DE10331825B4 - Lichtemissionsdiode mit einer Kleberschicht und zugehöriges Herstellverfahren - Google Patents

Lichtemissionsdiode mit einer Kleberschicht und zugehöriges Herstellverfahren Download PDF

Info

Publication number
DE10331825B4
DE10331825B4 DE10331825A DE10331825A DE10331825B4 DE 10331825 B4 DE10331825 B4 DE 10331825B4 DE 10331825 A DE10331825 A DE 10331825A DE 10331825 A DE10331825 A DE 10331825A DE 10331825 B4 DE10331825 B4 DE 10331825B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
layer
producing
emitting diode
group
transparent
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE10331825A
Other languages
English (en)
Other versions
DE10331825A1 (de
Inventor
Min-Hsun Hsieh
Tzu-Feng Tseng
Wen-Huang Liu
Ting-Wei Yeh
Jen-Shui Wang
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Epistar Corp
Original Assignee
Epistar Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Epistar Corp filed Critical Epistar Corp
Publication of DE10331825A1 publication Critical patent/DE10331825A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE10331825B4 publication Critical patent/DE10331825B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/005Processes
    • H01L33/0093Wafer bonding; Removal of the growth substrate

Abstract

Verfahren zum Herstellen einer Lichtemissionsdiode (1), mit folgenden Schritten:
– Herstellen eines ersten Stapels (2) durch:
– Bereitstellen eines ersten Substrats (18),
– Herstellen einer zweiten Kontaktschicht (17) auf dem ersten Substrat (18),
– Herstellen einer zweiten Mantelschicht (16) auf der zweiten Kontaktschicht (17),
– Herstellen einer Emissionsschicht (15) auf der zweiten Mantelschicht (16),
– Herstellen einer ersten Mantelschicht (14) auf der Emissionsschicht (15),
– Herstellen einer ersten Kontaktschicht (13) auf der ersten Mantelschicht (14), und
– Herstellen einer transparenten, leitenden Schicht (21) auf der ersten Kontaktschicht (13);
– Herstellen einer zweiten Reaktionsschicht (22) auf der transparenten, leitenden Schicht (21) des ersten Stapels (2);
– Herstellen eines zweiten Stapels (3);
– Herstellen einer ersten Reaktionsschicht (11) auf dem zweiten Stapel (3); und Zusammenhalten der ersten Reaktionsschicht (11) und der zweiten Reaktionsschicht (22) mittels einer transparenten Kleberschicht (12).

Description

  • Hintergrund der Erfindung
  • 1. Gebiet der Erfindung
  • Die Erfindung betrifft eine Lichtemissionsdiode, genauer gesagt, eine Lichtemissionsdiode mit einer Kleberschicht zum Verstärken der Struktur derselben.
  • 2. Beschreibung des Stands der Technik
  • Lichtemissionsdioden werden bei optischen Displays, Laserdioden, Verkehrsampeln, Datenspeichergeräten, Kommunikationsgeräten, Beleuchtungsanlagen und medizinischen Einrichtungen in weitem Umfang verwendet. Daher ist das Verbessern des Funktionsvermögens von Lichtemissionsdioden ein wichtiger Punkt auf dem Gebiet von LEDs.
  • Eine einschlägige Technik gibt eine Lichtemissionsdiode und deren Herstellverfahren an, bei dem die Lichtemissionsdiode dadurch hergestellt wird, dass eine transparente, isolierende Kleberschicht an einen emittierenden Stapel ein transparentes Substrat angeklebt wird. Das Haftvermögen wird durch Van-der-Waals-Kräfte erzielt. Jedoch sind Van-der-Waals-Kräfte zu schwach, um den emittierenden Stapel und das transparente Substrat positioniert zu halten. Daher kann sich der emittierende Stapel auf einfache Weise vom transparenten Substrat lösen.
  • Die DE 101 18 447 A1 beschreibt eine Leuchtdiode und ein Verfahren zum Herstellen derselben. Hierbei umfasst ein erster Stapel einer Epitaxialstruktur einer Leuchtdiode ein Substrat, eine Ätzstoppschicht, eine untere Mantelschicht, eine aktive Schicht, eine obere Mantelschicht und eine ohmsche Kontakt-Epitaxialschicht vom p-Typ. Ferner umfasst ein zweiter Stapel ein transparentes Substrat und eine transparente Haftschicht aus beispielsweise SOG (sein an glass), Polyimid oder Silikon. Bei der Herstellung der Leuchtdiode wird der erste Stapel der Epitaxialschichtstruktur mit dem transparenten Substrat verbunden. Hierbei kann auf der Oberfläche der Epitaxialstruktur und der Oberfläche des transparenten Substrats eine Siliciumoxid-Schicht ausgebildet sein, um die Hafteigenschaften zwischen der Epitaxialstruktur und dem transparenten Substrat zu verbessern.
  • Die DE 100 45 149 A1 beschreibt eine Licht emittierende Diode und ein Verfahren zu deren Herstellung. Diese Diode verfügt über Halbleiterschichten auf GaN-Basis auf einem isolierenden Substrat. Zu den Halbleiterschichten gehören eine untere n-Schicht und eine obere p-Schicht mit einer dazwischen eingebetteten aktiven Schicht zum Erzeugen von Licht. In der Halbleiter-Laminatstruktur auf GaN-Basis ist ein ringförmiger Isolationsabschnitt wie ein Graben oder ein durch Ionenimplantation erzeugter Abschnitt mit hohem Widerstand vorhanden, um die p-Schicht in eine zentale p-Schicht und eine p-Randschicht zu unterteilen und die aktive Schicht in eine zentrale aktive Schicht und eine aktive Randschicht zu unterteilen. Auf der zentralen p-Schicht ist eine p-Elektrode so hergestellt, dass sie die p-Randschicht nicht elektrisch kontaktiert. Eine leitende Schicht ist so aufgetragen, dass sie die Seitenwände und die Unterseite des isolierenden Substrats bedeckt und in ohmschem Kontakt mit der n-Schicht steht. Vorzugsweise ist zwischen den Seitenwänden und der Unterseite des isolierenden Substrats eine Haftschicht eingebettet, um die Hafteigenschaften zu verbessern. Bei dieser Diode kann die leitende Schicht als spiegelförmiger Reflektor oder als lichtdurchlässige Schicht ausgebildet sein.
  • Die JP 02-023301 A beschreibt eine klebkraftverstärkende Struktur von optischen Komponenten. Bei dieser Struktur sind klebkraftverstärkende Zwischenschichten zwischen den Verbindungsflächen von optischen Komponenten aus Glas und einem Klebstoff vorgesehen. Die eine klebkraftverstärkende Zwischenschicht ist eine funktionale Schicht, welche durch Dampfabscheidung von Dielektrika wie beispielsweise TiO2, SiO2 oder CeO3, Metallen wie beispielsweise Gold und Silber, und Halbleitern auf der Basis von Silicium gebildet wird. Die andere klebkraftverstärkende Zwischenschicht ist eine Magnesiumfluoridschicht, deren optische Dicke so eingestellt ist, dass sie die Eigenschaften des einfallenden Lichts nicht verändert.
  • Zusammenfassung der Erfindung
  • Daher ist es eine Aufgabe der beanspruchten Erfindung, eine Lichtemissionsdiode mit stabiler Struktur zu entwickeln, um das oben genannte Problem zu lösen.
  • Diese Aufgabe wird durch das Verfahren nach Anspruch 1 sowie durch die Lichtemissionsdiode nach Anspruch 13 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen dargelegt.
  • Kurzbeschreibung der Zeichnungen
  • 1 ist eine Seitenansicht einer Lichtemissionsdiode gemäß der Erfindung.
  • 2 ist eine Seitenansicht eines ersten Stapels gemäß der Erfindung.
  • 3 ist eine Seitenansicht eines zweiten Stapels gemäß der Erfindung.
  • 4 ist eine Seitenansicht eines dritten Stapels gemäß der Erfindung.
  • 5 ist eine Seitenansicht eines vierten Stapels gemäß der Erfindung.
  • Detaillierte Beschreibung
  • Es ist auf die 1 Bezug zu nehmen. Die 1 ist eine Seitenansicht einer Lichtemissionsdiode 1 gemäß der Erfindung. Die Lichtemissionsdiode 1 verfügt über ein zweites Substrat 10, eine auf dem zweiten Substrat 10 hergestellte erste Reaktionsschicht 11, eine auf der ersten Reaktionsschicht 11 hergestellte transparente Kleberschicht, eine auf der transparenten Kleberschicht 12 hergestellte zweite Reaktionsschicht 22 und eine auf der zweiten Reaktionsschicht 22 hergestellte transparente, leitende Schicht 21. Die transparente, leitende Schicht 21 verfügt über ein erstes Flächengebiet und ein zweites Flächengebiet. Die Lichtemissionsdiode 1 verfügt ferner über eine auf dem ersten Flächengebiet der transparenten, leitenden Schicht 21 ausgebildete erste Kontaktschicht 13, eine auf der ersten Kontaktschicht 13 hergestellte erste Mantelschicht 14, eine auf der ersten Mantelschicht 14 hergestellte Emissionsschicht 15, eine auf der Emissionsschicht 15 hergestellte zweite Mantelschicht 16, eine auf der zweiten Mantelschicht 16 hergestellte zweite Kontaktschicht 17, eine auf der zweiten Kontaktschicht 17 hergestellte erste Elektrode 19 und eine auf dem zweiten Flächengebiet der transparenten, leitenden Schicht 21 hergestellte zweite Elektrode 20.
  • Es ist auf die 2 Bezug zu nehmen. Die 2 ist eine Seitenansicht eines ersten Stapels 2 und der zweiten Reaktionsschicht 22 gemäß der Erfindung. Der erste Stapel 2 und die zweite Reaktionsschicht 22 werden in der folgenden Abfolge hergestellt: Herstellen eines ersten Substrats 18, Herstellen der zweiten Kontaktschicht 17 auf dem ersten Substrat 18, Herstellen der zweiten Mantelschicht 16 auf der zweiten Kontaktschicht 17, Herstellen der Emissionsschicht 15 auf der zweiten Mantelschicht 16, Herstellen der ersten Mantelschicht 14 auf der Emissionsschicht 15, Herstellen der ersten Kontaktschicht 13 auf der ersten Mantelschicht 14, Herstellen der transparenten, leitenden Schicht 21 auf der ersten Kontaktschicht 13 und Herstellen der zweiten Reaktionsschicht 22 auf der transparenten, leitenden Schicht 21.
  • Es ist auf die 3 bis 5 Bezug zu nehmen. Die 3 ist eine Seitenansicht eines zweiten Stapels 3 und der ersten Reaktionsschicht 11 gemäß der Erfindung. Die 4 ist eine Seitenansicht eines dritten Stapels 4 gemäß der Erfindung. Die 5 ist eine Seitenansicht eines vierten Stapels 5 gemäß der Erfindung. Der zweite Stapel 3 und die erste Reaktionsschicht 11 werden dadurch hergestellt, dass das zweite Substrat 10 hergestellt wird und die erste Reaktionsschicht 11 auf dem zweiten Substrat 10 hergestellt wird. Der dritte Stapel 4 wird dadurch hergestellt, dass eine chemische Reaktion ausgeführt wird, um zwischen der zweiten Reaktionsschicht 22 des ersten Stapels 22 und der transparenten Kleberschicht 12 eine Wasserstoffbindung oder eine Ionenbindung zu erzeugen, und um zwischen der ersten Reaktionsschicht 11 des zweiten Stapels 3 und der transparenten Kleberschicht 12 eine Wasserstoffbindung oder eine Ionenbindung zu erzeugen. Die chemische Reaktion wird bei erhöhter Temperatur ausgeführt, und sie kann zusätzlich bei erhöhtem Druck ausgeführt werden. Der vierte Stapel 5 wird dadurch hergestellt, dass das erste Substrat 18 entfernt wird. Nachdem der vierte Stapel 5 hergestellt wurde, wird er bis zum zweiten Flächengebiet der transparenten, leitenden Schicht 21 geätzt. Dann wird die erste Elektrode 19 auf der zweiten Kontaktschicht 17 hergestellt, und die zweite Elektrode 20 wird auf dem zweiten Flächengebiet der transparenten, leitenden Schicht 21 hergestellt, um die Lichtemissionsdiode 1 herzustellen.
  • Das erste Substrat 18 verfügt über mindestens ein aus der aus GaP, GaAs, Ge und ähnlichen Materialien bestehenden Gruppe ausgewähltes Material. Das zweite Substrat 10 verfügt über mindestens ein aus der aus SiC, Al2O3, Glasmaterialien, Quarz, GaP, GaAsP, AlGaAs und ähnlichen Materialien bestehenden Gruppe ausgewähltes Material. Die transparente Kleberschicht 12 verfügt über mindestens ein aus der aus PI (Polyimid), BCB (Benzocyclobuten), PFCB (Perfluorcyclobuten) und ähnlichen Materialien bestehenden Gruppe ausgewähltes Material. Die erste Reaktionsschicht 11 und die zweite Reaktionsschicht 22 verfügen jeweils über mindestens ein aus der aus SiNx, Ti, Cr und ähnlichen Materialien bestehenden Gruppe ausgewähltes Material. Die erste Kontaktschicht 13 und die zweite Kontaktschicht 17 verfügen jeweils über mindenstens ein aus der aus GaP, GaAs, GaAsP, InGaP, AlGaInP, AlGaAs und ähnlichen Materialien bestehenden Gruppe ausgewähltes Material. Die erste Mantelschicht 14, die Emissionsschicht 15 und die zweite Mantelschicht 16 verfügen jeweils über AlGaInP oder ähnliche Materialien. Die transparente, leitende Schicht 21 verfügt über mindestens ein aus der aus Indiumzinnoxid, Cadmiumzinnoxid, Antimonzinnoxid, Zinkoxid, Zinkzinnoxid, BeAu, GeAu, Ni/Au und ähnlichen Materialien bestehenden Gruppe ausgewähltes Material.
  • Im Vergleich zur einschlägigen Technik wird eine chemische Reaktion ausgeführt, um zwischen der zweiten Reaktionsschicht 22 und der transparenten Kleberschicht 12 eine Wasserstoff- oder Ionenbindung zu erzeugen und um zwischen der ersten Reaktionsschicht 11 und der transparenten Kleberschicht 12 eine Wasserstoff- oder Ionenbindung zu erzeugen. Die Wasserstoff- oder Ionenbindungen können die zweite Reaktionsschicht 22 fest auf der ersten Reaktionsschicht 11 halten. Daher löst sich die zweite Reaktionsschicht 22 nicht von der ersten Reaktionsschicht 11. Die Lichtemissionsdiode 1 verfügt über eine stabile Struktur.

Claims (20)

  1. Verfahren zum Herstellen einer Lichtemissionsdiode (1), mit folgenden Schritten: – Herstellen eines ersten Stapels (2) durch: – Bereitstellen eines ersten Substrats (18), – Herstellen einer zweiten Kontaktschicht (17) auf dem ersten Substrat (18), – Herstellen einer zweiten Mantelschicht (16) auf der zweiten Kontaktschicht (17), – Herstellen einer Emissionsschicht (15) auf der zweiten Mantelschicht (16), – Herstellen einer ersten Mantelschicht (14) auf der Emissionsschicht (15), – Herstellen einer ersten Kontaktschicht (13) auf der ersten Mantelschicht (14), und – Herstellen einer transparenten, leitenden Schicht (21) auf der ersten Kontaktschicht (13); – Herstellen einer zweiten Reaktionsschicht (22) auf der transparenten, leitenden Schicht (21) des ersten Stapels (2); – Herstellen eines zweiten Stapels (3); – Herstellen einer ersten Reaktionsschicht (11) auf dem zweiten Stapel (3); und Zusammenhalten der ersten Reaktionsschicht (11) und der zweiten Reaktionsschicht (22) mittels einer transparenten Kleberschicht (12).
  2. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem die erste (11) und die zweite (22) Reaktionsschicht jeweils über mindestens ein aus der aus SiNx, Ti und Cr bestehenden Gruppe ausgewähltes Material verfügen.
  3. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 2, ferner mit den folgenden Schritten: – Entfernen des ersten Substrats (18); – Ätzen der zweiten Kontaktschicht (17), der zweiten Mantelschicht (16), der Emissionsschicht (15), der ersten Mantelschicht (14) und der ersten Kontaktschicht (13); und – Herstellen einer ersten Elektrode (19) auf der zweiten Kontaktschicht (17) und einer zweiten Elektrode (20) auf der transparenten, leitenden Schicht (21).
  4. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem das erste Substrat (18) über mindestens ein aus der GaP, GaAs und Ge bestehenden Gruppe ausgewähltes Material verfügt.
  5. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem die erste Kontaktschicht (13) und die zweite Kontaktschicht (17) jeweils über mindestens ein aus der aus GaP, GaAs, GaAsP, InGaP, AlGaInP und AlGaAs bestehenden Gruppe ausgewähltes Material verfügen.
  6. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem die erste Mantelschicht (14), die Emissionsschicht (15) und die zweite Mantelschicht (16) jeweils aus AlGaInP bestehen.
  7. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem die transparente, leitende Schicht (21) über mindestens ein aus der aus Indiumzinnoxid, Cadmiumzinnoxid, Antimonzinnoxid, Zinkoxid, Zinkzinnoxid, BeAu, GeAu und Ni/Au bestehenden Gruppe ausgewähltes Material verfügt.
  8. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem die transparente Kleberschicht (12) über mindestens ein aus der aus PI: (Polyimid), BCB: (Benzocyclobuten) und PFCB: (Perfluorcyclobuten) bestehenden Gruppe ausgewähltes Material verfügt.
  9. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem es zum Herstellen eines zweiten Stapels (3) gehört, ein zweites Substrat (10) herzustellen.
  10. Verfahren nach Anspruch 9, bei dem das zweite Substrat (10) über mindestens ein aus der aus SiC, Al2O3, Glasmaterialien, Quarz, GaP, GaAsP und AlGaAs bestehenden Gruppe ausgewähltes Material verfügt.
  11. Verfahren nach einem der vorstehenden Ansprüche, bei dem die erste Reaktionsschicht (11) und die zweite Reaktionsschicht (22) durch chemische Bindungen mit der transparenten Kleberschicht (12) zusammengehalten werden.
  12. Verfahren nach Anspruch 11, bei dem die chemischen Bindungen Wasserstoff- oder Ionenbindungen sind.
  13. Lichtemissionsdiode (1) mit: – einem ersten Stapel (2), der folgendes aufweist: – eine auf einer zweiten Reaktionsschicht (22) hergestellte transparente, leitende Schicht (21) mit einem ersten Flächengebiet und einem zweiten Flächengebiet, – eine auf dem ersten Flächengebiet der transparenten, leitenden Schicht (21) hergestellte erste Kontaktschicht (13), – eine auf der ersten Kontaktschicht (13) hergestellte erste Mantelschicht (14), – eine auf der ersten Mantelschicht (14) hergestellte Emissionsschicht (15), – eine auf der Emissionsschicht (15) hergestellte zweite Mantelschicht (16), – eine auf der zweiten Mantelschicht (16) hergestellte zweite Kontaktschicht (17), – eine auf der zweiten Kontaktschicht (17) hergestellte erste Elektrode (19), und – eine auf dem zweiten Flächengebiet der transparenten, leitenden Schicht (21) hergestellte zweite Elektrode (20); – einem zweiten Stapel (3); – einer auf dem zweiten Stapel (3) hergestellten ersten Reaktionsschicht (11); und – einer zwischen der ersten und der zweiten Reaktionsschicht (11, 22) hergestellten transparenten Kleberschicht (12).
  14. Lichtemissionsdiode nach Anspruch 13, bei dem die erste (11) und die zweite (22) Reaktionsschicht jeweils über mindestens ein aus der aus SiNx, Ti und Cr bestehenden Gruppe ausgewähltes Material verfügen.
  15. Lichtemissionsdiode (1) nach Anspruch 13 oder 14, bei dem die erste Kontaktschicht (13) und die zweite Kontaktschicht (17) jeweils über mindestens ein aus der aus GaP, GaAs, GaAsP, InGaP, AlGaInP und AlGaAs bestehenden Gruppe ausgewähltes Material verfügen.
  16. Lichtemissionsdiode (1) nach einem der Ansprüche 13 bis 15, bei dem die erste Mantelschicht (14), die Emissionsschicht (15) und die zweite Mantelschicht (16) jeweils aus AlGaInP bestehen.
  17. Lichtemissionsdiode (1) nach einem der Ansprüche 13 bis 16, bei dem die transparente, leitende Schicht (21) über mindestens ein aus der aus Indiumzinnoxid, Cadmiumzinnoxid, Antimonzinnoxid, Zinkoxid, Zinkzinnoxid, BeAu, GeAu und Ni/Au bestehenden Gruppe ausgewähltes Material verfügt.
  18. Lichtemissionsdiode (1) nach einem der Ansprüche 13 bis 17, bei dem die transparente Kleberschicht (12) über mindestens ein aus der aus PI: (Polyimid), BCB: (Benzocyclobuten) und PFCB: (Perfluorcyclobuten) bestehenden Gruppe ausgewähltes Material verfügt.
  19. Lichtemissionsdiode (1) nach einem der Ansprüche 13 bis 18, bei der der zweite Stapel (3) über ein zweites Substrat (10) verfügt und wobei die erste Reaktionsschicht (11) auf diesem zweiten Substrat (10) hergestellt ist.
  20. Lichtemissionsdiode (1) nach Anspruch 19, bei dem das zweite Substrat (10) über mindestens ein aus der aus SiC, Al2O3, Glasmaterialien, Quarz, GaP, GaAsP und AlGaAs bestehenden Gruppe ausgewähltes Material verfügt.
DE10331825A 2002-07-15 2003-07-14 Lichtemissionsdiode mit einer Kleberschicht und zugehöriges Herstellverfahren Expired - Lifetime DE10331825B4 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW91114587 2002-07-15
TW091114587A TW544958B (en) 2002-07-15 2002-07-15 Light emitting diode with an adhesive layer and its manufacturing method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE10331825A1 DE10331825A1 (de) 2004-02-12
DE10331825B4 true DE10331825B4 (de) 2011-01-05

Family

ID=29708491

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10331825A Expired - Lifetime DE10331825B4 (de) 2002-07-15 2003-07-14 Lichtemissionsdiode mit einer Kleberschicht und zugehöriges Herstellverfahren

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6876005B2 (de)
JP (1) JP4159421B2 (de)
DE (1) DE10331825B4 (de)
TW (1) TW544958B (de)

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8294172B2 (en) 2002-04-09 2012-10-23 Lg Electronics Inc. Method of fabricating vertical devices using a metal support film
US6841802B2 (en) 2002-06-26 2005-01-11 Oriol, Inc. Thin film light emitting diode
TWI241728B (en) 2004-09-01 2005-10-11 Epistar Corp Semiconductor light-emitting device and production method thereof
TWI330413B (en) 2005-01-25 2010-09-11 Epistar Corp A light-emitting device
TWI220577B (en) * 2003-07-25 2004-08-21 Epistar Corp Light emitting device having composite substrate
TWI270991B (en) * 2004-01-16 2007-01-11 Epistar Corp Organic adhesive light-emitting device with ohmic metal contact
TWI244220B (en) * 2004-02-20 2005-11-21 Epistar Corp Organic binding light-emitting device with vertical structure
TWI236837B (en) * 2004-02-20 2005-07-21 Epistar Corp Organic adhesive light emitting element with ohmic metal protrusion
TWI244221B (en) 2004-03-01 2005-11-21 Epistar Corp Micro-reflector containing flip-chip light emitting device
US7018859B2 (en) * 2004-06-28 2006-03-28 Epistar Corporation Method of fabricating AlGaInP light-emitting diode and structure thereof
TWI302038B (en) * 2004-07-07 2008-10-11 Epistar Corp Light emitting diode having an adhesive layer and heat paths
TWI299914B (en) * 2004-07-12 2008-08-11 Epistar Corp Light emitting diode with transparent electrically conductive layer and omni directional reflector
TWI352437B (en) 2007-08-27 2011-11-11 Epistar Corp Optoelectronic semiconductor device
JP2007059873A (ja) * 2005-07-26 2007-03-08 Sharp Corp 半導体発光素子及びその製造方法
TWI282636B (en) * 2005-12-29 2007-06-11 Epistar Corp Semiconductor light-emitting device and manufacturing method thereof
US20100084679A1 (en) * 2006-01-06 2010-04-08 Epistar Corporation Light-emitting device
US20080128734A1 (en) * 2006-01-06 2008-06-05 Epistar Corporation Light-emitting device
JP2008004587A (ja) * 2006-06-20 2008-01-10 Sharp Corp 半導体発光素子及びその製造方法並びに化合物半導体発光ダイオード
JP5306589B2 (ja) 2006-11-17 2013-10-02 シャープ株式会社 半導体発光素子及びその製造方法
TWI322522B (en) * 2006-12-18 2010-03-21 Delta Electronics Inc Electroluminescent device, and fabrication method thereof
TWI349371B (en) * 2007-02-13 2011-09-21 Epistar Corp An optoelectronical semiconductor device having a bonding structure
TWI411124B (zh) * 2007-07-10 2013-10-01 Delta Electronics Inc 發光二極體裝置及其製造方法
DE102012102476B4 (de) * 2012-03-22 2022-09-08 OSRAM Opto Semiconductors Gesellschaft mit beschränkter Haftung Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Halbleiterbauteils
US10363863B2 (en) 2016-03-07 2019-07-30 Paul Westerman Flexible lighting system with conductive adhesive backing for mounting on a grounded surface of a vehicle
JPWO2023002787A1 (de) 2021-07-19 2023-01-26
CN117813674A (zh) 2021-08-17 2024-04-02 信越半导体株式会社 暂时接合晶圆及其制造方法
TWM645474U (zh) 2021-09-29 2023-09-01 日商信越半導體股份有限公司 接合體、接合型晶圓、剝離系統及製造系統

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0223301A (ja) * 1988-07-12 1990-01-25 Toyo Commun Equip Co Ltd 光学部品の接着力強化構造
DE10045149A1 (de) * 2000-09-07 2002-04-04 Highlink Technology Corp Chupe Licht emittierende Diode und Verfahren zu deren Herstellung
DE10118447A1 (de) * 2000-11-07 2002-05-16 United Epitaxy Co Ltd Leuchtdiode und Verfahren zum Herstellen derselben

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW497277B (en) * 2000-03-10 2002-08-01 Toshiba Corp Semiconductor light emitting device and method for manufacturing the same
US6420736B1 (en) * 2000-07-26 2002-07-16 Axt, Inc. Window for gallium nitride light emitting diode
TW522534B (en) * 2001-09-11 2003-03-01 Hsiu-Hen Chang Light source of full color LED using die bonding and packaging technology
TW513820B (en) * 2001-12-26 2002-12-11 United Epitaxy Co Ltd Light emitting diode and its manufacturing method

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0223301A (ja) * 1988-07-12 1990-01-25 Toyo Commun Equip Co Ltd 光学部品の接着力強化構造
DE10045149A1 (de) * 2000-09-07 2002-04-04 Highlink Technology Corp Chupe Licht emittierende Diode und Verfahren zu deren Herstellung
DE10118447A1 (de) * 2000-11-07 2002-05-16 United Epitaxy Co Ltd Leuchtdiode und Verfahren zum Herstellen derselben

Also Published As

Publication number Publication date
JP2004158823A (ja) 2004-06-03
DE10331825A1 (de) 2004-02-12
JP4159421B2 (ja) 2008-10-01
US20040106225A1 (en) 2004-06-03
TW544958B (en) 2003-08-01
US6876005B2 (en) 2005-04-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE10331825B4 (de) Lichtemissionsdiode mit einer Kleberschicht und zugehöriges Herstellverfahren
DE10329884B4 (de) Lichtemissionsdiode mit einer Kleberschicht und einer Reflexionsschicht und Herstellverfahren für diese
DE10204386B4 (de) Leuchtdiode und Verfahren zu ihrer Herstellung
CN1998094B (zh) 半导体发光二极管上的反射层的制造
DE102006061167A1 (de) Optoelektronisches Halbleiterbauelement
EP2270875A1 (de) Strahlungsmittierendes Halbleiterbauelement und dessen Herstellungsverfahren
DE102012217533A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements
EP2289113A1 (de) Optoelektronisches bauelement und verfahren zu dessen herstellung
WO2018134086A1 (de) Halbleiterlaser und verfahren zur herstellung eines solchen halbleiterlasers
EP2011142B1 (de) Verfahren zur herstellung eines verbundsubstrats
WO2009039812A1 (de) Optoelektronischer halbleiterkörper
DE112015006061T5 (de) Lichtemittierende Vorrichtung
DE10051465A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelements auf GaN-Basis
DE102006028692A1 (de) Elektrisch leitende Verbindung mit isolierendem Verbindungsmedium
DE102006034151A1 (de) Lichtemittierende Halbleitervorrichtung und Verfahren zu deren Herstellung
DE102009017148B4 (de) Verfahren zur Herstellung einer Verbindungshalbleiter- LED
DE102005029267A1 (de) Leuchtdiode mit Kleberschicht sowie zugehöriges Herstellverfahren
EP2001059A2 (de) Herstellungsverfahren für LED-Chip
DE102004061949B4 (de) LED mit organischer Kleberschicht
DE10357783A1 (de) Nitrid-Lichtemissionsbauteil
DE112013007218T5 (de) Lichtemittierende Vorrichtung und Verfahren zu ihrer Herstellung
DE602005004945T2 (de) Herstellung einer optischen Verbindungsschicht auf einem elektronischen Schaltkreis
DE102013104953B4 (de) Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zu seiner Herstellung
DE10017337C2 (de) Verfahren zum Herstellen lichtaussendender Halbleiterbauelemente
DE102004039870A1 (de) Licht emittierendes Element auf Nitridbasis mit hoher Effizienz

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
R020 Patent grant now final

Effective date: 20110405

R071 Expiry of right