DE102008032556B3 - Leistungsschalter mit einer Überstromschutzvorrichtung - Google Patents

Leistungsschalter mit einer Überstromschutzvorrichtung Download PDF

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Abstract

Eine Leistungsschaltung umfasst einen Leistungstransistor zum Zuführen eines Laststromes an eine Last, einen Messtransistor zum Auskoppeln eines Messstromes, der von dem Laststrom abhängt, mindestens zwei Koppeltransistoren zum Aufteilen des Messstromes in einen internen Messstrom und in einen externen Messstrom, wobei der externe Messstrom einer externen Auswerteschaltung zuführbar ist und der interne Messstrom einer internen Auswerteschaltung zum Auswerten zugeführt wird. Ein dritter Koppeltransistor kann an den Messtransistor gekoppelt werden, wenn eine Messvorrichtung einen Nicht-Gekoppelt-Zustand bestimmt und der dritte Koppeltransistor kann von dem Messtransistor entkoppelt werden, wenn die Messvorrichtung einen Gekoppelt-Zustand bestimmt. Die Messvorrichtung bestimmt den Gekoppelt-Zustand, wenn die externe Auswertevorrichtung an die Leistungsschaltung gekoppelt ist und die Messvorrichtung bestimmt einen Nicht-Gekoppelt-Zustand, wenn die externe Auswertevorrichtung nicht an die Leistungsschaltung gekoppelt ist.

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft einen Leistungsschalter zum Zuführen eines Laststromes an eine Last. Einige Leistungsschalter weisen separate Ausgänge auf, durch die ein dem Laststrom proportionaler Messstrom hinausgeführt wird, mit denen es einem Anwender möglich ist, den Laststrom durch den Leistungstransistor einfach zu bestimmen. Der Anwender hat damit die Möglichkeit, diese Informationen über die Größe des Stromes dazu zu verwenden, den Leistungsschalter zu regeln. Der Anwender hat ebenso die Möglichkeit, mit Hilfe dieser Information Diagnosen über die Last durchzuführen. Beispielsweise kann mit dieser Information festgestellt werden, wie der Zustand einer Glühbirne ist, um beispielsweise einem Autofahrer mitzuteilen, dass eine Glühlampe in näherer Zukunft ausgetauscht werden muss. Der Leistungsschalter an sich sollte aber auch zuverlässig vor Zerstörung geschützt werden. Beispielsweise kann ein integrierter Temperatursensor den Leistungsschalter so regeln, dass die maximal zulässige Temperatur des Leistungsschalters an sich nicht überschritten wird.
  • Eine bekannte Lösung zur Hinausführung eines Messstromes einer Leistungshalbleiteranordnung wird in der US4885477 (2) gezeigt. Die Anordnung zeigt einen großen und einen kleinen Transistor, wobei der Strom des kleinen Transistors mit Hilfe eines PMOS-Transistors und eines Differenzverstärkers einer Strommessanordnung zugeführt wird.
  • Eine weitere bekannte Möglichkeit zur Hinausführung eines Messstromes einer Leistungshalbleiteranordnung wird in der EP1191693 gezeigt. Diese Schaltungsanordnung weist einen Schalter auf, der einen Stromfühltransistor abhängig von einem Steuersignal an eine erste oder zweite Auswerteschaltung anschließt.
  • Eine weitere bekannte Möglichkeit zur Hinausführung eines Messstromes einer Leistungshalbleiteranordnung wird in der DE10258766 gezeigt. Gezeigt wird eine Schaltungsanordnung mit einer Bereichsumschaltung zum Erhöhen der absoluten Größe des Signals an einem Messwiderstand, um die Auflösung eines Analog-Digital-Wandlers zu erhöhen. Die Schaltungsanordnung weist mindestens zwei Hilfstransistoren auf, deren Signal abhängig vom Laststrom ist, und ein Schaltmittel, das die Laststrecken der Hilfstransistoren einzeln oder zu mehreren parallel verschaltet.
  • Eine weitere bekannte Möglichkeit zur Hinausführung eines Messstromes einer Leistungshalbleiteranordnung wird in der EP1482641 gezeigt. Der Messstrom wird mit einem ersten Stromspiegel einer externen Strommesschaltung zugeführt und mit einem zweiten unabhängigen Stromspiegel einer internen Auswerteschaltung zugeführt.
  • Eine weitere bekannte Möglichkeit zur Hinausführung eines Messstromes einer Leistungshalbleiteranordnung wird in der DE10240914 gezeigt. Der Messstrom wird mit zwei Stromspiegelen einer externen Strommesschaltung zur Erhöhung der Messgenauigkeit zugeführt
  • Messtransistoren haben die Aufgabe, den durch den Haupttransistor fließenden Strom mit einem bestimmten Teilerverhältnis möglichst genau abzubilden. Ein Differenzverstärker in Kombination mit einem PMOS-Transistor gleicht bei einer Anordnung mit NMOS-Transistoren als Haupt- und Messtransistor die Gate-Source-Spannung der beiden Transistoren, die vom gleichen Transistortyp sein sollten, einander an, so dass beide mit derselben Stromdichte betrieben werden. Lokale Temperatur, Matching und andere Einflüsse werden mit solchen Vorrichtungen nicht berücksichtigt und verschlechtern die Genauigkeit der Messung. Messtransistoren, die deshalb innerhalb des Haupttransistors platziert werden, erhöhen den Flächenbedarf erheblich.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, einen Leistungsschalter bereitzustellen, der dazu ausgebildet ist, einen internen Messstrom und einen externen Messstrom bereitzustellen und dabei den Flächenbedarf des Messtransistors zu minimieren, ohne das dabei die Genauigkeit der Ströme verschlechtert wird. Diese Aufgabe wird durch eine Leistungsschaltung mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. Die Unteransprüche definieren jeweils bevorzugte Ausführungsformen.
  • Die Leistungsschaltung umfasst einen Leistungstransistor zum Zuführen eines Laststromes an eine Last, einen Messtransistor zum Auskoppeln eines Messstromes, der von dem Laststrom abhängt, mindestens zwei Koppeltransistoren zum Aufteilen des Messstromes in einen internen Messstrom und in einen externen Messstrom, wobei der externe Messstrom einer externen Auswerteschaltung zuführbar ist und der interne Messstrom einer internen Auswerteschaltung zum Auswerten zugeführt wird.
  • Bei der Verwendung von Sensezellen als Messtransistoren, Repliken des Leistungstransistors, kann mit ausreichender Genauigkeit eine Stromschwelle, z. B. zum Schutz der Leistungsschaltung, realisiert werden. Für eine einfache Lösung wird aber mindestens eine weitere Sensezelle als Messtransistor benötigt. Dies läuft der geforderten Minimierung der Gesamtfläche zuwider.
  • Der Leistungsschalter kann als High-Side- oder als Low-Side-Schalter ausgeführt sein. Der Lasttransistor kann als NMOS- oder PMOS-Transistor ausgebildet sein. Der Lasttransistor kann als vertikaler Transistor ausgebildet sein, dessen Drain auf der Rückseite des Halbleiters anschließbar ist. Eine Schaltungstopologie eines NMOS-High-Side-Schalters kann durch Spiegelung und durch das Ersetzen der NMOS-Transistoren durch PMOS-Transistoren und umgekehrt in einen PMOS-Low-Side-Schalter umgesetzt werden. Eine Schaltungstopologie eines PMOS-High-Side-Schalters kann durch Spiegelung und durch das Ersetzen der NMOS-Transistoren durch PMOS-Transistoren und umgekehrt in einen NMOS-Low-Side-Schalter umgesetzt werden. In einer Ausführungsform eines PMOS-High-Side-Schalters kann eine Regelschaltung eine Schaltung zum Spiegeln des Messstroms aufweisen.
  • Ist im Leistungstransistor schon ein Sensezellenelement, also ein Messtransistor, vorhanden, beispielsweise für eine Ausgabe eines Äquivalents zum Laststrom, so kann dieses Sensezellenelement auch zur Bestimmung eines zu hohen Laststromes verwendet werden.
  • Die Leistungsschaltung kann eine Regelschaltung zum Regeln des Messtransistors aufweisen, so dass der Messtransistor mit derselben Stromdichte wie der Leistungstransistor betrieben wird.
  • In der Leistungsschaltung, die als High-Side-Anordnung mit Leistungs-NMOS-Transistoren ausgebildet ist, können die Koppeltransistoren als PMOS-Transistoren ausgebildet sein, deren Sourceanschlüsse miteinander verbunden sind und deren Gateanschlüsse miteinander verbunden sind.
  • In der Leistungsschaltung kann ein erster Lastanschluss des Leistungstransistors mit einem ersten Lastanschluss des Messtransistors verbunden sein, wobei ein Gateanschluss des Leistungstransistors mit einem Gateanschluss des Messtransistors verbunden ist.
  • In der Leistungsschaltung kann ein Ausgang der Regelschaltung mit den Gateanschlüssen der Koppeltransistoren verbunden sein, ein erster Eingang der Regelschaltung kann mit einem zweiten Lastanschluss des Leistungstransistors verbunden sein und ein zweiter Eingang der Regelschaltung kann mit einem zweiten Lastanschluss des Messtransistors verbunden sein.
  • In der Leistungsschaltung kann das Verhältnis des externen Messstromes zum internen Messstrom durch das Verhältnis der Kanalweiten der Koppeltransistoren bestimmt sein.
  • Der Leistungstransistor und der Messtransistor werden durch die Regelschaltung im Zusammenspiel mit den Koppeltransistoren im gleichen Arbeitspunkt betrieben, weshalb die Stromdichten im Leistungstransistor und im Messtransistor gleich sind. Ist eine externe Auswerteschaltung mit der Leistungsschaltung verbunden, kann der externe Messstrom fließen. Haben die Koppeltransistoren die gleiche Kanallänge, was vorteilhaft für das Matching ist, wird das Verhältnis des externen Messstromes zum internen Messstrom durch das Ver hältnis der Kanalweiten der Koppeltransistoren bestimmt.
  • Das Verhältnis von Messstrom zu Laststrom kann mit dem Faktor n/m angegeben werden, wobei m die Zellenanzahl oder die Kanalweite des Leistungstransistors beschreibt und wobei n die Zellenanzahl oder die Kanalweite des Messtransistors beschreibt. k beschreibt die Gesamtkanalweite der aktiven Koppeltransistoren und l beschreibt die Kanalweite des Koppeltransistors, der den externen Messstrom einer externen Auswerteschaltung zuführt. Der externe Messstrom Ime hat damit zum Laststrom Il die Beziehung: Ime = nmlk Il
  • Der interne Messstrom Imi hat damit zum Laststrom die Bezie hung: Imi = nm (1 – lk )Il
  • Die Leistungsschaltung kann einen ersten Koppeltransistor zum Leiten des externen Messstromes, einen zweitem Koppeltransistor zum Leiten des internen Messstromes, einen dritten Koppeltransistor und eine Messvorrichtung zur Bestimmung des Gekoppeltseins der externen Auswertevorrichtung aufweisen. Der dritte Koppeltransistor wird an den Messtransistor gekoppelt, wenn die Messvorrichtung einen Nicht-Gekoppelt-Zustand bestimmt und der dritte Koppeltransistor wird von dem Messtransistor entkoppelt, wenn die Messvorrichtung einen Gekoppelt-Zustand bestimmt. Die Messvorrichtung bestimmt den Gekoppelt-Zustand, wenn die externe Auswertevorrichtung an die Leistungsschaltung gekoppelt ist und die Messvorrichtung bestimmt einen Nicht-Gekoppelt-Zustand, wenn die externe Auswertevorrichtung nicht an die Leistungsschaltung gekoppelt ist.
  • Ist keine externe Auswerteschaltung an die Leistungsschaltung gekoppelt, kann kein externer Messstrom fließen. Der gesamte Strom des Messtransistors muss somit über den zweiten Koppeltransistor fließen. Der interne Messstrom ist somit um den Faktor k/l größer als vorgesehen. Eine Auswertung des internen Messstromes führt daher zu falschen Ergebnissen. Dies kann vermieden werden, indem der Strom mit anderem Transistor abgeführt wird. Eine Messvorrichtung prüft, ob eine externe Auswertevorrichtung vorhanden ist. Ist diese externe Auswertevorrichtung nicht vorhanden oder ergibt die Prüfung, dass sich eine eventuell gekoppelte externe Messvorrichtung zumindest so verhält als wäre sie nicht angeschlossen, wird der dritte Koppeltransistor an den Messtransistor gekoppelt, damit der Strom, der für die externe Auswertevorrichtung vorgesehen ist, durch diesen Transistor fließt.
  • Die Messvorrichtung der Leistungsschaltung kann den Gekoppelt-Zustand dadurch bestimmen, dass die Messvorrichtung die Spannung an einem Drainanschluss des ersten Koppeltransistors misst. Die Messvorrichtung bestimmt den Gekoppelt-Zustand, wenn die Spannung eine Schwelle unterschreitet und bestimmt den Nicht-Gekoppelt-Zustand, wenn die Spannung eine Schwelle überschreitet.
  • Ist beispielweise die externe Auswerteschaltung ein Widerstand, dessen Spannung beispielsweise durch einen Analog-Digital-Wandler ausgewertet werden kann, so ergibt sich ein hoher Spannungsabfall an dem externen Anschluss des ersten Koppeltransistors, bzw. die Drain-Source-Spannung des ersten Koppeltransistors wird minimal. Dies ein Zeichen dafür, das die externe Auswertevorrichtung nicht korrekt angeschlossen ist oder ein nicht korrektes Verhalten zeigt.
  • Die Messvorrichtung der Leistungsschaltung kann den Gekoppelt-Zustand dadurch bestimmen, dass die Messvorrichtung den Strom durch den ersten Koppeltransistors misst. Die Messvorrichtung bestimmt den Gekoppelt-Zustand, wenn der Strom eine Schwelle überschreitet und bestimmt den Nicht-Gekoppelt-Zustand, wenn der Strom eine Schwelle unterschreitet.
  • Diese Art der Auswertung hat den Vorteil, dass direkt überprüft wird, ob der erste Koppeltransistor den Strom leitet oder nicht. Kann der erste Koppeltransistor den vorgesehenen Stromanteil k/l des Messstromes nicht mehr leiten, wird der dritte Koppeltransistor zum Leiten des Stromanteils k/l des Messstroms an den Messtransistor gekoppelt.
  • An einen Sourceanschluss des ersten Koppeltransistors der Leistungsschaltung kann ein Serienwiderstand gekoppelt sein, durch den der Strom des ersten Koppeltransistors fließen kann, so dass die Messvorrichtung die durch den Strom des ersten Koppeltransistors verursachte Spannung messen kann. Die Messvorrichtung bestimmt den Gekoppelt-Zustand, wenn die Spannung eine Schwelle überschreitet und bestimmt den Nicht-Gekoppelt-Zustand, wenn die Spannung eine Schwelle unterschreitet.
  • Ein Serienwiderstand im Stromleitungspfad eines Transistors ist eine einfache und zuverlässige Möglichkeit, den Strom eines Transistors zu messen.
  • Die Koppeltransistoren der Leistungsschaltung weisen Sourceanschlüsse auf, an mindestens zwei Sourceanschlüssen der Koppeltransistoren können Serienwiderstände gekoppelt sein, durch die die Ströme der Koppeltransistoren fließen können.
  • Vorteilhafterweise können die Serienwiderstände so ausgebildet sein, dass bei gleicher Stromdichte in den Koppeltransistoren gleiche Spannungen an den Serienwiderständen abfallen.
  • Sind alle Koppeltransistoren mit Serienwiderständen versehen, können die Koppeltransistoren wieder so gestaltet werden, dass die durch sie fließenden Ströme weiterhin durch die Kanalweiten der Koppeltransistoren bestimmt werden.
  • Die Messvorrichtung der Leistungsschaltung kann die Spannungen an den Serienwiderständen des ersten und des zweiten Koppeltransistors vergleichen. Ist die Spannung am Serienwiderstand des ersten Koppeltransistors größer oder gleich als die Spannung am Serienwiderstand des zweiten Koppeltransistors wird der Gekoppelt-Zustand bestimmt. Ist die Spannung am Serienwiderstand des ersten Koppeltransistors kleiner ist als die Spannung am Serienwiderstand des zweiten Koppeltransistors wird der Nicht-Gekoppelt-Zustand bestimmt.
  • Vorteilhaft ist hier, dass der Strom des Koppeltransistors mit einer relativen Schwelle verglichen wird. Es ist nicht notwendig, eine absolute Schwelle bereitzustellen. Die Messvorrichtung kann einfacher gestaltet sein, da sie nun nur zwei vorhandene Spannungen miteinander vergleicht. Die Messvorrichtung kann beispielweise als Differenzverstärker ausgebildet sein, der die vorhandenen Spannungen miteinander vergleicht.
  • Die Messvorrichtung der Leistungsschaltung kann eine Offsetspannung enthalten oder der Messvorrichtung kann eine Offsetspannung zugeführt werden. Die Messvorrichtung bestimmt den Gekoppelt-Zustand, wenn die Spannung am Serienwiderstand des ersten Koppeltransistors und die Offsetspannung größer oder gleich ist, als die Spannung am Serienwiderstand des zweiten Koppeltransistors. Die Messvorrichtung bestimmt den Nicht-Gekoppelt-Zustand, wenn die Spannung am Serienwiderstand des ersten Koppeltransistors und die Offsetspannung kleiner ist, als die Spannung am Serienwiderstand des zweiten Koppeltransistors.
  • Ausführungsformen werden nachfolgend unter Bezugnahme auf die folgenden Zeichnungen näher erläutert, in denen
  • 1 eine High-Side-Schalteranordnung mit einem Lasttransistor zeigt,
  • 2 ein Ausführungsbeispiel einer Leistungsschaltung als High-Side-Anordnung mit einem NMOS-Lasttransistor zeigt,
  • 3 ein Ausführungsbeispiel mit einem koppelbarem Koppeltransistor zeigt, 4 ein weiteres Ausführungsbeispiel mit einem koppelbarem Koppeltransistor zeigt,
  • 5 ein weiteres Ausführungsbeispiel mit einem koppelbarem Koppeltransistor zeigt,
  • 6 ein Ausführungsbeispiel einer Leistungsschaltung als Low-Side-Anordnung mit einem NMOS-Lasttransistor zeigt,
  • 7 ein weiteres Ausführungsbeispiel einer Leistungsschaltung als Low-Side-Anordnung mit einem NMOS-Lasttransistor zeigt.
  • 1 zeigt eine High-Side-Schalteranordnung mit einem Lasttransistor ML. Der Lasttransistor ML ist als NMOS Transistor ausgeführt, dessen Drain mit einem Anschluss PV verbunden ist. An den Anschluss PV wird eine positive Spannung angelegt werden. An dem Sourceanschluss des Lasttransistors ML ist über einen Anschluss PL eine Last RL angeschlossen. Wird der Transistor ML angesteuert, so führt er der Last RL einen Strom zu. Um den Strom des Lasttransistors ML zu messen, ist dem Lasttransistor ML ein Sensetransistor MS parallel geschaltet. Der Sensetransistor MS ist ein Transistor vom selbem Typ wie der Lasttransistor ML und sollte in der Nachbarschaft des Lasttransistors ML angeordnet sein. Der Sensetransistor MS ist kleiner als der Lasttransistor ML, so dass der Strom des Sensetransistors MS kleiner ist als der Strom des Lasttransistors ML. Damit der Sensetransistor MS mit derselben Stromdichte betrieben wird wie der Lasttransistor ML, sollten beide Transistoren dieselbe Gate-Source-Spannung aufweisen. Die Sourcespannung des Sensetransistors MS wird durch einen Differenzverstärker AD und durch einen Regeltransistor MR so geregelt, dass die Gate-Source-Spannungen von ML und MS gleich sind. Dazu ist der negative Eingang des Diffe renzverstärkers AD mit der Source des Sensetransistors MS verbunden, der positive Eingang des Differenzverstärkers AD ist mit dem Sourceanschluss des Lasttransistors ML verbunden. Der Ausgang des Differenzverstärkers AD ist mit dem Gateanschluss des Regeltransistors MR verbunden. Ist die Spannungsdifferenz an den Eingängen des Differenzverstärkers AD Null, ist der Regeltransistor MR so angesteuert, dass die Sourcespannung des Lasttransistors ML und des Sensetransistors MS gleich sind, so dass beide Transistoren mit der selben Stromdichte betrieben werden. Durch den Drainanschluss des Regeltransistors MR kann nun der Strom des Sensetransistors MS auf einen externen Widerstand RM geleitet werden. Da die Stromdichte des Lasttransistors ML und des Sensetransistors gleich sind, ist der Strom der durch das Drain des Regeltransistors MR auf den Widerstand RM geleitet wird direkt proportional zu dem Strom der durch den Lasttransistor ML fließt. Diese Schaltungstopologie des NMOS-High-Side-Schalters kann durch Spiegelung und durch das Ersetzen der NMOS-Transistoren durch PMOS-Transistoren und umgekehrt in einen PMOS-Low-Side-Schalter umgesetzt werden.
  • 2 zeigt eine erfindungsgemäße Leistungsschaltung, die einen Leistungstransistor M0, einen Messtransistor M1, zwei Koppeltransistoren M2 und M3, eine Regelschaltung AD und eine interne Auswerteschaltung A2 umfasst. Der Leistungstransistor M0 und der Messtransistor M1 sind in diesem Ausführungsbeispiel als NMOS Transistoren ausgeführt, wobei die Gateanschlüsse der beiden Transistoren und die Drainanschlüsse der beiden Transistoren miteinander verbunden sind. Die Gate-Sourcespannungen des Leistungstransistors M0 und des Messtransistors M1 werden durch die Regelschaltung AD und die Koppeltransistoren M2 und M3 so geregelt, dass sie gleich sind. Dadurch weist der Leistungstransistor M0 und der Messtransistor M1 im Betrieb die gleiche Stromdichte auf. Der Messstrom Im, der aus dem Sourceanschluss des Messtransistors M1 in die Sourceanschlüsse der Koppeltransistoren M2 und M3 fließt, wird durch die Koppeltransistoren M2 und M3 in einen externen Messstrom Imi und in einen internen Messstrom Imi aufgeteilt. Der externe Messstrom Ime fließt aus dem Drainanschluss des Koppeltransistors M2 durch einen Anschluss PM in eine externe Auswerteschaltung A1. Eine externe Auswerteschaltung A1 kann beispielsweise einen Widerstand umfassen, an dem der externe Messstrom Ime in eine Spannung umgewandelt wird, die beispielsweise von einem Analog zu Digitalwandler erfasst werden kann. Der interne Messstrom Imi, der aus dem Drainanschluss des Koppeltransistors M3 fließt, wird einer internen Auswerteschaltung A2 zugeführt. Die interne Auswerteschaltung kann beispielsweise als Widerstand ausgeführt sein, dessen Spannung mit einem Komparator überwacht wird. Überschreitet die Spannung des Widerstands der internen Auswerteschaltung A2 eine Schwelle, kann beispielsweise der Komparator der internen Auswerteschaltung A2 ein Signal ausgeben. Da dieses Signal abhängig ist von dem absoluten Strom der in dem Leistungstransistor M0 fließt, kann dieses Signal dazu verwendet werden, einer Schaltung anzuzeigen, dass ein maximal zulässiger Strom des Leistungstransistors M0 überschritten ist. Dieses Signal kann beispielsweise dazu verwendet werden, die Leistungsschaltung abzuschalten, um sie vor Zerstörung zu schützen.
  • 3 zeigt eine Leistungsschaltung mit einem Leistungstransistor M0, einem Messtransistor M1, einer Regelschaltung AD, drei Koppeltransistoren M2, M3, M4 und einer Messvorrichtung A3. Der Koppeltransistor M4 ist über eine Koppelvorrichtung K1 mit den Koppeltransistoren M2 und M3 verbunden. Die Koppelvorrichtung K1 ist so gestaltet, dass sie den Koppeltransistor M4 an die Koppeltransistoren M2 und M3 ankoppeln kann oder den Koppeltransistor M4 von den Koppeltransistoren M2 und M3 abkoppeln kann. Im Nicht-Gekoppelt-Zustand wird der Koppeltransistors M4 durch die Koppelvorrichtung K1 an die Koppeltransistoren M2 und M3 angekoppelt. Im Gekoppelt-Zustand wird der Koppeltransistor M4 durch die Koppelvorrichtung K1 von den Koppeltransistoren M2 und M3 abgekoppelt. Eine Messvorrichtung A3 prüft den Zustand des ersten Koppel transistors M2 oder den Zustand der externen Messvorrichtung A1. Ist eine externe Messvorrichtung A1 über den Anschluss PM an den ersten Koppeltransistor M2 angeschlossen, oder fließt ein Strom durch den ersten Koppeltransistor M2, bestimmt die Messvorrichtung den Gekoppelt-Zustand. Ist die externe Auswertevorrichtung A1 nicht über den Anschluss PM an den ersten Koppeltransistor M2 angeschlossen oder fließt kein Strom durch den ersten Koppeltransistor M2, bestimmt die Messvorrichtung A3 den Nicht-Gekoppelt-Zustand.
  • Ist eine externe Auswertevorrichtung A1 mit dem ersten Koppeltransistor M2 verbunden, fließt durch den ersten Koppeltransistor M2 ein externer Messstrom Ime. Der Messstrom des Messtransistors M1 wird durch die beiden Koppeltransistoren M2 und M3 in einen externen und in einen internen Messstrom aufgeteilt. Ist die externe Auswerteschaltung A1 nicht mit dem ersten Koppeltransistor M2 verbunden, kann kein Strom durch den ersten Koppeltransistor M2 fließen. Der gesamte Messstrom des Messtransistors M1 fließt in diesem Fall durch den zweiten Koppeltransistor M3. Der nun zu große interne Messstrom würde das Ergebnis einer internen Auswerteschaltung verfälschen. Die Messschaltung A3 erfasst in diesem Fall den Fehler und bestimmt für den dritten Koppeltransistor M4 den Gekoppelt-Zustand. Ist der dritte Koppeltransistor M4 genauso gestaltet wie der erste Koppeltransistor M2, fließt der Strom, der für den ersten Koppeltransistor bestimmt war, nun über den dritten Koppeltransistor M4. Da der für externe Auswerteschaltung A1 bestimmte externe Messstrom Ime nun über den dritten Koppeltransistor M4 fließt, fließt über den zweiten Koppeltransistor M3 wieder der korrekte interne Messstrom Imi. Die interne Auswerteschaltung A2 wird somit durch die Abwesenheit der externen Auswerteschaltung A1 nicht mehr gestört.
  • 4 zeigt ein Ausführungsbeispiel einer Leistungsschaltung in einer High-Side-Konfiguration mit drei Koppeltransistoren M2, M3, M4 wobei die Messvorrichtung A3 die Spannung am Drainanschluss des ersten Koppeltransistors M2 überprüft und den dritten Koppeltransistor M4 nach Maßgabe der Drainspannung des ersten Koppeltransistors M2 von den Koppeltransistoren koppelt oder entkoppelt.
  • Die interne Auswerteschaltung ist in diesem Ausführungsbeispiel als Widerstand mit einem Komparator ausgeführt, die bei Überschreiten einer Schwelle ein Signal ausgeben kann.
  • Die Messvorrichtung A3, die die Drainspannung des ersten Koppeltransistors M2 überprüft, kann beispielsweise als Schmitt-Trigger ausgeführt sein. Ist eine höhere Genauigkeit gefordert, kann die Messvorrichtung beispielsweise als Komparator ausgeführt sein, der die Drainspannung des ersten Koppeltransistors M2 mit einer Referenzspannung vergleicht.
  • 5 zeigt eine Leistungsschaltung mit einem Leistungstransistor M0, einem Messtransistor M1, drei Koppeltransistoren M2, M3, M4 und einer Auswertevorrichtung A3. Die Sourceanschlüsse der Koppeltransistoren M2, M3 und M4 sind mit Serienwiderständen R2, R3, R4 mit dem Sourceanschluss des Messtransistors M1 verbunden. In diesem Ausführungsbeispiel wird der Strom des ersten Koppeltransistors direkt überwacht. Die Messvorrichtung A3 überprüft die Spannungen an den Serienwiderständen R2 und R3. Die Messvorrichtung A3 bestimmt den Gekoppelt-Zustand, wenn die Spannung über den Serienwiderstand R2 größer oder gleich ist der Spannung über den Serienwiderstand R3. Die Messvorrichtung A3 bestimmt den Nicht-Gekoppelt-Zustand wenn die Spannung am Serienwiderstand R2 kleiner ist als die Spannung am Serienwiderstand R3.
  • 6 zeigt eine erfindungsgemäße Leistungsschaltung in einer NMOS-Low-Side-Anordnung, die einen Leistungstransistor M0, einen Messtransistor M1, zwei Koppeltransistoren M2 und M3, eine Regelschaltung AD und eine interne Auswerteschaltung A2 umfasst. Der Sourceanschluss des Leistungstransistor M0 ist über einen Sourceanschlusswiderstand RB mit einem Versor gungspotential verbunden. Dieser Widerstand RB umfasst in diesem Ausführungsbeispiel den Widerstand des Bonddrahts, den Widerstand der Zuführung zum Bonddraht und den Widerstand des Gehäuses. Die Gateanschlüsse der beiden Transistoren und die Drainanschlüsse der beiden Transistoren sind miteinander verbunden. Die Gate-Sourcespannungen des Leistungstransistors M0 und des Messtransistors M1 werden durch die Regelschaltung AD so geregelt, dass sie gleich sind. Dadurch weist der Leistungstransistor M0 und der Messtransistor M1 im Betrieb die gleiche Stromdichte auf. Der Messstrom Im, der aus dem Sourceanschluss des Messtransistors M1 in die Regelschaltung AD fließt, wird, nachdem der Messstrom Im durch die Regelschaltung gespiegelt wurde, durch die Koppeltransistoren M2 und M3 in einen externen Messstrom Ime und in einen internen Messstrom Imi aufgeteilt. Der externe Messstrom Ime fließt aus dem Drainanschluss des Koppeltransistors M2 durch einen Anschluss PM in eine externe Auswerteschaltung A1. Der interne Messstrom Imi, der aus dem Drainanschluss des Koppeltransistors M3 fließt, wird einer internen Auswerteschaltung A2 zugeführt. Diese Schaltungstopologie des NMOS-Low-Side-Schalters kann durch Spiegelung und durch das Ersetzen der NMOS-Transistoren durch PMOS-Transistoren und umgekehrt in einen PMOS-High-Side-Schalter umgesetzt werden.
  • 7 zeigt eine erfindungsgemäße Leistungsschaltung in einer NMOS-Low-Side-Anordnung, in der eine mögliche Ausführung einer Regelschaltung AD näher erläutert wird. Die Ausführungsformen der Koppeltransistoren M2, M3, M4 und ihre Verschaltungen, die beispielhaft in 3, 4, 5 erläutert wurden, können hier sinngemäß angewandt werden.
  • Die Regelschaltung AD umfasst einen ersten Widerstand RS1 zum Anschließen des Sourceanschlusses des Messtransistors M1 an ein Versorgungspotential, einen zweiten Widerstand RS2, der dem ersten Widerstand ähnlich ist, einen ersten Transistor MS1, der so an mit ersten Widerstand RS1 verbunden ist, dass der erste Transistor MS1 einen Strom an den ersten Transis tor vorbei leiten kann, einen Differenzverstärker OP1, der so mit dem Leistungstransistor M0, dem Messtransistor M1 und dem ersten Transistor MS1 verbunden ist, dass der Differenzverstärker OP1 den Messtransistor M1 so regeln kann, dass der Messtransistor im Betrieb dieselbe Stromdichte wie der Leistungstransistor aufweist. Die Regelschaltung AD umfasst ferner einen zweiten Widerstand RS2 und einen zweiten Transistor MS2, die so mit dem ersten Widerstand RS1 und dem ersten Transistor MS1 verbunden sind, dass in einem Ausgang des zweiten Transistors ein ähnlicher Strom fließt, wie in einen Ausgang des ersten Transistors MS1, der mit dem Sourceanschluss des Messtransistors verbunden sein kann. Zur Verbesserung der Genauigkeit kann die Regelschaltung AD einen zweiten Differenzverstärker OP2 aufweisen, der die Koppeltransistoren M2, M3 so regelt, dass Potential am Ausgang des ersten Transistors MS1 gleich dem Potential am Ausgang des zweiten Transistors MS2 ist.
  • Der erste und zweite Transistor MS1, MS2, der erste und zweite Widerstand RS1, RS2 und der Differenzverstärker OP1 bilden eine Stromspiegel, der besonders dazu geeignet ist einen Strom bei kleinen Drain-Source-Spannungen der Transistoren zu spiegeln. Der erste Widerstand RS1 kann vorteilhaft so gewählt werden, dass die Spannung über diesen Widerstand RS1 größer ist als die Spannung über den Anschlusswiderstand RB, wenn der erste Transistor MS1 nicht mit dem ersten Widerstand RS1 und somit die Wirkung des ersten Transistors fehlt. Die Widerstände RS1, RS2 können vorteilhaft so gewählt werden, dass sie einander möglichst ähnlich sind, dass heißt, dass sie gut matchen. Die Genauigkeit wird verbessert, indem der Einfluss des Ausgangswiderstandes des ersten und des zweiten Transistors MS1, MS2 reduziert wird. Dies kann erreicht werden, indem die Spannungen an den Ausgängen des ersten und des zweiten Transistors möglichst gleich sind. Dies kann beispielsweise dadurch erreicht werden, indem der zweite Differenzverstärker OP2 die Koppeltransistoren M2, M3 entsprechend regelt.

Claims (10)

  1. Leistungsschaltung umfassend: einen Leistungstransistor (M0) zum Zuführen eines Laststromes (Il) an eine Last (Zl), einen Messtransistor (M1) zum Auskoppeln eines Messstromes (Im), der von dem Laststrom (I1) abhängt, mindestens zwei Koppeltransistoren (M2, M3) zum Aufteilen des Messstromes (Im) in einen internen Messstrom (Imi) und in einen externen Messstrom (Ime), wobei der externe Messstrom (Ime) einer externen Auswerteschaltung (A1) zuführbar ist und wobei der interne Messstrom (Imi) einer internen Auswerteschaltung (A2) zum Auswerten zugeführt wird, eine Messvorrichtung (A3) Bestimmung des Gekoppeltseins der externen Auswertevorrichtung (A1) an die Leistungsschaltung, wobei Messvorrichtung (A3) einen Nicht-Gekoppelt-Zustand bestimmt, wenn die externe Auswertevorrichtung (A1) nicht an die Leistungsschaltung gekoppelt ist und wobei die Messvorrichtung (A3) einen Gekoppelt-Zustand bestimmt, wenn die externe Auswertevorrichtung (A1) an die Leistungsschaltung gekoppelt ist.
  2. Leistungsschaltung nach Anspruch 1, mit einem ersten Koppeltransistor (M2) zum Leiten des externen Messstromes (Ime), mit einem zweitem Koppeltransistor (M3) zum Leiten des internen Messstromes (Imi), und einem dritten Koppeltransistor (M4), wobei der dritte Koppeltransistor (M4) an den Messtransistor gekoppelt wird, wenn die Messvorrichtung (A3) einen Nicht-Gekoppelt-Zustand bestimmt, und wobei der dritte Koppeltransistor (M4) von dem Messtransistor (M1) entkoppelt wird, wenn die Messvorrichtung (A3) einen Gekoppelt-Zustand bestimmt.
  3. Leistungsschaltung nach Anspruch 1 oder 2, wobei die Leistungsschaltung eine Regelschaltung (AD) zum Regeln des Messtransistors (M1) aufweist, so dass der Messtransistor (M1) mit derselben Stromdichte wie der Leistungstransistor (M0) betrieben wird.
  4. Leistungsschaltung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei das Verhältnis des externen Messstromes (Ime) zum internen Messstrom (Imi) durch das Verhältnis der Kanalweiten der Koppeltransistoren (M2, M3) bestimmt wird.
  5. Leistungsschaltung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, wobei die Messvorrichtung (A3) den Gekoppelt-Zustand dadurch bestimmt, dass die Messvorrichtung (A3) die Spannung an einem Drainanschluss des ersten Koppeltransistors misst, wobei die Messvorrichtung (A3) den Gekoppelt-Zustand bestimmt, wenn die Spannung eine Schwelle unterschreitet und wobei die Messvorrichtung (A3) den Nicht-Gekoppelt-Zustand bestimmt, wenn die Spannung die Schwelle überschreitet.
  6. Leistungsschaltung nach den Ansprüchen 1 bis 4, wobei die Messvorrichtung (A3) den Gekoppelt-Zustand dadurch bestimmt, dass die Messvorrichtung (A3) den Strom durch den ersten Koppeltransistors (M2) misst, wobei die Messvorrichtung (A3) den Gekoppelt-Zustand bestimmt, wenn der Strom eine Schwelle überschreitet und wobei die Messvorrichtung (A3) den Nicht-Gekoppelt-Zustand bestimmt, wenn der Strom die Schwelle unterschreitet.
  7. Leistungsschaltung nach Anspruch 6, wobei an einem Sourceanschluss des ersten Koppeltransistors (M2) ein Serienwiderstand (R2) gekoppelt ist, durch den der Strom des ersten Koppeltransistors (M2) fließen kann, wobei die Messvorrichtung (A3) die durch den Strom des ersten Koppeltransistors (M2) am Serienwiderstand (R2) verursachte Spannung misst, wobei die Messvorrichtung (A3) den Gekoppelt-Zustand bestimmt, wenn die Spannung eine Schwelle überschreitet und wobei die Messvorrichtung (A3) den Nicht-Gekoppelt-Zustand bestimmt, wenn die Spannung die Schwelle unterschreitet.
  8. Leistungsschaltung nach Anspruch 7, wobei die Koppeltransistoren (M2, M3, M4) Sourceanschlüsse aufweisen und wobei an mindestens zwei Sourceanschlüssen der Koppeltransistoren (M2, M3, M4) jeweils ein Serienwiderstand (R2, R3, R4) gekoppelt ist, durch den der Strom des jeweiligen Koppeltransistors (M2, M3, M4) fließen kann, wobei zumindest die Serienwiderstände (R2, R3) so ausgebildet sind, dass bei gleicher Stromdichte in den Koppeltransistoren (M2, M3) gleiche Spannungen an den Serienwiderständen (R2, R3) abfallen.
  9. Leistungsschaltung nach Anspruch 8 wobei die Messvorrichtung (A3) die Spannungen an den Serienwiderständen (R2, R3) des ersten und des zweiten Koppeltransistors (M2, M3) vergleicht und wobei die Messvorrichtung (A3) den Gekoppelt-Zustand bestimmt, wenn die Spannung am Serienwiderstand (R2) des ersten Koppeltransistors (M2) größer oder gleich ist als die Spannung am Serienwiderstand (R3) des zweiten Koppeltransistors (M3) und die Messvorrichtung (A3) den Nicht-Gekoppelt-Zustand bestimmt, wenn die Spannung am Serienwiderstand (R2) des ersten Koppeltransistors (M2) kleiner ist als die Spannung am Serienwiderstand (R3) des zweiten Koppeltransistors (M3).
  10. Leistungsschaltung nach Anspruch 9, wobei die Messvorrichtung (A3) eine Offsetspannung enthält oder der Messvorrichtung (A3) eine Offsetspannung zugeführt wird, wobei die Messvorrichtung (A3) den Gekoppelt-Zustand bestimmt, wenn die Spannung am Serienwiderstand (R2) des ersten Koppeltransistors (M2) und die Offsetspannung größer oder gleich ist als die Spannung am Serienwiderstand (R3) des zweiten Koppeltransistors (M3) und die Messvorrichtung (A3) den Nicht-Gekoppelt-Zustand bestimmt, wenn die Spannung am Serienwiderstand (R2) des ersten Koppeltransistors (M2) und die Offsetspannung kleiner ist als die Spannung am Serienwiderstand (R3) des zweiten Koppeltransistors (M3).
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