CS241114B2 - Method of materials' transparent bands quality testing and device for its performance - Google Patents

Description

Vynález se týká způsobu zkoušení kvality transparentních pásů materiálu, zejména plochého skla ke zjišťování vad uvnitř pásu, jako jsou cizí tělíska nebo bubliny, a zařízení к provádění tohoto způsobu.

Pod pojmem transparentních pásů materiálu ve smyslu vynálezu se rozumějí plastické hmoty a organická skla, zejména však tabulové sklo. Protože se tabulové sklo vyrábí strojově ve velkých kvantech jako ploché sklo ve tvaru nekonečného pásu, je samozřejmě snaha udržet zdroje vad co nejmenší, takže při výrobě plochého skla je velká potřeba zkušebních přístrojů. Vynález bude proto bez omezení popsán v souvislosti se zjišťováním kvality plochého skla.

Při výrobě plochého skla, například plavením, dochází i přes největší opatrnost vždycky к tomu, že do pásu skla vniknou jemné, většinou světlé kaménky. Další, rovněž četnou vadou jsou bubliny, které se nacházejí v jemně rozptýlené podobě v tavenině.

Obě vady vedou, když dosáhnou určitých rozměrů, к povrchové deformaci skleněného pásu, i když jsou úplně uzavřené ve skle. Povrchové deformace se dají velice dobře zjistit elektrooptickými zkušebními postupy a zařízeními, například podle německého spisu DOS č. 24 11 407.

To se však netýká vad, které jsou tak malé, že nezmění povrch skleněného pásu, což je zejména případ malých bublin uvnitř skla, protože tyto bubliny se obzvláště tehdy, když zkoušený povrch není stoprocentně čistý, nedají zjistit běžnými přístroji.

Zkoušení plaveného skla se provádí tak, že se celá šířka pásu, který se spojitě pohybuje, osvětluje běžícím světelným bodem. Aby měl běžící světelný bod dostatečnou intenzitu, vyrábí se laserovým zářičem, který je nasměrován na rotující pozrcadlený mnohostěn, takže světelný paprsek odražený od mnohostěn přechází v důsledku vysokých otáček mnohostěnou velkou rychlostí napříč přes pás plochého skla a vytváří běžící světelný bod.

Část světelného paprsku se odráží od povrchu skleněného pásu, další Část vstupuje do pásu a odráží se od jeho spodní strany a největší část paprsku prochází s lomem skleněným pásem.

Zkušební přístroje podle zmíněného německého spisu DOS č. 24 11 407 mají nastavitelnou citlivost, což při zkoušení transparentních materiálů při osvětlení pásu shora umožňuje zjistit chybu jak na horní straně tak na dolní straně pásu.

Bubliny v jádru i jemná uzavřená cizí tělíska nemají za následek tak silné odchýlení měřícího paprsku jako deformace povrchu a signál vyvolaný těmito vadami je tak slabý, že odpovídá signálům způsobeným částicemi prachu, které jsou usazeny na povrchu pásu.

Tyto signály se však ve vyhodnocovací stanici známého zkušebního přístroje odřezávají, přičemž práh odřezávání má nastavitelnou výšku. Citlivost přístroje se tedy snižuje natolik, aby povrchové znečištění nevyvolávalo chybový signál.

Cílem vynálezu je zjistit v transparentním pásu materiálu vady, které nevedou к povrchové deformaci pásu. Zejména se mají zjistit tak zvané bubliny v jádru, to znamená plynové bubliny, které se nacházejí více méně uprostřed pásu a jsou tak jemné, že jsou zakryta materiálem v tloušťce, která je podstatně větší než je rozměr bublin.

Předmětem vynálezu je způsob zkoušení kvality transparentních pásů materiálu, zejména plochého skla ke zjišťování vad obsažených uvnitř pásu, jako jsou cizí tělíska nebo bubliny, při kterém se pás materiálu ozařuje po šířce běžícím světelným bodem a propuštěné a/nebo odražené záření se snímá, převádí na elektrické signály a vyhodnocuje.

Podstata vynálezu spočívá v tom, že během snímacího cyklu odraženého záření se současně přídavně snímá záření vycházející bočně z pásu materiálu, převádí se v elektrické impulsy a vyhodnocuje.

Když je totiž v pásu skla uzavřena bublina nebo jemný kamének, odchýlí se dopadající světelný bod v bublině nebo na povrchu kaménku a prochází dál pásem materiálu, který tedy působí jako světelný vodič.

Protože jak bubliny v jádru tak uzavřené kaménky mají v podstatě kulový tvar, odrazí se světelný paprsek, který na ně dopadá nebo do nich vniká, uvnitř pásu podle svého stranového pohybu a tedy nodle měnícího se úhlu dopadu alespoň jednou do směru rovnoběžného s přímkou opisovanou světelným bodem a přichází na pravou nebo levou postranní hranu pásu, kde je viditelný jako krátkodobý jasný světelný bod.

Informaci o druhu vady však z tohoto světelného bodu nelze získat, protože velikost vady se na základě krátkodobého světelného bodu nedá zjistit. Následkem toho nelze ani rozhodnout, zda se musí pás materiálu vyřadit nebo zda je ještě použitelný, protože je vada malá.

Záření vycházející bočně z pásu se proto snímá, převádí na impulsy a využívá к řízení vyhodnocovacího agregátu; to znamená, že v okamžiku, kdy světelný bod vystoupí z jedné nebo z obou stran zkoumaného pásu materiálu, se vada může lokalizovat a její velikost se může určit.

Normální povrchové znečištění zkoumaného pásu materiálu nemá za následek chybný údaj. Běžící světelný bod vyráběný laserovým zářičem, jehož paprsek má vysokou energii, umožňující zkoušení poměrně širokých pásů materiálu bez ztrát výkonu směrem к okrajům, má podle výhod- * ného provedení vynálezu barvu zkoušeného pásu materiálu.

V důsledku nepatrných stop železa v roztavené sklovině mají běžná tabulová skla lehce nazelenalé zabarvení, které je vidět pouze na čelních plochách tabule. Protože světelný bod musí proběhnout ve skle poměrně dlouhou dráhu, než dojde к okraji pásu, působí sklo jako barevný filtr; to znamená, že v případě tohoto zeleného zabarvení by se dopadající červené světlo po určité proběhnuté dráze ve skle v důsledku filtračního účinku ztratilo a bylo by tedy odfiltrováno.

Naproti tomu světlo s vlnovou délkou, která odpovídá zbarvení skla, se neodfiltruje, nýbrž se pouze normálně absorbuje a přichází tedy s menší ztrátou к bočním plochám tabule. Zářič, který vyžařuje stejnou barvu, jakou má zkoušený pás materiálu, může tedy mít menší výkon a lze ušetřit náklady na energii a materiál a přitom zajistit optimální účinek.

Všechny transparentní materiály absorbují určitou část procházejícího světla. V relativně širokých pásech plochého skla, jejichž šířka bývá často větší než 3 m, při výskytu tak zvané bubliny v jádru, tedy uprostřed pásu, musí světlo odražené od této bubliny projít dráhu asi 1,5 m na obě strany, než je zachyceno fotoelektriekým němičem fotonásobiče.

Tím dochází ke značné absorbci světla a bez přídavného zesílení impulsu vysílaného fotonásobičem nelze zjistit dostatečnou informaci o chybě. Mimoto při pohybu světelného paprsku к okraji pásu materiálu je chybový signál stále zřetelnější a to i tehdy, když velikost zjištěné vady je stejná a její umístění v pásu je identické s vadou zjištěnou uprostřed pásu.

К tanu ještě přistupuje okolnost, že zkoušený pás materiálu, tedy plavené sklo, není nikdy stoprocentně čisté, takže jak na povrchu tak na spodní straně nese částice prachu, které umožňují odraz paprsku do skla.

Existuje tedy vždycky určitá úroveň šumu, která se navíc mění. Při snímání uprostřed pásu je úroveň šumu podstatně nižší než při snímání na okraji pásu, takže chybové signály vyvolané vadami uprostřed pásu mohou ležet pod úrovní šumu existující na okraji pásu.

V důsledku toho je podstatné, aby se úroveň šumu potlačovala diferencovaně a absorbce v transparentním pásu materiálu brala v úvahu tak, aby stejnorodá a stejně velká vada na okraji pásu materiálu vyvolávala stejné impulsy jako odpovídající vada uprostřed pásu.

Podle výhodného význaku vynálezu se proto každý elektrický impuls v závislosti na poloze běžícího světelného bodu ozařujícího transparentní pás materiálu porovnává s hodnotou přiřazenou této poloze a při překročení této hodnoty se vyšle elektrický chybový signál.

Účelně se elektrické impulsy odvozené ze záření vycházejícího bočně s pásu materiálu porovnávají s volitelnými hodnotami z elektrické paměti. Toto provedení se doporučuje zejména tehdy, kdy se má zkoušet pouze jeden materiál, například jediný druh skla, takže pás materiálu se co do složení a tloušťky nemění.

V tom případě stačí zaznamenat křivku absorbce materiálu a zapsat ji do paměti. Pod pojmem elektronické paměti se rozumějí polovodičové paměti, které se vzájemně liší podle použitého zapojení.

Kromě posuvných registrů lze použít typů paměti RAM /s libovolným výběrem/ nebo ROM /trvalá pamět/ nebo PROM, přičemž obzvláště se osvědčily programovatelné trvalé paměti PROM. Paměti PROM jsou trvalé paměti, které se po vyrobení opatří požadovaným vzorem bitů, což lze například provést vypálením určitých spojek uvnitř polovodičového zapojení.

Toto naprogramování se nedá změnit, takže po naplnění paměti nelze změnit zapsanou informaci a nemůže tedy dojít k nežádoucí změně stavu zkoušení. Podle druhé možnosti programování trvalých pamětí se využívá kapacita vysoce izolovaných hradlových elektrod, které se při ozáření ultrafialovým světlem vybíjejí a opětným přiložením vhodně vysokého napětí se mohou znovu nabíjet, to znamená naprogramovat.

V logických obvodech vyhodnocovacího agregátu se hodnota přicházejícího impulsu porovnává s hodnotou zaznamenaného impulsu, který odpovídá příslušné poloze snímacího paprsku, a při překročení zaznamenané hodnoty impulsu se vyšle chybový signál.

Samozřejmě lze použít většího počtu pevných pamětí, které odpovídají různým křivkám, a lze zkoušet po předchozí předvolbě vhodné paměti různé pásy materiálu. Účelně lze v tomto případě použít paměti s libovolným výběrem, které sice nemohou podržet zaznamenané údaje dlouhodobě, dají se však libovolně programovat.

Podle obzvláště výhodného provedení vynálezu se od ozařovacího paprsku vytvářejícího běžící světelný bod oddělí referenční paprsek, vede se přes bezvadný srovnávací pruh zkoušeného transparentního pásu materiálu, světlo vycházející z postranních ploch srovnávacího pruhu se zachycuje a převádí v impulsy, jejichž velikost se srovnává s impulsy získanými ze zkoumaného pásu materiálu.

Toto opatření zajištuje přesné hodnoty měření, protože jako srovnávací pruh slouží identický pás materiálu Samozřejmě je ovšem možné použít srovnávacího pruhu, který odpovídá pouze v podstatě zkoušenému pásu materiálu a není s ním úplně identický. Potom je ovšem třeba vzít v úvahu, že vzniklé referenční impulsy neodpovídají úplně impulsům ze skoumaného pásu materiálu a musí se tedy vzít v úvahu určitá toleranční mez.

Vyhodnocování bočních impulsů se provádí účelně snímacím prahem. K tomuto účelu se křivka absorbce ukládá do programovatelné trvalé paměti, takže může být velice přesná. Při tomto způsobu je výsledek naprosto nezávislý na rychlosti a nevznikají překmity. Použitím většího počtu programovatelných pevných pamětí lze rovněž naprogramovat zkoušení barevných skel.

Vyhodnocování bočních impulsů se s výhodou provádí opačným polováním získaného napětí. Když je pás bez vady, dává každá poloha běžícího světelného bodu na pásu impuls, jenž je identický s referenčním impulsem vyrobeným na srovnávacím pruhu odděleným referenčním paprskem ve stejné poloze běžícího světelného bodu. V bezvadném pásu se tedy tyto impulsy vzájemně ruší. Neukáže se tedy výchylka, zatímco při existenci vady jsou hodnoty impulsů rozdílné.

Protože vliv absorpce skla se opačným polováním získaných napětí vyloučí, lze z velikosti rozdílů impulsů odečítat velikost vady. To znamená, že stejně velké vady nezávisle na své poloze a tedy na vzdálenosti od okraje pásu materiálu vyvolávají stejně velký chybový signál.

Zařízení k provádění způsobu podle vynálezu sestává ze zkušebního přístroje k ozařování pásu materiálu běžícím světelným paprskem, z přijímače k zachycení odraženého a/nebo propuštěného světla a z vyhodnocovací stanice.

Podstata zařízení spočívá v tom, že na nejméně jedné straně dráhy zkoušeného procházejícího pásu materiálu je uspořádán fotonásobič, který je umístěn ve výši dráhy běžícího světelného bodu na zkoumaném pásu a je spojen s vyhodnocovací stanicí.

Umístění jediného fotonásobiče na podélné straně zkoumaného transparentního pásu umožňuje zjištění bublin v jádru. To znamená, že dosud sériově používaný přístroj, například podle německého spisu DOS č. 24 11 407, může být řízen přes fotonásobič a zjišťovat bubliny v jádru a vměstky ve skleněném pásu.

Umístění fotonásobiče ve výši dráhy běžícího světelného bodu na pásu materiálu je účelné proto, že světelný paprsek vnikající do skleněného pásu se sice odráží na všechny strany, ale dráha'rovnoběžná s dráhou běžícího bodu je nejkratší, takže ze všech bodů, ze kterých světelný paprsek vychází na boční straně materiálu, je oblast kolem čáry opisované světelným bodem nejjasnější a dává tedy nejsilnější a nejzřetelnější impuls umístěn nad podélným okrajem pásu, zatímco pod podélným okrajem zrcadlo. Světlo odchýlené bublinou v jádru nebo vměstkem

S výhodou je fotonásobič pásu je uloženo nejméně jedno v pásu materiálu vychází z jeho neopracovaného okraje a rozptyluje se.

Vychází tedy jak na stranu, tak nahoru a dolů, takže jeho zjištění fotonásobičem umístěným čistě po straně pásu by mohlo přinášet obtíže. Zrcadlo umístěné pod podélným okrajem pásu zachycuje velkou část světla, vycházejícího v neopracované okrajové plochy materiálu, a odráží ji na fotonásobič ležící nad pásem, na který dopadá i světlo vycházející z pásu nahoru. Tím se zachycení světla podstatně zlepší.

Podle výhodného provedení vynálezu je nad transparentním zkoumaným pásem materiálu umístěn srovnávací pruh z bezvadného materiálu, který odpovídá zkoumanému transparentnímu pásu co do tloušťky, zabarvení a složení nebo je s ním identický.

Srovnávací pruh sahá po celé šířce zkoumaného pásu materiálu je osvětlován referenčním paprskem a je opatřen na svých úzkých stranách fotoelektrickými měniči. Úzké strany referenčního pruhu jsou rovnoběžné s podélnými okraji zkoumaného transparentního pásu, na rozdíl od něho jsou však opracované, takže nedochází k nedefinovanému rozptylu. Protože pás je poměrně úzký, lze veškeré světlo vycházející z jeho úzkých stran zachytit fotoelektrickým měničem.

Světlo vstupuje do srovnávacího pruhu pouze tehdy, když byl pruh podroben speciálnímu předběžnému zpracování. V normálním případě by jako u každého plochého skla prošlo světlo sklem na druhou stranu a nebylo by jím vedeno tak, aby jeho velká část vycházela na čelních, v tomto případě na úzkých stranách srovnávacího pruhu.

K tomuto účelu je podle vynálezu srovnávací pruh opatřen příčnými vruby, které mají v podélném směru zkoumaného pásu materiálu stejnou vzdálenost mezi 5 až 10 mm. V důsledku toho vznikají při vyhodnocování impulsy, které odpovídají počtu vrubů. Každý impuls má podle své vzdálenosti od středu pásu materiálu jinou hodnotu, protože s přibližováni k úzké straně srovnávacího pruhu se absorbuje menní munoitví světla a tedy na fotoelektrickm mmniči vzniká silnější signál.

V důsledku ekvidistantníih vrubů lze tohoto signálu použít současně k určování polohy vad, přičtmi vzájemná vzdálenost vrubů 5 ai 10 mm umooňuje značnou přesnost při vyhodnocování vad.

Peodle jiného výhodného provedení vynálezu je srovnávací pruh opatřen matovanou čárou procházející po jeho celé délce. Matová čára je účelně tvořena pískovanou plochou nebo transparentním lepicm proužkem přieepnným na srovnávací pruh.

Jak opískovaná plocha tak transparentní lepicí proužek, unístěný s výhodou pod srovnávací pruhem, umooňu jí vzniká ní světla do srovnávacího pruhu a jeho daaší vedení k úzkým straní a následnicí zachycení ve fstseleCtrickm měrnně!.

Na rozdíl od předchozího případu s vruby nevznikaa! však v měnnči proudové imppusy, nýbrž př dopadu světelného paprsku na srovnávací pruh vzniká jisté nappěí, jehož velikost se mění. Nejmenní hodnotu má toto napptí tehdy, když běžící světelný bod dojde do středu s srovnávacího pruhu, kde nastává neevětší absorpce.

Z tohoto důvodu je srovnávací pruh opatřen na obou stranách fstsjleCtrick]íi měěnči, protože od jednoho okraje pásu ke druhému b^ž^íí jen malé mnnožtví světla. Křivka zaznamenávaná měiněl začíná tedy pro každý z obou měničů ve středu pásu mmatíriálu hodnotou, která je nepatrně větSí než nula, a zvyšuje se se zmeniující se vzdále/notí světelného bodu od okraje pásu. Pro určování vad na celé šířce pásu se tedy muueeí brát v úvahu údaje obou fotos^^tických měničů, které se vzájemně doplňuj na celou křivku.

Vyiález bude vysvětlen v es^j0^^1^<^s^^^i s výkresy, kde značí obr. 1 principiální uspořádání zkušebního přístroje, obr. 2 zkušební přístroj se snímáni srovnávacího pruhu, obr. 3 podrobnost zrcadel umístěných na okraj pásu, obr. 4 impuusy zaznamenané fotonásobiči a spojené v křivku a obr. 5 přímku vzíC jcí opačným polováním nappěí, s chybovým signálem.

Pás £ maaeriálu se pomocí válců £ poháněných elektoemotorim £ posouvá pod zkušební přístroj £. ’ Zkušební přestroj 2 obsahuje laserový zářič 14 a rot^ící zrcadlové kolo 15, které vytvářej ozařovací paprsek 16.

Ozařovací paprsek 16 dopadá na zkoumaný pás £, od něhož se jednak odráží do přijmače £ odraženého záření a jednak jm projde do přijímače 3' propouštěného zářeni.' Oba přijmače £, 3' jsou spojeny s vyhodnocovací stanicí £, která rovněž dostává impulsy z fstsiáesiičů £, 5' umístněých po stranách pásu £.

Laserový zářič 14 ve zkušebním přístroji £ podle obr. 2 je opatřen děličem 30 paprsku, který vysílá dva dílčí paprsky 31, 32 na rot^ící zrcadlové kolo 15. Dílčí světelný paprsek 32 se zobrazuje jako světelný bod 10, který probíhá při otáčení zrcadlového kola · 15 jako ozařovací paprsek 16 přes celou šířku pásu £.

Dílčí paprsek 31, zob^azujcí se jako bod 10, dopadá současně jako referenční paprsek na srovnávací pruh 21 a vstupuje do něj vrubem 24. Na každé straně 22 srovnávacího pruhu je umístěn fstsjlektticCý měnič 23, 23', který zachycuje světlo vyd^zeící z úzkých stran 22 srovnávacího pruhu 21 a vede je do vyhodnocovací stanice 4.

Když je v pásu 1 maaeriálu vada ve tvaru bubliny 13 v jádru, nedojde odražený ozařovací paprsek 16 'do přijmače £, nýbrž probíhá jako odchýlený světelný paprsek 11, 12 podél přímkové dráhy T_ světelného bodu 10 k okrajové ploše 66 pásu £ ííteeiálj, kde přichází do fotonásobičů £, 5' jež vedou přijatý impuls do vyhodnocovací stanice 4. .

ké měniče £ probíhá

Fotonásobiče 5, 5' jsou spojeny vodiči 17, 18 s vhyodnocovací stanicí 4 a fotoelektric23, 23' jsou s ní spojeny vodiči .33, 34. Mezi přijímačem 3 a vyhodnocovací stanicí vodič 19.

Když vychází z pásu . umístěno držáku .29, přičemž obě zrcadla 27, násobič £ umístěný nad okrajem pásu £ materiálu.

ozařovací paprsek 16 narazí na bublinu 13 v jádru, bublina 13 jej odchýlí a paprsek pásu .1 u jeho čelní plochy 6. Protože tento výstup světla je nedefinovaný, je podle v podstatě vodorovné zrcadlo 27 a v podstatě svislé zrcadlo 28 na posuvném jsou nastavena tak, že vedou dopadající světlo na foto

Dílčí paprsek 31 vytváří na rotujícím zrcadlovém kole 15 světelný bod W. Referenční paprsek 20 vytváří světelným bodem 10' snímá srovnávací pruh 21 a vstupuje do něj vruby 24. Každý vrub 24 vyrábí tedy ve fotoelektrickém měniči 23 impuls, který se zaznamenává ve vyhodnocovací stanici 4 a porovnává s příslušnými hodnotami z fotonásobičů .i, 5 Při bezvadném pásu . materiálu jsou zjištěné hodnoty identické a tedy se vzájemně neliší.

Analogické je i vyhodnocování při použití srovnávacího pruhu 21 s matovou čárou nebo lepicím proužkem. Světlo vstupuje podél matové čáry nebo referenčního lepicího proužku do srovnávacího pruhu 21 a opouští jej na úzkých stranách 22, kde je zachycováno fotoelektrickými měniči .23. 23 . Místo impulsu tak vzniká napětí, které se mění s polohou referenčního paprsku 20 a dá se zaznamenat jako křivka.

Obr. 4 ukazuje křivku 35 absorbce, zakreslenou na špičkách jednotlivých impulsů 36 vyrobených referenčním paprskem 20 na jednotlivých vrubech 24 srovnávacího pruhu 21. Pod křivkou 35 absorpce je zaznamenána křivka 37 hladiny šumu.

Křivka 37 hladiny šumu vzniká v podstatě v důsledku nečistot na spodní a vrchní straně skleněného pásu a nemá pro způsob podle vynálezu žádný význam. Je z ní však jasně patrné, že u okrajů pásu je hladina šumu podstatně vyšší, takže převyšuje vady, které by mohly ležet ve střední části pásu K

Obr. 5 ukazuje opačné polování křivky 35 absorpce, získané pomocí srovnávacího pruhu .21 s podlepeným lepicím proužkem, a snímací křivky 38. Na snímací křivce 38 je chybový signál 3 9, jehož absolutní hodnota je menší než hodnoty na okraji křivky. Opačným polováním obou křivek 35, 38 vznikne přímka 40, ze které zcela jasně vyniká chybový signál 39.

Claims (14)

1. PŘEDMĚT VYNÁLEZU během snímacího cyklu z pásu materiálu,

   1. Způsob zkoušení kvality transparentních pásů materiálu, zejména plochého skla ke zjišťování vad obsažených uvnitř pásu, jako jsou cizí tělíska nebo bubliny, při kterém se pás materiálu ozařuje po šířce běžícím světelným bodem a propuštěné a/nebo odražené záření se snímá, převádí na elektrické signály a vyhodnocuje, vyznačený tím, že odraženého záření se současně přídavně snímá záření vycházející bočně převádí se v elektrické impulsy a vyhodnocuje.
2. 2. Způsob podle bodu 1, vyznačený tím, že běžící paprskem stejné barvy jako má zkoušený pás materiálu.

   světelný bod se vytváří laserovým každý získaný elektrický boční impuls transparentní pás materiálu porovnává
3. 3. Způsob podle bodu 1 nebo 2, vyznačený tím, že se v závislosti na poloze světelného bodu ozařujícího s hodnotou přiřazenou této poloze a při překročení této hodnoty se vysílá elektrický chybový signál.
4. 4. Způsob podle bodu 3, vyznačený tím, že elektrické impulsy odvozené ze záření vycházejícího bočně z pásu materiálu se porovnávají s volitelnými hodnotami z elektronické pamětí.
5. 5. Způsob podle jednoho z bodů 1 až 4, vyznačený tím, že od ozařovacího paprsku tvořícího běžící světelný bod se oddělí referenční paprsek, vede se přes bezvadný srovnávací pruh zkoumaného pásu materiálu, světlo vycházející s postranních ploch srovnávacího pruhu se zachycuje a převádí na impulsy, které se co do velikosti porovnávají s impulsy získanými ze zkoumaného pásu materiálu.
6. 6. Způsob podle jednoho z bodů 1 až 5, vyznačený tím, že vyhodnocování bočních impulsů se provádí spínacím prahem.
7. 7. Způsob podle jednoho z bodů 1 až 6, vyznačený tím, že vyhodnocování bočních impulsů se provádí opačným polováním získaných napětí.
8. 8. Zařízení к provádění způsobu podle jednoho z bodů 1 až 7, sestávající ze zkušebního přístroje к ozařování pásu materiálu běžícím světelným paprskem, z přijímače к zachycení odraženého a/nebo propouštěného světla a z vyhodnocovací stanice, vyznačené tím, že na nejméně jedné straně dráhy zkoušeného procházejícího pásu /1/ materiálu je uspořádán fotonásobič /5, 5/, který je umístěn ve výši dráhy /7/ běžícího světelného bodu /10/ na zkoumaném pásu /1/ a je spojen s vyhodnocovací stanicí /4/.
9. 9. Zařízení podle bodu 8, vyznačené tím, že fotonásobič /5, 5/ je umístěn nad a nejméně jedno zrcadlo /27, 28/ pod podélným okrajem transparentního zkoumaného pásu /1/ materiálu.
10. 10. Zařízení podle bodu 8 nebo 9, vyznačené tím, že nad transparentním zkoumaným pásem /1/ je v dráze referenčního paprsku /20/ umístěn srovnávací pruh /21/ v bezvadném materiálu, který je identický nebo odpovídá zkoumanému pásu /1/ materiálu tloušťky, zbarvením a složením, sahá po celé šířce zkoumaného pásu /1/ materiálu a je opatřen na svých úzkých stranách /22/ fotoelektrickým měničem /23/.
11. 11. Zařízení podle bodu 10, vyznačené tím, že srovnávací pruh /21/ je opatřen příčnými vruby /24/, které leží v podélném směru zkoušeného pásu /1/ materiálu za sebou ve stejných vzdálenostech.
12. 12. Zařízení podle bodu 11, vyznačené tím, že vruby /24/ mají vzájemnou vzdálenost

    5 až 10 mm.
13. 13. Zařízení podle bodu 10, vyznačené tím, že srovnávací pruh /21/ je opatřen matovou čárou, probíhající po jeho celé délce.
14. 14. Zařízení podle bodu 13, vyznačené tím, že matová čára je tvořena transparentním lepicím proužkem.