DE10162267A1 - Reflektor für Flugzeitmassenspektrometer mit orthogonalem Ioneneinschuss - Google Patents

Reflektor für Flugzeitmassenspektrometer mit orthogonalem Ioneneinschuss

Info

Publication number
DE10162267A1
DE10162267A1 DE10162267A DE10162267A DE10162267A1 DE 10162267 A1 DE10162267 A1 DE 10162267A1 DE 10162267 A DE10162267 A DE 10162267A DE 10162267 A DE10162267 A DE 10162267A DE 10162267 A1 DE10162267 A1 DE 10162267A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
reflector
pulser
ions
detector
angle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE10162267A
Other languages
English (en)
Other versions
DE10162267B4 (de
Inventor
Gerhard Weis
Oliver Raether
Carsten Stoermer
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Bruker Daltonics GmbH and Co KG
Original Assignee
Bruker Daltonik GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bruker Daltonik GmbH filed Critical Bruker Daltonik GmbH
Priority to DE10162267A priority Critical patent/DE10162267B4/de
Priority to US10/316,173 priority patent/US7223966B2/en
Priority to GB0229363A priority patent/GB2387962B/en
Publication of DE10162267A1 publication Critical patent/DE10162267A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE10162267B4 publication Critical patent/DE10162267B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers
    • H01J49/40Time-of-flight spectrometers
    • H01J49/401Time-of-flight spectrometers characterised by orthogonal acceleration, e.g. focusing or selecting the ions, pusher electrode

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft einen Reflektor für ein Flugzeitmassenspektrometer mit orthogonalem Einschuss der zu untersuchenden Ionen. DOLLAR A Die Erfindung besteht darin, den Reflektor und den Ionendetektor gegenüber dem Pulser zu kippen, um einen großen Abstand zwischen Pulser und Detektor bei möglichst hoher Ausnutzung der Ionen zu erzielen.

Description

  • Die Erfindung betrifft einen Reflektor für ein Flugzeitmassenspektrometer mit orthogonalem Einschuss und dazu senkrechter Ablenkung der zu untersuchenden Ionen.
  • Die Erfindung besteht darin, Reflektor und Ionendetektor je um eine Achse zu verdrehen, die senkrecht zur Einschuss- und zur Ablenkrichtung steht, um einen großen Abstand zwischen Pulser und Detektor bei möglichst hoher Ausnutzung der Ionen zu erzielen.
  • Stand der Technik
  • Für die massenspektrometrische Messung der Masse großer Moleküle, wie sie insbesondere in der Biochemie vorkommen, eignet sich wegen beschränkter Massenbereiche anderer Massenspektrometer kein anderes Spektrometer besser als ein Flugzeitmassenspektrometer.
  • Es haben sich zwei verschiedene Arten von Flugzeitmassenspektrometern entwickelt. Die erste Art umfasst Flugzeitmassenspektrometer für die Messung pulsförmig in einem Punkt erzeugter Ionen, beispielsweise durch matrix-unterstützte Laserdesorption, abgekürzt MALDI, einer für die Ionisierung großer Moleküle geeigneten Ionisierungsmethode. Flugzeitmassenspektrometer werden häufig durch TOF oder TOF-MS abgekürzt, von englisch "Time-Of- Flight Mass Spectrometer".
  • Die zweite Art umfasst Flugzeitmassenspektrometer für den kontinuierlichen Einschuss eines Ionenstrahls, von dem dann ein Abschnitt quer zur Einschussrichtung in einem "Pulser" ausgepulst und als linear ausgedehntes Ionenbündel durch das Massenspektrometer fliegen gelassen wird. Es wird also ein bandförmiger Ionenstrahl erzeugt. Diese zweite Art wird kurz als "Orthogonal-Flugzeitmassenspektrometer" (OTOF) bezeichnet; es wird hauptsächlich in Verbindung mit einer vakuumexternen Ionisierung durch Elektrosprühen (ESI) verwendet. Dabei wird durch eine sehr hohe Zahl an Pulsvorgängen pro Zeiteinheit (bis zu 50000 Pulsungen pro Sekunde) eine hohe Zahl an Spektren mit jeweils geringer Anzahl an Ionen erzeugt, um die Ionen des kontinuierlichen Ionenstrahls möglichst gut auszunutzen. Das Elektrosprühen ist ebenfalls für die Ionisierung großer Moleküle geeignet.
  • Der Pulser ist im Prinzip sehr einfach aufgebaut: der Pulserraum, in den der parallele Ionenstrahl in x-Richtung eingeschossen wird, befindet sich zwischen einer Drückblende (pusher oder repeller) und einer Ziehblende (puller). Die Drückblende hat für gewöhnlich keine Aperturen. Die Ziehblende hat entweder ein Gitter oder eine feine Schlitzöffnung, durch die die Ionen in y-Richtung ausgepulst werden. Drück- und Ziehblende tragen dabei nur einen kleinen Teil der gesamten Beschleunigungsspannung, zum Einen, da sich hohe Spannungen nicht mit genügender Geschwindigkeit schalten lassen, insbesondere aber auch, weil sich durch ein Feld einstellbarer Stärke eine Zeitfokussierung (Startortfokussierung nach Wiley und McLaren)) von Ionen einer Masse erreichen lässt, die sich beim Auspulsen im Querschnitt des feinen Ionenstrahls verschieden weit vom Detektor entfernt befinden. An die Zieblende schließt sich eine Kompensationsblende an, die die Durchgriffe des Hauptbeschleunigungsfeldes in der Pulserraum hinein unterdrückt. Zwischen Ziehblende und der feldfreien Driftstrecke des Massenspektrometers wird durch mindestens eine weitere Blende das Hauptbeschleunigungsfeld aufgebaut, das den Hauptteil der Beschleunigung der Ionen bis zur Driftstrecke hin bewirkt. An den Blenden für das Hauptbeschleunigungsfeld liegt das Potential statisch an. Die Driftstrecke ist gewöhnlich feldfrei.
  • Die Ionen werden im Pulser quer zu ihrer x-Richtung beschleunigt und verlassen den Pulser durch die Schlitze der Schlitzblenden. Die Beschleunigungsrichtung nennen wir die y- Richtung. Die Ionen haben nach ihrer Beschleunigung jedoch eine Richtung, die zwischen der y-Richtung und der x-Richtung liegt, da sie ihre ursprüngliche Geschwindigkeit in x-Richtung ungestört beibehalten. Der Winkel zur y-Richtung beträgt α = arcus tangens √(Ex/Ey), wenn Ex die kinetische Energie der Ionen im Primärstrahl in x-Richtung und Ey die Energie der Ionen nach Beschleunigung in y-Richtung ist.
  • In kommerziell hergestellten Geräten wurde der Innenraum des Pulsers von dem statischen elektrischen Feld der Hauptbeschleunigungsstrecke bisher stets durch Gitter getrennt. Die Ionen werden dabei durch das Gitter ausgepulst. Der Durchgriff des Hauptbeschleunigungsfeldes durch das Gitter während der Befüllungsphase ist relativ gering und kann beherrscht werden. In der Literatur sind aber auch Pulser mit schlitzförmigen Blenden beschrieben.
  • Die Ionen, die den Pulser verlassen haben, bilden jetzt ein breites Band, wobei sich Ionen einer Sorte und Masse jeweils in einer Front befinden, die die Breite des Strahles im Pulser hat. Leichte Ionen fliegen schneller, schwere langsamer, jedoch alle vorwiegend in gleicher Richtung, abgesehen von leichten Richtungsunterschieden, die von leicht unterschiedlichen kinetischen Energien Ex der Ionen beim Einschuss in den Pulser herrühren. Die feldfreie Flugstrecke muß ganz vom Beschleunigungspotential umgeben sein, um die Ionen in ihrem Flug nicht zu stören.
  • Die Ionen gleicher Masse, die sich in verschiedenen Orten des Strahlquerschnitts befinden und daher verschiedene Wegstrecken bis zum Detektor vor sich haben, können nach Wiley und McLaren in Bezug auf ihre verschiedenen Startorte zeitfokussiert werden, indem beim Einschalten der Auspulsspannung das Feld im Pulser gerade so gewählt wird, dass die am weitesten entfernten Ionen eine etwas höhere Beschleunigungsenergie mitbekommen, die sie befähigt, die vorausfliegenden Ionen in einem Startortfokuspunkt wieder einzuholen. Die Lage des Startortfokuspunkts ist durch die Auspulsfeldstärke im Pulser frei wählbar.
  • Zur Erzielung eines hohen Auflösungsvermögens wird das Massenspektrometer mit einem energiefokussierenden Reflektor ausgestattet, der den ausgepulsten Ionenstrahl in seiner ganzen Breite zum Ionendetektor hin reflektiert und dabei Ionen gleicher Masse, jedoch leicht verschiedener kinetischer Anfangsenergie in y-Richtung genau auf den breitflächigen Detektor zeitfokussiert.
  • Dabei wird nach bisheriger Technik der Reflektor stets so ausgerichtet, dass seine Eintrittsebene parallel zur x-Richtung verläuft, also parallel zur ursprünglichen Richtung des in den Pulser eingeschossenen feinen Ionenstrahls, wie in Abb. 1 dargestellt. Die Ionen gleicher Masse, die eine Front im neugebildeten Ionenstrahl bilden, treten dann genau zur gleichen Zeit in den Reflektor ein, kommen zur gleichen Zeit zum Halten, werden dann in gleicher Weise rückwärts beschleunigt und verlassen den Reflektor wieder zur gleichen Zeit. Im homogenen Reflektionsfeld bilden die Ionen Parabeln aus.
  • Die Ionen fliegen aus dem Reflektor auf einen Detektor zu, der ebenso breit sein muss wie der Ionenstrahl, um alle ankommenden Ionen messen zu können. Auch der Detektor muss parallel zur x-Richtung ausgerichtet sein, wie in Abb. 1 wiedergegeben, um die Front der fliegenden Ionen einer Masse auch zeitgleich zu detektieren.
  • In den Pulser wird normalerweise ein kontinuierlicher Ionenstrom in Form eines feinen Ionenstrahls in x-Richtung eingeschossen. Die Ionengeschwindigkeit in x-Richtung wird in der Folge trotz der dazu senkrechten Ablenkung nicht verändert. Nach der seitlichen Ablenkung in y-Richtung und der Reflektion im Reflektor erreichen die Ionen den Detektor also in der gleichen Zeit, die sie benötigt hätten, ohne die seitliche Ablenkung im Pulser durch einen Geradeausflug den Detektor zu erreichen (sie würden dann allerdings nicht auf den Detektor auftreffen, da sie parallel zu seiner Oberfläche fliegen). Die Füllung des Pulsers beginnt sofort, wenn die Ionen den Pulser verlassen haben. Sind die Ionen der schwersten Masse am Detektor angekommen, so ist nicht nur der Pulser wieder mit den schwersten Ionen gefüllt, sondern auch der Zwischenraum zwischen Pulser und Detektor. Es können aber nur diejenigen Ionen nachgewiesen werden, die sich zu diesem Zeitpunkt des nächsten Auspulsens im Pulser befinden. Die Ionen im Zwischenraum zwischen Pulser und Detektor sind für die Analyse verloren. Man sieht hieran, dass es für eine hohe Ausnutzung des Ionenstrahls notwendig ist, den Detektor möglichst nahe an den Pulser heranzurücken.
  • In genauerer Betrachtung gilt das nur für die schwersten Ionen, die mit der Einrichtung gemessen werden sollen. Nur die schwersten Ionen bestimmen den Takt des Pulsers, der geschaltet wird, wenn die schwersten Ionen den Pulser gerade gefüllt haben. Die leichten Ionen, die schneller fliegen, haben den Pulser dabei schon zum Teil verlassen. Ionen, die nur ein Zehntel der schwersten Ionen wiegen, fliegen um den Faktor √10 ≍ 3,16 schneller, es bleibt also nur höchstens ein Drittel von ihnen im Pulser zurück und nur dieses Drittel wird in y-Richtung ausgepulst.
  • Ein kurzer Abstand zwischen Pulser und Detektor bringt aber Probleme. Zum einen ist der Detektor ein höchst empfindliches Messgerät, das auf das Schalten des Pulsers durch kapazitives Übersprechen mit wilden Störsignalen reagiert. Man muss ihn mit guter Abschirmung versehen, und eine gute Abschirmung braucht Abstand. Andererseits möchte man für die Justage des Massenspektrometers den feinen Ionenstrom, der unter Abschalten des Pulsers in den Pulser eingeschossen wird, durch ihn hindurchfliegt, und am anderen Ende wieder austritt, sehr genau in einem zweiten Detektor messen können. Der zweite Detektor braucht Platz.
  • Diese Messung ist daher nicht möglich, wenn ein kurzer Abstand zwischen Pulser und Detektor gefordert wird.
  • Man kann Pulser und Detektor auch notfalls in verschiedene Ebenen bringen. Der Detektor lässt sich wegen seiner Bauart mit 50-Ω-Konus nicht näher an den Reflektor heranschieben, da er mit seinem Konus immer noch neben den Pulser zu liegen kommt; eine Stellung weiter vom Reflektor weg ist mit einer rückwärtigen Vergrößerung des Massenspektrometers verbunden, die ebenfalls nicht gerne in Kauf genommen wird.
  • Aufgabe der Erfindung
  • Es ist die Aufgabe der Erfindung, eine Anordnung von Reflektor und Detektor zum Pulser zu finden, die einen großen Abstand zwischen Pulser und Detektor erzeugt und trotzdem eine hohe Ausnutzung des primären Ionenstrahls bietet. Der große Abstand soll eine gute Abschirmung des Detektors ermöglichen und Platz für einen zweiten Detektor am Ende des Pulsers schaffen.
  • Kurze Beschreibung der Erfindung
  • Die Erfindung besteht darin, Reflektor und Detektor je um eine Achse zu verkippen, die senkrecht zur Einschussrichtung x des primären Ionenstrahls und zur Ablenkungsrichtung y des Auspulsens quer dazu steht. Diese Richtung wird hier mit z bezeichnet. Abb. 2 zeigt diese Anordnung. Wird der Reflektor (13) um einen Winkel β gekippt, so muss der Detektor (14) um den doppelten Winkel 2β gekippt werden. Der Detektor (14) wird außerdem so versetzt, dass er den im Reflektor (13) gespiegelten Ionenstrahl wieder aufnimmt. Dieses Versetzen entfernt ihn beträchtlich vom Pulser (12); das Übersprechen wird dadurch kleiner und die Entfernung schafft die Möglichkeit für eine gute Abschirmung des Detektors (14). Außerdem wird Platz geschaffen für einen zweiten Detektor (15) an der linearen Ausschussöffnung des Pulsers (12). Dieser Detektor (15) dient dazu, den Einschuss der Ionen in den Pulser (12) einzujustieren, insbesondere aber auch dazu, die Einstellung der Kompensationsspannung an einer Kompensationsblende, die den Durchgriff der Beschleunigungsfelder in den Pulser hinein kompensiert, zu optimieren.
  • Die Erfindung setzt die Erkenntnis voraus, dass die Energiefokuslängen des Reflektors für alle ausgepulsten Ionen auch bei verkipptem Reflektor gleich sind, unabhängig vom Ort der Auspulsung und unabhängig von der Geschwindigkeit der Ionen im Pulser in x-Richtung. Es ist ferner notwendig zu erkennen, dass die Energiefokuslänge des Reflektors beliebig in eine Teilfokuslänge vor dem Reflektor und eine Teilfokuslänge hinter dem Reflektor aufgeteilt werden kann; maßgebend ist nur gesamte Fokuslänge (anders als bei einer optischen Linse, bei der die Summe der objektseitigen und bildseitigen reziproken Fokuslängen gleich bleibt). Alle Ionen werden daher auch von einem winkelverdrehten Reflektor wieder in einer Fokusebene energiefokussiert, obwohl die verschiedenen Ionenstrahlen (16), (17) und (18) alle verschiedene Aufteilungen ihrer Fokuslängen in Teilstücke vor und nach dem Reflektor haben. Der Detektor muss nur genau in diese Fokusebene des Reflektors gebracht werden.
  • Ferner ist auch die Zeitfokussierung für solche Ionen, die sich im Querschnitt des feinen Ionenstrahls an verschiedenen Stellen befinden, und die daher verschiedene Abstände vom Reflektor haben, unabhängig von der Kippung des Reflektors.
  • Es sei hier angemerkt, dass diese Aufteilung in verschiedene Teilfokuslängen vor und nach dem Reflektor nicht von bisherigen Flugzeitspektrometern mit punktförmigen Ionenquellen (zum Beispiel MALDI-Ionenquellen) abgeleitet werden kann. Für diese Flugzeitmassenspektrometer mit punktförmigen Ionenquellen ist eine Verkippung des Reflektors lange bekannt. Die Ionen starten aber, anders als bei dieser Erfindung, nicht von einer ausgedehnten Linie, sondern nur von einem Punkt aus. Es handelt sich also nur um die Betrachtung eines von einem Punkt ausgehenden, leicht divergenten Ionenstrahles, wie er beispielsweise in Abb. 2 nur durch das Ionenstrahlpaar (16) gegeben ist. Alle bisher auf den Markt gebrachten Massenspektrometer mit orthogonalem Einschuss haben die parallele Anordnung von Pulser, Reflektor und Detektor, wie sie in Abb. 1 zu sehen ist.
  • Die Erfindung lässt sich mathematisch untermauern, wichtiger jedoch ist die praktische Anwendbarkeit. Diese ist experimentell gezeigt, wie aus den Abb. 3 bis 5 hervorgeht. Die Anordnung zeigt eine hohe Massenauflösung von etwa R = m/Δm = 10000 in einem relativ kleinen Tischgerät mit nur 55 Zentimeter Länge zwischen Pulser und Reflektorrückseite. Das ist eine etwa doppelt so hohe Auflösung, wie sie in größeren Flugzeitmassenspektrometern dieser Art zur Zeit auf dem Markt angeboten wird. Die Auflösung ist zwar auch auf andere Neuerungen zurückzuführen, wird aber durch die Kippung von Reflektor und Detektor nicht zerstört.
  • Normalerweise wählt man einen recht kleinen Kippwinkel β von nur etwa zwei bis drei Grad. Man kann aber den ganzen Winkelraum von einem Grad bis über 45 Grad hinaus verwenden. Mit einem Drehwinkel von genau 45 Grad und einem zweiten Rflektor, der wiederum unter 45 Grad angeordnet ist, lässt sich ein sehr kompaktes Massenspektrometer mit zwei Reflektionen aufbauen, wie es Abb. 6 zeigt.
  • Beschreibung der Abbildungen
  • Abb. 1 zeigt ein Prinzipschema eines Flugzeitmassenspektrometers mit orthogonalem Ioneneinschuss nach bisheriger Technik. Durch eine Öffnung (1) einer Vakuumkammer (2) tritt ein Bündel von Ionen verschiedener Anfangsenergien und Anfangsrichtungen in ein Ionenleitsystem (4) ein, das sich in einer gasdichten Hülle befindet. Gleichzeitig tritt auch Dämpfungsgas mit in das Ionenleitsystem ein. Im Gas werden die eintretenden Ionen durch Stöße abgebremst. Da im Ionenleitsystem ein Pseudopotential für die Ionen herrscht, das in der Achse (5) am geringsten ist, sammeln sich die Ionen in der Achse (5). Die Ionen breiten sich in der Achse (5) bis zum Ende des Ionenleitsystems (4) aus. Das Gas aus dem Ionenleitsystem wird durch die Vakuumpumpe (6) an der Vakuumkammer (2) abgepumpt.
  • Am Ende des Ionenleitsystems (4) befindet sich das Ziehlinsensystem (7), dessen zweite Lochblende in die Wand (8) zwischen Vakuumkammer (2) für das Ionenleitsystem (4) und Vakuumkammer (9) für das Flugzeitmassenspektrometer integriert ist. Das Ziehlinsensystem (7) besteht hier aus fünf Lochblenden; es zieht die Ionen aus dem Ionenleitsystem (4) heraus und formt einen feinen Ionenstrahl mit geringem Phasenvolumen, der in den Pulser (12) fokussiert wird. Der Ionenstrahl wird in x-Richtung in den Pulser eingeschossen. Ist der Pulser mit durchfliegenden Ionen der bevorzugt untersuchten Masse gerade gefüllt, so treibt ein kurzer Spannungspuls ein breites Paket an Ionen quer zur bisherigen Flugrichtung in y- Richtung aus und bildet einen breiten Ionenstrahl, der in einem Reflektor (13) reflektiert und von einem Ionendetektor (14) zeitlich hochaufgelöst gemessen wird. Im Ionendetektor (14) wird das Ionensignal, das in einem Sekundärelektronenverstärker in Form einer doppelten Vielkanalplatte verstärkt wird, kapazitiv auf einen 50-Ω-Konus übertragen, Das so bereits verstärkte Signal wird über ein 50-Ω-Kabel an einen Verstärker weitergegeben. Der 50-Ω- Konus dient dazu, das Kabel eingangsseitig abzuschließen, so dass hier keine Signalreflektionen stattfinden können.
  • Reflektor (13) und Detektor (14) sind nach bisherigem Stand der Technik exakt parallel zur x- Richtung der in den Pulser eingeschossenen Ionen ausgerichtet. Der Abstand zwischen Detektor (14) und Pulser (12) bestimmt den maximalen Ausnutzungsgrad für Ionen aus dem feinen Ionenstrahl.
  • Abb. 2 zeigt dagegen eine Anordnung eines Flugzeitmassenspektrometers nach dieser Erfindung. Der Reflektor (13) ist jetzt in einem Winkel β um die z-Achse gedreht; der Detektor (14) ist um den Winkel 2β gedreht und gegenüber dem Stand der Technik so versetzt, dass er den im Reflektor (13) gespiegelten Ionenstrahl aufnehmen kann. Es sind in dieser Abbildung drei ausgepulste Strahlenpaare (16, 17, 18) gezeigt, deren Ionen an verschiedenen Orten ausgepulst wurden, aber paarweise mit leicht verschiedener Geschwindigkeit in den Pulser (12) eingeschossen wurden und daher leicht verschiedene Ablenkungswinkel α erhalten (Winkel zwischen Flugrichtung und y-Richtung). Alle diese Ionen werden - bei richtiger Fokuslängeneinstellung des Reflektors - genau am Ort des Detektors wieder Zeit- und energiefokussiert. Diese Anordnung zieht Pulser und Detektor räumlich auseinander, ohne das Massenauflösungsvermögen zu stören. Es kann nunmehr ein zweiter Detektor (15) am Ende des Pulsers angebracht werden, um den eingeschossenen Strahl und das Durchgriffsverhalten der Blenden genau einjustieren zu können. Es kann insbesondere der Ausnuntzungsgrad der eingeschossenen Ionen (englisch: duty cycle) erhöht werden.
  • Abb. 3 gibt ein Spektrum wieder, das mit einem Orthogonalflugzeitmassenspektrometer mit einem Betrieb nach dieser Erfindung aufgenommen wurde. Das als Tischgerät ausgeführte Spektrometer hat nur eine Flugbahnlänge vom Pulser bis zum rückwärtigen Ende des Reflektors von 55 Zentimetern.
  • Abb. 4 und 5 geben Ausschnitte aus diesem Spektrum wieder, die zwei Massensignale geringer Intensität im mittleren bis höheren Massenbereich zeigen. Die Massenauflösungen betragen hier etwa R = m/Δm = 10000, wobei m die Masse und Δm die Breite der Massensignale in halber Maximalhöhe sind. Die zeitliche Breite der Massensignale beträgt hier weniger als drei Nanosekunden.
  • In Abb. 6 ist ein Flugzeitmassenspektrometer mit zweimaliger Ablenkung in zwei unter 45 Grad geneigten Reflektoren (13) und (19) gezeigt. Die Front der Ionen jeweils gleicher Masse verläuft zwischen Pulser (12) und erstem Reflektor (13) genau parallel zum Pulser. Zwischen erstem Reflektor (13) und zweitem Reflektor (19) verläuft die Front der Ionen jeweils gleicher Masse rechtwinklig zum Pulser (12), in der Abbildung also senkrecht. Zwischen zweitem Reflektor (19) und Detektor (14) verläuft die Front wieder parallel zum Pulser (12); daher muss der Detektor (14) hier parallel zum Pulser (12) ausgerichtet sein.
  • Bevorzugte Ausführungsformen
  • Eine bevorzugte Ausführungsform des Flugzeitmassenspektrometers ist in Abb. 2 dargestellt. Es ist zu erkennen, dass Reflektor (13) und Detektor (14) gegenüber dem in Abb. 1 dargestellten Stand der Technik gedreht worden sind, und dass sich der Detektor (14) jetzt weiter vom Pulser (12) entfernt befindet. Es ist jetzt Platz vorhanden, den Detektor (14) gut von äußeren Einflüssen abzuschirmen (die Abschirmung ist hier aus Gründen der Übersichtlichkeit nicht gezeigt). Außerdem ist Platz vorhanden, einen weiteren Detektor (15) am linearen Ausgang des Pulsers zu installieren. Trotz des Platzgewinns kann der Ausnutzungsgrad des primären Ionenstrahls (5) verbessert werden. Sowohl Reflektor (13) wie auch Detektor (14) können winkeljustierbar montiert werden, um eine Feineinstellung anhand der Massenauflösung vornehmen zu können.
  • Ein feiner primärer Ionenstrahl (5), der die x-Richtung definiert, wird niederenergetisch in den Pulser eingeschossen. Der feine Ionenstrahl kann beispielsweise aus einer Elektrosprüh-Ionenquelle stammen. Der Pulser besteht aus hier aus mehreren Elektroden, die teils das Auspulsen bewerkstelligen, teils eine Kompensation des Durchgriffs beim Befüllen des Pulsers bewirken, und teils die weitere Beschleunigung der Ionen auf den Reflektor übernehmen. Der Ionenstrahl (5) besteht aus Ionen niedriger kinetischer Energie von etwa 20 Elektronenvolt, die durch eine Öffnung im Pulser (12) hindurch in den Zwischenraum zwischen einer Drückblende und einer Ziehblende eingeschossen werden; die Ionen fliegen somit relativ langsam, wobei die Geschwindigkeit massenabhängig ist. (Genauer ausgedrückt ist die Geschwindigkeit abhängig vom Verhältnis der Masse zur Ladung m/z, jedoch wird hier aus Gründen der Einfachheit immer nur von der Masse m gesprochen). Während des Füllens des Pulsers mit Ionen befinden sich die beiden ersten Elektroden auf dem Potential des eingeschossenen Ionenstrahls, sie halten im Pulserraum im Prinzip einen feldfreien Betrieb aufrecht, der allerdings gegen einen Durchgriff des Hauptbeschleunigungsfeldes geschützt werden muss.
  • Die kinetische Energie von etwa 20 Elektronenvolt pro Ionenladung der Ionen bestimmt, zusammen mit der Beschleunigungsenergie des Auspulsens, den Ablenkwinkel α. Eine Änderung der kinetischen Energie kann durch eine Winkeländerung von Reflektor und Detektor wieder ausgeglichen werden; es ist also eine Anpassung an eine optimale Einschussenergie möglich.
  • Der Winkel β kann insbesondere so gewählt werden, dass die schwersten Ionen den Detektor erreicht haben, wenn der Pulser gerade wieder gefüllt ist. Es findet genau dann der nächste Auspulsvorgang statt. Es gehen damit keine der schweren Ionen verloren.
  • Für die leichten Ionen ist die Verdünnung durch ihre höhere Geschwindigkeit physikalisch vorgegeben, es sind also Verluste an leichten Ionen in Kauf zu nehmen. Sie können nur verringert werden, wenn das eingeschossene Ionenbündel nur Ionen gleicher Geschwindigkeit (trotz verschiedener Massen) enthält. Ein solcher Einschuss kann beipielsweise durch Anordnungen mit Wanderfeldern erzeugt werden, wobei allerdings damit zu rechnen ist, dass Strahlqualität und damit Massenauflösung leiden.
  • Die Feldstärke im Pulser wird durch die Startortfokussierungsbedingungen nach Wiley und McLaren bestimmt, die hier einzustellende Fokuslänge bis zum Startortfokus richtet sich nach der Geometrie des Flugzeitspektrometers. Von der Feldstärke im Pulserraum hängen dann wiederum alle anderen Feldstärken des Pulsers und damit die Potentiale an den Blenden ab.
  • Die Ionen, die den Pulser verlassen haben, bilden jetzt ein breites Band, wobei sich Ionen einer Sorte jeweils in einer Front befinden. Leichte Ionen fliegen schneller, schwere langsamer, jedoch alle in gleicher Richtung. Die feldfreie Flugstrecke muß ganz vom Beschleunigungspotential umgeben sein, um die Ionen in ihrem Flug nicht zu stören.
  • In der erfindungsgemäßen Ausführung des Flugzeitmassenspektrometers treffen jetzt die Ionen gleicher Masse, die in einer Front fliegen, nicht gleichzeitig am Eingang des Reflektors ein. Sie treffen startortabhängig nacheineinder ein, dringen nacheinander in den Reflektor ein, erreichen nacheinander den Wendepunkt des Reflektors, werden nacheinander zurückbeschleunigt, treten nacheinander wieder aus dem Reflektor aus und treffen doch gleichzeitig als Front auf den Detektor auf. Das liegt daran, dass für einen energiefokussierenden Ionenreflektor die gesamte Energiefokuslänge vom Startort bis zum Energiefokus immer gleich ist, unabhängig von der Aufteilung des Strahles in ein Teilstück vor dem Reflektor und ein Teilstück nach dem Reflektor. Es muss nur das Teilstück vor dem Reflektor und das Teilstück nach dem Reflektor in seiner Addition gleich groß und die Flugstrecke im Reflektor für alle Ionen gleich lang sein.
  • Die Energiefokussierung wird dadurch bewirkt, dass Ionen größerer Anfangsenergie etwas weiter in den Reflektor eindringen als energieärmere, daher einen weiteren Weg zurücklegen müssen, der ihre höhere Geschwindigkeit gerade so kompensiert, dass sie gleichzeitig am Detektor ankommen. Die Güte der Kompensation ist unabhängig davon, wann und wo sie in der Flugstrecke eintritt.
  • Als Reflektor können sowohl gitterlose Reflektoren mit Schlitzen, wie auch gitterbewehrte Reflektoren verwendet werden. Es gibt einstufige Reflektoren, die nur ein homogenes Reflektionsfeld besitzen, und zweistufige, die ein starkes Bremsfeld vorgeschaltet haben. Bei Benutzung gitterbewehrter Reflektoren ist es günstig, einstufige Reflektoren zu verwenden, da dann nur zwei Gitterdurchtritte des Ionenstrahls notwendig werden. Bei gitterlosen Reflektoren ist eine zweistufige Form günstiger, da diese eine Winkelfokussierung in z-Richtung ergibt, während eine einstufige Ausführung stets in z-Richtung defokussiert. Gitterfreie Formen verlangen aber aufwendige Justierarbeiten. Die Energiefokuslänge der Reflektoren lässt sich für zweistufige Reflektoren durch die angelegten Spannungen einstellen, für einstufige Reflektoren ist sie durch die Bauweise (vor allem durch die Länge des homogenen Feldes) vorgegeben.
  • Als Detektoren werden für gewöhnlich Sekundärelektronenvervielfacher in Form doppelter Mikrokanalplatten verwendet. Der Fachmann auf diesem Gebiet versteht es, aus den angebotenen Typen so auszuwählen, dass eine möglichst geringe zeitliche Verschmierung des Massensignals auftritt. Die Ionen werden am Eingang der Vielkanalplatte durch Sekundärelektronen ersetzt, die sich in bekannter Weise in den Kanälen durch Wandstöße und dabei erfolgende Bildung weiterer Sekundärelektronen lawinenartig vervielfachen. Der austretende, gegenüber dem Ionenstrahl stark verstärkte Elektronenstrom wird kapazitiv auf einen 50-Ω-Konus übergekoppelt und möglichst störungsfrei weitergeleitet. Die Ionensignale sind nur etwa zwei bis drei Nanosekunden lang und dürfen durch den Detektor nicht zeitlich verschmiert werden, wenn das Massenauflösungsvermögen erhalten werden soll. Die dazu notwendige Technik ist dem Fachmann bekannt.
  • Durch die eingangs beschriebene Technik der Ortsfokussierung nach Wiley und McLaren kann auch die Ortsverteilung der Ionen quer zum eingeschossenen Ionenstrahl hinweg so fokussiert werden, dass Ionen gleicher Masse auch trotz der Wegunterschiede zur gleichen Zeit am Detektor ankommen.
  • Die Fokuslänge dieser Ortsfokussierung bis zum Startortfokus kann weitgehend frei gewählt werden. Es ist jedoch günstig, diesen Startortfokus zwischen Pulserausgang und Reflektoreingang zu legen, und diesen Startortfokus durch den energiefokussierenden Reflektor in Bezug auf die Energie der Teilchen auf den Detektor zu fokussieren. Wird beipielsweise ein einstufiger Reflektor verwendet, dessen Länge seine Energiefokuslänge bestimmt, so kann ein solcher Reflektor dadurch relativ kurz gewählt werden, dass dieser Startortfokus nahe an den Reflektor herangerückt wird. Durch eine weite Strecke bis zum Startortfokus wird auch die Feldstärke im Pulserraum verringert. Damit werden die zu schaltenden Potentiale niedriger, günstig für die Elektronik.
  • Haben die schwersten Ionen des interessierenden Massenbereichs den Pulser verlassen, so werden die Pulserelektroden wieder auf die Spannungen der Befüllungsphase zurückgeschaltet, die Füllung des Pulsers aus dem kontinuierlich fortschreitenden Primärstrahl beginnt von Neuem.
  • Durch den Drehwinkel β des Reflektors kann man jetzt den Ausnutzungsgrad der Ionen des primären Ionenstrahls optimieren. Dieser Winkel wird so eingestellt, dass der Pulser gerade dann wieder gefüllt ist, wenn die schwersten Ionen des untersuchten Massenbereichs gerade am Detektor angekommen und gemessen sind. Der nächste Ionenabschnitt des Primärionenstrahls kann dann ausgepulst werden. Es entsteht kein Verlust an den schweren Ionen.
  • Der Drehwinkel wird normalerweise nicht sehr groß gewählt. Es haben sich im Laufe unserer Entwicklungen Winkel im Bereich von zwei bis fünf Grad bewährt. Es können durchaus aber auch größere Winkel verwendet werden, wie sie beipielsweise in Abb. 6 für ein raumsparendes Massenspektrometer mit zwei Reflektoren gezeigt ist. Es steht durchaus der ganze Winkelbereich von etwa einem Grad bis zu 45 Grad zur Verfügung, wenn auch der Reflektor für 45 Grad Kippung sehr breit gebaut werden muss. Man kann auch zwei Reflektoren mit kleineren Kippwinkeln verwenden, wobei der Detektor wieder näher an den Pulser herangerückt wird, als es in Abb. 6 zu sehen ist. Bei noch kleineren Kippwinkeln werden sich die Ionenstrahlen im Massenspektrometer kreuzen und der Detektor befindet sich auf der anderen Seite des Pulsers. Bei zweimal 22,5 Grad Kippwinkel kreuzen sich die Ionenstrahlen rechtwinklig und die Detektorfläche steht exakt senkrecht zum Pulser. Es sind sehr viele verschiedene Konstellationen konstruierbar.
  • Je nach Flugdauer der schwersten Ionen kann dieser Vorgang der Spektrenaufnahme zwischen 10 000 und 50 000 mal pro Sekunde wiederholt werden. Die Spektren werden über eine vorgegebene Aufnahmezeit hinweg, beispielsweise eine Sekunde, aufaddiert. Bei einer so hohen Anzahl an Wiederholungen kann man eine Ionensorte auch dann messen, wenn sie nur in jeder 100sten oder 1000sten Füllung des Pulsers einmal auftritt. Natürlich kann man die rasche Spektrenfolge auch dazu benutzen, mit einer kürzeren Aufnahmezeit Ionen aus rasch veränderlichen Prozessen zu messen, oder aus scharf substanzseparierenden Verfahren, beispielsweise aus Kapillarelektrophorese oder Mikrosäulen-Flüssigkeitschromatographie.
  • Stehen nicht die schwersten Ionen im Mittelpunkt des Interesses, sondern Ionen, die etwas leichter sind, so kann man die Optmierung auch auf diese Ionen beziehen. Der Winkel β wird dann so eingestellt, dass der Pulser gerade mit diesen Ionen gefüllt ist, wenn die schwersten Ionen am Detektor angekommen sind und die Spektrenaufnahme abgeschlossen ist. Die schwersten Ionen füllen dann den Pulser nicht vollständig, wenn sie ausgepulst werden.
  • Mit den in dieser Erfindung angegebenen Grundzügen sollte es jedem Fachmann auf diesem Gebiet möglich sein, Flugzeitmassenspektrometer höchster Massenauflösung und höchster Ionenausnutzung zu entwickeln und dabei trotzdem einen nützlichen Abstand zwischen Pulser und Detektor zu erhalten. Da die Größe der Spektrometer und die Details der verwendeten Spannungen ausschließlich von der analytischen Aufgabe und anderen Randbedingungen abhängt, sind hier keine präzisen Maße für solche Spektrometer angegeben, also für Fluglängen und andere geometrische und elektrische Größen. Die hier zugrundeliegenden Auswahlprinzipien und die Methoden der mathematischen Behandlung sind aber dem Fachmann bekannt.

Claims (6)

1. Flugzeitmassenspektrometer mit orthogonalem Ioneneinschuss, wobei ein feiner Ionenstrahl in x-Richtung in einen Pulser eingeschossen und dort mit einer Beschleunigung in der dazu senkrechten y-Richtung in Richtung auf einen Reflektor ausgepulst und im Reflektor auf einen Detektor reflektiert wird, dadurch gekennzeichnet, dass der Reflektor nicht parallel zum Pulser ausgerichtet, sondern um einen bestimmten Winkel β um eine zur x- und y-Richtung senkrechte z-Richtung gedreht ist, und dass der Detektor um den doppelten Winkel 2β gedreht und in den reflektierten Strahl hinein verschoben ist.
2. Flugzeitmassenspektrometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Winkel β zwischen 1 Grad und 45 Grad gewählt wird.
3. Flugzeitmassenspektrometer nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Winkel β zwischen 2 Grad und 5 Grad gewählt wird.
4. Flugzeitmassenspektrometer nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Winkel β des Reflektors justierbar ist.
5. Flugzeitmassenspektrometer nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass der Winkel 2β des Detektors justierbar ist.
6. Flugzeitmassenspektrometer nach einem der bisherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass mehr als ein Reflektor verwendet wird.
DE10162267A 2001-12-18 2001-12-18 Reflektor für Flugzeitmassenspektrometer mit orthogonalem Ioneneinschuss Expired - Lifetime DE10162267B4 (de)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10162267A DE10162267B4 (de) 2001-12-18 2001-12-18 Reflektor für Flugzeitmassenspektrometer mit orthogonalem Ioneneinschuss
US10/316,173 US7223966B2 (en) 2001-12-18 2002-12-10 Time-of-flight mass spectrometers with orthogonal ion injection
GB0229363A GB2387962B (en) 2001-12-18 2002-12-17 Reflector for time-of-flight mass spectrometers with orthogonal ion injection

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10162267A DE10162267B4 (de) 2001-12-18 2001-12-18 Reflektor für Flugzeitmassenspektrometer mit orthogonalem Ioneneinschuss

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE10162267A1 true DE10162267A1 (de) 2003-07-10
DE10162267B4 DE10162267B4 (de) 2007-05-31

Family

ID=7709716

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10162267A Expired - Lifetime DE10162267B4 (de) 2001-12-18 2001-12-18 Reflektor für Flugzeitmassenspektrometer mit orthogonalem Ioneneinschuss

Country Status (3)

Country Link
US (1) US7223966B2 (de)
DE (1) DE10162267B4 (de)
GB (1) GB2387962B (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006029999A2 (de) * 2004-09-17 2006-03-23 Gesellschaft Zur Förderung Angewandter Optik, Optoelektronik, Quantenelektronik Und Spektroskopie E. V. Flugzeit-massenspektrometer
WO2012156738A1 (en) * 2011-05-16 2012-11-22 Micromass Uk Limited Segmented planar calibration for correction of errors in time of flight mass spectrometers

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7709789B2 (en) * 2008-05-29 2010-05-04 Virgin Instruments Corporation TOF mass spectrometry with correction for trajectory error
US7932491B2 (en) * 2009-02-04 2011-04-26 Virgin Instruments Corporation Quantitative measurement of isotope ratios by time-of-flight mass spectrometry
US20100301202A1 (en) * 2009-05-29 2010-12-02 Virgin Instruments Corporation Tandem TOF Mass Spectrometer With High Resolution Precursor Selection And Multiplexed MS-MS
US20110049350A1 (en) * 2009-08-27 2011-03-03 Virgin Instruments Corporation Tandem TOF Mass Spectrometer With Pulsed Accelerator To Reduce Velocity Spread
US8674292B2 (en) 2010-12-14 2014-03-18 Virgin Instruments Corporation Reflector time-of-flight mass spectrometry with simultaneous space and velocity focusing
US8847155B2 (en) 2009-08-27 2014-09-30 Virgin Instruments Corporation Tandem time-of-flight mass spectrometry with simultaneous space and velocity focusing
US8461521B2 (en) 2010-12-14 2013-06-11 Virgin Instruments Corporation Linear time-of-flight mass spectrometry with simultaneous space and velocity focusing
US8399828B2 (en) * 2009-12-31 2013-03-19 Virgin Instruments Corporation Merged ion beam tandem TOF-TOF mass spectrometer
GB2478300A (en) * 2010-03-02 2011-09-07 Anatoly Verenchikov A planar multi-reflection time-of-flight mass spectrometer
DE102011017084B4 (de) * 2010-04-14 2020-07-09 Wisconsin Alumni Research Foundation Massenspektrometriedaten-Erfassungsmodus zur Erzielung einer zuverlässigeren Proteinquantifizierung
DE102012102875B4 (de) 2011-04-04 2024-04-18 Wisconsin Alumni Research Foundation Vorläuferauswahl mit einem Artificial-Intelligence-Algorithmus erhöht Abdeckung und Reproduzierbarkeit von proteomischen Proben
US8735810B1 (en) 2013-03-15 2014-05-27 Virgin Instruments Corporation Time-of-flight mass spectrometer with ion source and ion detector electrically connected
WO2015026727A1 (en) 2013-08-19 2015-02-26 Virgin Instruments Corporation Ion optical system for maldi-tof mass spectrometer
US9627190B2 (en) * 2015-03-27 2017-04-18 Agilent Technologies, Inc. Energy resolved time-of-flight mass spectrometry
GB2543036A (en) * 2015-10-01 2017-04-12 Shimadzu Corp Time of flight mass spectrometer

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5160840A (en) * 1991-10-25 1992-11-03 Vestal Marvin L Time-of-flight analyzer and method
US5689111A (en) * 1995-08-10 1997-11-18 Analytica Of Branford, Inc. Ion storage time-of-flight mass spectrometer
DE4442348C2 (de) * 1994-11-29 1998-08-27 Bruker Franzen Analytik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur verbesserten Massenauflösung eines Flugzeit-Massenspektrometers mit Ionenreflektor
US5654544A (en) * 1995-08-10 1997-08-05 Analytica Of Branford Mass resolution by angular alignment of the ion detector conversion surface in time-of-flight mass spectrometers with electrostatic steering deflectors
US5847385A (en) * 1996-08-09 1998-12-08 Analytica Of Branford, Inc. Mass resolution by angular alignment of the ion detector conversion surface in time-of-flight mass spectrometers with electrostatic steering deflectors
US6469295B1 (en) * 1997-05-30 2002-10-22 Bruker Daltonics Inc. Multiple reflection time-of-flight mass spectrometer
AU8274798A (en) * 1997-07-02 1999-01-25 Merck & Co., Inc. Novel mass spectrometer
US6040575A (en) * 1998-01-23 2000-03-21 Analytica Of Branford, Inc. Mass spectrometry from surfaces
US6013913A (en) * 1998-02-06 2000-01-11 The University Of Northern Iowa Multi-pass reflectron time-of-flight mass spectrometer
JP2000223065A (ja) 1999-01-28 2000-08-11 Hitachi Ltd 質量分析計
US6518569B1 (en) * 1999-06-11 2003-02-11 Science & Technology Corporation @ Unm Ion mirror
US6534764B1 (en) * 1999-06-11 2003-03-18 Perseptive Biosystems Tandem time-of-flight mass spectrometer with damping in collision cell and method for use
JP2001028253A (ja) * 1999-07-14 2001-01-30 Jeol Ltd 垂直加速型飛行時間型質量分析装置
JP2001210267A (ja) 2000-01-26 2001-08-03 Natl Inst Of Advanced Industrial Science & Technology Meti 粒子検出器及びこれを用いた質量分析器
DE10005698B4 (de) * 2000-02-09 2007-03-01 Bruker Daltonik Gmbh Gitterloses Reflektor-Flugzeitmassenspektrometer für orthogonalen Ioneneinschuss

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006029999A2 (de) * 2004-09-17 2006-03-23 Gesellschaft Zur Förderung Angewandter Optik, Optoelektronik, Quantenelektronik Und Spektroskopie E. V. Flugzeit-massenspektrometer
WO2006029999A3 (de) * 2004-09-17 2007-08-02 Ges Zur Foerderung Angewandter Optik Optoelektronik Quantenelektronik & Spektroskopie Ev Flugzeit-massenspektrometer
WO2012156738A1 (en) * 2011-05-16 2012-11-22 Micromass Uk Limited Segmented planar calibration for correction of errors in time of flight mass spectrometers
US8872104B2 (en) 2011-05-16 2014-10-28 Micromass Uk Limited Segmented planar calibration for correction of errors in time of flight mass spectrometers
US9082598B2 (en) 2011-05-16 2015-07-14 Micromass Uk Limited Segmented planar calibration for correction of errors in time of flight mass spectrometers
US9455129B2 (en) 2011-05-16 2016-09-27 Micromass Uk Limited Segmented planar calibration for correction of errors in time of flight mass spectrometers

Also Published As

Publication number Publication date
US20030136903A1 (en) 2003-07-24
DE10162267B4 (de) 2007-05-31
GB2387962B (en) 2005-04-06
GB2387962A (en) 2003-10-29
GB0229363D0 (en) 2003-01-22
US7223966B2 (en) 2007-05-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE10005698B4 (de) Gitterloses Reflektor-Flugzeitmassenspektrometer für orthogonalen Ioneneinschuss
DE10158924B4 (de) Pulser für Flugzeitmassenspektrometer mit orthogonalem Ioneneinschuss
DE10248814B4 (de) Höchstauflösendes Flugzeitmassenspektrometer kleiner Bauart
DE60128419T2 (de) Flugzeitmassenspektrometer mit auswählbarer Driftlänge
EP0403965B1 (de) MS-MS-Flugzeit-Massenspektrometer
DE112007000922B4 (de) Massenspektrometrieverfahren und Massenspektrometer zum Durchführen des Verfahrens
DE19511333C1 (de) Verfahren und Vorrichtung für orthogonalen Einschuß von Ionen in ein Flugzeit-Massenspektrometer
DE19638577C1 (de) Simultane Fokussierung aller Massen in Flugzeitmassenspektrometern
DE102019129108A1 (de) Multireflexions-Massenspektrometer
DE69230174T2 (de) Flugzeitmassenspektrometer mit einer oeffnung zum ausgleich von uebertragungsvermoegen und aufloesung
DE112007000931B4 (de) Ionenenergiestreuungsreduzierung für ein Massenspektrometer
DE69733477T2 (de) Winkelpositionierung der detektoroberfläche in einem flugzeit-massenspektrometer
DE10162267B4 (de) Reflektor für Flugzeitmassenspektrometer mit orthogonalem Ioneneinschuss
DE60319029T2 (de) Massenspektrometer
DE10247895B4 (de) Hoher Nutzgrad für hochauflösende Flugzeitmassenspektrometer mit orthogonalem Ioneneinschuss
DE102013011462B4 (de) Flugzeitmassenspektrometer mit Cassini-Reflektor
DE112007002456T5 (de) Mehrkanal-Detektion
DE19635643C2 (de) Verfahren zur Spektrenaufnahme und lineares Flugzeitmassenspektrometer dafür
DE19520319A1 (de) Verfahren und Vorrichtung für die Einführung von Ionen in Quadrupol-Ionenfallen
DE10324839B4 (de) Massenspektrometer
DE102007049640B3 (de) Messung von Tochterionenspektren aus einer MALDI-Ionisierung
DE60129751T2 (de) Massenspektrometer und massenspektrometrisches Verfahren
DE10109917B4 (de) Hoher Durchsatz an Laserdesorptionsmassenspektren in Flugzeitmassenspektrometern
WO2004068531A1 (de) Time-of-flight massenspektrometer
DE19636797C2 (de) Geometrie eines höchstauflösenden linearen Flugzeitmassenspektrometers

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8364 No opposition during term of opposition
R081 Change of applicant/patentee

Owner name: BRUKER DALTONICS GMBH & CO. KG, DE

Free format text: FORMER OWNER: BRUKER DALTONIK GMBH, 28359 BREMEN, DE

R071 Expiry of right