DE10050770A1 - Schaltungsanordnung zum Steuern der Wortleitungen einer Speichermatrix - Google Patents
Schaltungsanordnung zum Steuern der Wortleitungen einer SpeichermatrixInfo
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Abstract
Gegenstand der Erfindung ist eine Schaltungsanordnung, die zum Umschalten des elektrischen Potentials an Wortleitungen (WL) einer Speichermatrix (10) dient und eine Vielzahl von selektiv adressierbaren Treiberschaltungen (20) an Enden der Wortleitungen enthält, um die Wortleitungen wahlweise auf ein erstes oder ein zweites vorgegebenes Potential zu legen. Erfindungsgemäß ist an jeder der besagten Wortleitungen (WL) an mindestens einem von der betreffenden Treiberschaltung (20) fernen Anschlusspunkt (12) jeweils eine Hilfsschaltung (30 und/oder 40) angeschlossen, die das Potential am besagten Anschlusspunkt (12) fühlt und, sobald sich das gefühlte Potential von einem der vorgegebenen Potentiale in Richtung zum anderen der vorgegebenen Potentiale zu ändern beginnt, eine niederohmige Verbindung zwischen besagtem Anschlusspunkt (12) und der Quelle des besagten anderen Potentials herzustellen und für eine vorgewählte Dauer aufrechtzuerhalten.
Description
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zum Steuern
der Wortleitungen einer Speichermatrix gemäß dem Oberbegriff
des Patentanspruchs 1.
In den üblichen digitalen Informationsspeichern bilden die
Speicherzellen eine Matrix aus Zeilen und Spalten. Um eine
Speicherzelle zum Auslesen oder Einschreiben anzuwählen, wird
eine der betreffenden Zeile zugeordnete "Wortleitung" akti
viert und eine der betreffenden Spalte zugeordnete "Bitlei
tung" angesteuert. Das Aktivieren einer Wortleitung erfolgt
durch Anlegen eines Aktivierungspotentials, welches die zuge
ordneten Speicherzellen so konditioniert, dass über die Bit
leitungen auf sie zugegriffen werden kann, um Speicherinfor
mation auszulesen oder einzuschreiben. Nach erfolgtem Lese-
bzw. Schreibbetrieb an der Zeile wird die betreffende Wort
leitung wieder deaktiviert, indem sie auf ein Deaktivierungs
potential gebracht wird, welches die erwähnte Konditionierung
der Speicherzellen wieder aufhebt.
Zum wahlweisen Aktivieren und Deaktivieren ist an jede Wort
leitung eine zugeordnete Treiberschaltung angeschlossen, die
auch als Wortleitungstreiber bezeichnet wird. Die Auswahl der
Treiberschaltung und somit der betreffenden Wortleitung er
folgt mittels eines Zeilenadressendecoders, der die Bits ei
ner digitalen Zeilenadresse empfängt. Jede Treiberschaltung
ist im Prinzip eine Schalteinrichtung, die abhängig von
Steuersignalen eine niederohmige Verbindung zwischen der
betreffenden Wortleitung und wahlweise einer Quelle des Akti
vierungspotentials oder einer Quelle des Deaktivierungspoten
tials herstellt.
In den meistüblichen Fällen sind die Treiberschaltungen an
einem der spaltenparallelen Ränder der Speichermatrix ange
ordnet und an die dort befindlichen "Anfänge" der Wortleitun
gen angeschlossen. Wird an diesem Ort ein Signal eingespeist,
so pflanzt sich dieses mit einer gewissen Ausbreitungsge
schwindigkeit längs der Leitung fort, denn die Leitung ver
hält sich, hauptsächlich wegen der verteilten Querkapazität
in Verbindung mit dem Längswiderstand, wie eine RC-Verzö
gerungskette. Nach einem Umschalten des Potentials am Lei
tungsanfang dauert es also mit wachsender Entfernung vom An
fang zunehmend länger, bis ändere Orte der Leitung die volle
Amplitude des neuen Potentials erreichen.
Diese Laufzeit limitiert die maximal mögliche Arbeitsge
schwindigkeit des Speichers. Bei üblicher Betriebsart darf
mit dem Schreiben von außen oder mit dem Lesen nach außen
erst dann begonnen werden, wenn sich das an die ausgewählte
Wortleitung gelegte Aktivierungspotential über die gesamte
Länge dieser Leitung eingestellt hat und sich die über die
Bitleitungen zu koppelnden Signale vollständig entwickelt ha
ben. Dieses einzuhaltende Intervall zwischen dem Beginn der
Zeilenaktivierung und dem Beginn der Spaltenansteuerung ("RAS
to CAS Delay" oder abgekürzt "TRCD") muss sich somit auch
nach der Laufzeit richten, die das Aktivierungssignal vom An
fang der Wortleitung bis zum fernsten Punkt, also dem "Ende"
der Wortleitung, benötigt. In ähnlicher Weise soll ein
nächster Schreib- oder Lesezyklus üblicherweise erst dann be
gonnen werden, wenn sich das an die bisher ausgewählte Wort
leitung gelegte Deaktivierungspotential über die gesamte
Wortleitung eingestellt hat und demzufolge das abschließende
Vorladen über die betreffenden Zeile erfolgen kann. Das hier
einzuhaltende Intervall ("Row Precharge Time" oder abgekürzt
"TRP") muss sich also ebenfalls nach der Signallaufzeit vom
Anfang zum Ende der Wortleitung richten. Insbesondere bei
großen Speichermatrizen mit entsprechend langen Wortleitungen
werden die erwähnten laufzeitbedingten Intervalle zu einem
Problem. Eine Vergrößerung der Treiberschaltungen kann hier
keinen zeitlichen Vorteil bringen.
Einer Limitierung der Arbeitsgeschwindigkeit durch die
Signallaufzeit auf der Wortleitung kann in bekannter Weise
begegnet werden, indem man die Treiberschaltung in der Mitte
der Wortleitung anordnet und anschließt, so dass die Laufzeit
bis zum fernsten Punkt der Wortleitung halbiert wird. Ein
weiterer bekannter Lösungsvorschlag ist das sogenannte
"Segmented-Wordline"-Konzept, welches im Prinzip eine noch
feinere Unterteilung der Wortleitungslänge nutzt. Beide Kon
zepte erhöhen jedoch die Chipfläche deutlich. Platz bean
spruchen nämlich nicht nur die Transistoren der Treiberschal
tung selbst, sondern auch deren Zuleitungen, die in gebühren
dem Abstand voneinander und von den Elementen und Leitungen
der Speichermatrix verlaufen müssen. Dieser Platzbedarf wird
besonders groß, wenn die Treiberschaltungen wie üblich grup
penweise mit dem Steuersignal beaufschlagt werden, das die
Aktivierung oder Deaktivierung befiehlt, und die weitere Aus
wahl innerhalb der Gruppen über zusätzliche Leitungen er
folgt. Die Steuerleitungen, die das Steuersignal für die ein
zelnen Gruppen von Treiberschaltungen liefern, müssen jeweils
zu den Orten der betreffenden Treiberschaltungen geführt wer
den, und die Auswahlleitungen müssen als Bündel zunächst in
Zeilenrichtung zum Ort der Treiberschaltungen und dann in
Spaltenrichtung entlang allen Treiberschaltungen geführt wer
den.
Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, eine befohlene Po
tentialänderung an Wortleitungen einer Speichermatrix be
schleunigt durchzuführen. Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß
durch die im Patentanspruch 1 beschriebene Schaltungsan
ordnung gelöst. Besondere Ausführungsformen der Erfindung
sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
Die Erfindung wird demnach realisiert an einer Schaltungsan
ordnung zum Umschalten des elektrischen Potentials an Wortleitungen
einer Speichermatrix, mit einer Vielzahl von selek
tiv adressierbaren Treiberschaltungen, deren jede an ein Ende
eines jeweils zugeordneten Exemplars der Wortleitungen ange
schlossen ist und auf Adressier- und Steuersignale anspricht,
um eine niederohmige Verbindung zwischen dem betreffenden
Wortleitungsende und wahlweise einer Quelle eines ersten Po
tentials oder einer Quelle eines zweiten Potentials herzu
stellen, das sich vom ersten Potential um eine gegebene Po
tentialdifferenz unterscheidet. Erfindungsgemäß ist an jeder
der besagten Wortleitungen an mindestens einem von der
betreffenden Treiberschaltung fernen Anschlusspunkt jeweils
eine erste zugeordnete Hilfsschaltung angeschlossen ist, die
Mittel zum Fühlen des Potentials am besagten Anschlusspunkt
enthält und durch ein erstes Befähigungssignal sensibilisier
bar ist, um ab dem Zeitpunkt, zu dem sich das gefühlte Poten
tial vom ersten Potential in Richtung zum zweiten Potential
um einen definierten Teilbetrag der gegebenen Potentialdiffe
renz geändert hat, eine niederohmige Verbindung zwischen be
sagtem Anschlusspunkt und der Quelle des zweiten Potentials
herzustellen und für eine vorgewählte Dauer aufrechtzuerhal
ten.
Die erfindungsgemäße Hilfsschaltung sorgt also im sensibili
sierten Zustand dafür, dass die Wortleitung auch an dem von
der Treiberschaltung entfernten Ort schnell auf das befohlene
Potential gezogen wird. Bereits kurz nach dem Umschalten des
Potentials am Ort der Treiberschaltung ist schon eine kleine
Potentialänderung am entfernten Ort fühlbar, lange bevor das
Potential dort seinen neuen Endwert erreicht hat. Dies wird
gemäß der Erfindung ausgenutzt, um die Hilfsschaltung in
Aktion treten zu lassen. Da die erwähnte Potentialänderung
nur an derjenigen Wortleitungen fühlbar ist, die über die zu
geordnete Treiberschaltung ausgewählt wurde, bedarf es keiner
weiteren Information auf der Seite der Hilfsschaltungen für
die Auswahl der Wortleitung. Das sensibilisierende Befähi
gungssignal kann an alle Hilfsschaltungen gleichzeitig gelegt
werden, so dass man hierzu nur eine einzige, allen Hilfsschaltungen
gemeinsame Zuleitung benötigt. Dies ist ein we
sentlicher Vorteil gegen über dem bekannten Konzept segmen
tierter Wortleitungen, bei dem zwischen den Segmenten jeweils
eigenständige Treiberschaltungen eingefügt sind, die mehrere
Zuleitungen benötigen.
Wenn man den Aufwand für eine erfindungsgemäße Schaltungsan
ordnung möglichst gering halten will, können die Hilfsschal
tungen so ausgebildet sein, dass sie entweder nur die Akti
vierung oder nur die Deaktivierung von Wortleitungen be
schleunigen. Im erstgenannten Fall ist das "erste Potential"
das Deaktivierungspotential, und das "zweite Potential" ist
das Aktivierungspotential; im zweitgenannten Fall ist es um
gekehrt. Welche dieser beiden Ausführungsform zu bevorzugen
ist, hängt von der gewünschten Anwendung und Betriebsart des
Speichers ab.
Andererseits können die Hilfsschaltungen auch so ausgestaltet
werden, dass sowohl die Aktivierung als auch die Deakti
vierung von Wortleitungen beschleunigt wird. Allerdings er
höht sich hiermit der Schaltungsaufwand für die Hilfsschal
tungen selbst, und es sind zwei Zuleitungen für zwei ver
schiedene Befähigungssignale notwendig. Außerdem ist eine we
sentlich genauere Zeitsteuerung für die alternierende Sensi
bilisierung der Hilfsschaltungen erforderlich, um zu verhin
dern, dass Überlappungen zwischen den Sensibilisierungsarten
und somit Kurzschlüsse zwischen den beiden Potentialquellen
auftreten.
Die Erfindung wird nachstehend anhand eines Ausführungsbei
spiels unter Bezugnahme auf die Zeichnung näher erläutert,
deren einzige Figur schematisch eine Speichermatrix mit einer
erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung zeigt.
In der Zeichnung ist mit gestricheltem Rahmen der Umriss ei
ner Speichermatrix 10 dargestellt, die in Zeilenrichtung von
einer Vielzahl von Wortleitungen WL und in Spaltenrichtung
von eine Vielzahl von Bitleitungen BL durchzogen ist. Aus
Gründen der Übersichtlichkeit sind jeweils nur einige
Exemplare dieser Leitungen in Form dicker horizontaler und
vertikaler Linien eingezeichnet. Nahe jeder Kreuzung einer
Wortleitung WL mit einer Bitleitung BL befindet sich eine
(nicht gezeigte) Speicherzelle, auf welche durch Ansteuerung
der betreffenden Wortleitung und Bitleitung zugegriffen wer
den kann, um Information einzuschreiben oder auszulesen, wie
allgemein bekannt.
Zum Ansteuern der Wortleitungen WL ist am linken Endpunkt 11
jeder dieser Leitungen ein zugeordneter Wortleitungstreiber
20 angeschlossen. Die Treiber 20 sind herkömmlicher Bauart
und alle gleich aufgebaut, deswegen genügt eine kurze Be
schreibung und vereinfachte zeichnerische Darstellung nur ei
nes Exemplars. Demnach enthält jeder Treiber 20 einen P-Ka
nal-Feldeffekttransistor (P-FET) 21 und zwei N-Kanal-Feld
effekttransistoren (N-FETs) 22 und 28. Die Source-Drain-
Strecke (Kanal) des P-FET 21 führt vom Wortleitungsanschluss
11 zu einer Auswahlleitung 24a eines ersten Leitungsbündels
24, das im dargestellten Fall insgesamt vier Auswahlleitungen
24a-24d enthält, die abhängig von der Information einer Zei
lenadresse ausgewählt und wahlweise mit einer Quelle eines
ersten Potentials H oder eines zweiten Potentials L verbunden
werden können, wie symbolisch mit einer Gruppe 25 von Um
schaltern angedeutet. Die Source-Drain-Strecken (Kanäle) der
N-FETs 22 und 28 führen beide parallel zueinander vom Wort
leitungsanschluss 11 zu einer Quelle des zweiten Potentials
L. Die Gateelektroden des P-FET 21 und des ersten N-FET 22
empfangen über eine Steuerleitung 23 ein Wortleitungssteuer
signal WLS. Die Gateelektrode des zweiten N-FET 28 ist mit
einer Auswahlleitung 26a eines zweiten Leitungsbündels 26
verbunden, das im dargestellten Fall insgesamt vier Auswahl
leitungen 26a-26d enthält, die abhängig von der Zeilenadresse
ausgewählt und wahlweise mit der Quelle des ersten Potentials
H oder der Quelle des zweiten Potentials L verbunden werden
können, wie ebenfalls symbolisch mit einer Umschaltergruppe
27 angedeutet. Das Potential H sei der "hohe" Logikpegel (Bi
närwert 1) und positiv gegenüber dem "niedrigen" Logikpegel L
(Binärwert 0).
Die Treiber für die anderen Wortleitungen sind ähnlicher
Weise angeschlossen; sie sind in Gruppen von jeweils vier
Treibern organisiert. Alle Treiber der selben Gruppe empfan
gen das gleiche Wortleitungssteuersignal, sind jedoch mit un
terschiedlichen Paaren 24a, 26a oder 24b, 26b oder 24c, 26c
oder 24d, 26d der Auswahlleitungen verbunden.
Zum Ansteuern einer Wortleitung wird zunächst die betreffende
Wortleitungsadresse an den (nicht gezeigten) Zeilenadressen
decoder gelegt und dort decodiert. Zum Decodierungsvorgang
gehört die Gruppenwahl durch Auswählen der zur adressierten
Vierergruppe gehörenden Steuerleitung 23 und die Endwahl
durch Verbinden der innerhalb der Gruppe zuständigen Auswahl
leitungen in den Bündeln 24, 26 mit dem H- bzw. dem L-Poten
tial durch Auswählen und Ansteuern der entsprechenden Um
schalter in den Umschaltergruppen 26 und 27. Nach dem Anlegen
einer Adresse liefert eine als Block 60 gezeigte Ablaufsteu
ereinrichtung (Controller) ein die Gültigkeit der Wortlei
tungsadresse anzeigendes Signal WGL bestimmter Dauer zur Vor
gabe der Zeit, in welcher die Aktionen des Speichers unter
Beteiligung der adressierten Wortleitung stattfinden sollen.
Auch die nachstehend beschriebenen Aktionen zum Aktivieren
und Deaktivieren einer Wortleitung werden von der Ablaufsteu
ereinrichtung 60 zeitgesteuert.
Zur Aktivierung der adressierten Wortleitung wird zuerst die
zur adressierten Vierergruppe gehörende Steuerleitung 23 auf
L-Potential gebracht, so dass der P-FET 21 leitend und der
erste N-FET 22 gesperrt wird. Dann wird die zuständige Aus
wahlleitung (z. B. 26a) des Bündels 26 durch Aktion des gemäß
Adresse ausgewählten Umschalters in der Umschaltergruppe 27
vom H-Potential auf das L-Potential geschaltet, so dass der
zweite N-FET 28 gesperrt wird. Etwa gleichzeitig wird die zuständige
Auswahlleitung (z. B. 24a) des Bündels 24 durch Ak
tion des gemäß Adresse ausgewählten Umschalters in der Um
schaltergruppe 25 vom L-Potential abgetrennt und mit dem H-
Potential verbunden, so dass die angeschlossene Wortleitung
WL am Anschlusspunkt 11 über den P-FET 21 auf dieses H-Poten
tial gezogen wird.
Zur Deaktivierung der Wortleitung wird zuerst die zuständige
Auswahlleitung des Bündels 24 wieder vom H-Potential abgekop
pelt, und die zuständige Auswahlleitung des Bündels 26 wird
auf H-Potential gelegt. Hierdurch wird der zweite N-FET 28
leitend, so dass er die angeschlossene Wortleitung WL am
Anschlusspunkt 11 auf L-Potential zieht. Später wird dann die
Steuerleitung 23 wieder auf H-Potential gebracht, so dass der
P-FET 21 wieder gesperrt und der erste N-FET 22 wieder lei
tend wird.
Die bis hierher beschriebene Schaltungstechnik und Funktions
weise ist bekannt. Wie weiter oben erwähnt, kann es Probleme
geben, weil es infolge Signalverzögerung entlang der Wortlei
tung WL eine gewisse Zeit dauert, bis sich der am Anschluss
punkt 11 aufgeprägte Potentialwechsel auch am entfernten Ende
der Wortleitung WL entwickelt hat. Diese Zeit wird gemäß der
Erfindung wesentlich verkürzt durch die in der rechten Hälfte
der Zeichnung gezeigten Schaltungsmaßnahmen.
Gemäß der Zeichnung sind an einem Punkt 12 am entfernten Ende
jeder Wortleitung WL zwei Hilfsschaltungen 30 und 40 ange
schlossen. Die erste Hilfsschaltung 30 bewirkt eine Beschleu
nigung des Potentialwechsels am Punkt 12, wenn der Treiber 20
die Wortleitung WL aktiviert, also von L-Potential auf H-Po
tential hochfährt. Die zweite Hilfsschaltung 40 bewirkt eine
Beschleunigung des Potentialwechsels am Punkt 12, wenn der
Treiber 20 die Wortleitung WL deaktiviert, also von H-Poten
tial auf L-Potential herunterfährt.
Zunächst sei die erste Hilfsschaltung 30 beschrieben. Vorge
sehen ist ein N-FET 31, dessen Gateelektrode an den Punkt 12
der Wortleitung WL angeschlossen ist. Die Sourceelektrode des
N-FET 31 liegt fest an L-Potential, und seine Drainelektrode
ist über den Kanal eines weiteren N-FET 32 und dann den Kanal
eines P-FET 33 an die Quelle des H-Potentials angeschlossen.
Der Verbindungspunkt zwischen den Kanälen der Transistoren 32
und 33 ist an die Gateelektrode eines weiteren P-FET 34 ange
schlossen, dessen Kanal direkt zwischen den Punkt 12 der
Wortleitung WL und die Quelle des H-Potentials geschaltet
ist. Die Gateelektroden der Transistoren 32 und 33 sind ge
meinsam zum Empfang eines Befähigungssignals BSA angeschlos
sen.
Im Unterschied zu den Transistoren 32, 33, 24 ist der N-FET
31 als Element mit niedriger Schwellenspannung dimensioniert,
d. h. er wird schon dann leitend, wenn das Potential an seiner
Gateelektrode nur wenig positiver als sein Sourcepotential
ist. Diese Schwellenspannung ist wesentlich geringer bemessen
als die Differenz zwischen dem H-Potential und dem L-Poten
tial. Solange die Wortleitung deaktiviert ist, also auf L-Pe
gel liegt, bleibt der N-FET 31 jedoch gesperrt.
Das Befähigungssignal BSA wird normalerweise auf L-Pegel
gehalten und spätestens beim Start einer Wortleitungsakti
vierung (vorzugsweise kurz vorher) auf H-Pegel geschaltet.
Hierdurch wird im oberen Teil 30 der Hilfsschaltung der N-FET
32 leitend und der P-FET 33 gesperrt, so dass auch der P-FET
34 vorerst gesperrt bleibt. Beim Beginn der Wortleitungsakti
vierung, also wenn der P-FET 21 des ausgewählten Treibers 30
durch das Steuersignal WLS des Treibers 20 eingeschaltet
wird, steigt das Potential am Anfangspunkt 11 der Wortleitung
WL schnell vom bisherigen L-Pegel auf den H-Pegel. Am ent
fernten Anschlusspunkt 12 beginnt das Wortleitungspotential
ebenfalls anzusteigen, jedoch wesentlich langsamer. Schon ein
geringer Potentialanstieg an dieser Stelle führt aber zur
Einschaltung des N-FET 31, der daraufhin über den leitenden
N-FET 32 die Gateelektrode des P-FET 34 auf L-Pegel zieht.
Der somit durchgeschaltete P-FET 34 bildet dann eine nieder
ohmige Verbindung zwischen dem Anschlusspunkt 12 und dem H-
Potential, so dass dieser Punkt 12 sofort auf H-Pegel gezogen
wird.
Dies erfolgt wesentlich früher als der Zeitpunkt, zu dem an
sonsten das volle H-Potential vom Treiber 20 her über die
Länge der Wortleitung WL am Anschlusspunkt 12 angelangt wäre.
Die Aktivierung der gesamten Wortleitung WL wird also wesent
lich beschleunigt. Das Befähigungssignal BSA kann schon kurz
danach wieder ausgeschaltet werden, d. h. auf L-Potential zu
rückgesetzt werden, denn das weitere Halten des Aktivierungs
potentials an der Wortleitung übernimmt der P-FET 21 des
Treibers 20.
Die zweite Hilfsschaltung 40 ist ähnlich aufgebaut wie die
erste Hilfsschaltung 30 und funktioniert in ähnlicher Weise,
allerdings polaritätsmäßig entgegengesetzt. Vorgesehen ist
ein P-FET 41, dessen Gateelektrode an den Punkt 12 der Wort
leitung WL angeschlossen ist. Die Sourceelektrode des P-FET
41 liegt fest an H-Potential, und seine Drainelektrode ist
über den Kanal eines weiteren P-FET 42 und dann den Kanal ei
nes N-FET 43 an die Quelle des L-Potentials angeschlossen.
Der Verbindungspunkt zwischen den Kanälen der Transistoren 42
und 43 ist an die Gateelektrode eines weiteren N-FET 44 ange
schlossen, dessen Kanal direkt zwischen den Punkt 12 der
Wortleitung WL und die Quelle des L-Potentials geschaltet
ist. Die Gateelektroden der Transistoren 42 und 43 sind ge
meinsam zum Empfang eines zweiten Befähigungssignals BSD an
geschlossen.
Im Unterschied zu den Transistoren 42, 43, 44 ist der P-FET
41 als Element mit niedriger Schwellenspannung dimensioniert,
d. h. er wird schon dann leitend, wenn das Potential an seiner
Gateelektrode nur wenig negativer als sein Sourcepotential
ist. Diese Schwellenspannung ist wesentlich geringer bemessen
als die Differenz zwischen dem L-Potential und dem H-Poten
tial. Solange die Wortleitung aktiviert ist, also auf H-Pegel
liegt, bleibt der P-FET 41 jedoch gesperrt.
Das Befähigungssignal BSD wird normalerweise auf H-Pegel
gehalten und spätestens beim Start einer Wortleitungs-Deakti
vierung (vorzugsweise kurz vorher) auf L-Pegel geschaltet.
Hierdurch wird P-FET 42 leitend und der N-FET 43 gesperrt, so
dass auch der N-FET 44 vorerst gesperrt bleibt. Beim Beginn
der Wortleitungs-Deaktivierung, also wenn der N-FET 22 des
ausgewählten Treibers 30 durch das Steuersignal WLS des Trei
bers 20 eingeschaltet wird, fällt das Potential am Anfangs
punkt 21 der Wortleitung WL schnell vom bisherigen H-Pegel
auf den L-Pegel. Am entfernten Anschlusspunkt 12 beginnt das
Wortleitungspotential ebenfalls abzunehmen, jedoch wesentlich
langsamer. Schon eine geringe Potentialabnahme an dieser
Stelle führt aber zur Einschaltung des P-FET 41, der darauf
hin über den leitenden P-FET 42 die Gateelektrode des N-FET
44 auf H-Pegel zieht. Der somit durchgeschaltete N-FET 44
bildet dann eine niederohmige Verbindung zwischen dem An
schlusspunkt 12 und dem L-Potential, so dass dieser Punkt 12
sofort auf L-Pegel gezogen wird.
Dies erfolgt wesentlich früher als der Zeitpunkt, zu dem an
sonsten das volle L-Potential vom Treiber 20 her über die
Länge der Wortleitung WL am Anschlusspunkt 12 angelangt wäre.
Die Deaktivierung der gesamten Wortleitung WL wird also we
sentlich beschleunigt. Das Befähigungssignal BSD kann schon
kurz danach wieder ausgeschaltet werden, d. h. auf H-Potential
zurückgesetzt werden, denn das weitere Halten des Deaktivie
rungspotentials an der Wortleitung übernimmt der N-FET 28 und
später der N-FET 22 des Treibers 20.
Die Zeitsteuerung der Befähigungssignale BSA und BSD kann
über geeignete Zeitglieder und Impulsformer aus Signalen des
Controllers 60 abgeleitet werden, welche den sonstigen Ablauf
des Speicherbetriebs bestimmen. Eine zu erfüllende Bedingung
für das Timing der Befähigungssignale ist, dass deren wirksa
mer Zustand (H-Pegel bei BSA bzw. L-Pegel bei BSD) beginnt,
bevor der Treiber 20 das Potential am Punkt 11 umzuschalten
beginnt, und endet, nachdem eine Zeit verstrichen ist, die
etwas länger ist als die Signallaufzeit über die Wortleitung
vom Punkt 11 zum Punkt 12. Um Kurzschlüsse zu vermeiden, dür
fen sich aber erstens die wirksamen Zustände der beiden
Befähigungssignale nicht überlappen, ferner darf das
Befähigungssignal BSA zu keinem Zeitpunkt wirksam sein,
während einer oder beide der N-FETs 22 und 28 im Treiber 20
leitend sind, und drittens darf das Befähigungssignal BSD zu
keinem Zeitpunkt wirksam sein, während der P-FET 21 im Trei
ber 20 leitend ist. Es ist deswegen vorteilhaft, die
Befähigungssignale so spät wie möglich wirksam zu machen und
so früh wie möglich wieder unwirksam zu machen. Alle diese
Bedingungen lassen sich in einfacher Weise erfüllen, wenn man
als Zeitbezug für das Timing der Befähigungssignale BSA und
BSD das bereits erwähnte Signal WLG heranzieht, welches den
Beginn und das Ende der Gültigkeit der Wortleitungsadresse
definiert.
Demgemäss ist in bevorzugter Ausführungsform der Erfindung
zur Erzeugung des Befähigungssignals BSA ein erster Flanken
detektor 62 vorgesehen, der das Gültigkeitssignal WGL
empfängt und beim Erscheinen der Vorderflanke dieses Signals
einen Triggerimpuls liefert, welcher seinerseits einen
Monovibrator 63 zur Abgabe eines Impulses vorgegebener Dauer
mit H-Pegel veranlasst, der das Befähigungssignal BSA bildet.
Die Impulsdauer am Monovibrator 63 ist so eingestellt, dass
sie mindestens gleich der Signallaufzeit auf der Wortleitung
WL vom Punkt 11 zum Punkt 12 ist, aber früher endet als das
Gültigkeitssignal WLG. Zur Erzeugung des Befähigungssignals
BSD ist ein zweiter Flankendetektor 64 vorgesehen, der das
Gültigkeitssignal WGL empfängt und beim Erscheinen der Rück
flanke dieses Signals einen Triggerimpuls liefert, welcher
seinerseits einen zweiten Monovibrator 65 zur Abgabe eines
Impulses vorgegebener Dauer mit L-Pegel veranlasst, der das
Befähigungssignal BSA bildet. Auch am Monovibrator 65 ist die
Impulsdauer so eingestellt, dass sie mindestens gleich der
Signallaufzeit auf der Wortleitung WL vom Punkt 11 zum Punkt
12 ist, aber früher endet als das Gültigkeitssignal WLG.
Die Schwellenspannungen der als Potentialfühler verwendeten
Transistoren 31 und 41 sollten so bemessen werden, dass ihr
Betrag eine möglichst geringer Teil der Differenz zwischen H-
Potential und L-Potential ist. Je kleiner die Schwellenspan
nung ist, desto früher spricht die jeweilige Hilfsschaltung
30 bzw. an und desto schneller erfolgt die gewünschte Poten
tialänderung am Anschlusspunkt 12. Andererseits müssen die
Schwellenspannungen aber eindeutig unterscheidbar höher sein
als ungewollte Fluktuationen der an den Transistoren 31 und
41 liegenden Potentiale, die nicht von einer gewollten Poten
tialänderung am Anfangspunkt 11 der Wortleitung WL herrühren
und bei zu geringer Schwellenspannung zu einem fälschlichen
Ansprechen der Hilfsschaltungen führen könnten. In den
meisten praktischen Fällen liegt die Amplitude solcher Fluk
tuationen nicht höher als 100 mV, so dass eine Schwellenspan
nung von etwa 300 mV mit Sicherheit genügt. Dieser Betrag ist
wesentlich kleiner als die übliche Differenz zwischen dem H-
Potential und dem L-Potential, die meist bei einigen Volt
liegt.
Im Grunde arbeitet jede der beiden Hilfsschaltungen 30 und 40
selbständig für sich und kann gewünschtenfalls auch alleine
vorgesehen werden. Will man sich mit einer Beschleunigung al
lein der Wortleitungs-Aktivierung begnügen, kann die Hilfs
schaltung 40 weggelassen werden. Genügt eine Beschleunigung
allein der Wortleitungs-Deaktivierung, kann die Hilfsschal
tung 30 weggelassen werden. In diesen Fällen ist die Zeit
steuerung des jeweiligen Befähigungssignals BSA bzw. BSD we
niger kritisch, weil die Kurzschlussmöglichkeiten geringer
sind.
Die anhand der Zeichnung beschriebene Anordnung ist nur ein
Beispiel für die Realisierung der Erfindung. Die beschriebe
nen Schaltelemente sind vorzugsweise Feldeffekttransistoren
in MOS-Bauweise (MOSFETs), es können aber auch andere Schalt
elemente verwendet werden. Insgesamt können die Treiber 20
und ihre Organisation und Adressierung auch anders ausgebil
det sein als vorstehend beschrieben. Ebenso können für die
Hilfsschaltungen 30 und 40 andere Schaltungsvarianten verwen
det werden; geeignet ist jede Art von Schwellenschaltung, die
bei Sensibilisierung mittels eines Befähigungssignals das Po
tential am Anschlusspunkt schnell auf einen Endwert zieht,
sobald sie eine Potentialänderung fühlt, die in Richtung zum
besagten Endwert geht.
Auch brauchen die Hilfsschaltungen 30 und/oder 40 nicht in
jedem Fall oder nicht nur an den von der Treibern 20 abge
wandten Enden der Wortleitungen angeschlossen zu sein. So
kann es unter Umständen auch Vorteile bringen, die Hilfs
schaltungen z. B. irgendwo in der zweiten Hälfte oder gar in
der Mitte der Wortleitungen anzuschließen. Bei sehr langen
Wortleitungen können auch zwei oder mehr Hilfsschaltungen in
Abständen entlang der Länge jeder Wortleitung angeordnet wer
den.
Die Einrichtungen zur Ansteuerung der Bitleitungen wurden
nicht beschrieben und sind in der Zeichnung nicht darge
stellt, weil ihre Ausbildung ohne Belang für die Erfindung
ist.
10
Speichermatrix
11
treiberseitiger Anschlusspunkt
12
entfernter Anschlusspunkt
20
Treiberschaltung
21
P-FET
22
N-FET
23
Steuerleitung
24
Auswahlleitungen
25
Umschaltergruppe
26
Auswahlleitungen
27
Umschaltergruppe
28
N-FET
30
erste Hilfsschaltung
31
N-FET (Fühltransistor)
32
N-FET
33
P-FET
34
P-FET
40
zweite Hilfsschaltung
41
P-FET (Fühltransistor)
42
P-FET
43
P-FET
44
N-FET
60
Ablaufsteuereinrichtung
62
Flankendetektor
63
Monovibrator
64
Flankendetektor
65
Monovibrator
H positiveres Potential
BL Bitleitungen
BSA erstes Befähigungssignal
BSD zweites Befähigungssignal
L negativeres Potential
WGL Signal "Wortleitungsadresse gültig"
WL Wortleitung
WLS Wortleitungssteuersignal
H positiveres Potential
BL Bitleitungen
BSA erstes Befähigungssignal
BSD zweites Befähigungssignal
L negativeres Potential
WGL Signal "Wortleitungsadresse gültig"
WL Wortleitung
WLS Wortleitungssteuersignal
Claims (15)
1. Schaltungsanordnung zum Umschalten des elektrischen
Potentials an Wortleitungen (WL) einer Speichermatrix (10),
mit einer Vielzahl von selektiv adressierbaren Treiberschal
tungen (20), deren jede an ein Ende (11) eines jeweils zuge
ordneten Exemplars der Wortleitungen angeschlossen ist und
auf Adressier- und Steuersignale (WLS) anspricht, um eine
niederohmige Verbindung zwischen dem betreffenden Wortlei
tungsende und wahlweise einer Quelle eines ersten Potentials
(H oder L) oder einer Quelle eines zweiten Potentials (L oder
H) herzustellen, das sich vom ersten Potential um eine gege
bene Potentialdifferenz unterscheidet,
dadurch gekennzeichnet,
dass an jeder der besagten Wortleitungen (WL) an mindestens
einem von der betreffenden Treiberschaltung (20) fernen An
schlusspunkt (12) jeweils eine erste zugeordnete Hilfsschal
tung (30 oder 40) angeschlossen ist, die Mittel zum Fühlen
des Potentials am besagten Anschlusspunkt enthält und durch
ein erstes Befähigungssignal (BSA oder BSD) sensibilisierbar
ist, um ab dem Zeitpunkt, zu dem sich das gefühlte Potential
vom ersten Potential (L oder H) in Richtung zum zweiten Po
tential (H oder L) um einen definierten Teilbetrag der gege
benen Potentialdifferenz geändert hat, eine niederohmige Ver
bindung zwischen besagtem Anschlusspunkt (12) und der Quelle
des zweiten Potentials (H oder L) herzustellen und für eine
vorgewählte Dauer aufrechtzuerhalten.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, dass das erste Potential das Deaktivierungs
potential (L) ist, welches den Schreib- oder Lesezugriff zu
den der betreffenden Wortleitung (WL) zugeordneten Speicher
zellen der Speichermatrix (10) sperrt,
und dass das zweite Potential das Aktivierungspotential (H)
ist, welches den Schreib- oder Lesezugriff zu den besagten
Speicherzellen freigibt.
3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, dass das erste Potential das Aktivierungspo
tential (H) ist, welches den Schreib- oder Lesezugriff zu den
der betreffenden Wortleitung (WL) zugeordneten Speicherzellen
der Speichermatrix (10) freigibt,
und dass das zweite Potential das Deaktivierungspotential (L)
ist, welches den Schreib- oder Lesezugriff zu den besagten
Speicherzellen sperrt.
4. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, dass eine Zeitsteuerschal
tung (60-65) vorgesehen ist, welche das erste Befähigungs
signal (BSA oder BSD) für die Dauer eines Intervalls erzeugt,
welches beginnt, bevor die zugeordnete Treiberschaltung (20)
die Wortleitung (WL) mit der Quelle des zweiten Potentials (H
oder L) verbindet, und welches frühestens dann endet, wenn
nach Herstellen dieser Verbindung eine Zeit verstrichen ist,
die etwas länger ist als es der Signallaufzeit über die Wort
leitung (20) von der Treiberschaltung zum Anschlusspunkt (12)
der Hilfsschaltung (30 oder 40) entspricht,
und dass die Hilfsschaltung (30 oder 40) eine von ihr herge
stellte niederohmige Verbindung zwischen ihrem Anschlusspunkt
(12) und der Quelle des zweiten Potentials (H oder L) bis zum
Ende des ersten Befähigungssignals (BSA oder BSD) aufrechter
hält.
5. Schaltungsanordnung nach Anspruch einem der Ansprüche 1
bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass an jeder der besagten
Wortleitungen (WL) an mindestens einem von der betreffenden
Treiberschaltung (20) fernen Anschlusspunkt jeweils eine
zweite zugeordnete Hilfsschaltung (40 oder 30) angeschlossen
ist, die Mittel zum Fühlen des Potentials am besagten An
schlusspunkt (12) enthält und durch ein zweites Befähigungs
signal (BSD oder BSA) sensibilisierbar ist, um ab dem Zeit
punkt, zu dem sich das gefühlte Potential vom zweiten Poten
tial (H oder L) in Richtung zum ersten Potential (L oder H)
um einen definierten Teilbetrag der gegebenen Potentialdifferenz
geändert hat, eine niederohmige Verbindung zwischen be
sagtem Anschlusspunkt (12) und der Quelle des ersten Poten
tials (L oder H) herzustellen und für eine vorgewählte Dauer
aufrechtzuerhalten.
6. Schaltungsanordnung nach den Ansprüchen 4 und 5, dadurch
gekennzeichnet, dass die Zeitsteuerschaltung (60-65) das
zweite Befähigungssignal (BSD oder BSA) ohne zeitliche Über
lappung mit dem ersten Befähigungssignal (BSA oder BSD) und
für die Dauer eines Intervalls erzeugt, welches beginnt, be
vor die zugeordnete Treiberschaltung (20) die Wortleitung
(WL) mit der Quelle des ersten Potentials (L oder H) verbin
det, und welches frühestens dann endet, wenn nach Herstellen
dieser Verbindung eine Zeit verstrichen ist, die etwas länger
ist als es der Signallaufzeit über die Wortleitung (WL) von
der Treiberschaltung (20) zum Anschlusspunkt (12) der zweiten
Hilfsschaltung (40 oder 30) entspricht.
7. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 4 bis 6,
dadurch gekennzeichnet, dass die Zeitsteuerschaltung (60-65)
Mittel (61-65) enthält, um den Beginn und das Ende des oder
jedes Befähigungssignals (BSA und/oder BSD) in einer einge
stellten festen zeitlichen Beziehung zu den Flanken des
Signals (WGL) erzeugt, welches die Gültigkeit einer erfolgten
Adressierung der Treiberschaltungen (20) anzeigt.
8. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Anschlusspunkte
(12) der Hilfsschaltungen (30 und/oder 40) an den von den
Treiberschaltungen (20) entfernten Enden der Wortleitungen
(WL) liegen.
9. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass in jeder Hilfsschal
tung (30; 40) die Mittel zum Fühlen des an deren Anschluss
punkt (12) erscheinenden Potentials jeweils aus einem ersten
Feldeffekttransistor (31; 41) bestehen, dessen Gateelektrode
am besagten Anschlusspunkt liegt und dessen Schwellenspannung
so bemessen ist, dass er leitend wird, wenn seine Gate-
Source-Spannung den definierten Teilbetrag der gegebenen Po
tentialdifferenz (H - L) erreicht.
10. Schaltungsanordnung nach Anspruch 9, dadurch
gekennzeichnet, dass in jeder ersten Hilfsschaltung (30 oder
40)
der erste Feldeffekttransistor (31 oder 41) von einem ersten Leitungstyp ist und mit seiner Sourceelektrode an das erste Potential (L oder H) und mit seine Drainelektrode über den Kanal eines zweiten Feldeffekttransistors (32 oder 42) vom ersten Leitungstyp mit der Drainelektrode eines dritten Feldeffekttransistors (33 oder 43) vom entgegengesetzten zweiten Leitungstyps verbunden ist, dessen Sourceelektrode mit dem zweiten Potential (H oder L) verbunden ist,
die Gateelektroden des zweiten und dritten Feldeffekttransistors zum Empfang des Befähigungssignals (BSA oder BSD) angeschlossen sind,
die Drainelektrode des dritten Feldeffekttransistors (33 oder 44) mit der Gateelektrode eines vierten Feldeffekttran sistors (34 oder 44) vom zweiten Leitungstyp verbunden ist, dessen Kanal zwischen den Anschlusspunkt (12) der Hilfsschal tung (30 oder 40) und das zweite Potential geschaltet ist,
der erste Feldeffekttransistor (31 oder 41) von einem ersten Leitungstyp ist und mit seiner Sourceelektrode an das erste Potential (L oder H) und mit seine Drainelektrode über den Kanal eines zweiten Feldeffekttransistors (32 oder 42) vom ersten Leitungstyp mit der Drainelektrode eines dritten Feldeffekttransistors (33 oder 43) vom entgegengesetzten zweiten Leitungstyps verbunden ist, dessen Sourceelektrode mit dem zweiten Potential (H oder L) verbunden ist,
die Gateelektroden des zweiten und dritten Feldeffekttransistors zum Empfang des Befähigungssignals (BSA oder BSD) angeschlossen sind,
die Drainelektrode des dritten Feldeffekttransistors (33 oder 44) mit der Gateelektrode eines vierten Feldeffekttran sistors (34 oder 44) vom zweiten Leitungstyp verbunden ist, dessen Kanal zwischen den Anschlusspunkt (12) der Hilfsschal tung (30 oder 40) und das zweite Potential geschaltet ist,
11. Schaltungsanordnung nach Anspruch 9 oder 10 in Verbin
dung mit einem der Ansprüche 5 bis 8, dadurch gekennzeichnet,
dass in jeder zweiten Hilfsschaltung (40 oder 30)
der erste Feldeffekttransistor (41 oder 31) vom zweiten Leitungstyp ist und mit seiner Sourceelektrode an das zweite Potential (H oder L) und mit seine Drainelektrode über den Kanal eines zweiten Feldeffekttransistors (42 oder 32) vom zweiten Leitungstyp mit der Drainelektrode eines dritten Feldeffekttransistors (43 oder 33) vom ersten Leitungstyps verbunden ist, dessen Sourceelektrode mit dem ersten Poten tial (L oder H) verbunden ist,
die Gateelektroden des zweiten und dritten Feldeffekttransistors zum Empfang des Befähigungssignals (BSD oder BSA) angeschlossen sind,
die Drainelektrode des dritten Feldeffekttransistors (44 oder 34) mit der Gateelektrode eines vierten Fets (44 oder 34) vom ersten Leitungstyp verbunden ist, dessen Kanal zwi schen den Anschlusspunkt (12) der Hilfsschaltung (30 oder 40) und das erste Potential geschaltet ist,
der erste Feldeffekttransistor (41 oder 31) vom zweiten Leitungstyp ist und mit seiner Sourceelektrode an das zweite Potential (H oder L) und mit seine Drainelektrode über den Kanal eines zweiten Feldeffekttransistors (42 oder 32) vom zweiten Leitungstyp mit der Drainelektrode eines dritten Feldeffekttransistors (43 oder 33) vom ersten Leitungstyps verbunden ist, dessen Sourceelektrode mit dem ersten Poten tial (L oder H) verbunden ist,
die Gateelektroden des zweiten und dritten Feldeffekttransistors zum Empfang des Befähigungssignals (BSD oder BSA) angeschlossen sind,
die Drainelektrode des dritten Feldeffekttransistors (44 oder 34) mit der Gateelektrode eines vierten Fets (44 oder 34) vom ersten Leitungstyp verbunden ist, dessen Kanal zwi schen den Anschlusspunkt (12) der Hilfsschaltung (30 oder 40) und das erste Potential geschaltet ist,
12. Schaltungsanordnung nach Anspruch 10 oder 11, dadurch
gekennzeichnet, dass das erste Potential (L) negativ gegen
über dem zweiten Potential (H) ist und dass der erste Lei
tungstyp der N-Typ und der zweite Leitungstyp der P-Typ ist.
13. Schaltungsanordnung nach Anspruch 10 oder 11, dadurch
gekennzeichnet, dass das erste Potential (H) positiv gegen
über dem zweiten Potential (L) ist und dass der erste Lei
tungstyp der P-Typ und der zweite Leitungstyp der N-Typ ist.
14. Schaltungsanordnung nach einem der vorhergehenden
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der definierte Teil
betrag der gegebenen Potentialdifferenz (H - L) größer ist als
die zu erwartende Maximalamplitude von Fluktuationen des
Wortleitungspotentials, die nicht von einer durch die betref
fende Treiberschaltung (20) bewirkten Umschaltung des Poten
tials der Wortleitung (WL) herrühren.
15. Schaltungsanordnung nach Anspruch 14, dadurch
gekennzeichnet, dass der definierte Teilbetrag der gegebenen
Potentialdifferenz (H - L) an oder nahe der unteren Grenze des
Bereichs von Werten liegt, die eindeutig unterscheidbar grö
ßer sind als die zu erwartende Maximalamplitude der besagten
Fluktuationen des Wortleitungspotentials.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2000150770 DE10050770A1 (de) | 2000-10-13 | 2000-10-13 | Schaltungsanordnung zum Steuern der Wortleitungen einer Speichermatrix |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2000150770 DE10050770A1 (de) | 2000-10-13 | 2000-10-13 | Schaltungsanordnung zum Steuern der Wortleitungen einer Speichermatrix |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10050770A1 true DE10050770A1 (de) | 2002-05-02 |
Family
ID=7659657
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DE2000150770 Ceased DE10050770A1 (de) | 2000-10-13 | 2000-10-13 | Schaltungsanordnung zum Steuern der Wortleitungen einer Speichermatrix |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10050770A1 (de) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0019241A1 (de) * | 1979-05-10 | 1980-11-26 | Nec Corporation | Wortleitungsauswahl in einer Halbleiterspeichervorrichtung |
US4379346A (en) * | 1979-07-26 | 1983-04-05 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device |
-
2000
- 2000-10-13 DE DE2000150770 patent/DE10050770A1/de not_active Ceased
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0019241A1 (de) * | 1979-05-10 | 1980-11-26 | Nec Corporation | Wortleitungsauswahl in einer Halbleiterspeichervorrichtung |
US4379346A (en) * | 1979-07-26 | 1983-04-05 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device |
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