DE10110925A1 - Verfahren zur Photonenzählung in Laser-Scanning-Systemen - Google Patents
Verfahren zur Photonenzählung in Laser-Scanning-SystemenInfo
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- 238000009472 formulation Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
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Abstract
Verfahren zur Photonenzählung im Detektionskanal einer laserscannenden Anordnung, vorzugsweise eines Laser-Scanning-Mikroskops, wobei eine Amplitudenbestimmung der einlaufenden Photonen mittels mehrerer Schwellwerte erfolgt und die Schwellwertbestimmung mit einer zeitaufgelösten Messung gekoppelt ist, indem für einzelne Schwellwerte jeweils eine Pulszählung erfolgt und die Summe der Zählungen für die Schwellwerte ermittelt wird, wobei vorteilhaft bei Erreichen eines höheren Schwellwertes der Zählwert des niedrigen Schwellwertes für die Zählung abgespeichert wird.
Description
Es ist bereits bei Laser-Scanning-Mikroskopen bekannt, von einem PMT
detektierte Photonen einzeln aufzulösen, indem über einem PMT
nachgeordnete Impulsverstärker und Schwellwertschalter wie Komparatoren
eine Zählung der Photonen erfolgt - Fig. 1.
In Fig. 2 sind typische Beispiele dargestellt wie Fehlmessungen auftreten
können.
Übereinanderliegende Photonen haben die gleiche Breite aber eine größere
Amplitude.
Mit einer Komparator/Diskriminatorlösung können nur Einzelphotonen einer
festgelegten Amplitude gezählt werden. Wird die eingestellte Schwelle
überschritten, dann wird ein Photon erkannt. Wenn zum gleichen Zeitpunkt zwei
Photonen auftreffen, dann erhöht sich die Amplitude aber die Schaltschwelle wird
auch nur einmal überschritten und damit einmal gezählt.
Nebeneinanderliegende (im Abstand nicht auflösbare Photonen) sind breiter als
ein Photon haben aber gleiche Amplitude.
Der Komparator benötigt eine gewisse (Schaltzeit) um von einem Zustand in den
anderen zu gelangen. Liegen die einzelnen Photonen so eng aneinander, das
der Komparator mit seiner Schaltzeit nicht die Pegeländerungen der
nebeneinanderliegenden Photonen erfassen kann wird er nur einen Zustand
erkennen und damit auch nur ein Photon zählen.
Dies ist in Fig. 2 schematisch am Beispiel von zwei gleichzeitig auftretenden
Photonen, die als eins gezählt werden sowie 5 Photonen dargestellt, wobei in
diesem Fall 2 Photonen hintereinanderliegen, die ganz eng mit 3 Photonen
hintereinander zusammenliegen und damit für den Komparator nur wie ein
Photon wirken.
Eine denkbare Variante, die Photonenzeit als Torzeit für eine Frequenzmessung
zu nutzen, erfaßt genau die ineinanderfließenden Photonen aber nicht die
übereinanderliegenden Photonen sodaß auch hier immer eine Ungenauigkeit
bleiben wird.
Ankommende Photonen werden zweidimensional ausgewertet, indem die
Amplitude in mehreren Schwellwerten gemessen wird und die Messung in einem
Zeitraster erfolgt, mit einer Zählfrequenz mindestens zweifach der Photonzeit
(empirische Dauer der erforderlichen Messung für ein Photon) werden Impulse
einer höheren Frequenz gezählt als der durch die Photonenzeit vorgegebene.
Die Summenbildung aus Amplituden- und Zeitmessung bilden dann die wirkliche
Photonenzahl ZP.
Für die Schwellwertbestimmung können beispielsweise Komparatoren,
Diskriminatoren, Trigger, aber auch in digitaler Form AD-Wandler und
dazugehörige Register genutzt werden.
Für die zeitaufgelöste Bestimmung kann die Photonenzeit als Torzeit genutzt
werden währenddessen eine noch höhere Frequenz in den Zähler läuft.
Das Ergebnis kann sowohl in einem Zähler oder in einem Adder zusammen
gefaßt werden und über ein Register ausgelesen werden.
Nach jeder Messung wird das Register wieder durch einen Clear-Impuls
gelöscht.
Das erfindungsgemäße Prinzip der zweidimensionalen Erfassung von Photonen
wird nachstehend anhand Fig. 3a) und b) beschrieben.
Das zu messende Signal liegt gleichzeitig an den Eingängen der 4 Komparatoren
an. Überschreitet das Eingangssignal die Schaltschwelle S1, kippt der
Komparator und gibt über den ersten Negator N1 die Torschaltung (Negator
und UND-Verknüpfung) frei.
Ist das Eingangssignal nur eine Photonzeit lang, laufen 2 Impulse (die
Zählfrequenz ist so gewählt, daß während der Zeitdauer für ein Photon 2 Impulse
gezählt werden) durch die UND-Verknüpfung in den Zähler 1 (x1). Wird während
der Messzeit (Pixelzeit eines LSM, Verweildauer zur Erfassung eines Pixels) die
Schaltschwelle S2 erreicht und die Impulsbreite des Komparators ist nur eine
Photonzeit breit, laufen ebenfalls zwei Impulse über Leitung F, N2 und die UND-
Verknüpfung in Zähler 2 ein.
Diese Formulierung F = 2 Impulse heißt, das wegen des Abtasttheorems mindest
zwei Impulse pro einer Photonzeit gezählt werden müssen. Die Ermittlung der
Gesamtphotonenzahl hat in der Summenformel dann den Faktor 1/2 stehen.
Dieser resultiert aus der Festlegung mindestens 2 Impulse pro Photon. Würde
man eine 10 fache Zählfrequenz festlegen, so müßte in der Summenformel
der Faktor 1/10 stehen um auf die wirkliche Photonenzahl zu kommen.
Hat Komparator S2 die Schwelle erreicht, wird sofort mit dem Ausgang des
Komparators die UND-Verknüpfung des 1. Komparators gesperrt und die des
zweiten Komparators geöffnet. Das spätere Schalten des zweiten Komparators
wird durch die Laufzeit des Signales des ersten Komparators durch den ersten
Negator N1 kompensiert so daß der zweite Komparator noch sicher die erste
Torschaltung sperren kann. Die Impulse im Zähler 2 werden mit 2 (2xF), die
imZähler 3 mit 3(3xF) usw. multipliziert und erhalten somit einen höheren Wert
als Impulse die über Komparator eins in den Zähler 1 einlaufen. Damit wird die
zweite Dimension gemessen, denn Photonen die hintereinander liegen erzeugen
nur eine höhere Amplitude, können aber die gleiche Zeit dauern.
Die Schaltschwelle S3 und S4 verhalten sich in gleicher Weise. Jedesmal, wenn
eine höhere Schaltschwelle anspricht werden die darunterliegenden Zählkanäle
gesperrt, wobei die weiteren Negatoren N2, N3 . . wie beim ersten Negator für
eine entsprechende Laufzeitkompensation sorgen, so daß die zweite oder
weitere Torschaltungen noch gesperrt werden können.
Die jeweils höchste Schwelle hat Priorität. Nach Ablauf der Meßzeit werden die
Zählwerte Z der Zähler i mit einem Adder zusammengefaßt (Summenbildung)
und als Meßwert ZP z. B. in ein Register gestellt und nachfolgend von einem
Computer gelesen und weiterverarbeitet. Bei Impulsen, die nur Komparator eins
ansprechen, aber länger als eine Photonezeit dauern sind werden entsprechend
mehr Impulse über Leitung F, die UND-Verknüpfung in den Zähler X1 einlaufen.
Damit werden verschmolzene bzw. eng aneinanderliegende Photonen erkannt
und richtig gezählt und interpretiert.
Die Verbindung der Amplitudenüberwachung und der Zeitmessung der
ankommenden Photonen geben ein genaues Abbild der wirklichen Anzahl von
Photonen wieder, die innerhalb einer Meßzeit auftreten.
Durch Verbesserung der Genauigkeit wird erreicht
- - daß durch mehrstufige Komparatoren unterschiedliche Amplituden des Photonenstromes ausgewertet werden
- - daß durch Zeitmessung zusammenhängende Photonen separiert werden können
- - daß das Ergebnis aus der Amplitudenmessung und der Zeitmessung die genaue Photonenzahl ergibt
Claims (2)
1. Verfahren zur Photonenzählung im Detektionskanal einer laserscannenden
Anordnung, vorzugsweise eines Laser-Scanning-Mikroskopes, wobei eine
Amplitudenbestimmung der einlaufenden Photonen mittels mehrerer
Schwellwerte erfolgt und die Schwellwertbestimmung mit einer zeitaufgelösten
Messung gekoppelt ist, indem für einzelne Schwellwerte jeweils eine
Pulszählung erfolgt und die Summe der Zählungen für die Schwellwerte ermittelt
wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei bei Erreichen eines höheren Schwellwertes
der Zählwert des niedrigen Schwellwertes für die Zählung abgespeichert wird.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10110925A DE10110925A1 (de) | 2001-03-07 | 2001-03-07 | Verfahren zur Photonenzählung in Laser-Scanning-Systemen |
PCT/EP2002/002375 WO2002071016A1 (de) | 2001-03-07 | 2002-03-05 | Verfahren zur photonenzählung in laser-scanning-systemen |
EP02722177A EP1287320A1 (de) | 2001-03-07 | 2002-03-05 | Verfahren zur photonenzählung in laser-scanning-systemen |
JP2002569889A JP2004518979A (ja) | 2001-03-07 | 2002-03-05 | レーザ走査式装置において光子を計数するための方法 |
US10/381,090 US20030183754A1 (en) | 2001-03-07 | 2002-03-05 | Method for counting photons in laser-scanning systems |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10110925A DE10110925A1 (de) | 2001-03-07 | 2001-03-07 | Verfahren zur Photonenzählung in Laser-Scanning-Systemen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10110925A1 true DE10110925A1 (de) | 2002-09-12 |
Family
ID=7676589
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10110925A Withdrawn DE10110925A1 (de) | 2001-03-07 | 2001-03-07 | Verfahren zur Photonenzählung in Laser-Scanning-Systemen |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20030183754A1 (de) |
EP (1) | EP1287320A1 (de) |
JP (1) | JP2004518979A (de) |
DE (1) | DE10110925A1 (de) |
WO (1) | WO2002071016A1 (de) |
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-
2002
- 2002-03-05 JP JP2002569889A patent/JP2004518979A/ja active Pending
- 2002-03-05 WO PCT/EP2002/002375 patent/WO2002071016A1/de not_active Application Discontinuation
- 2002-03-05 US US10/381,090 patent/US20030183754A1/en not_active Abandoned
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2004518979A (ja) | 2004-06-24 |
EP1287320A1 (de) | 2003-03-05 |
US20030183754A1 (en) | 2003-10-02 |
WO2002071016A1 (de) | 2002-09-12 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
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8141 | Disposal/no request for examination |