EP0402380A1 - Verfahren und vorrichtung zum prüfen von transparenten bahnen - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zum prüfen von transparenten bahnen

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Publication number
EP0402380A1
EP0402380A1 EP89902775A EP89902775A EP0402380A1 EP 0402380 A1 EP0402380 A1 EP 0402380A1 EP 89902775 A EP89902775 A EP 89902775A EP 89902775 A EP89902775 A EP 89902775A EP 0402380 A1 EP0402380 A1 EP 0402380A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
light
transparent
receiver
computer
pulses
Prior art date
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Pending
Application number
EP89902775A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Roland Schmiedl
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Feldmuehle AG
Original Assignee
Feldmuehle AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Feldmuehle AG filed Critical Feldmuehle AG
Publication of EP0402380A1 publication Critical patent/EP0402380A1/de
Pending legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901—Optical details; Scanning details
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N2021/8925—Inclusions

Definitions

  • the invention relates to a method and a device for testing transparent webs for the presence of defects, in particular for enclosed core bubbles, in which the transparent web to be tested is scanned with a flying light spot, the light passing through the web onto a diffuser disc, the transparent and has opaque areas and behind which a receiver is arranged, is conducted, and the photoelectric converter arranged in the receiver forwards pulses to a computer in accordance with the light intensity impinging on the diffuser disc.
  • transparent webs are understood to mean continuously produced webs made of transparent plastics or of glass. Since the problem of core bubble formation occurs in particular in the case of float glass lines, the invention is explained below on the basis of testing float glass webs, but without restricting it to them.
  • Test devices for glass sheets are known from DE-OS 31 29 808 and DE-OS 32 23 215. Both writings have in common that the material web to be tested is scanned with a flying point of light and that light that is derived into the glass through a core bubble is detected and evaluated on the material web at the edge.
  • the path of the light through the glass is very long, so there is a high absorption, which can be so high, especially when testing lightly colored glass, that no evaluable light signals on Web edge can be received more.
  • Another disadvantage of the known devices is the fact that the receiver at the edge of the material web must be sealed relatively well against incidence of extraneous light in order to be able to detect and implement the low incoming light intensities of the incoming light scattered at the core bubbles via photoelectric converters. It must also be noted that deformations that scatter the light occur precisely in the edge region, so that additional devices for collecting the light are required.
  • the web width must be monitored continuously in order to avoid damage to the receivers arranged on the side.
  • the object of the present invention is to improve the known devices so that even more colored glass and glass sheets of large widths can be checked properly for core bubbles.
  • this object is achieved by a method for checking transparent webs for the presence of defects, in particular for enclosed core bubbles, in which the transparent web to be tested is scanned with a flying light spot, and the light passing through the web is scanned for a receiver system, the transparent one and has opaque areas and behind the one.
  • Receiver is arranged, is conducted, and the photoelectric converter arranged in the receiver passes pulses to a computer in accordance with the light intensity impinging on the Erapfangersystem, solved, with the characteristic feature that the light point is guided so that it changes continuously with a faultless material web the opaque and the transparent area of the receiver system are coated, the area change and the light intensity fluctuations based on errors are fed to the computer as pulses and the pulses are evaluated in the computer separately according to the areas of the receiver system.
  • R / S measurement furthermore the diffuse reflection, the test in the dark field, referred to as R / DF, and also the direct transmission a measurement in the bright field, designated T / D, the direct transmission in the near dark field, designated T / DA and the diffuse transmission in the dark field, designated T / DF.
  • the directly reflected light is detected by a photoelectric converter, and light fluctuations occur when the full amount of light is not reflected due to a non-reflective error or due to dirt.
  • the receiver is arranged in such a way that only diffusely reflected light can be received, in both cases the receiver being arranged above the glass sheet to be tested.
  • the receiver is arranged below the glass sheet to be tested.
  • T / D direct transmission
  • the light beam that has passed the glass path enters an open light gap and is deflected out of this gap by errors - possibly darkened by dirt -. Deflection due to errors or darkening due to protection means that the light beam no longer enters the receiver fully or the light intensity that occurs is reduced and a pulse is thus triggered by the photoelectric converter.
  • the light beam also passes through testing glass sheet, in the case of an error it does not reach the receiver itself, ie it is blocked by an opaque layer, the stopper, applied to the receiver disc.
  • the receiver or receivers are arranged outside the direct beam passage, so that only diffuse light falls into the receiver or receivers if the light beam encounters an error during scanning.
  • T / D With the T / D method, it is possible to identify gross deformation errors and find core bubbles, but not the identification of specular errors.
  • the detection of small errors with deformations is not quite as sensitive as in T / DA.
  • the state of the art thus only offered the possibility of arranging several test stations in succession in order to achieve a complete test of a glass sheet. However, this meant that three complex units had to be installed one after the other, which is not possible due to the limited space in the production lines, and of course the high financial outlay also spoke against it.
  • the device for checking transparent webs for the presence of defects essentially consists of a transmitter for generating a light beam, a traversing device for the light beam, a Receiver with an upstream diffuser plate for the light transmitted by the transparent material web to be tested and a computer for evaluating the pulses received by the receiver and is characterized in that the diffuser plate upstream of the receiver has transparent and opaque areas, the traversing device consists of a rotating mirror polygon, the surfaces of which are blackened in half, the transmitter emits two light beams and both light beams run parallel to each other.
  • the Bubble acts as an extremely short focal length lens, which in the far field - and this is the receiver - can only be recognized as a silhouette, but it does not noticeably affect the actual straight beam path of the light beam as a whole, i.e. that there is therefore no light in the transparent areas penetrates to the right and left of the stopper.
  • the next scanning beam directed onto the path works according to the T / D measuring system.
  • the area of incidence of the scanning light point is transparent within a narrow gap area, on the right and left, on the other hand, a cover - stopper or edge area - prevents the entry of light.
  • the errors are detected by changing the received light intensity, ie reducing the incident light.
  • the decrease in the received light intensity can result from complete or partial deflection of the light beam out of the translucent area due to glass defects with strong surface deformation, by blocking the light beam by core bubbles as well as by opaque objects in the light beam path, such as dirt or Tin deposits, which is why, in order to rule out these apparent defects, the glass must be washed to find these sensitivities before the fault is found.
  • the background signal I of the receiver is relatively large because of the continuous
  • the background signal is very small, since there is generally no light and only if parts of the light beam are deflected by an error into the transparent areas of the diffuser on the left and right of the hidden center cover, i.e. the stopper, light falls on the photoelectric converter and a pulse is triggered. Since practically no light reaches the receiver when the web of material is free of defects, the background signal I is extremely small. This means that very small amounts of light ⁇ I can be detected, since the quotient ⁇ I by I Q is inevitably large.
  • the two measuring arrangements can thus be evaluated against each other in the same computer, so that the individual Errors can be optimally recorded and evaluated.
  • the evaluation is possible because, as long as a scan runs along the stopper in a defined manner, the receiving system works in the T / DA arrangement, light being moved from the opaque to the transparent, that is to say the scattering area, by glass defects. As long as a scan is defined on one of the two transparent transparent areas, i.e. the columns, the receiving system works in the T / D arrangement. Light due to glass defects, deflected from the permeable scattering area of the gap, fall on the stopper or the edge strips or are absorbed by the defects themselves.
  • the transmitter used for scanning can consist of two emitters, for example laser emitters. According to a preferred embodiment of the invention, however, only one, possibly stronger, laser emitter is used, which is followed by a beam splitter.
  • a beam splitter e.g. B. a semi-transparent mirror can be used.
  • the mirror polygon has an even number of surfaces, with a blackened half being followed by a mirrored half of a surface during one revolution.
  • the diffuser plate is expediently provided with an opaque extending over the entire length and a transparent area extending to the right and / or left next to it.
  • Fig. 1 shows a perspective view
  • Test device for transparent goods Fig. 2 as a side view in section the transmitter and
  • FIG. 3a to 3c schematically show the beam paths in the case of typical glass defects, namely: a) a small deformation on the surface, b) a nuclear bladder, c) contamination on the surface,
  • FIG. 4 the diffuser for transmitted light
  • 5 shows the rotating mirror wheel together with a schematically arranged beam splitter.
  • the transmitter (1) consists of the laser emitter (11), which is followed by a beam splitter (12) which divides the light beam (2) into partial beams (2 ') and (2'').
  • the beam splitter (12) consists of a semi-transparent mirror (12a), to which a second mirror (12b) is assigned, through which the divided partial beam (2 ') is aligned parallel to the partial beam (2'') and thrown onto the mirror polygon (9) becomes.
  • These partial beams (2 ') and (2' r ) are directed onto the surfaces (10) of the mirror polygon (9) and here generate the light spot (16 ') and (16'').
  • the partial beam (2 ') falls on the blackened half (13) of a surface (10) and forms the light spot (16'), the partial beam (2 '') falls on the mirrored half (14) of the surface (10) and forms the light point (16 '') here.
  • the light spot (16 ') from the blackened half (13) is absorbed, the light spot (16 '') is reflected, moves through the rotation of the mirror polygon (9) and is used for measurement in direct transmission T / D, ( Figures 1; 5). It covers the full width of the material web, forming a scan line (27 '').
  • the partial beam (2 ') falls on the mirrored half (14) of the surface (10) and the partial beam (2'') on the blackened half (13) of the surface (10), ( Figure 2).
  • the material web (5) is thus scanned parallel to the one that has just been carried out, offset by the distance of the partial beams (2 ', 2'') from one another, but this scanning line (27') runs above the stopper (8 '), the partial beam (2 ') thus falls on the opaque area (8') of the diffuser disc (4) if there is no defect in the material web (5).
  • the computer (6) is switched to measurement in T / DA during this sampling cycle - in the previous sampling cycle it was switched to measurement in T / D - and only receives a pulse if light in the receiver (3) caused by an error was deflected in the material web (5) occurs.
  • This alternation of the measurement in T / D and T / DA takes place in a defined alternation according to the speed and the number of facets of the mirror polygon (9). '
  • FIG. 4 shows the structure of the receiver (3), which contains the photoelectric converters (15) in a housing.
  • the housing is supported by a carrier disc (33) covered, on which a diffuser disc (34) rests, which is overlaid by an opaque edge (8) and separated by a stopper (8 ') arranged in the center.
  • the stopper (8 ') is also made of opaque material. This arrangement results in a transparent area (7) to the right and left of the stopper (8 ') through which the partial beams (2') and (2 '') can enter the receiver (3).
  • a cover plate (32) To further protect the receiver (3), it is covered with a cover plate (32).
  • Figures 1 and 2 show an embodiment in which a mirror reflection receiver (19) is additionally arranged above the material web (5).
  • the mirror reflection receiver (19) is located in the same housing as the transmitter (1), which transmits its partial beams (2 ') and (2'') through the glass cover (25) in the lower region of the housing onto the material web (5). If only R / S reflection measurement is used, only one of the two partial beams, i.e. either partial beam (2 ') or partial beam (2'') is used, while the other partial beam is being passed through, the reflected light signal is not evaluated in reflection. If the partial beam (2 ') strikes the reflecting error (17), (FIG.
  • FIGS. 3a to 3c The beam path with different errors is shown in FIGS. 3a to 3c.
  • 3a works in T / DA, 3b in T / D and 3c in R / S.
  • FIG. 3a shows a surface deformation (28) by which the partial beam (2 ') is deflected so that it does not strike the stopper (8') but the photoelectric converter (15) through the transparent area (7). reached.
  • the deflection of the partial beam (2 '') in FIG. 3b by the core bladder (26) is analogous, whereas in FIG. 3c by the reflecting error (17) both the partial beam (2 f ) and the partial beam (2 '') by the Matt glass pane (20) is thrown onto the photomultiplier (21).
  • the material web (5) is shown as a float glass web that is guided on rollers (23). It moves in the direction of the arrow (24), as a result of which the core bladder (26) comes into the region of the scanning lines (27 ', 27' ').
  • the light-deflecting properties, in particular small core bubbles (26) are very low, so that their "obstacle effect" in the light beam (FIG. 3b) does not occur until the next scanning cycle, ie the measurement in T / D results in a change in intensity which is converted into a pulse by the photoelectric converter (15) in the receiver (3) and then passed on to the computer (6) via the signal line (29).

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Description

Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von transparenten Bahnen.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Prüfen von transparenten Bahnen auf das Vorhandensein von Fehlern, insbesondere auf eingeschlossene Kernblasen, bei dem die zu prüfende transparente Bahn mit einem fliegenden Lichtpunkt abgetastet, das durch die Bahn hindurchtretende Licht auf eine Diffusorscheibe, die transparente und opake Bereiche aufweist und hinter der ein Empfänger angeordnet ist, geleitet wird, und der in dem Empfänger angeordnete fotoelektrische Wandler entsprechend der auf die Diffusorscheibe auftreffenden Lichtintensität Impulse an einen Rechner weiterleitet.
Unter transparenten Bahnen im Sinne der vorliegenden Erfindung werden kontinuierlich erzeugte Bahnen aus transparenten Kunststoffen oder aus Glas verstanden. Da die Problematik der Kernblasenbildung insbesondere bei Floatglaslinien auftritt, wird die Erfindung nachstehend anhand der Prüfung von Floatglasbahnen erläutert, ohne sie jedoch darauf zu beschränken. Prüf orrichtungen für Glasbahnen sind aus der DE-OS 31 29 808 und der DE-OS 32 23 215 bekannt. Beiden Schriften ist gemeinsam,, daß die zu prüfende Materialbahn mit einem fliegenden Lichtpunkt abgetastet wird und daß durch eine Kernblase in das Glas abgeleitetetes Licht randseitig an der Materialbahn erfaßt und ausgewertet wird. Liegt die Kernblase in der Mitte der zu prüfenden Materialbahn, so ist der Weg des Lichtes durch das Glas sehr lang, es ergibt sich also eine hohe Absorption, die besonders bei der Prüfung von leicht eingefärbtem Glas so hoch sein kann, daß keine auswertbaren Lichtsignale am Bahnrand mehr empfangen werden können. Ein weiterer Nachteil der bekannten Vorrichtungen ist darin zu sehen, daß der Empfänger am Rand der Materialbahn relativ gut gegen Fremdlichteinfall abgedichtet sein muß, um die geringen ankommenden Lichtintensitäten des an den Kernblasen gestreuten, ankommenden Lichtes noch über fotoelektrische Wandler erfassen und umsetzen zu können. Dabei muß ferner beachtet werden, daß gerade im Randbereich Verformungen auftreten, die das Licht streuen, so daß zusätzliche Vorrichtungen zur Sammlung des Lichtes erforderlich sind. Desweiteren ist nachteilig, daß die Bahnbreite kontinuierlich überwacht werden muß, um Beschädigungen der seitlich angeordneten Empfangsgeräte zu vermeiden.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist, die bekannten Vorrichtungen zu verbessern, so daß auch stärker eingefärbtes Glas und Glasbahnen großer Breiten einwandfrei auf Kernblasen überprüft werden können. Gemäß der Erfindung wird diese Aufgabe durch ein Verfahren zum Prüfen von transparenten Bahnen auf das Vorhandensein von Fehlern, insbesondere auf eingeschlossene Kernblasen, bei dem die zu prüfende transparente Bahn mit einem fliegenden Lichtpunkt abgetastet, das durch die Bahn hindurchtretende Licht auf ein Empfängersystem, das transparente und opake Bereiche aufweist und hinter der ein. Empfänger angeordnet ist, geleitet wird, und der in dem Empfänger angeordnete fotoelektrische Wandler entsprechend der auf das Erapfangersystem auftreffenden Lichtintensität Impulse an einen Rechner weiterleitet, gelöst, mit dem kennzeichnenden Merkmal, daß der Lichtpunkt so geführt wird, daß er bei fehlerfreier Materialbahn im kontinuierlichen Wechsel den opaken und den transparenten Bereich des Empfängersystems bestreicht, der Bereichswechsel und die auf Fehlern beruhenden Lichtintensitätsschwankungen dem Rechner als Impulse zugeführt und im Rechner getrennt nach den Bereichen des Empfängersystems die Impulse ausgewertet werden.
Die Problematik bei der Glasbahnprüfung besteht darin, daß eine Vielzahl verschiedenartiger Fehler auftreten können, zusätzlich zu diesen Fehlersignalen aber auch gleichartige Signale auftreten, die auf Verschmutzungen der Oberflächen der Glasbahn zurückzuführen sind und so ebenfalls zu Fehlermeldungen, sogenannten Scheinfehlern führen. Entsprechend den unterschiedlichen Prüfarten wurden auch unterschiedliche Prüfmethoden entwickelt. Man unterscheidet dabei zwischen Messung in Reflexion und Transmission, die man jeweils weiter unterteilen kann in die sogenannte Spiegelreflexion, also die Prüfung im Hellfeld, hier als R/S-Messung bezeichnet, ferner die diffuse Reflexion, die Prüfung im Dunkelfeld also, mit R/DF bezeichnet sowie die direkte Transmission, ebenfalls eine Messung im Hellfeld, mit T/D bezeichnet, die direkte Transmission im nahen Dunkelfeld, mit T/DA bezeichnet und die diffuse Transmission im Dunkelfeld, mit T/DF bezeichnet.
Bei R/S wird also das direkt reflektierte Licht über einen fotoelektrischen Wandler erfaßt, wobei dann LichtSchwankungen auftreten, wenn aufgrund eines nicht reflektierenden Fehlers oder aufgrund von Schmutz nicht die volle Lichtmenge reflektiert wird. Bei R/DF ist der Empfänger so angeordnet, daß nur diffus reflektiertes Licht empfangen werden kann, wobei in beiden Fällen der Empfänger über der zu prüfenden Glasbahn angeordnet ist.
Bei den weiteren Prüfmöglichkeiten in Transmission ist der Empfänger unterhalb der zu prüfenden Glasbahn angeordnet. Bei Messung in direkter Transmission T/D tritt der Lichtstrahl, der die Glasbahn passiert hat, in einen lichtoffenen Spalt ein und wird durch Fehler aus diesem Spalt heraus abgelenkt - evtl. durch Schmutz abgedunkelt -. Die Ablenkung durch Fehler oder Abdunklung durch Schutz führt dazu, daß der Lichtstrahl nicht mehr voll in den Empfänger eintritt bzw. die auftretende Lichtintensität reduziert wird und damit ein Impuls vom fotoelektrischen Wandler ausgelöst wird. Bei der Messung im nahen Dunkelfeld T/DA durchtritt der Lichtstrahl ebenfalls die zu prüfende Glasbahn, gelangt in fehlerfreiem Fall selbst aber nicht in den Empfänger, d. h. er wird durch eine auf der Empfängerscheibe aufgebrachte opake Schicht, den Stopper, abgeblockt. Erst bei Ablenkung durch einen Fehler kann der Lichtstrahl rechts oder links vom Stopper in den Empfänger eintreten und im fotoelektrischen Wandler ein Impulssignal generieren. Bei der Prüfung gemäß T/DF ist der oder sind die Empfänger außerhalb des direkten Strahldurchtritts angeordnet, so daß nur diffuses Licht in den bzw. die Empfänger fällt, wenn beim Abtasten der Lichtstrahl auf einen Fehler trifft.
Je nach dem gewählten Prüfverfahren machen sich die Außeneinflüsse mehr oder weniger störend bemerkbar. So macht sich die Ablagerung von Schmutz auf oder unter der zu prüfenden Glasbahn im Hellfeld stark bemerkbar, d. h. die Auswertung wird bei der Prüfung gemäß R/S und T/D stark beeinträchtigt, wohingegen sie bei der Prüfung in T/DA erheblich geringer ist.
Mit der Methode R/S ist daher eine Ermittlung von starken Deformationsfehlern in der Materialbahn und eine Identifizierung spiegelnder Fehler möglich, nicht jedoch die Erfassung von Fehlern kleiner Deformationen oder die Findung von Kernblasen.
Mit der Methode T/DA ist sowohl die Fehlerfindung für grobe als auch flächenmäßig kleine Oberflächendeformationen möglich, nicht jedoch das Erkennen von kleinen Kernblasen und das Identifizieren spiegelnder Fehler. Ein weiterer Scheinfehler tritt durch das sogenannte Tafeln auf, womit die vertikale und tordierende Bewegung der laufenden Glasbahn bezeichnet wird. Hier wird die Prüfung in Spiegelreflexion, also R/S, stark beeinträchtigt.
Mit der Methode T/D ist das Erkennen grober Deformationsfehler und die Findung von Kernblasen möglich, nicht jedoch die Identifizierung von spiegelnden Fehlern. Der Nachweis von kleinen Fehlern mit Deformationen ist nicht ganz so empfindlich wie in T/DA. Damit bot der Stand der Technik nur die Möglichkeit, mehrere PrüfStationen hintereinander anzuordnen, um zu einer vollständigen Prüfung einer Glasbahn zu gelangen. Das bedeutete aber, daß drei aufwendige Aggregate hintereinander hätten montiert werden müssen, was wegen der beengten Platzverhältnisse in den Produktionslinien nicht möglich ist, desweiteren sprach natürlich auch der hohe finanzielle Aufwand dagegen.
Durch den erfindungsgemäßen Vorschlag ist es jetzt möglich, mit einer einzigen Prüfanläge auszukommen und alle auftretenden Fehler auszuwerten, ohne daß ein zusätzlicher Platzbedarf erforderlich ist und ohne daß wesentliche Mehrkosten auftreten.
Die Vorrichtung zum Prüfen von transparenten Bahnen auf das Vorhandensein von Fehlern, insbesondere von Kernblasen, besteht im wesentlichen aus einem Sender zur Erzeugung eines Lichtstrahles, einer Traversiervorrichtung für den Lichtstrahl, einem Empfänger mit einer vorgeschalteten Diffusorscheibe für das von der zu prüfenden transparenten Materialbahn durchgelassene Licht sowie einem Rechner zur Auswertung der vom Empfänger erhaltenen Impulse und ist dadurch gekennzeichnet, daß die dem Empfänger vorgeschaltete Diffusorscheibe transparente und opake Bereiche aufweist, die Traversiervorrichtung aus einem umlaufenden Spiegelpolygon besteht, dessen Flächen zur Hälfte geschwärzt sind, der Sender zwei Lichtstrahlen emittiert und beide Lichtstrahlen parallel zueinander verlaufen.
Bei der Prüfung werden also zwei Lichtstrahlen auf das Spiegelpolygon gerichtet und treffen auf eine Fläche auf, wobei allerdings nur ein Strahl auf eine Hälfte auftrifft, die verspiegelt ist, während der andere Strahl auf eine Hälfte auftrifft, die geschwärzt ist. Der Erfolg ist, daß nur ein Lichtstrahl über die Materialbahn geführt wird und der andere durch die geschwärzte Fläche verschluckt, damit nicht reflektiert wird. Mit der weiteren Drehung des Spiegelpolygons wechseln die Strahlen, die die Materialbahn abtasten, weil sie auf eine neue Fläche, treffen, bei der die geschwärzte Hälfte mit der verspiegelten Hälfte vertauscht ist. Dieses Mal wird also der zweite Strahl über die zu prüfende Materialbahn geleitet, wo er allerdings in einer geringfügig anderen Position, bezogen auf den Empfänger, ankommt, d. h. , ist der erste Abtaststrahl so gelenkt worden, daß er nach seinem Durchtritt durch die zu prüfende Materialbahn auf den Stopper, also den geschwärzten Mittelstreifen des Empfängers fiel, so wird der zweite Strahl so geleitet, daß er in den Spalt, der zwischen Stopper und geschwärztem Randbereich verläuft, fällt. Im ersten Falle wird also mit T/DA, im zweiten Falle mit T/D gearbeitet.
Befindet sich in der zu prüfenden Materialbahn eine Blase f die zu keiner Verformung einer der beiden Oberflächen geführt hat, also eine sogenannte Kernblase, so wird diese, im Gegensatz zu Glasfehlern mit Oberflächendeformation, eine wesentlich geringere Ablenkung des Lichtstrahles aufgrund ihrer Symmetrie bewirken, d. h. die Blase wirkt als extrem kurz brennweitige Linse, die im Fernfeld - und das ist der Empfänger - lediglich noch als Schattenriß zu erkennen ist, den eigentlichen gradlinigen Strahlenverlauf des Lichtstrahles insgesamt beeinflußt sie aber nicht merklich, d. h., daß damit auch kein Licht in die transparenten Bereiche rechts und links neben dem Stopper dringt. Der nächste auf die Bahn geleitete Abtaststrahl arbeitet aber nach dem Meßsystem T/D. Bei dieser Anordnung ist der Auftreffbereich des abtastenden Lichtpunktes innerhalb eines schmalen Spaltbereiches transparent, rechts und links dagegen verhindert eine Abdeckung - Stopper bzw. Randbereich - den Lichteintritt. Hier werden die Fehler also durch Änderung der empfangenen Lichtintensität nachgewiesen, d. h. Verminderung des einfallenden Lichtes. Die Abnahme der empfangenen Lichtintensität kann dabei herrühren von völliger oder teilweiser Ablenkung des Lichtstrahles aus dem lichtdurchlässigen Bereich heraus durch Glasfehler mit starker Oberflächendeformation, durch Abblockung des Lichtstrahles durch Kernblasen sowie durch opake Objekte im Lichtstrahlverlauf, wie Schmutz oder Zinnablagerungen, weswegen im allgemeinen zum Ausschluß dieser Scheinfehler das Glas zur Erzielung dieser Empfindlichkeiten vor der Fehlerfindung zu waschen ist.
Bei der Meßanordnung T/D ist das Untergrundsignal I des Empfängers relativ groß wegen des dauernden
Lichteinfalls. Daher müssen die Intensitätsänderungen
ΔI entsprechend groß sein, um das Verhältnis
ΔI zu Io noch nachweisen zu können und eine gute
Auswertung noch ermöglicht.
Als Konsequenz ergibt sich daraus, daß die kleinsten nachweisbaren Glasfehler bei dieser Meßanordnung T/D doch etwas größer sein müssen als bei der Meßanordnung T/DA, die für Glasfehler mit Oberflächendeformation sehr empfindlich sind.
Bei der Anordnung T/DA ist das üntergrundsignal sehr klein, da im allgemeinen kein Lichteinfall vorhanden ist und nur, wenn Teile des Lichtstrahles durch einen Fehler in die transparenten Bereiche des Diffusors links und rechts der ausgeblendeten Mittenabdeckung, also des Stoppers, gelenkt werden, Licht auf die fotoelektrischen Wandler fällt und ein Impuls ausgelöst wird. Da bei fehlerfreier Materialbahn praktisch kein Licht in den Empfänger gelangt, ist das üntergrundsignal I extrem klein. Damit können schon sehr kleine Lichtmengen ΔI nachgewiesen werden, da der Quotient ΔI durch IQ zwangsläufig groß wird.
Die beiden Meßanordnungen sind damit gegeneinander im gleichen Rechner auswertbar, wodurch der einzelne Fehler optimal erfaßt und ausgewertet werden kann. Die Auswertung ist dadurch möglich, daß, solange ein Scan definiert auf dem Stopper entlangläuft, das Empfangssystem in der T/DA-Anordnung arbeitet, wobei Licht durch Glasfehler vom undurchlässigen in den durchlässigen, also den Streubereich, gebracht wird. Solange ein Scan definiert auf einen der beiden durchlässigen transparenten Bereiche, also den Spalten verläuft, arbeitet das Empfangssystem in der T/D-Anordnung. Licht durch Glasfehler, aus dem durchlässigen Streubereich des Spaltes abgelenkt, fallen auf den Stopper bzw. die Randstreifen oder werden durch die Fehler selbst absorbiert.
Der Sender, der zur Abtastung eingesetzt wird, kann aus zwei Strahlern, beispielsweise Laserstrahlern, bestehen. Gemäß einer bevorzugten Ausgestaltung der - Erfindung wird jedoch nur ein, ggf. stärkerer, Laserstrahler eingesetzt, dem ein Strahlteiler nachgeschaltet ist. Als Strahlteiler kann z. B. ein semitransparenter Spiegel eingesetzt werden.
Das Spiegelpolygon weist gemäß einer bevorzugten Ausgestaltung der Erfindung eine gerade Anzahl von Flächen auf, dabei folgt während einer Umdrehung auf eine geschwärzte Hälfte eine verspiegelte Hälfte einer Fläche.
Die Diffusorscheibe ist zweckmäßig mit einem über die gesamte Länge verlaufenden opaken und je einem sich rechts und/oder links daneben erstreckenden transparenten Bereich versehen. Die Erfindung wird nachstehend anhand der Zeichnungen erläutert.
Fig. 1 zeigt in perspektivischer Darstellung eine
PrüfVorrichtung für transparente Güter, Fig. 2 als Seitenansicht im Schnitt den Sender und
Empfänger der PrüfVorrichtung, Fig. 3a bis 3c zeigen schematisch die Strahlengänge bei typischen Glasfehlern, nämlich: a) eine kleine Deformation an der Oberfläche, b) eine Kernblase, c) eine Verschmutzung auf der Oberfläche, Fig. 4 den Diffusor für transmittiertes Licht, Fig. 5 das umlaufende Spiegelrad nebst einem schematisch angeordneten Strahlenteiler.
Der Sender (1) besteht aus dem Laserstrahler (11), dem ein Strahlenteiler (12) nachgeschaltet ist, der den Lichtstrahl (2) in Teilstrahlen (2') und (2'') aufteilt. Der Strahlenteiler (12) besteht aus einem semitransparenten Spiegel (12a), dem ein zweiter Spiegel (12b) zugeordnet ist, durch den der abgeteilte Teilstrahl (2') parallel zum Teilstrahl (2'') ausgerichtet und auf das Spiegelpolygon (9) geworfen wird. Diese Teilstrahlen (2') und (2'r) sind auf die Flächen (10) des Spiegelpolygons (9) gerichtet und erzeugen hier den Lichtpunkt (16') bzw. (16''). Der Teilstrahl (2') fällt dabei auf die geschwärzte Hälfte (13) einer Fläche (10) und bildet hier den Lichtpunkt (16'), der Teilstrahl (2'') fällt auf die verspiegelte Hälfte (14) der Fläche (10) und bildet hier den Lichtpunkt (16''). Während der Lichtpunkt (16') von der geschwärzten Hälfte (13) absorbiert wird, wird der Lichtpunkt (16'') reflektiert, wandert durch die Drehung des Spiegelpolygons (9) und dient zur Messung in direkter Transmission T/D, (Figuren 1; 5). Er bestreicht dabei die volle Breite der Materialbahn unter Bildung einer Abtastlinie (27'').
Nach weiterer Drehung des Spiegelpolygons (9) durch seinen Antriebsmotor (31) um einen durch die Facettenzahl festgelegten Winkel fällt der Teilstrahl (2') auf die verspiegelte Hälfte (14) der Fläche (10) und der Teilstrahl (2'') auf die geschwärzte Hälfte (13) der Fläche (10), (Figur 2). Damit erfolgt eine Abtastung der Materialbahn (5) parallel zu der eben erfolgten, versetzt um den Abstand der Teilstrahlen (2', 2'') zueinander, wobei diese Abtastlinie (27') aber oberhalb des Stoppers (8') verläuft, der Teilstrahl (2') also auf den opaken Bereich (8') der Diffusorscheibe (4) fällt, wenn kein Fehler in der Materialbahn (5) vorhanden ist. Der Rechner (6) ist während dieses Abtastzyklus auf Messung in T/DA geschaltet - beim vorhergehenden Abtastzyklus war er auf Messung in T/D geschaltet -und erhält nur dann einen Impuls, wenn in dem Empfänger (3) Licht, das durch einen Fehler in der Materialbahn (5) abgelenkt wurde, eintritt. Dieses Alternieren der Messung in T/D und T/DA erfolgt definiert im dauernden Wechsel entsprechend der Drehzahl und der Zahl der Facetten des Spiegelpolygons (9). '
Figur 4 zeigt den Aufbau des Empfängers (3), der in einem Gehäuse die fotoelektrischen Wandler (15) enthält. Das Gehäuse ist durch eine Trägerscheibe (33) abgedeckt, auf der eine Diffusorscheibe (34) ruht, die von einem opaken Rand (8) überlagert und von einem mittig angeordneten Stopper (8') getrennt wird. Der Stopper (8') besteht ebenfalls aus opakem Material. Durch diese Anordnung ergibt sich rechts und links vom Stopper (8') ein transparenter Bereich (7), durch den die Teilstrahlen (2') bzw. (2'') in den Empfänger (3) eintreten können. Zum weiteren Schutz des Empfängers (3) ist dieser mit einer Abdeckscheibe (32) abgedeckt.
Die Figuren 1 und 2 zeigen eine Ausführungsform, bei der zusätzlich ein Spiegelreflexionsempfänger (19) oberhalb der Materialbahn (5) angeordnet ist. Der Spiegelreflexionsempfänger (19) befindet sich im gleichen Gehäuse wie der Sender (1), der seine Teilstrahlen (2') und (2'') durch die Glasabdeckung (25) im unteren Bereich des Gehäuses auf die Materialbahn (5) sendet. Wird nur in Reflexionsmessung R/S gearbeitet, so wird nur einer der beiden Teilstrahlen, also entweder Teilstrahl (2') oder Teilstrahl (2'') genutzt, während des Durchlaufs des anderen Teilstrahls erfolgt keine Auswertung des reflektierten Lichtsignales in Reflexion. Trifft der Teilstrahl (2') auf den reflektierenden Fehler (17), (Figur 3c), so wird er von diesem als Reflexionsstrahl (18) auf die dem Spiegelreflexionsempfänger (19) vorgeschaltete Mattglasscheibe (20) geworfen, hinter der sich ein Fotomultiplier (21) befindet. Der Fotomultiplier (21) wandelt den erhaltenen Lichtwert in einen Impuls um und leitet ihn über die Impulsleitung (22) zum Rechner (6), (Figuren 1 und 2) . Der dabei auftretende starke Helligkeitsunterschied unterscheidet sich deutlich von dem normalerweise von der Materialbahn (5) reflektierten Licht, d. h. die Lichtintensität ist wesentlich höher.
Der Strahlenverlauf bei unterschiedlichen Fehlern ist in den Figuren 3a bis 3c dargestellt. Bei 3a wird dabei in T/DA, bei 3b in T/D und bei 3c in R/S gearbeitet. In Figur 3a ist dabei eine Oberflächenverformung (28) dargestellt, durch die der Teilstrahl (2') abgelenkt wird, so daß er nicht auf den Stopper (8') auftrifft, sondern durch den transparenten Bereich (7) den fotoelektrischen Wandler (15) erreicht. Analog ist die Ablenkung des Teilstrahles (2'') in Figur 3b durch die Kernblase (26), wohingegen in Abbildung 3c durch den reflektierenden Fehler (17) sowohl der Teilstrahl (2f) als auch der Teilstrahl (2'') durch die Mattglasscheibe (20) auf den Fotomultiplier (21) geworfen wird.
In den Zeichnungen ist die Materialbahn (5) als Floatglasbahn dargestellt, die auf Rollen (23) geführt wird. Sie bewegt sich in Richtung des Pfeiles (24) , wodurch die Kernblase (26) in den Bereich der Abtastlinien (27', 27'') gerät. Für eine Messung im nahen Dunkelfeld T/DA sind die lichtablenkenden Eigenschaften, insbesondere kleiner Kernblasen (26), sehr gering, so daß erst beim nächsten Abtastzyklus, also der Messung in T/D, durch ihre "Hinderniswirkung" im Lichtstrahl (Figur 3b) eine Intensitätsänderung ergibt, die durch den fotoelektrischen Wandler (15) im Empfänger (3) in einen Impuls umgesetzt und dann über die Signalleitung (29) dem Rechner (6) weitergeleitet wird.

Claims

Patentansprüche
Verfahren zum Prüfen von transparenten Bahnen auf das Vorhandensein von Fehlern, insbesondere auf eingeschlossene Kernblasen, bei dem die zu prüfende transparente Bahn mit einem fliegenden Lichtpunkt abgetastet, das durch die Bahn hindurchtretende Licht auf ein Empfängersystem, das transparente und opake Bereiche aufweist geleitet wird und der in dem Empfänger angeordnete fotoelektrische Wandler entsprechend der auf das Empfängersystem auftreffenden Lichtintensität Impulse an einen Rechner weiterleitet, dadurch gekennzeichnet, daß der Lichtpunkt so geführt wird, daß er bei fehlerfreier Materialbahn im kontinuierlichen Wechsel den opaken und den transparenten Bereich des Empfängersystems bestreicht, der Bereichswechsel und die auf Fehlern beruhenden Lichtintensitätsschwankungen dem Rechner als Impulse zugeführt und im Rechner getrennt nach den Bereichen des Empfängersystems die Impulse ausgewertet werden. 2. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 , die im wesentlichen aus einem Sender zur Erzeugung eines Lichtstrahles, einer Traversiervorrichtung für den Lichtstrahl, einem Empfänger mit einer vorgeschalteten Diffusorscheibe für das von der zu prüfenden transparenten Materialbahn durchgelassene Licht sowie einem Rechner zur Auswertung der vom Empfänger erhaltenen Impulse besteht, dadurch gekennzeichnet, daß eine dem Empfänger (3) vorgeschaltete Diffusorscheibe (4) transparente (7) und opake (8, 8') Bereiche aufweist, die Traversiervorrichtung aus einem umlaufenden Spiegelpolygon (9) besteht, dessen Flächen (10) zur Hälfte geschwärzt sind, der Sender (1) zwei Lichtstrahlen (2', 2'') emittiert und beide Lichtstrahlen (2',
2'') parallel zueinander verlaufen.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, daß das Spiegelpolygon (9) eine gerade Anzahl von Flächen (10) aufweist und bei Rotation des Spiegelpolygons (9) auf eine geschwärzte Hälfte (13) eine verspiegelte Hälfte (14) der Flächen (10) folgt.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Sender (1) ein Laserstrahler (11) mit nachgeschaltetem Strahlteiler (12) ist. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Diffusorscheibe (4) mit einem über die gesamte Länge verlaufenden opaken (8f) und mindestens einem sich rechts und/oder links daneben erstreckenden transparenten (7) Bereich versehen ist.
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