DD226086A1 - Schaltungsanordnung zur belastungslosen pruefung der kontaktguete von kondensatoren - Google Patents

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zur belastungslosen Pruefung der Kontaktguete von Kondensatoren. Die Erfindung bezieht sich auf das Gebiet der Kontaktpruefung der Anschlusselemente von elektronischen Bauelementen, insbesondere Kondensatoren. Es ist das Ziel der Erfindung, die bereits bekannte Schaltungsanordnung zur belastungslosen Pruefung von Kontaktierungen von elektrischen Kondensatoren so zu veraendern, dass durch Wegfall der bisher notwendigen stetigen Verstaerkungsnachstellung eine konstantere Pruefung gewaehrleistet wird. Es ist die Aufgabe der Erfindung, die bekannte Schaltungsanordnung so zu verbessern, dass eine konstante Pruefschaerfe der Kontaktierung ueber einen Kapazitaetsnennwertbereich erreicht wird. Erfindungsgemaess wird die Aufgabe dadurch geloest, dass in den Rueckkopplungszweig des Oszillators einstellbare Reaktanzen oder Impedanzen geschaltet werden, die eine Kompensationswirkung haben und dadurch die Kapazitaetsabhaengigkeit des Schwingeinsatzes des Oszillators beseitigt wird.

Description

Anwendungsgebiet der Erfindung

Die Erfindung betrifft eine weitere Ausgestaltung einer Schaltungsanordnung zur belastungslosen Prüfung der Kontaktgüte von elektrischen Kondensatoren, insbesondere von Kunststoffolie-Wickelkondensatoren. Die Erfindung ist in der elektronischen Bauelementeindustrie anwendbar.

Charakteristik der bekannten technischen Lösung

Es sind eine Reihe von Verfahren und Schaltungsanordnungen bekannt, bei denen der Kontaktwiderstand, dessen Höhe und zeitliche Konstanz ein Maß für die Kontaktgüte ist, gemessen wird. Man geht bei diesen bekannten Meßverfahren davon aus, daß die Widerstände der Beläge, die Dielektrikumsverluste und der Kontaktwiderstand der Anschlußdrähte im Ersatzschaltbild als Serienwiderstände dargestellt werden können. Werden bei einem Meßobjekt die Widerstände der Beläge und die Dielektrikumsverluste im Verlauf des Meßprozesses als konstant angesehen, so verbleibt nur der Kontaktwiderstand, der Änderungen unterworfen sein kann. Bei den bisher bekannten Meßverfahren wird die elektrische Kontaktierung von einem Meßstrom durchflossen, der unter Umständen eventuell vorhandene Fremd- bzw. Oxydschichten der Kontaktierung verändern

Deshalb ist eine Schaltungsanordnung bekannt gemacht worden, die die Kontaktgüte einer Kontaktierung belastungslos prüft.

In dieser Anordnung wird der zu prüfende Kondensator mit einer Spule hoher Güte zu einem Parallelschwingkreis geschaltet und als frequenzbestimmendes Glied des so gebildeten Oszillators verwandt.

Im Oszillator ist die Rückkopplung und die Verstärkung veränderlich gestaltet und somit die Möglichkeit geschaffen, den Oszillator stets an der Anschwinggrenze zu betreiben. Der Schwingeinsatzpunkt des Oszillators hängt von den Kondensatorverlusten ab, und stellt somit ein Kriterium der zu prüfenden Kontaktierung dar.

Nachteilig bei dieser Schaltungsanordnung ist die Kapazitätsabhängigkeit des Schwingeinsatzes des Oszillators. Für eine konstante Prüfschärfe ist bei einem derart betriebenen Oszillator ein Nachstellen der Rückkopplung oder der Verstärkung bei unterschiedlichen Kapazitätswerten innerhalb eines Kapazitätsnennwertbereiches notwendig. Damit ist dieses Verfahren nur bedingt für eine kontinuierliche Fertigungsprüfung geeignet.

Ziel der Erfindung

Es ist das Ziel der Erfindung, die Schaltungsanordnung zur belastungslosen Prüfung von Kontaktierungen von elektrischen Kondensatoren so zu verändern, daß durch eine Vermeidung des stetigen Nachstellens der Rückkopplung oder der Verstärkung eine kontinuierliche Fertigungsprüfung möglich wird.

Darlegung des Wesens der Erfindung

Es ist die Aufgabe der Erfindung, eine verbesserte Schaltungsanordnung zu schaffen, mit der die Kontaktierungen von elektrischen Kondensatoren ohne elektrische Belastung auf deren Kontaktgüte geprüft werden, wobei die Prüfschärfe der Kontaktprüfung über einen Kapazitätsnennwertbereich nahezu konstant bleibt.

Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß in die entsprechend umschaltbaren Rückkopplungszweige unterschiedliche Reaktanzen oder Impedanzen geschaltet werden, die den Schwingeinsatz des Oszillators über den jeweiligen Kapazitätswertnennbereich konstant halten. Die Reaktanzen oder Impedanzen in den Rückkopplungszweigen v/erden durch eine sinnvolle Auswahl von LC-Reihenschaltung, reiner Rückkopplungskapazität oder RC-Reihenschaltung realisiert. Der ursprünglich nicht konstante Schwingeinsatzpunkt des Oszillators wird durch diese gegenläufig wirkende Rückkopplungsschaltung über einen bestimmten Kapazitätsnennwertbereich stabilisiert. Durch diese veränderte Schaltungsanordnung ist es möglich, die Kontaktierung von Kondensatoren im Kapazitätsnennwertbereich mit nahezu konstanter Prüfschärfe zu kontrollieren. Die Vorteile der erfindungsgemäßen Lösung liegen in den nahezu konstanten Anschwingbedingungen über einen bestimmten Kapazitätsbereich und damit ergeben sich wesentlich verbesserte Einsatzbedingungen in einer kontinuierlichen Fertigungsprüfung.

Ausführungsbeispiel

Wie auf der Zeichnung Fig. 1 dargestellt ist, sind im Rückkopplungszweig der veränderten Oszillatorschaltung für die einzelnen Kapazitätsbereiche der Kondensatoren bestimmte Reaktanzen 2 und 3 und Impedanzen 1 zwischengeschaltet, die frequenzabhängig wirken. Bei Versuchen mit der bisher bekannten unveränderten Oszillatorschaltung, bei der die Frequenz der erzeugten Schwingung bei höheren Kapazitätswerten fällt, wurde ermittelt, daß zum Aufrechterhalten der Schwingung bei diesen höheren Kapazitätswerten eine größere Verstärkung vom Transister 4 notwendig ist, d.h. das Potentiometer 5 am Basisspannungsteiler hat für jeden Kapazitätswert einen anderen Einstellwert. Neben diesen Bedingungen ist der Schwingeinsatz auch noch von der Rückkopplung abängig. Die obengenannte Kapazitätsabhängigkeit des Schwingeinsatzes wird durch eine entsprechende Beschaltung des Rückkopplungszweiges mit bestimmten ausgewählten Impedanzen 1 und Reaktanzen 2 und 3 kompensiert.

In den Bereichen mit hohen Kapazitätswerten wird in den Rückkopplungszweig ein LC-Reihenkreis 3 angeordnet, dessen Resonanzfrequenz unterhalb der sich beim Prüfvorgang einstellenden Frequenz im Oszillator liegt.

Bei dem höchsten zu messenden C-Wert innerhalb eines Kapazitätsnennwertes, d.h. obere Grenze der Plustoleranz, stellt sich eine Oszillatorfrequenz ein, die nahe der Resonanzfrequenz des Reihenschwingkreises liegt. Dessen Reaktanz hat gerade noch induktiven Charakter. Wird dagegen ein etwas kleinerer C-Wert innerhalb des Kapazitätsnennwertes gemessen, so stellt sich eine höhere Frequenz ein und die Rückkopplungsreaktanz wirkt höherinduktiv und damit wird der Rückkopplungsgrad geringer.

Durch entsprechendes Einstellen der Resonanzfrequenz des Rückkopplungskreises und im gewissen Maße auch durch die Wahl der Güte der Schwingkreiselemente lassen sich somit nahezu konstante Anschwingbedingungen über einen bestimmten begrenzten Kapazitätsbereich, beispielsweise von der Plustoleranzgrenze über den Nennwert zur Minustoleranzgrenze, erreichen.

Bei einem bestimmten zu prüfenden kleineren Kapazitätswert des Prüflings 6 wirkt die Tendenz der Verluste der Spule 7 und des Prüflings 6 in Verbindung mit einem entsprechend gewählten Rückkopplungskondensator 2 gerade kompensierend.

Unterhalb dieses Kapazitätswertes wirkt die C-Abhängigkeit dann entgegengesetzt. Das dazu notwendige kapazitive Verhalten des Rückkopplungszweiges wird deshalb zweckmäßig mit einem einstellbaren niederohmigen Widerstand zum Feinabgleich in Reihe mit einem entsprechend bemessenen Kondensator 1 gebildet.

Claims (3)

1. Erfindungsansprüche:

   1. Schaltungsanordnung zur belastungslosen Prüfung der Kontaktgüte von Kondensatoren, wobei der Prüfung, mit einer Spule hoher Güte zu einem Parallelschwingkreis geschaltet, frequenzbestimmendes Glied ist, gekennzeichnet dadurch, daß in den Rückkopplungszweigen eine Reaktanz oder Impedanz angeordnet ist, die durch eine Kompensationswirkung die Kapazitätsabhängigkeit des Schwingeinsatzes des Oszillators beseitigt.
2. 2. Schaltungsanordnung zur belastungslosen Prüfung der Kontaktgüte von Kondensatoren nach Punkt 1 gekennzeichnet dadurch, daß die in den Rückkopplungszweigen geschalteten Reaktanzen oder Impedanzen als LC-, C- oder RC-Kombination für einen bestimmten Wertebereich des Prüflings gestaltet sind.
3. 3. Schaltungsanordnung zur belastungslosen Prüfung der Kontaktgüte von Kondensatoren nach Punkt 1 und 2, gekennzeichnet dadurch, daß die in den Rückkopplungszweigen geschalteten Reaktanzen oder Impedanzen einstellbar gestaltet sind.

   Hierzu 1 Seite Zeichnung