DE102010038988A1 - Sensoranordnung und Chip mit zusätzlichen Befestigungsbeinen - Google Patents

Sensoranordnung und Chip mit zusätzlichen Befestigungsbeinen Download PDF

Info

Publication number
DE102010038988A1
DE102010038988A1 DE102010038988A DE102010038988A DE102010038988A1 DE 102010038988 A1 DE102010038988 A1 DE 102010038988A1 DE 102010038988 A DE102010038988 A DE 102010038988A DE 102010038988 A DE102010038988 A DE 102010038988A DE 102010038988 A1 DE102010038988 A1 DE 102010038988A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
sensor
carrier
chip
interface arrangement
housing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE102010038988A
Other languages
English (en)
Inventor
Jakob Schillinger
Stephan Risch
Dietmar Huber
Günther ROMHART
Andreas Carrass
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Continental Teves AG and Co OHG
Original Assignee
Continental Teves AG and Co OHG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Continental Teves AG and Co OHG filed Critical Continental Teves AG and Co OHG
Priority to DE102010038988A priority Critical patent/DE102010038988A1/de
Publication of DE102010038988A1 publication Critical patent/DE102010038988A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49541Geometry of the lead-frame
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D11/00Component parts of measuring arrangements not specially adapted for a specific variable
    • G01D11/24Housings ; Casings for instruments
    • G01D11/245Housings for sensors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4912Layout
    • H01L2224/49171Fan-out arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/00014Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Abstract

Elektronischer Chip (1), umfassend wenigstens eine elektronische Schaltung (25) und zwei oder mehr Kontaktierungsbeine (2), wobei der Chip zusätzlich wenigstens ein Befestigungsbein (3) aufweist.

Description

  • Die Erfindung betrifft einen elektronischen Chip, eine Sensoranordnung sowie die Verwendung des elektronischen Chips oder der Sensoranordnung in Kraftfahrzeugen.
  • Die Erfindung hat sich die Aufgabe gestellt einen Chip vorzuschlagen, der relativ robust applizierbar ist sowie eine kostengünstige und robuste Sensoranordnung mit einer Schnittstellenanordnung, wobei der Chip und die Sensoranordnung insbesondere eine relativ unempfindliche und/oder andere Bauteile relativ wenig beeinflussende Befestigung ermöglichen soll.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch den elektronischen Chip gemäß Anspruch 1 sowie die Sensoranordnung gemäß Anspruch 4.
  • Durch den Einsatz von zusätzlichen Befestigungsbeinen können die Kontaktierungsbeine des Chips bzw. der Schnittstellenanordnung insbesondere mechanisch relativ schwach bzw. weich ausgelegt werden und beeinflussen so bei Kontaktierung eines Sensorelements, das eine mechanische Größe an oder in einem Träger misst, diese Messung relativ wenig oder nicht relevant.
  • Die Schnittstellenanordnung ist bevorzugt als „Vorspritzling” ausgebildet bzw. weist ein „Premoldgehäuse” auf bzw. weist Umspritzungssegmente auf, welche mit dem Leadframe partiell vergossen sind.
  • Der Träger ist vorzugsweise als Lagergehäuse oder Lagerschale oder Torsionsstab oder Biegebalken oder Membran ausgebildet.
  • Unter einem elektronischen Chip wird vorzugsweise zumindest eine integrierte elektronische Schaltung in einem Gehäuse verstanden, wobei das Gehäuse Kontaktierungsbeine aufweist, welche elektrische Kontakte aus dem Gehäuse herausführen.
  • Die Sensoranordnung umfasst bevorzugt wenigstens einen elektronischen Chip als Schnittstellenanordnung, in welchen zumindest eine Signalverarbeitungsschaltung und/oder insbesondere wenigstens ein zusätzliches Sensorelement integriert sind.
  • Es ist bevorzugt, dass das wenigstens eine Befestigungsbein des Chips bzw. der Schnittstellenanordnung zumindest eines der folgenden Merkmale aufweist,
    dass das zumindest eine Befestigungsbein einen größeren Querschnitt aufweist als die Kontaktierungsbeine, und/oder dass das wenigstens eine Befestigungsbein aus einem anderen Material ausgebildet ist, als die Kontaktierungsbeine,
    und/oder dass das zumindest eine Befestigungsbein weiter vom Chip abragend ausgebildet ist, als die Kontaktierungsbeine und/oder dass die Federsteifigkeit des wenigstens einen Befestigungsbeins mindestens 25% größer ist, insbesondere zumindest doppelt so groß ist, wie die Federsteifigkeit eines Kontaktierungsbeins.
  • Bevorzugt weist der Chip drei oder vier oder mehr Befestigungsbeine, insbesondere 6 oder 8, auf, um eine besonders solide und unempfindliche Befestigung des Chips zu ermöglichen.
  • Die Befestigungsbeine des Chips sind bevorzugt so ausgebildet und angeordnet, dass sie unterschiedlich weit vom Chip abragen im Vergleich zu den Kontaktierungsbeinen.
  • Das wenigstens eine Befestigungsbein ragt vorzugsweise mehr als die halbe oder mehr als die doppelte oder mehr als die dreifache Höhe oder Länge oder Breite des Chipgehäuses seitlich ab. Dadurch wird die Kontaktierung in der direkten Nähe des Chips erleichtert und/oder diese Befestigungsbeine stören andere Bauelemente in der direkten Umgebung des Chips nicht. Solch eine Störung bezieht sich auf unerwünschte mechanische und/oder elektromagnetische Beeinflussungen von Bauelementen.
  • Die Kontaktierungsbeine und die Befestigungsbeine des Chips und/oder der Schnittstellenanordnung sind zweckmäßigerweise aus Metall ausgebildet.
  • Die Kontaktierungsbeine und die Befestigungsbeine des Chips und/oder der Schnittstellenanordnung sind vorzugsweise jeweils als Teil, insbesondere einstückiges Teil, eines Leadframes ausgebildet, insbesondere als Teil des Leadframes der Schnittstellenanordnung.
  • Die Befestigungsbeine des Chips und der Schnittstellenanordnung sind vorzugsweise so ausgebildet und angeschlossen, dass sie im Wesentlichen keine elektrischen Signale leiten bzw. übertragen.
  • Die Sensoranordnung weist vorzugsweise mehrere Sensorelemente auf, die auf oder in dem Träger direkt oder indirekt angeordnet sind und mit dem Träger jeweils eine definierte Messzone aufweisen, wobei die Schnittstellenanordnung mehrere Befestigungsbeine umfasst, die jeweils mit dem Träger mechanisch direkt oder indirekt verbunden sind, jeweils außerhalb der Messzonen der Sensorelemente. Dabei ist die Messzone eines Sensorelements insbesondere definiert als die Kontaktfläche zwischen dem Sensorelement und dem Träger sowie zusätzlich die daran angrenzende Fläche des Trägers um die Kontaktfläche herum mit einer Breite dieser angrenzenden Fläche, welche größer-gleich 50% der Breite oder der Länge der Grundfläche des Sensorelements ist, insbesondere mit einer Breite der zusätzlichen angrenzenden Fläche größer-gleich einmal die Breite oder Länge der Grundfläche des Sensorelements, besonders bevorzugt mit einer Breite der zusätzlichen angrenzenden Fläche größer-gleich dreimal die Breite oder Länge der Grundfläche des Sensorelements.
  • Die Schnittstellenanordnung ist vorzugsweise über einem oder mehreren der Sensorelemente angeordnet.
  • Die Schnittstellenanordnung umschließt bevorzugt den Träger und umschließt insbesondere außerdem gemeinsam mit dem Träger die darauf/darin angeordneten Sensorelemente. Die Schnittstellenanordnung ist dabei entsprechend ausgebildet und angeordnet, besonders bevorzugt im Wesentlichen ringförmig.
  • Die Schnittstellenanordnung der Sensoranordnung ist vorzugsweise als Chip ausgebildet, wobei dessen Befestigungsbeine und Kontaktierungsbeine mit einem die wenigstens eine elektronische Schaltung umschließende, elektrisch isolierende Gehäuse und/oder dem Leadframe verbunden sind.
  • Das eine oder die mehreren Sensorelemente sind vorzugsweise so ausgebildet, dass sie eine mechanische Größe des Trägers erfassen.
  • Das wenigstens eine Sensorelement ist vorzugsweise als Dehnungsmessstreifen ausgebildet und insbesondere mit dem Träger durch eine elektrisch isolierende Isolierschicht verbunden.
  • Alternativ vorzugsweise ist das Sensorelement als auf einem kapazitiven und/oder ohmschen und/oder induktiven und/oder piezoelektrischen und/oder piezoresistiven und/oder optischen und/oder chemosensitiven und/oder magnetoresistiven Wirkprinzip beruhend ausgebildet ist.
  • Das Sensorelement ist dabei insbesondere so ausgebildet, dass es Druck und/oder Kraft und/oder Torsion und/oder Temperatur und/oder Biegung und/oder Körperschall und/oder eine chemische Größe und/oder eine elektromagnetische Größe und/oder eine optische Größe als Messgröße erfassen kann. Die Sensoranordnung ist dabei insbesondere so ausgebildet, dass das wenigstens eine Sensorelement diese Größe/n vom Träger abgreift bzw. erfasst.
  • Es ist bevorzugt, dass das Sensorelement durch eine Klebeschicht und/oder eine Lötschicht und/oder eine Dickfilmschicht und/oder eine Dünnfilmschicht und/oder eine Sputterschicht und/oder eine Aufdampfschicht mit dem Träger verbunden ist.
  • Das Chipgehäuse bzw. das Gehäuse um die Schnittstellenanordnung ist bevorzugt aus Kunststoff bzw. Mold ausgebildet.
  • Der Chip umfasst vorzugsweise eine integrierte Signalverarbeitungsschaltung, insbesondere eine Sensorsignalverarbeitungsschaltung, und eine zusätzliche integrierte Selbsttestschaltung, welche beide von dem Chipgehäuse umgeben sind.
  • Der Chip und das Sensorelement auf dem Träger sind bevorzugt beide gemeinsam und dabei jeweils zumindest teilweise von einer Schutzmasse und/oder von einem Deckel umgeben bzw. bedeckt.
  • Das zumindest eine Sensorelement sowie die Schnittstellenanordnung sind bevorzugt gemeinsam auf dem Träger zumindest teilweise von einer Schutzmasse und/oder wenigstens einem Deckel bzw. Gehäuse bedeckt und/oder umgeben.
  • Unter einer Schutzmasse wird vorzugsweise ein Dichtgel, insbesondere Silicon, und/oder ein Schutzgel und/oder Thermoplast oder Duroplast oder ein Schaum verstanden.
  • Unter einem Deckel wird bevorzugt ein Gehäuse oder Gehäuseteil verstanden
  • Der Deckel ist bevorzugt aus Metall ausgebildet.
  • Insbesondere ist der Deckel ein im Wesentlichen massiver Außendeckel. Alternativ vorzugsweise ist der Deckel ein Innendeckel, beispielsweise zum Umspritzen und zur Versteifung, welcher mit Öffnungen ausgebildet ist, beispielsweise in perforierter oder durchbrochener oder gitterförmiger Form. Der Innendeckel mit Öffnungen ist zumindest teilweise von einem Außendeckel aus Kunststoff umgeben. Das Kunststoffmaterial dieses Außendeckels ist dabei insbesondere so ausgebildet, dass es in den Innendeckel hineinragt, diesen sogar besonders bevorzugt im Wesentlichen ausfüllt.
  • Der wenigstens eine Deckel, insbesondere der einzige Deckel, gefüllt mir einer Schutzmasse, und/oder der Innendeckel und/oder der Außendeckel sind bevorzugt am Träger zusätzlich mit im Wesentlichen L-förmigen Gehäuse-Befestigungselementen befestigt, um die Robustheit der entsprechenden Deckelanbringung zu erhöhen. Diese wenigstens eine Gehäuse-Befestigungselement kann auch Teil des Gehäuses selbst sein.
  • Der Träger ist bevorzugt gekrümmt ausgebildet, insbesondere als Außengehäuse eines Lagers.
  • Der Leadframe ist bevorzugt aus Metall bzw. aus Metallsträngen bzw. -leitern ausgebildet und alternativ vorzugsweise aus Metallbahnen auf einer Folie und/oder auf einem Kunststoffträger.
  • Die Sensoranordnung umfasst zweckmäßigerweise eine Selbsttesteinrichtung, die so ausgebildet ist, dass sie die elektrische Wirksamkeit der Isolierschicht zwischen Sensorelement und Träger und/oder die elektrische Wirksamkeit einer zusätzlichen Isolierschicht zwischen der zumindest einen elektronischen Schaltung der Schnittstellenanordnung und dem wenigstens einen Sensorelement testet. Dabei umfasst die Selbsttesteinrichtung insbesondere eine elektronische Testschaltung, welche eine elektrische Größe, besonders bevorzugt den Strom, durch den Träger, über wenigstens ein Befestigungsbein elektrisch mit der Testschaltung direkt oder indirekt über eine Bondverbindung verbunden, und dem wenigstens einen Sensorelement, durch wenigstens ein Kontaktierungsbein mit der Testschaltung direkt oder indirekt über eine Bondverbindung verbunden, erfasst.
  • Es ist bevorzugt, dass die Schnittstellenanordnung den Träger und die auf/in diesem angeordneten Sensorelemente gemeinsam zumindest teilweise umschließt, wobei die Schnittstellenanordnung sowie die Sensorelemente zusätzlich gemeinsam von einem Innengehäuse mit Öffnungen, welches auf dem Träger befestigt ist, umgeben sind und die Schnittstellenanordnung, die Sensorelemente sowie das Innengehäuse gemeinsam auf dem Träger mit Kunststoff als Außengehäuse umspritzt sind.
  • Alternativ vorzugsweise umschließt die Schnittstellenanordnung den Träger und die auf/in diesem angeordneten Sensorelemente gemeinsam zumindest teilweise, wobei die Schnittstellenanordnung sowie die Sensorelemente zusätzlich gemeinsam von einem im Wesentlichen massiven Gehäuse, insbesondere aus Metall, welches auf dem Träger befestigt ist, umgeben sind, das mit einer Schutzmasse gefüllt ist.
  • Bevorzugt ist die Sensoranordnung so ausgebildet, dass das Sensorelement elektrisch nichtleitend auf dem Träger befestigt ist und im Wesentlichen darüber der Chip angeordnet ist, wobei dessen Befestigungsbeine in einem Außenbereich des Sensorelement, am Träger befestigt, angeordnet sind und seine Kontaktierungsbeine mit Kontaktstellen des Sensorelements verbunden sind. Das Sensorelement und der Chip sind zumindest teilweise, insbesondere vollständig von einer Schutzmasse bedeckt. Darüber ist insbesondere ein Innendeckel angeordnet, der ebenfalls auf dem Träger, weiter außen als die Kontaktierungsbeine, befestigt ist. Dieser Innendeckel ist besonders bevorzugt perforierte oder gitterförmig ausgebildet. Darüber ist ganz besonders bevorzugt ein Außendeckel as Kunststoff angeordnet, wobei der Kunststoff in den Innendeckel durch dessen Öffnungen hineinreicht und optional den Innendeckel im Wesentlichen umschließt.
  • Alternativ vorzugsweise weist die Sensoranordnung keinen Innendeckel über der Schutzmasse auf und stattdessen einen im Wesentlichen undurchlässigen, insbesondere hermetisch dichten, Deckel aus Metall oder Kunststoff auf, welcher mit dem Träger verbunden ist und das Sensorelement und den Chip schützt.
  • Es ist zweckmäßig, dass das Sensorelement und der Chip mit einer Klebestelle und/oder einem Dämpfungselement miteinander verbunden sind.
  • Der Träger ist bevorzugt gekrümmt ausgebildet. Insbesondere ist der Träger das Außengehäuse einen Lagers, besonders bevorzugt Radlagers eines Kraftfahrzeugs. Alternativ vorzugsweise ist der Träger der Außenmantel eines Torsionsstabs.
  • Es ist bevorzugt, dass das wenigstens eine Sensorelement auf einer Befestigungsschicht, welche insbesondere elektrisch isolierend ausgebildet ist, auf dem Träger angeordnet ist.
  • Vorzugsweise ist Länge l, mit welcher das wenigstens eine Befestigungsbein seitlich vom Chipgehäuse abragt, also insbesondere im Wesentlichen die Länge entlang senkrecht zur Flächennormalen des Trägers, besonders bevorzugt mittig unter dem Sensorelement, vom Außenmantel des Chipgehäuses bis zum Ende des Befestigungsbeines in dieser Richtung, länger bzw. größer als 1/10 oder 1/4 oder 1 mal der Dicke der Befestigungsschicht zwischen Sensorelement und Träger oder größer als 1/10 oder 1/4 oder 1 mal der Dicke des Sensorelements oder größer als 1/10 oder 1/4 oder 1 mal der Dicke des Trägers, beispielsweise der Wandstärke des Radlagergehäuses.
  • Die Sensoranordnung umfasst bevorzugt einen Kabelabgang, welche die Schnittstellenanordnung bzw. den Chip elektrisch kontaktiert. Dabei ist der Kabelabgang insbesondere in das zumindest eine Gehäuse der Sensoranordnung eingelassen. Der Kabelabgang ist so ausgebildet, dass die Kontaktierung zwischen Schnittstellenanordnung und Kabelabgang eine relativ hohe Biegewechselfestigkeit aufweist, beispielsweise durch das Material dieser Kontaktierung, die besonders bevorzugt über einen Leadframeleiter erfolgt, der eine elastische Zone aufweist und optional aus einem anderen Material ausgebildet ist als die Kontaktierungsbeine und/oder Befestigungsbeine.
  • Die Schnittstellenanordnung stellt insbesondere die Signalanpassung zwischen dem einen oder den mehreren Sensorelementen und elektrischen Anschluss dar. Die Schnittstellenanordnung umfasst dabei zweckmäßigerweise die Signalverstärkung, Filterung, Kalibrierung, Ausgangstreiberstufe, Stromversorgung und Selbstüberwachung oder Teile davon. Es sind auch Ausführungsformen mit zusätzlichen Sensorelementen mit Auswerteelektronik (z. B. Beschleunigungssensoren) realisierbar. Durch gemeinsame Auswertung der Sensorsignale können weitere Informationen gewonnen werden.
  • Die Sensoranordnung umfasst dabei bevorzugt bezüglich eines oder mehrerer Sensorelemente ein bzw. jeweils ein Verteiler-Element, das auf einem elektrischen Kontakt eines Sensorelements angeordnet ist und dabei insbesondere so ausgebildet und angeordnet ist, dass dieses Verteiler-Element eine im Wesentlichen plane Oberfläche aufweist, selbst wenn der elektrische Kontakt bzw. das elektrische Kontakt-Pad des Sensorelements eine leicht gekrümmte Oberfläche aufweist. Dadurch wird die Druckverteilung bei der mechanischen Kontaktierung und Herstellung einer planen Kontaktierfläche bei gekrümmten Sensorflächen verbessert.
  • Es ist bevorzugt, dass die elektrischen Kontakte der Kontaktierelemente und/oder andere elektrische Kontakte und/oder das Sensorelement und/oder zumindest Teile der Schnittstellenanordnung sind zumindest teilweise mit Schutzmasse bedeckt sind, ins zur mechanischen und thermischen Entlastung bei einer Umspritzung. Dies ist besonders bevorzugt auch vorgesehen, wenn ein die Sensoranordnung ein Innengehäuse mit Öffnungen sowie ein Außengehäuse aus Mold bzw. Kunststoffspritzguss aufweist.
  • Die Schnittstellenanordnung ist zweckmäßigerweise zusätzlich auf den Träger geklebt, beispielsweise mit einem Kleber oder einer Folie. Ziel dieses Klebers ist eine zusätzliche Fixierung, eine Schutzschicht, mechanische Dämpfungsschicht oder eine akustische Anbindung anzubringen.
  • Das Innengehäuse mit Öffnungen ist zweckmäßigerweise mit dem Kabelabgang zur Zugentlastung mechanisch verbunden und insbesondere gemeinsam mit dem Kabelabgang zumindest teilweise umspritzt.
  • Im Bereich der Sensorik und Aktorik besteht beispielsweise häufig die Aufgabenstellung eine Ansteuer- oder Auswerteelektronik in unmittelbarer Nähe zum Sensor- oder Aktorelement anzubringen. Ist das Sensorelement kraftschlüssig mit dem Konstruktionselement verbunden, dann besteht die Schwierigkeit eine geeignete Verbindungs- und Montagetechnik für die Elektronik zu realisieren.
  • Eine direkte Montage von Bare Dies auf dem Konstruktionselement und Verbindung des Elements mit dem Bare Die mittels Wire-Bondtechnik kann beispielsweise folgende Nachteile bedingen:
    • – Hohes Risiko einer Kontamination der Kontaktoberflächen durch die Fertigungsumgebung im Nichtreinraum
    • – Schädigungsrisiko des Bare Dies durch das Handling im ungeschützten Zustand
    • – Erhöhte Investkosten durch anlagenseitig erforderliche Sonderkonstruktionen
    • – Die direkte Montage des Bare Dies führt zu einer Einkopplung von mechanischen Spannungen auf Chip und infolgedessen zu einer Änderung der Eigenschaften des Chips. Maßgebend sind die piezoresistiven Strukturen auf dem Chip.
    • – Des Weiteren wird die Temperatur des Träger/Messinterface direkt auf das Chip eingekoppelt. Hierdurch treten eine verstärkte Alterung der Bondverbindung und eine erhöhte Temperaturdrift auf.
  • Diese Schwierigkeiten werden insbesondere durch den Chip sowie die Sensoranordnung gelöst.
  • Die integrierte Sensorsignalverarbeitungsschaltung ist vorzugsweise in dem gemoldeten Interface-IC vollkommen von den mechanischen Spannungen auf der Träger/Messinterface entkoppelt. Die absolute und auch mittlere Betriebstemperatur ist bevorzugt durch die räumliche Abkopplung deutlich abgesengt. Der zweckmäßige zusätzliche Schutz durch das Moldgehäuse schützt den Bare Die gegen chemische Angriffe, die die Lebensdauer und das Verhalten des IC negativ beeinflussen können.
  • Die Erfindung betrifft außerdem die Verwendung der Sensoranordnung am Außengehäuse eines Lagers, insbesondere eines Radlagers, in einem Kraftfahrzeug.
  • Weitere bevorzugte Ausführungsformen ergeben sich aus den Ausführungsbeispielen an Hand von Figuren sowie den Unteransprüchen.
  • Es zeigen in schematischer Darstellung
  • 1 ein Ausführungsbeispiel einer Sensoranordnung mit einem einzigen Sensorelement und einer Schnittstellenanordnung, die einen Chip aufweist,
  • 2 einen beispielhaften Chip, und
  • 3 die beispielhafte Kapselung einer Schnittstellenanordnung und eines Sensorelements mit einem Innengehäuse und einem Außengehäuse aus Kunststoffspritzguss,
  • 4 eine beispielhafte Veranschaulichung einer Messzone eines Sensorelements auf dem Träger,
  • 5 eine Sensoranordnung bei welcher die Schnittstellenanordnung den Träger umschließt,
  • 6 ein ringförmiges Ausführungsbeispiel einer Schnittstellenanordnung innerhalb einer Sensoranordnung, umschlossen von einem Innengehäuse und einem Außengehäuse aus Kunststoff-Spitzguss,
  • 7 ein Ausführungsbeispiel einer Sensoranordnung bei der die Schnittstellenanordnung im Wesentlichen von einem Spritzgussgehäuse als elektrisch isolierendem Gehäuseteil umgeben ist und diese Schnittstellenanordnung insgesamt von einem massiven Gehäuse aus Metall umgeben ist, das mit einer Schutzmasse gefüllt ist, sowie
  • 8 die beispielhafte Schnittstellenanordnung aus 7 von oben, wobei Ausnehmungen im Spritzgussgehäuse gezeigt werden, mit Hilfe derer die Kontaktierungsbeine und Befestigungsbeine von außen mit dem Träger bzw. dem Sensorelement verschweißt werden können.
  • In 1 ist eine beispielhafte Sensoranordnung dargestellt, mit einem Sensorelement 11, welcher über eine Isolierschicht 12 auf Träger 5 befestigt ist. Die elektrischen Kontakte des Sensorelements 11 weisen Verteiler-Elemente 22 auf, um eine nicht dargestellte leichte Krümmung der Trägers 5 und der Kontaktier-Pads des Sensorelements 11 mechanisch auszugleichen. Chip 1, welcher eine elektronische Schaltung, beispielgemäß eine elektronische Signalverarbeitungsschaltung umfasst, ist Teil der Schnittstellenanordnung und ist über Sensorelement 11 angeordnet. Chip 1 ist dabei mit Befestigungsbeinen 3 an Träger 5 befestigt, außerhalb der Messzone 9, welche beispielgemäß über die Kontaktfläche 24 zwischen Sensorelement 11 und Träger 5 hinausgeht und die Grundfläche 23 des Sensorelements umschließend mit einer halben Länge dieser Grundfläche einrahmt. Die elektrische Kontaktierung zwischen Chip 1 und Sensorelement 11 erfolgt über Kontaktierungsbeine 2. Die Sensoranordnung umfasst einen Kabelabgang 19, welcher mit Chip 1 elektrisch leitend verbunden ist und mit Gehäuse 14 aus Metall mechanisch verbunden ist, wobei hierzu zusätzliche Befestigungselemente 21 mechanische Zugentlastung des Kabelabgangs 19 sicherstellen. Gehäuse 14 ist mit einer Schutzmasse 13, beispielgemäß einem elektrisch isolierenden Gel gefüllt und weist Gehäuse-Befestigungselemente 20 zur besonders robusten Befestigung an Träger 5 auf.
  • 2 zeigt einen beispielhaften Chip, der eine elektronische Schaltung 25 sowie eine Selbsttestschaltung 17 umfasst, die jeweils über Bondverbindungen 18 mit Kontaktierungsbeinen 2 verbunden sind. Die Selbsttestschaltung 17 ist außerdem mit einem Befestigungsbein 3 verbunden, um die elektrische Isolation der Kontaktierungsbeine 2 und der Schaltung 25 gegenüber dem nicht dargestellten Träger, an dem Befestigungsbeine 3 befestigt werden, zu prüfen bzw. zu überwachen. Chip 1 weist ein Gehäuse 4 aus Kunststoff auf. Die Kontaktierungsbeine 2 sind beispielgemäß mittels Schutzkondensatoren 26 paarweise miteinander verbunden, um die elektromagnetische Verträglichkeit der Anordnung zu erhöhen.
  • In 3 ist ein Chip 1 gemeinsam mit einem Sensorelement 11 als „Blackbox” von einem Schutzmasse 13 auf Träger 5 umgeben. Ein Innengehäuse 15 mit nicht dargestellten Öffnungen ist von einem Außengehäuse 16 aus Mold bzw. gespritztem Kunststoff umgeben. Innengehäuse 15 ist besonders solide mit Gehäuse-Befestigungselementen 20 an Träger 5 befestigt.
  • Das in 4 beispielhaft veranschaulichte Sensorelement 11 ist auf Träger 5 aufgebracht und weist dabei Grundfläche 23 mit der Länge l und der Breite b auf. Um diese Grundfläche einrahmend herum erstreckt sich mit einer Breite d beispielgemäß die Messzone 9, wobei diese Breite b der Messzone herum und die Grundfläche 23 des Sensorelements 11 der Hälfte der Breite b der Grundfläche 23 des Sensorelements entspricht. Außerhalb dieser Messzone 9 ist Befestigungsbein 3 an Träger 5 befestigt.
  • 5 zeigt eine beispielhafte Sensoranordnung mit einer Schnittstellenanordnung, welche Träger 5 ringförmig umgreift. Die Schnittstellenanordnung umfasst dabei elektronische Schaltungen 25, Leadframe 7, Kunststoffteile 8 aus „Premold” bzw. „hold” als elektrisch isolierende Gehäuseteile, die die Leiterbahnen des Leadframes 7 mechanisch fixieren, sowie Kontaktierungsbeine 2, die mit denen auf dem Träger 5 angeordneten Sensorelementen 11 verbunden sind, und Befestigungsbeine 3, mit denen die Schnittstellenanordnung bzw. der Leadframe 7 an Träger 5 mechanisch befestigt ist, allerdings jeweils außerhalb der Messzonen 9 der Sensorelemente 11.
  • In 6 wird ein Ausführungsbeispiel einer Sensoranordnung gezeigt, die zusätzlich zu dem in 5 gezeigten Beispiel ein Innengehäuse 15 mit nicht dargestellten Öffnungen aufweist, das mittels Befestigungen 27 jeweils außerhalb der Messzonen 9 der Sensorelemente 11 an Träger 5 befestigt ist. Innengehäuse 15 ist dabei von Außengehäuse 16 aus gespritztem Kunststoff umschlossen.
  • 7 zeigt eine beispielhafte Sensoranordnung, bei der die Schnittstellenanordnung ebenfalls den Träger 5 umgreift und ebenfalls über Sensorelementen 11, die auf Träger befestigt sind, angeordnet ist. Die Schnittstellenanordnung umfasst elektronische Schaltungen 25, Leadframe 7, Kontaktierungsbeine 2, welche mit Sensorelementen 11 verbunden sind, sowie Befestigungsbeine 3, die mit dem Träger 5 jeweils außerhalb der Messzonen 9 der Sensorelemente 11 mechanisch verbunden sind. Leadframe 7 sowie die Schaltungen 25 sind in ein ringförmiges Kunststoffgehäuse 8, das schraffiert dargestellt ist, zumindest teilweise eingebettet. Die gesamte Schnittstellenanordnung und die Sensorelemente sind von Gehäuse 14 umgeben, das mit einer Schutzmasse 13 gefüllt ist.
  • 8 zeigt ein Segment des beispielhaften ringförmigen Kunststoffgehäuses 8 „Premold” aus 7, in das die elektronische Schaltung 25 sowie große Teile des Leadframes 7 eingebettet sind, von oben. Durch dieses Gehäuse 8 sind die Leiterbahnen des Leadframes 7 fixiert. Im Bereich der mit dem Leadframe teilweise einstückig verbundenen Befestigungsbeine 3 und Kontaktierungsbeine 2 weist das Gehäuse 8 Ausnehmungen 28 im Mold auf, durch welche die jeweilige Kontaktierung bzw. Befestigung dieser Beine, beispielsweise mittels eines Schweißvorgangs von oben, durchgeführt werden kann, bevor das Außengehäuse oder allgemein ein gemeinsames Gehäuse der Sensoranordnung installiert wird.

Claims (15)

  1. Elektronischer Chip (1), umfassend wenigstens eine elektronische Schaltung (25) und zwei oder mehr Kontaktierungsbeine (2), dadurch gekennzeichnet, dass der Chip zusätzlich wenigstens ein Befestigungsbein (3) aufweist.
  2. Chip nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das wenigstens eine Befestigungsbein (3) zumindest eines der folgenden Merkmale aufweist, dass das zumindest eine Befestigungsbein einen größeren Querschnitt aufweist als die Kontaktierungsbeine (2), und/oder dass das wenigstens eine Befestigungsbein aus einem anderen Material ausgebildet ist, als die Kontaktierungsbeine, und/oder dass das zumindest eine Befestigungsbein weiter vom Chip (1) abragend ausgebildet ist, als die Kontaktierungsbeine (2) und/oder dass die Federsteifigkeit des wenigstens einen Befestigungsbeins (3) mindestens 25% größer ist, insbesondere zumindest doppelt so groß ist, wie die Federsteifigkeit eines Kontaktierungsbeins (2).
  3. Chip nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das wenigstens eine Befestigungsbein (3) mehr als die halbe Höhe oder Länge oder Breite des Chipgehäuses (4) seitlich vom Chipgehäuse abragt.
  4. Sensoranordnung zur Erfassung wenigstens einer physikalischen oder chemischen Größe eines Trägers und/oder an oder in einem Träger (5), wobei die Sensoranordnung mindestens ein Sensorelement (11) aufweist, welches auf oder in dem Träger (5) direkt oder indirekt angeordnet ist, sowie eine elektronische Schnittstellenanordnung aufweist, welche zumindest einen Leadframe (7), wenigstens eine mit dem Leadframe (7) kontaktierte elektronische Schaltung (25) sowie mindestens ein elektrisch isolierendes Gehäuseteil (8), das so ausgebildet ist, dass es die elektronische Schaltung (25) zumindest teilweise umschließt und/oder wenigstens Teile des Leadframes (7) miteinander mechanisch verbindet, wobei die Schnittstellenanordnung zwei oder mehr Kontaktierungsbeine (2) aufweist, von denen mindestens eines mit dem wenigstens einen Sensorelement (11) elektrisch leitend verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Schnittstellenanordnung zusätzlich wenigstens ein Befestigungsbein (3) aufweist, welches mit dem Träger (5) direkt oder indirekt mechanisch verbunden ist.
  5. Sensoranordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensoranordnung mehrere Sensorelemente (11) aufweist, die auf oder in dem Träger (5) direkt oder indirekt angeordnet sind und mit dem Träger (5) jeweils eine definierte Messzone (9) aufweisen, wobei die Schnittstellenanordnung mehrere Befestigungsbeine (3) umfasst, die jeweils mit dem Träger (5) mechanisch direkt oder indirekt verbunden sind, jeweils außerhalb der Messzonen (9) der Sensorelemente (11).
  6. Sensoranordnung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Messzone (9) eines Sensorelements (11) definiert ist als die Kontaktfläche (24) zwischen dem Sensorelement (11) und dem Träger (5) sowie zusätzlich die daran angrenzende Fläche des Trägers um die Kontaktfläche herum mit einer Breite (d) dieser angrenzenden Fläche, welche größer-gleich 50% der Breite (b) oder der Länge (l) der Grundfläche (23) des Sensorelements (11) ist, insbesondere mit einer Breite (d) der zusätzlichen angrenzenden Fläche größer-gleich einmal die Breite (b) oder Länge (l) der Grundfläche (23) des Sensorelements (11).
  7. Sensoranordnung nach mindestens einem der Ansprüche 4 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Schnittstellenanordnung über einem oder mehreren der Sensorelemente (11) angeordnet ist.
  8. Sensoranordnung nach mindestens einem der Ansprüche 4 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Schnittstellenanordnung den Träger (5) umschließend ausgebildet und angeordnet ist, insbesondere im Wesentlichen ringförmig.
  9. Sensoranordnung nach mindestens einem der Ansprüche 4 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das wenigstens eine Befestigungsbein (3) zumindest eines der folgenden Merkmale aufweist, dass das zumindest eine Befestigungsbein (3) einen größeren Querschnitt aufweist als die Kontaktierungsbeine (2), und/oder dass das wenigstens eine Befestigungsbein (3) aus einem anderen Material ausgebildet ist, als die Kontaktierungsbeine (2), und/oder dass die Federsteifigkeit des wenigstens einen Befestigungsbeins (3) mindestens 25% größer ist, insbesondere zumindest doppelt so groß ist, wie die Federsteifigkeit eines Kontaktierungsbeins (2).
  10. Sensoranordnung nach mindestens einem der Ansprüche 4 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass das Sensorelement (11) als Dehnungsmessstreifen ausgebildet ist und durch eine elektrisch isolierende Isolierschicht (12) mit dem Träger (5) verbunden ist.
  11. Sensoranordnung nach mindestens einem der Ansprüche 4 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass das zumindest eine Sensorelement (11) und die Schnittstellenanordnung gemeinsam auf dem Träger (5) zumindest teilweise von einer Schutzmasse (13) und/oder wenigstens einem Deckel (14) oder Gehäuse (15, 16) bedeckt und/oder umgeben sind.
  12. Sensoranordnung nach mindestens einem der Ansprüche 4 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass der Träger (5) gekrümmt ausgebildet ist, insbesondere als Außengehäuse eines Lagers.
  13. Sensoranordnung nach mindestens einem der Ansprüche 4 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Sensoranordnung eine Selbsttesteinrichtung (17) umfasst, die so ausgebildet ist, dass sie die elektrische Wirksamkeit der Isolierschicht (12) zwischen Sensorelement (11) und Träger (5) und/oder die elektrische Wirksamkeit einer zusätzlichen Isolierschicht zwischen der zumindest einen elektronischen Schaltung (25) der Schnittstellenanordnung und dem wenigstens einen Sensorelement (11) testet.
  14. Sensoranordnung nach mindestens einem der Ansprüche 4 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Schnittstellenanordnung den Träger (5) und die auf/in diesem angeordneten Sensorelemente (11) gemeinsam zumindest teilweise umschließt, wobei die Schnittstellenanordnung sowie die Sensorelemente (11) zusätzlich gemeinsam von einem Innengehäuse (15) mit Öffnungen, welches auf dem Träger (5) befestigt (27) ist, umgeben sind und die Schnittstellenanordnung, die Sensorelemente (11) sowie das Innengehäuse (15) gemeinsam auf dem Träger (5) mit Kunststoff als Außengehäuse (16) umspritzt sind.
  15. Sensoranordnung nach mindestens einem der Ansprüche 4 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Schnittstellenanordnung den Träger (5) und die auf/in diesem angeordneten Sensorelemente (11) gemeinsam zumindest teilweise umschließt, wobei die Schnittstellenanordnung sowie die Sensorelemente (11) zusätzlich gemeinsam von einem im Wesentlichen massiven Gehäuse (14), welches auf dem Träger befestigt ist, umgeben sind, das mit einer Schutzmasse (13) gefüllt ist.
DE102010038988A 2009-08-05 2010-08-05 Sensoranordnung und Chip mit zusätzlichen Befestigungsbeinen Withdrawn DE102010038988A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102010038988A DE102010038988A1 (de) 2009-08-05 2010-08-05 Sensoranordnung und Chip mit zusätzlichen Befestigungsbeinen

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102009036133.2 2009-08-05
DE102009036133 2009-08-05
DE102010038988A DE102010038988A1 (de) 2009-08-05 2010-08-05 Sensoranordnung und Chip mit zusätzlichen Befestigungsbeinen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102010038988A1 true DE102010038988A1 (de) 2011-02-10

Family

ID=42791060

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102010038988A Withdrawn DE102010038988A1 (de) 2009-08-05 2010-08-05 Sensoranordnung und Chip mit zusätzlichen Befestigungsbeinen

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9640467B2 (de)
EP (1) EP2462616A1 (de)
DE (1) DE102010038988A1 (de)
WO (1) WO2011015642A1 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ITTO20120854A1 (it) * 2012-09-28 2014-03-29 Stmicroelectronics Malta Ltd Contenitore a montaggio superficiale perfezionato per un dispositivo integrato a semiconduttori, relativo assemblaggio e procedimento di fabbricazione
EP3590826A1 (de) 2018-07-06 2020-01-08 Airbus Operations (S.A.S.) Luftfahrzeugstruktur, die einen sensor mit einem verbesserten verbindungssystem umfasst, und luftfahrzeug, das diese struktur umfasst

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102013217892A1 (de) * 2012-12-20 2014-06-26 Continental Teves Ag & Co. Ohg Elektronische Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung einer elektronischen Vorrichtung
JP6611877B1 (ja) * 2018-07-25 2019-11-27 三菱電機株式会社 半導体集積回路および回転検出装置

Family Cites Families (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3689804A (en) * 1971-09-30 1972-09-05 Nippon Denso Co Hybrid circuit device
US4004195A (en) * 1975-05-12 1977-01-18 Rca Corporation Heat-sink assembly for high-power stud-mounted semiconductor device
US4642419A (en) * 1981-04-06 1987-02-10 International Rectifier Corporation Four-leaded dual in-line package module for semiconductor devices
US4521828A (en) * 1982-12-23 1985-06-04 At&T Technologies, Inc. Component module for piggyback mounting on a circuit package having dual-in-line leads
JPS61269345A (ja) * 1985-05-24 1986-11-28 Hitachi Ltd 半導体装置
US4758063A (en) * 1986-05-20 1988-07-19 Konechny Jr Edward T Optical device and circuit board set
US4975763A (en) 1988-03-14 1990-12-04 Texas Instruments Incorporated Edge-mounted, surface-mount package for semiconductor integrated circuit devices
EP0736183B1 (de) 1993-12-22 2002-07-31 Continental Teves AG & Co. oHG Vorrichtung zur erfassung von dreh- oder winkelbewegungen
US5586008A (en) * 1994-09-06 1996-12-17 Methode Electronics, Inc. Gravity latch for surface mount components
KR100230894B1 (ko) * 1995-06-22 1999-11-15 구라우치 노리타카 전력증폭모듈
US5790378A (en) * 1995-09-22 1998-08-04 National Semiconductor Corporation High density integrated circuit package including interposer
JP3108856B2 (ja) * 1995-12-28 2000-11-13 ローム株式会社 樹脂パッケージ型半導体装置およびこれを実装した電子回路基板
JPH1012790A (ja) * 1996-06-24 1998-01-16 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
US5939781A (en) * 1996-09-26 1999-08-17 Texas Instruments Incorporated Thermally enhanced integrated circuit packaging system
WO1999043032A2 (de) 1998-02-20 1999-08-26 Siemens Aktiengesellschaft Halbleiterbauelement mit strukturiertem leadframe und verfahren zu dessen herstellung
DE29901093U1 (de) 1999-01-22 1999-04-08 Goang Han Technology Co Fotoabtastelement-Leuchtdiode für SMD
US6710373B2 (en) * 1999-09-27 2004-03-23 Shih-Yi Wang Means for mounting photoelectric sensing elements, light emitting diodes, or the like
JP2001351929A (ja) * 2000-06-09 2001-12-21 Hitachi Ltd 半導体装置およびその製造方法
DE10136438A1 (de) * 2000-08-22 2002-03-07 Bosch Gmbh Robert Sensoranordnung in einem Wälzlager und Verfahren zur Auswertung des Sensorsignals
US6948856B2 (en) * 2000-11-06 2005-09-27 Nsk Ltd. Rolling bearing device and ring with sensor for the rolling bearing device
DE10220761A1 (de) 2001-05-23 2002-12-19 Continental Teves Ag & Co Ohg Elektronischer Sensor mit elektronischen Sensorbauelementen und Verfahren zu dessen Herstellung
JP3794937B2 (ja) 2001-05-30 2006-07-12 株式会社日立製作所 回転検出装置
US6891256B2 (en) * 2001-10-22 2005-05-10 Fairchild Semiconductor Corporation Thin, thermally enhanced flip chip in a leaded molded package
FR2841990B1 (fr) * 2002-07-02 2005-07-29 Skf Ab Dispositif de palier a roulement instrumente et moteur electrique ainsi equipe
JP3720801B2 (ja) 2002-10-24 2005-11-30 三菱電機株式会社 磁気検出装置
JP3896590B2 (ja) * 2002-10-28 2007-03-22 サンケン電気株式会社 電流検出装置
US7249891B2 (en) * 2002-10-28 2007-07-31 Nsk Ltd. Bearing device with sensor and rolling bearing with sensor
DE10304592A1 (de) * 2003-02-05 2004-08-19 Fag Kugelfischer Ag Messlager mit integriertem Datenerfassungs- und verarbeitungssystems
DE10338959B4 (de) * 2003-08-25 2016-01-07 Schaeffler Technologies AG & Co. KG Anordnung eines Sensors an einer Radlagereinheit
DE10344234A1 (de) * 2003-09-24 2005-05-12 Fag Kugelfischer Ag Datenerfassungs- und Verarbeitungssystem für ein Wälzlager und Wälzlager mit einem solchen System
US6927482B1 (en) * 2003-10-01 2005-08-09 General Electric Company Surface mount package and method for forming multi-chip microsensor device
DE102004027094A1 (de) 2004-06-02 2005-12-29 Infineon Technologies Ag Halbleitermodul mit einem Halbleiter-Sensorchip und einem Kunststoffgehäuse sowie Verfahren zu dessen Herstellung
DE102005043928B4 (de) 2004-09-16 2011-08-18 Sharp Kk Optisches Halbleiterbauteil und Verfahren zu dessen Herstellung
DE102004063598A1 (de) 2004-12-30 2006-07-13 Trafag Ag Drucksensor
DE102006030133A1 (de) 2005-06-29 2007-02-08 Ab Elektronik Gmbh Sensor mit Leadframe und Herstellungsverfahren hierfür
US7602054B2 (en) * 2005-10-05 2009-10-13 Semiconductor Components Industries, L.L.C. Method of forming a molded array package device having an exposed tab and structure
DE102006009012A1 (de) * 2005-11-29 2007-05-31 Robert Bosch Gmbh Moduleinheit für eine Radar-Antennenanordnung mit integriertem HF-Chip
US7808088B2 (en) * 2006-06-07 2010-10-05 Texas Instruments Incorporated Semiconductor device with improved high current performance
US7816772B2 (en) * 2007-03-29 2010-10-19 Allegro Microsystems, Inc. Methods and apparatus for multi-stage molding of integrated circuit package
US7466016B2 (en) * 2007-04-07 2008-12-16 Kevin Yang Bent lead transistor
US7989931B2 (en) * 2007-09-26 2011-08-02 Stats Chippac Ltd. Integrated circuit package system with under paddle leadfingers
DE102008021108A1 (de) 2008-04-28 2009-11-05 Continental Automotive Gmbh Verfahren zur Herstellung einer Sensoranordnung und Sensoranordnung
US7793550B2 (en) * 2008-08-25 2010-09-14 Infineon Technologies Ag Sensor device including two sensors embedded in a mold material
DE102008064047A1 (de) 2008-10-02 2010-04-08 Continental Teves Ag & Co. Ohg Sensorelement und Trägerelement zur Herstellung eines Sensors

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ITTO20120854A1 (it) * 2012-09-28 2014-03-29 Stmicroelectronics Malta Ltd Contenitore a montaggio superficiale perfezionato per un dispositivo integrato a semiconduttori, relativo assemblaggio e procedimento di fabbricazione
US9257372B2 (en) 2012-09-28 2016-02-09 STMicroelectronics (Mala) Ltd Surface mount package for a semiconductor integrated device, related assembly and manufacturing process
EP3590826A1 (de) 2018-07-06 2020-01-08 Airbus Operations (S.A.S.) Luftfahrzeugstruktur, die einen sensor mit einem verbesserten verbindungssystem umfasst, und luftfahrzeug, das diese struktur umfasst
FR3083616A1 (fr) * 2018-07-06 2020-01-10 Airbus Operations Structure d’aeronef comprenant un capteur avec un systeme de jonction ameliore et aeronef comprenant ladite structure
US11214348B2 (en) 2018-07-06 2022-01-04 Airbus Operations S.A.S. Aircraft structure comprising a sensor with an improved joining system and aircraft comprising said structure

Also Published As

Publication number Publication date
WO2011015642A1 (de) 2011-02-10
US9640467B2 (en) 2017-05-02
EP2462616A1 (de) 2012-06-13
US20120206888A1 (en) 2012-08-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2167930B1 (de) Anschlusseinheit für eine druckmesszelle
DE102006017535B4 (de) Druckfühler
DE102004043663B4 (de) Halbleitersensorbauteil mit Hohlraumgehäuse und Sensorchip und Verfahren zur Herstellung eines Halbleitersensorbauteils mit Hohlraumgehäuse und Sensorchip
JP5511936B2 (ja) 圧力測定モジュール
DE102006018365B4 (de) Druckerfassungsvorrichtung vom Membrantyp
CN102714031B (zh) 具有阻尼装置的传感器
DE102014105861A1 (de) Sensorvorrichtung und Verfahren zum Herstellen einer Sensorvorrichtung
DE10054013A1 (de) Drucksensormodul
DE19707503A1 (de) Drucksensor-Bauelement und Verfahren zur Herstellung
WO2013117772A1 (de) Zweistufig gemoldeter sensor
DE102010038988A1 (de) Sensoranordnung und Chip mit zusätzlichen Befestigungsbeinen
EP2090873A1 (de) Integriertes Schaltungsgehäuse
US10041845B2 (en) Force sensor device
EP0882965A1 (de) Halbleiter-Drucksensor-Bauelement und Verfahren zur Herstellung
EP1835538A1 (de) Elektronisches Bauelement, elektronische Baugruppe sowie Verfahren zur Herstellung einer elektronischen Baugruppe
US11175166B2 (en) Flow meter
DE102008008336A1 (de) Verfahren zur Positionsbestimmung und zur Positionierung eines abgedeckten Sensorelements einer Sensoranordnung sowie Sensoranordnung mit einem entsprechend positionierten Sensorelement
DE102008040672A1 (de) Sensormodul und Anordnung eines Sensormoduls
DE102017214599A1 (de) Anschlussvorrichtung für einen Sensor
WO2008034663A1 (de) Sensoranordnung mit einem substrat und mit einem gehäuse und verfahren zur herstellung einer sensoranordnung
DE102017218893A1 (de) Sensoranordnung zur Bestimmung wenigstens eines Parameters eines durch einen Messkanal strömenden fluiden Mediums
DE102007016536B4 (de) Vorrichtung zur Messung eines in einem Druckmedium herrschenden Drucks
DE102015206299B4 (de) Über Leiterplatte auf Leadframe verschaltete Sensorschaltung
DE102012200648B4 (de) Sensorvorrichtung
EP3459325A1 (de) Verfahren zum ummanteln einer elektrischen einheit und elektrisches bauelement

Legal Events

Date Code Title Description
OR8 Request for search as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
8105 Search report available
R163 Identified publications notified

Effective date: 20110318

R012 Request for examination validly filed
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee