DE10001675A1 - Vorrichtung zum Analysieren und Verfahren zur genauen Temperaturmessung einer Probe mit großem Durchmesser - Google Patents
Vorrichtung zum Analysieren und Verfahren zur genauen Temperaturmessung einer Probe mit großem DurchmesserInfo
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Abstract
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Thermoanalyse zur genauen Messung der Temperatur einer Probe mit großem Durchmesser, dadurch gekennzeichnet, daß sie aufweist: eine Bezugssubstanz (2), von der die Temperaturabhängigkeit eines Wertes einer physikalischen Eigenschaft bekannt ist; einen Ofen (21) zur Veränderung der Temperautren einer Probe (1) und der Bezugssubstanz (2); eine Meßeinrichtung zur Messung einer physikalischen Eigenschaft, die Veränderungen in den Werten der physikalischen Eigenschaft der Probe und der Bezugssubstanz kontinuierlich messen kann; und einen Wert der physikalischen Eigenschaft der Bezugssubstanz/Temperatur-Umwandler (29) zum Umwandeln eines Meßwertes einer physikalischen Eigenschaft zu jedem Zeitpunkt in die Temperatur der Bezugssubstanz (2) zu diesem Zeitpunkt; wobei kontinuierlich die Information über die Veränderungm der physikalischen Eigenschaft der Bezugssubstanz in ein Temperatursignal umgewandelt wird, das die Probetemperatur anzeigt, sowie ein Verfahren zur Thermoanalyse zur genauen Messung der Temperatur einer Probe mit großem Durchmesser.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Thermo
analyse und ein Thermoanalysenverfahren, um festzustellen, wie
sich die physikalischen Eigenschaften eines Materials mit der
Temperatur ändern. Die Erfindung betrifft insbesondere eine
neue Verbesserung, um Unsicherheiten bei der Temperaturmessung
auszuschalten, die beim Messen einer Probe mit großen Ausmaßen
unvermeidlich auftreten.
Mit der Thermoanalyse werden die Veränderungen der physikali
schen oder chemischen Eigenschaften eines Materials als Funk
tion der Temperatur analysiert, und sie basiert auf der gleich
zeitigen Messung der Temperatur und der physikalischen Eigen
schaften des Materials. Abhängig von der Axt der zu messenden
physikalischen Eigenschäften wurden bis jetzt verschiedene
thermoanalytische Verfahren entwickelt, von denen die nächstste
hend angegebenen typische Verfahren sind, wobei das Verfahren
und die damit zu bestimmenden physikalischen Eigenschaften an
gegeben sind.
Differentialscanningkalorimetrie (DSC): differentieller Wärme
fluß
Thermogravimetrie (TG) Gewicht
Thermomechanische Analyse (TMA): Dimension
Dynamische thermomechanische Analyse (DMA): Elastizitätsmodul
Dielektrische Thermoanalyse (DETA): Dielektrizitätskonstante
Thermogravimetrie (TG) Gewicht
Thermomechanische Analyse (TMA): Dimension
Dynamische thermomechanische Analyse (DMA): Elastizitätsmodul
Dielektrische Thermoanalyse (DETA): Dielektrizitätskonstante
In diesen Thermoanalysen wurden die Temperaturen der Probe
durch Temperatursensoren, wie z. B. Thermoelemente und Wider
standsthermometer, die zu den Proben benachbart angeordnet
sind, gemessen.
Um die Temperatur einer Probe genau zu messen, soll eine Tem
peraturverteilung in der Probe vermieden werden. In der Thermo
analyse ist es deshalb aufgrund dieser Tatsache allgemeine Pra
xis, die Messung durchzuführen, indem man die Menge der Probe
so gering wie möglich macht, solange die Empfindlichkeit der
Messung der physikalischen Eigenschaft nicht unzureichend wird.
Das Verfahren zur Verringerung der Probenmenge ist für viele
Anwendungen wirkungsvoll, bei denen die Verteilung der Bestand
teile in einer Probe keine Probleme verursacht. Insbesondere
bei der DSC und TG sind signifikante Resultate zu erhalten. Bei
der DSC und TG wird außerdem die Temperaturverteilung unter
drückt, indem man eine Probe in ein Gefäß aus. Aluminium oder
einem ähnlichen Material mit einer guten Wärmeleitfähigkeit
gibt. Zur Bestimmung der Temperatur wird ein Temperatursensor,
wie z. B. ein Thermoelement, der in Kontakt mit einem Probenge
fäß steht verwendet.
In der DSC und TG ist es deshalb möglich, durch eine Verringe
rung der Probenmenge leicht drei Ziele zu erreichen, nämlich
eine homogene Erhitzung der Probe durch ein Gefäß mit guter
Wärmeleitfähigkeit, und einen Kontakt zwischen der Probe und
dem Temperatursensor. Sie stellen deshalb einen großen Beitrag
zu einer genauen Messung der Temperatur einer Probe dar.
Im Falle von TMA oder DMA ist es jedoch schwierig, unter sol
chen Bedingungen, wie einer Verringerung der Probenmenge und
einem homogenen Erhitzen aufgrund eines entsprechenden Gefäßes,
wie dies leicht nach der DSC und der TG möglich ist, zu arbei
ten. Die genaue Messung der Probentemperatur wird in diesen
Situationen schwierig.
Ihrer Natur nach beziehen die DSC und TG sich nicht auf die
Probenform, während bei der DMA die Information über die Pro
benlänge wichtig ist. Bei der Messung des Ausdehnungskoeffi
zienten als eine der wichtigsten Anwendungen der TMA ist es
z. B. notwendig, die genaue Anfangslänge der Probe zu kennen.
Die TMA betrifft den Elastizitätsmodul einer Probe als Verhält
nis von verursachter Beanspruchung und Verformung. Um den Ela
stizitätsmodul genau zu bestimmen, ist es deshalb wesentlich,
zumindest die dreidimensionale Form einer Probe genau zu ken
nen.
In der TMA und DMA zeigt die Probe die Tendenz, sich im Durch
messer zu vergrößern, und kann deshalb nicht als Verfahren zur
Verbesserung der Meßgenauigkeit der Probentemperatur verwendet
werden, wie z. B. eine Verringerung der Probenmenge und ein ho
mogenes Erhitzen.
Aufgrund des Erfordernisses, daß eine hochgenaue Dimensionsmes
sung oder Verformungsmessung nicht beeinträchtigt werden soll,
ist es außerdem schwierig, einen Temperatursensor in Kontakt
mit einem Probenzentrum zu bringen. Aber selbst wenn die Mes
sung mit einem Temperatursensor, der in Kontakt mit der Probe
steht, durchgeführt werden könnte, besteht aufgrund der durch
die Vergrößerung des Durchmessers verursachten Temperaturver
teilung das Problem, ob die gemessene Probentemperatur die ge
naue Probentemperatur an jeder Stelle darstellt.
Wie vorstehend angegeben, besteht bei der TMA und DMA die Ten
denz, daß die Probe ihren Durchmesser vergrößert. Aufgrund die
ser Tatsache hat sich das Problem ergeben, daß die Temperatur
messung der Probe ungenau ist.
Wenn man den thermischen Ausdehnungskoeffizienten exakt be
stimmt, kann der Grad der Ausdehnung der Probe vergleichsweise
genau bestimmt werden. Es bestand jedoch ein Problem, die Pro
bentemperatur genau zu messen.
Die vorliegende Erfindung wurde entwickelt, um die vorstehend
genannten Probleme zu lösen.
Gegenstand der Erfindung ist eine Vorrichtung zur Thermoanalyse
zur genauen Messung der Temperatur einer Probe mit großem
Durchmesser gemäß Anspruch 1; die Ansprüche 2 und 3 betreffen
bevorzugte Ausführungsformen davon. Weiterer Gegenstand ist
auch ein Verfahren zur Thermoanalyse zur genauen Messung der
Temperatur einer Probe mit großen Durchmesser gemäß Anspruch 4.
In einem Thermoanalyseverfahren, wie z. B. TMA oder DMA, das
unvermeidlich mit einem Anstieg des Durchmessers einer Probe
verbunden ist, wird zunächst eine Bezugssubstanz mit einer be
kannten Temperaturabhängigkeit des Wertes einer physikalischen
Eigenschaft und einer Probe, deren physikalische Eigenschaft
gemessen werden soll, im gleichen Ofen unter den gleichen Heiz
bedingungen kontinuierlich erhitzt. Danach wird anstelle der
Messung der Probentemperatur unter Verwendung eines Temperatur
sensors, wie z. B. eines Thermoelements, der zur Probe benach
bart angeordnet ist, ein durch Messung eines physikalischen Ei
genschaftswertes der Bezugssubstanz erhaltene Veränderung einer
physikalischen Eigenschaft in ein Signal für eine Temperaturän
derung umgewandelt. Wenn die Veränderung der physikalischen Ei
genschaft bei der Bezugssubstanz und der Probe unter den glei
chen Heizbedingungen getrennt gemessen werden, kann die Verän
derung der physikalischen Eigenschaft der Bezugssubstanz in Be
zug auf die verstrichene Zeit vom Beginn der Messung in eine
Temperaturveränderung der Probe im Hinblick auf die verstriche
ne Zeit umgewandelt werden. Nachfolgend wird die Analyse ähn
lich zur üblichen Thermoanalyse durchgeführt.
In diesem Verfahren wird die Änderung der physikalischen Eigen
schaft der Bezugssubstanz als Temperatursensor verwendet. Auch
in einer Probe mit einem großen Durchmesser tritt dann keine
Verringerung der Genauigkeit der Temperaturmessung auf, die
sich durch die Anordnung oder Kontaktierbarkeit eines Tempera
tursensors ergeben würde.
Fig. 1 ist eine teilweise als Blockdiagramm angegebene Schnitt
ansicht, die eine erfindungsgemäße Ausführungsform darstellt.
1
Probe
2
Bezugssubstanz
3
Probenhalterung
4
Mikrometerschraube
5
Seitlicher Probensensor
6
Seitlicher Bezugssubstanzsensor
7
a,
8
a Kern
7
b,
8
b Differentialumwandler
9
,
10
Halteelement
11
,
12
Waagebalken
11
a,
12
a Sondenstützpunkt
11
b,
12
b Hauptstützpunkt
11
c,
12
c Spulenstützpunkt
12
,
16
Spulenhalterung
14
,
17
Spule
15
,
18
Permanenter Magnet
19
,
20
Tisch
21
Ofen
22
Bewegungsmechanismus
23
Gehäuse
24
Temperaturregler
26
,
26
Krafterzeugende Schaltung
27
Probenausdehnungsmeßschaltung
28
Bezugssubstanzausdehnungsmeßschaltung
29
Bezugsausdehnung/Temperatur-Umwandler
30
Subtrahierer
Die Erfindung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die Zeich
nung näher beschrieben.
In Fig. 1 bedeutet das Bezugszeichen 1 eine zu messende Probe,
und 2 eine Bezugssubstanz mit einem bekannten thermischen Aus
dehnungskoeffizienten. Die Probe 1 und die Bezugssubstanz 2
sind in der gleichen säulenförmigen Gestalt ausgebildet. Die
Probe 1 und die Bezugssubstanz 2 ruhen, symmetrisch links und
rechts angeordnet, auf der Bodenfläche einer Probenhalterung 3,
die aus einem mit Boden versehenen Rohr aus Quarzglas als Mate
rial mit niedriger Ausdehnung ausgebildet ist. An der oberen
Fläche der Probe 1 und der Bezugssubstanz 2 ruhen eine Proben
seitensonde 5 bzw. eine Bezugsseitensonde 6, die in verzweigter
Stabform aus Quarzglas ausgebildet sind.
Die vertikalen Versetzungen der Probenseitensonde 5 und der Be
zugsseitensonde 6 werden als relative Verschiebungen zu den
Differentialumwandlern 7b, 8b der Kerne 7a, 8a, die an einem
Verzweigungsabschnitt vorgesehen wird, bestimmt, und durch eine
Probenausdehnungsmeßschaltung 27 und eine Bezugsausdehnungsmeß
schaltung 28 gemessen.
Die Probenhalterung 3 ist an ihrem oberen Teil durch eine Mi
krometerschraube 4 zur vertikalen Bewegung relativ zu einem Ge
häuse 23 fixiert. Die Differentialumwandler 7b, 8b sind an dem
Gehäuse durch Halteelemente 9, 10 fixiert.
Die Probenseitensonde 5 und die Bezugsseitensonde 6 sind an ih
ren oberen Enden durch Sondenstützpunkte 11a, 12a eines Waage
balkens 11, 12 in drehbarer Weise gestützt.
Der Waagebalken 11 weist einen Hauptstützpunkt 11b auf, der im
Gehäuse 23 drehbar gelagert ist, und einen Spulenstützpunkt
11c, der in einer Spulenhalterung 13 gelagert ist. Eine um die
Spulenhalterung 13 umgewickelte Spule 14 befindet sich in einem
radialen Magnetfeld, das durch einen permanenten Magneten 15
ausgebildet wird. Der permanente Magnet 15 ist an das Gehäuse
23 über einen Tisch 19 fixiert.
Auf ähnliche Weise ist der Waagebalken 12 beim Hauptstützpunkt
12b im Gehäuse 23 gelagert, und am Spulenstützpunkt 12c ist ei
ne Spulenhalterung 16 gelagert. Eine um die Spulenhalterung 16
umgewickelte Spule 17 befindet sich in einem durch einen perma
nenten Magnet 18 ausgebildeten radialen Magnetfeld. Der perma
nente Magnet 18 ist ebenfalls über einen Tisch 20 an das Gehäu
se 23 fixiert.
Die mit den Spulen 14, 17 verbundenen krafterzeugenden Schal
tungen 25 bzw. 26 steuern einen durch die Spülen 14, 17 flie
ßenden Strom, um die durch die Spule 14 und den permanenten
Magneten 15 bzw. die Spule 17 und den permanenten Magneten 18
ausgebildete Kraft zu regulieren.
Der Differentialumwandler 7b ist mit der Probenausdehnungsmeß
schaltung 27 verbunden, während der Differentialumwandler 8b
mit der Bezugsausdehnungsmeßschaltung 28 verbunden ist. Die
Bezugsausdehnungsmeßschaltung 28 ist mit einem Bezugsausdeh
nung/Temperatur-Umwandler 29 verbunden, um die Temperatur einer
Bezugssubstanz aus dem Maß der Ausdehnung der Bezugssubstanz zu
bestimmen. Die Probenausdehnungsmeßschaltung 27 und die Bezugs
ausdehnungsmeßschaltung 28 sind mit einem Subtrahierer 30 ver
bunden. Der Subtrahierer 30 bestimmt die Differenz im Ausmaß
der Ausdehnung zwischen der Probe und der Bezugssubstanz.
Um die Probenhalterung 3 ist ein Ofen 21 angeordnet. Der Ofen
21 kann durch einen Bewegungsmechanismus 22 vertikal bewegt
werden. Im Ofen 21 wird die Temperatur als Funktion der seit
dem Startzeitpunkt der Messung verstrichenen Zeit durch einen
Temperaturregler 24 reguliert.
Nachfolgend wird der Betrieb der Vorrichtung der erfindungsge
mäßen Ausführungsform erläutert.
Die Bedienungsperson setzt zunächst den Bewegungsmechanismus 22
in Betrieb, und senkt den Ofen 21 ab, und gibt zwischen die
Probenhalterung 3 und die Probenseitensonde 5 und Bezugsseiten
sonde 6 eine Probe 1 und eine Bezugssubstanz 2. Die Bedienungs
person schaltet die krafterzeugenden Schaltungen 25, 26 ein, um
an die zu messende Probe 1 und Bezugssubstanz 2 eine Kraft an
zulegen. Als Ergebnis fließt durch die Spule 14, 17 aufgrund
des Betriebes der krafterzeugenden Schaltung 25, 26 Strom, wo
durch vertikale Kräfte an die Spulenstützpunkte 11c, 12c durch
die Spulenhalterungen 13, 16 angelegt werden. Die an die Spu
lenhalterungen 11c, 12c angelegten Kräfte werden über die
Hauptstützpunkte 11b, 12b der Waagebalken 11, 12 an die Sonden
stützpunkten 11a, 12a weitergeleitet, und dann über die Proben-
Seitensonde 5 und die Bezugsseitensonde 6 an die oberen Enden
der Probe 1 und der Bezugssubstanz 2 appliziert.
Die Betriebsperson stellt dann im Bewegungsmechanismus 22 ein
gewünschtes Temperaturprogramm ein, und führt eine Messung
durch, wodurch die Temperatur der Probe 1 und der Bezugssubstanz
2 aufgrund des Temperaturscannings des Ofens 21 verändert wird.
Vor dem Temperaturscanning, d. h. wenn die gesamte Vorrichtung
sich bei Raumtemperatur befindet, ist die Temperatur des Ofens
21 gleich der Temperatur der Probe 1 oder der Bezugssubstanz 2.
Durch Verwendung der Temperatur des Ofens 21 ist es deshalb mög
lich, die ursprüngliche Temperatur (Raumtemperatur) der Probe 1
und der Bezugssubstanz 2 zu kalibrieren. Wenn die Temperatur des
Ofens 21 gescannt wird, tritt jedoch zwischen dem Ofen 21 und
der Probe 1 und der Bezugssubstanz 2 im allgemeinen eine Tempe
raturdifferenz von mehreren Graden bis zu mehreren 10 Graden
auf. Es ist deshalb unmöglich, die Temperatur des Ofens 21 als
Ersatz für die Temperatur der Probe 1 oder der Bezugssubstanz 2
zu verwenden.
Obwohl die Probe 1 und die Bezugssubstanz 2 sich ausdehnen,
wenn die Temperatur steigt, erscheint das Ausmaß der Ausdehnung
zu diesem Zeitpunkt als relative Verschiebung des Kerns 7a, 8a
in Bezug auf den Differentialumwandler 7b, 8b, der am verzweig
ten Teil der Probenseitensonde 5 oder der Bezugsseitensonde 6
vorgesehen ist, und jede wird durch die Probenausdehnungsmeß
schaltung 27 oder die Bezugssubstanzausdehnungsmeßschaltung 28
bestimmt. Obwohl der durch die Probenausdehnungsmeßschaltung 27
und die Bezugsausdehnungsmeßschaltung 28 zu messende Ausdeh
nungsgrad Differenzen zwischen der Probe 1 und der Probenhal
terung 3, und zwischen der Bezugssubstanz 2 und der Probenhal
terung 3 sind, können sie vernachlässigt werden, wenn der Aus
dehnungsgrad der Probenhalterung im Vergleich zu der der Probe
1 und der Bezugssubstanz 2 ausreichend gering ist.
Weil die Bezugssubstanz 2 einen bekannten thermischen Ausdeh
nungskoeffizienten besitzt, ist der Grad der Ausdehnung bei ei
ner bestimmten Temperatur bereits bekannt. Mit anderen Worten
ist es möglich, eine mittlere Temperatur der Bezugssubstanz 2
aus dem Ausdehnungsgrad der Bezugssubstanz 2 zu kennen. Der Be
zugsausdehnung/Temperatur-Umwandler 29 wandelt den Grad der
Ausdehnung der Bezugssubstanz 2 in die Temperatur der Bezugs
substanz 2 um. Weil die Probe 1 und die Bezugssubstanz 2 die
gleiche Form besitzen, und sich symmetrisch innerhalb des Ofens
21 befinden, ist die Temperaturdifferenz zwischen den beiden
äußerst gering. Die Temperatur der Bezugssubstanz 2 kann des
halb die Temperatur der Probe 1 substituieren. Der Ausgabewert
des Bezugsausdehnung/Temperatur-Umwandlers 29 stellt deshalb
ein Temperatursignal für eine kontinuierliche Messung der Tem
peratur der Probe 1 dar.
Für den Fall, daß die Ausdehnung der Probenhalterung 3 nicht
vernachlässigt werden kann, kann eine genaue Temperatur be
stimmt werden, wenn man dem Bezugsausdehnung/Temperatur-Umwand
ler 29 die Daten zuführt, die den Ausdehnungsgrad der Proben
halterung 3 beeinflussen, d. h. die Daten des Ausdehnungsgrades
der Probenhalterung 3, addiert zum Ausdehnungsgrad, der von der
Bezugsausdehnungsmeßschaltung gemessen wird. In diesem Fall be
sitzt die Probenhalterung einen bekannten thermischen Ausdehn
ungskoeffizienten.
Im Subtrahierer 30 wird die Differenz der Ausgabewerte zwischen
der Probenausdehnungsmeßschaltung 27 und der Bezugsausdehnungs
meßschaltung 28 bestimmt, die eine differentielle Ausdehnung
(Differenz im Ausdehnungsgrad) zwischen der Probe 1 und der Be
zugssubstanz 2 darstellt. Die Wirkung der Ausdehnung der Pro
benhalterung 3 wird aufgehoben, und ist deshalb im Ausgabewert
des Subtrahierers 30 nicht enthalten. Der Ausdehnungsgrad der
Probe 1 kann deshalb genau bestimmt werden, indem man einfach
den bekannten Ausdehnungsgrad der Bezugssubstanz 2 zum Ausga
bewert des Subtrahierers 30 hinzuaddiert. Die resultierenden
Daten werden kontinuierlich als TMA-Signal ausgegeben.
Aus dem so erhaltenen Temperatursignal und TMA-Signal der Probe
1 wird die Analyse dann auf ähnliche Weise wie im Falle einer
üblichen Thermoanalyse durchgeführt.
Die vorliegende Ausführungsform wurde für den Fall erläutert,
daß die zu messende physikalische Eigenschaft eine Materialaus
dehnung ist, die auf der Struktur der TMA-Vorrichtung vom Dif
ferentialtyp basiert.
Es ist jedoch selbstverständlich, daß die Anwendung der vorlie
genden Erfindung nicht auf eine TMA-Vorrichtung vom Differen
tialtyp beschränkt ist. Wenn die Bezugssubstanz und die Probe
z. B. hintereinander unter den gleichen Bedingungen gemessen
werden, kann die vorliegende Erfindung auch auf eine TMA-Vor
richtung, die nicht eine solche vom Differentialtyp ist, ange
wendet werden.
Wenn der Elastizitätsmodul, die Dielektrizitätskonstante oder
die Wärmekapazität als zu messende physikalische Eigenschaft
ausgewählt werden, ist es ebenfalls möglich, eine DMA, DETA
oder DSC-Vorrichtung mit einer hohen Temperaturmeßgenauigkeit
unter Anwendung der vorliegenden Erfindung zu konstruieren.
Wie vorstehend erläutert, ist es, weil die Temperatur einer
Probe durch Bestimmen des Ausdehnungsgrades einer Bezugssub
stanz bestimmt werden kann, erfindungsgemäß nicht notwendig,
einen Temperatursensor, wie z. B. ein Thermoelement, der Probe
benachbart anzuordnen. Eine mühsame Temperatureichung ist des
halb unnötig.
Weil die Bezugssubstanz im wesentlichen die Rolle eines Tempe
ratursensors spielt, besteht keine Tendenz, daß eine Differenz
der Wärmekapazität zwischen der Probe und dem Temperatursensor
auftritt. Deshalb tritt kein Fehler in der Temperaturbestimmung
auf, der auf einer Differenz der thermischen Reaktion zwischen
der Probe und dem Sensor beruht. Selbst wenn eine erhöhte Ver
besserung der Meßeffizienz verlangt wird, und die Temperatur
scanningrate erhöht wird, ist es z. B. möglich, eine Verringe
rung der Genauigkeit der Temperaturmessung auf ein Minimum zu
reduzieren.
Weil im Prinzip eine durchschnittliche Temperatur, die die
Temperaturverteilung innerhalb der Substanz einschließt, als
Temperatursignal ausgegeben wird, ist es außerdem auch dann,
wenn die Probe einen erhöhten Durchmesser besitzt und eine
Temperaturverteilung innerhalb der Probe existiert, möglich,
die durchschnittliche Temperatur der Probe exakt zu bestimmen.
D. h., die Messung ist frei von den Problemen der Temperatur
messung, die sich aus der relativen Stellung, Kontaktierbar
keit, dem Kontaktpunkt oder dergleichen einer Probe mit großem
Durchmesser und dem Temperatursensor ergeben, wie sie bei Mes
sungen mit einem Temperatursensor üblicher Art auftreten.
Dadurch kann z. B. bei einer genauen Messung des Ausdehnungsko
effizienten, bei der die Temperaturmeßgenauigkeit wichtig ist,
die Meßgenauigkeit stark verbessert werden. Bei gleicher Meßge
nauigkeit ist es möglich, durch Erhöhen der Temperaturscanning
rate die Meßzeit im Vergleich zur konventionellen Methode zu
verkürzen. Dadurch läßt sich die Meßeffizienz stark verbessern.
1
Probe
2
Bezugssubstanz
3
Probenhalterung
4
Mikrometerschraube
5
Seitlicher Probensensor
6
Seitlicher Bezugssubstanzsensor
7
a,
8
a Kern
7
b,
8
b Differentialumwandler
9
,
10
Halteelement
11
,
12
Waagebalken
11
a,
12
a Sondenstützpunkt
11
b,
12
b Hauptstützpunkt
11
c,
22
c Spulenstützpunkt
12
,
16
Spulenhalterung
14
,
17
Spule
15
,
18
Permanenter Magnet
19
,
20
Tisch
21
Ofen
22
Bewegungsmechanismus
23
Gehäuse
24
Temperaturregler
26
,
26
Krafterzeugende Schaltung
27
Probenausdehnungsmeßschaltung
28
Bezugssubstanzausdehnungsmeßschaltung
29
Bezugsausdehnung/Temperatur-Umwandler
30
Subtrahierer
Claims (4)
1. Vorrichtung zur Thermoanalyse zur genauen Messung der Tem
peratur einer Probe mit großem Durchmesser,
dadurch gekennzeichnet, daß sie aufweist:
eine Bezugssubstanz (2), von der die Temperaturabhängig keit eines Wertes einer physikalischen Eigenschaft bekannt ist;
einen Ofen (21) zur Veränderung der Temperaturen einer Probe (1) und der Bezugssubstanz (2);
eine Meßeinrichtung zur Messung einer physikalischen Ei genschaft, die Veränderungen in den Werten der physikali schen Eigenschaft der Probe und der Bezugssubstanz kontinu ierlich messen kann; und
einen Wert der physikalischen Eigenschaft der Bezugssub stanz/Temperatur-Umwandler (29) zum Umwandeln eines Meßwer tes einer physikalischen Eigenschaft zu jedem Zeitpunkt in die Temperatur der Bezugssubstanz (2) zu diesem Zeitpunkt;
wobei kontinuierlich die Information über die Veränderung der physikalischen Eigenschaft der Bezugssubstanz in ein Temperaturdetektionssignal umgewandelt wird, das die Pro betemperatur anzeigt.
eine Bezugssubstanz (2), von der die Temperaturabhängig keit eines Wertes einer physikalischen Eigenschaft bekannt ist;
einen Ofen (21) zur Veränderung der Temperaturen einer Probe (1) und der Bezugssubstanz (2);
eine Meßeinrichtung zur Messung einer physikalischen Ei genschaft, die Veränderungen in den Werten der physikali schen Eigenschaft der Probe und der Bezugssubstanz kontinu ierlich messen kann; und
einen Wert der physikalischen Eigenschaft der Bezugssub stanz/Temperatur-Umwandler (29) zum Umwandeln eines Meßwer tes einer physikalischen Eigenschaft zu jedem Zeitpunkt in die Temperatur der Bezugssubstanz (2) zu diesem Zeitpunkt;
wobei kontinuierlich die Information über die Veränderung der physikalischen Eigenschaft der Bezugssubstanz in ein Temperaturdetektionssignal umgewandelt wird, das die Pro betemperatur anzeigt.
2. Vorrichtung zur Thermoanalyse zur genauen Messung der Tem
peratur einer Probe mit großem Durchmesser nach Anspruch
1,
dadurch gekennzeichnet, daß der Wert der
physikalischen Eigenschaft der Ausdehnungsgrad oder Aus
dehnungskoeffizient des Materials ist.
3. Vorrichtung zur Thermoanalyse zur genauen Messung der Tem
peratur einer Probe mit großem Durchmesser nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß der Ofen (21) das Material mit
hoher Reproduzierbarkeit im Hinblick auf die nach dem Start
der Messung verstreichende Zeit erhitzen kann, und der Wert
der physikalischen Eigenschaft der Bezugssubstanz/Tempera
tur-Umwandler (29) ein Meßergebnis des Wertes der physika
lischen Eigenschaft der Bezugssubstanz (2) in die Tempera
tur der Bezugssubstanz (2) umwandelt, indem er als Parame
ter die nach dem Start der Messung verstrichene Zeit ver
wendet.
4. Verfahren zur Thermoanalyse zur genauen Messung der
Temperatur einer Probe mit großem Durchmesser,
gekennzeichnet durch die Stufen: Bestimmen
der Temperatur einer Probe zu jedem Zeitpunkt aus der In
formation über den Wert einer physikalischen Eigenschaft
einer Bezugssubstanz auf der Basis der Meßergebnisse eines
Wertes der physikalischen Eigenschaft der Bezugssubstanz
und der Probe, die im gleichen Ofen oder unter den glei
chen Heizbedingungen gemessen werden, und Durchführen der
Analyse in Kombination mit dem Meßergebnis des Wertes der
physikalischen Eigenschaft der Probe.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11-9611 | 1999-01-18 | ||
JP00961199A JP3883724B2 (ja) | 1999-01-18 | 1999-01-18 | 熱機械測定装置および方法 |
US09/482,807 US6390674B1 (en) | 1999-01-18 | 2000-01-13 | Thermal analysis apparatus and method capable of accurately measuring a temperature of a large diameter sample |
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DE10001675B4 DE10001675B4 (de) | 2006-09-21 |
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---|---|
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