DE102011003195A1 - Bauteil und Verfahren zum Herstellen eines Bauteils - Google Patents

Bauteil und Verfahren zum Herstellen eines Bauteils Download PDF

Info

Publication number
DE102011003195A1
DE102011003195A1 DE102011003195A DE102011003195A DE102011003195A1 DE 102011003195 A1 DE102011003195 A1 DE 102011003195A1 DE 102011003195 A DE102011003195 A DE 102011003195A DE 102011003195 A DE102011003195 A DE 102011003195A DE 102011003195 A1 DE102011003195 A1 DE 102011003195A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
mass
substrate
component
micro
damping
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE102011003195A
Other languages
English (en)
Other versions
DE102011003195B4 (de
Inventor
Ricardo Ehrenpfordt
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Robert Bosch GmbH
Original Assignee
Robert Bosch GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Robert Bosch GmbH filed Critical Robert Bosch GmbH
Priority to DE102011003195.2A priority Critical patent/DE102011003195B4/de
Priority to CN201180065958.3A priority patent/CN103328373B/zh
Priority to PCT/EP2011/071197 priority patent/WO2012100861A1/de
Priority to US13/981,900 priority patent/US9560744B2/en
Publication of DE102011003195A1 publication Critical patent/DE102011003195A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102011003195B4 publication Critical patent/DE102011003195B4/de
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0271Arrangements for reducing stress or warp in rigid printed circuit boards, e.g. caused by loads, vibrations or differences in thermal expansion
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B7/00Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems
    • B81B7/0032Packages or encapsulation
    • B81B7/0058Packages or encapsulation for protecting against damages due to external chemical or mechanical influences, e.g. shocks or vibrations
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/30Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor
    • H05K3/32Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
    • H01L2224/48227Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49117Conductor or circuit manufacturing
    • Y10T29/49124On flat or curved insulated base, e.g., printed circuit, etc.
    • Y10T29/4913Assembling to base an electrical component, e.g., capacitor, etc.

Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Bauteil (10), insbesondere ein elektronisches Bauteil, umfassend ein Substrat (14) mit wenigstens einem flexiblen Substratbereich (15), der wenigstens einen durch Bildung eines Masseverbundes versteiften Bereich aufweist, wobei der Masseverbund wenigstens umfasst einen Teil des flexiblen Substratbereichs (15), ein erstes mikro- oder nanostrukturiertes Bauelement (16) und ein Verbindungsmittel (18) zum Befestigen des ersten mikro- oder nanostrukturierten Bauelements (16) an dem flexiblen Substratbereich (15). Dabei ist eine Dämpfungsmasse (20) vorgesehen, die wenigstens das erste mikro- oder nanostrukturierte Bauelement (16) und einen lateral über den Masseverbund herausragenden Teil des Substrats (14) bedeckt. Ein derartiges Bauteil 10) bietet eine sichere Aufnahme für das elektronische Bauelement (16) und ferner eine gute Vibrationsentkopplung des elektronischen Bauelements (16) von Vibrationen des Bauteils (10).

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Bauteil, insbesondere ein elektronisches Bauteil und ein Verfahren zum Herstellen eines Bauteils, insbesondere eines elektronischen Bauteils, das eine gute Vibrationsentkopplung eines elektronischen Bauelements von Vibrationen des Bauteils bietet.
  • Stand der Technik
  • Üblicherweise werden elektrische Bauelemente, wie etwa mikromechanische Sensoren, in Gehäusen verpackt. Dabei unterscheidet man zwischen Gehäusen mit Kontaktfüßen, so genannten leaded Gehäusen, und Gehäusen mit Kontaktflächen, sogenannten leadless Gehäusen. Insbesondere kann ein mikromechanischer Sensor in ein vorgefertigtes, spritzgegossenes Grundgehäuse, ein so genanntes Premold-Gehäuse, eingesetzt werden, welches anschließend mit einem Deckel verschlossen wird.
  • In Abhängigkeit vom Einbauort können mikromechanische Sensoren unterschiedlichen Belastungen ausgesetzt sein. Insbesondere können mikromechanische Sensoren, beispielsweise ESP-Sensoren im Steuergerät, Vibrationsbelastungen ausgesetzt sein.
  • Eine Möglichkeit, einen Sensor vor diesen Vibrationen zu schützen, besteht darin, den Sensor auf einer Metallplatte anzubringen, welche auf einer Gelschicht gelagert ist. Eine andere Möglichkeit wird in der Druckschrift DE 10 2005 041 577 A1 beschrieben, in der ungewollte externe Vibrationen durch ein Verdrahtungselement abgeschwächt werden.
  • Offenbarung der Erfindung
  • Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist ein Bauteil, insbesondere ein elektronisches Bauteil, umfassend ein Substrat mit wenigstens einem flexiblen Substratbereich, der wenigstens einen durch Bildung eines Masseverbundes versteiften Bereich aufweist, wobei der Masseverbund wenigstens umfasst einen Teil des flexiblen Substratbereichs, ein erstes mikro- oder nanostrukturiertes Bauelement und ein Verbindungsmittel zum Befestigen des ersten mikro- oder nanostrukturierten Bauelements an dem flexiblen Substratbereich, und wobei eine Dämpfungsmasse vorgesehen ist, die wenigstens das erste mikro- oder nanostrukturierte Bauelement und einen lateral über den Masseverbund herausragenden Teil des Substrats bedeckt.
  • Unter einer Dämpfungsmasse kann im Sinne der vorliegenden Erfindung insbesondere eine Masse verstanden werden, welche eine mechanische Energie, insbesondere Vibrationsenergie, aufnehmen und in innere Energie, beispielsweise Reibung, umwandeln kann.
  • Unter einem mikro- oder nanostrukturierten Bauelement im Sinne der vorliegenden Erfindung kann insbesondere ein Bauelement mit internen Strukturabmessungen in einem Bereich von ≥ 1 nm bis ≤ 100 μm verstanden werden. Unter den internen Strukturabmessungen sind hierbei die Abmessungen von Strukturen innerhalb des Bauelements wie zum Beispiel Gräben, Stegen oder Leiterbahnen gemeint. Solche Bauelemente werden in der Mikrosystemtechnik oder in mikroelektromechanischen Systemen verwendet.
  • Unter einem versteiften Bereich im Sinne der vorliegenden Erfindung wird ein Bereich verstanden, der eine vergrößerte Steifigkeit beziehungsweise Härte und damit einen vergrößerten Widerstand gegenüber Verformungen aufweist, insbesondere bezogen auf den flexiblen Substratbereich als Solches.
  • Unter einem flexiblen Substratbereich kann dabei insbesondere verstanden werden ein Bereich des Substrats, der unter geringer Krafteinwirkung elastisch und/oder dehnbar und/oder verformbar ist. Insbesondere ist der flexible Substratbereich als solcher unter gleicher Krafteinwirkung elastischer und/oder dehnbarer und/oder verformbarer als der versteifte Bereich. Beispielsweise kann der flexible Substratbereich als solcher unter gleicher Krafteinwirkung um den Faktor fünf, insbesondere zehn, elastischer und/oder dehnbarer und/oder verformbarer als der „versteifte Bereich”. Dabei kann das Substrat einen oder eine Vielzahl flexibler Bereiche umfassen, oder der flexible Substratbereich ist über das gesamte Substrat ausgedehnt, was bedeutet, dass das gesamte Substrat flexibel ist.
  • Besonders bevorzugt ist der flexible Substratbereich dabei angeordnet mindestens in einer lateralen Ausdehnung des Substrats, die vorgesehen ist zur Bestückung des Substrats mit einem Bauelement, wie etwa einem elektronischen Bauelement, oder aber darüber hinausgehend in seiner gesamten Ausdehnung.
  • Erfindungsgemäß wird eine derartige Flexibilität vereint mit dem starren beziehungsweise versteiften Bereich, der ausgebildet wird durch Bildung eines Masseverbundes. Dieser versteifte Bereich kann somit eine DiePad-Funktion aufweisen, also das Bauteil sicher aufnehmen, um so zur Gewährleistung der Zuverlässigkeit beziehungsweise zur sicheren Befestigung des Bauelements zu dienen.
  • Das erfindungsgemäße Bauteil ist daher in der Lage, einerseits ein elektronisches Bauelement sicher auf einem Substrat befestigen zu können, und dabei andererseits eine gute Vibrationsdämpfung zur Verringerung der Gefahr von Beschädigungen sicherzustellen.
  • Der Masseverbund umfasst dabei wenigstens ein erstes mikro- oder nanostrukturiertes Bauelement und ein Verbindungsmittel zum Befestigen des ersten mikro- oder nanostrukturierten Bauelements an dem flexiblen Substratbereich. Dieser Teil des flexiblen Substratbereichs, an dem das erste mikro- oder nanostrukturiertes Bauelement befestigt ist, ist weiterhin ein Teil des Masseverbunds. In diesem einfachsten Fall kann das erste mikro- oder nanostrukturierte Bauelement beispielsweise mit einem härtbaren Klebstoff als Verbindungsmittel durch einen Klebstoff-Bauelement-Verbund an dem Substrat beziehungsweise an dem flexiblen Substratbereich befestigt werden, wobei der Klebstoff beispielsweise auf dem Substrat aushärtet. Eine Härtung des Klebstoffs ist hier wichtig, da die Versteifung insbesondere durch die Härte des Bauelements herrührt. Bei einer Verformung des Substrats beziehungsweise des flexiblen Bereichs als Solchem wirken daher auf den Klebstoff-Bauelement-Verbund Kräfte, denen der Klebstoff widerstehen muss. Dabei kann der Klebstoff, etwa durch Sieb- oder Schablonendruck, beziehungsweise durch Dispensen, auf das Substrat aufgebracht werden. Alternativ kann eine Klebstoffschicht auch beispielsweise bereits auf Waferlevel auf das Bauelement, etwa durch Belacken oder bei einem Sägeprozess über ein Transfertape, aufgebracht werden. Der Klebstoff kann dabei ein Duroplast sein, welcher gemeinsam im Chipverbund aushärtet oder auch ein Thermoplast, der bei einem Auftragen aufgeschmolzen wird und anschließend wieder aushärtet. Auch eine Bondschicht kann das Substrat und das Bauelement verbinden und anschließend aushärten, so dass auch durch eine Bondschicht das Verbindungsmittel gebildet werden kann.
  • Außerhalb des versteiften Bereichs, der einen Aufnahmebereich für das elektronische Bauelement bildet, dient der flexible Substratbereich insbesondere zur Vibrationsdämpfung. Dazu ist ferner eine Dämpfungsmasse vorgesehen, die wenigstens das erste mikro- oder nanostrukturierte Bauelement und einen lateral über den Masseverbund herausragenden Teil des Substrats bedeckt. Folglich ist das Bauelement vorzugsweise vollständig von der Dämpfungsmasse umgeben, wobei der lateral über den Masseverbund herausragenden Teil des Substrats beziehungsweise des flexiblen Substratbereichs durch eine seitliche Bedeckung des Bauelements herrühren kann. Ferner kann auch das gesamte Substrat bedeckt sein.
  • Durch den Einsatz der Dämpfungsmasse kann vorteilhafterweise die Dämpfung – verglichen mit einer Luft- oder Federdämpfung – deutlich verbessert werden. Zudem kann vorteilhafterweise durch Auswahl des Materials der Dämpfungsmasse die Dämpfung individuell angepasst werden. Ein besonderer Vorteil besteht zudem darin, dass durch den erfindungsgemäßen Aufbau eine Dämpfungswirkung in alle Raumrichtungen erzielt werden kann. Dies wiederum erlaubt den Einsatz von derartigen Bauteilen an praktisch jedem Einsatzort. Darüber hinaus können derartige Bauteile eine geringere Größe als herkömmliche Bauteile mit Gel-gelagerten Metallplatten aufweisen.
  • Dabei ist das Dämpfungsverhalten insbesondere anhängig von der Masse des Masseverbundes und den Eigenschaften der Dämpfungsmasse.
  • Das erfindungsgemäße Bauteil bietet daher gute Dämpfungseigenschaften bei gleichzeitig zuverlässiger Befestigung des Bauelements an dem Substrat. Die etwa durch eine Vibration auf das Bauelement übertragenen mechanischen Einwirkungen können daher sehr gering gehalten werden, was die Zuverlässigkeit und die Lebensdauer des erfindungsgemäßen Bauteils erhöht.
  • Das erfindungsgemäße Bauteil wie auch seine Komponenten können unter Einsatz geringer Kosten und unter Verwendung einer bekannten Technologie im Rahmen bekannter Aufbau- und Verbindungstechnik hergestellt werden. Der Applikationsaufwand auf einem herkömmlich verwendbaren Grundsubstrat ist dabei gering, was ebenfalls den Herstellungsaufwand sowie die Kosten senkt.
  • Dabei ist das Substrat mit seinem flexiblen Bereich oder seinen flexiblen Bereichen in seiner Geometrie als auch Größe in minimalen Ausmaßen entkoppelt von einer Werkzeuggröße beziehungsweise Werkzeuggeometrie und dabei mit einer minimalen Anzahl an Verbundpartnern herstellbar, was eine Große Freiheit in der Herstellung bietet. Dies bietet weiterhin den Vorteil einer möglichen Verringerung der Bauteilgröße, da sowohl die laterale Baugröße des Bauteils, als auch seine Höhe deutlich verringert werden kann.
  • Ferner ist das erfindungsgemäße Bauteil auch in Großserien problemlos herstellbar, was die Herstellungskosten ebenfalls senkt. Weitere Kosten können dabei gespart werden, da das flexible Substrat des efindungsgemäßen Bauteils nur dort versteift werden muss, wo auch ein Bauteil befestigt werden soll, was eine Materialersparnis erlaubt.
  • Vorzugsweise umfasst das Substrat ein Material, das einen Elastizitätsmodul in einem Bereich von ≤ 30 GPa aufweist, und zwar insbesondere in seinem flexiblen Bereich oder seinen flexiblen Bereichen. Besonders bevorzugt besteht das Substrat aus diesem Material. Durch das Vorsehen eines derartigen Materials kann eine besonders vorteilhafte Flexibilität erreicht werden, wodurch die Dämpfungseigenschaften des Masseverbunds kaum durch das Substrat beschränkt werden, sondern im Wesentlichen durch die Masse des Masseverbunds und das Dämpfungsmaterial beeinflusst werden. Dadurch sind die Dämpfungseigenschaften besonders einfach und verlässlich auf die jeweilige Anwendung einstellbar. Dabei ist es besonders bevorzugt, wenn das Substrat, insbesondere an seinem flexiblen Bereich oder seinen flexiblen Bereichen, aus einem flexiblen Kunststoff, wie insbesondere Polyimid geformt ist Polyimid hat ein Elastizitätsmodul von 2–7 GPa, was es neben seinen guten elektrischen Isolationseigenschaften besonders geeignet macht.
  • Im Rahmen einer vorteilhaften Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Bauteils weist das Substrat eine Dicke in einem Bereich von ≥ 10 μm bis ≤ 2000 μm, insbesondere ≥ 20 μm bis ≤ 500 μm, besonders bevorzugt ≥ 50 μm bis ≤ 200 μm auf, und zwar insbesondere in seinem flexiblen Bereich oder seinen flexiblen Bereichen. Auf diese Weise ist es möglich, eine Reihe von flexiblen Materialien zur Ausbildung des Substrats zu verwenden. Dabei ist es zweckmäßig, dass die Dicke an das verwendete Material angepasst wird. So ist bei flexibleren Materialien mit beispielsweise einem geringeren Elastizitätsmodul eine größere Dicke möglich, wohingegen bei weniger flexiblen Materialien mit einem entsprechend hohen Elastizitätsmodul geringere Dicken besonders geeignet sind. Entsprechend ist eine Anpassung des Elastizitätsmoduls, also des verwendeten Materials, an eine geeignete Substratdicke möglich.
  • Im Rahmen einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Bauteils umfasst der Masseverbund ferner einen Massekörper. Der Massekörper dient dabei insbesondere dazu, die Masse des Masseverbundes anzupassen, wodurch das Dämpfungsverhalten des Massesystems besonders einfach einstellbar ist Dazu ist es besonders zweckmäßig, wenn der Massekörper eine Dichte in einem Bereich von ≥ 2 kg/dm3 aufweist Ferner kann durch den Massekörper in geeigneter Weise der Grad der Versteifung eingestellt werden, indem beispielsweise unflexible Materialien verwendet werden. Dieser Massekörper kann dann an dem Substrat beziehungsweise an einem flexiblen Substratbereich befestigt werden. Beispielsweise kann der Massekörper ein Platte sein, die ausgebildet ist aus Kupfer, V2A-Stahl, Aluminium, Silber, Gold, anderen Metallen, oder auch Keramik, FR4 oder Silizium. Beispielsweise weist der Massekörper, wie auch der versteifte Bereich als Solcher, einen Elastizitätsmodul in einem Bereich von > 30 GPa auf. In diesem Fall kann insbesondere das erste mikro- oder nanostrukturierte Bauelement mit einem einfachen Klebstoff an dem Substrat befestigt sein, da hier aufgrund des Massekörpers keine großen Spannungen auftreten. Insgesamt kann dabei die Einstellung der Masse oder der Versteifung oder beides im Mittelpunkt stehen.
  • Dabei ist es besonders bevorzugt, dass der Massekörper ein weiteres mikro- oder nanostrukturiertes Bauelement ist. Dadurch kann auf einen nur zwecks einer Versteifung des Substrats aufgebrachten Massekörper verzichtet werden, wobei eine Mehrzahl an derartigen Bauelementen ohnehin vorteilhaft sind, da sie eine große Anwendungsbreite des Bauteils ermöglichen.
  • Im Rahmen einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Bauteils ist die Dämpfungsmasse ein Gel, ein Schaumstoff, ein Granulat, ein Elastomer oder eine Kombination davon, insbesondere ein Gel.
  • Beispielsweise kann die Dämpfungsmasse ein Schaumstoff sein, welcher auf einem Kunststoff basiert, ausgewählt aus der Gruppe, bestehend aus Polypropylen, Polyethylen, Polyethylenterephthalat, Polyurethan und Kombinationen davon. Insbesondere kann der Schaumstoff (in situ) beim Auftragen und/oder nach dem Auftragen ausgebildet werden. So kann vorteilhafterweise eine formschlüssige Verbindung erzielt werden. Es ist jedoch ebenso möglich, dass der Schaumstoff vor dem Aufbringen auf das erste mikro- oder nanostrukturierte Bauelement ausgebildet wird.
  • Die Dämpfungsmasse kann jedoch auch ein Granulat sein. Beispielsweise kann die Dämpfungsmasse Sand oder pulverförmiges Material sein. Da Granulate meist eine hohe Dichte aufweisen, kann beim Einsatz eines Granulats als Dämpfungsmasse vorteilhafterweise das Granulat zusätzlich als Masse dienen und das Schwingungs- und Dämpfungsverhalten verbessern.
  • Darüber hinaus kann die Dämpfungsmasse auch ein Elastomer, beispielsweise ein thermoplastisches Elastomer, sein. Elastomere können das Schwingungs- und Dämpfungsverhalten ebenfalls verbessern. Insbesondere kann das Elastomer (in situ) beim Auftragen und nach dem Auftragen ausgebildet werden oder im Fall eines thermoplastischen Elastomers im plastischen beziehungsweise erhitzten Zustand aufgetragen werden. So kann vorteilhafterweise ebenfalls eine formschlüssige Verbindung erzielt werden.
  • Ferner kann die Dämpfungsmasse ein Gel sein. Die Verwendung eines Gels bietet den Vorteil, dass diese meist transparent sind. Somit kann nach dem Aufbringen eine Qualitätskontrolle durchgeführt werden, um das Vorliegen einer formschlüssigen Verbindung sicher zu stellen. Des Weiteren können Gele eine ausgeprägte Eigenklebrigkeit aufweisen und somit ohne Haftvermittler haften. Darüber hinaus sind Gele bei Raumtemperatur plastisch verformbar und können daher vorteilhafterweise auch auf hitzeempfindliche Bauteile formschlüssig aufgetragen werden. insbesondere kann die Dämpfungsmasse ein Silikongel sein.
  • Die Dämpfungsmasse kann zum Beispiel eine Viskosität in einem Bereich von ≥ 5000 mPa·s bis ≤ 10000 mPa·s, insbesondere von ≥ 2000 mPa·s bis ≤ 8000 mPa·s, beispielsweise von ≥ 3000 mPa·s bis ≤ 4500 mPa·s, insbesondere bestimmt mittels DIN EN ISO 3219, und/oder eine Konsistenzkennzahl in einem Bereich von ≥ 20 mm/10 bis ≤ 100 mm/10, insbesondere von ≥ 40 mm/10 bis ≤ 80 mm/10, beispielsweise von ≥ 60 mm/10 bis ≤ 80 mm/10, insbesondere bestimmt mittels DIN ISO 2137 (Penetration 9,38 g hollow cone) und/oder eine dielektrische Konstante in einem in einem Bereich von ≥ 2 bis ≤ 6,5, insbesondere von ≥ 2,5 bis ≤ 3, beispielsweise von ≥ 2,6 bis ≤ 2,8, insbesondere bestimmt mittels DIN VDE 0303 T4, 50 Hz, aufweisen. Durch die Viskosität der Dämpfungsmasse kann vorteilhafterweise die Dämpfung entsprechend den Anforderungen des ersten mikro- oder nanostrukturierten Bauelements angepasst werden.
  • Im Rahmen einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Bauteils sind der Bereich des Masseverbundes, der auf der zur Dämpfungsmasse orientierten Substratseite aufgebracht ist, und die Dämpfungsmasse durch einen Überzug aus einer Umhüllmasse eingehaust Folglich ist insbesondere die Oberseite mit dem ersten mikro- oder nanostrukturierten Bauelement zusammen mit der Dämpfungsmasse durch die Umhüllmasse eingehaust. Dies dient einem mechanischen Schutz, beispielsweise der Dämpfungsmasse, und verhindert einen Verlust derselben.
  • Dabei ist es besonders bevorzugt, dass der flexible Substratbereich flexibler ist, als die Umhüllmasse. Insbesondere ist der flexible Substratbereich als Solcher unter gleicher Krafteinwirkung elastischer und/oder dehnbarer und/oder verformbarer als die Umhüllmasse. Beispielsweise kann der flexible Substratbereich als solcher unter gleicher Krafteinwirkung um den Faktor fünf, insbesondere zehn, elastischer und/oder dehnbarer und/oder verformbarer als die Umhüllmasse. Dadurch verleiht die Umhüllmasse dem Bauteil Stabilität, wohingegen der flexible Substratbereich in geeigneter Weise der Vibrationsentkopplung des elektronischen Bauelements dienen kann.
  • Im Rahmen einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des erfindungsgemäßen Bauteils weist das Substrat einen mechanisch verstärkten Lötbereich auf. Diese Ausführungsform ist insbesondere dann von Vorteil, wenn das gesamte Substrat flexibel ist, der flexible Substratbereich also eine Ausdehnung über das gesamte Substrat aufweist. Auf diese Weise kann an dem oder den Lötbereichen, die insbesondere für eine Befestigung des Substrats an einem Grundsubstrat durch Lötungen dienen, eine Verstärkung erzielt werden.
  • Es ist weiterhin bevorzugt, dass das erste und/oder weitere mikro- oder nanostrukturierte Bauelement, insbesondere das erste mikro- oder nanostrukturierte Bauelement, ausgewählt ist aus der Gruppe, bestehend aus mikro- oder nano-elektromechanischen Systemen, anwendungsspezifischen integrierten Schaltungen, Sensorelementen und Kombinationen davon.
  • Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist ferner ein Verfahren zum Herstellen eines Bauteils, insbesondere eines elektronischen Bauteils, umfassend die Schritte:
    • – Befestigen wenigstens eines ersten mikro- oder nanostrukturierten Bauelements und insbesondere eines Massekörpers an einem flexiblen Substratbereich eines Substrats mit einem Verbindungsmittel, wobei ein Masseverbund erzeugt wird, der den flexiblen Substratbereich zumindest teilweise versteift;
    • – Elektrisches Kontaktieren des wenigstens einen ersten mikro- oder nanostrukturierten Bauelements; und
    • – Aufbringen einer Dämpfungsmasse wenigstens auf das erste mikro- oder nanostrukturierte Bauelement sowie auf wenigstens einen lateral über den Masseverbund herausragenden Teil des Substrats.
  • Unter elektrischem Kontaktieren kann im Rahmen der vorliegenden Erfindung sowohl direktes als auch indirektes Kontaktieren verstanden werden. Beispielsweise kann eine direkte elektrische Kontaktierung eines Bauelements mit einem Substrat mittels eines an dem Bauelement befindlichen elektrischen Kontaktes und eines an dem Substrat befindlichen elektrischen Kontakts erfolgen, wobei der elektrische Kontakt des Bauelements den elektrischen Kontakt des Substrats kontaktiert beziehungsweise berührt. Eine indirekte elektrische Kontaktierung eines Bauelements mit einem Substrat kann beispielsweise dadurch erfolgen, dass ein elektrischer Kontakt des Bauelements über mindestens ein weiteres Element, beispielsweise ein weiteres Bauelement, einen elektrischen Leiter, zum Beispiel eine Leiterbahn oder einen Draht, oder ein elektrisch leitendes Material, zum Beispiel einen elektrische leitenden Kleber, mit einem elektrischen Kontakt des Substrats verbunden ist.
  • Dieses Verfahren ist besonders geeignet, um ein erfindungsgemäßes Bauteil zu erzeugen. Bezüglich der erfindungsgemäß erzielbaren Vorteile auch des erfindungsgemäßen Verfahrens wird insbesondere auf die Ausführungen zu dem erfindungsgemäßen Bauteil verwiesen.
  • Beispielsweise wird der Herstellungsprozess des Substrats vereinfacht, von Werkzeugabmessungen entkoppelt, die Bauteilabmessungen somit lateral verringerbar und die Kosten reduziert Die Dämpfungseigenschaften werden vom Substrat weitestgehend entkoppelt und dominiert durch die speziell anpassbare Dämpfungsmasse.
  • Ferner können zum Drahtbonden geeignete Drahtbondpads auf dem versteiften Bereich angeordnet werden, was die Zuverlässigkeit der Drahtbondverbindung beziehungsweise der Kontaktierung verbessert.
  • Weitere Vorteile und vorteilhafte Ausgestaltungen der erfindungsgemäßen Gegenstände werden durch die Zeichnungen veranschaulicht und in der nachfolgenden Beschreibung erläutert. Dabei ist zu beachten, dass die Zeichnungen nur beschreibenden Charakter haben und nicht dazu gedacht sind, die Erfindung in irgendeiner Form einzuschränken. Es zeigen
  • 1 einen schematischen Querschnitt durch eine Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Bauteils;
  • 2 einen schematischen Querschnitt durch eine weitere Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Bauteils;
  • 3 einen schematischen Querschnitt durch eine weitere Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Bauteils; und
  • 4 einen schematischen Querschnitt durch eine weitere Ausführungsform eines erfindungsgemäßen Bauteils.
  • In den 1 bis 4 ist ein erfindungsgemäßes Bauteil 10 gezeigt. Dabei sind gleiche oder vergleichbare Komponenten mit entsprechenden Bezugszeichen bezeichnet Das Bauteil 10 ist insbesondere ein elektronisches Bauteil, wie etwa ein Sensor, und kann auf einem Grundsubstrat 12 angeordnet sein.
  • Gemäß 1 umfasst das Bauteil 10 ein Substrat 14 mit wenigstens einem flexiblen Substratbereich 15. Der flexible Substratbereich 15 kann dabei eine begrenzte Ausdehnung aufweisen, oder aber über das gesamte Substrat 14 verlaufen, wodurch das gesamte Substrat 14 flexibel ist Dabei weist das Substrat 14, vorzugsweise an seinem flexiblen Substratbereich 15, insbesondere ein Elastizitätsmodul in einem Bereich von ≤ 30 GPa und eine Dicke in einem Bereich von ≥ 10 μm bis ≤ 2000 μm, insbesondere ≥ 20 μm bis ≤ 500 μm auf. Weiterhin weist der flexible Substratbereich 15 wenigstens einen durch Bildung eines Masseverbundes versteiften Bereich auf. In der Ausführungsform gemäß 1 umfasst der Masseverbund einen Teil des flexiblen Substratbereichs 15, ein erstes mikro- oder nanostrukturiertes Bauelement 16 und ein Verbindungsmittel 18 zum Befestigen des ersten mikro- oder nanostrukturierten Bauelements 16 an dem flexiblen Substratbereich 15. Das Verbindungsmittel 18 kann beispielsweise ein insbesondere gehärteter Klebstoff oder eine Bondverbindung sein. Als Materialien für das Substrat 14 können unter Anderem flexible Standardmaterialien, wie insbesondere Polyimid oder FR4 Anwendung finden.
  • Durch die Ausbildung des Masseverbunds ist das Substrat 14 beziehungsweise der flexible Substratbereich 15 in dem Bereich des Masseverbunds versteift, weist also gegenüber dem flexiblen Substratbereich 15 als Solchem eine gesteigerte Widerstandsfähigkeit gegenüber Verformungen auf. Die Versteifung wird dabei gebildet durch die Wechselwirkung der Verbundpartner in dem Masseverbund, also in dieser Ausführungsform dem Substrat 14 beziehungsweise dem Teil des flexiblen Substratbereichs 15, dem Verbindungsmittel 18 und dem Bauelement 16. Insbesondere wird der Grad der Versteifung erreicht durch die Härte beziehungsweise Steifigkeit des Bauelements 16. Das Verbindungsmittel 18 sollte dabei ebenfalls geeignet sein, bei einer Vibration, also einer Verformung des flexiblen Substratbereichs 15, die Verbindung von flexiblem Substratbereich 15 und Bauelement 16 beizubehalten, weshalb ein harter Klebstoff, wie etwa ein Epoxidklebstoff, besonders geeignet ist. Dadurch ist eine Verformbarkeit in dem versteiften Bereich nicht möglich.
  • Erfindungsgemäß ist ferner eine Dämpfungsmasse 20 vorgesehen, die wenigstens das erste mikro- oder nanostrukturierte Bauelement 16 und einen lateral über den Masseverbund herausragenden Teil des Substrats 14 bedeckt. Die Dämpfungsmasse 20 kann dabei ein Gel, ein Schaumstoff, ein Granulat, ein Elastomer oder eine Kombination davon, insbesondere ein Gel, sein.
  • Vorzugsweise sind der Bereich des Masseverbundes, der auf der zur Dämpfungsmasse 20 orientierten Substratseite aufgebracht ist und die Dämpfungsmasse 20 durch einen Überzug aus einer Umhüllmasse 22 eingehaust. Die Umhüllmasse 22 kann etwa durch Spritzgießen oder Spritzpressen geformte Pressmassen aufweisen, wie etwa Epoxidmassen mit Siliziumfüllstoffen. Erfindungsgemäß bildet die Umhüllmasse 22 daher insbesondere ein Gehäuse des erfindungsgemäßen Bauteils 10.
  • Für eine elektrische Kontaktierung ist das Bauelement 16 über eine oder eine Vielzahl von elektrischen Verbindungen 24 elektrisch beispielsweise mit dem Substrat 14 verbunden. Die elektrischen Verbindung 24 können durch Drahtbonden oder in Flipchip-Technik erfolgen. Das Substrat 14 enthält ferner nicht gezeigte elektrische Leiterbahnen zur Weiterführung der elektrischen Verbindungen 24 des Bauelements 16.
  • Das Substrat 14 oder gegebenenfalls die Umhüllmasse 22 kann weiterhin wenigstens einen Lötbereich 26 aufweisen, an dem das Substrat 14 an dem Grundsubstrat 12 befestigt ist. Dies kann insbesondere durch eine Lötung 28, beispielsweise durch Lötballs oder Lötpads realisiert werden.
  • Bei auftretenden Vibrationen an dem Einbauort des erfindungsgemäßen Bauteils 10 werden diese zwar über die Lötung 28 an die Umhüllmasse 22 weitergegeben, durch den flexiblen Substratbereich 15 und die Dämpfungsmasse 20 jedoch von den Bauelementen 16 und der vorzugsweise enthaltenen Mikromechanik entkoppelt. Die Dämpfung der an den Bauelementen 16 wirkenden Vibrationen wird im Wesentlichen durch die Dämpfungsmasse 20, das Substrat 14 beziehungsweise den flexiblen Substratbereich 15 und die Masse des Bauelements 16 bestimmt.
  • Der Masseverbund bildet dabei einen formstabilen Verbund und somit eine zusammenhängende schwingende Masse in einem Dämpfersystem. Diese kann in einem herkömmlichen Prozess der Aufbau- und Verbindungstechnik erzeugt werden.
  • Des Weiteren kann vorgesehen sein, dass auf der Oberfläche des Substrats 14 einen geeignete Strukturierung beispielsweise eines härtenden Klebstoffs oder einer härtenden Bondverbindung ausgestaltet wird, um elektrische Leitungen und/oder elektrische Anschlüsse auf dem Substrat 14 zu verstärken beziehungsweise zu versteifen, wodurch eine sichere und zuverlässige Drahtbond-Substratverbindung ermöglicht wird.
  • Das erfindungsgemäße Bauteil kann folglich durch ein Verfahren hergestellt werden, umfassend die Schritte:
    • – Befestigen wenigstens eines ersten mikro- oder nanostrukturierten Bauelements und insbesondere eines Massekörpers an einem flexiblen Substratbereich eines Substrats mit einem Verbindungsmittel, wobei ein Masseverbund erzeugt wird, der den flexiblen Substratbereich zumindest teilweise versteift;
    • – Elektrisches Kontaktieren des wenigstens einen ersten mikro- oder nanostrukturierten Bauelements; und
    • – Aufbringen einer Dämpfungsmasse wenigstens auf das erste mikro- oder nanostrukturierte Bauelement sowie auf wenigstens einen lateral über den Masseverbund herausragenden Teil des Substrats.
  • In 2 ist eine weitere Ausführungsform des erfindungsgemäßen Bauteils 10 gezeigt. Gemäß Figur weist das Substrat 14 einen mechanisch verstärkten Lötbereich 26 auf. Dazu kann an dem Lötbereich 26 eine mechanische Verstärkung 30 vorgesehen sein. Die mechanische Verstärkung 30 kann dabei als ein Glasfaserwerkstoff, beispielsweise mit Epoxidharz, wie etwa FR4, ausgebildet sein. Die mechanische Verstärkung 30 kann beispielsweise im Fertigungsprozess des Substrats 14 als zusammenhängende Rahmenstruktur aufgebracht werden, etwa aufgepresst werden, und weitere elektrische Kontaktflächen und elektrische Durchkontakte enthalten. Diese Ausgestaltung dient der Erhöhung der Zuverlässigkeit der Lötung 28.
  • In 3 ist eine weitere Ausführungsform des erfindungsgemäßen Bauteils 10 gezeigt Gemäß 3 umfasst der Masseverbund, etwa auf der dem ersten mikro- oder nanostrukturierten Bauelement 16 entgegengesetzten Seite des Substrats 14 ferner einen Massekörper 32. Der Massekörper 32 kann beispielsweise eine Metallplatte und ferner an dem Substrat 14 verklebt sein. Beispielsweise ist der Massekörper 32 ein elektronisches IC-Bauelement, wobei die Kontaktfläche dann zweckmäßigerweise zu dem Substrat 14 orientiert ist. Der elektrische Kontakt zwischen den Bauelementen kann beispielsweise über Drahtbonds und Durchlöcher in dem Substrat 14 hergestellt werden. Alternativ kann auch die Flip Chip Technik zum Einsatz kommen. Die elektrischen Verbindungen können über Leiterbahnen im Substrat 14 zu den Lötflächen 26 und zu dem Grundsubstrat 12 geführt werden. Vorzugsweise ist der Massekörper 32 ein weiteres mikro- oder nanostrukturiertes Bauelement.
  • Weiterhin kann der Massekörper 32 lateral das erste Bauelement 16 und auch eventuell mehrere Bauteile überspannen, jedoch nicht bis zu der vorzugsweise starren Umhüllmasse 22 reichen. Beispielsweise kann der Massekörper 32 Drahtbondpads überspannen, die zum Drahtbonden verwendet werden. Der Massekörper 32 kann dabei wesentlich zu der Versteifung des flexiblen Substratbereichs 15 beitragen, so dass die auf das Bauelement 16 und das Verbindungsmittel 18 wirkenden Kräfte gering gehalten werden können. Ferner kann er eine genau einstellbare Masse aufweisen. Dies erhöht die Zuverlässigkeit des Systems und kann zur Optimierung des Dämpfungsverhaltens im Feder-Dämpfer-Messesystem beitragen. Durch diese Anordnung wird zudem die Bauhöhe des erfindungsgemäßen Bauteils 10 verringert In Kombination von Substrat 14, Dämpfungsmasse 20, insbesondere mit Bezug auf die Shore-Härte und die Viskosität, sowie der Masse von Substrat 14, sowie Bauteil 18 kann die Dämpfung des Systems eingestellt werden.
  • In 4 ist eine weitere Ausführungsform des erfindungsgemäßen Bauteils 10 gezeigt. Gemäß 4 ist eine weitere Komponente 34 zwischen dem ersten Bauelement 16 und dem Substrat 14 angeordnet Die Komponente 34 kann wiederum ein Massekörper sein und das erste Bauelement 16 lateral überragen. Vorzugsweise ist die zweite Komponente 34, etwa durch Klebeschichten 36, 38, an dem ersten Bauelement 16 sowie dem Substrat 14 befestigt In diesem Fall kann die zweite Komponente 34 eine mechanische Verstärkung darstellen, so dass der Klebstoff nicht zwingend aushärten muss.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • DE 102005041577 A1 [0004]
  • Zitierte Nicht-Patentliteratur
    • DIN EN ISO 3219 [0030]
    • DIN ISO 2137 [0030]
    • DIN VDE 0303 T4 [0030]

Claims (10)

  1. Bauteil, insbesondere elektronisches Bauteil, umfassend ein Substrat (14) mit wenigstens einem flexiblen Substratbereich (15), der wenigstens einen durch Bildung eines Masseverbundes versteiften Bereich aufweist, wobei der Masseverbund wenigstens umfasst einen Teil des flexiblen Substratbereichs (15), ein erstes mikro- oder nanostrukturiertes Bauelement (16) und ein Verbindungsmittel (18) zum Befestigen des ersten mikro- oder nanostrukturierten Bauelements (16) an dem flexiblen Substratbereich (15), und wobei eine Dämpfungsmasse (20) vorgesehen ist, die wenigstens das erste mikro- oder nanostrukturierte Bauelement (16) und einen lateral über den Masseverbund herausragenden Teil des Substrats (14) bedeckt.
  2. Bauteil nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat (14) eine Dicke in einem Bereich von ≥ 10 μm bis ≤ 2000 μm, insbesondere ≥ 20 μm bis ≤ 500 μm aufweist
  3. Bauteil nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Masseverbund ferner einen Massekörper (32) umfasst.
  4. Bauteil nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Massekörper (32) ein weiteres mikro- oder nanostrukturiertes Bauelement ist
  5. Bauteil nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Dämpfungsmasse (20) ein Gel, ein Schaumstoff, ein Granulat, ein Elastomer oder eine Kombination davon, insbesondere ein Gel, ist.
  6. Bauteil nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Bereich des Masseverbundes, der auf der zur Dämpfungsmasse (20) orientierten Substratseite aufgebracht ist und die Dämpfungsmasse (20) durch einen Überzug aus einer Umhüllmasse (22) eingehaust sind.
  7. Bauteil nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der flexible Substratbereich (15) flexibler ist, als die Umhüllmasse (22).
  8. Bauteil nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass das Substrat (14) einen mechanisch verstärkten Lötbereich (26) aufweist
  9. Bauteil nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das erste und/oder weitere mikro- oder nanostrukturierte Bauelement, insbesondere das erste mikro- oder nanostrukturierte Bauelement (16), ausgewählt ist aus der Gruppe, bestehend aus mikro- oder nano-elektromechanischen Systemen, anwendungsspezifischen integrierten Schaltungen, Sensorelementen und Kombinationen davon.
  10. Verfahren zum Herstellen eines Bauteils (10), insbesondere eines elektronischen Bauteils (10), umfassend die Schritte: – Befestigen wenigstens eines ersten mikro- oder nanostrukturierten Bauelements (16) und insbesondere eines Massekörpers (32) an einem flexiblen Substratbereich (15) eines Substrats (14) mit einem Verbindungsmittel (18), wobei ein Masseverbund erzeugt wird, der den flexiblen Substratbereich (15) zumindest teilweise versteift; – Elektrisches Kontaktieren des wenigstens einen ersten mikro- oder nanostrukturierten Bauelements (16); und – Aufbringen einer Dämpfungsmasse (20) wenigstens auf das erste mikro- oder nanostrukturierte Bauelement (16) sowie auf wenigstens einen lateral über den Masseverbund herausragenden Teil des Substrats (14).
DE102011003195.2A 2011-01-26 2011-01-26 Bauteil und Verfahren zum Herstellen eines Bauteils Active DE102011003195B4 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102011003195.2A DE102011003195B4 (de) 2011-01-26 2011-01-26 Bauteil und Verfahren zum Herstellen eines Bauteils
CN201180065958.3A CN103328373B (zh) 2011-01-26 2011-11-28 构件以及用于制造构件的方法
PCT/EP2011/071197 WO2012100861A1 (de) 2011-01-26 2011-11-28 Bauteil und verfahren zum herstellen eines bauteils
US13/981,900 US9560744B2 (en) 2011-01-26 2011-11-28 Component and method for producing a component

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102011003195.2A DE102011003195B4 (de) 2011-01-26 2011-01-26 Bauteil und Verfahren zum Herstellen eines Bauteils

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102011003195A1 true DE102011003195A1 (de) 2012-07-26
DE102011003195B4 DE102011003195B4 (de) 2019-01-10

Family

ID=45099072

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102011003195.2A Active DE102011003195B4 (de) 2011-01-26 2011-01-26 Bauteil und Verfahren zum Herstellen eines Bauteils

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9560744B2 (de)
CN (1) CN103328373B (de)
DE (1) DE102011003195B4 (de)
WO (1) WO2012100861A1 (de)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140220422A1 (en) * 2013-02-06 2014-08-07 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Stretchable electronic systems with fluid containment
DE102013201926A1 (de) 2013-02-06 2014-08-07 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum elektrischen Kontaktieren eines Bauteils und Bauteilverbund
US10192830B2 (en) 2013-02-06 2019-01-29 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Self-similar and fractal design for stretchable electronics
US10840536B2 (en) 2013-02-06 2020-11-17 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Stretchable electronic systems with containment chambers

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20130264755A1 (en) * 2012-04-05 2013-10-10 Honeywell International Inc. Methods and systems for limiting sensor motion
KR101996437B1 (ko) * 2012-10-16 2019-07-05 삼성디스플레이 주식회사 투명 보호창, 이를 포함하는 가요성 표시 장치 및 투명 보호창의 제조 방법
JP7230419B2 (ja) * 2018-10-16 2023-03-01 富士電機株式会社 半導体装置、半導体装置の製造方法
US11532532B2 (en) * 2019-05-08 2022-12-20 Nxp Usa, Inc. Composite media protection for pressure sensor
CN113556860A (zh) * 2020-04-26 2021-10-26 深圳市柔宇科技有限公司 电路板组件、电子设备

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005041577A1 (de) 2004-09-08 2006-03-09 Denso Corp., Kariya Sensor für eine physikalische Grösse

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5253010A (en) * 1988-05-13 1993-10-12 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Printed circuit board
DE4238113A1 (de) 1992-11-12 1994-05-19 Mikroelektronik Und Technologi Anordnung zur spannungsfreien Chipmontage
JP3129928B2 (ja) 1995-03-30 2001-01-31 シャープ株式会社 樹脂封止型半導体装置
EP0740340B1 (de) * 1995-04-07 2002-06-26 Shinko Electric Industries Co. Ltd. Struktur und Verfahren zur Montage eines Halbleiterchips
SG120073A1 (en) 2002-07-18 2006-03-28 United Test & Assembly Ct Ltd Multiple chip semiconductor packages
JP4165360B2 (ja) 2002-11-07 2008-10-15 株式会社デンソー 力学量センサ
CN100399550C (zh) * 2003-02-03 2008-07-02 株式会社电装 传感器器件以及用于安装电子元件的陶瓷封装外壳
CN1774959A (zh) * 2003-04-15 2006-05-17 波零公司 用于印刷电路板的电磁干扰屏蔽
DE10332303A1 (de) * 2003-07-16 2005-02-17 Robert Bosch Gmbh Halterung für Bauteile
US7303645B2 (en) * 2003-10-24 2007-12-04 Miradia Inc. Method and system for hermetically sealing packages for optics
DE102004043663B4 (de) * 2004-09-07 2006-06-08 Infineon Technologies Ag Halbleitersensorbauteil mit Hohlraumgehäuse und Sensorchip und Verfahren zur Herstellung eines Halbleitersensorbauteils mit Hohlraumgehäuse und Sensorchip
DE102006011753B4 (de) 2006-03-13 2021-01-28 Infineon Technologies Ag Halbleitersensorbauteil, Verfahren zur Herstellung eines Nutzens und Verfahren zur Herstellung von Halbleitersensorbauteilen
DE102007057441B4 (de) 2007-11-29 2019-07-11 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements mit einem volumenelastischen Medium und mikromechanischen Bauelement
JP5115269B2 (ja) * 2008-03-26 2013-01-09 日本電気株式会社 半導体デバイスの実装構造体及び実装構造体を用いた電子機器
US7633015B2 (en) * 2008-03-31 2009-12-15 Apple Inc. Conforming, electro-magnetic interference reducing cover for circuit components
JP5458517B2 (ja) * 2008-07-02 2014-04-02 オムロン株式会社 電子部品
TW201019453A (en) * 2008-11-05 2010-05-16 Windtop Technology Corp MEMS package
DE102009001930B4 (de) * 2009-03-27 2018-01-04 Robert Bosch Gmbh Sensorbaustein
DE102010030960B4 (de) 2010-07-06 2020-12-10 Robert Bosch Gmbh Verfahren zur Herstellung eines schwingungsgedämpften Bauteils
JP5807413B2 (ja) * 2011-07-04 2015-11-10 セイコーエプソン株式会社 電子デバイス用パッケージ、電子デバイスおよび電子機器

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005041577A1 (de) 2004-09-08 2006-03-09 Denso Corp., Kariya Sensor für eine physikalische Grösse

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
DIN EN ISO 3219
DIN ISO 2137
DIN VDE 0303 T4

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140220422A1 (en) * 2013-02-06 2014-08-07 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Stretchable electronic systems with fluid containment
DE102013201926A1 (de) 2013-02-06 2014-08-07 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum elektrischen Kontaktieren eines Bauteils und Bauteilverbund
US10192830B2 (en) 2013-02-06 2019-01-29 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Self-similar and fractal design for stretchable electronics
US10497633B2 (en) * 2013-02-06 2019-12-03 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Stretchable electronic systems with fluid containment
US10840536B2 (en) 2013-02-06 2020-11-17 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Stretchable electronic systems with containment chambers

Also Published As

Publication number Publication date
US20140022745A1 (en) 2014-01-23
WO2012100861A1 (de) 2012-08-02
CN103328373A (zh) 2013-09-25
DE102011003195B4 (de) 2019-01-10
CN103328373B (zh) 2016-04-20
US9560744B2 (en) 2017-01-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102011003195B4 (de) Bauteil und Verfahren zum Herstellen eines Bauteils
DE102010030960B4 (de) Verfahren zur Herstellung eines schwingungsgedämpften Bauteils
EP2526545B1 (de) Sensor mit dämpfung
EP1602625A1 (de) Halbleitermodul mit einem Halbleiter-Sensorchip und einem Kunststoffgehäuse sowie Verfahren zu dessen Herstellung
DE102011006341A1 (de) Verfahren zur Fertigung eines Verdrahtungssubsrats mit eingebetteten Halbleiterchip
EP3186950B1 (de) Imagermodul für eine fahrzeug-kamera und verfahren zu dessen herstellung
DE102006011753A1 (de) Halbleitersensorbauteil mit Sensorgehäuse und Sensorchip und Verfahren zur Herstellung desselben
DE102011004577A1 (de) Bauelementträger und Bauteil mit einem MEMS-Bauelement auf einem solchen Bauelementträger
DE102007005630B4 (de) Sensorchip-Modul und Verfahren zur Herstellung eines Sensorchip-Moduls
DE102014118464A1 (de) Leiterplatte mit einem asymmetrischen Schichtenaufbau
DE202005001559U1 (de) Chipaufbau für stressempfindliche Chips
DE102010022204A1 (de) Elektrisches Bauelement mit flacher Bauform und Herstellungsverfahren
DE102005025754A1 (de) Halbleitersensorbauteil mit einem Sensorchip und Verfahren zur Herstellung desselben
DE10232788B4 (de) Elektronisches Bauteil mit einem Halbleiterchip auf einem Systemträger, Systemträger und Verfahren zur Herstellung eines elektronischen Bauteils
EP1779428B1 (de) Verfahren zur herstellung eines verdrahtungssubstrats eines halbleiterbauteils mit aussenkontaktanschlussflecken für aussenkontakte
DE102006026023A1 (de) Halbleiterbauteil mit Halbleiterchipstapel und Kunststoffgehäuse sowie Verfahren zur Herstellung des Halbleiterbauteils
DE10245451A1 (de) Elektronisches Bauteil mit einem Halbleiterchip, der flexible Chipkontakte aufweist, und Verfahren zur Herstellung desselben
DE102013222307A1 (de) Mikroelektromechanische Sensoranordnung und Verfahren zum Herstellen einer mikroelektromechanischen Sensoranordnung
DE102009029281A1 (de) Modul und Verfahren zur Herstellung eines Moduls
EP3375262B1 (de) Leiterbahnenstruktur mit einem schwingungsgedämpft aufgenommenen bauteil
DE102011118734A1 (de) Verbundlagenschaltung mit von aussen zugänglichen integrierten Komponenten
DE102006009540A1 (de) Substrat für ein substratbasiertes elektronisches Bauelement und elektronisches Bauelement mit verbesserter Zuverlässigkeit
DE10133571A1 (de) Elektronisches Bauteil und Verfahren zu seiner Herstellung
DE102017208472A1 (de) Verfahren zur Herstellung einer elektronischen Komponente und elektronische Komponente
DE102010032506A1 (de) Modul und Herstellungsverfahren

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed
R079 Amendment of ipc main class

Free format text: PREVIOUS MAIN CLASS: H01L0023240000

Ipc: B81B0001000000

R016 Response to examination communication
R016 Response to examination communication
R018 Grant decision by examination section/examining division
R020 Patent grant now final
R084 Declaration of willingness to licence