DE10335471A1 - Detektor und Verfahren zur Detektion schwacher fluoreszenter Strahlung mit einem Mikroskopsystem - Google Patents

Detektor und Verfahren zur Detektion schwacher fluoreszenter Strahlung mit einem Mikroskopsystem Download PDF

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Abstract

Es ist ein Detektor zur Detektion schwacher fluoreszenter Strahlung mit einem Mikroskopsystem (100) offenbart. Das Mikroskopsystem (100) ist derart ausgestaltet, dass einzelne Photonen des Detektionslichtstrahls (17) als jeweils einen Event (50) erfasst und hieraus ein Ausgangssignal in Form einer charakteristischen Funktion (52) liefert. Ein Filterkreis (61) formt aus der charakteristischen Funktion (52) eine neue charakteristische Funktion (55), die einem Diskriminator (60) zugeführt wird.

Description

  • Die Erfindung betrifft einen Detektor zur Detektion schwacher fluoreszenter Strahlung mit einem Mikroskopsystem.
  • Desweiteren betrifft die Erfindung ein Verfahren zur Detektion schwacher fluoreszenter Strahlung mit einem Mikroskopsystem.
  • Die deutsche Offenlegungsschrift DE 101 109 25 A1 offenbart ein Verfahren zur Photonenzählung in einem Laser-Scanning-System. Die Zählung der Photonen erfolgt dadurch, dass die einzelnen Impulse mit mehreren Schwellen verglichen werden. Aufgrund der Lage der Schwelle werden den verschiedenen Peaks unterschiedliche Photonenzahlen zugeordnet aus denen sie entstanden sind. Erreicht zum Beispiel ein Peak, der aus zwei Photonen besteht nicht die für zwei Photonen vorgesehene Schwelle, so wird für diesen Peak nur ein Photon zählt.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde einen Detektor zu schaffen, mit dem auch schwache fluoreszente Signale sicher erfasst werden können und ein genaue Zählung der Photonen erfolgt.
  • Die objektive Aufgabe wird durch ein Mikroskopsystem gelöst, das die Merkmale des Patentanspruchs 1 aufweist.
  • Der Erfindung liegt weiterhin die Aufgabe zugrunde Verfahren zu schaffen, mit dem auch schwache fluoreszente Signale – wie sie bei Lebendzellanwendungen auftauchen – sicher erfasst werden können.
  • Die objektive Aufgabe wird durch ein Verfahen gelöst, das die Merkmale des Patentanspruchs 6 aufweist.
  • Die Erfindung hat den Vorteil, dass mit dem Detektor eine Detektion schwacher fluoreszenter Strahlung mit einem Mikroskopsystem möglich ist. Das Mikroskopsystem definiert einen Detektionslichtstrahl, in dem eine Detektionseinheit vorgesehen ist, die einzelne Photonen des Detktionslichtstrahls als jeweils einen Event erfasst und hieraus ein Ausgangssignal in Form einer charakteristischen Funktion liefert. Ferner ist ein Filterkreis vorgesehen, der aus der charakteristischen Funktion eine neue charakteristische Funktion formt. Dem Filterkreis ist ein Diskriminator nachgeschaltet ist, der anhand der neuen charakteristischen Funktion und eines Schwellwerts einzelne Events unterscheidet.
  • Der Filterkreis kann analog oder digital ausgestaltet sein. Ebenso ist eine entsprechende Software mit der Auswertung und Bestimmung der einzelnen Events vorgesehen.
  • In der Zeichnung ist der Erfindungsgegenstand schematisch dargestellt und wird anhand der Figuren nachfolgend beschrieben. Dabei zeigen:
  • 1 eine schematische Darstellung eines Scanmikroskops, wobei den Detektoren ein SP Modul vorgeschaltet ist;
  • 2a eine schematische Darstellung von mehrere Photonen, die als Events über eine bestimmte Zeit dT registriert werden;
  • 2b eine charakteristische Funktion mit der z.B. ein Photon am Detektor registriert wird;
  • 3a ein Signal am Photomultiplier, wobei ein Schwellwert zur Diskriminierung der charakteristischen Funktion vorgesehen ist;
  • 3b eine Darstellung von zwei charakteristischen Funtionen wie sie aufgrund von zwei Photonen am Detektor registriert werden;
  • 3c eine Darstellung der Signalverarbeitung, bei der eine Trennung in zwei diskrete Events möglich ist; und
  • 4 eine graphische Darstellung der Funktionsweise der Signalverarbeitung;
  • In 1 ist das Ausführungsbeispiel eines konfokalen Scanmikroskops schematisch gezeigt. Dies soll jedoch nicht als Beschränkung der Erfindung aufgefasst werden, da dies nur ein Anwendungsfall für einen sensitiven Detektor ist, wie er in 2 sikizziert ist. Der von mindestens einem Beleuchtungssystem 1 kommende Beleuchtungslichtstrahl 3 wird von einem Strahlteiler oder einem geeigneten Umlenkmittel 5 zu einem Scanmodul 7 geleitet. Bevor der Beleuchtungslichtstrahl 3 auf das Umlenkmittel 5 trifft, passiert dieser ein Beleuchtungspinhole 6. Das Scanmodul 7 umfasst einen kardanisch aufgehängten Scanspiegel 9, der den Beleuchtungslichtstrahl 3 durch eine Scanoptik 12 und eine Mikroskopoptik 13 hindurch über bzw. durch ein Objekt 15 führt. Das Beleuchtungssystem 1 kann derart ausgestaltet sein, dass es aus dem Licht eines Lasers 10, Weisslicht erzeugt. Hierzu ist ein mikrostrukturiertes Element 8 oder eine tapered Glasfaser vorgesehen. Bei biologischen Objekten 15 (Präparaten) oder transparenten Objekten kann der Beleuchtungslichtstrahl 3 auch durch das Objekt 15 geführt werden. Zu diesen Zwecken werden nichtleuchtende Präparate ggf. mit einem geeigneten Farbstoff und oftmals auch mit mehreren Farbstoffen präpariert (nicht dargestellt, da etablierter Stand der Technik). Die in dem Objekt 15 vorhandenen Farbstoffe werden durch den Beleuchtungslichtstrahl 3 angeregt und senden Licht in einem ihnen eigenen charakteristischen Bereich des Spektrums aus. Dieses vom Objekt 15 ausgehende Licht definiert einen Detektionslichtstrahl 17. Der Detektionslichtstrahl 17 gelangt zu einem Detektormodul 22. Der Detektionslichtstrahl 17 gelangt durch die Mikroskopoptik 13, die Scanoptik 12 und über das Scanmodul 7 zum Umlenkmittel 5, passiert dieses und gelangt zum Detektormodul 22. Über ein Detektionspinhole 18 trifft dieser auf mindestens einen Detektor 36, 37, der jeweils als Photomultiplier ausgeführt ist. Der in 2 spezifizierte Detektor ist in diese Charakteristik einzuordnen, da er sich wie ein besserer Photomultiplier verhält. Es ist dem Fachmann jedoch hinreichend klar, das auch andere Detektorformen (CMOS, CCD, Dioden) eingesetzt werden können. Der vom Objekt 15 ausgehende bzw. definierte Detektionslichtstrahl 17 ist in 1 als gestrichelte Linie dargestellt. In den Detektoren 36, 37 werden elektrische, zur Leistung des vom Objekt 15 ausgehenden Lichtes, proportionale Detektionssignale erzeugt. Da, wie bereits oben erwähnt, vom Objekt 15 Licht nicht nur einer Wellenlänge ausgesandt wird, ist es sinnvoll vor dem mindestens einen Detektor 36, 37 ein SP-Modul 20 vorzusehen. Die von dem mindestens einen Detektor 36, 37 erzeugten Daten werden an ein Rechnersystem 23 weitergegeben. Dem Rechnersystem 23 ist mindestens ein Peripheriegerät 27 zugeordnet. Das Peripheriegerät 27 kann z.B. ein Display sein, auf dem der Benutzer Hinweise zur Einstellung des Scanmikroskops 100 erhält oder den aktuellen Setup und auch die Bilddaten in graphischer Form entnehmen kann. Ferner ist dem Rechnersystem 23 ein Eingabemittel 28 zugeordnet, das z.B. aus einer Tastatur, einer Einstellvorrichtung für die Komponenten des Mikroskopsystems und/oder einer Maus 30 besteht. Ebenso ist dem Rechnersystem 23 ein Speicher 24 zugeordnet, in dem die Datensätze abgelegt werden. Ferner ist im Rechnersystem 23 eine Software 25 implementiert, mit der geeignete Berechnungen durchgeführt werden. Hinzu kommt, dass zusätzlich auf dem Display 27 auch Einstellelemente 40, 41 für die Bildaufnahme dargestellt werden. In der hier gezeigten Ausführungsform sind die Einstellelemente 40, 41 als Schieber dargestellt. Ebenso können die Einstellelemente 40, 41 als Checkboxen ausgebildet sein, über die ein Ja/Nein aktivierung für bestimmte Parameter möglich ist. Jede andere Ausgestaltung liegt im handwerklichen Können eines Fachmanns. Der Detektionslichtstrahl 17 wird mit einem Prisma 31 räumlich spektral aufgespalten. Eine weitere Möglichkeit der spektralen Aufspaltung ist die Verwendung eines Reflexions-, oder Transmissionsgitters. Der spektral aufgespaltene Lichtfächer 32 wird mit der Fokussieroptik 33 fokussiert und trifft anschließend auf eine Spiegelblendenanordnung 34, 35. Die Spiegelblendenanordnung 34, 35, die Mittel zur spektralen, räumlichen Aufspaltung, die Fokussieroptik 33 und die Detektoren 36 und 37 werden zusammen als SP-Modul 20 (oder Mutibanddetektor) bezeichnet.
  • Zielt man mit dem Focus eines Konfokalmikroskops, wie in 1 dargestellt, für eine bestimmte Zeit dT auf einen Punkt im Objekt 15, so werden von diesem Punkt des Objekts einzelne Photonen ausgesendet und vom Detektor 36, 37 detektiert. In 2a sind die einzelnen vom Objekt 15 ausgehenden Photonen als Pfeile dargestellt, wobei die einzelnen Pfeile für jeweils einen Event 50 (singuläres Ereignis) stehen, die über die Zeit t dargestellt sind. (Diese Nomenklatur ist in der Signalverarbeitung und der Physik zur idealisierten Modellbildung üblich und wird Dirac Impuls genannt.) Die Zeit t ist auf der Abszisse 51 aufgetragen. Die einzelnen Photonen des Fluoreszenzlichts oder des vom Objekt 15 ausgehenden Lichts sind singuläre Events 50 (singuläre Ereignisse), die durch die Detektoren 36, 37 in einer charakteristischen Funktion 52 dargestellt werden. Der Photonenfluss über die Zeit kann pro Photon am Detektor 36, 37, der z.B. ein Photomultiplier sein kann, als charakteristische Funktion 52 dargestellt werden. In einem Ausführungsbeispiel ist die charakteristische Funktion 52 eine Dirac-Funktionen, siehe hierzu 2b. Am Detektor 36, 37 laufen zwei verschiedenen Prozesse ab. Das Photon bzw. der Event 50 trifft am Detektor 36, 37 ein und wird durch die charakteristische Funktion 52 zeitlich verschmiert (Faltung), wobei diese charakteristische Funktion 52 relativ konstant ist (siehe 2b) und ggf. von der Einfallsrichtung und der unterschiedlichen Energie eines Photons abhängt, welche Signalstärken am Ende des Detektors 36, 37 anliegen. Die konventionelle Arbeitsweise eines Photonenzählers arbeitet mit einem Schwellwert 53 (Diskriminator), wobei ein Signalübergang des PMT Ausgangs über diese Schwelle als Event gezählt wird (siehe 3a). Aus 3b ist ersichtlich, dass diese Arbeitsweise des Photonenzählers nur im Low-Light Fall (geringe Anzahl von Photonen) funktionieren kann. Die in 3b dargestellte Situation ist die, dass mehrere Photonen kurz nacheinander am Detektor 36, 37 eintreffen. Die einzelnen, den Events oder Singularitäten zugeordneten charakteristischen Funktionen 52 besitzen einen Überschneidungsbereich 54. Ferner haben die charakteristischen Funktionen einen Schnittpunkt 56 gemeinsam. Der Schnittpunkt 56 liegt in der in 3b dargestellten Situation über dem Schwellwert 53, so die zwei nacheinander eintreffenden Photonen nicht als zwei Events 50 erkannt werden. Eine Trennung der einzelnen Events 50 ist in 3c dargestellt. Da die charakteristische Funktion 52 bekannt ist, kann man eine Signalverarbeitung vorschalten, die den Puls, der durch die Singularität erzeugt wird, wieder formt bzw. schärft. Möglich sind zwei unterschiedliche Ausführungsformen eines Verfahrens. Ein erste Ausführungsform ist eine Dekonvolution des Zeitsignals. Eine zweite Ausführungsform ist eine Korrelationsbestimmung und ein Übergang zu einem Korrelationsdetektor (matched filter). Dekonvolution steht hier nur zur Vollständigkeit, denn es ist zwar prinzipiell möglich aber so aufwendig und teuer und schwierig, dass es in der Praxis wohl keiner machen will. Korrelationsdetektion ist jedoch ein einfaches und leicht anzuwendendes Konzept. Die charakteristische Funktion 52 ist bekannt – sie ist relativ konstant – und so kann aus dem Eingangssignal die Kreuzkorrelation mit dem von erwarteten Signal gebildet werden. Ferner kann man – bei leichten Variationen in der charakteristischen Funktion – eine hinreichend genaue Approximation derselben bilden. Die Filterung selber geschieht dann im wesentlichen über ein analoges Faltungsintegral, wenn eine Implementierung in Form eines elektronischen Filters in Betracht gezogen wird. Ebenso ist eine digitale Faltungssumme möglich, wenn das Signal am Detektor recht schnell gewandelt wird und dann das ganze als Algorithmus im FPGA oder Ähnlichem durchführt wird. Die charakteristische Funktion 52 ist nun jeweils eine neue charakteristische Funktion 55 ersetzt, die anhand einer oben erwähnten Methoden ermittelt wurde. In der Praxis heisst dies, dass ein Filterkreis 61 zur Signalverarbeitung zwischen dem Detektor 36, 37 und den Diskriminator 60 gesetzt wird, der eine zur charakteristischen Funktion 52 gespiegelte Impulsantwort hat (siehe hierzu 4.). Dieser Filterkreis 61 bewirkt, dass ein Eingangssignal, die charakteristische Funktion 52, aus einer Superposition mit einer gespiegelten charakteristischen Funktion 63 besteht oder diese hinreichend genau aunnähert. Als Ergebnis erhält man eine neue charakteristische Funktion 55, die die einzelnen Bestandteile besser trennt. In 3c ist die Funktionsweise des Filterkreises 61 verdeutlicht. Der Filterkreis 61 unterdrückt Störungen durch rosa Rauschen (d.h. Events mit anderer Gestalt als die durch die charakteristische Funktion erwartete), d.h das Signal zu Rauschverhältnis und die Detektion werden in der Praxis besser. Der Filterkreis 61 formt die neue charakteristische Funktion 55, die schärfer ansteigt, da sie das Signal auf den Punkt bzw. die Singularität im wesentlichen konzentriert, an dem die Ähnlichkeit mit der ursprünglichen charakteristischen Funktion 52 am Ähnlichsten ist. Die einzelnen resultierenden neuen charakteristischen Funktionen 55 sind besser getrennt. Die neue charakteristische Funktion 55 ist derart, dass eine Überschneidung 56 der neuen charakteristischen Funktion 55 im Verhältnis zum Maximum bilden und somit bei geeigneter Schwellwertbildung (relativ zum Maximum) unterhalb des Schwellwerts 53 liegt. Kaskaden von dicht folgenden Events 50 können besser getrennt werden. Ein dem Diskriminator 60 nachgeschalteter Zähler 62 erfasst durch die neue charakteristische Funktion 55 die Events 50 als einzelne und voneinander getrennte Events. Es ist direkt ersichtlich, dass dieses Verfahren einen Betrieb eines Photonenzählers mit höheren Photonenzahlen erlaubt. Auch ein integrativer Ansatz profitiert davon, da Störungen rausgefiltert werden.
  • Die Erfindung wurde in bezug auf eine besondere Ausführungsform beschrieben. Es ist jedoch selbstverständlich, dass Änderungen und Abwandlungen durchgeführt werden können, ohne dabei den Schutzbereich der nachstehenden Ansprüche zu verlassen.
  • 1
    Beleuchtungssystem
    3
    Beleuchtungslichtstrahl
    5
    Umlenkmittel
    6
    Beleuchtungspinhole
    7
    Scanmodul
    8
    mikrostrukturiertes Element
    9
    Scanspiegel
    10
    Laser
    12
    Scanoptik
    13
    Mikroskopoptik
    15
    Objekt
    17
    Detektionslichtstrahl
    18
    Detektionspinhole
    20
    SP-Modul
    22
    Detektormodul
    23
    Rechnersystem
    24
    Speicher
    25
    Software
    27
    Peripheriegerät
    30
    Maus
    31
    Prisma
    32
    aufgespaltener Lichtfächer
    33
    Fokussieroptik
    34
    Spiegelblendenanordnung
    35
    Spiegelblendenanordnung
    36
    Detektor
    37
    Detektor
    50
    Event
    51
    Abszisse
    52
    charakteristische Funktion
    53
    Schwellwert
    54
    Überschneidungsbereich
    55
    neue charakteristische Funktion
    56
    Schnittpunkt
    60
    Diskriminator
    61
    Filterkreis
    62
    Zähler
    63
    gespiegelte charakteristische Funktion
    100
    Mikroskopsystem

Claims (9)

  1. Detektor zur Detektion schwacher fluoreszenter Strahlung mit einem Mikroskopsystem (100), dadurch gekennzeichnet, dass das Mikroskopsystem (100) einen Detektionslichtstrahl (17) definiert, in dem eine Detektionseinheit (20) vorgesehen ist, die einzelne Photonen des Detktionslichtstrahls (17) als jeweils einen Event (50) erfasst und hieraus ein Ausgangssignal in Form einer charakteristischen Funktion (52) liefert, dass ein Filterkreis (61) vorgesehen ist, der aus der charakteristischen Funktion (52) eine neue charakteristische Funktion (55) formt, und dass dem Filterkreis (61) ein Diskriminator (60) nachgeschaltet ist, der anhand der neuen charakteristischen Funktion (55) und eines Schwellwerts (53) einzelne Events (50) unterscheidet.
  2. Detektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Filterkreis (61) in Form einer analogen Elektronik ausgebildet ist.
  3. Detektor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Filterkreis (61) durch eine digitale Elektronik gebildet ist.
  4. Detektor nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Filterkreis (61) mit einer Software zusammenwirkt.
  5. Detektor nach einem der Ansprüche 1 oder 2 dadurch gekennzeichnet, dass dem Diskriminator (60) ein Zähler (62) nachgeschaltet ist, der die vom Diskriminator (60) unterschiedene Events (50) zählt.
  6. Verfahren zur Detektion schwacher fluoreszenter Strahlung mit einem Mikroskopsystem (100), das mindestens einen Detektor (36, 37) umfasst, gekennzeichnet durch die folgenden Schritte: – Zuführen einer vom Detektor ausgegebenen charakteristischen Funktion (52) eines Events (50) an einen Filterkreis (61), – Erzeugen einer neuen charakteristischen Funktion (55) durch eine Anwendung der charakteristischen Funktion (52) auf eine gespiegelte, annähernd gespiegelte charakteristische Funktion zur Korrelationsbildung (63) im Filterkreis (61), – Zuführen der neuen charakteristischen Funktion (55) zu einem Diskriminator (60), und – Zählen der Events (50) in einem dem Diskriminator (60) nachgeschalteten Zähler (62).
  7. Verfahren nach Anspruch 6 dadurch gekennzeichnet, dass die vom Detektor (36, 37) ausgegebene charakteristische Funktion (52) im Filterkreis (61) geformt wird, und dass der Filterkreis (61) analog ist.
  8. Verfahren nach Anspruch 6 dadurch gekennzeichnet, dass die vom Detektor (36, 37) ausgegebene charakteristische Funktion (52) im Filterkreis (61) geformt wird, und dass der Filterkreis (61) digital ist
  9. Verfahren nach Anspruch 8 dadurch gekennzeichnet, dass der Filterkreis (61) mit einer Software zusammenwirkt.
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US10/894,554 US20050024637A1 (en) 2003-08-02 2004-07-20 Detector and method for detecting weak fluorescent radiation with a microscope system
JP2004214313A JP2005055429A (ja) 2003-08-02 2004-07-22 顕微鏡システムで弱い蛍光放射を検出するための検知器と方法

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102020120114A1 (de) 2020-07-30 2022-02-03 Abberior Instruments Gmbh Detektionseinrichtung für ein Laserscanning-Mikroskop

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10339312A1 (de) * 2003-08-27 2005-03-31 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Verfahren zur Trennung von Fluoreszenzspektren von in einer Probe vorhandenen Farbstoffen
EP2703871A3 (de) * 2005-05-25 2014-09-03 Massachusetts Institute Of Technology Multifokale Rastermikroskopie-Systeme und -Verfahren
DE102009031231A1 (de) 2009-06-26 2010-12-30 Carl Zeiss Microlmaging Gmbh Verfahren und Anordnungen für die Fluoreszenzmikroskopie
WO2012171999A1 (en) * 2011-06-15 2012-12-20 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Method and apparatus for imaging a structure marked with a fluorescent dye
EP3268715A1 (de) 2015-03-11 2018-01-17 Timothy Ragan System und verfahren zur seriellen färbung und bildgebung

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07118294B2 (ja) * 1987-02-13 1995-12-18 浜松ホトニクス株式会社 光電子増倍管
JPH0670612B2 (ja) * 1989-03-08 1994-09-07 浜松ホトニクス株式会社 ストリークカメラ装置
JPH04337446A (ja) * 1991-05-15 1992-11-25 Hitachi Ltd 微粒子計測方法、定量方法および微粒子計測装置
US5349193A (en) * 1993-05-20 1994-09-20 Princeton Gamma Tech, Inc. Highly sensitive nuclear spectrometer apparatus and method
EP0804732B1 (de) * 1995-01-16 2001-10-10 SOINI, Erkki Ein biospezifisches multiparametrisches testverfahren
WO2000050877A1 (en) * 1999-02-23 2000-08-31 Ljl Biosystems, Inc. Frequency-domain light detection device
JPH11132953A (ja) * 1997-10-29 1999-05-21 Bunshi Bio Photonics Kenkyusho:Kk 蛍光寿命測定方法および装置
JP2003028797A (ja) * 2001-07-11 2003-01-29 Hitachi Software Eng Co Ltd 蛍光読み取り装置
US6664543B2 (en) * 2002-01-28 2003-12-16 Cti Pet Systems, Inc. Continuous sampling and digital integration for PET scintillation
DE102004017956B4 (de) * 2004-04-14 2022-07-07 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren zur Untersuchung der Lebensdauer angeregter Zustände in einer Probe

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102020120114A1 (de) 2020-07-30 2022-02-03 Abberior Instruments Gmbh Detektionseinrichtung für ein Laserscanning-Mikroskop

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US20050024637A1 (en) 2005-02-03
JP2005055429A (ja) 2005-03-03

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