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Die Erfindung betrifft eine Einrichtung
zur kontinuierlichen elektrischen Prüfung von endlosem isoliertem
Draht auf Isolationsfehler während
dessen Herstellungsprozesses und findet Anwendung bei der automatischen
und kontinuierlichen Erfassung von Fehlern in der Isolation von
elektrischen Leitern während
bzw. unmittelbar nach deren Fertigung.
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Einrichtungen, durch die elektrische
Fehler der Isolation wie Fehlstellen, Nadellöcher, Mikroporen etc., sowohl
am Austritt der Fertigungsstraße
als auch an einer Abführstrecke
erfaßt
werden, sind bereits bekannt. In der Regel weisen diese Einrichtungen
einen von einem Transformator gebildeten Hochspannungsgenerator,
der eine Wechselspannung von 3 – 50
kV abgibt, auf. Diese Hochspannung wird zwischen Masse, mit der
die Seele des Leiters verbunden ist, und der Isolation, die an einer
geeigneten Berührungs-
oder Kontakteinrichtung vorbeiläuft,
angelegt. Jeder Fehler der Isolierung hat eine Veränderung
der Stromstärke
im elektrischen Leiter, die Fehlerstrom genannt wird, zur Folge.
Dadurch ist es möglich,
die Fehler zu erfassen, sie zu zählen
und auch einen Alarm auszulösen
bzw. die Fertigung, falls erforderlich, zu unterbrechen.
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So wird in
DE 38 33 165 A1 ein Verfahren
zur Erfassung von kunststoffisolierten elektrischen Leitern beschrieben,
bei dem sowohl eine elektrische als auch eine Oberflächenprüfung durchgeführt wird. Dabei
werden die Meßsignale
der elektrischen Prüfung
und der Oberflächenprüfung einer
Logikstufe zugeführt, welche
beide Signale derart miteinander verknüpft, daß im Falle des Vorhandenseins
beider Meßsignale
ein zusätzliches
Ausgangssignal erzeugt wird. Die Signale weiterhin vorgesehener
Meßeinrichtungen
wie eines Meterzählers
sowie eines Zeitgebers werden als Hilfssignale für die logische räumliche
und zeitliche Zuordnung der beiden Meßsignale der Meßgeräte sowie
für die
Längenausdehnung
der Fehlstelle ebenfalls an die Logikschaltung übermittelt, so daß auch statistische
Auswertungen über Fehlerart
und -häufigkeit
ermöglicht
werden. Als Meßgerät zur Prüfung der
Isolierung auf Fehlstellen sollen Trockenprüfer oder auch Sparktester zum
Einsatz kommen, wobei hiermit die Nachteile des Einsatzes von Reibungsberührung (geringe
Fördergeschwindigkeiten;
ungenau, da die Berührung
mit der Außenseite
nicht vollkommen gewährleistet
werden kann; hoher Verschleiß der
Elektroden) und /oder Ionisation (hohe Prüfwechselspannung von 0,5 bis
20 kV bei 100 bis 600 Hz; Erfordernis eines selbständigen Generators
für eine
Festspannung von 2500 – 3000
V; komplizierte Ausbildung des leitenden Rohres) wirken.
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Eine Anordnung zur Prüfung der
elektrischen Spannungsfestigkeit der Isolation von isolierten elektrischen
Leitern in ihrer Gesamtheit wird in
DE 295 08 064 U1 vorgestellt. Dabei wird
ein elektrischer Leiter durch zwei in einer Richtung fluchtend zueinander angeordnete
Rollenpaare geführt
oder gezogen. Die Rollenpaare werden von jeweils zwei elastischen
und elektrisch leitenden Rollen gebildet, die Anschlüsse zum
Anlegen einer Prüfspannung
aufweisen. Die Elastizität
der Rollen wird so gewählt,
daß ein
zwischen ihnen durchgeführter
Leiter im wesentlichen vollständig
umschlungen wird, so daß nahezu
der gesamte Umfang des Leiters kontaktiert wird. Als Prüfspannung
kann sowohl Gleich- als auch Wechselspannung Anwendung finden. Eine
Unterscheidung von unterschiedlichen Isolationsfehlern wie Fehlstellen,
Nadellöchern,
Mikroporen ist hiermit jedoch nicht möglich. Da in dieser Druckschrift
keine Angaben zur Auswertung der Prüfergebnisse enthalten sind,
ist anzunehmen, daß deren
Anzeige und Weiterverarbeitung mit bekannten Mitteln des Standes
der Technik wie Meterzähler
und/oder Zeitgeber (
DE
38 33 165 A1 ) erfolgen.
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Deshalb liegt der vorliegenden Erfindung
das technische Problem zugrunde, die Nachteile der bekannten Lösungen auf
diesem Gebiet zu vermeiden und mit geringem Aufwand, unkomplizierten
Bauteilen, niedrigem Verschleiß und
hohen Durchlaufgeschwindigkeiten eine genaue und zuverlässige Prüfung der
Isolation eines elektrischen Leiters beim Passieren einer Prüfanordnung,
die mit Prüfspannung
beaufschlagte Rollen aufweist, zu ermöglichen, bei der ein und derselbe
Isolationsfehler eines Drahtes, der hinreichend ausgedehnt ist,
um zweimal, und zwar nacheinander beim Passieren der Laufrollen
erfaßt
zu werden, nicht doppelt gezählt,
jedoch permanent mangelhafte oder völlig fehlende Isolation dennoch
durch eine periodische Impulsfolge signalisiert und erfaßt wird,
so daß eine
sichere Unterscheidung zwischen, unter normalen Produktionsbedingungen entstehenden,
den hohen Qualitätsansprüchen nicht widersprechenden
Isolationsfehlerhäufigkeiten
und einer, auf eine grobe Störung
des Produktionsprozesses zurückzuführende,
als Massenfehler bezeichnete, extrem hohe Fehlerhäufigkeit,
beispielsweise durch völliges
Fehlen der Drahtisolation, möglich
ist.
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Dieses Problem wird erfindungsgemäß gelöst, indem
bei einer Einrichtung zur kontinuierlichen elektrischen Prüfung von
endlosem isoliertem Draht auf Isolationsfehler während dessen Herstellungsprozesses,
bestehend aus einem Hochspannungsgenerator, drei elektrisch leitenden
Laufrollen, die Anschlüsse
zum Anlegen einer Prüfspannung
aufweisen, einem Längenmeßgerät, zwei
Leckstrommeß-
und Grenzwertvergleichsschaltungen sowie einer Logikschaltung zur
Fehlerbewertung, der Hochspannungsgenerator, welcher über Vorwiderstände und
Hochspannungsleitungen mit allen drei Laufrollenlagern sowie bei
zwei Laufrollenlagern zusätzlich mit
den Leckstrommeßschaltungen
in Verbindung steht, mit den genannten Schaltungen in eine gemeinsame
Elektronikbaugruppe integriert ist und eine positive geregelte Prüfgleichspannung
im Bereich bis 4000 Volt erzeugt.
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Dadurch wird es möglich, die Prüfspannung direkt
im Meßkopf
zu erzeugen und zu regeln, wodurch sich eine hohe Störfestigkeit
und Genauigkeit ergibt.
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Weiterhin sind erfindungsgemäß die Laufrollenlager
der äußeren Laufrollen
in einer Richtung fluchtend angeordnet, während das Laufrollenlager der
mittleren Laufrolle im Abstand zur Fluchtlinie der äußeren Laufrollenlager
angeordnet ist, so daß der zu
prüfende
isolierte Draht, dessen Metallseele Erdpotential führt, unter
durch die Position und den Durchmesser der Laufrollen definierten
Umschlingungswinkeln, und zwar 60° für die mittlere
Laufrolle und jeweils 30° für die beiden äußeren Laufrollen,
die Laufrollen passiert, was einerseits für sicheren beidseitigen Oberflächenkontakt
des zu prüfenden
Drahtes mit den Laufrollen sorgt und andererseits die zur Funktion
der erfindungsgemäßen Logikschaltung
erforderlichen Längenverhältnisse
des zu jedem Zeitpunkt die Laufrollen berührenden/nicht berührenden Drahtes
schafft.
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Ein weiteres wesentliches Merkmal
der Erfindung ist das Längenmeßgerät, welches
in Laufrolle integriert ist und von einem Näherungsschalter sowie auf einem
Teilkreis der äußeren Laufrolle
angeordneten Bohrungen gebildet wird, wobei der Näherungsschalter über eine
Leitung mit der Elektronikbaugruppe verbunden ist, so daß ortsnah
eine präzise
periodische Erzeugung rechteckförmiger
elektrischer Längenzähl-Impulse
ermöglicht
wird.
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Zur Eingabe von Prüfspannungs-Sollwert und
Leckstrom-Grenzwert als Gleichspannung sowie zur Auswertung der
Längen-
und Fehlerzählimpulse ist
die Elektronikbaugruppe, welche Meßschaltungen enthält, deren
Meßergebnisse
mittels Komparatoren mit vorgegebenen Grenzwerten verglichen werden, über eine
Steuerleitung mit einem feldbusfähigen Steuergerät verbunden,
wodurch eine Fernsteuerung und -auswertung von jedem beliebigen
Standort, z.B. mittels eines zentralen Leitstandsrechners sowie
Betriebsdatenerfassungs-Terminals an den Produktionsanlagen, aus
ermöglicht
wird.
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Damit ein und derselbe Isolationsfehler
eines Drahtes, der hinreichend über
dessen Umfang ausgedehnt ist, um zweimal, und zwar nacheinander beim
Passieren der Laufrollen auf Vorder- und Rückseite des Drahtes erfaßt zu werden,
nicht doppelt gezählt,
jedoch permanent mangelhafte oder völlig fehlende Isolation dennoch
durch eine periodische Impulsfolge signalisiert und erfaßt werden
kann, ist erfindungsgemäß eine Logikschaltung
vorgesehen, die von NAND-Gattern, Binär-Zählern sowie Flip-Flops gebildet
wird, und die die Fehlersignale von den Laufrollen mit dem Takt
des Längenmeßgerätes derart verknüpft, daß an ihrem
Ausgang nur den Forderungen entsprechende zu zählende Fehlersignale anliegen.
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Weitere vorteilhafte Einzelheiten
und Merkmale der Erfindung ergeben sich nicht nur aus den Patentansprüchen und
den ihnen zu entnehmenden Merkmalen für sich und/oder in Kombination,
sondern auch aus dem nachfolgenden Ausführungsbeispiel.
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Hierbei zeigen:
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1 – schematische
Darstellung des Aufbaus der Meßeinrichtung
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2 – Logikschaltung
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3 – Simulationsergebnis
der Behandlung von Einzelfehlern
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4 – Simulationsergebnis
Dauerfehler durch fehlende Drahtisolation
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Wie in 1 dargestellt,
besteht die Einrichtung zur kontinuierlichen elektrischen Prüfung von endlosem
isoliertem Draht auf Isolationsfehler während dessen Herstellungsprozesses,
aus einem Hochspannungsgenerator, elektrisch leitenden Laufrollen,
die Anschlüsse
zum Anlegen einer Prüfspannung
aufweisen, einem Längenmeßgerät sowie
einer Logikschaltung.
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Dabei ist der Hochspannungsgenerator,
welcher über
die Hochspannungsleitungen 6, 7 und 8 mit den
Laufrollenlagern von drei Laufrollen 1, 2 und 3 in Verbindung
steht, in eine Elektronikbaugruppe 10 integriert und erzeugt
eine positive geregelte Prüfgleichspannung
im Bereich bis 4000 Volt.
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Die Laufrollenlager der äußeren Laufrollen 1 und 3 sind
in einer Richtung fluchtend angeordnet, während das Laufrollenlager der
mittleren Laufrolle 2 im Abstand zur Fluchtlinie der äußeren Laufrollenlager
angeordnet ist, so daß der
zu prüfende
isolierte Draht 4, dessen Metallseele Erdpotential führt, unter durch
die Position und den Durchmesser der Laufrollen definierten Umschlingungswinkeln,
und zwar 60° für die mittlere
Laufrolle 2 und jeweils 30° für die beiden äußeren Laufrollen 1 und 3,
die Laufrollen passiert.
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Die in 1 dargestellten
Positionen der Laufrollen bewirken außerdem, daß die Weglängen des Drahtes 4 bestimmte
Beträge
aufweisen, und zwar betragen die Weglängen des freilaufenden, keine
Laufrolle berührenden
Drahtes 4 zwischen der mittleren Laufrolle 2 und
den beiden äußeren Laufrollen 1 und 3 jeweils
ein Drittel des Laufrollenumfanges. Die Weglänge des die mittlere Laufrolle 2 umschlingenden
Drahtes 4 beträgt
ein Sechstel des Laufrollenumfanges und die Weglängen des die beiden äußeren Laufrollen 1 und 3 umschlingenden Drahtes 4 betragen
jeweils ein Zwölftel
des entsprechenden Laufrollenumfanges.
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In vorliegendem Beispiel haben die
Laufrollen 1, 2 und 3 einen Durchmesser
von 200 mm. Die Laufrollendurchmesser werden gemäß der Kundenanforderungen abhängig vom
Durchmesser des Drahtes 4 und des damit verbundenen minimal
zulässigen
Biegeradius bestimmt und können
somit 120, 200 oder 300 mm betragen.
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Mit diesen Wegverhältnissen
können
die für die
einwandfreie Funktion der erfindungsgemäßen Logikschaltung notwendigen
zeitlichen Fehlersignalverläufe
erzeugt werden.
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Das Längenmeßgerät ist in die äußere Laufrolle 3 integriert
und wird von einem Näherungsschalter 5 sowie
auf einem Teilkreis der Laufrolle 3 angeordneten Bohrungen
gebildet, wobei der Näherungsschalter 5 über die
Leitung 9 mit der Elektronikbaugruppe 10 verbunden
ist.
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Die Elektronikbaugruppe 10,
welche Meßschaltungen
enthält,
deren Meßergebnisse
mittels Komparatoren mit vorgegebenen Grenzwerten verglichen werden,
ist über
eine Steuerleitung 11 mit einem hier nicht dargestellten
feldbusfähigen
Steuergerät
zur Eingabe von Prüfspannungs-Sollwert
und Leckstrom-Grenzwert als Gleichspannung sowie zur Auswertung
der Längen-
und Fehlerzählimpulse
verbunden und enthält
eine Logikschaltung, die im folgenden noch näher beschrieben werden soll.
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Der zu prüfende isolierte Draht 4,
dessen Metallseele Erdpotenzial führt, passiert unter vorstehend
definierten Umschlingungswinkeln drei Laufrollen 1, 2 und 3 mit
jeweils 200 mm Durchmesser. Die Laufrollen sind gegenüber dem
Erdpotenzial mit einer positiven geregelten Prüfgleichspannung im Bereich
bis 4000 Volt beaufschlagt, die vom Hochspannungsgenerator in der
Elektronikbaugruppe 10 erzeugt wird und über die
Hochspannungsleitungen 6, 7 und 8 und
die Laufrollenlager anliegt. Die äußere Laufrolle 1 dient
dem Aufbringen elektrischer Ladung auf die Oberfläche der
Drahtisolation. Dieser Vorgang verursacht einen Stromfluß, der das
Prüfergebnis
stark verfälschen
würde, überlagerte
er den Strom durch die mittlere Laufrolle 2 und die äußere Laufrolle 3.
Der Strom durch die äußere Laufrolle 1 wird
in der Anordnung nicht gemessen, sondern lediglich durch einen Vorwiderstand
begrenzt.
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An der mittleren Laufrolle 2 und
der äußeren Laufrolle 3 wird
die Isolation auf beiden Seiten des Drahtumfanges auf Fehlstellen
geprüft.
Die durch die Hochspannungsleitungen 7 und 8 fließenden Ströme passieren
zu diesem Zweck in der Elektronikbaugruppe 10 befindliche
Vorwiderstände,
die Bestandteile von Leckstrom-Meßschaltungen sind. Die Meßergebnisse
werden hier anschließend
durch Komparatoren mit einem vorgegebenen Leckstrom-Grenzwert verglichen,
wodurch im Falle von Isolationsfehlern zu zählende rechteckförmige elektrische
Fehlerimpulse entstehen.
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An der äußeren Laufrolle 3 befindet
sich außerdem
ein Näherungsschalter 5.
Dieser gibt bei Rotation der Laufrolle wegen auf einem Teilkreis
angeordneter Bohrungen eine periodische rechteckförmige elektrische
Längenzähl-Impulsfolge über die
Leitung 9 an die Elektronikbaugruppe 10 ab. Diese
dient zur informatorischen Unterteilung des Drahtes in äquivalente
Längenabschnitte
als Bezug für
die Isolationsfehlerzählung. Über die
Steuerleitung 11 werden der Prüfspannungs-Sollwert und der
Leckstrom-Grenzwert als Gleichspannungen eingegeben sowie die durch
die erfindungsgemäße Logikschaltung
aufbereiteten Fehlerzählimpulse
und die Längenzählimpulse
ausgegeben.
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Die in 2 dargestellte,
in der Elektronikbaugruppe 10 enthaltene Logikschaltung
weist ein RS-Flip-Flop I3B auf, dessen Setzeingang das Fehlersignal
F1 von der mittleren Laufrolle 2 erhält und dessen inverser Ausgang
zum ersten Eingang des NAND-Gatters I1D geführt ist, wessen zweiter Eingang
das Fehlersignal F2 von der äußeren Laufrolle 3 erhält.
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Der Ausgang des NAND-Gatters I1D
wird zum Eingang des NAND-Gatters I1B geführt, während dessen zweiter Eingang
mit dem Ausgang des NAND-Gatters I1C verbunden ist.
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Die Eingänge des durch das NAND-Gatter I1C
gebildeten Inverters stehen ebenso wie der Rücksetzeingang des Binärzählers I2B
mit dem Fehlersignal F1 der mittleren Laufrolle 2 in Verbindung.
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Die Ausgänge CTO und CT1 des Binärzählers I2B
sind mit den Eingängen
des NAND-Gatters I1A verbunden, dessen Ausgang zu den Eingängen des
als Inverter dienenden NAND-Gatters I4A geführt ist. Der Ausgang des NAND-Gatters
I4A ist mit dem Rücksetzeingang
des Flip-Flops I3B verbunden.
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Der Ausgang des als Inverter dienenden NAND-Gatters 14C ist
mit den Rücksetzeingängen des
Binär-Zählers I2A
und des RS-Flip-Flops I3A verbunden.
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Der Ausgang CT1 des Binär-Zählers I2A führt zum
Setzeingang des RS-Flip-Flops I3A und der nichtinverse Ausgang des
RS-Flip-Flops I3A ist mit dem ersten Eingang des NAND-Gatters I4D
gekoppelt, dessen zweiter Eingang ebenso wie die Zählereingänge der
Binär-Zähler I2A
und I2B mit dem Takt T verbunden sind, und dessen Ausgang eine Verbindung
zum ersten Eingang des NAND-Gatters I4B aufweist. Der zweite Eingang
des NAND-Gatters I4B liegt ebenso wie die Eingänge des NAND-Gatters I4C am
Ausgang des des NAND-Gatters I1B.
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Der Ausgang des NAND-Gatters I4B
liegt am Eingang der aus den Widerständen R1, R2 und dem Transistor
T1 gebildeten invertierenden Treiberstufe an. Am Kollektor des Transistors
T1 entsteht das Ausgangssignal OutF.
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Durch diese Logikschaltung werden
die von den Komparatoren gelieferten Fehlersignale F1 von der mittleren
Laufrolle 2 und F2 von der äußeren Laufrolle 3 mit
dem periodischen Signal T des Näherungsschalters 5 (im
folgenden „Takt"
genannt) verknüpft.
Das Ausgangssignal OutF ist das den Forderungen entsprechende zu
zählende
Fehlersignal.
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Um ein und denselben Isolationsfehler
des Drahtes 4, der hinreichend über den Umfang des Drahtes 4 ausgedehnt
ist, um zweimal, nämlich
nacheinander beim Passieren der mittleren Laufrolle 2 als Fehlerimpuls
F1 und der äußeren Laufrolle 3 als
Fehlerimpuls F2 zu erscheinen, niemals doppelt zu zählen, werden
die beiden Fehlerimpulse wie folgt verarbeitet:
Die Fehlerimpulse
F1 setzen das RS-Flip-Flop I3B. Gleichzeitig wird der Binärzähler I2B
zurückgesetzt. In
diesem Zustand wird der Eingang 2 des NAND- Gatters I1D auf Low
gehalten, wodurch auftretende Fehlerimpulse F2 auf dessen Ausgangssignal
F2' keine Auswirkung haben, d.h. die an der äußeren Laufrolle 3 detektierten
Isolationsfehler werden zunächst
forderungsgemäß ignoriert.
Erst beim Eintreffen der dritten positiven Flanke des Taktes T, vom
Ende des Impulses in F1 an gezählt,
wird I3B zurückgesetzt,
so daß F2'
von F2 abhängig
wird. Der Zählerstand „drei"
von I2B wird durch UND-Verknüpfung
seiner Ausgänge 0 und 1 mittels
der NAND-Gatter I1A und, als Inverter fungierende, I4A ermittelt.
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Die Fehlerimpulse F1 und die maskierten Fehlerimpulse
F2'' erscheinen am Ausgang von I1B ODER-verknüpft als Signal F''. Solange
dieses Signal Low-Pegel besitzt, bleiben der Binärzähler I2A und das RS-Flip-Flop
I3A durch die Invertierung mittels 14C zurückgesetzt. Der Eingang 1 von
14D liegt dabei auf Lowund sein Ausgang auf High-Pegel. Von einzelnen
Fehlstellen herrührende
Fehlerimpulse in F'', die immer eine Dauer von weniger als einer
Periode des Taktes T aufweisen, werden deshalb über das NAND-Gatter I4B und
den Transistor T1 an den Ausgang OutF weitergegeben.
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Damit jedoch eine permanent mangelhafte oder
völlig
fehlende Isolation, die zunächst
zu statischen Fehlersignalen F1 und/oder F2 führt, veranlaßt wird,
am Ausgang OutF eine periodische Impulsfolge auszulösen, um
durch die Zählung
erkannt werden zu können,
werden in diesem Fall folgende Vorgänge gestartet:
Besitzt
F'' für
längere
Zeit High-Pegel, wenn z.B. die Drahtisolation völlig fehlt, wird zum Zeitpunkt
der zweiten positiven Flanke des Taktes T das RS-Flip-Flop I3A durch
den Binärzähler I2A
gesetzt. Am ersten Eingang von I4D liegt nun High-Pegel. Durch NAND-Verknüpfung mit
dem Taktsignal T erscheint am Ausgang von I4D nun das invertierte
Taktsignal T, welches nach
NAND-Verknüpfung
mit dem Fehlersignal durch I4B und Invertierung durch den Transistor
T1 an den Ausgang OutF gelangt.
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In den 3 und 4 werden zur Verdeutlichung
die Simulationsergebnisse der beschriebenen Vorgänge ersichtlich.
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In 3 tritt
ein und dieselbe Isolationsfehlstelle zuerst von der mittleren Laufrolle 2 herrührend in
F1, danach von der äußeren Laufrolle 3 herrührend in
F2 als High-Impulse in Erscheinung. Dies geschieht vor Ablauf des
Low-Impulses im Maskierungssignal M (Ausgang von I3B), der durch
Auszählung
dreier Taktimpulse T gebildet wird. In diesem Fall erscheint der
in F2 auftretende Impuls forderungsgemäß nicht am Ausgang OutF. Im
Gegensatz dazu erscheint ein solcher in F2 auftretender Impuls an
OutF, wenn er, unkorreliert mit F1, allein auftritt.
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4 zeigt
das Verhalten der Schaltung beim Auftreten grob mangelhafter oder
fehlender Drahtisolation. Nacheinander einsetzend liefern die mittlere
Laufrolle 2 und die äußere Laufrolle 3 in
F1 und F2 statische Fehlersignale als High-Zustände. Die
zweite positive Flanke des Taktes T nach Einsetzen des Signals in
F1 startet die Oszillation des Signals am Ausgang OutF.
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Vorstehend wurde eine bevorzugte
Ausführungsform
einer Einrichtung zur kontinuierlichen elektrischen Prüfung von
endlosem isoliertem Draht auf Isolationsfehler während dessen Herstellungsprozesses
beschrieben. Es versteht sich, daß die Werte der verschiedenen
Schaltungsbauteile und auch der Aufbau der Schaltungen geändert und
modifiziert werden können,
ohne dadurch den Bereich der Erfindung zu verlassen. Die vorliegende
Erfindung ist daher nicht auf das vorstehende Ausführungsbeispiel
beschränkt.
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- 1
- - äußere Laufrolle
- 2
- -
mittlere Laufrolle
- 3
- - äußere Laufrolle
- 4
- -
Draht
- 5
- -
Näherungsschalter
- 6
- -
Hochspannungsleitung
- 7
- -
Hochspannungsleitung
- 8
- -
Hochspannungsleitung
- 9
- -
Leitung
- 10
- -
Elektronikbaugruppe
- 11
- -
Steuerleitung
- I1A – I1D
- -
NAND-Gatter
- I2A,
I2B
- -
Binär-Zähler
- I3A,
I3B
- -
RS-Flip-Flop
- I4A – 14D
- -
NAND-Gatter
- T1
- -
Transistor
- R1
- -
Widerstand
- R2
- -
Widerstand
- F1
- -
Fehlersignal von Laufrolle 2
- F2
- -
Fehlersignal von Laufrolle 3
- T
- -
Taktsignal
- M
- -
Maskierungssignal
- OutF
- -
Ausgangssignal