DD226086A1

DD226086A1 - CIRCUIT ARRANGEMENT FOR LOAD-FREE TESTING OF CONTACT COMPUTERS OF CAPACITORS

Info

Publication number: DD226086A1
Application number: DD25874083A
Authority: DD
Inventors: Horst Noennig
Original assignee: Kondensatorenwerk Wilhelm Piec
Priority date: 1983-12-28
Filing date: 1983-12-28
Publication date: 1985-08-14

Abstract

Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zur belastungslosen Pruefung der Kontaktguete von Kondensatoren. Die Erfindung bezieht sich auf das Gebiet der Kontaktpruefung der Anschlusselemente von elektronischen Bauelementen, insbesondere Kondensatoren. Es ist das Ziel der Erfindung, die bereits bekannte Schaltungsanordnung zur belastungslosen Pruefung von Kontaktierungen von elektrischen Kondensatoren so zu veraendern, dass durch Wegfall der bisher notwendigen stetigen Verstaerkungsnachstellung eine konstantere Pruefung gewaehrleistet wird. Es ist die Aufgabe der Erfindung, die bekannte Schaltungsanordnung so zu verbessern, dass eine konstante Pruefschaerfe der Kontaktierung ueber einen Kapazitaetsnennwertbereich erreicht wird. Erfindungsgemaess wird die Aufgabe dadurch geloest, dass in den Rueckkopplungszweig des Oszillators einstellbare Reaktanzen oder Impedanzen geschaltet werden, die eine Kompensationswirkung haben und dadurch die Kapazitaetsabhaengigkeit des Schwingeinsatzes des Oszillators beseitigt wird.The invention relates to a circuit arrangement for stress-free testing of Kontaktguete of capacitors. The invention relates to the field of Kontaktpruefung the connection elements of electronic components, in particular capacitors. It is the object of the invention to modify the already known circuit arrangement for stress-free testing of contacts of electrical capacitors so that a more constant check is ensured by eliminating the previously necessary continuous amplification adjustment. It is the object of the invention to improve the known circuit arrangement so that a constant Pruefschaerfe the contacting over a Capitaetsnennwertbereich is achieved. According to the invention, the object is achieved in that adjustable reactances or impedances are switched into the feedback branch of the oscillator, which have a compensating effect and thereby the capacitance dependence of the oscillating insert of the oscillator is eliminated.

Description

Field of application of the invention

Die Erfindung betrifft eine weitere Ausgestaltung einer Schaltungsanordnung zur belastungslosen Prüfung der Kontaktgüte von elektrischen Kondensatoren, insbesondere von Kunststoffolie-Wickelkondensatoren. Die Erfindung ist in der elektronischen Bauelementeindustrie anwendbar.The invention relates to a further embodiment of a circuit arrangement for stress-free testing of the contact quality of electrical capacitors, in particular of plastic film wound capacitors. The invention is applicable in the electronic component industry.

Characteristic of the known technical solution

Es sind eine Reihe von Verfahren und Schaltungsanordnungen bekannt, bei denen der Kontaktwiderstand, dessen Höhe und zeitliche Konstanz ein Maß für die Kontaktgüte ist, gemessen wird. Man geht bei diesen bekannten Meßverfahren davon aus, daß die Widerstände der Beläge, die Dielektrikumsverluste und der Kontaktwiderstand der Anschlußdrähte im Ersatzschaltbild als Serienwiderstände dargestellt werden können. Werden bei einem Meßobjekt die Widerstände der Beläge und die Dielektrikumsverluste im Verlauf des Meßprozesses als konstant angesehen, so verbleibt nur der Kontaktwiderstand, der Änderungen unterworfen sein kann. Bei den bisher bekannten Meßverfahren wird die elektrische Kontaktierung von einem Meßstrom durchflossen, der unter Umständen eventuell vorhandene Fremd- bzw. Oxydschichten der Kontaktierung verändernThere are a number of methods and circuit arrangements are known in which the contact resistance whose height and temporal constancy is a measure of the contact quality, is measured. In the case of these known measuring methods, it is assumed that the resistances of the linings, the dielectric losses and the contact resistance of the connecting wires in the equivalent circuit diagram can be represented as series resistances. If, in the case of a test object, the resistances of the linings and the dielectric losses are considered constant in the course of the measuring process, then only the contact resistance, which may be subject to changes, remains. In the previously known measuring method, the electrical contact is traversed by a measuring current that may change existing possibly foreign or oxide layers of the contact

Deshalb ist eine Schaltungsanordnung bekannt gemacht worden, die die Kontaktgüte einer Kontaktierung belastungslos prüft.Therefore, a circuit arrangement has been made, which checks the contact quality of a contact stressless.

In dieser Anordnung wird der zu prüfende Kondensator mit einer Spule hoher Güte zu einem Parallelschwingkreis geschaltet und als frequenzbestimmendes Glied des so gebildeten Oszillators verwandt.In this arrangement, the capacitor to be tested is connected with a coil of high quality to a parallel resonant circuit and used as a frequency-determining element of the oscillator thus formed.

Im Oszillator ist die Rückkopplung und die Verstärkung veränderlich gestaltet und somit die Möglichkeit geschaffen, den Oszillator stets an der Anschwinggrenze zu betreiben. Der Schwingeinsatzpunkt des Oszillators hängt von den Kondensatorverlusten ab, und stellt somit ein Kriterium der zu prüfenden Kontaktierung dar.In the oscillator, the feedback and gain is variable and thus created the opportunity to operate the oscillator always at the start-up limit. The vibration application point of the oscillator depends on the capacitor losses, and thus represents a criterion of the contact to be tested.

Nachteilig bei dieser Schaltungsanordnung ist die Kapazitätsabhängigkeit des Schwingeinsatzes des Oszillators. Für eine konstante Prüfschärfe ist bei einem derart betriebenen Oszillator ein Nachstellen der Rückkopplung oder der Verstärkung bei unterschiedlichen Kapazitätswerten innerhalb eines Kapazitätsnennwertbereiches notwendig. Damit ist dieses Verfahren nur bedingt für eine kontinuierliche Fertigungsprüfung geeignet.A disadvantage of this circuit arrangement is the capacity dependence of the oscillatory use of the oscillator. For a constant test accuracy, with an oscillator operated in this way, an adjustment of the feedback or the gain at different capacitance values within a capacitance nominal value range is necessary. Thus, this method is only partially suitable for a continuous production test.

Object of the invention

Es ist das Ziel der Erfindung, die Schaltungsanordnung zur belastungslosen Prüfung von Kontaktierungen von elektrischen Kondensatoren so zu verändern, daß durch eine Vermeidung des stetigen Nachstellens der Rückkopplung oder der Verstärkung eine kontinuierliche Fertigungsprüfung möglich wird.It is the object of the invention to change the circuit arrangement for stress-free testing of contacts of electrical capacitors so that a continuous production test is possible by avoiding the constant readjustment of the feedback or the gain.

Explanation of the essence of the invention

Es ist die Aufgabe der Erfindung, eine verbesserte Schaltungsanordnung zu schaffen, mit der die Kontaktierungen von elektrischen Kondensatoren ohne elektrische Belastung auf deren Kontaktgüte geprüft werden, wobei die Prüfschärfe der Kontaktprüfung über einen Kapazitätsnennwertbereich nahezu konstant bleibt.It is the object of the invention to provide an improved circuit arrangement, with which the contacts of electrical capacitors are tested without electrical load on the contact quality, the test accuracy of the contact test over a capacitance nominal value range remains almost constant.

Erfindungsgemäß wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß in die entsprechend umschaltbaren Rückkopplungszweige unterschiedliche Reaktanzen oder Impedanzen geschaltet werden, die den Schwingeinsatz des Oszillators über den jeweiligen Kapazitätswertnennbereich konstant halten. Die Reaktanzen oder Impedanzen in den Rückkopplungszweigen v/erden durch eine sinnvolle Auswahl von LC-Reihenschaltung, reiner Rückkopplungskapazität oder RC-Reihenschaltung realisiert. Der ursprünglich nicht konstante Schwingeinsatzpunkt des Oszillators wird durch diese gegenläufig wirkende Rückkopplungsschaltung über einen bestimmten Kapazitätsnennwertbereich stabilisiert. Durch diese veränderte Schaltungsanordnung ist es möglich, die Kontaktierung von Kondensatoren im Kapazitätsnennwertbereich mit nahezu konstanter Prüfschärfe zu kontrollieren. Die Vorteile der erfindungsgemäßen Lösung liegen in den nahezu konstanten Anschwingbedingungen über einen bestimmten Kapazitätsbereich und damit ergeben sich wesentlich verbesserte Einsatzbedingungen in einer kontinuierlichen Fertigungsprüfung.According to the invention the object is achieved in that different reactances or impedances are connected in the corresponding switchable feedback branches, which keep the oscillatory use of the oscillator constant over the respective nominal capacitance value range. The reactances or impedances in the feedback branches are realized by a judicious choice of LC series connection, pure feedback capacitance or RC series connection. The originally non-constant oscillating application point of the oscillator is stabilized by this counteracting feedback circuit over a certain capacitance nominal value range. By means of this modified circuit arrangement, it is possible to control the contacting of capacitors in the capacitance nominal value range with an almost constant test severity. The advantages of the solution according to the invention lie in the almost constant Anschwingbedingungen over a certain capacity range and thus there are significantly improved conditions of use in a continuous production test.

embodiment

Wie auf der Zeichnung Fig. 1 dargestellt ist, sind im Rückkopplungszweig der veränderten Oszillatorschaltung für die einzelnen Kapazitätsbereiche der Kondensatoren bestimmte Reaktanzen 2 und 3 und Impedanzen 1 zwischengeschaltet, die frequenzabhängig wirken. Bei Versuchen mit der bisher bekannten unveränderten Oszillatorschaltung, bei der die Frequenz der erzeugten Schwingung bei höheren Kapazitätswerten fällt, wurde ermittelt, daß zum Aufrechterhalten der Schwingung bei diesen höheren Kapazitätswerten eine größere Verstärkung vom Transister 4 notwendig ist, d.h. das Potentiometer 5 am Basisspannungsteiler hat für jeden Kapazitätswert einen anderen Einstellwert. Neben diesen Bedingungen ist der Schwingeinsatz auch noch von der Rückkopplung abängig. Die obengenannte Kapazitätsabhängigkeit des Schwingeinsatzes wird durch eine entsprechende Beschaltung des Rückkopplungszweiges mit bestimmten ausgewählten Impedanzen 1 und Reaktanzen 2 und 3 kompensiert.As shown in the drawing Fig. 1, certain reactances 2 and 3 and impedances 1 are interposed in the feedback branch of the modified oscillator circuit for the individual capacitance ranges of the capacitors, which act frequency-dependent. In experiments with the heretofore known unmodified oscillator circuit, where the frequency of the generated oscillation falls at higher capacitance values, it has been determined that to maintain the oscillation at these higher capacitance values, greater amplification from the transister 4 is necessary, i. the potentiometer 5 on the base voltage divider has a different set value for each capacitance value. In addition to these conditions, the oscillatory use is also dependent on the feedback. The above capacitance dependence of the oscillatory use is compensated by a corresponding wiring of the feedback branch with certain selected impedances 1 and reactances 2 and 3.

In den Bereichen mit hohen Kapazitätswerten wird in den Rückkopplungszweig ein LC-Reihenkreis 3 angeordnet, dessen Resonanzfrequenz unterhalb der sich beim Prüfvorgang einstellenden Frequenz im Oszillator liegt.In the regions with high capacitance values, an LC series circuit 3 is arranged in the feedback branch, the resonant frequency of which lies below the frequency which is established during the test procedure in the oscillator.

Bei dem höchsten zu messenden C-Wert innerhalb eines Kapazitätsnennwertes, d.h. obere Grenze der Plustoleranz, stellt sich eine Oszillatorfrequenz ein, die nahe der Resonanzfrequenz des Reihenschwingkreises liegt. Dessen Reaktanz hat gerade noch induktiven Charakter. Wird dagegen ein etwas kleinerer C-Wert innerhalb des Kapazitätsnennwertes gemessen, so stellt sich eine höhere Frequenz ein und die Rückkopplungsreaktanz wirkt höherinduktiv und damit wird der Rückkopplungsgrad geringer.At the highest C-value to be measured within a nominal capacity value, i. upper limit of the positive tolerance, sets an oscillator frequency, which is close to the resonant frequency of the series resonant circuit. Its reactance is just inductive. If, on the other hand, a slightly smaller C value is measured within the capacitance nominal value, then a higher frequency sets in and the feedback reactance has a higher inductance and thus the degree of feedback decreases.

Durch entsprechendes Einstellen der Resonanzfrequenz des Rückkopplungskreises und im gewissen Maße auch durch die Wahl der Güte der Schwingkreiselemente lassen sich somit nahezu konstante Anschwingbedingungen über einen bestimmten begrenzten Kapazitätsbereich, beispielsweise von der Plustoleranzgrenze über den Nennwert zur Minustoleranzgrenze, erreichen.By appropriately setting the resonant frequency of the feedback circuit and to some extent by the choice of the quality of the resonant circuit elements can thus almost constant Anschwingbedingungen over a certain limited capacity range, for example, from the plus limit over the nominal value to the minimum tolerance limit reach.

Bei einem bestimmten zu prüfenden kleineren Kapazitätswert des Prüflings 6 wirkt die Tendenz der Verluste der Spule 7 und des Prüflings 6 in Verbindung mit einem entsprechend gewählten Rückkopplungskondensator 2 gerade kompensierend.For a certain smaller capacitance value of the test object 6 to be tested, the tendency of the losses of the coil 7 and of the test object 6 in conjunction with a correspondingly selected feedback capacitor 2 just compensates.

Unterhalb dieses Kapazitätswertes wirkt die C-Abhängigkeit dann entgegengesetzt. Das dazu notwendige kapazitive Verhalten des Rückkopplungszweiges wird deshalb zweckmäßig mit einem einstellbaren niederohmigen Widerstand zum Feinabgleich in Reihe mit einem entsprechend bemessenen Kondensator 1 gebildet.Below this capacity value, the C-dependency then acts in the opposite direction. The necessary capacitive behavior of the feedback branch is therefore expediently formed with an adjustable low-impedance resistor for fine adjustment in series with a suitably sized capacitor 1.

Claims

Invention claims:

1. A circuit arrangement for stress-free testing of the contact quality of capacitors, wherein the test, connected to a coil of high quality to a parallel resonant circuit, frequency determining member, characterized in that in the feedback branches a reactance or impedance is arranged by a compensation effect, the capacity dependence of the The oscillatory insert of the oscillator is eliminated.

2. Circuit arrangement for stress-free testing of the contact quality of capacitors according to item 1, characterized in that the switched in the feedback branches reactances or impedances are designed as LC, C or RC combination for a certain range of values of the specimen.

3. Circuit arrangement for stress-free testing of the contact quality of capacitors according to item 1 and 2, characterized in that the switched in the feedback branches reactances or impedances are designed to be adjustable.

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