DE10044827A1 - Verfahren und Vorrichtung zur optisch-spektroskopischen Messung von Stoffkonzentrationen in Stoffen oder Stoffgemischen - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur optisch-spektroskopischen Messung von Stoffkonzentrationen in Stoffen oder Stoffgemischen

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Abstract

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur optisch-spektroskopischen Messung von Stoffkonzentrationen in Stoffen oder Stoffgemischen unter Verwendung monochromatisch strahlender Lichtquellen sowie von Strahlungsdetektoren, die Betandteil eines Mess- und Referenzkanals sind. Erfindungsgemäß werden mindestens zwei, bevorzugt eine Vielzahl monochromatischer Lichtquellen jeweils unterschiedlicher Emissionswellenlänge einzeln mittels einer Schalteinrichtung angesteuert, wobei die Strahlungsenergie der Lichtquellen auf einen, vorzugsweise faseroptischen, Intensitätsteiler geführt ist. Im gemeinsamen Ausgang des Intensitätsteilers wird Strahlungsenergie sowohl für den Mess- als auch für den Referenzkanal ausgekoppelt.

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur optisch-spektroskopischen Messung von Stoffkonzentrationen in Stoffen oder Stoffgemischen unter Verwendung monochromatischer Lichtquellen sowie von Strahlungsdetektoren, die Bestandteil eines Mess- und Referenzkanals sind, gemäß Oberbegriff des Patentanspruchs 1 oder 4.
Spektroskopische Konzentrationsmessungen mittels elektro­ magnetischer Strahlung im UV-, im visuellen Bereich, im nahen oder mittleren Infrarot auf der Grundlage der Auswertung des Lambert-Beerschen Gesetzes sind seit längerer Zeit bekannt. Bei derartigen Messungen wird ein breiter Spektralbereich der Strahlung genutzt, was zu einem hohen apparativen Aufwand führt.
Eine ebenfalls bekannte, jedoch einfachere Methode besteht im Verwenden optischer Filter, so dass nur einzelne Spektralbe­ reiche, in denen die signifikante Wellenlängeninformation enthalten ist, für die Messung und anschließende Berechnung heranzuziehen sind.
Von Nachteil ist hierbei, dass die eingesetzten Filter relativ große optische Durchlassbereiche besitzen, so dass Ungenauig­ keiten und Fehlmessungen die Folge sind, da nicht exakt die gewünschte Spektralbande getroffen wird oder Überlagerungen entstehen. Weiterhin besteht das Problem, dass einzusetzende Filter merkliche Transmissions- und Reflexionsverluste auf­ weisen. Letztendlich sind Filter mit extrem schmalen Durch­ lassbereichen außerordentlich teuer, so dass sich die Gesamt­ kosten derartiger Messvorrichtungen erhöhen.
Als ideale leistungsfähige Lichtquelle für spektroskopische Messungen sind Continuous Wave- oder quasi Continuous Wave- Laser mit sehr schmalbandiger Emission ideal, wenn diese über einen Bereich von mehreren hundert Nanometern durchstimmbar sind. Derartige Lasersysteme sind jedoch bisher nur für wenige Wellenlängenbereiche und mit Hilfe teurer Aufbauten im Labor realisierbar. Aus den vorgenannten Gründen ist eine praktische Anwendung z. B. in der chemischen Industrie unter den dort gegebenen Bedingungen, aber auch aus Kostengründen bisher nicht erfolgt. Weiterhin muss nicht der gesamte Spektralbereich eines klassischen Spektrometers oder Interferometers für die spätere konkrete Anwendung vorhanden sein, da nach einer Evaluierung oder Methodenentwicklung entsprechend der jeweiligen Messauf­ gabe im Regelfall des sequentielle Messen in bestimmten Spek­ tralbereichen zur Lösung der Überwachungsaufgabe ausreichend ist.
Für Messungen in Gasen sind seit einiger Zeit leistungsfähige Diodenlaser bekannt, die eine sehr schmalbandige Strahlung emittieren und zudem günstige Voraussetzungen für ein best­ mögliches Signal-Rausch-Verhältnis bieten. Das Problem der Langzeitstabilität wird durch einen zweiten parallelen Detektor im Referenzkanal gelöst. Ein Teil der bekannten Diodenlaser können über die Temperatur und den Strom, d. h. über die Ver­ lustleistung in geringen Grenzen in ihrer Wellenlänge verstimmt oder verändert werden. Spektrale Mehrbereichsmessungen sind jedoch nicht möglich, da der Variationsbereich deutlich kleiner als 1 nm ist oder Bruchteil hiervon beträgt.
Für universelle spektrale Messungen in Flüssigkeitsgemischen oder Gasgemischen sind aber Spektralbereiche von mehreren hundert Nanometern zu überstreichen.
Aus dem Vorgenannten ist es daher Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren und eine Vorrichtung zur optisch-spektroskopischen Messung von Stoffkonzentrationen in Stoffen oder Stoffgemischen unter Verwendung monochromatisch strahlender Lichtquellen sowie von Strahlungsdetektoren anzugeben, welche es gestattet, eine spektrale Information aus verschiedenen Spektralbereichen in einfacher Weise zu erhalten und gleichzeitig ein Driften der Signale und damit eine Verschlechterung der Messergebnisse zu vermeiden.
Aus Kostengründen, aber auch aus Gründen der Zuverlässigkeit einer derartig realisierten Messvorrichtung soll nicht auf quasi durchstimmbare Farbstofflaser oder optisch parametrische Oszillatoren zurückgegriffen, sondern nach neuen Möglichkeiten gesucht werden.
Die Lösung der Aufgabe der Erfindung erfolgt mit einem Verfah­ ren in seiner Definition gemäß Patentanspruch 1 sowie mit einer Vorrichtung gemäß den Merkmalen des Patentanspruchs 4.
Die Unteransprüche stellen mindestens zweckmäßige Ausgestal­ tungen und Weiterbildungen der Erfindung dar.
Der Grundgedanke der Erfindung besteht demgemäß darin, mittels mehrerer diskreter Laser- oder vergleichbarer schmalbandiger Lichtquellen spektrale Informationen aus verschiedenen Spektralbereichen bei optisch-spektroskopischen Messungen zu gewinnen. Die einzusetzenden Laser bzw. schmalbandigen Lichtquellen emittieren Strahlung verschiedener Wellenlänge, und zwar dort, wo die spektrale Stoffinformation repräsentiert ist. Die Strahlungsenergie wird vorzugsweise über eine Faser­ optik in den Messkanal bzw. die Messküvette oder dergleichen Einrichtung eingekoppelt.
Um zu verhindern, dass die Detektoren des Mess- und des Refe­ renzkanals ein Wellenlängengemisch aus allen Laserwellenlängen erhalten, ist eine Schalteinrichtung vorgesehen, die jeweils nur einen Laser und damit eine diskrete Wellenlänge freigibt.
Nach Bestimmung der Energie der an sich bekannten Detektoren folgt ein Vergleichen und Speichern bzw. Bewerten der Messer­ gebnisse. Im nächsten Schritt wird der momentan wirksame Laser bzw. die relevante Lichtquelle ausgeschaltet und der nächste Laser mit nächster diskreter Wellenlänge aktiviert. Vorstehender Vorgang wird so lange wiederholt, bis der benö­ tigte Spektralbereich quasi stufenweise überstrichen ist.
Für die Berechnung der Energie und der darin enthaltenen Spektralinformation kann auf übliche Algorithmen bekannter Spektrometer oder diskreter Diodenlaser-Anordnungen zurückge­ griffen werden.
Es wird also erfindungsgemäß von mindestens zwei, bevorzugt einer Vielzahl monochromatischer Lichtquellen jeweils unter­ schiedlicher Emissionswellenlänge ausgegangen, die einzeln mittels einer Schalteinrichtung, z. B. einem Mikrocomputer ansteuerbar sind.
Die Strahlungsenergie der Lichtquellen wird auf einen vorzugs­ weise faseroptischen Intensitätsteiler geführt, wobei am gemeinsamen Ausgang des Intensitätsteilers Strahlungsenergie sowohl für den Mess- als auch für den Referenzkanal auskoppel­ bar ist.
Durch das vorzugsweise serielle Schalten wird ein Aktivieren und Deaktivieren der Lichtquellen, insbesondere Laserdioden vorgenommen, wobei hierdurch ein vorgegebener Wellenlängen­ bereich stufenweise oder quasi kontinuierlich überstrichen werden kann.
Durch das serielle Schalten wird jeweils Strahlung einer diskreten Wellenlänge erzeugt, die am gemeinsamen Ausgang des Intensitätsteilers anliegt.
Der Intensitätsteiler kann sowohl aus einer Faseroptik als auch einer dichroitischen Spiegelanordnung bestehen.
Weiterhin besteht die Möglichkeit, mindestens eine der Licht­ quellen mit einem zusätzlichen schmalbandigen Filter zu ver­ sehen, um die Selektionseigenschaften zu verbessern.
Die Faseroptik kann auch in Form sogenannter faseroptischer Taper ausgebildet sein.
Der Mikrocomputer kann erfindungsgemäß sowohl zum gesteuerten Schalten der einzelnen monochromatischen Licht- bzw. Strah­ lungsquellen als auch zum Auswerten, Vergleichen und Speichern der an den Detektoren anliegenden Signale Verwendung finden.
Die Erfindung soll nachstehend anhand eines Ausführungsbei­ spiels und einer Figur näher erläutert werden.
Die Figur zeigt hierbei einen prinzipiellen Aufbau der erfin­ dungsgemäßen Vorrichtung zur optisch-spektroskopischen Messung von Stoffkonzentrationen in Stoffen oder Stoffgemischen unter Verwendung monochromatisch strahlender Lichtquellen.
Ein Mikrocomputer 1 weist einen schaltbaren Ausgang 2 auf, der über geeignete, nicht dargestellte Treiber in der Lage ist, eine Vielzahl monochromatischer Lichtquellen 3 selektiv anzu­ steuern, wobei jede Lichtquelle Strahlung unterschiedlicher Wellenlänge λ1-λn emittiert.
Die Ausgangsenergie der Lichtquellen 3 ist über einen vorzugs­ weise faseroptischen Intensitätsteiler 4 zusammengeführt, wobei dort Strahlung für den Referenzkanal respektive den Referenz­ detektor 5 auskoppelbar ist. Über eine weitere Faseroptik gelangt Strahlung zum Messkanal, der beispielsweise als Küvette 6 ausführbar ist. Der Messdetektor 7 steht wie der Referenz­ detektor 5 mit Analog/Digital-Wandlern 8 in Verbindung, die auf einen entsprechenden Ausgangsport des Mikrocomputers 1 führen.
Mit Hilfe des Mikrocomputers 1 können also Lichtquellen 3, z. B. in Form von Laserdioden über den schaltbaren Ausgang 2 nach­ einander aktiviert werden, so dass Strahlung ganz unterschied­ licher Wellenlänge auf die Messküvette gelangt, um dann Strahlungsenergie in den relevanten Spektralbanden zur Bestimmung der Stoffkonzentrationen zur Verfügung zu haben.
Durch das serielle Ein- und Ausschalten jeweils nur einer Lichtquelle 3 wird nur die jeweilige Spektralinformation zu den Detektoren 5 und 7 respektive zum Mess- und Referenzkanal geführt. Es ist demnach möglich, ohne Filter eine spektrale Intensitäts-Aussage für jede gegebene Wellenlänge zu berechnen bzw. zu treffen.
Wie zeichnerisch prinzipiell dargestellt, kann die Energie der verschiedenen Lichtquellen 3 über einen Teiler aus z. B. Glas­ fasern zunächst zusammengeführt und dann für den Mess- und Referenzkanal aufgeteilt werden. Zur Energiezusammenführung können gemäß einer Ausführungsform auch faseroptische Taper Verwendung finden. Ebenso ist zur Energiezusammenführung und -aufteilung der Einsatz dichroitischer Spiegel denkbar.
Unter Nutzung der erfindungsgemäßen Vorrichtung kann also nach dem Evaluieren einer bestimmten Messaufgabe mit Hilfe klassi­ scher Spektrometer oder Interferometer ein konkreter Messaufbau bzw. eine konkrete Auswahl von Lichtquellen entsprechender Emissionswellenlänge getroffen und in einer individuellen Anordnung kombiniert werden. Die übrigen Elemente der Vorrich­ tung können dabei unverändert übernommen werden, so dass sich ein besonders vorteilhafter Standardisierungseffekt ergibt. Konstruktiv sind die Lichtquellen 3 austauschbar angeordnet, so dass die gewünschte Multifunktionalität der Vorrichtung gegeben ist.
Durch eine Programmierung des Mikrocomputers 1 kann je nach Messaufgabe eine spezielle Schritt- oder Reihenfolge des Ansteuerns der Lichtquellen vorgegeben werden, um entsprechend konkreter Stoffe oder Stoffkonzentrationen die Mess-Stufigkeit und damit die Auflösung zu verändern bzw. anzupassen.
Bezugszeichenliste
1
Mikrocomputer
2
schaltbarer Ausgang
3
Lichtquellen
4
Intensitätsteiler
5
Referenzdetektor
6
Küvette
7
Messdetektor
8
Analog/Digital-Wandler

Claims (11)

1. Verfahren zur optisch-spektroskopischen Messung von Stoffkonzentrationen in Stoffen oder Stoffgemischen unter Verwendung monochromatisch strahlender Lichtquellen sowie von Strahlungsdetektoren, die Bestandteil eines Mess- und Referenzkanals sind, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens zwei, bevorzugt eine Vielzahl monochromatischer Lichtquellen jeweils unterschiedlicher Emissionswellenlänge einzeln mittels einer Schalteinrichtung ansteuerbar sind und die Strahlungsenergie der Lichtquellen auf einen, vorzugsweise faseroptischen, Intensitätsteiler geführt ist, wobei am gemeinsamen Ausgang des Intensitätsteilers Strahlungsenergie sowohl für den Mess- als auch den Referenzkanal ausgekoppelt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass durch vorzugsweise serielles Schalten ein Aktivieren oder Deaktivieren der Lichtquellen erfolgt, wobei hierdurch ein vorgegebener Wellenlängenbereich stufenweise oder quasi kontinuierlich überstrichen wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass durch das serielle Schalten jeweils Strahlung einer diskreten Wellenlänge erzeugt wird und am gemeinsamen Ausgang des Intensitätsteilers anliegt.
4. Vorrichtung zur optisch-spektroskopischen Messung von Stoffkonzentrationen in Stoffen oder Stoffgemischen unter Verwendung monochromatisch strahlender Lichtquellen sowie von Strahlungsdetektoren, die Bestandteil eines Mess- und Referenzkanals sind, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens zwei, bevorzugt eine Vielzahl von jeweils mono­ chromatischen Lichtquellen unterschiedlicher Wellenlänge strahlungsausgangsseitig mit einem Intensitätsteiler verbunden sind und dieser einen gemeinsamen Ausgang für den Mess- und Referenzkanal aufweist, und dass eine Schalteinrichtung zum selektiven Aktivieren der Lichtquellen vorgesehen ist, die mit einem Mikrocomputer in Verbindung steht.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtquellen strahlungsemittierende Halbleiterdioden sind.
6. Vorrichtung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Intensitätsteiler aus einer Faseroptik oder einer dichroitischen Spiegelanordnung besteht.
7. Vorrichtung nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine der Lichtquellen ein zusätzliches schmalban­ diges Filter aufweist.
8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass am gemeinsamen Ausgang ein Strahlteiler jeweils für den Mess- und Referenzkanal vorgesehen ist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Faseroptik aus einer Taperfolge besteht.
10. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 4 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass eine Einheit zum Auswerten, Vergleichen und Speichern der an den Detektoren anliegenden Signale vorgesehen ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass der Mikrocomputer programmierbare Signale für die Schaltein­ richtung bereitstellt und gleichzeitig die Auswerte-, Ver­ gleichs- und Speichereinheit umfasst.
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Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1453938A (en) * 1972-10-26 1976-10-27 Bailey Meter Co Monitoring of a gas stream
GB2016684A (en) * 1978-02-15 1979-09-26 Hitachi Ltd Optical measurement system
EP0054292A2 (de) * 1980-12-17 1982-06-23 Siemens Aktiengesellschaft Faseroptische Messeinrichtung
GB2138936A (en) * 1983-04-26 1984-10-31 Gen Electric Co Plc Optical sensor systems
DE3811178A1 (de) * 1987-03-31 1988-10-20 Plessey Overseas Mit lichtleitfasern arbeitender druck- oder verschiebungsfuehler
DE4133131C1 (en) * 1991-10-05 1993-02-18 Ultrakust Electronic Gmbh, 8375 Gotteszell, De Detecting chemical or physical parameters influencing light intensity - using reference and measurement receivers to detect reference and measurement light of respective wavelength components, in synchronism
DE3615260C2 (de) * 1986-05-06 1994-09-01 Krieg Gunther Verfahren und System zur Detektion von optisch absorbierenden Verbindungen in einem Medium durch optische Transmissionsmessung
DE19631423A1 (de) * 1996-08-06 1998-02-12 Karlsruhe Forschzent Verfahren und Vorrichtung zum ortsaufgelösten Substanznachweis

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1453938A (en) * 1972-10-26 1976-10-27 Bailey Meter Co Monitoring of a gas stream
GB2016684A (en) * 1978-02-15 1979-09-26 Hitachi Ltd Optical measurement system
EP0054292A2 (de) * 1980-12-17 1982-06-23 Siemens Aktiengesellschaft Faseroptische Messeinrichtung
GB2138936A (en) * 1983-04-26 1984-10-31 Gen Electric Co Plc Optical sensor systems
DE3615260C2 (de) * 1986-05-06 1994-09-01 Krieg Gunther Verfahren und System zur Detektion von optisch absorbierenden Verbindungen in einem Medium durch optische Transmissionsmessung
DE3811178A1 (de) * 1987-03-31 1988-10-20 Plessey Overseas Mit lichtleitfasern arbeitender druck- oder verschiebungsfuehler
DE4133131C1 (en) * 1991-10-05 1993-02-18 Ultrakust Electronic Gmbh, 8375 Gotteszell, De Detecting chemical or physical parameters influencing light intensity - using reference and measurement receivers to detect reference and measurement light of respective wavelength components, in synchronism
DE19631423A1 (de) * 1996-08-06 1998-02-12 Karlsruhe Forschzent Verfahren und Vorrichtung zum ortsaufgelösten Substanznachweis

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