DE102004052952A1 - Ausrichtungsverfahren zur Herstellung eines integrierten Ultraschalltransducerfeldes - Google Patents

Ausrichtungsverfahren zur Herstellung eines integrierten Ultraschalltransducerfeldes Download PDF

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Robert G. Wodnicki
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General Electric Co
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    • B06GENERATING OR TRANSMITTING MECHANICAL VIBRATIONS IN GENERAL
    • B06BMETHODS OR APPARATUS FOR GENERATING OR TRANSMITTING MECHANICAL VIBRATIONS OF INFRASONIC, SONIC, OR ULTRASONIC FREQUENCY, e.g. FOR PERFORMING MECHANICAL WORK IN GENERAL
    • B06B1/00Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency
    • B06B1/02Methods or apparatus for generating mechanical vibrations of infrasonic, sonic, or ultrasonic frequency making use of electrical energy
    • B06B1/0292Electrostatic transducers, e.g. electret-type
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
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    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/42Piezoelectric device making

Abstract

Eine integrierte Schaltung wird durch Feinstbearbeitung eines hexagonalen Feldes von cMUT-Elementen oben auf einem ein hexagonales Feld von CMOS-Zellen aufweisenden Substrat hergestellt. Jedes cMUT-Element liegt in einer Eins-zu-eins-Zuordnung über einer entsprechenden CMOS-Zelle. Während des Entwurfs der Maske für die Feinstbearbeitung der cMUT-Schicht wird entweder das hexagonale Muster oder der Ausrichtungsanzeiger gedreht, bis eine Symmetrieachse des hexagonalen Musters an einer Achse des Ausrichtungsanzeigers ausgerichtet ist. Wenn die Maske auf das CMOS-Substrat übertragen worden ist, wird später der Ausrichtungsanzeiger auf der Maske an einem Ausrichtungsanzeiger auf dem Substrat ausgerichtet. Dies stellt sicher, dass die durch optische Lithographie gebildeten cMUT-Elemente zur den CMOS-Zellen passen.

Description

  • Hintergrund der Erfindung
  • Diese Erfindung bezieht sich allgemein auf die Herstellung von feinst bearbeiteten Ultraschalltransducern. Im Speziellen bezieht sich diese Erfindung auf die Herstellung von Ultraschalltransducerfeldern auf CMOS-Scheiben.
  • Seit Kurzem sind Halbleiterverfahren zum Herstellen von Ultraschalltransducern eines als feinst bearbeitete Ultraschalltransducer (MUTs) bekannten Typs verwendet worden, der von der kapazitiven (cMUT) oder der piezoelektrischen (pMUT) Art sein kann. cMUTs sind winzige diaphragmaartige Vorrichtungen mit Elektroden, die die Schallschwingungen eines empfangenen Ultraschallsignals in eine modulierte Kapazität umwandeln. Zum Senden wird die kapazitive Ladung moduliert, um das Diaphragma der Vorrichtung in Schwingung zu versetzen und dadurch eine Schallwelle auszusenden.
  • Ein Vorteil der MUTs besteht darin, dass sie unter Verwendung der Halbleiterherstellungsverfahren, wie z.B. den unter dem Oberbegriff Mikrobearbeitung („micro-machining") zusammengefassten Mikroherstellungsverfahren hergestellt werden können. Wie in US-Patent Nr. 6,359,367 erläutert ist:
    Mikrobearbeitung (micro machining) ist die Bildung mikroskopischer Strukturen durch Verwendung einer Kombination oder Teilmenge aus (a) musterbildenden Werkzeugen (allgemein Lithographie wie Maskenausrichtungselemente oder Stepper) und (b) Aufdampfverfahren, wie z.B. PVD (Physikalisches Aufdampfen), CVD (Chemisches Aufdampfen), LPCVD (Chemisches Niederdruckaufdampfen), PECVD (Chemisches Plasmaaufdampfen) und (c) Ätzverfahren, wie z.B. nasschemischem Ätzen, Plasmaätzen, Ionenätzen, Sprühätzen oder Laserätzen. Mikrobearbeitung wird typischerweise auf Substraten oder Wafern ausgeführt, die aus Silizium, Glas, Saphir oder Keramik hergestellt worden sind. Solche Substrate oder Wafer sind im Allgemeinen sehr flach und glatt und weisen seitliche Ausdehnungen in Größenordnungen von Zoll (2,54 cm) auf. Sie werden üblicherweise als Gruppen in Kassetten verarbeitet, so wie sie von Verarbeitungswerkzeug zu Verarbeitungswerkzeug gelangen. Jedes Substrat kann vorteilhafteweise (aber nicht notwendigerweise) zahlreiche Kopien des Produktes enthalten. Es gibt zwei Gattungsarten von Mikrobearbeitung. 1) Bulkmikrobearbeitung, bei der der Wafer oder das Substrat in einem großen Teil seiner Dicke bearbeitet wird und 2) Oberflächenmikrobearbeitung, bei der die Bearbeitung allgemein auf die Oberfläche beschränkt ist und speziell auf dünne aufgebrachte Filme auf der Oberfläche. Die hierin verwendete Definition der Mikrobearbeitung enthält die Verwendung von konventionellem oder bekanntem zur Mikrobearbeitung geeigneten Material, einschließlich Silizium, Saphir, allen Typen von Glasmaterial, Polymeren (wie z.B. Polyimid), Polysilizium, Siliziumnitrid, Siliziumoxynitrid, Dünnschichtmetallen wie Aluminiumlegierungen, Kupferlegierungen und Wolfram auf Aufschleudergläsern (SOGs), implantierbaren oder eindiffundierten Dotierstoffen und gewachsenen Filmen wie z.B. Siliziumoxyden und -nitriden.
  • Dieselbe Definition der Mikrobearbeitung wird hierin übernommen. Die aus dem Mikrobearbeitungsverfahren hervorgehenden Systemen werden typischerweise als „feinst bearbeitete elektromechanische Systeme" (MEMS) bezeichnet.
  • Die cMUTs sind üblicherweise sechseckige Strukturen, die eine über ihnen gespannte Membran aufweisen. Diese Membran wird durch eine angelegte Vorspannung nahe bei der Substratoberfläche gehalten. Durch Anlegen eines oszillierenden Signals an den bereits vorgespannten cMUT kann die Membran zum Schwingen veranlasst werden, wodurch ihr das Abstrahlen von Schallenergie ermöglicht wird. Ebenso können die hervorgerufenen Schwingungen auf dem cMUT als Spannungsänderungen erkannt werden, wenn Schallwellen auf die Membran einfallen. Eine „cMUT-Zelle" ist der Ausdruck, der hierin zum Beschreiben einer einzelnen der sechseckigen „Trommel"-Strukturen verwendet wird. Die cMUT-Zellen können sehr kleine Strukturen sein. Typische Zellenausdehnungen sind 25–50 μm von Seite zu Seite in dem Sechseck. Die Ausdehnungen der Zellen sind in vieler Hinsicht durch die beabsichtigten akustischen Antworten vorgegeben. Es kann unmöglich sein, größere Zellen zu schaffen, die im Hinblick auf den gewünschten Frequenzgang und die Empfindlichkeit immer noch gut funktionieren.
  • Ultraschallsonden sind auf Grundlage der cMUT-Technologie entworfen worden. In einem bekannten Entwurf sind viele cMUT-Zellen zusammen gruppiert, und die Elektroden der Zellen in einer einzelnen Gruppe sind miteinander fest verdrahtet, um größere Transducerelemente zu schaffen. Man kann noch größere Elemente, z.B. lineare Elemente, durch elektri sches Verbinden der Elemente (z.B. sogenannte „Unterelemente", die Gruppen von fest verdrahteten cMUT-Zellen aufweisen), unter Benutzung eines Schaltnetzwerkes bilden. Die größeren Elemente können durch Verändern des Zustandes des Schaltnetzwerkes neu eingerichtet werden. Jedoch können die aus nur einer Gruppe von cMUT-Zellen, die alle fest miteinander verdrahtet sind, bestehenden Elemente nicht neu eingerichtet werden.
  • Gemäß einem vorgeschlagenen Aufbau weist jedes Element eine Vielzahl von sechseckigen, in einem Bienenwabenmuster angeordneten MUT-Zellen mit den auf den Membranen miteinander fest verdrahteten Elektroden auf. Der äußere Ring der MUT-Zellen in jedem Element bildet ein weiteres Sechseck. Diese Elemente können neu eingerichtet werden, um unter Benutzung eines Schaltnetzwerkes größere Elemente zu bilden. Ein Feld solcher kleiner Elemente kann mit konventionellen Metalloxydhalbleitern (CMOS)-Schaltern und Vorverstärker/Pufferschaltungen auf einem Siliziumwafer integriert werden, um neu einrichtbare, Strahlenbündel erzeugende Elemente zu schaffen. Die MEMS-Technologie ermöglicht die Realisierung eines zweidimensionalen cMUT-Feldes, das oben auf der CMOS-Elektronik angeordnet ist.
  • Gemäß einem bekannten Herstellungsverfahren wird ein vorgefertigter CMOS-Wafer vor dem Beginn des cMUT-Herstellungsverfahren geglättet. Der CMOS-Wafer weist ein Feld von Zellen auf, wobei jede Zelle aus Schaltungselementen zusammengesetzt ist, die verwendet werden, um dem ihnen zugeordneten cMUT-Element lokal die erforderlichen Funktionen zur Verfügung zu stellen. Verbindungen zwischen der Ebene der CMOS-Zellenmatrix und der Ebene des cMUT-Elementenfeldes können vertikal hergestellt werden.
  • Lithographie wird typischerweise bei der Herstellung von MEMS-Einrichtungen genutzt. Das Verfahren umfasst typischerweise die Übertragung eines Musters auf ein lichtempfindliches Material, in dem ausgewählte Flächen einer Quelle von Strahlung, wie z.B. Licht, ausgesetzt werden. Das lichtempfindliche Material erfährt eine Änderung seiner physikalischen Eigenschaften, wenn es der Strahlung ausgesetzt ist. Typischerweise wird eine Maske verwendet, die dem Licht das Durchdringen und Einfallen nur auf ausgewählten Bereichen des lichtempfindlichen Materials erlaubt. Bei der Lithographie zur Mikrobearbeitung ist das lichtempfindliche Material typischerweise ein Material (z.B. ein Fotolack), dessen chemische Widerstandsfähigkeit gegenüber einer Entwicklerlösung sich ändert, wenn es Strahlung einer speziellen Wellenlänge ausgesetzt ist. Die Entwicklerlösung wird verwendet, um eine der beiden Bereiche (belichtet oder unbelichtet) weg zu ätzen. Eine lichtempfindliche Schicht kann beim Ätzen einer darunter liegenden Schicht als zeitweilige Maske verwendet werden, so dass das Muster auf die darunter liegende Schicht übertragen werden kann. Die lichtempfindliche Schicht kann auch als eine Schablone zur Bildung von Mustern aus aufgebrachtem Material verwendet werden.
  • Bei der Herstellung von MEMS-Vorrichtungen müssen die verschiedenen Schichten der hergestellten Struktur aufeinander ausgerichtet werden. Jede Maske sollte Bezugs- z.B. Ausrichtungsmarken aufweisen, die an den entsprechenden Bezugsmarken auf den zuvor mit einem Muster versehenen Schichten ausgerichtet werden, so dass die entsprechende Schicht mit den anderen Schichten eingetragen werden kann. Die Ausrichtungsmarke auf einer Maske kann auf den Wafer übertragen werden, um das Ausrichten einer Ausrichtungsmarke auf einer folgenden Maske an der Ausrichtungsmarke auf dem Wafer zu erlauben.
  • Die Maskenerstellung beinhaltet typischerweise den Entwurf und die Übertragung des Musters auf die Maske. Der Ausdruck „Entwurf" (Layout) bezieht sich auf den Vorgang des Festlegens des auf der Maske erscheinenden Musters, der der Reihe nach die Geometrie der hergestellten Vorrichtung festlegt. Der Entwurf wird typischerweise an einem graphischen Editor ausgeführt, der eine Schichten von Mustern enthaltende Datei bearbeitet. Jede Schicht stellt eine entsprechende Maske dar. Der Entwurfseditor erlaubt dem Benutzer alle Schichten zusammen oder ausgewählte Schichten anzuzeigen und zu editieren. Das beim Entwurf festgelegte Muster muss danach auf eine optisch undurchlässigen Maskenbeschichtung auf einem optisch durchlässigen Maskensubstrat übertragen werden.
  • Um oben auf einer CMOS-Schicht eine cMUT-Schicht anzufertigen, muss unter Benutzung eines konventionellen Entwurfseditors eine geeignete Maske erstellt werden. Im Falle eines Bienenwabenmusters von sechseckigen cMUT-Elementen existieren drei natürliche Symmetrieachsen, die im Winkel von 60° relativ zueinander angeordnet sind. Der natürliche Weg, in diesem Koordinatensystem Signal- und Steuerleitungen zu führen, verläuft entlang der Symmetrieachsen. In einem rechtwinkligen Feld eines CMOS-Bausteins stehen die natürlichen Symmetrieachsen senkrecht aufeinander. In diesem Fall verläuft der natürliche Weg, Signal- und Steuerleitung zu führen, entlang einer der orthogonalen Achsen. Obwohl in den Standard-CMOS-Verfahren nicht orthogonale Leitungen geführt werden können, kann dies das Aufkommen an Schäden erhöhen und erschwert die Maskenherstellung. Wenn in einem hexagonalen oder Bienenwabengitter angeordnete cMUT-Elemente auf in einem rechtwinkligen Gitter angeordneten CMOS-Elementen integriert werden, treten Nichtübereinstimmungen der Einheitselemente auf.
  • Es besteht Bedarf an Verfahren zum Ausrichten eines hexagonalen Gitters der cMUT-Elemente an einem rechtwinkligen Gitter der CMOS-Zellen während der Mikrobearbeitung. Speziell muss jedes sechseckige cMUT-Element zu der entsprechenden rechteckigen CMOS-Zelle passen.
  • Kurze Beschreibung der Erfindung
  • Die vorliegende Erfindung ist zum Teil auf eine integrierte Schaltung gerichtet, die ein feinst bearbeitetes hexagonales Feld von cMUT-Elementen oben auf einem ein hexagonales Feld von CMOS-Zellen aufweisenden Substrat aufweist, und zum Teil auf Verfahren zum Ausrichten der entsprechenden Felder gerichtet, so dass jedes cMUT-Element in einer Eins-zu-eins-Zuordnung über einer entsprechenden CMOS-Zelle liegt. Während des Entwurfs der Maske für die Mikrobearbeitung der cMUT-Schicht wird entweder das hexagonale Muster oder ein Ausrichtungsanzeiger gedreht, bis eine Symmetrieachse des hexagonalen Musters an der Achse des Ausrichtungsanzeiger ausgerichtet ist. Wenn die Maske später dem CMOS-Substrat überlagert wird, wird der Ausrichtungsanzeiger auf der Maske an einem Ausrichtungsanzeiger auf dem Substrat ausgerichtet. Dies stellt sicher, dass die durch optische Lithographie gebildeten cMUT-Elemente zu den CMOS-Zellen passen werden.
  • Eine Ausführungsform der Erfindung ist ein Ausrichtungsverfahren, das folgende Schritte aufweist:
    • a) Entwerfen eines Musters, das eine hexagonale Anordnung von Symmetrieachsen aufweisenden cMUT-Elementen darstellt, wobei das entworfene Muster eine erste Menge graphischer Daten aufweist.
    • b) Verarbeiten der ersten Menge graphischer Daten zum Drehen des Musters um einen vorbestimmten Winkel rela tiv zu einem festen rechtwinkligen Referenzrahmen, der zwei aufeinander senkrecht stehende Achsen aufweist, wobei der vorbestimmte Winkel so gewählt wird, dass eine Symmetrieachse der hexagonalen Anordnung der sechseckigen cMUT-Elemente an einer Achse eines ersten festen, rechtwinkligen Referenzrahmens ausgerichtet ist.
    • c) Entwerfen eines ersten Ausrichtungsanzeigers, der eine an einer Achse des ersten festen rechtwinkligen Referenzrahmens ausgerichtete Achse aufweist, wobei der entworfene Ausrichtungsanzeiger eine zweiten Menge graphischer Daten aufweist.
    • d) Übertragen des gedrehten Musters und des ersten Ausrichtungsanzeigers auf eine Maske und
    • e) Platzieren der Maske auf einem Substrat, das eine hexagonale Anordnung von entsprechend an den Achsen eines zweiten festen, rechtwinkligen Referenzrahmens ausgerichtete Symmetrieachsen aufweisenden CMOS-Zellen aufweist und das einen zweiten Ausrichtungsanzeiger aufweist, der eine an einer Achse des zweiten festen rechtwinkligen Referenzrahmens ausgerichtete Achse aufweist, wobei die Maske so angeordnet ist, dass der erste Ausrichtungsanzeiger an dem zweiten Ausrichtungsanzeiger ausgerichtet ist.
  • Eine andere Ausführungsform der Erfindung ist ein Ausrichtungsverfahren das folgende Schritte enthält:
    • a) Entwerfen eines Musters, das eine hexagonale Anordnung von Symmetrieachsen aufweisenden cMUT-Elementen darstellt, wobei das entworfene Muster eine erste Menge graphischer Daten aufweist.
    • b) Entwerfen eines ersten Ausrichtungsanzeigers, der eine Achse aufweist, wobei der entworfene Ausrichtungsanzeiger eine zweiten Menge graphischer Daten aufweist.
    • c) Verarbeiten der zweiten Menge graphischer Daten zum Drehen des ersten Ausrichtungsanzeigers um einen vorbestimmten Winkel relativ zu den Symmetrieachsen, wobei der vorbestimmte Winkel so gewählt wird, dass die Achse des ersten Ausrichtungsanzeigers an einer der Symmetrieachsen der hexagonalen Anordnung der sechseckigen cMUT-Elemente ausgerichtet ist.
    • d) Übertragen des Musters und des gedrehten ersten Ausrichtungsanzeigers auf eine Maske und
    • e) Platzieren der Maske auf einem Substrat, das eine hexagonale Anordnung von entsprechend an den Achsen eines zweiten festen, rechtwinkligen Referenzrahmens ausgerichtete orthogonale Symmetrieachsen aufweisenden CMOS-Zellen aufweist und das einen zweiten Ausrichtungsanzeiger aufweist, der eine an einer Achse des zweiten festen rechtwinkligen Referenzrahmens ausgerichtete Achse aufweist, wobei die Maske so angeordnet ist, dass der erste Ausrichtungsanzeiger an dem zweiten Ausrichtungsanzeiger ausgerichtet ist.
  • Eine weitere Ausführungsform der Erfindung ist eine integrierte Schaltung, die aufweist: Ein eine hexagonale Anordnung von CMOS-Zellen aufweisendes Substrat und eine hexagonale Anordnung von cMUT-Elementen, bei der jedes feinst bearbeitete Element in einer Eins-zu-eins-Zuordnung über einer entsprechenden CMOS-Zelle liegt.
  • Noch eine andere Ausführungsform der Erfindung ist eine integrierte Schaltung, die aufweist: Ein eine hexagonale Anordnung von CMOS-Zellen aufweisendes Substrat und eine hexagonale Anordnung von cMUT-Elementen, bei der jedes cMUT-Element in einer Eins-zu-eins-Zuordnung über einer entsprechenden CMOS-Zelle liegt.
  • Andere Formen der Erfindung werden unten offenbart und beansprucht.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • 1 zeigt eine Schnittansicht einer typischen cMUT-Zelle.
  • 2 zeigt eine isometrische Ansicht der in 1 gezeigten cMUT-Zelle.
  • 3 zeigt eine isometrische Ansicht eines hexagonalen cMUT-Elements, das oben auf einer rechteckigen Zelle von integrierter Elektronik gemäß einer Ausführungsform der Erfindung angeordnet ist. Benachbarte Elemente und Zellen sind nicht dargestellt.
  • 4 zeigt eine Draufsicht auf ein hexagonales Feld von sechseckigen cMUT-Elementen mit den drei natürlichen überlagerten Symmetrieachsen.
  • 5 zeigt eine Draufsicht auf ein hexagonales Feld von rechteckigen CMOS-Zellen mit zwei überlagerten orthogonalen oder rechtwinkligen Symmetrieachsen.
  • 6 zeigt einen Entwurf für ein hexagonales Feld von sechseckigen cMUT-Elementen, das relativ zu einem Ausrichtungsanzeiger algorithmisch gedreht worden ist.
  • 7 zeigt die Ausrichtung einer Maske, die ein Muster für ein hexagonales Feld von sechseckigen cMUT-Elementen aufweist, an einem hexagonalen Feld von rechteckgien CMOS-Zellen.
  • 8 zeigt einen Entwurf für ein hexagonales Feld von sechseckigen cMUT-Elementen und für einen Ausrichtungsanzeiger, der relativ zu den Symmetrieachsen des hexagonalen Feldes algorithmisch gedreht worden ist.
  • Es wird nun auf die Zeichnungen Bezug genommen, in denen ähnliche Elemente in unterschiedlichen Zeichnungen mit denselben Bezugszeichen versehen sind.
  • Ausführliche Beschreibung der Erfindung
  • Indem auf 1 Bezug genommen wird, ist eine typisch cMUT-Transducerzelle 2 im Schnitt dargestellt. Ein Feld solcher cMUT-Transducerzellen wird typischerweise auf einem Substrat 4, wie. z.B. einem hochdotierten Silizium-(daher halbleitenden) Wafer, hergestellt. Bei jeder cMUT-Transducerzelle ist eine dünne Membran oder ein Diaphragma 8, das aus Siliziumnitrid hergestellt worden sein kann, über dem Substrat 4 gespannt. Die Membran 8 wird an ihrem Rand von der isolierenden Auflage 6 gehalten, die aus Siliziumoxyd oder Siliziumnitrid hergestellt sein kann. Der Hohlraum 24 zwischen der Membran 8 und dem Substrat 4 kann luft- oder gasgefüllt oder ganz oder teilweise evakuiert sein. Ein Film oder eine Schicht aus leitfähigem Material, wie z.B. einer Aluminiumlegierung oder anderem geeigneten leitfähigen Material, bildet eine Elektrode 132 auf der Membran 8, und ein anderer aus einem leitfähigen Material hergestellter Film oder Schicht bildet eine Elektrode 10 auf dem Substrat 4. Alternativ kann die untere Elektrode durch eine geeignete Dotierung des Substrates gebildet werden.
  • Passend zu dem Mikrometer-Größenordnungen eines typischen cMUT werden typischerweise zahlreiche cMUT-Zellen in großer Nähe hergestellt, um ein einzelnes Transducerelement zu bilden. Die einzelnen Zellen können eine runde, rechteckige, sechseckige oder andere äußere Form aufweisen. Eine cMUT-Zelle, die eine sechseckige Form aufweist, ist in 2 dargestellt. Sechseckige Formen erlauben eine dichte Packung der cMUT-Zellen auf einem Transducerelement. Die cMUT-Zellen können unterschiedliche Größe haben, so dass das Transducerelement eine zusammengesetzte Kennlinie von verschiedenen Zellengrößen aufweisen wird, die dem Transducer eine Breitbandcharakteristik gibt.
  • Jedes Transducerelement in einer typischen cMUT-Vorrichtung ist aus vielen cMUT-Zellen zusammengesetzt. Zum Zweck der Darstellung zeigt 3 ein „Daisy"-Transducerelement (in „Gänseblümchen"-Form), das aus sieben sechseckigen cMUT-Zellen 2 aufgebaut ist: Einer zentralen Zelle, die von einem Ring aus sechs Zellen umgeben ist, wobei jede Zelle des Ringes an eine entsprechende Seite der zentralen Zelle und der benachbarten Zellen in dem Ring angrenzt. Die oberen Elektroden 12 aller Zellen 2 sind zusammen fest verdrahtet. Im Fall des hexagonalen Feldes sind sechs Leiter 14 (dargestellt sowohl in 2 als auch in 3) von der oberen Elektrode 12 auswärts gerichtet und sind entsprechend mit den oberen Elektroden der benachbarten cMUT-Zellen (außer im Fall der Zellen am Rand, die mit drei, nicht mit sechs anderen Zellen verbunden sind), verbunden. In ähnlicher Weise sind die unteren Elektroden 10 jeder Zelle 2 elektrisch verbunden, wodurch ein sieben mal stärkeres kapazitives Transducerelement 40 gebildet wird. In einer Ultraschallsonde, in der sechseckige cMUT-Elemente 16 in einem hexagonalen Muster angeordnet sind, existieren, wie in 4 dargestellt, drei natürliche Symmetrieachsen X1, X2 und X3. Diese Achsen bilden ein Koordinatensystem, dass das Feld kennzeichnet. Der natürliche Weg, in diesem Koordinatensystem Signal- und Steuerleitungen zu führen, verläuft entlang der Symmetrieachsen, weil sie dann, wie dargestellt, gerade, ununterbrochene Linien sind. In einem CMOS-Baustein, der rechteckige in einem rechtwinkligen Gitter angeordnete CMOS-Zellen aufweist, sind die natürlichen Symmetrieachsen orthogonal und bilden nicht eine Linie mit den Symmetrieachsen des hexagonalen Gitters. Auch die CMOS-Zellen des rechtwinkligen Gitters können wegen der ihnen eigenen Unterschiede in der Geometrie nicht an die cMUT-Elemente des hexagonalen Gitters angepasst werden.
  • Gemäß einer Ausführungsform der Erfindung wird das vorhergehende Problem durch die Schaffung eines hexagonalen Gitters aus hexagonalen cMUT-Elementen oben auf einem hexagonalen Gitter aus rechteckigen CMOS-Zellen gelöst. Ein Beispiel für ein hexagonales Gitter aus rechteckigen CMOS-Zellen 18, die die orthogonalen Achsen X und Y aufweisen, ist in 5 gezeigt. Das hexagonale Muster wird durch Versetzen jeder zweiten Spalte um eine Strecke erreicht, die gleich der Hälfte der Zellenlänge in der Spaltenrichtung ist. Die Längen und Breiten der rechteckigen CMOS-Zellen werden so gewählt, dass die Abstände zwischen den Zentren zweier Rechtecke entlang jeder Diagonalen gleich dem Abstand zwischen den Zentren der zwei über diesen CMOS-Zellen liegenden hexagonalen cMUT-Elemente sind.
  • Das cMUT-Feld wird durch Verwendung optischer Lithographie hergestellt. Jede Schicht in der feinst bearbeiteten Struktur erfordert ihre eigene Maske. Jede Maske hat eine Beschichtung mit einem geometrischen Muster zum Bilden der in 4 gezeigten Struktur, z.B. einem Bienenwaben- oder hexagonalen Muster aus sechseckigen Transducerelementen, wobei jedes Transducerelement aus einem aus sieben sechseckigen cMUT-Zellen bestehenden „Daisy"-Muster gebildet wird. Während des Entwurfs der Maske müssen Schritte ausgeführt werden, um sicherzustellen, dass das geometrische Muster auf jeder Maske richtig an dem CMOS-Substrat ausgerichtet ist, das feinst bearbeitet werden soll. Alle Masken werden an denselben Referenzachsen ausgerichtet und alle von diesen werden so gedreht, wie es zum Ausrichten an dem CMOS-Bauelement erforderlich ist.
  • Wie hierin offenbart, können verschiedene Verfahren angewandt werden, um sicherzustellen, dass die hexagonal angeordneten hexagonalen cMUT-Elemente in der schließlich hergestellten Struktur mit den hexagonal angeordneten rechteckigen CMOS-Zellen zusammenpassen. Zwei Verfahren sind offenbart worden, un eine richtige Ausrichtung der cMUT- und CMOS-Schichten sicherzustellen. Jedoch sollte das am besten geeignete Verfahren auf der Grundlage des verfügbaren Herstellungsverfahrens gewählt werden.
  • Gemäß dem hierin offenbarten Verfahren, sind die CMOS-Zellen, wie in 5 dargestellt, rechteckig und um eine halbe Zellenhöhe versetzt. Dieser Versatz ist einfach zu erreichen. In dieser Anordnung können Leitungen einfach entlang der rechtwinkligen Gitterachsen geführt werden.
  • Gemäß einem ersten in 6 dargestellten Verfahren der Erfindung wird die hexagonale Referenzebene (X1, X2, X3) relativ zu der rechtwinkligen Referenzebene (Xm, Ym) gedreht, die in dem cMUT-Entwurfseditor verwendet wird. Diese Rotation wird während des Entwurfs algorithmisch durch Bearbeitung der Ecken der hexagonalen cMUT-Elemente erreicht. Genauer wird die Rotation erreicht, indem berechnet wird, welches die neuen Koordinaten jeder Ecke sind, wenn das geometrische Muster um eine bestimmte Gradzahl von den Originalachsen weggedreht wird. Zusätzlich werden zahlreiche Ausrichtungsanzeiger 20 (nur einer von ihnen ist in 6 dargestellt) als Teil des Musters auf der Maske gebildet. In dem dargestellten Beispiel weist jeder Ausrichtungsanzeiger 20 zwei sich rechtwinklig schneidende gerade Linien auf, die parallel zu den entsprechenden Achsen Xm und Ym der Referenzebenen liegen.
  • Nachdem die Entwurfsmasken einmal auf diese Weise erzeugt worden sind, ist das Anpassen der hexagonalen cMUT-Zentren an das in 5 dargestellte versetzte CMOS-Muster einfach und in 7 dargestellt. Viele Ausrichtungsanzeiger 20 auf der Maske zum Bilden des Musters der cMUT-Schicht müssen entsprechend an zahlreichen auf dem CMOS-Substrat gebildeten Ausrichtungsanzeigern 22 ausgerichtet werden. Noch einmal: In 7 ist nur jeweils einer der Ausrichtungsanzeiger 20 und 22 dargestellt. Der unterste Abschnitt der 7 stellt die über dem CMOS-Substrat liegende cMUT-Maske dar, wobei die hexagonalen Muster auf der Maske korrekt an den rechteckigen CMOS-Zellen in dem Substrat ausgerichtet sind. In dieser Lagebeziehung werden die Ausrichtungsanzeiger 20 oben auf die entsprechenden Ausrichtungsanzeiger 22 überlagert. Bei dem speziellen in 7 dargestellten Beispiel ist der überdeckte Ausrichtungsanzeiger 22 nicht sichtbar, weil er unter dem Ausrichtungsanzeiger 20 liegt. Jedoch wird ein Fachmann einsehen, dass die Ausrichtungsanzeiger typischerweise so angelegt sind, dass der Ausrichtungsanzeiger 20 auf der Maske in den Ausrichtungsanzeiger 22 auf der Scheibe passt und beides Ausrichtungsanzeiger während der Ausrichtung sichtbar sein können.
  • Gemäß einem zweiten in 8 dargestellten Verfahren der Erfindung wird die hexagonale Referenzebene (X1, X2, X3) entworfen, wie es in dem cMUT-Entwurfseditor am zweckmäßigsten ist. Innerhalb diese Editors werden eine Vielzahl von Maskenausrichtungsanzeigern 20 (nur einer von ihnen ist in 8 zu sehen) hinzugefügt, die um den Anpassungswinkel gedreht werden. Das bedeutet, dass die X-Achse des Ausrichtungsanzeigers 20 zu der X3-Achse in der cMUT-Ebene parallel ist. Während der Herstellung der cMUTs werden die Masken gedreht und relativ zu ähnlichen, auf der CMOS-Scheibe angeordneten Ausrichtungsanzeigern ausgerichtet. Auf diese Weise ist das in 5 dargestellte Anpassen der hexagonalen cMUT-Zentren an das versetzte CMOS-Muster einfach. Das Endergebnis wird wieder die in 7 dargestellte Struktur sein.
  • Daher wird gemäß des ersten offenbarten Verfahren der cMUT-Referenzrahmen während des Maskenentwurfs durch Entwerfen der unter Berücksichtigung eines rechtwinkligen Referenzgitters in der cMUT-Ebene zu drehenden hexagonalen cMUT-Achsen gedreht, während gemäß des zweiten offenbarten Verfahrens der cMUT-Referenzrahmen während der Lithographie durch Drehen der Maskenbelichtung relativ zur CMOS-Bezugsebene unter Verwendung von auf dem CMOS-Element angeordneten Bezugsmarken gedreht wird. Bei beiden Verfahren enthält das CMOS-Substrat abwechselnd um eine halbe Länge versetzte Spalten von CMOS-Zellen, um sich in einer Linie mit den gedrehten cMUT-Zellen anzuordnen.
  • Die mit den vorangehenden Ausrichtungsverfahren erzielen Vorteile sind vielfältig: 1. Der Bedarf an Leitungen, die in der CMOS-Schicht nicht rechtwinklig verlaufen, wird beseitigt, wodurch der Maskenentwurf in den CMOS-Zellen vereinfacht wird. 2. Diese Verfahren eignen sich für rechteckige CMOS-Zellen, die einheitlich angeordnet sind, was den Maskenentwurf für die lithographische Herstellung der CMOS-Zellen vereinfacht. 3. Diese Verfahren erlauben die Anwendung rechtwinkliger Entwurfsvorschriften in der CMOS-Lithographie, was der Standard ist (von nicht rechtwinkligen Layout-Vorschriften wird von den Halbleiterherstellern oft abgeraten). 4. die Möglichkeit von Ausbeuteverlusten durch fehlerhaft erstellte Leitungen, die nicht rechtwinklig sind, wird beseitigt und 5. Diese Verfahren eignen sich zum präzisen Anpassen rechteckiger CMOS-Zellen an sechseckige cMUT-Zellen.
  • Die offenbarten Ausrichtungsverfahren sind nicht auf die Verwendung mit cMUTs beschränkt, sondern können ebenfalls beim Herstellen eines Feldes von hexagonalen feinst bearbeiteten Einrichtungen oben auf einem zugeordneten Feld rechtwinkliger elektronischer Zellen angewandt werden.
  • Obwohl die Erfindung mit Bezug auf bevorzugte Ausführungsbeispiele beschrieben worden ist, wird von Fachleuten verstanden, dass verschiedene Änderungen vorgenommen werden und Äquivalente für ihre Elemente eingesetzt werden können, ohne den Schutzumfang der Erfindung zu verlassen. Zusätzlich können viele Veränderungen vorgenommen werden, um eine spezielle Situation an die Lehren der Erfindung anzupassen, ohne deren wesentlichen Bereich zu verlassen. Daher ist es beabsichtigt, dass die Erfindung nicht auf die spezielle, als bester Weg zum Ausführen der Erfindung angesehene, offenbarte Ausführungsform beschränkt ist, sondern die Erfindung umfasst alle Ausführungsformen, die in den Schutzbereich der folgenden Ansprüche fallen.
  • Eine integrierte Schaltung wird durch Feinstbearbeitung eines hexagonalen Feldes von cMUT-Elementen oben auf einem ein hexagonales Feld von CMOS-Zellen aufweisenden Substrat hergestellt. Jedes cMUT-Element liegt in einer Eins-zu-eins-Zuordnung über einer entsprechenden CMOS-Zelle. Während des Entwurfs der Maske für die Feinstbearbeitung der cMUT-Schicht wird entweder das hexagonale Muster oder der Ausrichtungsanzeiger gedreht, bis eine Symmetrieachse des hexa gonalen Musters an einer Achse des Ausrichtungsanzeigers ausgerichtet ist. Wenn die Maske auf das CMOS-Substrat übertragen worden ist, wird später der Ausrichtungsanzeiger auf der Maske an einem Ausrichtungsanzeiger auf dem Substrat ausgerichtet. Dies stellt sicher, dass die durch optische Lithographie gebildeten cMUT-Elemente zu den CMOS-Zellen passen.

Claims (10)

  1. Ausrichtungsverfahren, das die folgenden Schritte aufweist: – Entwerfen eines Musters, das eine hexagonale Anordnung von Symmetrieachsen aufweisenden cMUT-Elementen darstellt, wobei das entworfene Muster eine erste Menge von graphischen Daten aufweist. – Verarbeiten der ersten Menge von graphischen Daten, um das Muster um einen vorbestimmten Winkel relativ zu einem festen, rechtwinkligen, zwei aufeinander senkrecht stehende Achsen aufweisenden Referenzrahmen zu drehen, wobei der vorbestimmte Winkel so gewählt wird, dass eine Symmetrieachse der hexagonalen Anordnung von sechseckigen cMUT-Elementen an einer Achse eines ersten festen, rechtwinkligen Referenzrahmens ausgerichtet ist. – Entwerfen eines ersten Ausrichtungsanzeigers, der eine an einer Achse des ersten festen, rechtwinkligen Referenzrahmens ausgerichtete Achse aufweist, wobei der entworfene Ausrichtungsanzeiger eine zweite Menge von graphischen Daten aufweist. – Übertragen des gedrehten Musters und des ersten Ausrichtungsanzeigers auf eine Maske und – Anordnen der Maske über einem eine hexagonale Anordnung von CMOS-Zellen, die an den Achsen eines zweiten festen, rechtwinkligen Referenzrahmens entsprechend ausgerichtete Symmetrieachsen aufweisen, und einen zweiten Ausrichtungsanzeiger, der eine an einer Achse des zweiten festen, recht winkligen Referenzrahmens ausgerichtete Achse aufweist, aufweisenden Substrat, wobei die Maske so angeordnet wird, dass der erste Ausrichtungsanzeiger an dem zweiten Ausrichtungsanzeiger ausgerichtet ist.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, wobei jedes der cMUT-Elemente sechseckig und jede der CMOS-Zellen rechteckig ist.
  3. Ausrichtungsverfahren, dass die folgenden Schritte aufweist: – Entwerfen eines Musters, das eine hexagonale Anordnung von Symmetrieachsen aufweisenden cMUT-Elementen darstellt, wobei das entworfene Muster eine erste Menge von graphischen Daten aufweist. – Entwerfen eines ersten Ausrichtungsanzeigers, der eine Achse aufweist, wobei der entworfene Ausrichtungsanzeiger eine zweite Menge von graphischen Daten aufweist. – Verarbeiten der ersten Menge von graphischen Daten, um den ersten Ausrichtungsanzeiger um einen vorbestimmten Winkel relativ zu den Symmetrieachsen zu drehen, wobei der vorbestimmte Winkel so gewählt wird, dass die Achse des ersten Ausrichtungsanzeigers an einer der Symmetrieachsen der hexagonalen Anordnung der hexagonalen cMUT-Elemente ausgerichtet ist. – Übertragen des Musters und des gedrehten ersten Ausrichtungsanzeigers auf eine Maske und – Anordnen der Maske über einem eine hexagonale Anordnung von CMOS-Zellen, die an den Achsen eines zweiten festen, rechtwinkligen Referenzrahmens entsprechend ausgerichtete orthogonale Symmetrieachsen aufweisen, und einen zweiten Ausrichtungsanzeiger, der eine an einer Achse des zweiten festen, rechtwinkligen Referenzrahmens ausgerichtete Achse aufweist, aufweisenden Substrat, wobei die Maske so angeordnet wird, dass der erste Ausrichtungsanzeiger an dem zweiten Ausrichtungsanzeiger ausgerichtet ist.
  4. Verfahren nach Anspruch 3, wobei jedes der cMUT-Elemente sechseckig und jede der CMOS-Zellen rechteckig ist.
  5. Integrierte Schaltung, die – ein eine hexagonale Anordnung von CMOS-Zellen aufweisendes Substrat und – eine hexagonale Anordnung von feinst bearbeiteten Elementen aufweist, wobei jedes feinst bearbeitete Element in einer Eins-zu-eins-Zuordnung über einer entsprechenden CMOS-Zelle liegt.
  6. Integrierte Schaltung nach Anspruch 5, bei der jedes der feinst bearbeiteten Elemente sechseckig und jede der CMOS-Zellen rechteckig ist.
  7. Integrierte Schaltung nach Anspruch 5, bei der jedes feinst bearbeitete Element wenigstens einen kapazitiven feinst bearbeiteten Ultraschalltransducer aufweist.
  8. Integrierte Schaltung nach Anspruch 5, bei der die CMOS-Zellen in Spalten angeordnet sind, wobei eine Symmetrieachse der hexagonalen Anordnung von feinst bearbeiteten Elementen parallel zur Spaltenrichtung ist.
  9. Integrierte Schaltung nach Anspruch 8, bei der jede zweite Spalte der CMOS-Zellen gegenüber den benachbarten Spalten um eine Strecke verschoben ist, die gleich der halben Zellenabmessung in der Spaltenrichtung ist, und die Breite jeder Zelle so gewählt worden ist, dass die CMOS-Zellen in einer Linie mit den entsprechenden feinst bearbeiteten Elementen angeordnet sind.
  10. Integrierte Schaltung, die – ein eine hexagonale Anordnung von CMOS-Zellen aufweisendes Substrat und – eine hexagonale Anordnung von cMUT-Elementen aufweist, wobei jedes cMUT-Element in einer Eins-zu-eins-Zuordnung über einer entsprechenden CMOS-Zelle liegt.
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