DE3223215A1

DE3223215A1 - Verfahren und vorrichtung zum pruefen von transparenten materialbahnen

Info

Publication number: DE3223215A1
Application number: DE19823223215
Authority: DE
Inventors: Gerhard 4811 Leopoldshöhe Farwick; Wolfgang 4800 Bielefeld Haubold
Original assignee: Feldmuehle AG
Current assignee: Feldmuehle AG
Priority date: 1982-06-22
Filing date: 1982-06-22
Publication date: 1983-12-22

Description

Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen
von transparenten Materialbahnen.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Prüfen von transparenten Materialbahnen, insbesondere Flachglas auf in der Bahn eingeschlossene Fehler wie Fremkörper oder Gasblasen, bei dem die Materialbahn mit einem fliegenden Lichtpunkt über ihre Breite abgetastet und die durchgelassene und/oder reflektierte Strahlung aufgefangen, in elektrische Signale umgesetzt und ausgewertet wird, wobei gemäß der Stammanmeldung während des Abtastzyklus seitlich aus der Bahn austretende Strahlung zusätzlich erfaßt, in elektrische Impulse umgewandelt und zur Auswertung benutzt wird.
Unter transparenten Materialbahnen im Sinne der vorliegenden Anmeldung sind Kunststoffe, organische Gläser, insbesondere jedoch Tafelglas zu verstehen. Da Tafelglas in großen Mengen als Flachglas in Form eines endlosen Bandes maschinell hergestellt wird, wird die Erfindung, ohne sie darauf zu beschränken, am Beispiel der Flachglasprüfung abgehandelt.
Bei der Prüfung von Flachglas, das beispielsweise in Floatglasanlagen hergestellt worden ist, wird die gcsamte Materialbahnbreite der sich kontinuierlich bewegenden Materialbahn mit einem fliegenden Lichtpunkt abgetastet. Der fliegende Lichtpunkt wird im allgemeinen, um eine hohe Leuchtdichte zu erhalten, durch einen Laserstrahler erzeugt, der auf ein umlaufendes, verspiegeltes Polygon gerichtet wird, so daß der Lichtstrahl infolge der hohen Drehzahl des Polygons mit hoher Geschwindigkeit die Flachglasbahn überstreicht und dabei den fliegenden Lichtpunkt bildet. Ein Teil des Strahles wird bereits an der Oberfläche der Glasbahn reflektiert, ein weiterer Teil tritt in die Glasbahn ein, wird von der Unterfläche der Glasbahn reflektiert, der größte Teil des Strahl es tritt nach Brechung durch die Glasbahn hindurch.
Beim Auftreten von Fehlern in Form von Einschlüssen, insbesondere in Form von Gasblasen, wird ein hoher Teil der Lichtenergie in die Glasbahn eingeleitet und gelangt an den Rand der Flachglasbahn, wo er von Fotomultipliern erfaßt und das daraus abgeleitete elektrische Signal ausgewertet werden kann.
Alle transparenten Materialien absorbieren jedoch einen gewissen Teil des durch sie durchtretenden Lichtes, d.h., daß bei den relativ breiten Flachglasbahnen, deren Breite oft über 3 m beträgt, beim Auftreten einer sogenannten Kernblase, also einer Gasblase in der Bahnmitte der Floatglasbahn das von dieser -Blase reflektierte Licht einen Weg von ca. 1,50 m nach einer der beiden Seiten zurücklegen nuß, ehe es von einem fotoelektrischen Wandler im allgemeinen einem Fotomultiplier aufgenommen werden kann.
Es ergibt sich dadurch eine erhebliche Absorption des Lichtes, d.h., daß es nicht möglich ist, eine qenaue Aussage über diesen gerade ermittelten Fehler zu rachen. Andererseits ergibt sich beim Wandern des Lichtstrahles zum Mat rialbahnrand hin ein immer deutlicheres Fehlersignal auch dann, wenn die Größe des ermittelten Fehlers gleich ist und auch seine Anordnung in der Bahn identisch mit dem Fehler ist, der in Bahnmitte ermittelt wurde. Desweiteren kommt hinzu, daß die zu prüfende Materialbahnen, also das Floatglas nie looeig sauber ist, d.h. also, daß sowohl die Oberseite als auch die Unterseite Staubpartikel aufweisen können, die ebenfalls eine Reflektion des Strahles in das Glas möglich machen. Es ist also immer ein gewisser Rauschpegel vorhanden, wobei auch dieser Rauschegel sich ändert, d.h., bei Abtastung in Bahnmitte ist er wesentlich geringer als bei abtastung am Bahnrand, so daß Fehler, die in Bahnmilte auftreten, innerhalb des Rauschpegels liegen können, der am Bahnrand existiert.
Der vorliegenden Erfindung liegt damit die Aufgabe zu Grunde, den Rauschpegel so differenziert zu unterdrücken und die Absorption der transparenten Materialbahn so zu berücksichtigen, daß ein gleichartiger und gleich großer Fehler im Randbereich der Materialbahn genau die gleichen Impulse abgibt, wie dieser Fehler im Mittenbereich der Materialbahn.
Erfindungsgemäß wird diese technische Aufgabe dadurch gelöst, daß jeder elektrische Seitenimpuls in Abhängigkeit von der Position des die transparente Materialbahn abtastenden, fliegenden Lichtpunktes mit einem dieser Position zugeordneten wählbaren Wert verglichen und bei überschreiten dieses Wertes ein Fehlersignal ausgelöst wird.
Eine zweckmäßige Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, daß der wählbare Wert in einen elektronischen Speicher eingegeben wird. Diese Ausführungsform empfiehlt sich insbesondere, wenn lediglich ein Material, also beispielsweise eine einzige Glas sorte geprüft werden soll, so daß die Ma{erialbahn von der Zusammensetzung und auch von der Dicke her keinen Änderungen unterworfen ist. In diesem Falle reicht es, einmal eine Absorptionskurve des Nateriales aufzuzeichnen und diese abzuspeichern.
Unter dem Begriff elektronische Speicher sind Halbleiterspeicher zu verstehen, die sich nach den verwendeten Schaltungstechniken unterscheiden. eben den Schieberrgistern können Speichertypen wie RAM oder ROM oder PROM eingesetzt werden, wobei sich die PROMs - programmable read only memories - besonders bewährt haben. Die PROMs sind Festwertspeicher, die nach dem Herstellungsprozeß mit dem gewünschten Bitmuster versehen werden, was beispielsweise durch Wegbrennen von bestimmten Verbindungen innerhalb der Halbleiterschaltung geschehen kann. Diese Programmierung ist nicht mehr rückgängig zu machen, d.h.
daß nach dem Schießen eines PROMs keine Änderung der einmal eingegebenen Information möglich und damit eine ungewollte Veränderung des Prüfzustandes nicht möglich ist. Bei einer zweiten Programmiermöglichkeit der PROMs wird die Kapazität der hochisolierten Gateelektroden ausgenutzt, die durch Bestrahlen mit Licht entladen und durch nochmaliges Anlegen einer entsprechend hohen Spannung neu geladen, d.h. programmiert werden können.
In der Logik des Auswerteagqregates wird der Wert des eingehenden Impulses mit dem der jeweiligen Abtaststellung des Abtaststrahles entsprechenden Wert der gespeicherten Impulse verglichen und beim Überschreiten des gespeicherten Impulswertes ein Fehlersignal ausgelöst. Selbstverständlich ist es dabei möglich, mehrere PROMs zu schießen, die verschiedenen Kurven entsprechen, d.h. also, daß auch verschiedene Materialbahnen nach jeweiliger Vorwahl des geeigneten Speichers geprüft werden können.
Zweckmäßig können in diesem Falle als Speicher auch RAUMS eingesetzt werden, die zwar nicht die Fähigkeit haben, gespeicherte Daten über lange Zeit zu behalten, jedoch nach Belieben programmiert werden können.
Eine bevorzugte Ausführung der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß aus dem den fliegenden Lichtpunkt bildenden Abtaststrahl ein Referenzstrahl abgeteilt, über einen fehlerfreien Referenzstreifen der zu prüfenden, transparenten Materialbahn geführt, das an den Seitenflächen des Referenzstreifens austretende Licht erfaßt und in Impulse umgewandelt und diese Impulse in ihrer Größe mit den aus der zu prüfenden Materialbahn erhaltenen Impulsen verglichen werden.
Durch diese Ausgestaltung der Erfindung ist sichergestellt, daß stets exakte Werte erreicht werden, weil die identische Materialbahn als Referenzstreifen herangezogen wird. Selbstverständlich ist es auch möglich, einen Referenzstreifen einzusetzen, der der zu prüfenden Materialhahn im wesentlichen entspricht, ihr also nicht völlig identisch ist.
Dann muß jedoch in Kauf genonunen werden daß die erhaltenen Referenzimpulse nicht 100%ig den Ir.-pulsen entsprechen, die aus der zu prüfenden Materialbahn erhalten werden, d.h., man muß eine gewisse Toleranzgrenze in Kauf nehmen.
Die Auswertung der Seitenimpulse erfolgen vorteilhaft mittels einer Triggerschwelle. Dazu wird die Absorptionskurve in einem PROM abgelegt, wodurch sie sehr genau getroffen werden kann. Es ergibt sich bei diesem Verfahren eine absolute Unabhängigkeit von der Geschwindigkeit, ebenso ist es frei von Uberschwingern. Durch Ablegen mehrerer PROMs ist es möglich, auch die Prüfung eingefärbter Gläser zu programmieren.
Bevorzugt erfolgt die Auswertung der Seitenimpulse durch Gegenpolen der erhaltenen Spannung.
Jede Stellung des fliegenden 1,ichtpunktes auf der Materialbahn ergibt dabei, wenn diese fehlerfrei ist, einen Impuls, der identisch den aus dem Referenzstreifen durch den abgeteilten Referenzstrahl erzeugternimpuls bei gleicher Stelung des fliewenden Lichtpunktes ist Im fehlerfie;ien zustand weben sich damit die Impulswerte gegenseitig auf.
Es kommt also zu keinem Ausschlag, wohingegen beim Vorhandensein eines Fehlers eine Diffelenz zwischen den Impulswerten auftritt. Da die Ab.oi-pt ion des Glases durch das Gegenpolen der erhaltenen Spannungen ausgeschaltet ist, ist aus der GröBe der Differenz der Impulse die Fehlergröße ablesbar, d.h., daß jetzt gleich große Fehler, unabhängig von ihrer Lage, also ihrem Abstand vom Rande der Materialbahn, auch zu einem gleich großen Fehlersignal führen.
Eine Vorrichtung zur Durchführung der Prüfung ist dadurch gekennzeichnet, daß der der Stirnfläche der zu prüfenden Materialbahn zugeordnete Fotomultiplier oberhalb und eine Spiegelfläche unterhalb des Längsrandes der zu prüfenden Materialbahn angeordnet ist. Das durch eine Kernblase oder einen EinschluB in der Materialbahn geleitete Licht tritt am unbearbeiteten Materialbahnrand aus und wird hier gestreut. Es gelangt also sowohl nach der Seite als auch nach oben und nach unten, so daß seine Erfassung bei einer rein seitlichen Anordnung des Fotomultipliers Schwierigkeiten bereitet. Durch das einfache Anordnen einer Spiegelfläche unterhalb des Längsrandes wird jedoch auch ein großer Teil der aus der unbearbeiteten Stirnfläche der Materialbahn austretenden Lichtmenge noch vom Spiegel erfaßt und auf den oberhalb der Materialbahn angeordneten Fotomultiplier reflektiert, der zusätzlich auch mit direkt nach oben austretendem Licht beaufschlagt wird. Die Lichterfassung wird dadurch wesentlich verbessert.
Eine bevorzugte Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, daß dem Prüfgerät ein sich über die gesamte Breite der abzutastenden transparenten Materialbahn erstreckender Referenzstreifen aus einem fehlerfreien, der zu prüfenden, transparenten Materialbahn in Dicke,Färbung und Zusammensetzung entsprechendem oder identischem Material zugeordnet ist, der an seinen Schmalseiten mit je einem fotoelektrischen Wandler versehen ist. Die Schmalseiten dieses Referenzstreifens liegen parallel zu den Längsrändern der zu prüfenden, transparenten Materialbahn, sind aber im Gegensatz zu dieser bearbeitet, so daß keine undefinierte Streuung auftritt. Da die Streifen auch relativ schmal sind, kann das gesamte, an diesen Schmalseiten austretende Licht von dem fotoelektrischen Wandler erfaßt werden.
Ein Lichteintritt in diesd Referenzstreifen erfolgt jedoch nur dann, wenn er einer besonderen Vorbehandlung unterzogen worden ist, d.h., im Normalfalle würde,wie bei jedem Flachglas, das. Licht durch das Glas hindurchfallen und nicht in das Clas so eingeleitet werden, daß es zu einem erheblichen Prozentsatz an den Stirnseiten, also in diesem iall den Schmalseiten des Referenzstreifens austritt.
Eine bevorzugte Ausgestaltung der Erfindung sieht deshalb vor, daß der Referenzstreifen mit im gleichen Abstand voneinander sich in Längsrichtung der zu prüfenden Materialbahn erstreckenden Einkerbungen versehen ist, die vorteilhafter Weise 5 bis lo mm voneinander entfernt sind. Durch diese Ausgestaltung ergeben sich bei der Auswertung Impulse, die der Zahl der Einkerbungen entsprechen.
Jeder Impuls weist entsprechend seinem Abstand von der Materialbahnmitte einen anderen Wert auf, da mit der Annäherung zum Rand des Referenzstreifens, also zu seiner Schmalseite, weniger Licht absorbiert wird und damit ein höheres Signal am fotoelektrischen Wandler ansteht.
Durch Anordnung der Einkerbungen im gleichen Abstand zueinander kann dieses Signal gleichzeitig zur Lagebestimmung von Fehlern verwendet werden, wobei ein Abstand von 5 bis lo mm voneinander schon eine sehr erhebliche Genauigkeit bei der Fehlerauswertung ermöglicht.
Eine weitere vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, daß der Referenzstreifen mit einer sich über seine gesamte Länge erstreckenden mattierten Linie versehen ist. Diese mattierte Linie ist zweckmäßig eine gesandstrahlte Fläche oder ein auf den Referenzstreifen aufgebrachter transparenter Xlebestreifen. Sowohl die gesandstrahlt Fläche als auch der zweckmäßig unterhalb des Referenzstreifens aufgebrachte transparente Klebestreifen ermöglichen das Eintreten des Lichtes in den Referenzstreifen und damit seine Weiterlei--tung zu den Schmalseiten und die Aufnahme in den fotoelektrischen Wandler. Abweichend von den vorher beschriebenen Einkerbungen ergibt sich jedoch jetzt in dem Wandler nicht ein Stromimpuls sondern es tritt beim Auftreffen des Lichtstrahles auf den Referenzstreifen eine bestimmte Spannung auf, die sich in ihrer Höhe ändert. Den geringsten Wert weist diese Spannung auf, wenn der fliegende Lichtpunkt die Mitte des Referenzstreifens erreicht, wo die stärkste Absorption erfolgt . Aus diesem Grund ist der Referenzstreifen auch beidseitig mit fotoelektrischen Wandlern bestückt, da nur geringe Lichtmengen von einem Materialbahnrand bis zum andern wandern Eine von den Wandlern aufgezeichnete Kurve beginnt also für jeden der beiden Wandler in der Mitte der Materialbahn mit einem Wert, der geringfügig über Null liegt und steigt dann mit zunehmender Nähe des Abtastlichtpunktes zum Bahnrand an. Für die Beurteilung der gesamten Bahnbreite müssen dabei die Ergebnisse beider fotoelektrischer Wandler berücksichtigt werden, die sich gegenseitig zur vollen Kurve ergänzen.
Die Erfindung wird nachstehend an Hand der Zeichnungen erläutert.
Fig. 1 zeigt als Prinzipskizze ein Prüfgerät, Fig. 2 im Detail die Spiegelanordnung am Rand, Fig. 3 die von den Seitenfotomultipliern aufgezeichneten einzelnen, zu einer Kurve verbundenen Impulse, Fig. 4 die sich durch Gegenpolung der Kurve ergebende Gerade mit einem Fehlersignal.
Die Materialbahn 1 wird mittels Walzen 8, die von einem Elektromotor angetrieben werden, unter dem Prüfgerät 2 herbewegt. Das Prüfgerät 2 enthält einen Empfänger 3 für reflektierte Strahlung und einen Empfänger 3' für durchgelassene Strahlung.
Beide Empfänger sind mit einer Auswertestation 4 verbunden, die auch von den seitlich an der Materialbahn 1 angeordneten Fotomultipliern 5, 5' beaufschlagt wird.
Der im Prüfgerät 2 angeordnete Laserstrahler 14 ist mit einem Strahlenteiler 30 versehen, der zwei Teilstrahlen 31 und 32 auf dem rotierenden ?;piegelrad 15 abbildet. Der Teilstrahl 31 wird als Lichtpunkt lo', der Teilstrahl 32 als Lichtpunkt lo abgebildet und auf Grund der Rotation des Spiegelrades 15 als Abtaststrahl 16 über die gesamte Breite der Materiäbahn 1 geführt. Der als Punkt lo' abgebildete Teilstrahl 31 wird gleichzeitig über den Referenzstreifen 21 geführt und tritt durch die Einkerbung 24 in diesen ein. Den Schmalseiten 22 des Referenzstreifens 21 ist je ein fotoelektrischer Wandler 23, bzw. 23' zugeordnet, der das aus dem Referenzstreifen 21 austretende Licht aufnimmt und zur Auswertestation 4 weiterleitet.
Tritt in der Materialbahn 1 ein Fehler in Form einer Kernblase 13 auf, so wird der Abtaststrahl 16 nicht mehr als reflektierter Abtaststrahl 16' den Empfänger 3 erreichen, sondern im wesentlichen abgeleitet als Lichtstrahl 11, bzw. 12 entlang der Abtastlinie 7 zur Stirnfläche 6 der Alaterialbahn 1 geführt, wo erin die Fotomultiplier 5, 5' eintritt, die den erhaltenen Impuls der Auswertestation 4 zuführen. Die Fotomultiplier 5, 5' sind durch Kabel 17, bzw. 18 mit der Auswertestation 4 verbunden, die fotoelektrischen Wandler 23, 23' analog durch Kabel 33 und 34. Desgleichen erstreckt sich eine elektrische Leitunq 19 zwischen dem Empfänger 3 und der Auswertestation 4.
Triftt der Abtaststrahl 16, wie bereits beschrieben auf eine Kernblase 13, so wird das Licht von der Kernblase 13 abgelenkt und tritt im Bereich der Stirnfläche 6 der Materialbahn 1 aus. Da dieser Lichtaustritt undefiniert ist, ist im Randbereich der Materialbahn 1 ein im wsentlichen horizontal eingestellter Spiegel 27 und ein im wesentlichen vertikal eingestellter Spiegel 28 auf einer verschiebbaren Halterung 29 angeordnet, wobei beide Spiegel 27, 28 so ausgerichtet sind, daß sie auf sie fallendes Licht in den über dem Randbereich der Materialbahn 1 angeordneten Fotomultiplier 5 werfen.
Der Teilstrahl 31 erzeugt auf dem umlaufenden Spiegelrad 15 den Lichtpunkt lo'. Der von diesem gebildete Referenzstrahl 20 tastet den Referenzstreifen 21 ab und tritt bei den Einkerbungen 24 in diesen ein.D=ch jede Einkerbung 24 wird damit in dem fotoelektrischen Wandler 23 ein Impuls erzeugt, der in der Auswertestationkaufgezeichnet und mit dem jeweiligen, vom Fotomultiplier 5 ermittelten Wert verglichen wird. Bei fehlerfreier Materialbahn 1 sind die ermittelten Werte identisch, weichen also nicht voneinander ab. Analog ist die Auswertung bei Einsatz eines Referenzstreifens 21, der eine mattierte Linie oder einen Klebestreifen aufweist. Das Licht tritt dabei entlang der mattierten Linie , bzw. des Klebestreifens in den Referenzstreifen 21 ein und verläßt ihn an seinen Schmalseiten 22, wo es von den fotoelektrischen Wandlern 23 aufgenommen wird. Statt eines Impulses ergibt sich hier jedoch eine sich mit dem Wandern des Referenzstrahlesçändernde Spannung, die als Kurve aufgezeichnet werden kann.
Fig. 3 zeigt eine Absorptionskurve 35, die entlang der Spitzen der einzelnen Impulse 36 gezogen wurde, die von den Einkerbungen 24 im Referenzstreifen 21 durch den Referenzstrahl 20 erzeugt wurden. In der gleichen Figur ist unter der Absorptionskurve 35 die Rauschpegelkurve 37 eingezeichnet. Diese Rauschp egelkurve resultiert im wesentlichen von Verunreinigung auf der Glasober- oder Glasunterseite her und hat bei dem erfindungsgemäßen Verfahren keine Bedeutung. Aus ihr ist jedoch klar ersichtlich, daß in den Randbereichen der Bahn der Rauschpegel wesentlich höher ist, so daß er Fehler, die im Bahnmittenbereich auftreten können, überlagert.
ung Fig. 4 zeigt die Gegenpol oder Absorptionskurve 35, die über den Referenzstreifen 21 mit untergelegten Klebestreifen gewonnen wurde, mit der darüber dargestellten Abtastkurve 38. Die Abtastkurve 38 eist ein Fehlersignal 39 auf, das in seiner absoluten Höhe kleiner ist als die Werte im Randbereich bei der Kurve. Durch die Gegenpolung ergibt sich die GegenpolungsgEade 40, aus der das Fehlersignal 39 ganz klar herausragt.
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Claims

anlage zur Einaabe vom 16.6.1982 Patentansprüche.

1. Verfahren zum Prüfen von transparenten Materialbahnen, insbesondere Flachglas,auf in der Bahn eingeschlossene Fehler, wie Fremdkörper oder Gasblasen, bei dem die Materialbahn mit einem fliegenden Lichtpunkt über ihre Breite abgetastet und die durchgelassene und/oder reflektierte Strahlung aufgefangen, in elektrische Signale umgesetzt und ausgewertet wird, wobei gemäB DE-OS 31 29 808 während des Abtastzyklus seitlich aus der Bahn austretende Strahlung zusätzlich erfaßt in elektrische Impulse umgewandelt und zur Auswertung benutzt wird, dadurch gekennzeichnet, daß jeder elektrische Seitenimpuls in Abhängigkeit von der Position des die transparente Materialbahn abtastenden fliegenden Lichtpunktes mit einem dieser Position zugeordneten Wert verglichen wird und bei überschreiten dieses Wertes ein Fehlersignal ausgelöst wird.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gkennzeichnet, daß ein wählbarer Wert in einen elektronischen Speicher eingegeben wird.

3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß aus dem den fliegenden Lichtpunkt bildenden Abtaststrahl ein Referenzstrahl abgeteilt, über einen fehlerfreien Referenzstreifen der zu prüfenden transparenten Materialbahn geführt, das an den Seitenflächen des Referenzstreifens austretende Licht erfaßt und in Impulse umgewandelt und diese Impulse in ihrer GröBe mit den aus der zu prüfenden Materialbahn erhaltenen Impulsen verglichen werden.

4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertung der Seitenimpulse mittels einer Triggerschwe3le erfolgt.

5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswertung der Seiten impulse durch Gegenpolen der erhaltenen Spannungen erfolgt.

6. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 5, bestehend aus mindestens einem, die Materialbahn (1) mit einem fliegenden Lichtpunkt (lo) abtastenden Prüfgerät (2), einem das reflektierte und/oder durchgelassene Licht aufnehmenden Empfänger (3) einer diesem zugeordneten Auswertestation (4) und mindestens einem, mindestens einer Stirnfläche (6) der zu prufenden Materialbahn (1) seitlich zugeordneten Fotomultiplier (5, 5'), dadurch gekennzeichnet, daß der Fotomultiplier (5, 5') oberhalb und mindestens eine Spiegel fläche (27) unterhalb des Lcqprandes cer zu prüfenden, transparenten Materaialbahn (1) anaeordnet ist.

7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch qekennzeich-(2)-net, uaß dem Prüfgerät ein sich über die gesamte Breite der abzutastenden, transparenten Materialbahn (1) erstreckender Referenzstreifen (21) aus einem fehlerfreien, der zu prüfenden transparenten Materialbahn (1) in Dicke, Färbung und Zusammensetzung entsprechendem oder identischen Material zugeordnet ist, der an seinen Schmalseiten (22) mit je einem fotoelektrischen Wandler (23) versehen ist.

8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 6 und 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Referenzstreifen (21) mit im gleichen Abstand voneinander sich in Längsrichtung der zu prüfenden Materialbahn (1) erstreckenden Einkerbungen (24) versehen ist.

9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß die Einkerbungen (24) im Abstand von 5 bis lo mm voneinander angeordnet sind.

lo. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 6 und 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Referenzstreifen (21) mit einer sich über seine gesamte Länge erstreckenden mattierten Linie (25) versehen ist.

11. Vorrichtung nach Anspruch lo, dadurch gekennzeichnet, daß die mattierte Linie (25) durch Sandstrahlen erzeugt ist.

12 Vorrichtung nach Anspruch lo und 11, dadurch gekennzeichnet, daß die mattierte Linie (25) durch Anbringen eines transparenten Klebestreifens (26) erzeugt ist.