DE102005055829B4

DE102005055829B4 - Verfahren und Vorrichtung zum Quantifizieren des Zeitgebungsfehlers, induziert durch eine Impedanzabweichung eines Signalwegs

Info

Publication number: DE102005055829B4
Application number: DE102005055829A
Authority: DE
Inventors: Hiroshi Loveland Matsumiya
Original assignee: Verigy Singapore Pte Ltd
Current assignee: Verigy Singapore Pte Ltd
Priority date: 2005-02-25
Filing date: 2005-11-23
Publication date: 2009-06-04
Anticipated expiration: 2025-11-24
Also published as: US20060195806A1; DE102005055829A1; US7536663B2; TWI429919B; KR20060094920A; CN1825127A; TW200630620A; KR101226330B1; CN1825127B

Abstract

Verfahren, das folgende Merkmale aufweist:
sequenzielles Treiben (102) einer Mehrzahl von Signalen (400, 408, 416, 424) auf einen Signalweg (202), wobei jedes der Signale eine Pulsbreite aufweist, definiert durch eine Trigger-Flanke (402, 404, 418, 426) und eine Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428), und wobei zumindest einige der Signale (400, 408, 416, 424) unterschiedliche Pulsbreiten aufweisen;
nach dem Treiben jedes Signals (400, 408, 416, 424), Abtasten (104) des Signals (400, 408, 416, 424) bei einer Zeitgebung der Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) des Signals, um dadurch die Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) des Signals zu charakterisieren; und
Analysieren (106) der Sensor-Flanken-Charakterisierungen, die den unterschiedlichen Signalen (400, 408, 416, 424) entsprechen, um einen Zeitgebungsfehler (504) zu quantifizieren, induziert durch eine Impedanzabweichung des Signalwegs (202).

Description

Impedanzabweichungen bei Signalwegen induzieren Signal-Reflexionen und -Verzögerungen. Während TDR-Tests (TDR = time domain reflectometer = Zeitbereich-Reflektometer) an einzelnen Signalwegen ausgeführt werden können, um Impedanzfehlanpassungen zu messen, sind sie nicht in der Lage, den Zeitgebungsfehler zu messen, der durch die Fehlanpassungen verursacht wird. Ferner sind mathematische Schätzungen eines Zeitgebungsfehlers aus TDR-Daten sowohl zeitaufwendig als auch unpräzise. Aus der US 5,528,166 ist ein Ausgangstreiber bekannt, der durch Abtastung mehrerer Signale mit verschiedenen Pulsbreiten eine Kompensation der Impedanz durchgeführt. Die Signalwege der Signale sind parallel zueinander.
Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren und eine Programmspeichervorrichtung mit verbesserten Charakteristika zu schaffen.
Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren gemäß Anspruch 1 und eine Programmspeichervorrichtung gemäß Anspruch 19 gelöst.
Bei einem Ausführungsbeispiel weist ein Verfahren das sequenzielle Treiben einer Mehrzahl von Signalen auf einen Signalweg auf. Jedes der Signale weist eine Pulsbreite auf, definiert durch eine Auslöse- bzw. Trigger-Flanke und eine Sensorflanke, und zumindest einige der Signale weisen unterschiedliche Pulsbreiten auf. Nach dem Treiben jedes Signals wird das Signal bei oder ungefähr bei einer Zeitgebung der Sensorflanke des Signals abgetastet, um dadurch die Sensorflanke des Signals zu charakterisieren. Die Sensorflanken-Charakterisierungen, die den unterschiedli chen Signalen entsprechen, werden dann analysiert, um einen Zeitgebungsfehler zu quantifizieren, induziert durch eine Impedanzabweichung des Signalwegs.
Andere Ausführungsbeispiele werden ebenfalls offenbart.
Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
1 ein erstes exemplarisches Verfahren zum Quantifizieren des Zeitgebungsfehlers, der durch eine Impedanzabweichung eines Signalwegs induziert wird;
2A bis 2C exemplarische Impedanzabweichungen bei verschieden abgeschlossenen Signalwegen;
3A bis 3C perspektivische, exemplarische Signalreflexionen, induziert durch die Impedanzabweichungen der verschieden abgeschlossenen Signalwege, die in 2A, 2B und 2C gezeigt sind;
4 einen Satz von exemplarischen Signalen, die jeweils eine unterschiedliche Pulsbreite aufweisen, die auf einen Signalweg gemäß dem Verfahren getrieben werden können, das in 1 gezeigt ist;
5 eine exemplarische, graphische Darstellung der gemessenen Sensorflankendaten;
6 ein zweites exemplarisches Verfahren zum Quantifizieren des Zeitgebungsfehlers, der durch eine Impedanzabweichung eines Signalwegs induziert wird;
7 ein exemplarisches Verfahren zum Initialisieren einer ATE gemäß dem Verfahren, das in 6 gezeigt ist;
8 ein exemplarisches Verfahren zum Konfigurieren der ATE gemäß dem Verfahren, das in 6 gezeigt ist; und
9 ein exemplarisches Verfahren zur Übernahmesignalgebung einer Sensorflanke eines Antriebsignals gemäß dem Verfahren, das in 6 gezeigt ist.
1 stellt ein exemplarisches Verfahren 100 dar zum Quantifizieren des Zeitgebungsfehlers, der durch eine Impedanzabweichung eines Signalwegs induziert wird. Das Verfahren 100 weist das sequenzielle Treiben 102 einer Mehrzahl von Signalen auf einen Signalweg auf. Jedes der Signale weist eine Pulsbreite auf, definiert durch eine Trigger-Flanke und eine Sensorflanke, und zumindest einige der Signale sind mit unterschiedlichen Pulsbreiten versehen. Nach dem Treiben jedes Signals wird das Signal bei oder ungefähr bei einer Zeitgebung der Sensorflanke des Signals abgetastet, um dadurch die Sensorflanke des Signals zu charakterisieren. Die Sensorflankencharakterisierungen, die den unterschiedlichen Signalen entsprechen, werden dann analysiert 106, um einen Zeitgebungsfehler zu quantifizieren, der durch eine Impedanzabweichung des Signalwegs induziert wird.
2A, 2B und 2C stellen eine Mehrzahl von Schaltungen 200, 204, 208 dar, an die das Verfahren 100 angewendet werden kann. Jede der Schaltungen 200, 204, 208 ist ähnlich konfiguriert, abgesehen von der Art und Weise, auf die ein Signalweg 202, 206, 210 (z. B. eine Übertragungsleitung) der Schaltung abgeschlossen ist. Das heißt, jede Schaltung 200, 204, 208 weist einen Signalweg 202, 206, 210 einer ähnlichen Länge und charakteristischen Impedanz (Z₀); einer ähnlichen Impedanzabweichung (d. h. eine 3-Pikofarad-(pF-)Kapazität C1, C2, C3), ähnlich positioniert entlang des Signalwegs 202, 206, 210; und einen Treiber (d. h. DRV1, DRV2, DRV3) und Empfänger (d. h. RCV1, RCV2, RCV3) auf, gekoppelt mit einem Ende des Signalwegs 202, 206, 210 der Schaltung. Der Signalweg 202 ist zu Masse durch eine Impedanz R2 (die mit der Impedanz R1 angepasst ist) abgeschlossen. Der Signalweg 206 ist zu Masse abgeschlossen durch einen 10-Kiloohm-(KΩ-)Resistor R4, der demselben im Wesentlichen einen Leerlauf-Abschluss gibt. Der Signalweg 210 ist zu Masse durch einen 0,1-Ω-Widerstand R6 abgeschlossen, der demselben im Wesentlichen einen Kurzschluss-Abschluss gibt.
Die Signalwege 202, 206, 210 können z. B. unterschiedliche Kanäle einer automatisierten Testausrüstung (ATE) darstellen. Folglich kann jeder Signalweg 202, 206, 210 verschiedene Spuren, Kabel und Verbinder eines Instruments, eine Lastplatine, Sondenkarte, Kabel etc. aufweisen. Bei einem Ausführungsbeispiel stellen die Impedanzabweichungen C1, C2, C3, die Impedanz eines Verbinders dar.
Die Länge jedes Signalwegs 202, 206, 210 kann im Hinblick auf die Zeit charakterisiert werden, die ein Signal benötigt, um sich entlang der Länge des Signalwegs auszubreiten. Beispielsweise ist jeder Signalweg 202, 206, 210 gezeigt, um eine Länge von 4 Nanosekunden (ns) aufzuweisen, wobei die Impedanzabweichungen C1, C2, C3 bei 3 Nanosekunden (ns) auftreten. Der Einfachheit halber ist jeder Signalweg 202, 206, 210 gezeigt, um nur eine Impedanzabweichung aufzuweisen. Ein Signalweg könnte jedoch mehr oder weniger Impedanzabweichungen aufweisen. Die Impedanzabweichungen könnten auch andere Formen annehmen, (wie z. B. resistive, induktive oder gemischte Formen).
3A, 3B und 3C stellen das Treiben eines Signals auf jeden der Signalwege 202, 206, 210 dar. Beispielsweise ist das getriebene Signal ein Signalverlauf mit einer 30-ns-Periode und einem 50%-Arbeitszyklus (d. h. einer 15 ns Pulsbreite), ansteigend von 0 auf 3 Volt (V) in 0,3 ns und abfallend von 3 V auf Null in 0,3 ns. Wie gezeigt ist, induzieren die Impedanzabweichungen C1, C2, C3 Signalreflexionen 300, 302, 304, 306, 308, 310 von ungefähr 0,4 V, 6 ns nachdem die ansteigende und abfallende Flanke des Signals auf die Signalwege 202, 206, 210 getrieben werden. Dies ist somit unabhängig von der Art und Weise, auf die verschiedene Signalwege 202, 206, 210 abgeschlossen sind. Die Signalverläufe, die an Beobachtungspunkten A, B und C abgetastet werden (durch Empfänger RCV1, RCV2 und RCV3; siehe 2) variieren jedoch in Form und Spannung.
Beim Anwenden des Verfahrens 100 an die Signalwege 202, 206, 210, gezeigt in 2, kann die Mehrzahl von Signalen 400, 402, 404, 406, gezeigt in 4, sequenziell auf einen oder alle der Signalwege 202, 206, 210 getrieben werden. Für den Rest dieser Beschreibung wird nur der Signalweg 202 betrachtet.
Wie gezeigt ist, weist jedes der Signale 400, 408, 416, 424 eine unterschiedliche Pulsbreite auf, wobei jede Pulsbreite durch eine Trigger-Flanke 402, 410, 418, 426 und eine Sensor-Flanke 404, 412, 420, 428 definiert ist. Die unterschiedlichen Pulsbreiten können z. B. gebildet werden durch Einstellen der Zeitgebung der Trigger-Flanken, Sensor-Flanken oder beiden des Signals. Für die Signale 400 und 408 tritt die Reflexion 406, 414, verursacht durch die Impedanzabweichung C1 (2) vor der Zeitgebung der Sensor-Flanke 404, 412 des Signals auf, und für das Signal 424 tritt die Reflexion 430 später auf. Für das Signal 416 jedoch fällt die Reflexion 422 (gezeigt in gestrichelten Linien) mit der Zeitgebung der Sensor-Flanke 420 des Signals zusammen, wodurch eine Änderung der Sensor-Flanke 420 verursacht wird, wie an einem Beobachtungspunkt A ersichtlich ist. Zum Beispiel wurden sowohl der Mittelpunkt als auch die Steigung der Sensor-Flanke 420 geändert durch die Überlappung einer Reflexion 422 an der Sensor-Flanke 420.
Die Sensor-Flanken der Signale mit unterschiedlichen Pulsbreiten, wie bei Punkt A des Signalwegs 202 beobachtet wird, können aufgezeichnet werden, wie in 5 gezeigt ist, wobei die Darstellung 500 die Mittelpunkte von ver schiedenen Sensor-Flanken darstellt, beobachtet bei Punkt A, da Signale mit unterschiedlichen Pulsbreiten auf den Signalweg 202 getrieben werden. Die Abweichung 504 oder die Abnormität bei der Sensorflankenzeitgebung für ein Signal mit einer Pulsbreite von 6 ns zeigt an, dass, wenn ein Signal mit einer Pulsbreite von 6 ns auf den Signalweg 202 getrieben wird, die Reflexion, die durch die Impedanzabweichung C1 verursacht wird, die Sensorflanke des Signals überlappte. Der Betrag der Sensorflankenabweichung stellt den Zeitgebungsfehler dar, induziert durch die Impedanzabweichung. Die Pulsbreite des Signals, die eine Erfassung des Zeitgebungsfehlers ermöglichte (d. h. 6 ns), kann verwendet werden 108 (1), um zu identifizieren, wo auf dem Signalweg 202 der Zeitgebungsfehler induziert wird. Das heißt, da die Trigger-Flanke eines Signals sich von einem Punkt A zu der Impedanzabweichung bewegen muss und dann sich die induzierte Reflexion zurück entlang derselben Route bewegen muss, kann bestimmt werden, dass die Impedanzabweichung entlang des Signalwegs 202 3 ns von dem Punkt A auftritt (d. h. 6 ns ÷ 2 = 3 ns).
Wie vorangehend erwähnt wurde, kann eine Sensorflanke eines Signals durch einen Empfänger (z. B. RCV1, RCV2 oder RCV3) charakterisiert werden im Hinblick auf den Mittelpunkt der Sensorflanke. Der Mittelpunkt der Sensorflanke eines Signals kann z. B. gefunden werden durch Abtasten des Signals (z. B. Abtasten seiner Spannung) an einer Mehrzahl von Punkten, die sich von vor seiner Sensorflanke zu zumindest dem Mittelpunkt seiner Sensorflanke erstrecken. Der Mittelpunkt der Sensorflanke eines Signals kann ebenfalls gefunden werden durch Abtasten des Signals an einer Mehrzahl von Punkten, die sich von nach seiner Sensorflanke zu zumindest dem Mittelpunkt seiner Sensorflanke erstrecken. In einigen Fällen kann es wünschenswert sein, den Mittelpunkt der Sensorflanke eines Signals auf beide diese Weisen zu bestimmen – d. h. durch Abtasten desselben von links und von rechts. In 5 stellt die Darstellung 500 frühe Zeitgebungen der Sensorflanken dar (d. h. basierend auf ihrer Abtastung von links) und die Darstellung 502 stellt späte Zeitgebungen der Sensorflanken dar (d. h. basierend auf ihrer Abtastung von rechts). Die Abweichung oder der Vergleich 506 zwischen einer frühen und späten Zeitgebung stellt einen Spitze-zu-Spitze-Zeitgebungsfehler dar, der einer Impedanzabweichung zugeordnet ist.
6 stellt dar, wie das Verfahren 100 an ein Modell V4xxx einer ATE der Versatest Series von Agilent Technology, Inc., angewendet werden kann. Es sollte jedoch darauf hingewiesen werden, dass das Verfahren 100 an eine große Vielzahl von Test- und Mess-Ausrüstungen anwendbar ist. Agilent Technologies, Inc., ist ein Unternehmen aus Delaware mit seinem Hauptgeschäftssitz in Palo Alto, Kalifornien, USA.
Ein Fachmann wird erkennen, dass jeglicher Abschnitt der Signalwege einer ATE bewertet werden kann, einschließlich jener der Lastplatinen, Sondenkarten, Kalibrierungsplatinen, Schnittstellenplatinen, Kabel und Sockel der ATE. Ferner kann das Verfahren 100 an jeden Kanal der ATE angewendet werden, wobei jeder derselben wahrscheinlich bereits einem Signaltreiber und einem Signalempfänger zugeordnet ist. Bei einigen Ausführungsbeispielen kann das Verfahren 100 an Umgebungen angewendet werden, in denen eine ATE, eine Lastplatine und eine Sondenkarte jeweils Tausende von Spuren aufweisen. Bei solchen Ausführungsbeispielen kann das Verfahren 100 verwendet werden, um die sich am schlechtesten verhaltende der vielen Tausenden von Spuren zu identifizieren, in wesentlich kürzerer Zeit als dies herkömmliche Verfahren können.
Weiter nun mit einer Beschreibung des Verfahrens 600 (6) beginnt das Verfahren mit einer Initialisierung 602 der ATE. 7 stellt exemplarische Schritte dar, die unternommen werden können, um das Modell V4xxx der ATE der Versatest Series zu initialisieren. Das heißt, Leistungsversorgungen V1–V5 werden abgetrennt 700; eine Kanal-I/O- (Input/Output-)-Zeitgebung für zumindest den getesteten Kanal (hierin nachfolgend einfach bezeichnet als „der Kanal") wird gesetzt 702; der Kanal wird in den Vektormodus gesetzt 704; die Invert-Maske wird von dem Kanal entfernt 706; und Hoch- und Niedrig-Eingangsspannungen (VIH, VIL, VOH, VOL) werden für den Kanal gesetzt 708.
Bezug nehmend zurück auf 6 fährt das Verfahren 600 fort mit einer Treibersignal- und Empfänger-Aktivierungssignal-Konfiguration 604. 8 stellt exemplarische Schritte dar, die unternommen werden können, um dies auszuführen, einschließlich der Einstellung 802 der Zeitgebung eines DRIVE_START (d. h. ein Signal, das eine Sensorflankenzeitgebung darstellt) und eines DRIVE_END (d. h. ein Signal, das eine Triggerflankenzeitgebung darstellt) für ein Signal, das auf den Kanal getrieben werden soll; Einstellen bzw. Setzen 804 eines Aktivierungssignal-Starts (d. h. MIN_STROBE) und eines Aktivierungssignal-Endes (MAX_STROBE) eines Aktivierungssignals (Strobe), das zum Abtasten des Signals verwendet wird, das auf den Kanal getrieben wird; Einstellen 806 einer Aktivierungssignal-Maske für den Kanal; und Einstellen 808 des Aktivierungssignal-Empfängers auf einen Flanken-Modus. Um ein Übersprechen und eine andere potenzielle Störung auf dem Kanal zu vermeiden, der bei der Analyse beteiligt ist, kann eine Signalübertragung auf allen Kanälen außer dem getesteten Kanal maskiert werden.
Bezug nehmend zurück auf 6 fährt das Verfahren 600 mit der inkrementellen Aktivierung 606 der ansteigenden Sensorflanke des Signals fort, das auf den Kanal getrieben wird. Das heißt, das getriebene Signal wird ansprechend auf das Aktivierungssignal abgetastet, um die Sensorflanke von links zu charakterisieren. Die ansteigende Sensorflanke wird dann dekrementell aktiviert 608, um die Sensorflanke von rechts zu charakterisieren. Nachfolgend wird die Polarität des getriebenen Signals verändert 610 und die abfal lende Sensorflanke des neuen Treibersignals wird dann inkrementell und dekrementell aktiviert 612, 614.
Nach dem Charakterisieren der ansteigenden und abfallenden Sensorflanke des Treibersignals mit einer gegebenen Pulsbreite aber unterschiedlichen Polaritäten, wird bestimmt, ob eine minimale Pulsbreite erreicht wurde 616. Wenn nicht, wird die Zeitgebung von DRIVE_START des getriebenen Signals inkrementiert 618, und die Schritte 606–614 werden wiederholt. Wenn ja, wird bestimmt, ob alle Kanäle der ATE getestet wurden 620. Wenn nicht, wird der getestete Kanal inkrementiert 622 und die Schritte 604–618 werden wiederholt. Ansonsten endet das Verfahren 600.
9 stellt ein exemplarisches Verfahren 900 dar zum inkrementellen oder dekrementellen Aktivieren einer Sensorflanke gemäß einem der Schritte 606, 608, 612, 614 des Verfahrens 600. Das Verfahren 900 weist das Einstellen 902 eines STROBE_START; das Einstellen 904 der Aktivierungssignal-Zeitgebung; und das Ausführen 906 eines Mustergenerators und der Suche nach dem Mittelpunkt einer Sensorflanke auf. Wenn der Mittelpunkt gefunden ist 908, endet das Verfahren 900. Ansonsten wird das STROBE_START inkrementiert oder dekrementiert 910 und der Mustergenerator wird verwendet, um noch mal nach der Sensorflanke zu suchen. Die Schwelle des Mustergenerators wird auf die Spannung gesetzt, die an dem Mittelpunkt einer Sensorflanke erwartet wird.
Wenn das Verfahren 600 ausgeführt wird, kann die Zeitgebung von DRIVE_START über eine Zeitperiode inkrementiert werden gleich der Ausbreitungsverzögerung eines getesteten Kanals oder über einen Bereich von Pulsbreiten, der einem Abschnitt eines Kanals entspricht, wo erwartet wird, dass eine Impedanzabweichung existiert. Ferner kann STROBE_START über eine gesamte Periode eines Treibersignals inkrementiert werden oder über einen Bereich, wo erwartet wird, dass eine Sensorflanke eines Treibersignals erfasst wird.
Die Daten, die durch fehlangepasste Impedanzzeitgebungsanalysen erzeugt werden, können viele Formen annehmen, einschließlich Tabellen, Datenbanken und Darstellungen. Bei einigen Ausführungsbeispielen können solche Daten Zwischendaten sein, die für weitere manuelle oder automatisierte Analysen verwendet werden können. Die Genauigkeit der Verfahren 100 und 600 kann durch Wiederholbarkeit verbessert werden. Zum Beispiel könnte es erwünscht sein, einen Schleifenvektor 1.000 mal pro Kanal schleifenmäßig zu verarbeiten, z. B. um einen ausreichend großen Satz von Daten zu erhalten, um einen gewünschten Pegel an Genauigkeit zu erreichen.
5 stellt eine exemplarische graphische Darstellung (d. h. Skizze) von Sensorflankenmittelpunkten dar, relativ zu dem Verfahren 600 und dem Signalweg 202. Die vertikale Einheit der Darstellung ist die Pulsbreite (PW; PW = pulse-width) des Treibersignals in Nanosekunden. Die horizontale Einheit der Darstellung ist die erfasste Sensorflankenzeitgebung in Pikosekunden. Linie 500 stellt eine Darstellung der ansteigenden Sensorflanke dar, erfasst durch eine inkrementelle Aktivierung. Linie 502 stellte eine Darstellung der ansteigenden Sensorflanke dar, erfasst durch eine dekrementelle Aktivierung. Linie 508 stellt eine Darstellung der abfallenden Sensorflanke dar, erfasst durch eine inkrementelle Aktivierung. Linie 510 stellt eine Darstellung der abfallenden Sensorflanke dar, erfasst durch eine dekrementelle Aktivierung (Strobing).
Unter einer Pulsbreite von ungefähr 3 ns weisen die Sensorflankendarstellungen Verzerrungen auf, die die minimale Pulsbreite reflektieren, für die der Empfänger (RCV1), der mit dem Signalweg 202 verbunden ist, genau einen Sensorflankenmittelpunkt erfassen kann. Es wird jedoch daraufhingewiesen, dass diese minimale Pulsbreite von 3 ns nur exemplarisch ist. Abhängig von dem ATE-System, von dem der Empfänger ein Teil ist, kann diese minimale Pulsbreite kleiner oder größer sein.
5 stellt einige aber nicht alle der nützlichen Messungen dar, die aus den gesammelten Daten abgeleitet werden können. Zum Beispiel, zusätzlich zu Messungen 504 und 506, die bereits erörtert wurden, weisen die Messungen einen Spitze-zu-Spitze-Zeitgebungsfehler 512 für die Impedanzfehlanpassung C1 auf, zusätzlich zu der Totzone. Der Spitze-zu-Spitze-Zeitgebungsfehler 512 weist die kombinierten Fehler auf, die Zittern, Linearität, Empfänger- und Treiber-Fehlern zugeordnet sind, plus den maximalen Zeitgebungsfehler, der durch ansteigende oder abfallende Flanken verursacht wird, die durch die Impedanzabweichung C1 reflektiert werden.
Die hierin beschriebenen Verfahren können manuell oder automatisch ausgeführt werden, entweder ganz oder teilweise. In einigen Fällen können die Verfahren in Anweisungssequenzen verkörpert sein, die, wenn sie durch eine Maschine (z. B. ATE) ausgeführt werden, verursachen, dass die Maschine die Aktionen des Verfahrens ausführt. Die Anweisungssequenzen können auf einer Programmspeichervorrichtung gespeichert sein, wie z. B. einer Festplatte, einer entfernbaren Platte, einem Speicher oder einer Kombination derselben, egal ob an einer einzelnen Position oder verteilt über ein Netzwerk.

Claims

Verfahren, das folgende Merkmale aufweist: sequenzielles Treiben (102) einer Mehrzahl von Signalen (400, 408, 416, 424) auf einen Signalweg (202), wobei jedes der Signale eine Pulsbreite aufweist, definiert durch eine Trigger-Flanke (402, 404, 418, 426) und eine Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428), und wobei zumindest einige der Signale (400, 408, 416, 424) unterschiedliche Pulsbreiten aufweisen; nach dem Treiben jedes Signals (400, 408, 416, 424), Abtasten (104) des Signals (400, 408, 416, 424) bei einer Zeitgebung der Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) des Signals, um dadurch die Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) des Signals zu charakterisieren; und Analysieren (106) der Sensor-Flanken-Charakterisierungen, die den unterschiedlichen Signalen (400, 408, 416, 424) entsprechen, um einen Zeitgebungsfehler (504) zu quantifizieren, induziert durch eine Impedanzabweichung des Signalwegs (202).
Verfahren (100) gemäß Anspruch 1, bei dem die unterschiedlichen Pulsbreiten der Signale (400, 408, 416, 424) gebildet werden durch Einstellen von Zeitgebungen der Trigger-Flanken, aber nicht der Sensor-Flanken (404, 412, 420, 428), von zumindest einigen der Signale.
Verfahren gemäß Anspruch 1 oder 2, bei dem die unterschiedlichen Pulsbreiten der Signale (400, 408, 416, 424) gebildet werden durch Einstellen von Zeitgebungen der Sensor-Flanken (404, 412, 420, 428), aber nicht der Trigger-Flanken, von zumindest einigen der Signale.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 3, bei dem die unterschiedlichen Pulsbreiten der Signale (400, 408, 416, 424) gebildet werden durch Einstellen der Zeitgebungen von sowohl den Trigger- als auch Sensor-Flanken von zumindest einigen der Signale.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4, bei dem die Signalabtastwerte Spannungen aufweisen.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 5, bei dem jedes Signal (400, 408, 416, 424) an einer Mehrzahl von Punkten abgetastet wird, die sich von vor der Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) des Signals bis zumindest dem Mittelpunkt der Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) des Signals erstrecken.
Verfahren gemäß Anspruch 6, bei dem die Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) jedes Signals gekennzeichnet ist durch Verwenden der Mehrzahl von Abtastpunkten für das Signal (400, 408, 416, 424), um eine Zeitgebung eines Mittelpunkts der Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) des Signals zu bestimmen.
Verfahren gemäß Anspruch 6 oder 7, bei dem jedes Signal (400, 408, 416, 424) ferner abgetastet wird an einer Mehrzahl von Punkten, die sich von nach der Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) des Signals zu zumindest dem Mittelpunkt der Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) des Signals erstrecken.
Verfahren (100) gemäß Anspruch 8, bei dem die Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) des Signals gekennzeichnet ist durch Verwenden der Mehrzahl von Abtastpunkten beginnend von vor der Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) des Signals, um eine frühe Zeitgebung (500) eines Mittel- Punkts der Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) des Signal zu bestimmen; und Verwenden der Mehrzahl von Abtastpunkten beginnend von nach der Sensor-Flanke des Signals, um eine späte Zeitgebung (502) eines Mittelpunkts der Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) des Signals zu bestimmen
Verfahren (100) gemäß Anspruch 9, bei dem ein Analysieren (106) der Sensor-Flanken-Charakterisierungen, die den unterschiedliche Signalen (400, 408, 416, 424) entsprechen, um den Zeitgebungsfehler zu quantifizieren, der durch die Impedanzabweichung des Signalwegs (202) induziert wird, folgenden Schritt aufweist: Vergleichen von Darstellungen (500, 502, 508, 510) einer frühen und späten Zeitgebung der Mittelpunkte der Sensor-Flanken (404, 412, 420, 428) des Signals, um einen Spitze-zu-Spitze-Zeitgebungsfehler (506) zu quantifizieren, der der Impedanzabweichung zugeordnet ist.
Verfahren (100) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 10, bei dem jedes Signal (400, 408, 416, 424) an einer Mehrzahl von Punkten abgetastet wird, die sich von nach der Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) des Signals zu zumindest dem Mittelpunkt der Sensor-Flanke des Signals erstrecken.
Verfahren gemäß Anspruch 11, bei dem die Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) des Signals gekennzeichnet ist durch Verwenden der Mehrzahl von Abtastpunkten für das Signal, um eine Zeitgebung eines Mittelpunkts der Sensor-Flanke des Signals zu bestimmen.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 12, das ferner das Verwenden der Pulsbreite eines Signals aufweist, das einer anormalen Sensor-Flanken- Charakterisierung entspricht, um eine Position der Impedanzabweichung auf dem Signalweg zu identifizieren.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 13, bei dem ein sequenzielles Treiben der Mehrzahl von Signalen auf den Signalweg (202) folgende Schritte aufweist: Treiben einer Mehrzahl von Signalen mit abfallenden Sensor-Flanken auf den Signalweg (202); und Treiben einer Mehrzahl von Signalen mit ansteigenden Sensor-Flanken auf den Signalweg (202).
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 14, bei dem der Signalweg (202) ein Signalweg eines Schaltungstesters ist.
Verfahren gemäß Anspruch 15, das ferner das Wiederholen der Treib-, Abtast- und Analysier-Aktionen für jeden Kanal des Schaltungstesters aufweist.
Verfahren gemäß Anspruch 15 oder 16, bei dem die Impedanzabweichung bekannt ist, um ein Ergebnis eines Verbinders in dem Signalweg zu sein, und bei dem die unterschiedlichen Pulsbreiten der Mehrzahl von Signalen ausgewählt sind, um bei zwei Mal der Zeit zu sein, die die Signale brauchen, um sich zu dem Verbinder auszubreiten.
Verfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 17, bei dem die unterschiedlichen Pulsbreiten der Mehrzahl von Signalen ausgewählt sind, um bei zwei Mal der Zeit zu sein, die die Signale brauchen, um sich zu einem Bereich des Signalwegs auszubreiten, wo erwartet wird, dass die Impedanzabweichung vorliegt.
Programmspeichervorrichtung, die gespeichert auf derselben Sequenzen von Anweisungen aufweist, die, wenn sie durch eine Maschine ausgeführt werden, verursachen, dass die Maschine folgende Aktionen ausführt: sequenzielles Treiben (102) einer Mehrzahl von Signalen (400, 408, 416, 424) auf einen Signalweg (202), wobei jedes der Signale eine Pulsbreite aufweist, definiert durch eine Trigger-Flanke (402, 404, 418, 426) und eine Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428), wobei zumindest einige der Signale (400, 408, 416, 424) unterschiedliche Pulsbreiten aufweisen; nach dem Treiben jedes Signals (400, 408, 416, 424), Abtasten (104) des Signals (400, 408, 416, 424) bei einer Zeitgebung der Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) des Signals, um dadurch die Sensor-Flanke (404, 412, 420, 428) des Signals zu charakterisieren; und Vergleichen (106) der Sensor-Flanken-Charakterisierungen von Unterschiedlichen der mehreren Signale (400, 408, 416, 424), um einen Zeitgebungsfehler (504) zu quantifizieren, induziert durch eine Impedanzabweichung des Signalwegs (202).
Programmspeicherungsvorrichtung gemäß Anspruch 19, bei der jedes Signal an einer Mehrzahl von Punkten auf jeder Seite seiner Sensor-Flanke abgetastet wird.