CS259154B1 - Zapojení pro záznam chybové adresy a obsahu, zjištěných testováním - Google Patents
Zapojení pro záznam chybové adresy a obsahu, zjištěných testováním Download PDFInfo
- Publication number
- CS259154B1 CS259154B1 CS861409A CS140986A CS259154B1 CS 259154 B1 CS259154 B1 CS 259154B1 CS 861409 A CS861409 A CS 861409A CS 140986 A CS140986 A CS 140986A CS 259154 B1 CS259154 B1 CS 259154B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- test
- error
- input
- content
- gate
- Prior art date
Links
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
Zapojení se týká oboru měřící techniky. Podstata jeho funkce spočívá v tom., že testovací systém provádí test až do nalezení chyby v pořadí další za chybou s již zaznamenanou adresou. Pak je test zastaven a ohybová adresa a obsah jsou zaznamenány. Zároveň je o jednu zvýšeno pořadí zaznamenané ohyby. Potom je test opětně spuštěn od začátku testovacího vzorku, od něhož jsou rovněž znovu počítány nalezené chyby až do nalezení chyby s dosud nezaznamenaným pořadím. Proces je ukončen koncem prováděného testovacího vzorku. Zapo.jení pro záznam chybové adresy podle vynalezu může být využit v oboru výpočetní a sdělovací techniky a v oboru automatizace.
Description
Vynález se týká zapojení pro záznam chybové adresy a obsahu, z jištěných testováním na testovacím zařízení, které umožňuje záznam i při testování nejvyšší pracovní rychlostí testovaného objektu.
U velkých testovacích systémů nejvyšší cenové třídy je pro záznam testováním zjištěné chybové adresy určena k tomu účelu vyhrazená parně! chyb. Protože je nutné do paměti chyb zaznamenávat chybové adresy i nejrychlejších objektů, pro které je testovací systém určen, musí i parně! chyb pracovat srovnatelnou rychlostí. Na druhou stranu je nutné do paměti chyb zaznamenávat chybné adresy i objektů s největší pamě!ovou kapacitou, pro které je testovací systém určen, proto musí mít i parně! chyb dostatečnou kapacitu. Odtud plyne na parně! chyb nárok na pracovní rychlost, kapacitu a spolehlivost vyšší než mají objekty, pro nějž je testovací systém určen. Proto jsou měření využívající rychlou parně! chyb u menších testovacích systémů nižší cenové třídy nahrazeny způsobem záznamu^ při kterém je proces testování zastaven a testování pokračuje až po záznamu chybové adresy do paměti řídícího procesoru. Tento způsob záznamu chybové adresy vede k vytvoření vždy nového neopakovatelného testovacího vzorku navíc s nedefinovaným pokrytím dynamických poruch. Výsledky testu s vloženými časovými prodlevami jsou nadto neporovnatelné a výsledky testu bez časových prodlev.
Tyto nevýhody odstraňuje zapojení pro záznam chybové adresy a obsahu, zjištěných testováním podle vynálezu, jehož podstata spočívá v tom, že výstupní brána testovacího vzorku obsahu generátoru testovacích sekvencí je spojena ae vstupní
- 2 bránou testovacího vzorku obsahu vyhodnocovacího obvodu a se vstupní bránou testovacího vzorku obsahu řídícího procesoru, přičemž výstupní brána testovací adresy generátoru testovacích sekvencí je připojena ke vstupní bráně testovací adresy testovaného objektu a ke vstupní bráně testovací adresy řídicího procesoru, přičemž výstupní brána testovaného obsahu testovaného objektu je připojena k vyhodnocovacímu obvodu, jehož chybový výstup je připojen k chybovému čítači, jehož nulovací vstup je spojen s nulovacím vstupem vyhodnocovacího obvodu a s nulovacím vstupem řídícího procesoru, jehož chybový vstup je spojen a chybovým vstupem generátoru testovacích sekvencí a s chybovým výstupem logického komparátorů, přičemž nastavovací vstup ohybového registru je spojen s nastavovacím vstupem řídícího procesoru, přičemž výstupní brána pořadí chyby chybového čítače je připojena ke vstupní bráně pořadí chyby logického komparátorů a ke vstupní bráně pořadí chyby chybového registru, jehož výstupní brána zaznamenané chyby je připojena k logickému komparátorů.
Zapojení pro záznam chybové adresy a obsahu zjištěných testováním podle vynálezu má výhodu v tom, že umožňuje při prodloužení testovací doby vykonávat na malých testovacích systémech nižší cenové třídy náročná měřený dosud realizovatelná pouze na velkých testovacích systémech. Přitom způsob záznamu chybové adresy a obsahu zjištěných testováním podle vynálezu neovlivňuje pokrytí dynamických poruch a výsledek testu je rovnocenný s testem provedeným testovacím vzorkem bez přerušení testování, jak je realizován na velkých testovacích systémech vyšší cenové třídy. Výhod© zapojení pro provádění způsobu záznamu podle vynálezu spočívá v jeho snadném začlenění do malých testovacích systémů, které jsou jednoduchým způsobem přizpůsobeny provádění způsobu záznamu podle vynálezu.
Zapojení pro záznam chybové adresy a obsahu, zjištěných testováním, umožňuje nejen testováni rovnocenné testování na velkých testovacích systémech, ale navíc .umožňuje i průběžné zpracování informace o chybových adresách během doby testování v řídícím procesoru. Tím lze dosáhnout průběžného zpracování
- 3 významnosti prováděného testu a při získávaných výsledcích s malou vypovídací schopností, například při chybě na všech „ krocích prováděného testu, lze testovací proces zastavit ještě před jeho doběhnutím do konce testovacího vzorku. Tak je dosaženo úspory pracovní doby testovacího systému, na němž je zapojení podle vynálezu aplikováno.
Na připojeném výkresu je znftiórři ěn příklad zapojení pro provádění způsobu záznamu chybové adresy a obsahu, zjištěných testováním. Vstupní brána 210 testovacího vzorku obsahu generátoru 200 testovacích sekvencí je spojena se vstupní bránou 11.0 testovacího vzorku obsahu testovaného objektu 100f se vstupní bránou 310 testovacího vzorku obsahu vyhodnocovacího obvodu 300 a se vstupní bránou 410 testovacího vzorku obsahu řídícího procesoru 400. Výstupní brána 220 testovací adresy generátoru 200 testovacích sekvencí je připojena ke vstupní bráně 120 testovací adresy testovaného objektu 100 a ke vstupní bráně 420 testovací adresy řídícího procesoru 400. Výstupní brána 130 testovaného objektu 100 je připojena k vyhodnocovacímu obvodu 300« jehož chybový výstup 301 je připojen k chybovému čítači 500« jehož nulovací vstup 502 je spojen s nulovacím vstupem 302 vyhodnocovacího obvodu 300 a s nulovacím vstupem 402 řídícího procesoru 400. jehož chybový vstup 401 je spojen s chybovým vstupem 201 generátoru gOQ testovacích sekvenci a s chybovým výstupem 601 logického komparátoru 60Q. Nastavovací vstup 705 chybového registru 700 je spojen s nastavovacím vstupem 405 řídícího procesoru 400. Výstupní brána 510 pořadí chyby» chybového čítače 5-00 je připojena ke vstupní bráně 610 pořadí chyby logického komparátoru 600 a ke vstupní bráně 710 pořadí chyby chybového registru 700. jehož výstupní brána 720 zaznamenané chyby je připojena k logickému komparátoru 600..
Funkce zapojení pro záznam chybové adresy a obsahu, zjištěných testováním, je následující:
V chybovém registru 700 je uloženo pořadí chyby se zaznamenanou chybovou adresou a obsahem. Uložené pořadí je přes výstupní bránu 720 zaznamenané chyby chybového registru 700 vysíláno do logického komparátoru 600. Zde je srovnáváno s pořadím
- 4 právě nalezené chyby, vysílaném do vstupní brány 610 pořadí chyby logického komparátoru 600 z výstupní brány 510 pořadí chyby chybového čítače 500» Ten čítá chybové impulsy přiváděné z vyhodnocovacího obvodu 300. který porovnává při testování testovací vzorek obsahu, přiváděný z generátoru 200 testovacích sekvencí na vstupní bránu 310 vyhodnocovacího obvodu 300) a testovanou odezvou z testovaného objektu 10Q; přiváděnou na vstupní bránu 330 vyhodnocovacího obvodu 300. Vyhodnocené chyby ve vyhodnocovacím obvodu 300 jsou- počítány v chybovém čítači 500 až jejich počet přesáhne pořadí chyby zaznamenané v chybovém registru 700. Pak logický komparátor 600 vyšle na chybový vstup 201 generátoru 200 testovacích sekvencí a na chybový vstup 401 řídícího procesoru signál o nalezení nové chyby s°dosud nezaznamenanou chybovou adresou a obsahem. Generátor
200 testovacích sekvencí je signálem ze svého chybového .vstupu
201 zastaven a řídící procesor 400 zaznamená chybovou adresu přiváděnou na jeho vstupní bránu 420 testovací adresy a obsah přiváděný na jeho vstupní bránu 410 testovacího vzorku obsahu.
Potom řídící procesor 400 signálem vysílaným na nastavovací vstup 705 chybového registru 700 uloží pořadí zaznamenané chyby « a chybového čítače 500 do vstupní brány 710 pořadí chyby chybového registru 700. Dál řídící procesor 400 signálem vyslaným na stopovací vstup 204 generátoru 200 testovacích sekvencí nastaví generátor 2Q0 testovacích sekvencí na počátek testovacího vzorku a adresace a signálem vysílaným ze svého nulovacího výstupu 402 jednak vynuluje chybový čítač 500 a jednak vynuluje vyhodnocovací obvod 300. Potom řídící procesor signálem vyslaným na startovací vstup 203 generátoru 200 testovacích sekvencí opět spustí testování od počátku testovacího vzorku.
Vynález může být využit v oboru výpočetní a sdělovací techniky a v oboru automatizace.
Claims (1)
- PŘEDMĚT VYNÁLEZUZapojení pro záznam chybové adreay a obsahu, zjištěných testováním, vyznačené tím, že. výstupní brána (210) testovacího vzorku obsahu generátoru (200) testovacích sekvencí je spojena se vstupní bránou (110) testovacího vzorku obsahu testovaného objektu (100), se vstupní bránou (310) testovacího vzorku obsahu vyhodnocovacího obvodu (300) a se vstupní bránou (410) testovacího vzorku obsahu řídícího procesoru (400), přičemž výstupní brána (220) testovací adresy generátoru (200) testovacích sekvencí je připojena ke vstupní bráně (120) testovací adresy testovaného objektu (100) a ke vstupní bráně (420) testovací adresy řídícího procesoru (400), přičemž výstupní bráně (130) testovaného obsahu testovaného objektu (100) je připojena k vyhodnocovacímu obvodu (300), jehož chybový výstup (301) je připojen k chybovému čítači (500), jehož nulovací vstup (502) je spojen s nulovacím vstupem (302) vyhodnocovacího obvodu (300) a s nulovacím vstupem (402) řídícího procesoru (400), jehož chybový vstup (401) je spojen s chybovým vstupem (201) generátoru (200) testovacích sekvencí a s chybovým výstupem (601) logického komparátoru (600), přičemž nastavovací vstup (705) chybového registru (700) je spojen s nastavovacím vstupem (405) řídicího procesoru (400), přičemž výstupní brána (510) pořadí chyby chybového čítače (500) je připojena ke vstupní bráně (610) pořadí chyby logického komparétoru (600) a ke vstupní bráně (710) pořadí chyby chybového registru (700), jehož výstupní brána (720) zaznamenané chyby je připojena k logickému komparátoru.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS861409A CS259154B1 (cs) | 1986-02-28 | 1986-02-28 | Zapojení pro záznam chybové adresy a obsahu, zjištěných testováním |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS861409A CS259154B1 (cs) | 1986-02-28 | 1986-02-28 | Zapojení pro záznam chybové adresy a obsahu, zjištěných testováním |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS140986A1 CS140986A1 (en) | 1988-02-15 |
| CS259154B1 true CS259154B1 (cs) | 1988-10-14 |
Family
ID=5348390
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS861409A CS259154B1 (cs) | 1986-02-28 | 1986-02-28 | Zapojení pro záznam chybové adresy a obsahu, zjištěných testováním |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS259154B1 (cs) |
-
1986
- 1986-02-28 CS CS861409A patent/CS259154B1/cs unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CS140986A1 (en) | 1988-02-15 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR890004450B1 (ko) | 검사 벡터 인덱싱 방법 및 장치 | |
| US4644487A (en) | Method and apparatus for verifying the design of digital electronic components | |
| KR880001169B1 (ko) | 디지탈 테스터 국부 메모리 데이타 저장시스템 | |
| US4752928A (en) | Transaction analyzer | |
| KR100351653B1 (ko) | 메모리 모듈 식별 장치 및 방법 | |
| US4510603A (en) | Testing system for reliable access times in ROM semiconductor memories | |
| US4430735A (en) | Apparatus and technique for testing IC memories | |
| CN1125400C (zh) | 信号处理设备 | |
| CS259154B1 (cs) | Zapojení pro záznam chybové adresy a obsahu, zjištěných testováním | |
| JPH0447340B2 (cs) | ||
| US5999468A (en) | Method and system for identifying a memory module configuration | |
| CN117236277B (zh) | 用于检查寄存器的方法及装置、电子设备 | |
| SU340983A1 (ru) | УСТРОЙСТВО дл СОСТАВЛЕНИЯ ТАБЛИЦЫ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СОЕДИНЕНИЙ | |
| SU1405059A1 (ru) | Устройство дл контрол цифровых блоков | |
| SU1458841A1 (ru) | Устройство дл контрол цифровых блоков | |
| JP2761539B2 (ja) | 機能素子試験装置 | |
| SU1247874A1 (ru) | Устройство дл проверки выполнени последовательности команд микропроцессора | |
| JPH1165897A (ja) | デバッガ内蔵マイクロプロセッサ | |
| KR940007572B1 (ko) | 멀티 프로세서의 펜디드 프로토콜 시스템에서의 전송오류 처리 방법 | |
| SU723676A1 (ru) | Устройство дл контрол посто нной пам ти | |
| SU1290333A1 (ru) | Устройство дл контрол цифровых блоков | |
| SU746339A1 (ru) | Устройство дл автоматического допускового контрол сопротивлени изол ции | |
| JPS63128446A (ja) | トレ−ス方式 | |
| JPS62236047A (ja) | プログラムの処理時間測定装置 | |
| CS230762B1 (cs) | Zapojení pro usnadněni příznakové analýzy číslicových obvodů |