CS210359B1 - Zapojeni k bezkontaktnímu spínání budiče - Google Patents
Zapojeni k bezkontaktnímu spínání budiče Download PDFInfo
- Publication number
- CS210359B1 CS210359B1 CS826579A CS826579A CS210359B1 CS 210359 B1 CS210359 B1 CS 210359B1 CS 826579 A CS826579 A CS 826579A CS 826579 A CS826579 A CS 826579A CS 210359 B1 CS210359 B1 CS 210359B1
- Authority
- CS
- Czechoslovakia
- Prior art keywords
- transistor
- base
- resistor
- emitter
- switching
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Zapojení řeší bezkontaktní spínání testovacích špiček. Podstatou vynálezu je rychlý sledovač ze tří tranzistorů, kde mezi sledovač a zdroj napětí je zapojen spínací tranzistor, bází spojený přes řídicí obvod s bází prvního tranzistoru, který je emitorem spojen před regulační odpor. bmitor druhého tranzistoru je spojen pres diodu a čtvrtý odpor do uzlu s kolektorem spínacího tranzistoru společně s pátým oaporem spojeným s bází čtvrtého tranzistoru .
Description
Vynález se týká zapojení k bezkontaktnímu spínání budiče, určeného k vybuzení vstupů při zkouškách logických integrovaných obvodů.
Při sériových zkouškách logických integrovaných obvodů je zapotřebí mít možnost generovat rychlý impuls definovaného tvaru se současnou možností odpojit budič od zkoušené testovací špičky. Ke generování toho impulsu se používá například bočníkově řízený sledovač, který se připojuje ke zkoušené špičce přes mechanické spínací relé. Zapojení sestává v podstatě ze tří tranzistorů, z nichž jeden je vstupní a dva v sérii výstupní zapojeny přes miniaturní mechanické relé na příslušnou testovací špičku. Toto relé umožňuje odpojeni budiče při kontrole statických parametrů na příslušné testovací špičce obvodu.
Bočníkově řízený sledovač slouží k přenosu normovaného impulsu na buzený vstup zkoušeného obvodu s minimálním zpožděním a změnou tvaru.
Nevýhodou dosavadního zapojeni s použitím miniaturních nebo submíniaturních relé je nižší spolehlivost, větší nárok na prostor, menši rychlost testování, větší spotřeba a vyšší cena.
Tyto nevýhody odstraňuje zapojení k bezkontaktnímu spínání budiče určené k vybuzení vstu pů při zkouškách logických integrovaných obvodů, sestávající z rychlého sledovače tvořeného třemi tranzistory, jehož podstatou je, že mezi kladnou svorku zdroje napětí +UB a sledovač je zapojen spínací tranzistor, jehož báze je spojena přes řídící obvod s bází prvního tranzistoru, jehož emitor je spojen přes regulační odpor s emitorem čtvrtého tranzistoru zapojeného kolektorem s bází druhého tranzistoru, jehož kolektor je spojen přes diodu a čtvrtý odpor do uzlu s kolektorem spínacího tranzistoru s pátým odporem spojeným s bází čtvrtého tranzistoru.
Předností tohoto zapojení je provozní spolehlivost, rychlost při generování impulsů a kompaktní konstrukce umožňující umístit budič co nejblíže měřené špičky.
Vynález blíže objasní výkres, na kterém je naznačen příklad zapojeni.
Na svorku 2 +UB napětí je emitorem zapojen spínací tranzistor T5, jehož báze je spojena přes řídicí obvod 10 opatřený vstupní svorkou. 1_ s bází prvního tranzistoru TI,, jehož kolektor je spojen přes první odpor Rl se svorkou £ -UB zdroje a s bází třetího tranzistoru T3 spojeného emitorem přes třetí odpor R3 se svorkou _4 -UB zdroje,
Emitor prvního tranzistoru 2 3e spojen přes regulační odpor R2 s emitorem čtvrtého tranzistoru T4, jehož kolektor je spojen s bází druhého tranzistoru T2. Emitor druhého tranzistoru T2 a kolektor třetího tranzistoru T3 jsou spojeny s testovací špičkou 2,.
Kolektor druhého tranzistoru T2 je spojen přes diodu D a čtvrtý odpor R4 do uzlu s pátým odporem R5 spojeným s bází čtvrtého tranzistoru T4, druhým odporem R2 spojeným s regulačním odporem Ras kolektorem spínacího tranzistoru T5.
Budič vytváří v podstatě rychlý sledovač, kde k bázi prvního tranzistoru TI se přivádí přes řídicí obvod 10 napětí normované úrovně Ujjj, UjL a budicí signál pro testovací špičku 2 se odebírá z emitoru druhého tranzistoru T2.
Vyvolání stavu vysoké impedance na testovací špičce 2 se dosáhne uzavřením spínacího tranzistoru T5 pomocí řídicího obvodu 10, který je spouštěn programem testeru. Uzavření spínacího tranzistoru T5 vyvolá současně uzavření zbývajících tranzistorů T4, T3, T2, TI a dále oddělení kolektoru druhého tranzistoru T2 diodou D od báze čtvrtého tranzistoru T4 a od emitoru prvního tranzistoru TI. V důsledku toho vznikne na testovací špičce 2, požadovaný stav vysoké impedance.
Zapojení podle vynálezu je určeno jako obvodový prvek zejména pro automatické měřicí systémy k zjišíování parametrů logických integrovaných obvodů.
Claims (1)
- PŘEDMĚT VYHÁLEZUZapojení k bezkontaktnímu spínání budiče, určené k vybuzení vstupů při zkouškách logických integrovaných obvodů, sestávající z rychlého sledovače tvořeného třemi tranzistory, vyznačené tím, že mezí kladnou svorku /3/ zdroje napětí +UB a sledovač je zapojen spínací tran zistor /T5/, jehož báze je spojena přes řídicí obvod /10/ s bází prvního tranzistoru /TI/, jehož emitor je spojen přes regulační odpor /R/ s emitorem čtvrtého tranzistoru /T4/ zapojeného kolektorem s bází druhého tranzistoru /T2/, jehož kolektor je spojen přes diodu /D/ a čtvrtý odpor /R4/ do uzlu s kolektorem spínacího tranzistoru /T5/ spolu s pátým odporem /R5/ spojeným s bázi čtvrtého tranzistoru /T4/.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS826579A CS210359B1 (cs) | 1979-11-30 | 1979-11-30 | Zapojeni k bezkontaktnímu spínání budiče |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CS826579A CS210359B1 (cs) | 1979-11-30 | 1979-11-30 | Zapojeni k bezkontaktnímu spínání budiče |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CS210359B1 true CS210359B1 (cs) | 1982-01-29 |
Family
ID=5433018
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CS826579A CS210359B1 (cs) | 1979-11-30 | 1979-11-30 | Zapojeni k bezkontaktnímu spínání budiče |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CS (1) | CS210359B1 (cs) |
-
1979
- 1979-11-30 CS CS826579A patent/CS210359B1/cs unknown
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR950012023B1 (ko) | 동기 및 비동기동작을 할 수 있는 반도체집적회로 및 그 동작방법 | |
| KR100190215B1 (ko) | 반도체 집적 회로 | |
| US5554941A (en) | Self-testing method for irregular CMOS switching structures with high defect detection | |
| KR920020521A (ko) | 반도체집적회로 | |
| KR950025973A (ko) | 반도체 장치 | |
| US4841240A (en) | Method and apparatus for verifying the continuity between a circuit board and a test fixture | |
| KR100440366B1 (ko) | 테스트가능회로및테스트방법 | |
| KR940006230A (ko) | 반도체 집적회로장치 및 그 기능시험방법 | |
| EP0436358B1 (en) | Integrated circuit having power supply connection integrity monitor | |
| CS210359B1 (cs) | Zapojeni k bezkontaktnímu spínání budiče | |
| US4110687A (en) | Dual threshold logic probe | |
| KR100308078B1 (ko) | 집적회로 | |
| US3458814A (en) | Tester for determining the semiconductor material type of transistors | |
| KR100311972B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 모드신호 발생장치 | |
| US5570036A (en) | CMOS buffer circuit having power-down feature | |
| KR960024426A (ko) | 마이크로 컨트롤러의 테스트회로 | |
| SU1448315A1 (ru) | Логический пробник | |
| SU472346A1 (ru) | Устройство контрол контактировани зондовых установок | |
| EP0216276B1 (en) | Semiconductor logic tester with fast-recovery power supply | |
| KR970007089Y1 (ko) | 반도체 디바이스 자동 개방/단락 검사회로 | |
| Parulkar et al. | Remote visualization: challenges and opportunities | |
| JPS6443773A (en) | Propagation delay testing method for logic circuit | |
| KR960043068A (ko) | 테스트 회로를 내장한 집적회로 | |
| US3470389A (en) | Self-powered transistorized meter clamp circuit for extraneous pulses | |
| SU1112327A1 (ru) | Логический пробник |