DE10060917A1 - Abschirmung gegen elektromagnetische Strahlung - Google Patents
Abschirmung gegen elektromagnetische StrahlungInfo
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Abstract
Abschirmanordnung zum Abschirmen eines Innenraums eines elektrischen oder elektronischen Gerätes gegen elektromagnetische Strahlung, bei der in einer Dichtfuge zwischen zwei sich gegenüberliegenden elektrisch leitfähigen Kontaktflächen eine elektrisch leitfähige Dichtung angeordnet ist. Eine der Kontaktflächen hat einen mit einer haftvermittelnden und korrosionsbeständigen Zwischenschicht versehenen Bereich und einen unbeschichteten Bereich. In dem unbeschichteten Bereich liegt die elektrisch leitfähige Dichtung unmittelbar an der Kontaktfläche an. Zweckmäßigerweise deckt die Dichtung sowohl den mit der Zwischenschicht versehenen Bereich wie auch den unbeschichteten Bereich vollständig ab.
Description
Die Erfindung betrifft eine Abschirmanordnung zum Abschirmen eines
Innenraums eines elektrischen oder elektronischen Gerätes gegen elektromagneti
sche Strahlung. Insbesondere betrifft die Erfindung eine Abschirmanordnung zum
Abschirmen eines elektrische und/oder elektronische Bauteile enthaltenden Innen
raums wie z. B. einzelner Bereiche auf einer Leiterplatte eines Mobiltelefons oder
anderen Gerätes der Telekommunikationsindustrie. Die Erfindung betrifft ferner ein
Verfahren zum Herstellen einer derartigen Abschirmanordnung.
Üblicherweise müssen bei diesen Geräten einzelne Bereiche auf der Leiter
platte sowohl gegenüber externer elektromagnetischer Strahlung wie auch gegen
über elektromagnetischer Strahlung, die von anderen Bereichen derselben Leiter
platte ausgehen, abgeschirmt werden. Die Leiterplatten von Mobiltelefonen weisen
mindestens zwei Bereiche auf, die gegeneinander abgeschirmt werden müssen.
Neuere Geräte der sogenannten UMTS-Generation weisen fünf bis zehn oder mehr
dieser Bereiche auf.
Zum einen wird eine derartige Abschirmung vom Gesetzgeber gefordert,
der den Nachweis der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) elektrischer oder
elektronischer Geräte verlangt. Zum anderen ist die Abschirmung aber auch gene
rell für die Funktion von Mobiltelefonen nötig, weil die von einzelnen Bereichen
der Leiterplatte ausgehende elektromagnetische Strahlung andere Bereiche und da
mit die Funktion des Gerätes beeinträchtigt.
Es sind unterschiedliche Methoden der Abschirmung von elektrischen und
elektronischen Bauteilen auf Leiterplatten bekannt, wobei folgende Forderungen
erfüllt werden müssen: niedriger Preis, geringer Platzbedarf, geringe Anzahl von
Abschirmkomponenten, niedriger Montageaufwand, umweltfreundliche Werkstoffe
und Beschichtungen sowie eine hohe Schirmdämpfung.
Eine hohe Schirmdämpfung ist nur mit einem elektromagnetisch vollstän
dig geschlossenen Faraday'schen Käfig aus elektrisch leitfähigem Material erreich
bar. Fugen dieses Faraday'schen Käfigs müssen daher mit elektrisch leitfähigen
Dichtungen abgedichtet werden. Elektrisch leitfähige Dichtungen bestehen bei
spielsweise aus metallischen Federelementen, Lötverbindungen oder metallgefüllten
elastischen organischen Materialien. Metallgefüllte organische Materialien werden
z. B. im Dispenserverfahren oder durch Umspritzen auf die Ränder des die abzu
schirmenden Komponenten enthaltenden Gehäuses aufgetragen.
Wichtig für eine gute Abschirmwirkung einer derartigen Hochfrequenz-
Dichtung ist ein möglichst niedriger Übergangswiderstand an den Kontaktflächen.
Geht es beispielsweise um die elektromagnetische Abschirmung eines Mobiltele
fons mit einer Leiterplatte, die auf der Innenseite die abzuschirmenden Bauteile
trägt, so sollte der Übergangswiderstand an den Kontaktflächen in Abhängigkeit
von der abzuschirmenden Frequenz von z. B. 1 bis 2 Gigahertz weniger als 0,5 Ohm
betragen.
Dies lässt sich im Prinzip mit einer Hochfrequenz-Dichtung aus mit metalli
schen Partikeln gefülltem organischem Material (z. B. einem Elastomer wie Silikon)
erreichen. Allerdings ist hierbei zu berücksichtigen, dass für die Güte der Abschir
mung die mechanische Stabilität und Haftung der Hochfrequenz-Dichtung und die
Langzeit-Korrosionsbeständigkeit der Kontaktstelle eine wesentliche Voraussetzung
ist. Ist beispielsweise die eine Kontaktfläche an einem Gehäusesteg aus einem
Leichtmetall wie Magnesium oder Aluminium vorgesehen, so ist eine haftvermit
telnde Zwischenschicht, meist eine Chromatierung oder eine Metalloxid-Beschich
tung notwendig, die nicht nur die gute Haftung, sondern auch die Korrosionsbestän
digkeit der Dichtung gewährleisten soll. Metallische Beschichtungen aus Kupfer in
Kombination mit Nickel scheiden im allgemeinen wegen der hohen Kosten aus.
Chromatierungen oder andere Beschichtungen erhöhen jedoch den Übergangswi
derstand auf Werte über 0,5 Ohm.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine
Abschirmanordnung zum Abschirmen eines Innenraumes eines elektrischen oder
elektronischen Gerätes gegen elektromagnetische Strahlung sowie ein Verfahren
zum Herstellen einer derartigen Abschirmanordnung zu schaffen, bei denen an den
abzudichtenden Kontaktflächen eine möglichst gute Haftung und Korrosionsbestän
digkeit bei gleichzeitig minimalem elektrischem Übergangswiderstand sicherge
stellt werden.
Diese Aufgabe wird durch die in den Patentansprüchen 1 und 13 definierte
Erfindung gelöst.
Entsprechend der erfindungsgemäßen Lösung hat eine der Kontaktflächen
der Dichtfuge einen Bereich mit einer haftvermittelnden und korrosionsbeständigen
Zwischenschicht sowie einen unbeschichteten Bereich. In dem unbeschichteten Be
reich liegt die elektrisch leitfähige Dichtung unmittelbar an der betreffenden
elektrisch leitfähigen Kontaktfläche an.
Vorteilhafterweise deckt die Dichtung sowohl den mit der Zwischenschicht
versehenen Bereich wie auch den unbeschichteten Bereich vollständig ab.
Da die elektrisch leitfähige Dichtung in dem unbeschichteten Bereich
unmittelbar an der betreffenden Kontaktfläche anliegt, lässt sich ein extrem niedri
ger Übergangswiderstand von weniger als 0,050 Ohm verwirklichen. Im übrigen
Bereich der Kontaktfläche stellt die Zwischenschicht eine gute Haftung zwischen
der Dichtung und der Kontaktfläche und die erwünschte Korrosionsbeständigkeit
sicher.
Vorteilhafterweise wird der mit der Zwischenschicht versehene Bereich in
zwei außenliegende Teilbereiche unterteilt, zwischen denen der zwischenschicht
freie Bereich angeordnet ist. Auf diese Weise wird der unbeschichtete Bereich von
der umgebenden Dichtung gegen jegliche Umwelteinflüsse geschützt, so dass es
auch im unbeschichteten Bereich nicht zu einer Kontaktkorrosion kommen kann.
Bei der Herstellung einer derartigen Abschirmanordnung wird zweckmäßi
gerweise so vorgegangen, dass auf eine der Kontaktflächen eine durchgehende Zwi
schenschicht aufgebracht wird, die Zwischenschicht in einem bestimmten Bereich
der Kontaktfläche entfernt wird und anschließend die Dichtung sowohl auf den un
beschichteten Bereich wie auch auf den übrigen Bereich der Kontaktfläche aufge
bracht wird. Das partielle Entfernen der Zwischenschicht kann durch ein Laserver
fahren oder auch ein mechanisches Verfahren erfolgen.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Ansprüchen
definiert.
Anhand der Zeichnungen wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung nä
her erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 einen schematischen Querschnitt durch ein Gehäuse eines
Mobiltelefons;
Fig. 2 eine schematische vergrößerte Darstellung einer Abschirmanord
nung des Gehäuses in Fig. 1.
In Fig. 1 ist in stark schematisierter Weise ein Teil eines Mobiltelefons
mit einem Gehäuse 1 und einer Leiterplatte 2 dargestellt, die einen gegen elektro
magnetische Strahlung abzuschirmenden Innenraum begrenzen. Das Gehäuse 1 mit
seinem umlaufenden Wandsteg 1a besteht aus einem elektrisch leitfähigen Leicht
metall wie z. B. einer Magnesium- oder Aluminiumlegierung und steht mit der Lei
terplatte 1 über eine Dichtfuge in Verbindung, in der zwischen gegenüberliegenden
Kontaktflächen 4 und 5 eine elektrisch leitfähige Dichtung 3 angeordnet ist.
Damit die Leiterplatte 2 zusammen mit dem Gehäuse 1 und der Dichtung 3
einen elektromagnetisch vollständig geschlossenen Faraday'schen Käfig bildet, ist
die Leiterplatte 2 mit einer für die Abschirmung tauglichen geschlossenen Kupfer
lage (nicht gezeigt) versehen, die im Inneren der Leiterplatte 2 angeordnet ist. Um
eine gute Abschirmung zu erreichen, muss die Kupferlage der Leiterplatte einen
guten und möglichst vollständig umlaufenden elektrischen Kontakt auf der gesam
ten Kontaktfläche 5 zu der Dichtung 3 haben. Zu diesem Zweck ist die Kupferlage
zur inneren Oberfläche der mehrlagigen Leiterplatte 2 hin durchkontaktiert, so dass
sie einen umlaufenden Pfad als Kontaktfläche aufweist.
Die Abschirmanordnung im Bereich der Dichtfuge mit der elektrisch
leitfähigen Dichtung 3 und den Kontaktflächen 4 und 5 ist in Fig. 2 genauer darge
stellt. Wie gezeigt, ist der Gehäusesteg 1a an seinen Seitenflächen wie auch in
einem Teil der Kontaktfläche 4 mit einer Zwischenschicht 6 versehen. Die Zwi
schenschicht 6 besteht aus einem haftvermittelnden und korrosionsbeständigen
Material und ist insbesondere eine galvanisch oder in anderer Weise aufgebrachte
metallische Schicht, Konversionsschicht, Metalloxid-, Phosphat- oder Lackschicht.
Als metallische Schicht kommt z. B. eine Chrom- oder Zink/Zinn-Schicht in Frage.
Die Kontaktfläche 4 ist nur in einem Bereich 4a mit der Zwischenschicht 6 verse
hen, während ein Bereich 4b unbeschichtet ausgebildet ist. Der mit der Zwischen
schicht 6 versehene Bereich 4a ist in zwei außenliegende Teilbereiche unterteilt,
während der unbeschichtete Bereich 4b zwischen diesen Teilbereichen und durch
eine Abstufung erhöht gegenüber diesen Teilbereichen angeordnet ist.
Die Dichtung 3, die als Hochfrequenz-Dichtung ausgebildet ist, besteht aus
einem organischen Material 3a, beispielsweise einem Elastomer wie Silikon, das
mit metallischen Partikeln 3b z. B. aus Nickel oder Silber gefüllt ist, um zu vermei
den, dass ein Teil des unbeschichteten Bereiches 4b der Kontaktfläche 4 zur Umge
bung hin offen ist (was bei Einwirkung von Schadgasen und Feuchtigkeit zu einer
Kontaktkorrosion zwischen den metallischen Partikeln 3b und dem elektrochemisch
unedleren Material des Gehäusestegs 1a führen würde), ist die Dichtung 3 so auf
getragen, dass sie sowohl den unbeschichteten Bereich 4b wie auch die beiden Teil
bereiche des beschichteten Bereichs 4a vollständig abdeckt. Die Zwischenschicht 6
in dem beschichteten Bereich 4a sorgt somit für eine gute Haftung zwischen dem
Gehäusesteg 1a und der Dichtung 3 sowie für einen optimalen Korrosionsschutz des
unbeschichteten Bereichs 4b, welcher wiederum für einen extrem niedrigen elektri
schen Übergangswiderstand zwischen dem Gehäusesteg 1a und der Dichtung 3
sorgt.
In dem dargestellten Ausführungsbeispiel hat die Dichtung 3 einen sich in
Richtung auf die Kontaktfläche 5 verjüngenden Querschnitt; genauer gesagt, hat sie
im unverformten Zustand einen dreieckigen bzw. dachförmigen Querschnitt. Die
Dichtung 3 liegt daher mit einem schmalen und genau definierten linien- bzw. strei
fenförmigen Bereich an der Kontaktfläche 5 der Leiterplatte 2 an. Im eingebauten
Zustand wird die Dichtung 3 durch Verschrauben oder Verklemmen von Leiter
platte und Gehäuse zwischen den Kontaktflächen 4 und 5 eingespannt und hierbei
um beispielsweise 30% komprimiert, so dass dann die metallischen Partikel 3b
unmittelbar aneinander anliegen und für einen entsprechenden elektrischen Pfad
zwischen den Kontaktflächen 4 und 5 sorgt. Durch die Komprimierung kommt es
im Laufe der Zeit zu einem "compression set" der Dichtung 3. Vorteilhafterweise
wird die Profilierung der Dichtung 3 so gewählt, dass das Kompressionssetzverhal
ten (compression set) der Dichtung optimal, d. h. möglichst gering wird. Beispiels
weise kann die Dichtung 3 in Längsrichtung der Dichtfuge (also senkrecht zur
Zeichnungsebene der Fig. 2) leicht gekrümmt sein, so dass die Dichtung im einge
bauten Zustand mit möglichst gleichmäßiger Anpresskraft an der Kontaktfläche 5
der Leiterplatte 2 angedrückt wird.
Bei der Herstellung der in Fig. 2 gezeigten Abschirmanordnung wird
zweckmäßigerweise so vorgegangen, dass zunächst der Gehäusesteg 1a vollständig
mit der Zwischenschicht 6 überzogen wird. Anschließend wird die Zwischenschicht
in dem Bereich 4b, der zu diesem Zweck gegenüber dem Bereich 4a erhöht ist, ent
fernt, beispielsweise durch ein Laserverfahren oder ein mechanisches Verfahren.
Anschließend wird die Dichtung 3 in einem Spritzverfahren auf die Kontaktfläche 4
aufgetragen. Nach dem Setzen der Dichtung 3 kann dann das Gehäuse 1 mit der
Leiterplatte 2 verbunden werden, wobei dann die Dichtung in der beschriebenen
Weise komprimiert wird. Da dann die metallischen Partikel 3b der Dichtung 3 in
dem Bereich 4b unmittelbaren Kontakt mit dem metallischen Material des Gehäuse
stegs 1a haben, ist ein sehr geringer Übergangswiderstand von z. B. weniger als
0,050 Ohm erreichbar. Dennoch sorgt die Zwischenschicht 6 im Bereich 4a der
Kontaktfläche 4, wie bereits erwähnt, für eine ausgezeichnete Haftung zwischen der
Dichtung 3 und der Kontaktfläche 4 sowie einen optimalen Korrosionsschutz im
unbeschichteten Bereich 4b.
Claims (14)
1. Abschirmanordnung zum Abschirmen eines Innenraums eines elektri
schen oder elektronischen Geräts gegen elektromagnetische Strahlung, bei der in
einer Dichtfuge zwischen zwei sich gegenüberliegenden elektrisch leitfähigen
Kontaktflächen (4, 5) eine elektrisch leitfähige Dichtung (3) angeordnet ist, wobei
eine (4) der Kontaktflächen (4, 5) einen mit einer haftvermittelnden und korrosions
beständigen Zwischenschicht (6) versehenen Bereich (4a) und einen unbeschichte
ten Bereich (4b) hat, in dem die elektrisch leitfähige Dichtung (3) unmittelbar an
der betreffenden elektrisch leitfähigen Kontaktfläche (4) anliegt.
2. Abschirmanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass
die Dichtung (3) sowohl den mit der Zwischenschicht versehenen Bereich (4a) wie
auch den unbeschichteten Bereich (4b) der betreffenden Kontaktfläche (4) vollstän
dig abdeckt.
3. Abschirmanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, dass der mit der Zwischenschicht versehene Bereich (4a) in
zwei außenliegende Teilbereiche unterteilt ist, zwischen denen der unbeschichtete
Bereich (4b) angeordnet ist.
4. Abschirmanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, dass der unbeschichtete Bereich (4b) stufenförmig erhöht ist
gegenüber dem mit der Zwischenschicht versehenen Bereich (4a).
5. Abschirmanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, dass der unbeschichtete Bereich (4b) durch partielles Entfer
nen der zunächst durchgehend aufgebrachten Zwischenschicht gebildet ist.
6. Abschirmanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, dass die Dichtung (3) einen Querschnitt hat, der sich von der
einen Kontaktfläche (4) in Richtung auf die andere Kontaktfläche (5) verjüngt.
7. Abschirmanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, dass die Dichtung (3) zwischen den Kontaktflächen (4, 5)
komprimiert ist und ein bestimmtes Profil zur Optimierung ihres Kompressions
setzverhaltens hat.
8. Abschirmanordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass
die Dichtung (3) in Längsrichtung der Dichtfuge ein geringfügig gekrümmtes Profil
hat.
9. Abschirmanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, dass die mit der Zwischenschicht (6) versehene Kontaktflä
che (4) am Rand eines Wandsteges (1a) eines aus elektrisch leitfähigem Leichtme
tall bestehenden Gehäuses (1) vorgesehen ist.
10. Abschirmanordnung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass
die andere Kontaktfläche (5) an einer Leiterplatte (2) vorgesehen ist.
11. Abschirmanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, dass die Dichtung (3) eine im Spritzverfahren auf die betref
fende Kontaktfläche (4) aufgebrachte Dichtungsleiste aus einem mit metallischen
Partikeln (3b) gefülltem organischen Material (3a) ist.
12. Abschirmanordnung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da
durch gekennzeichnet, dass die Zwischenschicht (6) eine galvanisch oder in anderer
Weise aufgebrachte metallische Schicht, Konversionsschicht, Metalloxid-, Phos
phat- oder Lackschicht ist.
13. Verfahren zum Herstellen einer Abschirmanordnung nach einem der
vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass auf eine (4) der Kontakt
flächen (4, 5) eine durchgehende Zwischenschicht (6) aufgebracht wird, dass die
Zwischenschicht (6) in einem bestimmten Bereich (4b) der betreffenden Kontakt
fläche (4) entfernt wird und dass anschließend die elektrisch leitfähige Dichtung (3)
auf den unbeschichteten Bereich (4b) und den übrigen Bereich (4a) der betreffenden
Kontaktfläche (4) aufgebracht wird.
14. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Zwi
schenschicht (6) in dem bestimmten Bereich (4b) der betreffenden Kontaktfläche
(4) durch ein Laserverfahren oder ein mechanisches Verfahren abgetragen wird.
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