugt ist die Linse225 mit optischem Zement an der Lichteintrittsoberfläche226A des Prismas226 befestigt. Das Beleuchtungslicht wird in einem Punkt innerhalb des Prismas226 nahe der Probenoberfläche226B fokussiert, wobei nach diesem Punkt das Bündel wieder divergent wird. Wie aus15 ersichtlich ist, fällt das divergente Bündel schief auf die Probenoberfläche226B ein, so daß nicht-parallele Lichtstrahlen auf die Probenoberfläche226B in verschiedenen Einfallswinkeln innerhalb eines Winkelbereichs schief einfallen. - Ähnlich zu den vorhergehenden Ausführungsformen ist die Probenoberfläche
226B von einer linearen Partition227 aufgeteilt, die koplanar mit der Meridionalebene ist, die durch den optischen Pfad OP definiert ist, so daß die Lichtstrahlen ein Beleuchtungsbündel212 ausbilden, das symmetrisch zwischen einer ersten optischen Übergangsfläche230A , die mit der Testprobe TS zusammenhängt, und einer zweiten optischen Übergangsfläche230B verteilt ist, die mit der Referenzprobe RS zusammenhängt. Der Abschnitt des Beleuchtungsbündels212 , der innen an der optischen Übergangsfläche230A reflektiert wird, wird das erste Teilbündel213A und der Abschnitt des Beleuchtungsbündels212 , der innen an der optischen Übergangsfläche230B reflektiert wird, wird das zweite Teilbündel213B . Der erste und der zweite Bündelabschnitt230A und230B verlassen das Prisma226 durch die Lichtaustrittsoberfläche226C . - Das optische Mittel
240 ist zum Richten des ersten Teilbündels213A und des zweiten Teilbündels213B vorgesehen, um verschiedene jeweilige Segmente einer linear abgetasteten Anordnung238 aus photoelektrischen Zellen zu beleuchten. In der vorliegenden Ausführungsform geht das Beleuchtungsbündel212 von einer wohl definierten Punktquelle aus und das optische Mittel240 hat die Funktion die Teilbündel213A und213B in Konvergenz-X-Achsenrichtungen seitlich innerhalb in Richtung zu der Meridionalebene MP der Konfiguration zum Empfang von den Zellen der linear abgetasteten Anordnung238 und in Divergent-Y-Achsenrichtungen zu richten, so dass die Teilbündel unterschiedliche Segmente der Anordnung beleuchten. In der Ausführungsform in13 bis16 wird die Funktion des Trennens der Teilbündel entlang der Y-Achse (Anordnung der Zellenreihe) des Systems durch ein Paar von identischen aber gegenüberliegend angeordneten Einachsenkeilen242A ,242B durchgeführt, die bevorzugt an der Lichtaustrittsoberfläche226C unter Verwendung von optischem Zement befestigt sind und angeordnet sind, um jeweils die Teilbündel213A und213B zu empfangen. Diesbezüglich ist die vorliegende Ausführungsform ähnlich der zweiten Ausführungsform, die vorhergehend unter Bezugnahme auf7A bis9 beschrieben ist.15 ist eine vergrößerte Ansicht, die den Trenneinfluß der Keile242A und242B auf die Teilbündel213A und213B zeigt. Zusätzlich zu dem Keilepaar242A und242B weist das optische Mittel240 ein drittes optisches Element243 auf, das nach den Keilen242A und242B zum Empfangen der beiden Teilbündel angeordnet ist, wobei verursacht wird, dass die Teilbündel von gegenüberliegenden Lateralseiten der Meridionalebene MP in Richtung zur linear abgetasteten Anordnung238A konvergieren. Das dritte optische Element243 ist bevorzugt eine Zylinderlinse, wie in13 und14 gezeigt ist, oder ein Bi-Prisma, wie in16 gezeigt ist, wobei das optische Element243 ausgewählt und positioniert ist, so dass die Teilbündel213A und213B lateral nach innen in Richtung zur Meridionalebene MP gerichtet werden, um die Zellen der linear abgetasteten Anordnung238A zu beleuchten. - In der in
17 gezeigten Alternative weist das optische Mittel240 ein Paar von gegenüberliegend angeordneten Zweiachsenkeilen245A und245B auf, die in zwei orthogonale Richtungen geneigt sind. Ein Zweiachsenkeil ist detaillierter in18 gezeigt. Der Winkel α und der Winkel β können abhängig von der Systemgeometrie gleiche oder ungleiche Winkel sein. Deshalb lassen die Keile245A und245B die Teilbündel entlang der Y-Achse des Systems divergieren und die Bündel entlang der X-Achse des Systems konvergieren, um entsprechende Segmente der linear abgetasteten Anordnung238 zu beleuchten. - Es wird bemerkt, dass die optischen Basisanordnungen aus
13 bis18 in Verbindung mit optischen Übergangsflächen mit herabgesetzter kritischer Frequenz eher verwendet werden als optische Grenzwinkelübergangsflächen durch Koppeln eines Glasdia mit einem dünnen metallischen Film mit der Probenoberfläche226B oder durch direktes Beschichten der Probenoberfläche226B mit einem dünnen metallischen Film in einer Art und Weise analog zu der vorhergehend beschriebenen dritten Ausführungsform. - Zusammenfassung
- Eine optische Konfiguration für differentielle Brechungskoeffizientenmessung einer Testprobe relativ zu einer Referenzprobe weist auf einen optischen Pfad, entlang dem ein Beleuchtungsbündel verläuft, um gleichzeitig zwei optische Übergangsflächen auf gegenüberliegenden Seiten der Meridionalebene zu beleuchten, die jeweils mit der Testprobe und der Referenzprobe korrespondieren. Teilbündel, die die optischen Übergangsflächen verlassen, werden durch ein optisches Mittel umgerichtet, um unterschiedliche Segmente einer linear abgetasteten Anordnung zu beleuchten, die in der Meridionalebene ausgerichtet ist. Die Unterschiede im Ort der beiden Schattenlinien oder der beiden Resonanzminima, die durch die Teilbündel auf der Anordnung ausgebildet werden, stellen einen Hinweis auf den Unterschied der Brechungskoeffizienten bereit.
Claims (39)
- Optische Konfiguration zur Verwendung beim Messen der Brechungskoeffizientendifferenz zwischen einer Testprobe und einer Referenzprobe, wobei die optische Konfiguration aufweist: einen optischen Pfad; eine erste optische Übergangsfläche, die mit der Testprobe zusammenhängt; eine zweite optische Übergangsfläche, die mit der Referenzprobe zusammenhängt; ein Beleuchtungsbündel, das entlang dem optischen Pfad verläuft, wobei Licht von dem Beleuchtungsbündel auf die erste und die zweite optische Übergangsfläche einfällt, um ein erstes Teilbündel, das durch den Brechungskoeffizienten der ersten Testprobe definiert ist, und zweites Teilbündel bereitstellt, das durch den Brechungskoeffizienten der Referenzprobe definiert ist; eine linear abgetastete Anordnung, die eine Mehrzahl von photoelektrischen Zellen aufweist, die jeweils während des Abtastens einen Austrittspuls mit einer Amplitude bereitstellen, die durch den Beleuchtungsgrad der jeweiligen Zelle durch einfallendes Licht bestimmt ist; und ein optisches Mittel zum Richten des ersten und des zweiten Teilbündels, um unterschiedliche jeweilige Segmente der linear abgetasteten Anordnung zu beleuchten, wobei das erste Teilbündel ein erstes Merkmal aufzeigt, das an einem ersten Ort auf der Anordnung auf den Brechungskoeffizienten der Testprobe hinweist, und wobei das zweite Teilbündel ein Merkmal aufzeigt, das an einem zweiten Ort auf der Anordnung auf den Brechungskoeffizienten der Referenzprobe hinweist; wobei die Brechungskoeffizientendifferenz aus der Differenz zwischen dem ersten und dem zweiten Ort auf der Anordnung bestimmt werden können.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 1, wobei der optische Pfad eine Y-Z-Meridionalebene der optischen Konfiguration definiert und die erste und die zweite optische Übergangsfläche an gegenüberliegenden Seiten der Y-Z-Meridionalebene angeordnet sind.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 2, wobei die linear abgetastete Anordnung in der Y-Z-Meridionalebene ausgerichtet ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 1, wobei die erste und die zweite optische Übergangsfläche optische Grenzwinkelübergangsflächen sind, so dass das erste Teilbündel eine Schattenlinie an dem ersten Ort auf der Anordnung aufzeigt und das zweite Teilbündel eine Schattenlinie an dem zweiten Ort auf der Anordnung aufzeigt.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 1, wobei die erste und die zweite optische Übergangsfläche optische Übergangsflächen mit herabgesetzter kritischer Frequenz sind, so dass das erste Teilbündel ein Resonanzminimum an dem ersten Ort auf der Anordnung aufzeigt und das zweite Teilbündel ein Resonanzminimum an dem zweiten Ort auf der Anordnung aufzeigt.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 1, wobei die erste und die zweite optische Übergangsfläche auf einem Dia bereitgestellt sind, das wahlweise in und aus den optischen Pfad bewegbar ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 3, wobei die optische Konfiguration ferner ein Prisma aufweist mit einer Lichteintrittsoberfläche, einer Lichtaustrittsoberfläche und der Probenoberfläche, wobei das Beleuchtungsbündel in das Prisma durch die Lichteintrittsoberfläche eintritt und das erste und das zweite Teilbündel aus dem Prisma durch die Lichtaustrittsoberfläche austreten.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 7, wobei die erste und die zweite optische Übergangsfläche durch in Kontakt stehen eines ersten Bereichs der Probenoberfläche mit der Testprobe und durch in Kontakt stehen eines zweiten Bereichs der Probenoberfläche mit der Referenzprobe ausgebildet sind.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 8, wobei die optische Konfiguration ferner eine Partition zum Aufteilen der Probenoberfläche des Prismas entlang der Y-Z-Meridionalebene aufweist, um ein Vermischen der Testprobe und der Referenzprobe zu unterbinden.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 9, wobei die Partition aus synthetischem Gummi ausgebildet ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 7, wobei die erste und die zweite optische Übergangsfläche durch Koppeln eines metallischen Films mit der Probenoberfläche ausgebildet ist, wobei der metallische Film einen ersten Bereich hat, der mit der Testprobe in Kontakt steht, und einen zweiten Bereich hat, der mit der Referenzprobe in Kontakt steht.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 11, wobei der metallische Film mit der Probenoberfläche indirekt gekoppelt ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 11, wobei der metallische Film mit der Probenoberfläche direkt gekoppelt ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 7, wobei das optische Mittel ein optisches Element nach der Lichtaustrittsoberfläche des Prismas zum Empfangen und Umrichten des ersten Teilbündels relativ zu dem zweiten Teilbündel aufweist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 14, wobei das optische Element an der Austrittsoberfläche des Prismas befestigt ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 14, wobei das optische Element ein Keil ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 16, wobei der Keil ein Einachsenkeil ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 16, wobei der Keil ein Zweiachsenkeil ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 7, wobei das optische Mittel ein optisches Element nach der Lichtaustrittsoberfläche des Prismas zum Empfangen und umrichten des zweiten Teilbündels relativ zu dem ersten Teilbündel aufweist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 19, wobei das optische Element an die Austrittsoberfläche des Prismas befestigt ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 19, wobei das optische Element ein Keil ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 21, wobei der Keil ein Einachsenkeil ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 21, wobei der Keil ein Zweiachsenkeil ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 7, wobei das optische Mittel ein erstes optisches Element nach der Lichtaustrittsoberfläche des Prismas zum Empfangen und umrichten des ersten Teilbündels relativ zu dem zweiten Teilbündel und ein zweites optisches Element nach der Lichtaustrittsoberfläche des Prismas zum Empfangen und umrichten des zweiten Teilbündels relativ zu dem ersten Teilbündel aufweist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 24, wobei das erste optische Element und das zweite optische Element jeweils an der Austrittsoberfläche des Prismas befestigt sind.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 24, wobei das erste optische Element und das zweite optische Element jeweils ein Keil sind.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 26, wobei das erste und das zweite optische Element identische Einachsenkeile sind.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 26, wobei das erste und das zweite optische Element identische Zweiachsenkeile sind.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 7, wobei das optische Mittel ein optisches Element aufweist, das nach der Austrittsoberfläche des Prismas zum Empfangen des ersten und des zweiten Teilbündels und zum Umrichten des ersten und des zweiten Teilbündels entlang den konvergenten X-Achsenrichtungen angeordnet ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 29, wobei das optische Element eine Zylinderlinse ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 29, wobei das optische Element ein Bi-Prisma ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 24, wobei das optische Mittel ein drittes optisches Element aufweist, das nach der Austrittsoberfläche des Prismas zum Empfangen des ersten und des zweiten Teilbündels und zum Umrichten des ersten und des zweiten Teilbündels entlang den konvergenten X-Achsenrichtungen angeordnet ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 32, wobei das dritte optische Element nach dem ersten und dem zweiten optischen Element angeordnet ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 32, wobei das dritte optische Element eine Zylinderlinse ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 32, wobei das dritte optische Element ein Bi-Prisma ist.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 7, wobei die optische Konfiguration ferner eine Fokussierlinse zum Fokussieren des Beleuchtungsbündels in einem Punkt innerhalb des Prismas aufweist, wobei das Lichtbündel ein divergenter Lichtkonus wird, der entsprechende symmetrische Abschnitte auf gegenüberliegenden Seiten der Meridionalebene hat, die auf die erste und die zweite optische Übergangsfläche einfallen.
- Optische Konfiguration gemäß Anspruch 36, wobei die Fokussierlinse an die Lichteintrittsoberfläche des Prismas befestigt ist.
- Verfahren zum Messen der Brechungskoeffizientendifferenz zwischen einer Testprobe und einer Referenzprobe, wobei das Verfahren folgende Schritte aufweist: A) Bereitstellen eines transparenten Mediums mit einer Probenoberfläche; B) einen ersten Bereich der Probenoberfläche mit einer Testprobe und einen zweiten Bereich der Probenoberfläche mit einer Referenzprobe in Kontakt bringen; C) Beleuchten der Übergangsfläche des transparenten Mediums und der Testprobe und der Übergangsfläche des transparenten Mediums und der Referenzprobe mit einem Lichtbündel mit schief einfallenden divergenten Strahlen; D) Ermitteln der ersten Grenzwinkelschattenlinie, die mit der ersten Testprobe zusammenhängt, und einer zweiten Grenzwinkelschattenlinie, die mit der Referenzprobe zusammenhängt, auf einer einzelnen linear abgetasteten Anordnung von photoelektrischen Zellen; und E) Bestimmen der Brechungskoeffizientendifferenz basierend auf einer Distanz zwischen der ersten Grenzwinkelschattenlinie und der zweiten Grenzwinkelschattenlinie auf der linear abgetasteten Anordnung.
- Verfahren zum Messen der Brechungskoeffizientendifferenz zwischen einer Testprobe und einer Referenzprobe, wobei das Verfahren die Schritte aufweist: A) Bereitstellen eines transparenten Mediums mit einem daran anhaftenden Metallfilm; B) einen ersten Bereich des Metallfilms mit einer Testprobe und einen zweiten Bereichs des Metallfilms mit einer Referenzprobe in Kontakt bringen; C) Beleuchten einer Übergangsfläche des transparenten Mediums und des Metallfilms mit einem Lichtbündel mit divergenten Strahlen, die schief auf die Übergangsfläche einfallen, wobei das Lichtbündel gleichzeitig die Übergangsfläche an einer ersten Region gegenüberliegend dem ersten Bereich und einer zweiten Region gegenüberliegend dem zweiten Bereich bestrahlt; D) Bestimmen des ersten Resonanzinduktionsflußminimums, das mit der Testprobe zusammenhängt und des zweiten Resonanzinduktionsflußminimums, das mit der Referenzprobe zusammenhängt, auf einer einzelnen linear abgetasteten Anordnung von photoelektrischen Zellen; und E) Ermitteln der Brechungskoeffizientendifferenz basierend auf der Differenz zwischen dem ersten Resonanzinduktionsflußminimum und dem zweiten Resonanzinduktionsflußminimum auf der linear abgetasteten Anordnung.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/094,213 | 2002-03-08 | ||
US10/094,213 US6717663B2 (en) | 2002-03-08 | 2002-03-08 | Optical configuration and method for differential refractive index measurements |
PCT/US2003/006878 WO2003076911A1 (en) | 2002-03-08 | 2003-03-06 | Optical configuration and method for differential refractive index measurements |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10392315T5 true DE10392315T5 (de) | 2005-03-03 |
DE10392315B4 DE10392315B4 (de) | 2007-09-20 |
Family
ID=27788083
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10392315T Expired - Fee Related DE10392315B4 (de) | 2002-03-08 | 2003-03-06 | Optische Konfiguration und Verfahren für differentielle Brechungskoeffizientenmessungen |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6717663B2 (de) |
JP (1) | JP3919749B2 (de) |
DE (1) | DE10392315B4 (de) |
GB (1) | GB2404248B (de) |
WO (1) | WO2003076911A1 (de) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6804007B2 (en) * | 2002-09-10 | 2004-10-12 | Reichert, Inc. | Apparatus for multiplexing two surface plasma resonance channels onto a single linear scanned array |
US20040075827A1 (en) * | 2002-10-21 | 2004-04-22 | Leica Microsystems Inc. | Method and apparatus for measuring the refractive index of at least two samples |
GB0300001D0 (en) * | 2003-01-02 | 2003-02-05 | Polwart Neil | Improved surface plasmon resonance sensor |
US7604984B2 (en) * | 2004-12-29 | 2009-10-20 | Corning Incorporated | Spatially scanned optical reader system and method for using same |
US20060141527A1 (en) * | 2004-12-29 | 2006-06-29 | Caracci Stephen J | Method for creating a reference region and a sample region on a biosensor and the resulting biosensor |
US7629173B2 (en) | 2004-12-29 | 2009-12-08 | Corning Incorporated | Optical reader system and method for monitoring and correcting lateral and angular misalignments of label independent biosensors |
KR20070107759A (ko) * | 2005-02-11 | 2007-11-07 | 스와겔로크 컴패니 | 유체 농도 감지 장치 |
DE102005041584B4 (de) * | 2005-09-01 | 2007-08-16 | Universität Karlsruhe (Th) | Differentielles Messverfahren zur Bestimmung von Konzentrationsunterschieden zur Übersättigungsbestimmung |
WO2009019619A1 (en) * | 2007-08-09 | 2009-02-12 | Koninklijke Philips Electronics N. V. | Microelectronic sensor device for optical examinations in a sample medium |
US20090279076A1 (en) * | 2008-05-09 | 2009-11-12 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Self calibrated measurement of index of refraction changes to ultra-fast phenomena |
US20090323073A1 (en) * | 2008-06-30 | 2009-12-31 | Reichert, Inc. | Analytical Instrument Having Internal Reference Channel |
US9194799B2 (en) * | 2012-03-13 | 2015-11-24 | Ut-Battelle, Llc | Imaging based refractometers |
US9194798B2 (en) * | 2012-03-13 | 2015-11-24 | Ut-Battelle, Llc | Imaging based refractometer for hyperspectral refractive index detection |
CN103278474B (zh) * | 2013-05-06 | 2016-01-20 | 河北大学 | 一种玻璃折射率的测量方法 |
FI127243B (fi) * | 2014-05-13 | 2018-02-15 | Janesko Oy | Menetelmä ja mittalaite Abben luvun jatkuvaksi mittaamiseksi |
JP6574584B2 (ja) * | 2015-03-19 | 2019-09-11 | 京セラ株式会社 | 光学式センサ |
FI128037B (fi) | 2015-06-29 | 2019-08-15 | Janesko Oy | Sovitelma refraktometrin mittaikkunan yhteydessä ja refraktometri |
CN106932130A (zh) * | 2015-12-29 | 2017-07-07 | 北京杰福科技有限公司 | 玻璃表面应力仪 |
WO2018050114A1 (zh) * | 2016-09-18 | 2018-03-22 | 北京杰福科技有限公司 | 玻璃表面应力检测装置 |
KR102101434B1 (ko) * | 2018-02-22 | 2020-04-16 | 광운대학교 산학협력단 | 광 굴절계 및 이를 구비한 실시간 모니터링 분석 장치 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4042304A (en) * | 1972-11-06 | 1977-08-16 | Gow-Mac Instruments, Inc. | Christiansen effect detector |
CA1074149A (en) | 1976-03-02 | 1980-03-25 | Sadao Sumikama | High-sensitivity differential refractometer |
US4640616A (en) | 1984-12-06 | 1987-02-03 | The Cambridge Instrument Company Plc | Automatic refractometer |
US4834104A (en) * | 1985-08-01 | 1989-05-30 | C. R. Bard, Inc. | Method and apparatus for measuring specific gravity of a flowing liquid |
US4952055A (en) | 1988-10-03 | 1990-08-28 | Wyatt Technology Corporation | Differential refractometer |
SE462408B (sv) | 1988-11-10 | 1990-06-18 | Pharmacia Ab | Optiskt biosensorsystem utnyttjande ytplasmonresonans foer detektering av en specific biomolekyl, saett att kalibrera sensoranordningen samt saett att korrigera foer baslinjedrift i systemet |
US5157454A (en) | 1989-11-30 | 1992-10-20 | Otsuka Electronics Co., Ltd. | Differential refractometer |
JP2504356B2 (ja) | 1992-04-09 | 1996-06-05 | 株式会社島津製作所 | 示差屈折計 |
FI933830A0 (fi) | 1993-09-01 | 1993-09-01 | Janesko Oy | Foerfarande vid refraktometermaetning |
SE9503028D0 (sv) | 1995-09-01 | 1995-09-01 | Pharmacia Biosensor Ab | Method of analysing chemical and physical interactions at a sensor surface |
US6128080A (en) * | 1997-06-06 | 2000-10-03 | Wyatt Technology Corporation | Extended range interferometric refractometer |
US6172746B1 (en) | 1999-10-27 | 2001-01-09 | Leica Microsystems Inc. | Transmitted light refractometer |
US6396576B1 (en) * | 2001-02-27 | 2002-05-28 | Leica Microsystems Inc. | Method for determining shadowline location on a photosensitive array and critical angle refractometer employing the method |
-
2002
- 2002-03-08 US US10/094,213 patent/US6717663B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2003
- 2003-03-06 WO PCT/US2003/006878 patent/WO2003076911A1/en active Application Filing
- 2003-03-06 DE DE10392315T patent/DE10392315B4/de not_active Expired - Fee Related
- 2003-03-06 GB GB0418507A patent/GB2404248B/en not_active Expired - Fee Related
- 2003-03-06 JP JP2003575085A patent/JP3919749B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3919749B2 (ja) | 2007-05-30 |
GB2404248B (en) | 2005-08-24 |
WO2003076911A1 (en) | 2003-09-18 |
GB2404248A (en) | 2005-01-26 |
US20030169417A1 (en) | 2003-09-11 |
DE10392315B4 (de) | 2007-09-20 |
JP2005533242A (ja) | 2005-11-04 |
US6717663B2 (en) | 2004-04-06 |
GB0418507D0 (en) | 2004-09-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE10392315B4 (de) | Optische Konfiguration und Verfahren für differentielle Brechungskoeffizientenmessungen | |
EP1152236B1 (de) | Optische Messanordnung mit einem Ellipsometer | |
DE19949029C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Charakterisierung einer Kulturflüssigkeit | |
EP0617273B1 (de) | Optisches Verfahren und Vorrichtung zur Analyse von Substanzen an Sensoroberflächen | |
DE3232904C2 (de) | ||
DE10163657B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Untersuchung dünner Schichten | |
DE10004191A1 (de) | Hochleistungs-Grossfeld-Rastermikroskop | |
DE10008006A1 (de) | SPR-Sensor und SPR-Sensoranordnung | |
DE10151312A1 (de) | Oberflächenplasmonen-Resonanz-Sensor | |
DE10033645A1 (de) | Spektralellipsometer mit einer refraktiven Beleuchtungsoptik | |
DE19828547C2 (de) | Anordnung zum Nachweis biomolekularer Reaktionen und Wechselwirkungen | |
DE102013114244B3 (de) | ATR-Infrarotspektrometer | |
DE4033912C2 (de) | Optischer Sensor | |
DE102004033869B3 (de) | Verfahren zur Bestimmung von Oberflächenplasmonenresonanzen an zweidimensionalen Messflächen | |
DE102008064665B4 (de) | Partikelgrößenmessgerät | |
EP2981809B1 (de) | Vorrichtung zur messung der streuung einer probe | |
EP2831570B1 (de) | Verfahren zur detektion vergrabener schichten | |
DE10324973B4 (de) | Anordnung und Verfahren zur optischen Detektion von in Proben enthaltenen chemischen, biochemischen Molekülen und/oder Partikeln | |
DE1648748C3 (de) | Verfahren zum Prüfen eines Stuckes aus gleichmäßig vorgespanntem Glas | |
DE10324934A1 (de) | Anordnung und ein Verfahren zur Erkennung von Schichten, die auf Oberflächen von Bauteilen angeordnet sind, und Bestimmung deren Eigenschaften | |
DE19937797C1 (de) | Anordnung zum Nachweis biomolekularer Reaktionen und Wechselwirkungen | |
DE19751403A1 (de) | Kombinierte Absorptions- und Reflektanzspektroskopie zur synchronen Ermittlung der Absorption, Fluoreszenz, Streuung und Brechung von Flüssigkeiten, Gasen und Festkörpern | |
DE102008047370B4 (de) | Partikelgrößenmessgerät | |
WO2012076640A1 (de) | Verfahren und anordnung zur bestimmung des brechzahlgradienten eines materials | |
DE102018126009A1 (de) | Verfahren und Mikroskop zur Bestimmung der Dicke eines Deck- oder Tragglases |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law |
Ref document number: 10392315 Country of ref document: DE Date of ref document: 20050303 Kind code of ref document: P |
|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |